SU1453475A1 - Сканирующий туннельный микроскоп - Google Patents

Сканирующий туннельный микроскоп Download PDF

Info

Publication number
SU1453475A1
SU1453475A1 SU874205117A SU4205117A SU1453475A1 SU 1453475 A1 SU1453475 A1 SU 1453475A1 SU 874205117 A SU874205117 A SU 874205117A SU 4205117 A SU4205117 A SU 4205117A SU 1453475 A1 SU1453475 A1 SU 1453475A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
core
mutually perpendicular
plane
along
scanning
Prior art date
Application number
SU874205117A
Other languages
English (en)
Inventor
Моисей Семенович Хайкин
Original Assignee
Институт Физических Проблем Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физических Проблем Ан Ссср filed Critical Институт Физических Проблем Ан Ссср
Priority to SU874205117A priority Critical patent/SU1453475A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1453475A1 publication Critical patent/SU1453475A1/ru

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y15/00Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к электронным приборам дл  исследовани  физических свойств поверхностей твердых тел. Целью изобретени   вл етс  расширение пол  наблюдени  до 1000 мкм за счет использовани  биморфных пье- зоэлементов в виде дисков. Сканирующий туннельный микроскоп содержит дисковый биморфный пьезоэлемант 2, в центре которого закрепл етс  об

Description

1
Изобретение относитс  к электронным приборам дл  исследовани  физических свойств поверхностей твердых тел и может использоватьс  в сканирующих туннельных микроскопах с раз- решакщей способностью пор дка размеров атома.
Цель изобретени  - расширение пол  наблюдени  до 1000 мкм - достигаетс  за счет исп ользовани  биморфных пьезоэлементов,. в виде дисков, деформаци  которых под действием приложенного электрическо1 о пол  на два пор дка превосходит деформацию пьезоэлементов , работающих на поперечном пьезомодуле, и обеспечени  дви- жени  по двум координатам сердечника, на. котором установлен один из электродов микроскопа - игла, при помощи двух пар биморфных пьезоэлементов,, установленных взаимно перпендикул рно и св занных с сердечником упругими пластинами так, что пара пластин одного направлени  не преп тствует движению сердечника под действием пары упругих пластин другого направлени „ причем кажда  пара упругих пластин, соедин ющих биморфные пьезоэлементы с сердечником , расположена в одной плос- кости, перпендикул рной плоскости расположени  другой пары упругих пластин .
На чертеже изображено устройство, общий вид.
Сканирующий туннельный микроскоп содержит станину 1, в верхней части которой на дисковом биморфном пьезо- элементе 2 укреплен образец 3 так,,
5
Q 5 Q
0
5
что его можно установить на малом рассто нии от другого электрода - измерительной нг.пы 4. Игла 4 укреплена в фиксаторе 5 на цилиндрическом пьезоблоке 6, обеспечивающем ее перемещение по координате Z. Пьезоблок 6 жестко закреплён на упругой мембране 7 и/ соединен гибким стержнем 8 с сердечником 9. Упругие пластины 10 соедин ют сердечник 9 с втулками 11, установленными в центральных отверсти х дисковых биморфных пьезоэлементов 12, которые укреплены по их внешнему краю на станине 1. Сердечник 9 опираетс  на остроконечный штифт 13, в свою очередь опирающийс  на регулировочный винт 14, ввернутый в нижнюю часть станины 1.
Устройство работает следующим образом .
Сканирование иглы по кадру вдоль поверхности образца осуществл етс  за счет того, что биморфные пьезоэлементы 12, прогиба сь под действием подаваемого на них пилообразного напр жени , через втулки 11 толкают упругие пластины 10, лежащие в плоскости XZ, и сердечник 9 в направлении оси X (биморфные пьезоэлементы включены в электрическую схему так, что прогибаютс  синхронно влево или вправо ) . При этих движени х (малой амплитуды ) сердечника 9 по оси X другие две упругие пластины, лежащие в плоскости YZ, изгибаютс  и не преп тствуют указанному движению сканировайи  в направлении X. Друга  пара биморфных пьезоэлементов аналогичным образон производ т сканирование в направлении Y. Движени  сердечника 9 через упругий стержень 8 передаютс  пьезе- блоку 6 качающемус  около центра мембраны 7 вместе с укрепленными на нем фиксатором 5 и измерительной иглой 4, Благодар  малости амплитуды качаний, сканирование кончика иглы
1453475
числами шагов сканировани  по строкам и кадрам. Йри этом разрешение по оси Z, т.е. nq глубине профил , может достигать -10 нм и быть понижено до 0,1-1 нм.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Сканирук ций туннельный микроскоп.
    -- -лаиирук ции туннельный микооск
    происходит по участку сферической по- ,о содержащий станину с
    ВерХНОСТИ. практически HP лтпыиаито- .. ...... оал1 сш1еииым
    верхности, практически не отличающемус  от плоскости.
    Штифт 13, зажатый между винтом 14 и сердечником 9, не преп тствует сканированию в плоскости XY, но исключает возможность движени  сердечника 9 в направлении оси Z под действием помех от внешних вибраций. Пьезо- блок 6 перемещает измерительную иглу 4 вдоль оси Z под действием сигнала обратной св зи, поддерживающего посто нный туннельный ток между электродами , и, тем самым, посто нное расна ней узлом позиционировани  образца и узлом перемещени  по трем взаимно перпендикул рным координатам измерительной иглы, выполненным из трех
    t5 взаимно перпендикул рных пьезоблоков, отл- ичающийс  тем, .что, с целью расширени  пол  наблюдени  до 1000 мкм, узел перемещени  выполнен в виде сердечника, соединенного
    20 через радиально расположенные четьфе упругие пластины с первым и вторым пьезоблоками, каждый из которых выполнен в виде двух вертикальных и диаметрально расположенных дисковбсто ние между ними в процессе сканировани .25 разных биморфных пьезоэлементов, закИспользование изобретени  позвол - репленных по периметру в станине, и ет получать геометрические профили расположенного над сердечником и сое- (карты уровней) поверхностей металлов диненного с ним через упругий стер- или полупроводников, а также .карты их жень третьего цилиндрического пьезо- мапамГ 1пГ участках с раз-до блока, верхний торец которого закреп- мерами от - 100 нм с атомным разре- лен в горизонтальной упругой мембране шением в плоскости XY, до 100 мкм „ снабжен фиксатором измерительной (.и более; с разрешением, определ емым иглы.
    з
    1453475
    числами шагов сканировани  по строкам и кадрам. Йри этом разрешение по оси Z, т.е. nq глубине профил , может достигать -10 нм и быть понижено до 0,1-1 нм.
    Формула изобретени  Сканирук ций туннельный микроскоп.
    -лаиирук ции туннельный микооск
    содержащий станину с
    содержащий станину с
    .. ...... оал1 сш1еииым
    на ней узлом позиционировани  образца и узлом перемещени  по трем взаимно перпендикул рным координатам измерительной иглы, выполненным из трех
    взаимно перпендикул рных пьезоблоков, отл- ичающийс  тем, .что, с целью расширени  пол  наблюдени  до 1000 мкм, узел перемещени  выполнен в виде сердечника, соединенного
    через радиально расположенные четьфе упругие пластины с первым и вторым пьезоблоками, каждый из которых выполнен в виде двух вертикальных и иаметрально расположенных дисковбразных биморфных пьезоэлементов, зак
SU874205117A 1987-03-06 1987-03-06 Сканирующий туннельный микроскоп SU1453475A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874205117A SU1453475A1 (ru) 1987-03-06 1987-03-06 Сканирующий туннельный микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874205117A SU1453475A1 (ru) 1987-03-06 1987-03-06 Сканирующий туннельный микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1453475A1 true SU1453475A1 (ru) 1989-01-23

