SU1672405A1 - Method of measuring modulation transfer function in photographic materials - Google Patents
Method of measuring modulation transfer function in photographic materials Download PDFInfo
- Publication number
- SU1672405A1 SU1672405A1 SU3968086K SU3968086K SU1672405A1 SU 1672405 A1 SU1672405 A1 SU 1672405A1 SU 3968086 K SU3968086 K SU 3968086K SU 3968086 K SU3968086 K SU 3968086K SU 1672405 A1 SU1672405 A1 SU 1672405A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- transfer function
- contrast
- modulation transfer
- test object
- photographic material
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Silver Salt Photography Or Processing Solution Therefor (AREA)
Abstract
Изобретение относится к научной и прикладной фотографии, а именно к способам измерения функции передачи модуляции фотографических материалов. Целью изобретения является расширение диапазона измерений в области высоких пространственных частот. Способ измерения функции передачи модуляции основан на экспонировании синусоидального тест-объекта с последующей обработкой фотоматериала и регистрации характеристик сигнала при экспонировании тест-объекта с контрастом 0,4*98K*981,0, а обработка фотоматериала ведется до достижения контраста фотоматериала 1 ± 10%. Функцию передачи модуляции определяют по формуле M*98H = (Τ- Τ)/K(Τ+ Τ), где Τ, Τ- максимальные и минимальные значения пропускания соответственно.The invention relates to scientific and applied photography, and in particular to methods of measuring the modulation transfer function of photographic materials. The aim of the invention is to expand the range of measurements in the region of high spatial frequencies. The method of measuring the modulation transfer function is based on exposing a sinusoidal test object with subsequent processing of photographic material and recording signal characteristics when exposing a test object with a contrast of 0.4 * 98K * 981.0, and processing of photographic material is carried out until the contrast of the photographic material is 1 ± 10%. The modulation transfer function is determined by the formula M * 98H = (Τ- Τ) / K (+ Τ), where Τ, Τ are the maximum and minimum transmission values, respectively.
Description
Изобретение относитс к научной и прикладной фотографии, а именно к способам измерени функции передачи модул ции (ФПМ) фотографических материалов.The invention relates to scientific and applied photography, and specifically to methods for measuring the modulation transfer function (MTF) of photographic materials.
Цель изобретени - расширение диапазона измерений в область высоких пространственных частот,The purpose of the invention is to expand the range of measurements in the region of high spatial frequencies,
Измерение функции передачи рабочей модул ции осуществл етс следующим образом .The measurement of the work modulation transfer function is performed as follows.
На поверхность фотоматериалов фокусируют изображение синусоидального тест-объекта повышенного контраста и производ т его экспонирование (повышенный контраст ,4). Полученное после обработки на фотоматериале изображение тест-объекта разлагают в спектр и определ ют амплитуды отдельных гармоник. Дл этогоThe image of a sinusoidal test object of increased contrast is focused onto the surface of photographic materials and is subjected to exposure (increased contrast, 4). The image of the test object obtained after processing on photo material is decomposed into a spectrum and the amplitudes of individual harmonics are determined. For this
фотоматериал освещают источником света, изображени тест-объекта фокусируют в плоскости фотоприемника, с помощью сканировани преобразуют пространственное распределение пропускани в измен ющийс во времени электрический сигнал, гармонические составл ющие которого выдел ют и измер ют спектроанализатором, а посто нную составл ющую измер ют интегрирующим вольтметром. Максимальное и минимальное значени пропускани измер ют с помощью пикового вольтметра.The photographic material is illuminated with a light source, the images of the test object are focused in the plane of the photodetector, the spatial distribution of the transmission is converted by scanning into a time-varying electrical signal, the harmonic components of which are extracted and measured by a spectrum analyzer, and the constant component is measured by an integrating voltmeter. The maximum and minimum transmission values are measured with a peak voltmeter.
При экспонировании гармонического пространственного распределени экспозици на исследуемый фотоматериал имеет в видеWhen exposing the harmonic spatial distribution of the exposure to the studied photographic material has
Нн(х)Н0(1+ Kcos-2ttVx), (1)Hn (x) H0 (1+ Kcos-2ttVx), (1)
ОABOUT
ю Yu
±±
о слabout cl
де Но посто нна составл юща экспозиии;de But constant component of exposure;
К - контраст тест-объекта 0, №To - the contrast of the test object 0, No.
