SU1296837A1 - Device for checking geometric dimensions and flaws of specimens with dissipating surfaces - Google Patents
Device for checking geometric dimensions and flaws of specimens with dissipating surfaces Download PDFInfo
- Publication number
- SU1296837A1 SU1296837A1 SU817772052A SU7772052A SU1296837A1 SU 1296837 A1 SU1296837 A1 SU 1296837A1 SU 817772052 A SU817772052 A SU 817772052A SU 7772052 A SU7772052 A SU 7772052A SU 1296837 A1 SU1296837 A1 SU 1296837A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- receiver
- line
- defect
- main receiver
- image plane
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Heat Sensitive Colour Forming Recording (AREA)
Description
к отделыюй схеме анализа наблюдени допуска на толщину в электронной схеме обработки данных,to the separation scheme for analyzing the observation of the thickness tolerance in the electronic data processing circuit,
7.Устройство по пп.2-6, отличающеес тем, что строчкооб- разные фотоприемники расположены в плоскости изображени той же самой отображающей оптики.7. A device according to claims 2-6, characterized in that the line-type photodetectors are located in the image plane of the same imaging optics.
8.Устройство по пп., отличающеес тем, что главный приемник расположен в плоскости изображени первой отобр 1жающей оптики , а второстепенные приемники размещены в плоскости изображени второй отображающей оптики.8. A device according to claims, characterized in that the main receiver is located in the image plane of the first imaging optics, and the secondary receivers are located in the image plane of the second imaging optics.
9.Устройство по п.8,. отличающеес тем, что оптичес-- ка ось первой отображающей оптики составл ет больший угол с падающим светом, чем оптическа ось второй отображающей оптики.9. The device of claim 8 ,. characterized in that the optical axis of the first imaging optics makes a larger angle with the incident light than the optical axis of the second imaging optics.
10.Устройство по п.9, отличающеес тем, что между оптической осью первой отображающей оптики и геометрическим эталоном поверхности испытуемого образца образуетс угол в интервале от 70 до 9СГ .10. A device according to claim 9, characterized in that an angle in the interval from 70 to 9 cm is formed between the optical axis of the first imaging optics and the geometric standard of the surface of the test sample.
11.Устройство по п.1,отличающеес тем, что приемник ощибок состоит минимально из двух строчкообразных фотоприемников, оди из которых - блок сигнализации дефетов , а другой - детектор брака, причем блок сигнализации дефектов расположен в плоскости изображени параллельно основному приемнику, а детектор брака - также параллельно основному приемнику, но на большем рассто нии от него.11. The device according to claim 1, characterized in that the error receiver consists of at least two line-type photodetectors, one of which is the defet signaling unit and the other is the defect detector, the defect signaling unit is located in the image plane parallel to the main receiver, and the defect detector - also parallel to the main receiver, but at a greater distance from it.
12.Устройство по.п.I1, отличающеес тем, что блок сигнализации дефектов, отделенный дистанционной зоной, следует за основ-г приемником и детектор брака своим направленным в сторону основного приемника краем находитс в положении, соответствующем отклонению изображени линии развертки при недопустимой глубине дефектов по верхности, а на выходе блока сигнализации дефектов в блоке анализа ошибок введены блок определени площади дефекта дл получени сигнала ошибок и логическа чейка ИЛИ, соединенна с детектором брака.12. An I1 device, characterized in that the defect signaling unit, separated by a distance zone, follows the main receiver and the defect detector with its edge directed towards the main receiver in the position corresponding to the deviation of the scan line image with an unacceptable depth of defects surface, and at the output of the defect signaling unit in the error analysis block, a block for determining the area of the defect is inserted to receive an error signal and a logical OR cell connected to a defect detector.
13.Устройство по п.12, отличающеес тем, что при максимально ожидаемой глубине дефекта13. The device according to claim 12, characterized in that with the maximum expected depth of the defect
поверхности образца диапазон-детектора брака соответствует отклонению изображени линии развертки.The sample surface of the reject detector range corresponds to the deviation of the scan line image.
14.Устройство по ПП.11 и 13, о т личающеес тем, что детектор брака размещаетс непосредственно при блоке сигнализации дефектов.14. The device according to Claims 11 and 13, which is noted for the fact that the defect detector is located directly in the defect signaling unit.
15.Устройство по пп.2-14, отличающеес тем, что в качестве строчкообразных фотоприемников примен ютс удлиненные фотоэлектрические приемные элементы, выполненные в виде строк.15. A device according to claims 2-14, characterized in that elongated photoelectric receiving elements made in the form of lines are used as line-type photodetectors.
16.Устройство по пп.2-14, отличающеес тем, что в качестве строчкообразных,фотоприемников примен ютс щелева диафрагма, р дом с ней фокусирующа оптика и в ее плоскости изображени - приемньш элемент с незначительным коэффициентом расщиренк1 .16. A device as claimed in Claims 2-14, characterized in that a line slit diaphragm, focusing optics are placed next to it, and the focusing optics in its image plane — the receiving element with a slight spreading factor1.
17.Устройство по nn,i-16, отличающеес тем, что в него введен приемник сигналов ширины, соединенный с расположенными в цепи сигнала на выходе вентильными схемами блока электронной схемы данных.17. A device according to nn, i-16, characterized in that a width signal receiver is inserted into it, which is connected to the valve circuits of the electronic data circuit block located in the output signal circuit.
18.Устройство по п.17, отличающеес тем, что в качестве вентильной схемы на выходе блока обработки толщин и блока анализа ощибок примен ютс соответственно расположенные отдельные логические чейки И.18. A device according to claim 17, characterized in that, respectively, separate logic cells I. are located at the output of the thickness processing unit and the error analysis unit.
