SU1157416A1 - Многолучевой интерференционный эллипсометр - Google Patents

Многолучевой интерференционный эллипсометр Download PDF

Info

Publication number
SU1157416A1
SU1157416A1 SU833679712A SU3679712A SU1157416A1 SU 1157416 A1 SU1157416 A1 SU 1157416A1 SU 833679712 A SU833679712 A SU 833679712A SU 3679712 A SU3679712 A SU 3679712A SU 1157416 A1 SU1157416 A1 SU 1157416A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical
polarizer
frequency
laser
lasers
Prior art date
Application number
SU833679712A
Other languages
English (en)
Inventor
Дмитрий Дмитриевич Пилипко
Original Assignee
Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко filed Critical Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко
Priority to SU833679712A priority Critical patent/SU1157416A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1157416A1 publication Critical patent/SU1157416A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к устройствам дл  измерени  оптической анизотропии и может быть использовано дл  прецизионных измерений амплитудной и фазовой анизотропии высоко отражающих покрытий. Известен эллипсометр, содержащий источник монохроматического излучени  на двух длинах волн с ортогональными пол ризаци ми, изотропный светоделитель, два пол ризатора, два фотоприемника. Оптическое излучение преобразуют в электрические сигналы и определ ют фазовую анизотропию по разности фаз двум  электр ческими сигналами разностной частот выдел емьми на выходе каждого канала 03 Недостатком эллипсометра  вл етс невозможность проведени  измерений амплитудной анизотропии. Известен также многолучевой интерференционный эллипсометр, содержащий одночастотный лазер и расположенные последовательно по ходу излучени  оптическую разв зку с пол ризатором, согласующую линзу, оптический перестраиваемый интерфер метр с исследуемым объектом, двулучепреломл ющую призму и два фотоприемника , а также подключенные к фотоприемнику блоки обработки сигна лов и формирователь интервалов времени 23 . Недостатком известного устройства  вл етс  мала  точность измерени св занна  с преобразованием амплитудной и фазовой анизотропии в инте валы времени, точность измерени  которых ограничиваетс  нелинейность перестройки во времени длины оптического интерферометра, стабильностью и абсолютной величиной частоты эталона физического измерени  време ни. Цель изобретени  - повьшение точ ности измерени  путем преобразовани оптической анизотропии в частоту. Поставленна  цель достигаетс  те что в многолучевой интерференционны эллипсометр, содержащий одночастотный лазер и расположенные последова тельно по ходу излучени  оптическую разв зку с пол ризатором, согласующую линзу, оптический перестраиваемый интерферометр с исследуемым объ ектом, двулучепреломл ющую призму и два фотоприемнкка, а также подклю ценные к фотоприемникам блоки обработки сигналов и формирователь интервалов времени, дополнительно введены одночастотный перестраиваемый лазер с оптической разв зкой и пол ризатором , светосмеситель, установленный между оптической разв зкой и согласующей линзой в точке пересечени  оптических осей лазеров, дополнительные пол ризатор и фотоприемник, установленные последовательно по ходу излучени  и оптически св занные с лазерами через светосмеситель, электронный ключ, подключенный к дополнительному фотоприемнику, измеритель частоты, подключенный к электронному ключу, и преобразователь интервал времени - напр жение, вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выход - к электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем пол ризаторы оптических разв зок и дополнительный пол ризатор установлены так, что оптические оси пол ризаторов оптических разв зок взаимно ортогональны, а оптическа  ось дополнительного пол ризатора ориентирована под углом к ним. На чертеже, изображена принципиальна  схема предлагаемого устройства . Устройство содержит одкочастотный лазер 1, оптическую разв зку, состо щую из пол ризатора 2 и невзаимного фарадеевского вращател  3, пол ризатор 4, перестраиваемьгй одночастотный лазер 5 и соответствующую ему оптическую разв зку, состо щую из пол ризатора 6 и фарадеевского вращател  7,.