SU1587328A1 - Интерферометр дл измерени рассто ний - Google Patents

Интерферометр дл измерени рассто ний Download PDF

Info

Publication number
SU1587328A1
SU1587328A1 SU884499586A SU4499586A SU1587328A1 SU 1587328 A1 SU1587328 A1 SU 1587328A1 SU 884499586 A SU884499586 A SU 884499586A SU 4499586 A SU4499586 A SU 4499586A SU 1587328 A1 SU1587328 A1 SU 1587328A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
quarter
additional
birefringent crystal
crystal
Prior art date
Application number
SU884499586A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Михайлович Бычков
Николай Лаврентьевич Городишенин
Андрей Владимирович Карцев
Максим Николаевич Коваленко
Евгений Федорович Титков
Сергей Вячеславович Черепица
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Ядерных Проблем При Белорусском Государственном Университете Им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Ядерных Проблем При Белорусском Государственном Университете Им.В.И.Ленина filed Critical Научно-Исследовательский Институт Ядерных Проблем При Белорусском Государственном Университете Им.В.И.Ленина
Priority to SU884499586A priority Critical patent/SU1587328A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1587328A1 publication Critical patent/SU1587328A1/ru

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в прецизионных измерени х на основе лазерной интерферометрии. Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона измерений за счет исключени  вли ни  ограниченности длины когерентности источника света. Излучение от лазера 1, пройд  через первую четвертьволновую пластинку 2, становитс  циркул рно пол ризованным, и двулучепреломл ющий кристалл 3, работающий в четвертьволновом режиме, под воздействием гармонического сигнала от СВЧ-генератора 10 трансформирует пол ризацию в линейную, ориентаци  которой поворачиваетс  по гармоническому закону. Отразившись от зеркала 6, закрепленного на контролируемом объекте, излучение попадает на дополнительный двулучепреломл ющий кристалл 8, после чего расщепл етс  призмой Волластона. 1 ил.

Description

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при прецизионных измерениях расстояний на основе лазерной интерферометрии.
Цель изобретения - расширение диапазона измерений за счет исключения влияния ограниченности длины когерентности источника света.
На чертеже изображена функциональная схема интерферометра.
Интерферометр содержит источник света, выполненный в виде лазера 1, первую четвертьволновую пластинку 2, первый двулучепреломляющий кристалл 3, полупрозрачное зеркало 4, коллиматор 5, зеркала 6 и 7, дополнительный двулучепреломляющий кристалл 8. вторую четвертьволновую пластинку 9, СВЧ-генератор 10, выход которого соединен с кристаллами 3 и 8, призму 11 Валастона, фотоприемники 12 и 13, выходы которых подключены к входу фазового детектора 14, являющегося блоком измерения отношения сигналов.
Интерферометр работает следующим образом.
Плоскополяризованное излучение лазера 1 после прохождения первой четвертьволновой пластинки 2, установленной под углом 45° к плоскости поляризации лазера 1, становится циркулярно поляризованным. Кристалл 3, работающий в четвертьволновом режиме, под воздействием гармонического сигнала генератора 10 трансформирует циркулярную поляризацию падающего на него излучения в линейную поляризацию, ориентация которой поворачивается по гармоническому закону с частотой, равной удвоенной частоте СВЧколебаний генератора 10. Далее лазерное излучение с вращающейся плоскостью поляризации проходит полупрозрачное делительное зеркало 4 . и сквозь коллиматор 5 падает на подвижное зеркало 6.
После отражения от зеркала 6, пройдя через коллиматор 5 и отразившись последовательно от зеркал 4 и 7, излучение проходит через дополнительный кристалл 8, работающий в четвертьволновом режиме. Состояние поляризации излучения на выходе из кристалла 8 определяется с помощью второй четверьволновой пластинки 9 и призмой 11 Валастона излучение расщепляется на две взаимные ортогональные ли1 нейно поляризованные компоненты, интенсивность которых измеряется двумя фотоприемниками 12 и 13. Фаза между сигналами с фотоприемников 12 и 13 определяется с помощью фазового детектора 14, представляющего собой электронное уст ройство для измерения отношения интенсивности двух сигналов.
Максимальное отношение двух сигналов с фотоприемников 12 и 13 будет при 5 длине оптического пути коллиматор 5 - зеркало 6 - коллиматор 5. кратной длине волны вращения плоскости поляризации лазерного излучения. Измеряемое расстояние L определяется соотношением 10 L =4Т— (N +-£-) + К.
η \ 2л/ где N - целое число, известное из приближенного значения расстояния L;
Т = 1 /f, f - частота колебаний СВЧ-гене15 ратора:
η - показатель преломления среды (например, воздуха):
с - скорость света в вакууме:
φ= arctg I1/I2, h и I2 - интенсивности 20 сигналов с фотоприемников 12 и 13:
К- постоянная интерферометра.
При использовании интерферометра отпадает необходимость в применении высокостабилизированных источников лазер25 ного излучения с длиной когерентности порядка длин базы интерферометра. Точность измерения зависит только от точности частоты СВЧ-генератора и точности регистрации фазы φ и может составлять порядок 30 10'5 относительных единиц.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Интерферометр для измерения расстояний, содержащий источник света, последовательно установленные по ходу излучения 35 двулучепреломляющий кристалл, полупрозрачное зеркало, коллиматор, зеркало, установленное с возможностью перемещения вдоль направления излучения, и фотоприемник. блок измерения отношения сигналов 40 и СВЧ-генератор, выход которого электрически соединен с кристаллом, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, интерферометр снабжен первой и второй четвертьволновыми 45 пластинками, дополнительным двулучепреломляющим кристаллом, дополнительным фотоприемником и призмой Валастона, первая четвертьволновая пластинка размещена между источником света и двулучепреломляющим 50 кристаллом, дополнительный двулучепреломляющий кристалл, вторая четвертьволновад пластинка и призма Валастона установлены последовательно по ходу излучения между полупрозрачным зеркалом и фотоприемником, 55 дополнительный фотоприемник размещен по ходу дополнительно разделенного призмой Валастона излучения, а дополнительный двулучепреломляющий кристалл электрически соединен с выходом СВЧ-генератора.
SU884499586A 1988-10-31 1988-10-31 Интерферометр дл измерени рассто ний SU1587328A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884499586A SU1587328A1 (ru) 1988-10-31 1988-10-31 Интерферометр дл измерени рассто ний