19.Устройство по ПП.17 и.18, от личающеес тем, что в качестве приемника сигналов ширин в плоскости изображени одной из отбб- ражающих оптик примен етс фотоэлектрический приемник сигналов ширин дл отображени линии развертки в каждом возможном отклонении.19. A device according to PP 17 and 18, characterized in that a photoelectric width signal receiver is used to display the width signal in the image plane of one of the reflecting optics to display the scanning line at each possible deviation.
20.Устройство по П.1, о т л и - чающеес тем, что перед фотоэлектрическим приемным устройством размещен светоделитель, а приемник сигналов ширин размещаетс в плоскости изображени отделенного хода лучей за светоделителем.20. The device according to Claim 1, which is based on the fact that a beam splitter is placed in front of the photoelectric receiving device, and a width signal receiver is placed in the image plane of the separated beam path behind the beam splitter.
21 .Устройство по ПП.1 и 20. отличающеес тем, что отображающа оптика и приемник сигналов ширин расположены в его плоскости в рассе нном свете внутри хода лучей в осветительной системе,21. A device according to Claims 1 and 20. characterized in that the imaging optics and the receiver of width signals are located in its plane in scattered light within the course of the rays in the lighting system,
22,Устройство по пп.19-21, отличающеес тем, что приемник сигналов ширин состоит из отображающей оптики дл элемента сигналов22, Device according to claims 19-21, characterized in that the width signal receiver consists of a display optics for the signal element
ширин и расположенного в его плоскости изоб1#ажени приемного элемента с незначительным коэффициентом расширени .width and located in its plane of the image of an active element with an insignificant coefficient of expansion.
23.Устройство по пп.1-22, о т - ЛИ) чающеес тем, что луч развертки осветительного устройства направлен перпендикул рно на поверхность испытуемого образца.23. The device according to claims 1-22, T - LI), in that the scanning beam of the illumination device is directed perpendicularly to the surface of the test specimen.
tt
Изобретение относитс к устройству дл контрол дефектов и геометрических размеров образцов с рассеивающими поверхност мии предпочтительное плоской или цилиндрической формой, с помощью которого в процессе проверки одновременно могут определ тьс длина, диаметр и толщина, соблюдение Ш1И превьш1ение диаметров и допуска на толщину испытуемого образ- ца, величины ошибок поверхности таких как дыры, трещины, лунки, местные бугры, а также глубина или вы-, сота дыр, лунок и местных бугров. Устройство рассчитано на определение отклонений $ с 10 мкм В нескольких милиметров и может примен тьс дл проверки и контрол образцов, а также дп обнаружени специальных дефект :в, отклонений допусков н фор- мы технических поверхностей, учитыва автоматизацию этих процессов. Изобретение примен етс дл контрол образцов с сильно рассеивающими и диффузно отражающими поверхност ми. The invention relates to a device for checking defects and geometrical dimensions of samples with scattering surfaces, preferably a flat or cylindrical shape, with which the test can simultaneously determine the length, diameter and thickness, adherence to diameter and thickness tolerance of the test sample. surface error values such as holes, cracks, dimples, local mounds, as well as depth or high, holes, dimples and local mounds. The device is designed to determine deviations from 10 microns in a few millimeters and can be used to check and control samples, as well as detect a special defect: in, tolerances deviations and shapes of technical surfaces, taking into account the automation of these processes. The invention is used to control specimens with strongly diffusing and diffusely reflecting surfaces.
. Известен р д устройств.дп оптического контрол размерности поверхности , основывающихс на различных . оптических принципах, причем устройства дп оценки света, отраженного от поверхности испытуемого образца, встречаютс чаще всего.. A number of optical data devices are known for optical inspection of surface dimensions based on different ones. optical principles, with the device dp evaluating the light reflected from the surface of the test sample, are most common.
В описании изобретени к патенту США № 3788741 Н кл. 356-4, 1977 представлен оптический зонд, состо - щий из фокусирующей линзы, полупропускающего зеркала, двух световых фильтров разного цвета, двух детекторов и двух световых источников. Оценка поверхности и глубины дефек- та осуществл етс с помощью измерени количества света, отраженного от поверхности.In the specification of U.S. Patent No. 3,788,771 H, Cl. 356-4, 1977, an optical probe consisting of a focusing lens, a semi-transmissive mirror, two light filters of different colors, two detectors and two light sources is presented. The evaluation of the surface and the depth of the defect is carried out by measuring the amount of light reflected from the surface.
24.Устройство по пп.1-23, отличающеес тем, что в качестве осветительного устройства примен ютс источник света дл точечного излучени и отклон ющий блок дл отклонени светового пучка по строкам вдоль линии развертки испытуемого образца.24. A device according to claims 1 to 23, characterized in that a light source for point radiation and a deflecting unit are used as a lighting device for deflecting the light beam in rows along the scanning line of the test sample.
Известно устройство (патент ВВ) содержащее лампу, цилиндрическую линзу и р д световодов, причем све- товолокна объединены в пучки и св заны с фотоэлементом. Концы свето- водных кабелей расположены в виде строки по направлению отражени света . Оценка поверхности также осущесвл етс сравнением интенсивности отраженного света отдельных фотоэлементов , которые могут по разному комбинироватьс с точки зрени электротехники .A device is known (patent BB) containing a lamp, a cylindrical lens and a series of light guides, the fiber optic being bundled and connected to a photocell. The ends of the light-guided cables are arranged as a string in the direction of light reflection. The evaluation of the surface is also carried out by comparing the intensity of the reflected light of individual photocells, which can be combined in different ways from the point of view of electrical engineering.