пол ризатор 8, светосмеситель 9, согласующую линзу 10, оптический перестраиваемый интерферометр , состо щий из входного зеркала 11, исследуемого объекта (зеркало) 12 и выходного зеркала 13, которое укреплено на пьезокерамике А, соединенной с генератором 15 пилообразного напр жени , двулучепреломл ющую призму 16, фотоприемники 17 и 18, блоки 19 и 20 обработки сигналов , формирователь 21 интервалов времени электронный ключ 22, измеритель 23 частоты, преобразователь 24 интервал времени - напр жение , пол ризатор 25 и фотоприемник 26. Устройство работает следуюшим оёразом.
31
Излучение от лазеров 1 и 5 смешиваетс  на светосмесителе 9 и поступает в интерферометр, образованный зеркалами П - 1.3. Оптические разв зки предназначены дл  устранени  вли ни  отраженного сигнала от зеркала tl на работу лазеров. Пол ризаторы 8 и 4 ориентированы относительно пол ризаторов 6 и 2 соответственно под углом 45° . фарадеевские вращатели поворачивают рлоскость пол ризации излучени  на 45. Лазеры 1 и 5 и их оптические разв зки ориентированы так, что излучение от лазера I при падении на светосмеситель 9 пол ризовано перпендикул рно плоскости интерферометра { 5-пол ризации ), а от лазера 5 - параллельно плоскости интерферометра (р-пол ризаци ). Пол ризатор 25 ориентирован так, что на фотоприемник 26 проходит излучение от обоих лазеров. Линза Ю предназначена дл  согласовани  мод лазеров и интерферометра. При подаче пилообразного напр жени  от генератора 15 на пьезокерамику 14 оптическа  длина интерферометра измен етс  по пилообразному закону. При совпадении собственной частоты оптического интерферометра с частотой лазера фотоприемник регистрирует импульс, соответствующий по форме аппаратной функции интерферометра. Направление смещени  частоты зависит от направлени  смещени  зеркала 13. Между выходным зеркалом 13 и фотоприемниками 17 и 18 расположена двулучепреломл юща  призма 16, производ ща  разделение ортогональных ри S-пол ризаций. В блоках 19 и 20 производитс  обработка регистрируемого сигнала, а в блоке 21 - формирование пр моугольных импульсов, передний фронт которых соответствует максимуму интерференционньтх импульсов , а длительность пропорциональна
574164
ширине интерференционного импульса -на половине интенсивности. При совпадении частот излучени  лазеров (-j « TI ) интерференционные trMnynbcw разных пол ризаций сметены во времени один относительно другого. Если 4 t. то при некотором значении 1 к интервал времени между импульсами (t) становитс  равным нулю. Тогда разность частот излучени  лаверов А становитс  равной разности частот ортогональных пол ризаций интерферометра. Плавно измен   разность частот между лазерамн 1 и 5 с 15 помощью формировател  21, интервалов времени, фиксируетс  момент, когда f 0. В зтом случае сигнал с выхода преобразовател  24 интервал временинапр жение также равен нулю, и открываетс  электронный ключ 22. Сигнал разностной частоты поступает с фотоприемника 26 на измеритель 23 частоты. Дл  автоматизации измерений перестраиваемый лазер 5 соединен с формирователем 2I интервалов времени через преобразователь 24 интервал времени - напр жение. При О происходит перестройка частоты лазера до тех пор, пока ТГ не становитс  равным нулю. Электронный ключ открываетс  только в момент, когда Т 0. Амплитудную анизотропию измер ют путем регистрации интервалов времени между точками перехода через ноль вторых производных аппаратных функций.
Эспериментальна  проверка показала , что погрешность измерени  предлагаемь1м устройством определ етс  в основном нелинейностью сканировани  длины интерферометра. Устройство позвол ет преобразовать оптическую анизотропию в частоту и благодар  этому повысить точность измерени  по сравнению с известным устройст5 вон в 10 раз. h---Л ъ

Claims (1)

