SE537987C2 - Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund - Google Patents

Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund Download PDF

Info

Publication number
SE537987C2
SE537987C2 SE1450426A SE1450426A SE537987C2 SE 537987 C2 SE537987 C2 SE 537987C2 SE 1450426 A SE1450426 A SE 1450426A SE 1450426 A SE1450426 A SE 1450426A SE 537987 C2 SE537987 C2 SE 537987C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
imaging system
camera
background element
pair
mirror
Prior art date
Application number
SE1450426A
Other languages
English (en)
Other versions
SE1450426A1 (sv
Inventor
Jaan Luup
Original Assignee
Cgrain Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cgrain Ab filed Critical Cgrain Ab
Priority to SE1450426A priority Critical patent/SE537987C2/sv
Priority to US15/302,637 priority patent/US10311562B2/en
Priority to HUE15776846A priority patent/HUE053568T2/hu
Priority to CN201580030322.3A priority patent/CN106461569B/zh
Priority to ES15776846T priority patent/ES2860909T3/es
Priority to LTEP15776846.6T priority patent/LT3129770T/lt
Priority to SI201531518T priority patent/SI3129770T1/sl
Priority to PL15776846T priority patent/PL3129770T3/pl
Priority to PCT/SE2015/050379 priority patent/WO2015156722A1/en
Priority to DK15776846.6T priority patent/DK3129770T3/da
Priority to EP15776846.6A priority patent/EP3129770B1/en
Priority to PT157768466T priority patent/PT3129770T/pt
Publication of SE1450426A1 publication Critical patent/SE1450426A1/sv
Publication of SE537987C2 publication Critical patent/SE537987C2/sv
Priority to HRP20210381TT priority patent/HRP20210381T1/hr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
    • B07C5/3425—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour of granular material, e.g. ore particles, grain
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N15/1429—Signal processing
    • G01N15/1433—Signal processing using image recognition
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N15/1468—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry with spatial resolution of the texture or inner structure of the particle
    • G01N15/147—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry with spatial resolution of the texture or inner structure of the particle the analysis being performed on a sample stream
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9508—Capsules; Tablets
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
    • G06V20/60—Type of objects
    • G06V20/69—Microscopic objects, e.g. biological cells or cellular parts
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C2501/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material to be sorted
    • B07C2501/009—Sorting of fruit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N2021/8592—Grain or other flowing solid samples
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8841—Illumination and detection on two sides of object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0636—Reflectors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K2007/10485—Arrangement of optical elements
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30128—Food products

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Glanulating (AREA)

Abstract

Sammandrag Ett avbildningssystem (100) omfattande atminstone en kamera (3), ett bakgrundselement (4) och ett spegelpar (2a-b), ddr spegelytorna i paret speglar dr vinklade fran varandra i en vinkel a, dar avbildningssystemet (100) dr avsett 5 att motta ett prov ldngs en huvudaxel som stracker sig mellan speglarna. Kameran (3) ãr riktad mot spegelparet (2a-b) och bakgrundselementet (4) omfattar en yta som ãr riktad mot spegelparet, och van i namnda bakgrundselement (4) ãr utformat som ett cylinderparti med en cylinderaxel som avviker fran huvudaxeln, och van i speglarna (2a-b) ãr anordnade med en 10 respektive spegelyta kant i kant med varandra.