Известно устройство (патент ФРГ 2621238, кл. G 01 В 11/04, 1978) дл определени размерности цилиндрических предметов, состо щее из двух приводимых в движение роликов, 1 реплени дл инфракрасного диода и двух фототранзисторов. Во врем проверки цилиндрический предмет перемещаетс на приводимых в движение роликах между инфракрасным диодом и фототранзисторами и в зависимости от их диаметра выключает их так, что интенсивность света вл етс мерой диаметра,A device (German patent 2621238, cl. G 01 B 11/04, 1978) is known for determining the dimension of cylindrical objects, consisting of two driven rollers, 1 replenishment for an infrared diode and two phototransistors. During the test, the cylindrical object moves on the driven rollers between the infrared diode and the phototransistors and, depending on their diameter, turns them off so that the light intensity is a measure of the diameter,
Однако известные устройства не рассчитаны на проверку предметов с сильно рассеивающими поверхност ми, на обнаружение ошибок поверхности и определение их глубин, а также геометрических размеров предметов.However, the known devices are not designed for checking objects with strongly dissipating surfaces, for detecting surface errors and determining their depths, as well as the geometric dimensions of objects.
Цель изобретени - создание устройства , при помощи которого с высокой точностью измерени производитс бесконтактный контроль дефектов и их геометрических размеров во врем одного и того же процесса проверки с обеспечением при этом высокой производительности . Устройство примен етс в автоматически работающих контрольно-измерительных установках.The purpose of the invention is to create a device with which, with high accuracy of measurement, non-contact monitoring of defects and their geometric dimensions is performed during the same verification process, while ensuring high performance. The device is used in automatically operating test equipment.
В основу изобретени положена задача , создать устройство, с помощью которого с высокой эффективностью и без повреждени образца, осуществл етс его контроль.The invention is based on the task of creating a device with which it is controlled with high efficiency and without damage to the sample.
В устройстве дл контрол дефектов и геометрических размеров испытуемых образцов с рассеивающими поверхност ми , состо щем из осветительного устройства дл оптической раз- вертки образца по строкам, механизма передачи движени дл осутцествле- ни относительного движени между линией развертки и испытуемым образцом примерно перпендикул рно к диафрагме развертки, а также из электронных схем обработки эта задача решаетс тем, что в рассе нном свете наход тс , как минимум, менее одна отображаоща оптика и в ее нлос кости изображени фотоэлектрическое приемное устройство, распростран ю- щеес вдоль изображени линии развертки и состо щее из разборного основного приемника, принимающего отображение линии развертки в его номинальном положении, и из приемника ошибок, причем основной приемник содержит несколько строчкообразных фотоприемников и минимально за двум приемниками в одном из блоков дл обработки тол1аины в системе обработки данных следует совместна логическа операци ИЛИ дл контрол толщины , в то врем как приемник ошибок присоединен электронный блок дл обработки ошибок, В качестве основного приемника имеютс два строчкообразных фотоприемных устройства, состо щих из главного приемника, со- бирающего основную часть излучени ,, и вторичного приемника, которые размещаютс один около другого. в качестве основного приемника примен ю три строчкообразных фотоприемных устройства, состо щих из среднего главного приемника, собирающего основную часть излучени , и двух вто- ричт.1х приемников, соединенных между сЪбой электрически размещенных один около другого. Кроме того, в качестве основного приемника может служить и первое строчкообразное фотоприемное устройство с распрострн ющейс по длине строки щелью и непосредственно за этой щелью второ строчкообразное фотоприемное устройство , причем второе фотоприемное устройство представл ет собой главIn a device for monitoring defects and geometrical dimensions of test samples with scattering surfaces consisting of a lighting device for optical scanning of a sample in rows, a motion transmission mechanism for sensitizing the relative movement between the scanning line and the test sample approximately perpendicular to the scanning diaphragm , and also from electronic processing circuits, this problem is solved by the fact that at least one of the optics displayed in the scattered light and its image in otoelectric receiver distributed along the image of the scanning line and consisting of a collapsible main receiver, receiving a display of the scanning line in its nominal position, and an error receiver, the main receiver containing several line-type photodetectors and at least two receivers in one of the blocks for processing tol1ainy in the data processing system follows a joint logical operation OR to control the thickness, while an error receiver is attached to the electronic block to for error handling, as there are two main receiver strochkoobraznyh photodetecting device, consisting of a main receiver, was collected the main part of the radiation ,, and a secondary receiver, which are arranged one beside another. As the main receiver, three line-type photodetector devices are used, consisting of an average main receiver collecting the main part of the radiation and two secondary 1.x receivers connected between the slots electrically placed one near the other. In addition, as the main receiver, the first line-type photodetector can also serve as a slot extending along the length of the line and immediately behind this slot the second line-type photodetector, the second photodetector being the heads
о Q Q about Q Q
5five
ный приемник, собирающий основную часть светового потока, а первое фотоприемное устройство рассматриваетс как вторичный приемник.The receiver receives the bulk of the luminous flux, and the first photodetector is treated as a secondary receiver.