Family

ID=21288913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874205117A SU1453475A1 (ru) 1987-03-06 1987-03-06 Сканирующий туннельный микроскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1453475A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990013907A1 (en) * 1989-05-12 1990-11-15 Institut Radiotekhniki I Elektroniki Akademii Nauk Sssr Scanning tunnel microscope
RU196011U1 (ru) * 2019-12-13 2020-02-13 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Трехкоординатное устройство позиционирования

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Gerber Ch., Binnig G ее al. Scanning tunneling microscope combined with a scanning electron microscope. Review of Scientific Instruments 57, № 2, 221, 1986. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990013907A1 (en) * 1989-05-12 1990-11-15 Institut Radiotekhniki I Elektroniki Akademii Nauk Sssr Scanning tunnel microscope
RU196011U1 (ru) * 2019-12-13 2020-02-13 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Трехкоординатное устройство позиционирования

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4520570A (en) Piezoelectric x-y-positioner
US5107114A (en) Fine scanning mechanism for atomic force microscope
US7501615B2 (en) Flexure assembly for a scanner
US4785177A (en) Kinematic arrangement for the micro-movements of objects
JP4014054B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡用の平坦なスキャンステージ
JP2839543B2 (ja) 変位発生装置
Corey et al. Mechanical stimulation and micromanipulation with piezoelectric bimorph elements
US5214342A (en) Two-dimensional walker assembly for a scanning tunneling microscope
JP2013530387A (ja) 平面物体のレベリングのためのボールスペーサ方法
US5075548A (en) Tunnel current probe moving mechanism having parallel cantilevers
KR20060016118A (ko) 주사 프로브 현미경 및 샘플면 주사 방법
SU1453475A1 (ru) Сканирующий туннельный микроскоп
KR101699111B1 (ko) 운동학적 굴곡 어레인지먼트를 채용한 지지 스테이지를 갖는 주사형 프로브 현미경
EP0413397A1 (en) Electro-mechanical transducer and positioning device comprising such an electro-mechanical transducer
EP0252174B1 (en) Coarse-approach positioning device
KR101151136B1 (ko) 주사탐침현미경용 스캐너
RU1797149C (ru) Сканирующий туннельный микроскоп
SU1531181A1 (ru) Сканирующий туннельный микроскоп
Wakatsuki et al. Tri-axial sensors and actuators made of a single piezoelectric cylindrical shell
JPS63153405A (ja) 走査型トンネル顕微鏡
SU1661867A1 (ru) Позиционер образца
SU1564702A1 (ru) Сканирующий туннельный микроскоп
JPH08334519A (ja) 駆動装置
RU2056666C1 (ru) Микроманипулятор для позиционирования зонда
JP2645363B2 (ja) 走査トンネル顕微鏡