Description

AVBILDNINGSSYSTEM FOR GRANULART MATERIAL MED HOMOGEN BAKGRUND Teknikens omrade Foreliggande uppfinning avser generellt avbildning av granuldrt material, sarskilt avses ett avbildningssystem for anvandning vid avbildning och analys av t.ex. spannmal.
Uppfinningens bakgrund Avbildningssystem anvands ofta for att med digital bildbehandling avgora om en vara uppfyller 8nskade utseendekrav for att pa sá sat registrera eller eliminera form- och fargmassigt felaktiga produkter eller skadade produkter. Genom sadana avbildningssystem synas t.ex. fron, saltkorn, bdr, tabletter eller andra prover och ett anslutet efterfoljande bildbehandlingssystem kan darefter i realtid analyser provet och avgara om provet är felaktigt och bor tas bort eller registreras. Avbildningssystem behOver inte anvandas for att enbart detektera och forkasta felaktiga eller defekta prover, utan kan ocksa anvandas for att kvalitets bestamma prover och samla statistik for framtida bedomning av provet. F8r basta resultat bor provet avbildas runt hela sin periferi och ett sag att g8ra detta pa dr med ett V-format vinklat spegelpar mellan vilka proverna str5mmar, sá som exempelvis i US2006152741.
For att underldtta for bildbehandlingen genom att astadkomma en homogen bakgrund mot vilken provet tydligt urskiljs, forses systemet ofta med ett bakgrundselement sa_ som i US2006152741. Detta ãr dock inte tillrãckligt for att erhalla flera separata bilder av provet mot en helt homogen bakgrund, vilket âr onskvart. Med ett system anordnat som i US2006152741 kommer dãrtill reflekterat ljus att na kameran, vilket adderas till bilden och gor det svarare for bildbehandlingssystemet att skilja fel pa proverna fran storande stroljus och inohomogeniteter i bildens bakgrund som inte har med provet att 1 era. Ett av problemen med en inhomogen bakgrund ãr att det forsvarar en efterfoljande analys av bilderna. Inhomogena element i bakgrunden kan paverka och stora en automatiserad digital bildbehandling och forsvara analysen av det faktiska provet.
Det finns alltsâ behov av avbildningssystem som overvinner ett eller flera av ovan namnda problem.
Sammanfattning av uppfinningen Uppfinningen avser ett avbildningssystem 100 omfattande atminstone en kamera 3, ett bakgrundselement 4 och ett spegelpar 2a-b. Spegelytorna i paret speglar ligger intill varandra ldngs en kant och är vinklade fra.n varandra i en vinkel a. Avbildningssystemet ãr avsett att motta ett prov ldngs en huvudaxel som stracker sig mellan speglarna, sa att spegelparet pa fordelaktigt sat genererar tre bilder av provet sett ur tre olika synvinklar. Kameran 3 ãr riktad mot spegelparet 2 a-b och bakgrundselementet 4 omfattar en krokt yta som är riktad mot spegelparet och astadkommer en bakgrund for bilderna som underldttar bildbehandling.
I en fordelaktig utforingsform av uppfinningen stracker sig ett delningsplan genom spegelparet, i huvudsakligen rat vinkel mot huvudaxeln. Huvuddelen av kameran 3 är anordnad pa en forsta sida av delningsplanet och aminstone del av bakgrundselementet 4 är anordnad pa en andra sida av delningsplanet. Pa sa sat hamnar kameran inte inom sitt eget synfdlt.
I ytterligare en utforingsform av uppfinningen ãr den yta pa bakgrundselementet 4 som ãr riktad mot spegelparet belyst av minst ett bakgrundsbelysningselement 5a-c som är riktad mot denna yta. Med bakgrundsbelysningselementet riktat pa detta sat hamnar inget direkt ljus frail detta i kamerans synfalt. 'Fypiskt är bakgrundsbelysningselementen 5a- 2 c anordnad nara bakgrundselementets 4 ytterkant, sa att inte heller sjdlva belysningselementen hamnar inte inom kamerans synfalt.
I ytterligare en utforingsform är avbildningssystemet ãr avsett att motta prover 1 med en typisk farg och bakgrundselementet 4 uppvisar en yta riktad mot spegelparet som har en farg som är huvudsakligen komplementar mot provets typiska farg. Exempelvis kan avbildningssystemet vara avsett att motta fron 1 och bakgrundselementet 4 ãr da_ med sarskild fordel bla.
En av fordelarna med foreliggande uppfinning ãr att det blir mojligt att avbilda foremal med hjdlp av flera bilder och astadkomma en mer homogen bakgrund an kand teknik.
