SU120610A1 - Method for detecting electron-hole transition in semiconductors - Google Patents

Method for detecting electron-hole transition in semiconductors

Info

Publication number
SU120610A1
SU120610A1 SU595709A SU595709A SU120610A1 SU 120610 A1 SU120610 A1 SU 120610A1 SU 595709 A SU595709 A SU 595709A SU 595709 A SU595709 A SU 595709A SU 120610 A1 SU120610 A1 SU 120610A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
semiconductors
hole transition
detecting electron
transition
electron
Prior art date
Application number
SU595709A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В.Г. Мельник
И.Г. Мельник
Original Assignee
В.Г. Мельник
И.Г. Мельник
Filing date
Publication date
Application filed by В.Г. Мельник, И.Г. Мельник filed Critical В.Г. Мельник
Application granted granted Critical
Publication of SU120610A1 publication Critical patent/SU120610A1/en

Links

Description

Известные способы обнаружени  электронно-дырочного нерехода в полупроводниках по те)моэлектродвиж щей силе, возникающей в месте перехода под действием теплового возбдладеии , не позвол ют определ ть тип проводимости в очень малых област х полупроводника.The known methods for detecting an electron-hole non-transition in semiconductors according to the electromotive force arising at the transition point under the action of thermal excitation do not allow the type of conductivity in very small areas of the semiconductor to be determined.

Дл  устранени  этого недостатка предлагаетс  осуществл ть импульсное тепловое полупрово.чннка и отредел ть об.частп с различным типом проводимостн по измененпю зна;:а термоэлектродвижущей силы при прохождении фр01;та тепла последовательно через эти области.In order to eliminate this drawback, it is proposed to carry out a pulsed thermal semi-conductor of the device and determine the parts with different types of conductivity by changing the thermoelectromotive force during the passage of FR01; that heat is consistently through these areas.

К проволочному электроду / (см. ;схему) точечного твердого выпр мител  присоедин етс  (привариваетс ) проволока 2. котора  накал етс  электрическим током, поступающим от источника 3. Вознг1кающн1 1 при замыкании ключа 4 тепловой фронт распростран етс  по направлению к кристаллу и создает разно оть температур между верхним краем р-области 5 и / -п-переходом 6. При этом на экране оспиллографа фиксируетс  термоэлектродвижуща  сила знака, соответствующего дырочному полупроводнику . По мере своего продвижени  тепловой фронт проходит через р-область 5 и доходит до р-л-псрехода 6. При этом возникает разность температур между р- -переходом и базовым контактом 7. Знак термоэлектродвижущей силы при этом будет соответствовать электронному полупроводнику.The wire / electrode (see; scheme) of a point solid rectifier is connected (welded) by wire 2. which is poured by electric current coming from source 3. When the key 4 is closed, the thermal front propagates towards the crystal and creates From the temperatures between the upper edge of the p-region 5 and the jn-junction 6. At the same time, the thermoelectromotive force of the sign corresponding to the hole semiconductor is fixed on the screen of the oscillograph. As it progresses, the thermal front passes through the p-region 5 and reaches the p-l-junction 6. Thus, a temperature difference arises between the p-junction and the base contact 7. The sign of the thermoelectromotive force will correspond to the electronic semiconductor.

Описываемый способ позвол ет вы снить вли ние технологической обработки твердых выпр мителей, в частности формовки импульсами тока , на изменени  в приконтактной области.The described method makes it possible to determine the effect of the processing of solid rectifiers, in particular, forming by current pulses, on changes in the contact area.

Предмет изобретени Subject invention

Способ обнаружени  электронно-дырочного перехода в полугфоводыиках по термоэлектродвижущей силе, возникающей в ме-сте переходаThe method of detecting the electron-hole transition in semi-thermograms by thermo-electromotive force arising in the place of transition

№ 120610- 2 -No. 120610- 2 -

под действием теплового возбуждени , отличающийс  тем, что, с целью определени  типа проводимости в очень малых област х полупроводника , осуществл ют импульсное тепловое возбуждение и наличие области с различным типом проводимости определ ют по изменению знака термоэлектродвижущей силы при прохождении фронта тепла последовательно через указанные области.under the action of thermal excitation, characterized in that, in order to determine the type of conductivity in very small areas of the semiconductor, pulsed thermal excitation is carried out and the presence of a region with a different type of conductivity is determined by changing the sign of the thermoelectromotive force when the heat front passes successively through the specified areas.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРCommittee for Inventions and Discoveries at the Council of Ministers of the USSR

Редактор Л. А. БлатоваГр. 97Editor L. A. BlatovaGr. 97

Информационно-издательский отдел.Подп. к печ. 18.V-59 г.Information and Publishing Department. Sub. to pec. 18.V-59

Объем 0,17 п. л.Зак. 3404Тирах 1120Цена 25 коп.Volume 0.17 p. L. Zak. 3404Tierah 1120Price 25 kopecks

Типографи  Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРPrinting houses of the Committee on Inventions and Discoveries at the Council of Ministers of the USSR

Москва. Петровка, 14.Moscow. Petrovka, 14.

SU595709A 1958-03-25 Method for detecting electron-hole transition in semiconductors SU120610A1 (en)

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782575750A Addition SU679952A2 (en) 1978-02-01 1978-02-01 Device for regulating liquid interface level
SU792776693A Addition SU824150A2 (en) 1979-06-06 1979-06-06 Liquid interface level regulating device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU120610A1 true SU120610A1 (en) 1959-06-19

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4662063A (en) Generation of ohmic contacts on indium phosphide
FR2434376A1 (en) SEMICONDUCTOR TEMPERATURE SENSING APPARATUS, IN PARTICULAR FOR FIRE DETECTION
US2650311A (en) Radiant energy detecting method and apparatus
Bube et al. Temperature Dependence of Photo-Hall Effects in High-Resistivity Gallium Arsenide. I. One-Carrier Effects
SU120610A1 (en) Method for detecting electron-hole transition in semiconductors
US3163568A (en) Method of treating semiconductor devices
GB866932A (en) Improvements in semiconductor devices and methods of manufacture thereof
GB1247466A (en) Method for determining excess carrier lifetime in semiconductor devices
ES359776A1 (en) Improvements in the construction of elements semiconductors of great electric power. (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)
Castagne et al. Evidence for a shallow level structure in the bulk of semi‐insulating GaAs
GB1344399A (en) Measuring the charge density of an insulating layer on a semi conductor substrate
SU109994A1 (en) The method of obtaining a silicon-aluminum alloy transition
SU150176A1 (en) Potential probe for measuring the conductivity type of semiconductor materials
SU152096A1 (en) A method for measuring temperature differences in an electrically conductive body
SU121487A1 (en) Current switch
SU152327A1 (en) Method for measuring metal cutting temperature
SU771770A1 (en) Method of determining thermoelectric q-factor of high-response thermopile
SU1085390A1 (en) Device for determining semiconductor conductivity type
SU341378A1 (en) Thyristor
SU129698A1 (en) Welding Contact Tester
SU115088A1 (en) Alloy for high temperature thermal sensors and heat sensitive elements of electrical resistance thermometers
JPS55101817A (en) Water level detector for water tank
SU141938A1 (en) Method of measuring thermoelectromotive forces of semiconductor materials
SU1116473A1 (en) Photodetecor
GB1443162A (en) Temperature sensitive semiconductor device and method of sensing temperature