SU1332386A1 - Operational storage unit with a self-check - Google Patents
Operational storage unit with a self-check Download PDFInfo
- Publication number
- SU1332386A1 SU1332386A1 SU864045855A SU4045855A SU1332386A1 SU 1332386 A1 SU1332386 A1 SU 1332386A1 SU 864045855 A SU864045855 A SU 864045855A SU 4045855 A SU4045855 A SU 4045855A SU 1332386 A1 SU1332386 A1 SU 1332386A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- outputs
- information
- output
- unit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использоваио при создании оперативных запоминающих устройств в интегральном исполнении. Целью изобретени вл етс повышение надежности устройства . Устройство содержит накопитель , регистр адреса, бЛ оки выборки строки и столбца, блок коррекции, генератор кода, первый и второй мультиплексоры , первый и второй блоки управл еьих инверторов, регистр ввода - вывода и блок генерации теста. В устройстве осуществл етс тестова проверка встроенных схем обнаружени и коррекции ошибок многоразр дных БИС запоминакщих устройств путем последовательной имитации одиночных ошибок дл каждой кодовой комбинации информационных разр дов. 2 ил. г (ЛThe invention relates to computing and can be used when creating random-access memory devices in an integrated design. The aim of the invention is to increase the reliability of the device. The device contains a drive, address register, row and column sampling unit, correction unit, code generator, first and second multiplexers, first and second control inverters, input / output register, and test generation unit. The device carries out a test check of the built-in error detection and error correction schemes of multi-bit LSI storage devices by sequentially simulating single errors for each code pattern of information bits. 2 Il. g (L
Description
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использовано при создании оперативных запоминающих устройств в интегральном исполнении,The invention relates to computing and can be used to create random-access memory devices in integrated design,
Целью изобретени вл етс повышение надежности устройства.The aim of the invention is to increase the reliability of the device.
На фиг.1 приведена схема оперативного запоминающего устройства с само- ю выхода делител частоты, по- контролем; на фиг,2 - схема блока строенного на триггере 20 и переклюБлок 13 организует чередующиес циклы работы, устройства в режимах записи и считывани с последовательным формированием в циклах записи ошибок в информационных и контрольных разр дах дл всех вариантов входных 8-разр дных слов. При этом режим работы устройства задает силFIG. 1 is a diagram of a random access memory with a frequency divider output itself; Fig. 2 is a block diagram of a block built on the trigger 20 and the switch on. The block 13 organizes alternate operation cycles, devices in the write and read modes with sequential generation of errors in the information and control bits for all variations of the 8-bit words in the write cycles. In this case, the mode of operation of the device sets the forces
генерации теста,test generation
Устройство (фиг,1) содержит регистр 1 адреса, блоки 2 и 3 выборки строки и столбцов, накопитель 4, блок 5 усилителей, первый 6-и второй 7 блоки управл емых инверторов, генератор 8 кода, блок 9 коррекции, первый 10 и второй 11 мультиплексоры, регистр 12 ввода-вывода, блок 13 генерации теста, внешние входы 14 и 15 адреса строки и столбцов, информационые входы-выходы 16, вход 17 управлени запись-считывание, выход 18 отбраковки устройства.The device (FIG. 1) contains the address register 1, blocks 2 and 3 of the row and column samples, drive 4, amplifier block 5, first 6 and second 7 blocks of controlled inverters, code generator 8, correction block 9, first 10 and second 11 multiplexers, input-output register 12, test generation block 13, external inputs 14 and 15 row and column addresses, information inputs-outputs 16, write-read control input 17, device rejection output 18.
Блок генерации теста (фиг,2) дгш микросхем пам ти с корректирующим кодом Хеминга (12,8) содержит генератор 19 тактовых импульсов, триггер 20, элемент ИЛИ 21, 13-разр дный кольцевой регистр 22, триггер 23, элемент ИЛИ 24, элемент И 25, схему 26 сравнени и счетчи к 27,The test generation block (FIG. 2) of the dgsh memory chips with the Heminga correction code (12.8) contains a generator of 19 clock pulses, trigger 20, element OR 21, 13-bit ring register 22, trigger 23, element OR 24, element And 25, comparison circuit 26 and counters to 27,
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
При подключении питани к устройству генератор 19 тактовых импульсов, Т-триггеры 20 и 23 и счетчик 27 устанавливаютс в исходное состо ние (состо ние О дл всех выходов перечисленных схем), В начальное состо ние устанавливаетс также и кольцевой регистр 22, причем в его первый разр д записываетс 1 а во все остальные разр ды - О. Цепи начальной установки не показаны. Устройство работает в режиме посто нной выборки и сигнал уровн О на управл ющем входе регистра 1 адреса посто нно Удерживает его в выбранном состо нии (например, 00,,,О, что означает обращение при самотестировании только к элементам пам ти с адресом 00,,,0), Сигнал уровн О на управл ющих входах мультиплексоров 10 и 11 обеспечивает пропуск на блок 5 усилителей и генератор кода Хемминга сигналов с выходов блока 13,When power is connected to the device, the clock pulse generator 19, T-flip-flops 20 and 23, and counter 27 are reset (O state for all outputs of the listed circuits). The ring register 22 is also set to the initial state, and its first the bit is recorded 1 and all other bits are written O. The circuit of the initial installation is not shown. The device operates in the continuous sampling mode and the level signal O at the control input of register 1 of the address Permanently holds it in the selected state (for example, 00 ,,, О, which means that only the memory elements with address 00 , 0), The level signal O at the control inputs of multiplexers 10 and 11 provides a pass to the amplifier block 5 and the Hamming code generator of signals from the outputs of block 13,
выхода делител частоты, по- строенного на триггере 20 и переклюБлок 13 организует чередующиес циклы работы, устройства в режимах записи и считывани с последовательным формированием в циклах записи ошибок в информационных и контрольных разр дах дл всех вариантов входных 8-разр дных слов. При этом режим работы устройства задает сил The output of the frequency divider, built on the trigger 20 and the switch 13, organizes alternate operation cycles, devices in the write and read modes with sequential generation of errors in the information and control bits for all variations of the 8-bit words in the write cycles. In this case, the mode of operation of the device sets the forces
4, выполн ет инверторы 6 и 7 управление.сигнала уровн 4, performs inverters 6 and 7 of the level signal.