Kort beskrivning av figurerna Fig. 1 visar schematiskt en forsta utforingsform av uppfinningen sedd uppifran Fig. 2 visar schematiskt den forsta utforingsformen av uppfinningen sedd fran sidan Fig. 3 visar schematiskt ett bakgrundselement betraktat uppifran dess 20 ovankant Fig. 4 visar en andra utforingsform av uppfinningen ur ett forsta perspektiv Fig. 5 visar delar av den andra utforingsformen av uppfinningen ur ett andra perspektiv Fig. 6 visar en ytterligare utforingsform av ett avbildningssystem enligt 25 uppfinningen. 3 Beskrivning av foredragna utforingsformer Ett andam5.1 med fOreliggande uppfinning ãr att tillhandahalla ett avbildningssystem som ger multipla bilder av ett prov mot en betydligt mer homogen bakgrund an vad som varit mojligt med kand teknik. Foreliggande 5 uppfinning kommer att beskrivas huvudsakligen vid anvandning vid avbildning och analys av spannmal sasom t.ex. sad och froer, men den ãr likaval mojlig att anvanda vid analys av andra granulara foremal eller livsmedel, t.ex. frukt, grus, kulor etc. Dessa och andra andamal upprias genom ett avbildningssystem enligt de kannetecknande delarna av det 10 oberoende kravet.
I beskrivningen av figurerna nedan refereras till en huvudaxel (V) och ett delningsplan (D). Huvudaxeln definieras av den linje langs vilken ett prov, typiskt ett fro, ror sig genom avbildningssystemet. Ett enkelt och praktiskt sat att anordna avbildningssystemet pa ãr forstas sa att provet faller av sin egen tyngd rakt ned och i sa fall utgor det som har betecknas huvudaxeln av en faktisk vertikal axel, men man kan forstas aven tanka sig att lata provet falla nagot snett relativt den faktiska huvudaxeln med hjalp av nagon typ av styrror eller genom att provet kastas genom avbildningssystemet. I beskrivningen antas for enkelhets skull att huvudaxeln overensstammer med en axel med vertikal utbredning fOr att enkla termer som upp och ned ska kunna anvandas.
Delningsplanet skar genom systemet och har en utbredning som typiskt är vinkelratt mot huvudaxeln. For det vanligt forekommande fall dar huvudaxeln ãr vertikal, utgors delningsplanet typiskt av ett horisontellt plan. Det ãr dock underforstatt att delningsplanet kan beskriva en utbredning som är anordnad pa annat satt an vinkelratt relativt huvudaxeln.
Fig. 1 visar schematiskt en forsta utfOringsform av ett avbildningssystem 100 enligt uppfinningen sedd, ddr denna betraktas uppifran dvs, langs med den 4 tidigare beskrivna huvudaxeln (V). Figuren illustrerar ett prov 1, hdr i form att ett fro, som faller ned genom avbildningssystemet mellan tva speglar 2a-b. Speglarna har en respektive rektangular spegelyta och är anordnade med respektive spegelyta kant i kant med varandra. Speglarna är vinklade fran varandra en vinkel a, som i den hdr utforingsformen är en rat vinkel. Darmed bildar de tva speglarna 2a-b en huvudsakligen v-formad spegel.
En kamera 3 ãr riktad mot huvudaxeln och froet som faller langs huvudaxeln, sâ att en forsta direkt avbildning av froet upptrader i kameran. Eftersom speglarna enligt en forsta utforingsform är vinklade 45 grader fran linjen mellan kameran och huvudaxeln, avbildas froet genom en forsta spegel 2a i en andra avbildning fran sidan i kameran och genom en andra spegel 2b i en tredje avbildning i kameran. I kameran 3 avbildas froet alltsa samtidigt sett ur tre olika vinklar som ãr valda sa att fro& i en och samma bild avbildas langs hela sin omkrets.
I alla de tre avbildningarna av froet ur tre olika vinklar, ser kameran genom reflektion fran bada speglarna ett bakomliggande bakgrundselement eller bakgrundsyta 4. Bakgrundselementet 4 ãr i figuren for att forenkla illustrationen framstalld som om det lag bortom kameran, men behover i praktiken inte vara det utan den kan enligt en ytterligare utfaringsform i stallet ligga nedanfor kameran sa som illustreras i Fig. 2. Bakgrundselementet 4 har en sadan utbredning att den tacker kamerans 3 hela synfalt, sâ som detta utbreder sig genom dubbla reflektioner i spegelparet. I en typisk applikation ãr provet ett fro, som ofta ar gulvitt eller gulaktigt och egenskaperna for bakgrundselementet 4 valjs med fordel i en komplementar farg, som i detta fall lampligen dr bla for att uppriâ basta mojliga kontrast. Vid andra faxger hos provet som skall analyseras sa valjs den komplementara farg som bast for-starker kontrasten mellan provet och den avbildade bakgrundsytan 4. Bakgrundselementet 4 belyses med bakgrundsbelysningselement 5a-b, som aven dessa Or riktade sa att kameran 3 inte drabbas av sekuldra reflektioner i bakgrunden 4 av ljuset fran bakgrundsbelysningselementen 5a-b, vilket tydligare illustreras i Figur 2.
Enligt en ytterligare utforingsform kan bakgrundselementet 4 vara sa utformat 5 att den uppvisar egenskaper som vid avbildning av prov och bakgrundselementet 4 medger mojligheter till ytterligare analys av provet i en efterfoljande bildbehandling.
Bakgrundsbelysningselementen 5a-b ãr anordnade i anslutning till 10 bakgrundens hogra respektive vanstra sida och riktade in mot bakgrundens mitt, sa att de bade befinner sig utanfor kamerans synfalt. De kan dock vara anordnade pa annat sat for att astadkomma en belysning av bakgrunden.
