SU1636795A1 - Device for measuring dielectric parameters - Google Patents
Device for measuring dielectric parameters Download PDFInfo
- Publication number
- SU1636795A1 SU1636795A1 SU874201035A SU4201035A SU1636795A1 SU 1636795 A1 SU1636795 A1 SU 1636795A1 SU 874201035 A SU874201035 A SU 874201035A SU 4201035 A SU4201035 A SU 4201035A SU 1636795 A1 SU1636795 A1 SU 1636795A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sensor
- frequency
- inductor
- frequency generator
- meter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технике измерени параметров диэлектриков и может быть использовано при исследовании и измерении диэлектрических характеристик материалов, а также дл контрол технологических процессов в различных отрасл х народного хоз йства. Диэлектрометр состоит из высокочастотного генератора 1 с коле- бательным контуром, состо щим из конденсатора 2, катушки 3 индуктивности и датчика 4 в виде катушки индуктивности, в которую помещают образец 5, частотомера 6, высокочастотного вольтметра 7, и магнита 8, между полюсами которого помещаетс измерительна катушка. Работа прибора основана на контроле изменени межвитковой емкости датчика 4. 1 з.п. ф- лы, 1 ил.The invention relates to a technique for measuring parameters of dielectrics and can be used in the study and measurement of the dielectric characteristics of materials, as well as to control technological processes in various branches of the national economy. A dielectrometer consists of a high-frequency oscillator 1 with a oscillating circuit consisting of a capacitor 2, an inductor 3 and an inductor 4 in the form of an inductor in which sample 5 is placed, a frequency meter 6, a high-frequency voltmeter 7, and a magnet 8, between which poles are placed measuring coil. The operation of the device is based on the monitoring of changes in the interturn capacitance of sensor 4. 1 CW f-ly, 1 ill.
Description
Изобретение относится к технике измерения параметров диэлектриков, а более конкретно к устройству диэлектрометров, и может быть использовано для исследования и анализа диэлектриков и, в частности, для контроля технологических процессов в различных отраслях народного хозяйства.The invention relates to a technique for measuring the parameters of dielectrics, and more particularly to a device for dielectrometers, and can be used to study and analyze dielectrics and, in particular, to control technological processes in various sectors of the economy.
Цель изобретения - уменьшение длительности измерения, а также повышение информативности измерений.The purpose of the invention is to reduce the duration of the measurement, as well as increasing the information content of the measurements.
На чертеже приведена схема диэлектрометра.The drawing shows a diagram of a dielectric meter.
Диэлектрометр из высокочастотного генератора 1 с колебательным контуром, подключенным к клеммам генератора для подключения датчика и состоящим из конденсатора 2, катушки 3 индуктивности, датчика 4, в который помещают образец 5, частотомера 6, высокочастотного вольтметра 7, соединенных с клеммами генератора, 20 и электромагнита 8, между полюсами которого помещается датчик 4, выполненный в виде катушки индуктивности, размеры внутренней полости которой соответствуют размерам измеряемых образцов. 25A dielectric meter from a high-frequency generator 1 with an oscillatory circuit connected to the terminals of the generator for connecting a sensor and consisting of a capacitor 2, an inductor 3, a sensor 4, in which a sample 5, a frequency meter 6, a high-frequency voltmeter 7 connected to the terminals of the generator, 20 and an electromagnet are placed 8, between the poles of which a sensor 4 is placed, made in the form of an inductor, the dimensions of the internal cavity of which correspond to the dimensions of the measured samples. 25
Методика измерений заключается в следующем.The measurement procedure is as follows.
Диэлектрик с известной диэлектрической проницаемостью ε помещается внутрь датчика 4 и по частотометру 6 измеряется 30 частота генерации f, которая изменяется за счет изменения межвитковой емкости датчика.An insulator with a known permittivity ε is placed inside the sensor 4 and the frequency of generation f is measured using a frequency meter 6 30, which changes due to a change in the inter-turn capacitance of the sensor.
Эта же процедура повторяется для других диэлектриков с известными прони- 35 цаемостями ( ε) (объемы образцов одинаковы).The same procedure is repeated for other dielectrics with known permeabilities (ε) (sample volumes are the same).
По полученным результатам строится градуировочный график f = F (ε).Based on the results obtained, a calibration graph f = F (ε) is constructed.
Диэлектрик с неизвестной диэлектрической проницаемостью такого же объема по5 мещают в измерительную катушку и фиксируется частота генерации fx.An insulator with an unknown dielectric constant of the same volume is placed in the measuring coil and the generation frequency f x is fixed.
Осуществляется проверка на наличие примесей, для чего включается магнитное поле и фиксируется наличие или отсутствие 10 сдвига частоты генерации.A check is carried out for the presence of impurities, for which a magnetic field is turned on and the presence or absence of a 10th shift in the generation frequency is recorded.
Определяется восприимчивость образца εχ по градуировочному графику f = Ρ(ε).The susceptibility of the sample ε χ is determined from the calibration curve f = Ρ (ε).
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874201035A SU1636795A1 (en) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Device for measuring dielectric parameters |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874201035A SU1636795A1 (en) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Device for measuring dielectric parameters |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1636795A1 true SU1636795A1 (en) | 1991-03-23 |
Family
ID=21288080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874201035A SU1636795A1 (en) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | Device for measuring dielectric parameters |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1636795A1 (en) |
-
1987
- 1987-02-27 SU SU874201035A patent/SU1636795A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Казарновский Д.М., Тареев Б.М. Испытани электроизол ционных материалов. Л.: Энеоги , 1970, с. 81. Надь Ш.Б. Диэлектрометри . М.: Энерги , 1976, с. 28-42. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2859407A (en) | Method and device for measuring semiconductor parameters | |
US3953796A (en) | Method and apparatus for measuring electrical conductivity | |
Górny et al. | A new application of the nonlinear dielectric method for studying relaxation processes in liquids | |
SU1636795A1 (en) | Device for measuring dielectric parameters | |
US3691453A (en) | Compact microwave spectrometer | |
JPH07119726B2 (en) | Method of measuring water content | |
Harrington et al. | A re-entrant cavity for measurement of complex permeability in the very-high-frequency region | |
Fischer | Simplified instrument for wide-range dielectric constant measurement | |
SU868662A1 (en) | Method of measuring magnetic permeability of ferromagnetic liquid materials | |
GB595720A (en) | Electrical apparatus for measuring the proportions of mixtures and solutions | |
US2784375A (en) | Circuit resonance indicator | |
SU129366A1 (en) | Humidity sensor to electronic moisture meter | |
RU2106648C1 (en) | Insulation parameters metering device | |
SU883826A1 (en) | Device for magnetic noise measuring | |
SU1835506A1 (en) | Method of surface-resistance metering | |
Ahluwalia | High Frequency Titrations | |
SU741128A1 (en) | Liquid analysis device | |
SU398896A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF ELECTRIC | |
JPS6140546A (en) | Humidity content sensor and measuring apparatus therefor employing microwave | |
SU429374A1 (en) | DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENTS OF PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR LAYERS AT HIGH FREQUENCY | |
SU785701A1 (en) | Electrone-paramagnetic resonance radiospectrometer | |
SU1001241A1 (en) | Method of measuring critical magnetic fields in superconductors | |
SU1732293A1 (en) | Device for measurement of internal inductance of linear conductor | |
SU1282028A1 (en) | Method of measuring intensity of magnetic saturation field of specimen of electroconductive homogeneous material | |
SU1242787A1 (en) | Instrument transducer of nuclear magnetic resonance spectrometer |