Возможно расположение главного приемника непосредственно перед щелью первого строчкообразного фото- пр 1емного устройства. Наход щиес по обеим сторонам главного приемника вторичные приемники могут соответственно подключатьс к отдельной схеме анализа в общей системе электронных схем обработки, предназначенной дл контрол несоблюдени (превышени и неиспользовани ) допуска на толщину. Строчкообразные фотоприемные устройства расположены в плоскости изображени той же самой отображающей оптики или главный приемник находитс в плоскости изображени первой, а вторичный приемник - в плоскости изображени второй отображающей оптики. При этом оптическа ось первой отображающей оптики должна составл ть больший угол с направлением падающего света, чем оптическа ось второй отображающей оптики. Этот угол должен составл ть от 70It is possible to locate the main receiver directly in front of the slit of the first line-like photographic device. Secondary receivers located on both sides of the main receiver can respectively be connected to a separate analysis circuit in a common electronic processing circuitry system designed to control the non-observance (excess and non-use) of the thickness tolerance. Rowed photodetectors are located in the image plane of the same imaging optics or the main receiver is in the image plane first, and the secondary receiver is in the image plane of the second imaging optics. In this case, the optical axis of the first imaging optics should make a larger angle with the direction of the incident light than the optical axis of the second imaging optics. This angle should be from 70
ОABOUT
ДО 90 . Приемник ошибок состоит минимально из двух строчкообразных фо- топриемных устройств,причем блок сигнализации дефектов размещаетс в плоскости изображени паралллельно основному приемнику, а детектор брака - также параллельно к нему, но на больй1ем рассто нии к основному приемнику. Блок сигнализации дефектов отдел етс от основного приемника дистанционной зоной. Детектор бра- ка своим направленным в сторону приемника краем находитс в положении, соответствующем отклонению изображени линии развертки при недопустимой глубине дефектов поверхности. На выходе блока сигнализации дефектов имеетс логическа чейка ИЛИ дл сопр жени сигнала блока определени площади дефекта и сигнала ошибок. Ширина детектора брака соответствует отклонению изображени линии развертки и при максимально ожидаемой глубине дефекта на поверхности испытуемого образца. Детектор брака размещаетс непосредственно около блока сигнализации дефектов. Строчкообразные фотопрцемные устройства составл ютс из удлиненных, выполненных в виде строк фотоэлектрических приемных элементов.TO 90. The error receiver consists of at least two line-type photo-receiving devices, the defect signaling unit is located in the image plane parallel to the main receiver, and the defect detector is also parallel to it, but at a large distance to the main receiver. The defect signaling unit is separated from the main receiver by a remote zone. The scrap detector, with its edge directed towards the receiver, is in a position corresponding to the deviation of the image of the scanning line with an unacceptable depth of surface defects. At the output of the defect signaling unit, there is a logical OR cell for matching the signal of the defect area determining unit and the error signal. The width of the defect detector corresponds to the deviation of the image of the scanning line at the maximum expected depth of the defect on the surface of the test sample. The defect detector is located directly beside the defect signaling unit. Line-mounted photo-prong devices are made up of elongated photoelectric receiving elements made in rows.
Целесообразно выполнить строчко- образные фотоприемные устройства в виде щелевой диафрагмы, следующей за ней фокусирующей оптики и расположенного в ее плоскости изображени при емного элемента. Электронные схемы обработки содержат вентильную схему , котора про вл етс в цепи сигнала после каждого выходного сигнала и второй вход которой св зываетс со схемой сигнализации ширин. На выходе блоков обработки толщин и ошибок в качестве вентильной схемы соответственно размещаютс логические чейки И. Дл сигнализации ширин в плоскости изображени оДной из отображающей оптики имеетс фотоэлектрический приемник сигналов ширин, принимающий изображение линии развертки в каждом- возможном положении отклонени . Данный приемник сигнализации щирин может находитьс и в плоскости изображени отделенного светоделителем хода лучей. Приемник сигналов ширин и принадлежаща к нему отображающа оптика наход тс в отраженном рассе нном свете внутри осветительного хода лучей,, причем приемник сигналов ширин может состо ть из отображающей оптики и приемного элемента с незначительным коэффициентом расширени .It is advisable to make line-type photodetectors in the form of a slit diaphragm, next to it focusing optics and located in its plane of the image of the receiving element. The electronic processing circuits comprise a valve circuit that appears in the signal circuit after each output signal and the second input of which is associated with a width signaling circuit. Logic cells are respectively located at the output of the thickness and error processing units as a gate circuit. For signaling widths in the image plane of ONE of the imaging optics, there is a photoelectric width signal receiver receiving the image of the scanning line in each possible deflection position. This receiver of the signal spikes can also be located in the image plane of the beam path separated by the beam splitter. The width signal receiver and the imaging optics belonging thereto are in reflected diffused light inside the illumination of the beams, and the width signal receiver may consist of the imaging optics and the receiving element with a negligible coefficient of expansion.
Луч развертки осветительного устройства перпендикул рно направлен на поверхность испытуемого образца. Указанное осветительное устройство может г-редставл ть собой точечный источник света в сочетании с отклон ющим блоком дл строчкообразного отклонени света вдоль линии развертки образца.The scanning beam of the illumination device is perpendicularly directed to the surface of the test sample. The specified illumination device can g-represent a point source of light in combination with a deflecting unit for stitching the light along the sample's scanning line.
Преимущества изобретени заключаютс в том, что с высокой точ- ностью измерени и производительностью в процессе контрол образцов бесконтактно получают р д данных таких, как длины испытуемого образца , отклонени допуска толщины, а также относительно дефектов поверхности таких как трещины, лунки, дыры местные бугры и др., причем одновременно определ ютс их размеры по площади, высоте и глубине. По сравнению с другими известными решени ми изобретение позвол ет провести очень экономичный контроль, так как процессы контрол проход т одновременно .The advantages of the invention are that with high measurement accuracy and performance in the process of testing samples, a number of data such as test sample lengths, thickness tolerance deviations, as well as surface defects such as cracks, holes, and holes are obtained without contact. others, and at the same time their sizes are determined by area, height and depth. Compared to other known solutions, the invention allows for very economical monitoring, since the processes are monitored simultaneously.
На фиг.1 схематически показано предлагаемое устройство дл контро968376Figure 1 shows schematically the proposed device for counter 968376
л дефектов и геометрических размеров образцов; на фиг.2 - то же, ;и1 контрол геометирческих размеров с двум отдельно расположенными отоб- с ражающими оптиками; на фиг.З - строч- кообразное фотоприемное устройство с щелевой диафрагмой, фокусирующей оптикой и приемным элементом с незначительным коэффициентом расширени l defects and geometric dimensions of the samples; Fig. 2 shows the same, and 1 control of geometric dimensions with two separately positioned reflecting optics; FIG. 3 shows a line photodetector with a slit diaphragm, focusing optics and a receiving element with a low coefficient of expansion.
