SU1415058A1

SU1415058A1 - Устройство дл контрол отверстий в детал х

Info

Publication number: SU1415058A1
Application number: SU864160770A
Authority: SU
Inventors: Юрий Васильевич Ажичаков; Валерий Сергеевич Пронькин; Людмила Моисеевна Голянская
Original assignee: Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро Автоматизации Тяжелого Металлорежущего Оборудования
Priority date: 1986-12-12
Filing date: 1986-12-12
Publication date: 1988-08-07

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол соосности , неци- линдричности и некруглости отверстий в детал х. Целью изобретени вл етс повышение точности и информативности: за счет материализации базовой по- ; верхнйсти с помощью сканатора и фотоимпульсного способа преобразовани измерительной информации. При измерении вращают призму 4 с посто нной . скоростью дл сканировани луча излучател I по окружности. В процессе сканировани луч периодически пре- рьваетс реперньм знаком 5 и маркой f 7, выполненными непрозрачными. Map « ка 7 установлена в центрирующем узле 6 с возможностью осевого перемеще- НИН и вращени дл ощупывани контролируемой поверхности. Марка 7 -выполне- на переменной ширины, благода чему врем прерьшани маркой 7 луча пр мо пропорционально рассто нию контролируемой точки до луча. Угловое положение контролируемой точки опре- дел етс временем прохододени луча от реперного знака 5 до марки. Временные интервалы определ ют с по мощью фотоэлектрргческого преобразовател 9 и отсчетно-регистрирующе го блока 10. Массив измерительной информации в различных сечени х отверг стий детали 11 позвол ет определить их некруглость, нецилиндрич- ность и несоосность. 1 з.и.ф-лы 2 ил. (П

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для контроля соосности, нецилиндричности и некруглости отверс- $ тий в деталях.

Цель изобретения - повышение точности и информативности контроля.

На фиг.1 показана схема устройства для контроля отверстий в деталях; jg на фиг.2 - вид А на фиг.1.

Н·

Устройство содержит последователь- но расположенные излучатель 1, сканатор, выполненный в виде корпуса 2, установленного в нем приводного вала *·* 3, и закрепленной на валу призмы 4. реперный знак 5 из непрозрачного материала, центрирующий узел 6, визирную., непрозрачную марку 7 переменной ширины с контактным наконечником 8, уста- новленным в центрирующем узле 6 с воз- можностью осевого перемещения и вра- щения, фотоэлектрический преобразователь 9 и отсчетно-регистрирующий __ блок 10.

Устройство работает следующим образом.

В первое контролируемое отверстие детали 11 устанавливают центрирующий узел 6. При этом наконечник 8 контактирует с проверяемой поверхностью детали 11.

Устанавливают излучатель 1 так, чтобы его ось совпала с осью вала 3 и центрирующего узла 6. При измерений вращают призму 4 с постоянной скоростью для сканирования луча по окружности и создают измерительную базу в виде эталонной цилиндрической дд поверхности. В процессе сканирования луч. периодически прерывается реперным знаком 5 и маркой 7, что регистрируется отсчетно-регистрирующим блоком 10 в виде интервалов времени про-дд хождения лучом между реперным зна — ком 5 и маркой 7 и от одного края марки 7 до другого, по которым определяется расстояние от контролируемой точки поверхности детали ¹ ' 50 до луча по формуле

А = К, - К₂· а угловое положение контролируемой точки определяется по формуле

Ср ^в 217 tj + Т где t₍ - время прохождения луча через марку;

t - время прохождения луча от реперного знака до марки;

Т - время прохождения луча по окружности за один цикл сканирования;

К_Г( и К_г- постоянные коэффициенты.

Поворачивая наконечник 8 относи- , тельно оси центрирующего узла 6, фиксируют изменения профиля отверстия детали 11 в заданном сечении. Перемещая центрирующий узел 6 вдоль его оси, фиксируют профиль в других сечениях отверстия. После этого центрирующий узел 6 устанавливают во второе контролируемое отверстие детали ли 11 и повторяют измерения. Результаты измерений используют для определения некруглости, нецилиндричности и несоосности отверстий с по мощью средств микропроцессорной техники.

Claims

Формула изобретения

1 . Устройство, для контроля отверстий в деталях, содержащее последовательно расположенные излучатель, центрирующий узел, визирную марку с контактным наконечником, установленным в центрирующем узле с возможностью осевого перемещения и вращения относительно оси центрирующего узла, фотоэлектрический преобразователь и отсчетно-регистрирующий блок, отличающееся тем,' что, с целью повышения точности и . информативности контроля, оно снабжено сканатором для сканирования луча по окружности.
2. Устройство по п.1, о т л и чающееся тем, что реперный знак расположен между излучателем и центрирующим узлом, при этом реперный знак и марка выполнены из непрозрачного материала, а марка имеет переменную ширину в направлении оси контактного наконечника.