чаемого по заднему фронту импульса генератора 19,read on the falling edge of the pulse generator 19,
Формирование однократной ощибки в слове, загТисываемом в накопительFormation of a single error in a word written in the drive
подunder
1 с выхода соответствующего разр да регистра 22, Исправление ошибки при считывании этого слова из накопите,- л 4 осуществл ет блок 9 коррекции Факт исправлени ошибки устанавливает схема 26 сравнени , причем сравнение разрешено только в режиме счи- тывани во врем действи импульса генератора 17 (это обеспечивает до01 from the output of the corresponding bit of register 22, Correction of the error in reading this word from the accumulate, - l 4 is carried out by correction block 9 The fact of the comparison circuit establishes the error correction circuit 26, and the comparison is allowed only in the read mode during the generator 17 pulse ( it provides up to 0
5five
00
00
стоверность считанных данных). Смена ошибочного бита происходит при сдвиге 1 в регистре 18 по заднему фронту импульса на выходе триггера 20, а переход к новому информационному слову (смена состо ний счетчика 23) происходит по заднему фронту импульса положительной пол рности иа выходе 13-го разр да регистра 22, При обнаружении факта неисправлени ошибки схема 26 сравнени формирует сигнал уровн I, который переключает триггер 23, Это приводит к формированию сигнала уровн 1 на выходе 18 и к сбросу и блокировке в . состо нии О, генератора 19, Блокировка генератора происходит также после полного перебора возможных g информационных слов, т,е, при по влении 1 в старшем 9-м разр де счетчика . При этом устройство переходит в режим BHennftHX обращений, причем дополнительна задержка, вносима блоками тестировани , равна задержке в мультиплексорах 10 и 1I,reliability of the read data). The erroneous bit is changed by shifting 1 in register 18 along the falling edge of the pulse at the output of the trigger 20, and the transition to the new information word (changing the state of the counter 23) occurs along the falling edge of the positive polarity and the output of the 13th register 22, When an error is detected, the comparison circuit 26 generates a level I signal, which switches the trigger 23. This leads to the formation of a level 1 signal at output 18 and to a reset and block. state O, generator 19, the generator is blocked also after a complete search of possible g information words, t, e, with the appearance of 1 in the older 9th digit of the counter. In this case, the device enters the BHennftHX call mode, with the additional delay introduced by the testing units being equal to the delay in multiplexers 10 and 1I,
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864045855A SU1332386A1 (en) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | Operational storage unit with a self-check |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864045855A SU1332386A1 (en) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | Operational storage unit with a self-check |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1332386A1 true SU1332386A1 (en) | 1987-08-23 |
Family
ID=21229687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864045855A SU1332386A1 (en) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | Operational storage unit with a self-check |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1332386A1 (en) |
-
1986
- 1986-03-31 SU SU864045855A patent/SU1332386A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Алексеенко Л.Г., Шагурин И.И. Микросхемотехника. - М,: Радио и св зь, 1982, с. 247. Патент US № 4335459, кл. 371-38, опублик. 1983. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1332386A1 (en) | Operational storage unit with a self-check | |
SU1481862A1 (en) | Memory block check unit | |
SU1396160A1 (en) | Storage with self-check testing | |
SU1554030A1 (en) | On-line memory with self-diagnosis | |
JPS6325749A (en) | Semiconductor storage element | |
SU1336123A1 (en) | Device for checking on-line storage unit | |
SU1283859A1 (en) | Device for checking memory blocks | |
SU1040526A1 (en) | Memory having self-check | |
SU1302325A1 (en) | Device for checking internal memory | |
SU1010651A1 (en) | Memory device having self-testing capability | |
SU1275548A1 (en) | Device for checking integrated circuits of internal memory | |
SU1183968A1 (en) | Device for checking logical units | |
SU1256101A1 (en) | Device for checking digital memory blocks | |
SU1149312A1 (en) | Device for checking integrated circuits of primary storage | |
SU1229826A1 (en) | Internal storage with self-check | |
SU1109930A1 (en) | Device for synchronizing asynchronous read and write pulses | |
SU1246141A1 (en) | Device for detecting errors in read-only memory block | |
SU1187278A1 (en) | Device for input of information from coordinate keyboard | |
SU1140180A1 (en) | Primary storage with self-check | |
SU1624527A2 (en) | Permanent memory unit | |
SU1403097A1 (en) | Solid-state storage checking device | |
SU1495854A1 (en) | Check unit for multibit main memory units | |
SU1215137A1 (en) | Storage with information correction | |
SU1683015A1 (en) | Device for test check and diagnostics of digital modules | |
SU934553A2 (en) | Storage testing device |