O (вариант); на фиг.4 - устройство, вид сбоку; на фиг.5 - приемник, регистрирующий боковые поверхности в квазипараллельно падающеьгу свету рассе нном свете; на фиг.6 - основ5 ной приемник, одна из модификаций; на фиг.7 - то же, измененна модификаци ; на Фиг.8 - то же, друга модификаци ; на фиг.9 - фотоэлектрическое приемное устройство, моди-,O (option); figure 4 is a device, side view; Fig. 5 shows a receiver recording lateral surfaces in a quasi-parallel incidence of scattered light; Figure 6 shows the main receiver, one of the modifications; 7 is the same, modified modification; Figure 8 is the same as another modification; figure 9 is a photoelectric receiving device, modified,
0 фикаци .0 fikatsi.
Устройство состоит из источника света (не показан), испытуемого образца 1 с механизмами 32 передачи движени в виде роликового под5 шипника, отображающей оптики 3 фотоэлектрического приемного:устройства 28 и электронных схем 24 обработки . Светоделитель 10 и приемник сигналов 11 могут отсутствовать.The device consists of a light source (not shown), a test specimen 1 with mechanisms 32 for transferring motion in the form of a roller bearing, reflecting optics 3 of a photoelectric receiving device 28, and electronic processing circuits 24. The splitter 10 and the receiver signals 11 may be missing.
0 Система электронных схем 24 обработки состоит из блока 25 анализа ошибок и блока 26 обработки толщин. Блок 25 анализа ошибок состоит из блока 20 определени площади дефекта , логической чейки 29 ИЛИ и вентильной схемы 31; блок Обработки толщин - из двух формирователей 27 импульсов и вентильной cxetibi 30. Устройство показывает бесконтактный меQ тод проверки дл определени отклонений геометрических размеров и оши- бсж поверхности, который предпочтительно может примен тьс в случае плоских или цилиндрических испытуе мых образцов 1 с диффузно отражающей поверхностью. С помощью системы цилиндрических линз пучок лучей (элементы формировани пуска лучей не показаны) фокусируетс на поверхносл ти образца 1 и образует линию 2 развертки или с помощью вращательно-сим- метричной отображающей оптики формируетс фокус. Последний отклон етс блоком отклонени , например вращающимс зеркалом, многогранником , электро- или акусто- оптическим отклон ющим элементом, вдоль линии 2 на поверхности испытуемого образца 1. В качестве источника0 The electronic processing circuitry system 24 consists of an error analysis block 25 and a thickness processing block 26. The error analysis block 25 consists of a block 20 for determining the area of a defect, a logical cell 29 OR, and a valve circuit 31; The Thickness Processing unit consists of two pulse formers 27 and a valve cxetibi 30. The device shows a non-contact test method for determining deviations of geometric dimensions and surface error, which can preferably be used in the case of flat or cylindrical test specimens 1 with a diffusely reflecting surface. Using a system of cylindrical lenses, a beam of rays (elements of the formation of the start of the rays not shown) is focused on the surface of sample 1 and forms a scanning line 2 or a focus is formed using rotation-symmetric imaging optics. The latter is deflected by a deflection unit, for example, a rotating mirror, a polyhedron, an electrical or acousto-optical deflecting element, along line 2 on the surface of test sample 1. As a source
5five
5five
112112
света можно примен ть лазер, свет которого модулируетс по частоте с помощью модул ционного устройства. Лини 2 развертки при помощи наход щейс в рассе нном свете отображгио- щей оптики 3 изображаетс на -фотоэлектрическом Приемном устройстве 28, состо щем из строчкообразных фотоприемных устройств. Последние подраздел ютс на основной приемник 5 дл измерени толщины испытуемого образца 1, а также на приемник ошибок, содержащий блок 17 сигнализации дефектов и детектор 18 брака. Основной приемник 5 состоит из глав- ного 7 и вторичного 8 приемников (на фиг, 6-8 показаны возможные формы исполнени основного приемника 5). Самый простой вариант состоит из узкого главного приемника 7 и более широкого второстепенного приемника 8 Предполагаетс , что допуск на толщину измен етс только по одному направлению и в св зи с этим изображение 4 линии 2 развертки тоже может перемещатьс только в одном направлении .light, you can use a laser whose light is frequency-modulated with a modulation device. A scanning line 2 using imaging optics 3 in scattered light is imaged on a photoelectric receiving device 28 consisting of line-type photo-receiving devices. The latter are subdivided into a main receiver 5 for measuring the thickness of the test sample 1, as well as an error receiver comprising a defect signaling unit 17 and a reject detector 18. The main receiver 5 consists of the main 7 and secondary 8 receivers (in Figs 6-8, possible forms of the performance of the main receiver 5 are shown). The simplest version consists of a narrow main receiver 7 and a wider secondary receiver 8. It is assumed that the thickness tolerance varies only in one direction and therefore the image 4 of the scanning line 2 can also move only in one direction.