  1. МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ЭЛЛИПСОМЕТР, содержащий одночастотный лазер и расположенные последовательно по ходу излучения оптическую развязку с поляризатором, согласующую линзу, оптический перестраиваемый интерферометр с исследуемым объектом, двулучепреломляющую призму и два фотоприемника, а также подключенные к фотоприемникам блоки обработки сигналов и формирователь интервалов времени, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, в него дополнительно введены одночастотный перестраиваемый лазер с оптической развязкой и поляризатором, светосмеситель, установленный между оптической развязкой и согласующей линзой в точке· пересечения оптических осей лазеров, дополнительные поляризатор и фотоприемник, установленные последовательно по ходу излучения и оптически ся связанные с лазерами через светосмеситель, электронный ключ, подключенный к дополнительному фотоприемнику, измеритель частоты, подключенный к электронному ключу, и преобразователь интервал времени напряжение, вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выход - к электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем поляризаторы оптических развязок и дополнительный поляризатор установлены так, что оптические оси поляризаторов оптических развязок взаимно ортогональны, а оптическая ось дополнительного Поляризатора ориентирована под углом к ним.
    SU, 1157416 >
SU833679712A 1983-12-26 1983-12-26 Многолучевой интерференционный эллипсометр SU1157416A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833679712A SU1157416A1 (ru) 1983-12-26 1983-12-26 Многолучевой интерференционный эллипсометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833679712A SU1157416A1 (ru) 1983-12-26 1983-12-26 Многолучевой интерференционный эллипсометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1157416A1 true SU1157416A1 (ru) 1985-05-23

Family

ID=21095575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833679712A SU1157416A1 (ru) 1983-12-26 1983-12-26 Многолучевой интерференционный эллипсометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1157416A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734967B1 (en) 1995-01-19 2004-05-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system
RU2503922C2 (ru) * 2010-11-24 2014-01-10 Константин Васильевич Индукаев Изображающий микроэллипсометр

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Авторское свидетельство СССР V 749188, кл. G 01 N 21/45, 1980. 2. Авторское свидетельство СССР и 753269, кл. G 01 N 21/45, 1980 (прототип). *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734967B1 (en) 1995-01-19 2004-05-11 Kla-Tencor Technologies Corporation Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system
RU2503922C2 (ru) * 2010-11-24 2014-01-10 Константин Васильевич Индукаев Изображающий микроэллипсометр

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3891321A (en) Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid
US10895477B2 (en) Sine-cosine optical frequency encoder devices based on optical polarization properties
US5619325A (en) Optical system for ellipsometry utilizing a circularly polarized probe beam
US5987195A (en) Fiber optics apparatus and method for accurate current sensing
CN109556593B (zh) 一种角速度测量装置、方法及其载具
US5517022A (en) Apparatus for measuring an ambient isotropic parameter applied to a highly birefringent sensing fiber using interference pattern detection
JPS61219803A (ja) 物理量測定装置
SU1157416A1 (ru) Многолучевой интерференционный эллипсометр
EP0255953B1 (en) Heterodyne michelson interferometer for polarization measurements
US3773421A (en) Monitoring relative displacement
US3520615A (en) Optical phase measuring apparatus
JPH08146066A (ja) 電気信号測定方法および装置
WO1994016310A1 (en) Zeeman ellipsometer
JPH08278202A (ja) 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置
JPS5899761A (ja) 光による電界,磁界測定器
JPS59166873A (ja) 光応用電圧・電界センサ
RU1775622C (ru) Дисперсионный интерферометр
SU1165878A1 (ru) Интерферометрическое измерительное устройство
SU757990A1 (ru) Оптико-электронный измеритель тока 1
GB1570802A (en) Measuring apparatus employing an electro-optic transducer
RU1793205C (ru) Устройство дл определени поперечных смещений объекта
SU1239626A1 (ru) Калибратор фазовых сдвигов
SU1139976A1 (ru) Пол риметр
SU749188A1 (ru) Способ измерени оптической фазовой анизотропии и устройство дл осуществлени способа
RU2031374C1 (ru) Акустооптический спектрометр