V- пространственна частота,V-spatial frequency,
Действующа экспозици внутри эмуль- 5 ионного сло равнаThe effective exposure inside the emulsion-5 ionic layer is
Н9(х) + kM( v) cos 2 п v х, (2) где M(v ).- функци передачи модул ции фотоматериала.H9 (x) + kM (v) cos 2 n v x, (2) where M (v) is the transfer function of the modulation of the photographic material.
В процессе обработки (при про влении) 10 происходит преобразование действующей экспозиции в пропускание в соответствии с поведением характеристической кривой материалаDuring processing (when developing) 10, the effective exposure is converted into transmission in accordance with the behavior of the characteristic curve of the material.
т(К) Н(К) + k M (v)cos2jrv 15t (K) H (K) + k M (v) cos2jrv 15
(3) где у-коэффициент контрастности.(3) where y is the contrast ratio.
После разложени правой части формулы (3) в р д понижени степени гармониче- „ ских функций и группировки гармоник в р д Фурье можно получить значени составл ющих спект-ра пропускани After decomposition of the right-hand side of formula (3) in a series of lowering the degree of harmonic functions and grouping of harmonics in the Fourier series, it is possible to obtain the values of the components of the transmission spectrum
. м)кМ(у „.. m) KM (y „.
А Ј„FTiFT С ), 25A Ј „FTiFT C), 25
ф v (4) f v (4)
где Ц - биноминальный коэффициент;where C is the binomial coefficient;
г - номер гармоники пропускани ;g is the harmonic number of the transmission;
q - 1,3,5,7... дл нечетных: пq - 1,3,5,7 ... for odd: n
q - 0,2,4... дл четных.q - 0,2,4 ... for even.
Измен врем обработки (про влени ) фотоматериала, устанавливают коэффициент контрастности 1,ОПО%. Как показывает анализ соотношени (4), контраст пропускани по максимальному гтакс и минимальному Гмин значени м равенChanging the processing time (appearance) of the photographic material, set the contrast ratio 1, OPO%. As the analysis of relation (4) shows, the transmittance contrast for the maximum hmax and minimum gmin values is equal to
KMWCVS KjMjr), KMWCVS KjMjr),
1мок,1мин1mok, 1min
где о - функци ошибки.where o is the error function.
Как показали расчеты, при у 1,0 функци ошибки равна значению дг (К; М; у) 0,005 при К M(v ) 0,9. Следовательно, с ошибкой не более 0,51 % функции передачи 45 модул ции можно найти из соотношени (5). Когда у 1,0+ 10%, ФПМ можно вычислить по формулеAs shown by calculations, with y 1.0 the error function is equal to the value of yy (K; M; y) 0.005 with K M (v) 0.9. Therefore, with an error of no more than 0.51%, the transfer function of the 45 modulation can be found from relation (5). When 1.0 + 10%, MTF can be calculated by the formula
3535
т1p1
L макс (. Mi/HL max (. Mi / H
Ку(Чмоке минKu (Chmoke min
)S-2(IW) (g}) S-2 (IW) (g}
причем максимальное значение функции ошибки бг (К; М; у) при К M(v) 0,9 составл етmoreover, the maximum value of the error function bg (K; M; y) with K M (v) 0.9 is
0 0
5five
5five
пP
5 five
5five
00
5five
Применение :ест-обьекта с наиболее высоким контрастом (К 0,8-1,0) позвол ет увеличить в 2-2,5 раза по сравнению с известным способом (где К 0,4) перепад наложенной экспозиции, а вследствие линейности процесса светорассе ни в фотослое , и перепад действующей экспозиции (на одной и той же пространственной частоте ) без учета усили в у раз (у - коэффициент контрастности материала). Следовательно, по вл етс возможность на высоких пространственных частотах увеличить амплитуду периодической составл ющей пропускани также в 2-2,5 раза, а с учетом усилени а у раз при росте амплитуды первой гармоники может быть значительно больше. Это дает возможность при использовании известной измерительной аппаратуры расширить диапазон измерени . Если предположить, что на частотах более 100 функции передачи модул ции линейно убывают, то диапазон измерени расшир етс также не менее чем в 2- 2,5 раза. Особенности поведени контрастаApplication: eating object with the highest contrast (K 0.8–1.0) allows to increase by 2–2.5 times in comparison with the known method (where K 0.4) the superimposed exposure difference, and due to the linearity of the light scattering process neither in the photo layer, and the difference of the current exposure (at the same spatial frequency) without taking into account the effort y and y (the contrast ratio of the material). Consequently, it is possible at high spatial frequencies to increase the amplitude of the periodic component of the transmission also by 2–2.5 times, and, taking into account the amplification, even if the amplitude of the first harmonic increases, it can be much larger. This makes it possible, with the use of known measuring equipment, to expand the measuring range. If it is assumed that, at frequencies greater than 100, the modulation transfer functions decrease linearly, the measurement range also expands at least 2-2.5 times. Features of Contrast