На фиг. 7 и 8 показываетс главный приемник 7, наход 1цийс между двум второстепенными приемниками В. Таким расположением обеспечиЬаетс определение отклонений допуска на толщину по обоим.направлени м. На фиг.8 показываетс модификаци изображенного на фиг.7 варианта исполне- ни , в которой во избежание мертвых зон между стыками строчкообразных ф отоприемных устройств главный приемник 7 был установлен в другой плоскости. Главный приемник 7 размещаетс в плоскости изображени отображающей оптики 3 так, чтобы при испытуемом образце 1 с шириной, соответствующей допуску , изображение 4 линии 2 разверт ки отображалось на него. В этом случае вторичный приемник 8 не получает светового излучени от изображени 4 линии 2 развертки. С помощью двух формирователей 27 импульсов и вен- тильной схемы 30, вход с отрицанием которых относитс к второстепенному . приемнику 8, блок 26 обработки толщин определ ет единичный сигнал, соответствующий годному сигналу. При превышении допуска на толщину испытуемого образца i изображение 4 ли НИИ 2 развертки уходит на второстепенный приемник 8. Если имеетс тол0FIG. 7 and 8, the main receiver 7 is shown located between 1 and 2 secondary receivers B. This arrangement determines the thickness tolerance deviations in both directions. Fig. 8 shows a modification of the embodiment shown in Fig. 7, in which dead zones between the joints of the line-shaped φ of receiving devices, the main receiver 7 was installed in a different plane. The main receiver 7 is located in the image plane of the imaging optics 3 so that with the test sample 1 with a width corresponding to the tolerance, the image 4 of the scan line 2 is displayed on it. In this case, the secondary receiver 8 does not receive light from the image 4 of the scanning line 2. With the help of two pulse shapers, 27 pulses and a fan circuit 30, the input with negation of which is secondary. the receiver 8, the thickness processing unit 26 determines a single signal corresponding to a suitable signal. When the tolerance on the thickness of the test specimen i is exceeded, the image 4 or the SRI 2 sweep to the secondary receiver 8. If there is only 0
8383
o J5 25 o J5 25
зо 5 д о .j about 5 d .j
V8V8
ко один второстепенный 1риом т1К В, тогда предполагаетс , что допуск на толщину может измен тьс по одному направлению. Блок 26 обработки толщин регистрирует сигнал брака дл толщины. Как показано на фиг.2, имеетс возможность размещени главного 7 и второстепенного 8 приемников в плоскост х изображени двух отдельных отображающих оптик 12 иto one minor r1c b, then it is assumed that the thickness tolerance can vary in one direction. The thickness processing unit 26 registers a defect signal for thickness. As shown in FIG. 2, it is possible to place the main 7 and secondary 8 receivers in the image planes of two separate display optics 12 and
13.Целесообразно, чтобы между главным приемником 7 с принадлежащей к нему оптикой и плоскостью падающего света образовалс большой угол, предпочтительно в диапазоне от 7013. It is advisable that a large angle be formed between the main receiver 7 with the optics belonging to it and the plane of the incident light, preferably in the range of 70
до 90-, так как благодар этому получаетс очень узкое изображение 4 линии 2 развертки и обеспечиваетс улучшение разрешающей способности.up to 90, since this results in a very narrow image 4 of the scan line 2 and provides improved resolution.
На фиг.З представлено, что строч- кообразное фотоприемное устройство может состо ть из щелевой диафрагмыFIG. 3 shows that the line photodetector may consist of a slit diaphragm.
14,фокусирующей оптики 15 и приемного элемента 16 с незначительным коэффициентом расширени . Данна модификаци предназначена дл измерени толщин. Благодар наличию щелевой диафрагмы сохран етс строчко- образный характер фотоприемного устройства . Фокусирующа оптика 15 служит дл фокусировки на приемный элемент 16 светового потока, проход щего через щелевую диафрагму 14. Исход из этого, данна модификаци обеспечивает оценку наличи или отсутстви изображе:ни 4 линии 2 развертки14, the focusing optics 15 and the receiving element 16 with a negligible coefficient of expansion. This modification is intended to measure thicknesses. Due to the presence of a slit diaphragm, the line-like character of the photodetector is retained. Focusing optics 15 serves to focus on the receiving element 16 of the luminous flux passing through the slit aperture 14. On this basis, this modification provides an assessment of the presence or absence of the image: neither 4 lines 2 sweep
в соответствующем месте. Принцип определени глубины дефектов поверх-. ности демонстрируетс на фиг,4. С помощью отображающей оптики 3 лини 2 развертки изображаетс на главном приемнике 7, если поверхность испытуемого образца не имеет ошибок, В случае дефектов поверхности таких как сколы, лунки и т.п, соответствующа часть изображени 4 линии развертки 2 уходит в зависимости от глубины дефекта поверхности и находитс ипи в е5локе 17 сигнализации дефекта или в детекторе 18 брака. Диапазон блока 17 сигнализации дефектов выбран так, чтобы он соответствовал максимальному уходу соответствующей части изображени 4 линии 2 развертки дл допустимой еще глубины дефекта поверхности. Детектор 18 брака,, непосредственно след щий за блоком 17 сигнализации дефектов , регистрирует все глубины дефектов ,превышающие заданный размер и привод щие к повышению брака. След щий за детектором 8 брака и блоком 17 сигнализации дефектюв блок 25 анализа ошибок сразу же выдает сигнал брака в момент попадани светового потока на детектор 18 брака, это значит, что на поверхности испытуемого образца 1 находитс дефект , глубина которого превьш1ает максимально допустимую величину. Если имеетс дефект незначительной глубины, тогда соответствующие световые пучки направл ютс только на блок 17 сигнализации дефектов. Он выполнен как матричные приборы с зар довой св зью и электрическим образом подключен к блоку 20 определени площади. Последний определ ет площадь дефекта благодар единичным элементам матричных приборов с зар довой св зью, подвергнутым освещению . Если эта площадь в сочетании с глубиной дефекта превышает заданную величину, тогда генерируетс сигнал брака. Возможно также обнаружить место дефекта путем определени одного или нескольких единичных элементов матричного прибора с зар довой св зью, подвергнутых освещению . Глубокие дефекты, как трещины, глубокие дыры и т.