Bakgrundselementet 4 ãr enligt denna utforingsform format som ett cylinderparti med en cylinderaxel som avviker fran huvudaxeln. Cylinderpartiet bildar en bage vars insida vetter mot huvudaxeln sa att den over sin hela yta ãr ungefarligen riktad mot huvudaxeln for att uppria. jamnast mojliga ljusstyrka over bildens hela yta i alla tre avbildningarna av froet. Bakgrundsbelysningselementen 5a-b belyser dessutom, delvis overlappande, olika delar av bakgrunden sá att den är s5 jamnt belyst som mojligt i samma syfte. Darmed utgor bakgrundselementet 4 en huvudsakligen konkav reflekterande yta for infallande belysning.
Fig. 2 visar schematiskt den forsta utforingsformen av avbildningssystemet 100 enligt uppfinningen sedd fran sidan. Hai- ãr huvudaxeln V illustrerad som en streckad linje som stracker som genom froets 1 centrum. Froets rorelseriktning illustreras awn for tydlighets skull med en pil riktad nerat i figuren. Eftersorn froet befinner sig mellan speglarna i spegelparet 2a-b ãr den alltsa illustrerad i ett partiellt tvarsnitt och framstalls darfor med streckade linjer. 6 Delningsplanet D stracker sig vinkelrdtt mot pappersplanet ldngs en linje fran hoger till vanster och skar rakt genom abets position sá som detta ãr placerat i figuren. Kameran 3 ãr anordnad ovanfor detta tanka delningsplan D och ãr riktad snett nedat mot frOets position. Bakgrundselementet 4 ãr for tydlighets skull i sin helhet anordnat nedanfor delningsplanet D, sa att det kameran scr, utoyer froet, utgors enbart av bakgrundselementet 4. Sett utifran detta perspektiv ser bakgrundsbelysningselementen 5b ut att befinna sig i kamerans synfdlt, men som framgar i Fig. 1 befinner de sig hitom respektive bortom figurens pappersplan och alltsa utanfor kamerans synfdlt.
I figuren är aven tva provbelysningselement 6a-b illustrerade, som är anordnade snett ovanfor respektive snett nedanfor provet 1 och spegelparet 2a-b. De dr anordnade forskjutna fran huvudaxeln V mot kameran 3 och bakgrundselementet 4 for att inte befinna sig i vagen for det fallande froet 1 och riktade mot fro& 1 pa ett sadant satt att det ljus som passerar &Oct 1 inte traffar kameran 3, varken direkt eller via bakgrunden. Den del av detta ljus som faller utanfor spegelparet 2a-b kan ldmpligen absorberas av en forsta icke illustrerad mork ljusfalla och den del som efter dubbel reflektion i spegelparet 2a-b riktas ungefarligen mot motstaende provbelysningselement, absorberas lampligen av en andra icke illustrerad mork ljusfalla.
I den illustrerade utforingsformen har bada speglarna i spegelparet 2a-b respektive normal i ett plan som âr vinkelratt mot huvudaxeln. Detta ãr naturligtvis inte alldeles nodvandigt och man kan tanka sig tillampningar ddr en avvikelse frail denna inriktning ãr ldmpligt, men typiskt ãr detta optimalt. I den illustrerade utforingsformen ãr kameran i sin helhet anordnad ovanfor delningsplanet och bakgrunden i sin helhet anordnad under delningsplanet D, men generellt är detta inte noclvdndigt utan det virtuella delningsplanet är bara stod for forklaring av komponenternas placering. Befinner sig bakgrundselementet 4 som hdr bortom kameran 3, finns det forstas inget som hindrar att den utbreder sig vidare ovanfor delningsplanet bakom kameran 3 7 och detta tillater da kameran 3 att flyttas fran dess illustrerade position eller riktas om ifall detta skulle behovas, med del av bakgrundselementet 4 bibehallen som bakgrund i avbildningen av froet. En av poangerna med att kameran 3 placeras ovanfor delningsplanet D ãr att ingen del av kameran 3 5 sjalv aterges i bilden fran kameran 3, men inte heller detta ãr strikt nodvandigt utan bara lampligt och fOrdelaktigt for att underlatta pafoljande bildanalys, ddr helt tre separata avbildningar av &bet sett ut tre olika vinklar mot en bakgrund som i sin helhet är homogen och i en komplementar fdrg aterges i bilden fran kameran. Den bild som aterges av kameran underlattar alltsa for 10 kommande bildanalys eftersom den har en sa homogen bakgrund som mojligt, utan storande element andra an provet sjalvt.
Fig. 3 visar schematiskt ett bakgrundselement 4 sett uppifran dess ovankant, alltsa ur en vy som inte är parallell med huvudaxeln eftersom bakgrunden är vinklad fran huvudaxeln. Bakgrundselementet 4 illustreras ur det har perspektivet som ett cirkelsegment med viss bredd. I anslutning till vad som i figuren ãr bakgrundselementets 4 ovankant finns ett forsta bakgrundsbelysningselement 5a som riktar 1j-us framst mot bakgrundselementets ovandel och i anslutning till bakgrundselementets nederkant finns ett andra bakgrundsbelysningselement 5b som riktar ljus framst mot bakgrundselementets nederdel. Del av ljuset fran de bada bakgrundsbelysningselementen 5a, 5b kommer att reflekteras spekulart och i stor utstrackning kommcr denna reflektion av att falla pa den del av bakgrundselementet 4 som inte belyses direkt av respektive bakgrundsbelysningselement 5a, 5b. Pa sa satt utnyttjas ljuset fran bakgrundsbelysningselementen 5a, 5b effektivt och fordelas pa ett mer homogent satt an om bara direkt infallande ljus hade utnyttjats.