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884499586A SU1587328A1 (ru) 1988-10-31 1988-10-31 Интерферометр дл измерени рассто ний

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1587328A1 true SU1587328A1 (ru) 1990-08-23

Family

ID=21406544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884499586A SU1587328A1 (ru) 1988-10-31 1988-10-31 Интерферометр дл измерени рассто ний

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1587328A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N 1179103. кл. G 01 В 9/02. 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4746216A (en) Angle measuring interferometer
US4688940A (en) Heterodyne interferometer system
EP0281385B1 (en) Plane mirror interferometer
US4859066A (en) Linear and angular displacement measuring interferometer
US4717250A (en) Angle measuring interferometer
US4752133A (en) Differential plane mirror interferometer
US5583638A (en) Angular michelson interferometer and optical wavemeter based on a rotating periscope
US3584959A (en) Shaft position encoders
US5493395A (en) Wavelength variation measuring apparatus
US5374991A (en) Compact distance measuring interferometer
EP0433008B1 (en) Laser interferometric measuring apparatus
US5767971A (en) Apparatus for measuring refractive index of medium using light, displacement measuring system using the same apparatus, and direction-of-polarization rotating unit
US3708229A (en) System for measuring optical path length across layers of small thickness
SU1587328A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
JPH02115701A (ja) レーザー干渉測長計
JPH03269302A (ja) アブソリュート測長器
WO2004003526A1 (en) Heterodyne laser interferometer using heterogeneous mode helium-neon laser and super heterodyne phase measuring method
RU2147728C1 (ru) Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины
GB1428813A (en) Polarization interferometer with beam polarizing and retarding mea ns
SU765666A1 (ru) Устройство дл измерени фазочастотных характеристик механических колебаний
SU932219A1 (ru) Двухлучевой интерферометр
GB1375091A (ru)
SU1721437A1 (ru) Способ измерени угловых смещений объекта и устройство дл его осуществлени
RU2059198C1 (ru) Устройство для измерения перемещений
Shudong Optical FM heterodyne interferometry for range and displacement measurements