п., при которых из-за затенени кромками дефектов не возникает изображени на фотоэлектрическом приемном устройстве 28, регистрируютс как прерывание изображени 4 линии 2 развертки и обнаруживаютс как соответственный де- фект с помощью блока 25 анализа ошибок . Если по обеим сторонам основного -приемника 5 размещаютс по одному блока I7 сигнализации дефектов и одному детектору 18 брака, то также возможно оценит ь местш 1е лунки и вершины поверхности испытуемого образца , так как изображение 4 линии 2 развертки может сдвинутьс по обеим сторонам в направлении главного приемника 7. Во избежании получени светочувствительных зон на стыках между отдельными строчкообраз ными фотоприемными устройствами имеетс также возможность разместить их в двух расположенных близко друг за другом плоскост х, чтобы строчкооб- разные. фотоприемные устройства перекрывались . На фиг.9 представлен возможный вариант модификации фотоэлектрического приемного устройства. Вin the appropriate place. The principle of determining the depth of surface defects. This is shown in FIG. 4. Using the imaging optics 3, the sweep line 2 is displayed on the main receiver 7, if the surface of the test sample has no errors. In the case of surface defects such as chips, holes, etc., the corresponding part of the image 4 of the scan line 2 goes away depending on the depth of the surface defect. and is located in the defect signaling block 17, or in the defect detector 18. The range of the defect signaling unit 17 is chosen so that it corresponds to the maximum care of the corresponding part of the image 4 of the scanning line 2 for the allowable depth of the surface defect. The reject detector 18, directly following the defect signaling unit 17, registers all defect depths exceeding a predetermined size and leading to an increase in rejects. Following the defect detector 8 and the defect signaling unit 17, the error analysis unit 25 immediately generates a defect signal when the light flux reaches the defect detector 18, which means that a defect is located on the surface of test sample 1, the depth of which exceeds the maximum allowable value. If there is a defect of a minor depth, then the corresponding light beams are directed only to the defect signaling unit 17. It is designed as a matrix device with a charge connection and is electrically connected to the area determining unit 20. The latter determines the area of the defect due to the unit elements of the matrix devices with charge coupling subjected to illumination. If this area in combination with the depth of the defect exceeds a predetermined value, then a reject signal is generated. It is also possible to detect the location of a defect by determining one or several single elements of a matrix device with a charge coupling subjected to illumination. Deep defects, such as cracks, deep holes, and the like, in which the image on the photoelectric receiving device 28 does not appear due to shadowing of the defect edges, are recorded as interrupting the image 4 scan lines 2 and are detected as the corresponding defect using block 25 error analysis. If one defect signaling block I7 and one defect detector 18 are placed on both sides of the main receiver 5, it is also possible to estimate the location of the first hole and the surface peaks of the test sample, since the image 4 of the scanning line 2 can move on both sides in the main direction receiver 7. In order to avoid obtaining photosensitive zones at the joints between the individual line-like photodetectors, it is also possible to place them in two planes located close to each other so that s are string boxes. photodetectors overlap. Figure 9 presents a possible modification of the photoelectric receiving device. AT
fOfO
1515
2020
96837I96837I
случае неточного позиционированн или разных длин испытуемого образца 1 необходимо оснастить блоки 25 и 26 электронной схемы 24 обработки начальным и конечным сигналами, управл ющими вентильными схемами 30 и 31 так, чтобы сигнал дефекта действительно указывал на дефект, а не на начало или конец испытуемого образца 1. В показанном на фиг. устройстве наход щийс в ходе лучей светоделитель 10 отражает часть света на при- емник 1 сигналов ширины, который поставл ет соответствующий начальный и конечный сигналы. В сочетании с вентильными схемами 30 и 31-на выходе блока 25 анализг ошибок и блока 26 толщины эти сигналы привод т к тому, что обрабатываетс только свет, отраженньтй испытуемым образцом 1 .In case of inaccurate positioning or different lengths of the test sample 1, it is necessary to equip the processing units 25 and 26 of the electronic circuit 24 with the initial and final signals, the control valve circuits 30 and 31, so that the defect signal does indicate the defect, and not the beginning or end of the test sample 1 In the embodiment shown in FIG. The beam splitter 10 reflected in the beam reflects part of the light to the receiver 1 of width signals, which supplies the corresponding initial and final signals. In combination with the valve circuits 30 and 31 at the output of the error analysis block 25 and the thickness block 26, these signals result in processing only the light reflected by the test sample 1.
Целесообразное исполнение приемника 11 сигналов ширин представлено на фиг.5. Светоделитель 21, фокуси-у рующа оптика 22 и приемный элемент 25 23 размещаютс в ходе лучей света, рассе нного квазипараллельно к лучу развертки. Благодар этому почти полностью предотвращаетс затенение рассе нного света дефектами поверхности . Относительно площади приемник 11 сигналов ширин построен таким образом, что общее изображение 4 линии 2 развертки отображаетс на него независимо от того, отклон етс ли лини 2 развертки или нет. Кроме того, имеетс возможность использовани сигнала, полученного от приемника 11 сигналов ширин, дл управлени интенсивностью осветительного устройства.The expedient performance of the receiver 11 signals width presented in figure 5. The beam splitter 21, focusing optics 22 and receiving element 25–23 are placed in the course of rays of light scattered quasi-parallel to the scanning beam. Due to this, shading of scattered light by surface defects is almost completely prevented. Relative to the area, the width signal receiver 11 is constructed in such a way that the overall image 4 of the scanning line 2 is displayed on it regardless of whether the scanning line 2 deviates or not. In addition, it is possible to use a signal received from the width signal receiver 11 to control the intensity of the lighting device.