Fig. 4 visar en andra utforingsform av ett avbildningssystem 100 enligt 30 uppfinningen ur ett forsta perspektiv. I figuren ãr huvudaxeln V illustrerad for att underlatta forstaelsen. Kameran 3 befinner sig i figurens underkant och 8 riktad mot spegelparet 2a-b. Bakgrundselementet 4 ãr i den Mr utforingsformen inte anordnat langre fran spegelparet 2a, 2b an kamerans 3 framsta yta och befinner sig nedanfOr delningsplanet. Froet som hãr inte illustreras, belyses snett nedifran av ett nedre provbelysningselement 6h och 5 sett uppifran av ett ovre provbelysningselement 6a. Varje belysningselement utgors har av radvis anordnade grupper med LED:ar, som kan ge ett diffust ljus med en vid oppningsvinkel. LED:ar har aven fordelen att de är effektiva och kan ge ljus bara i ett onskat vaglangdsomrade, samt kan dãrtill snabbt stangas av och sattas pa f6r ett generera belysning endast när froet befinner 10 sig i rat lage mellan spegelparet 2a, 2b.
Bakgrundselementet 4 bojer awn i denna utforingsform i en bage som bildar del av en cylinderyta. Bakgrundselementet 4 är har belyst fran bagge sidor pa samma salt som i den forsta utforingsformen med forsta och andra bakgrundsbelysningselement 5a-b, men avbildningssystemet omfattar hâr aven ett tredje bakgrundsbelysningselement 5c som belyser bakgrundselementet 4 snett ovanifran, alltsâ ovan sett ur cylinderytans axels perspektiv. Detta tredje bakgrundsbelysningselement 5c ãr alltsa anordnat relativt bakgrundselementet pa ett sat som motsvarar provbelysningselementens 6a-b position och riktning relativt spegelparet.
Fig. 5 visar delar av den andra utfOringsformen av avbildningssystemet 100 enligt uppfinningen ur ett andra perspektiv, dar huvudaxeln V stracker sig uppifran och ned. I figuren illustreras spegelparet 2a-b samt de forsta och andra bakgrundsbelysningselementen 5a-b, medan bakgrundselement och kamera inte syns. Fron som faller nedat fran en icke illustrerad ranna faller vidare neat i spegelparets inre.
I utforingsformerna ovan beskrivs en kamera, men med detta begrepp menas 30 hdr vilken avbildande anordning som heist, CCD-kameror eller annat. Speglarna i spegelparet ãr har rektangulara och vinkladc i 90° fran varandra, 9 men speglarna kan forstas vara annorlunda utformade och vinklade fran varandra i annan vinkel an 90°.
Avbildningssystemet 100 enligt ovan ãr anordnat for att generera bilder och Ora dem tillgdngliga for lagring och analys i ansluten lagrings och bildanalysutrustning, se Figur 6. Detta kan astadkommas med hjalp av lagring av bilder i ett minne 200 i kameran och darefter fora over dessa till ett bildbehandlingsystem 300. Alternativt kan kameran vara ansluten till ett externt lagringsmedium 200 ddr bilderna lagras och sedan fors over till en bildanalysutrustning 300 for vidare analys. Enligt en ytterligare utforingsform kan kameran vara direkt ansluten till ett bildanalyssystem 300 ddr bilderna analyseras automatiskt och kontinuerligt sa lange som nagot prov finns narvarande mellan spegelparen. Ddrutover kan avbildningssystemet 100 vara anslutet till ett styr- eller reglersystem som gOr det mojligt att styra avbildningssystemet baserat pa utfallet av den efterfoljande bildanalysen, t.ex. genom att anpassa typen av bilder som tas baserat pa vad som detekterats vid analysen.
Enligt beskrivningen ovan kan fargen hos bakgrundselementet 4 vdljas som komplementfdrg till det prov som skall avbildas. Beroende pa vilken typ av kamera 3 som anvands kan bakgrundselementets 4 avbildningsegenskaper vdljas fOr att forstarka kontrasten mellan det avbildade foremalet och den avbildade bakgrunden. Mimed kan termen farg anvandas for att ocksa ange att bakgrundselementet 4 har getts ett forutbestamt monster eller annan avbildningsegenskap som paverkar en efterfoljande analys.
Med hjalp av ovan beskrivna utforingsformer av ett avbildningssystem 100 dr det mojligt att avbilda ett och samma prov fran flera olika sidor och mot en homogen bakgrund vilket forenklar en efterfoljande analys och bildbehandling. 10 Ovan beskrivna utforingsformer utgor enbart exempel, det ãr underforstatt att den beskrivna tekniken inte âr begransad därtill. Fackmannen inser att diverse modifieringar, kombinationer och andringar kan goras till utforingsformerna utan att avvika fran det skyddsomfang som definieras av de bifogade kraven.
Sdrskilt sa kan olika dellosningar i de olika utforingsformerna kombineras i andra konfigurationer ndr sa ãr tekniskt mojligt. 11