(Ттакс - ТМин)/(Ттакс + Гмин) При у 1,0 В(Ттакс - ТМин) / (Ттакс + Гмин) At у 1.0 V
зависимости от изменени контраста позвол ют избавитьс от необходимости пересчета пропускани в действующие экспозиции (точнее линеаризовать св зь пропускани и действующей экспозиции), которые присущи известным способам, измерени функции передачи модул ции с применением больших перепадов наложенной экспозиции .Dependencies on contrast change eliminate the need to recalculate the transmission into effective exposures (more precisely, linearize the relationship between transmission and effective exposure), which are inherent in the known methods of measuring the transfer function of modulation using large superimposed exposure differentials.
Claims (1)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853968086A SU1394197A1 (en) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | Method of determining modulation transfer function of highly contrasted photomaterials |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1672405A1 true SU1672405A1 (en) | 1991-08-23 |
Family
ID=21202259
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853968086A SU1394197A1 (en) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | Method of determining modulation transfer function of highly contrasted photomaterials |
SU3968086K SU1672405A1 (en) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | Method of measuring modulation transfer function in photographic materials |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853968086A SU1394197A1 (en) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | Method of determining modulation transfer function of highly contrasted photomaterials |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (2) | SU1394197A1 (en) |
-
1985
- 1985-10-22 SU SU853968086A patent/SU1394197A1/en active
- 1985-10-22 SU SU3968086K patent/SU1672405A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Вендровский В.В. и Вейцман А.И. Фотографическа структурометри . М.; Исску- ство, 1982, с. 64-66. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SU1394197A1 (en) | 1988-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATE79669T1 (en) | METHOD AND APPARATUS USING A TWO-BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE FOR INVESTIGATION OF INTEGRATED CIRCUITS AND LIKE. | |
DE69924136D1 (en) | PHASE MEASUREMENT IN A RADIATION FIELD | |
SU1672405A1 (en) | Method of measuring modulation transfer function in photographic materials | |
Bedford et al. | Analysis, synthesis, and evaluation of the transient response of television apparatus | |
US4597669A (en) | Pattern detector | |
GB2128732B (en) | A process and an apparatus for measuring the brilliance of a colour | |
JPS574505A (en) | Measuring method for statical property of roughed surface | |
Marom et al. | Optimal distribution of multiple exposures in speckled image subtraction setups | |
SU1275248A1 (en) | Method of measuring optical system distortions | |
SU146812A1 (en) | Method for measuring characteristics of cathodoluminescent screens | |
DE2133803B2 (en) | Measuring deformation or variations in position or refractive index - using holographic-interferometric or Moire patterns for rapid evaluation | |
US5930546A (en) | Method for making a sinusoidal test object | |
JPS58147606A (en) | Method for inspecting defect in periodic pattern | |
JPS60202940A (en) | Method of measuring depth of etching | |
KR100191349B1 (en) | Apparatus and method for detecting a focal face of exposure process | |
SU1760522A1 (en) | Method of determining high-contrast material modulation transfer function | |
SU1742859A1 (en) | Method of copying optical filters or information media | |
Cadou | Comparison of two MTF measurement methods: sine-wave vs edge gradient analysis | |
KR0147681B1 (en) | The testing method of charge coupled device | |
SU1275359A1 (en) | Method of correcting template of shadow mask for colour cathode-ray tube | |
DE598265C (en) | Method for measuring the non-linearity of characteristics of electrical arrangements or light-sensitive photographic layers | |
JPH0157285B2 (en) | ||
JPH0232204A (en) | Measuring method for registration pattern dimension | |
SU1608493A1 (en) | Method of nondestructive inspection | |
SU1120427A1 (en) | Process for determining amplitude resolution of protective device |