При применении модулированного света, например лазерного света, в сочетании с отклон ющим блоком все строчкообразные фотоприемгаде устройства выполнены как отдельные элементы . Исход из того, что лини 2 развертки и, следовательно, в данном случае также ее изображение 4 состоит из последовательно по времени возникающих световых точек, возможно путем подсчета генерированных световыми точками импульсов детектора 18 брака дать информацию о площади и месте дефекта и на приемнике 11 сигналов ширин - о начале и конце, а также о длине испытуемого образца 1, С целью определени площади и места дефекта представл етс более целесообразным использовать не толькоWhen using modulated light, such as laser light, in combination with a deflecting unit, all line-type photo-reception devices are made as separate elements. Based on the fact that line 2 of the sweep and, therefore, in this case also, its image 4 consists of successive light points that appear, it is possible to calculate information on the area and location of the defect and on the receiver 11 signals by counting the light points of the pulses of the defect detector 18 width - about the beginning and the end, as well as about the length of the test sample 1; In order to determine the area and location of the defect, it is more expedient to use not only
30thirty
3535
4040
4545
5050
5555
пP
129129
импульсы детектора 18 брака, но и искаженные импульсы основного приемника 5, в особенности, главного приемника 7, потому что они позвол 1296837impulses of defect detector 18, but also distorted pulses of the main receiver 5, especially the main receiver 7, because they allow 1296837
1212
ют осуществить более точное определение этих данных, независимо от глубины дефекта и ширины линии 2 развертки.These data will be determined more accurately, regardless of the depth of the defect and the width of the sweep line 2.
ZSZS
I р-I p-
-1-one
jj/H-n-Jjj / hnj
-24-24
Фuг.fF.
/5/five
8eight
1Z1Z
Фиг.11
аbut
фиг. 6FIG. 6
8eight
фаг. 7phage. 7
фиг. 6FIG. 6
Г8G8
,лl
77 777 7
фиг.FIG.
Редактор С.ЛисинаEditor S. Lisin
Составитель Е.Глазкова Техред А.КравчукCompiled by E.Glazkova Tehred A. Kravchuk
Заказ 764/41Тираж 678ПодписноеOrder 764/41 Circulation 678 Subscription
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5VNIIPI USSR State Committee for Inventions and Discoveries 4/5, Moscow, Zh-35, Raushsk nab. 113035
Производственно-полиграфическое предпри тие, г, Ужгород, ул. Проектна , 4Production and printing company, Uzhgorod, st. Project, 4
Корректор Г.РешетникProofreader G. Reshetnik
Claims (24)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD22500980A DD153917A1 (en) | 1980-11-06 | 1980-11-06 | ARRANGEMENT FOR THE DEFECTIVE AND GEOMETRY CONTROL OF TEST PADS WITH DISPERSING SURFACES |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1296837A1 true SU1296837A1 (en) | 1987-03-15 |
Family
ID=5527091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU817772052A SU1296837A1 (en) | 1980-11-06 | 1981-09-18 | Device for checking geometric dimensions and flaws of specimens with dissipating surfaces |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
BG (1) | BG41419A1 (en) |
CS (1) | CS267651B1 (en) |
DD (1) | DD153917A1 (en) |
SU (1) | SU1296837A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2793074C1 (en) * | 2022-11-25 | 2023-03-28 | Диана Маратовна Хайретдинова | Device for determining the actual curvature of the tank wall |
-
1980
- 1980-11-06 DD DD22500980A patent/DD153917A1/en unknown
-
1981
- 1981-09-16 CS CS682481A patent/CS267651B1/en unknown
- 1981-09-18 BG BG5356781A patent/BG41419A1/en unknown
- 1981-09-18 SU SU817772052A patent/SU1296837A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2793074C1 (en) * | 2022-11-25 | 2023-03-28 | Диана Маратовна Хайретдинова | Device for determining the actual curvature of the tank wall |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CS267651B1 (en) | 1990-02-12 |
DD153917A1 (en) | 1982-02-10 |
BG41419A1 (en) | 1987-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5076692A (en) | Particle detection on a patterned or bare wafer surface | |
US3814946A (en) | Method of detecting defects in transparent and semitransparent bodies | |
US4223346A (en) | Automatic defect detecting inspection apparatus | |
US4532723A (en) | Optical inspection system | |
US4597665A (en) | Dual collector optical flaw detector | |
US6449036B1 (en) | Sensor unit, process and device for inspecting the surface of an object | |
US7099002B2 (en) | Defect detector and method of detecting defect | |
US4402607A (en) | Automatic detector for microscopic dust on large-area, optically unpolished surfaces | |
KR920003534B1 (en) | Optical apparatus for the detection of holes | |
US4737650A (en) | Inspection apparatus | |
JPH0674907A (en) | Detection method for defect of tranparent plate-like body | |
KR930011703B1 (en) | Method and apparatus for inspecting reticle | |
JP3494762B2 (en) | Surface defect inspection equipment | |
JPH0342556A (en) | Optical type inspection device and inspection method | |
US5677763A (en) | Optical device for measuring physical and optical characteristics of an object | |
JPH09257720A (en) | Flaw inspecting method and apparatus therefor | |
JP2015068670A (en) | Device and method for inspecting defect of sheet-like matter | |
SU1296837A1 (en) | Device for checking geometric dimensions and flaws of specimens with dissipating surfaces | |
EP1210586A1 (en) | Detection of inclusions in glass | |
CN111458293A (en) | Object surface detection device and silicon wafer detection device | |
JPS5960344A (en) | Method and device for automatically inspecting surface by coherent laser luminous flux | |
JP2873450B2 (en) | Defect inspection device using light | |
EP0556655A2 (en) | Device and method for testing optical elements | |
JP2016114602A (en) | Surface shape measurement device, and defect determination device | |
JPH03115844A (en) | Detection of surface defect |