Claims (7)

Pate ntkrav
1. Ett avbildningssystem (100) omfattande atminstone en kamera (3), ett bakgrundselement (4) och ett spegelpar (2a-b), dar spegelytorna i parets speglar är vinklade fran varandra i en vinkel a, dar avbildningssystemet (100) är avsett att motta ett prov langs en huvudaxel (V) som stracker sig mellan speglarna, kiinnetecknat av att kameran (3) är riktad mot spegelparet (2a-b) och ddr bakgrundselementet (4) omfattar en yta som ãr riktad mot spegelparet, och van i namnda bakgrundselement (4) är utformat som ett cylinderparti med en cylinderaxel som avviker frail huvudaxeln, och vani speglarna (2a-b) är anordnade med en respektive spegelyta kant i kant med varandra.
2. Ett avbildningssystem enligt krav 1, kannetecknat av att ett delningsplan stracker sig genom spegelparet i huvudsakligen rat vinkel mot huvudaxeln och ddr huvuddelen av kameran (3) an anordnad pa en forsta sida av delningsplanet, samt dar atminstone del av bakgrundselementet (4) ãr anordnad pa en andra sida av delningsplanet.
3. Ett avbildningssystem enligt krav 1 eller 2, ktinnetecknat av att den yta 20 pa bakgrundselementet (4) som är riktad mot spegelparet ãr belyst av minst ett bakgrundsbelysningselement (5a-c) riktad mot denna yta.
4. Ett avbildningssystem enligt krav 3, kannetecknat av att bakgrundsbelysningselementen (5a- c) är anordnad nara 25 bakgrundselementets (4) ytterkant.
5. Ett avbildningssystem enligt nagot av de foregaende kraven, kannetecknat av att avbildningssystemet ãr avsett att motta prover (1) med en typisk farg och av att bakgrundselementet (4) uppvisar en yta riktad mot spegelparet som har en fang som ãr huvudsakligen komplementar mot provets typiska farg. 12
6. Ett avbildningssystem enligt krav 5, kannetecknat av att avbildningssystemet är avsett att motta fron (1) och av att bakgrundselementet (4) uppvisar en yta riktad mot spegelparet som är bla.
7. Ett avbildningssystem enligt nagot av fOregaende krav, kannetecknat av att mot spegelytorna i paret speglar âr riktat ljus fran âtminstone ett provbelysningselement (6a-b), ddr provbelysningselementet ãr anordnat ovan eller under spegelparet sett utifran huvudaxeln. 13 1/6 100 5a 5b
SE1450426A 2014-04-07 2014-04-07 Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund SE537987C2 (sv)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE1450426A SE537987C2 (sv) 2014-04-07 2014-04-07 Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund
PL15776846T PL3129770T3 (pl) 2014-04-07 2015-03-30 System obrazowania materiału ziarnistego z jednorodnym tłem
PCT/SE2015/050379 WO2015156722A1 (en) 2014-04-07 2015-03-30 Imaging system for granular material with homogeneous background
CN201580030322.3A CN106461569B (zh) 2014-04-07 2015-03-30 用于具有均匀背景的颗粒状物质的成像***
ES15776846T ES2860909T3 (es) 2014-04-07 2015-03-30 Sistema de obtención de imágenes para material granular con fondo homogéneo
LTEP15776846.6T LT3129770T (lt) 2014-04-07 2015-03-30 Granulinių medžiagų atvaizdavimo sistema su homogeniniu fonu
SI201531518T SI3129770T1 (sl) 2014-04-07 2015-03-30 Slikovni sistem za zrnati material s homogenim ozadjem
US15/302,637 US10311562B2 (en) 2014-04-07 2015-03-30 Imaging system for granular material with homogeneous background
HUE15776846A HUE053568T2 (hu) 2014-04-07 2015-03-30 Képalkotó rendszer szemcsés anyaghoz homogén háttérrel
DK15776846.6T DK3129770T3 (da) 2014-04-07 2015-03-30 Billeddannelsessystem til granulært materiale med homogen baggrund
EP15776846.6A EP3129770B1 (en) 2014-04-07 2015-03-30 Imaging system for granular material with homogeneous background
PT157768466T PT3129770T (pt) 2014-04-07 2015-03-30 Sistema de imagem para material granular com fundo homogéneo
HRP20210381TT HRP20210381T1 (hr) 2014-04-07 2021-03-04 Sustav za snimanje za zrnasti materijal sa homogenom pozadinom

