SU1224858A1 - Зондова головка - Google Patents

Зондова головка Download PDF

Info

Publication number
SU1224858A1
SU1224858A1 SU843773284A SU3773284A SU1224858A1 SU 1224858 A1 SU1224858 A1 SU 1224858A1 SU 843773284 A SU843773284 A SU 843773284A SU 3773284 A SU3773284 A SU 3773284A SU 1224858 A1 SU1224858 A1 SU 1224858A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probes
grooves
plane
base
accuracy
Prior art date
Application number
SU843773284A
Other languages
English (en)
Inventor
Вадим Александрович Марасанов
Айк Рубенович Манкулов
Владимир Васильевич Карабанов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2892
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2892 filed Critical Предприятие П/Я В-2892
Priority to SU843773284A priority Critical patent/SU1224858A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1224858A1 publication Critical patent/SU1224858A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Изобретение может быть использовано дл  измерени  электрофизических свойств полупроводниковых материалов . Цель изобретени  - повышение точности измерени . Зонды расположены в V-образных пазах кремниевой пластины с изол цией. Пружины, изолированные прокладками, прижимают зонды к стенкам пазов. Токосъемные втулки зондов прижаты к электрической прокладке . Выполнение V-образных пазов в кремниевой пластине с ориентацией поверхности по плоскости (100) и схождением боковых стенок под углом 55 обеспечивает расположение фаз зондов относительно друг друга с большой точностью и перемещение из{ (Вверх - вниз в одной плоскости. 2 ил. ND 1ЧЭ 4 ОО СЛ 00

Description

Изобретение относитс  к области измерени  электрофизических свойств полупроводниковых материалов, а имено к устройствам дл  измерени  уделного сопротивлени  полупроводниковы пластин.
Цель изобретни  - повышение точности измерени .
На фиг. 1 изображена зондова  головка , профильный разрез; на фиг. 2 то же, поперечный разрез.
Зондова  головка имеет токовые и потенциальные зонды 1, которые распложены в V -образных пазах 2 кремниевой пластины 3 с ориентацией (100). Зонды 1 изолированы от пластины 3 слоем диэлектрика 4, а пластина закреплена в корпусе 5 перпендикул рн его основанию 6. Зонды 1 прижаты к стенкам пазов 2 пружиной 7, изолированной от зондов диэлектрическими прокладками 8. На зонды насажены то косъемные втулки, упирающиес  в диэлектрическую прокладку 10.
Зондова  голо вка работает следую ищи образом.
При опускании зондовой головки на полупроводниковую пластину зонды 1 за счет эластичной проклащки 10 прижимаютс  к пластина. С помощью то- косъемных втулок 9 через определенные токовые зонды 1 пропускают электри ческий ток, а на других потенциальных
зондах измер ют разность потенциалов. По результатам этих измерений определ ют удельное сопротивление полупроводниковой пластины. Точность определени  удельного, сопротивлени  в значительной степени онредел етс  точностью заданного взаимного расположени  зондов, котора  определ етс  геометрическими размерами пазов и рассто ни ми между ними.
Вьтсшнение V-образных пазов в кремниевой пластине с ориентацией поверхности по плоскости (100) и схождением боковых стенок пазов под углом 55 обеспечивает расположение зондов относительно друг друга с большой точностью и перемещение вверх - вниз в одной плоскости.
20

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Зондова  головка, преимущественно дл  измерени  электрофизических свойств полупроводниковых материалов, содержаща  корпус с основанием и размещенные в нем перпендикул рно основанию токовые и потенциальные зонды, отличающа с  тем, что, с целью повьшени  точности измерени , она снабжена размещенной перпендикул рно основанию кремниевой пластиной с ориентацией (100), в которой выполнены V.-образные пазы, с размещенными в них токовыми и потенциальными зондами.
SU843773284A 1984-07-20 1984-07-20 Зондова головка SU1224858A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843773284A SU1224858A1 (ru) 1984-07-20 1984-07-20 Зондова головка

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843773284A SU1224858A1 (ru) 1984-07-20 1984-07-20 Зондова головка

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1224858A1 true SU1224858A1 (ru) 1986-04-15

Family

ID=21131740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843773284A SU1224858A1 (ru) 1984-07-20 1984-07-20 Зондова головка

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1224858A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР 393732, -кл. G 01 Р 3/26, 1972. Авторское свидетельство СССР № 387303, кл. G 01 R 27/02, 1973. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3808527A (en) Alignment determining system
JPS6482541A (en) Method and device for measuring semiconductor surface
EP0174017B1 (en) Improvements relating to capacitive devices for measuring the diameter of a dielectric fibre
CN105486927A (zh) 一种固体绝缘材料体积电阻率的测量方法
US4811598A (en) Downhole temperature measurements
SU1224858A1 (ru) Зондова головка
US5391994A (en) Method for measuring surface resistivity using square electrodes and multiplying surface resistance measurements by a correction factor
SU1377787A1 (ru) Устройство дл измерени ЭДС Холла в области пространственного зар да
SU1500963A1 (ru) Зонд дл микробокового каротажа скважин
KR101324430B1 (ko) 직선형 광원을 이용한 비접촉식 저항 측정 장치 및 방법
SU1392519A1 (ru) Устройство дл измерени распределени зар да по поверхности диэлектрика
JPS61147544A (ja) 電気特性測定用ステ−ジ
JPH038965Y2 (ru)
SU1163243A1 (ru) Способ измерени удельного объемного электрического сопротивлени
SU1190184A1 (ru) Устройство дл контрол размеров электропроводных объектов
SU764977A1 (ru) Манипул тор дл измерени барьерных емкостей поверхностно-барьерных структур
SU1035683A1 (ru) Четырехзондова головка дл измерени удельного сопротивлени материала
JP2531043Y2 (ja) プローブヘッドの先端構造
SU1658058A1 (ru) Способ контрол упрочнени стальных поверхностей и устройство дл его осуществлени
RU1827695C (ru) Способ измерени электропроводности полупроводников
SU1247782A1 (ru) Способ определени тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий
SU828026A1 (ru) Устройство дл исследовани капил-л РНыХ СВОйСТВ пОРиСТОгО МАТЕРиАлА
RU2115897C1 (ru) Интегральный преобразователь деформации и температуры
JPS5516255A (en) Measuring device of semiconductor device
SU387303A1 (ru) Устройство для измерения удельного сопротивления