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE1450426A SE537987C2 (sv) 2014-04-07 2014-04-07 Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE1450426A1 SE1450426A1 (sv) 2015-10-08
SE537987C2 true SE537987C2 (sv) 2016-01-12

Family

ID=54288167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE1450426A SE537987C2 (sv) 2014-04-07 2014-04-07 Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund

Country Status (13)

Country Link
US (1) US10311562B2 (sv)
EP (1) EP3129770B1 (sv)
CN (1) CN106461569B (sv)
DK (1) DK3129770T3 (sv)
ES (1) ES2860909T3 (sv)
HR (1) HRP20210381T1 (sv)
HU (1) HUE053568T2 (sv)
LT (1) LT3129770T (sv)
PL (1) PL3129770T3 (sv)
PT (1) PT3129770T (sv)
SE (1) SE537987C2 (sv)
SI (1) SI3129770T1 (sv)
WO (1) WO2015156722A1 (sv)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3263233A1 (en) * 2016-06-28 2018-01-03 Buhler Sortex Ltd. Illumination devices
CN107478153A (zh) * 2017-08-11 2017-12-15 哈尔滨工业大学 一种用于芯片检测的背景光源结构
JP7170400B2 (ja) * 2018-02-14 2022-11-14 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査装置、検査方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法
JP7215826B2 (ja) * 2018-02-21 2023-01-31 Juki株式会社 ３次元計測装置、電子部品実装装置、及び３次元計測方法
US10290091B1 (en) * 2018-07-06 2019-05-14 Arevo, Inc. Filament inspection system
CN109277313A (zh) * 2018-10-12 2019-01-29 何方 一种检测方法以及检测设备

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4025201A (en) * 1975-04-21 1977-05-24 Ball Brothers Service Corporation Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture by decussate paths of light
US4351437A (en) * 1980-01-18 1982-09-28 Lockwood Graders (Uk) Limited Method and apparatus for examining objects
DE4002034C1 (sv) * 1989-12-05 1991-05-02 Elpatronic Ag, Zug, Ch
DE4031633A1 (de) * 1990-10-05 1992-04-16 Sick Optik Elektronik Erwin Optische inspektionsvorrichtung
US5448365A (en) 1992-05-15 1995-09-05 Philip Morris Incorporated Systems for optical inspection
US5424838A (en) * 1993-03-01 1995-06-13 Siu; Bernard Microelectronics inspection system
JP2738300B2 (ja) 1994-06-20 1998-04-08 白柳式撰果機株式会社 塊状青果物のカメラ選別機に用いる間接照明型多面撮影装置
US5621530A (en) 1995-04-26 1997-04-15 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for verifying the coplanarity of a ball grid array
JPH09304294A (ja) * 1996-05-17 1997-11-28 Mutual Corp 被検査物の表面検査方法及びその装置
US5936725A (en) * 1997-10-28 1999-08-10 Materials Technologies Corp. Apparatus and method for viewing and inspecting a circumferential surface area of a test object
IT1299859B1 (it) * 1998-02-23 2000-04-04 Gd Spa Unita' elettro-ottica di rilevamento dell'intera superficie lateale di articoli di forma sostanzialmente cilindrica.
EP0968772A2 (en) * 1998-07-02 2000-01-05 Satake Usa Inc. A sorting machine
US7136159B2 (en) * 2000-09-12 2006-11-14 Kla-Tencor Technologies Corporation Excimer laser inspection system
US20020064043A1 (en) 2000-11-29 2002-05-30 Tb Optical Co., Ltd. Light source of illumination for light guide
US6813016B2 (en) * 2002-03-15 2004-11-02 Ppt Vision, Inc. Co-planarity and top-down examination method and optical module for electronic leaded components
US7009703B2 (en) * 2003-03-27 2006-03-07 J.M.Canty Inc. Granular product inspection device
JP2005172608A (ja) * 2003-12-11 2005-06-30 Nichizou Imc:Kk 外観検査装置
FR2866068B1 (fr) * 2004-02-06 2006-07-07 Snecma Moteurs Turboreacteur a soufflante solidaire d'un arbre d'entrainement supporte par un premier et un deuxieme paliers
FI116804B (sv) * 2004-05-18 2006-02-28 Ekspansio Engineering Ltd Oy Optisk granskning av materialstyckenas ytor öppna åt olika riktningar
KR100737758B1 (ko) 2004-06-30 2007-07-10 아주하이텍(주) 조명장치를 구비하는 자동 광학 검사 시스템 및 그의 검사 방법
JP4020144B2 (ja) 2006-03-10 2007-12-12 オムロン株式会社 表面状態の検査方法
DE102006042311B4 (de) * 2006-09-06 2013-12-05 3D-Shape Gmbh Dreidimensionale Vermessung von Objekten in einem erweiterten Winkelbereich
FR2914423B1 (fr) * 2007-03-26 2009-07-31 Proditec Soc Par Actions Simpl Dispositif de controle visuel automatise.
JP2009128158A (ja) 2007-11-22 2009-06-11 Ushio Inc パターン検査装置
US8000594B2 (en) * 2009-07-02 2011-08-16 Microscan Systems, Inc. Diffuse reflective illuminator
US9115867B2 (en) * 2010-10-19 2015-08-25 Macdonald, Dettwiler And Associates Inc. Dual reflector system for linear lamp illuminators
JP6037125B2 (ja) * 2013-02-18 2016-11-30 株式会社サタケ 光学式粒状物選別機
NZ712230A (en) * 2013-02-28 2018-06-29 Neil M Day Method and apparatus for particle size determination
US9593825B2 (en) * 2013-10-29 2017-03-14 Microscan Systems, Inc. Illumination system

Also Published As

Publication number Publication date
CN106461569B (zh) 2021-04-09
PT3129770T (pt) 2021-03-03
LT3129770T (lt) 2021-05-25
SE1450426A1 (sv) 2015-10-08
US20170032516A1 (en) 2017-02-02
WO2015156722A1 (en) 2015-10-15
HRP20210381T1 (hr) 2021-04-16
CN106461569A (zh) 2017-02-22
ES2860909T3 (es) 2021-10-05
PL3129770T3 (pl) 2021-07-05
SI3129770T1 (sl) 2021-04-30
HUE053568T2 (hu) 2021-07-28
US10311562B2 (en) 2019-06-04
EP3129770A1 (en) 2017-02-15
EP3129770B1 (en) 2020-12-23
DK3129770T3 (da) 2021-03-15
EP3129770A4 (en) 2018-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE537987C2 (sv) Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund
ES2940563T3 (es) Método y aparato para detectar materia
US20110050884A1 (en) Apparatus and method for inspecting labeled containers
CN106449674A (zh) 具有对称多像素相位差检测器的图像传感器及相关方法
DE102014104078B4 (de) Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren zur Durchlichtinspektion von Behältern
EP3204759A1 (de) Inspektionsvorrichtung und verfahren zur durchlichtinspektion von behältern
US10421247B2 (en) Checking device and method for checking the quality of foldable boxes, and manufacturing installation comprising this checking device
US20190154578A1 (en) Surface inspection system and surface inspection method
KR102086997B1 (ko) 렌티큘러 렌즈 시트의 회전 위치 측정
EP3322975A1 (en) Optical inspection system for transparent material
CH692847A5 (fr) Dispositif automatique détectant les défauts d'impression apparaissant sur des bandes métallisées ou sur tout autre support d'impression comprenant une prédominance de surfaces de couleurs s
WO2016070133A1 (en) Illumination system, inspection tool with illumination system, and method of operating an illumination system
CN104937398B (zh) 检查装置
CA2949022C (en) Optical system for counting objects
US10702891B2 (en) Device equipped with optical unit
KR102419484B1 (ko) 제품의 품질을 검사하기 위한 방법 및 기계 장치
CN201221981Y (zh) 一种测量运动目标颜色饱和度指标和形状大小的装置
DE102015103254A1 (de) Optisches System
GB2475344A (en) Multi-chromatic imaging system for product in a product flow
CN214441053U (zh) 一种运用二向色镜合并光路的色选机
Barba et al. Geysers in the Lagoon: new Herbig-Haro objects in M 8
JP2001108623A (ja) 外観検査方法及び装置
JP2005083877A (ja) 蓋ずれ検知装置及び蓋ずれ検知方法
FR3073295A1 (fr) Telescope spatial generant des images couleur a deux formats grand champ et haute resolution
JP2019070564A (ja) 物品検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed