SE536900C2 - Method for measuring topography on the surface of a material web - Google Patents
Method for measuring topography on the surface of a material web Download PDFInfo
- Publication number
- SE536900C2 SE536900C2 SE1100700A SE1100700A SE536900C2 SE 536900 C2 SE536900 C2 SE 536900C2 SE 1100700 A SE1100700 A SE 1100700A SE 1100700 A SE1100700 A SE 1100700A SE 536900 C2 SE536900 C2 SE 536900C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- web
- information
- optical radiation
- light
- topography
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 65
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 47
- 238000012876 topography Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000000123 paper Substances 0.000 claims description 19
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 claims description 5
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 claims description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 6
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/346—Paper sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Förfarande för att i väsentlig realtid mäta topografin av ytan på en materialbana (3) vilkenbefinner sig i rörelse genom att bestråla en tvärgående, eller väsentligen tvärgående, yta avmaterialbanan (3) med en linje av optisk strålning som avges av minst en första optiskstrålningskälla (4) varvid den reflekterade optiska strålningen från den bestrålade materialbanans(3) yta (2) insamlas (registreras) av minst en bildsensor (5), varvid den av bildsensom (5)insamlade informationen sammanställs och bearbetas av minst en bearbetningsanordning (6) tilltopografisk information om materialbanans (3) yta (2) varefter den topografiska informationenlagras på ett lagringsmedium eller överförs till annan enhet. Unikt med det föreliggandeförfarandet är att minst två sensorer (5) samlar in informationen som innehåller ett brett spatielltvåglängdsspektra i materialbanans (3) tvärriktning, eller väsentlig tvärriktning, samt attmätningen sker när materialbanans (3) rörelsehastighet i materialbanans längsriktning uppgår till minst 10 meter per minut. Method for measuring in real time the topography of the surface of a web of material (3) which is in motion by irradiating a transverse, or substantially transverse, surface of the web of material (3) with a line of optical radiation emitted by at least one first optical radiation source (4). ) whereby the reflected optical radiation from the surface (2) of the irradiated material web (3) is collected (recorded) by at least one image sensor (5), the information collected by the image sensor (5) being compiled and processed by at least one processing device (6) to topographic information about the surface (2) of the material web (3), after which the topographical information shall be stored on a storage medium or transferred to another device. Unique to the present method is that at least two sensors (5) collect the information containing a wide spatial wavelength spectrum in the transverse direction of the material web (3), or substantially transverse direction, and the measurement takes place when the velocity of the material web (3) in the longitudinal material path is at least 10 meters per minute .
Description
536 900 mycket korta topografiska våglängspektra med låg dynamik. Standardmetoder som karakteriserar en linje är baserade på triangulering, dessa har en begränsning eftersom det finns en begränsning i hur stor dynamik mätmetoden har i relation till mätnoggrannheten. 536,900 very short topographic wavelength spectra with low dynamics. Standard methods that characterize a line are based on triangulation, these have a limitation because there is a limitation in how much dynamics the measurement method has in relation to the measurement accuracy.
En svårighet med att mäta topografin på ytan av materialbanor i industriella processer är att materialbanoma framförs med en hög hastighet i materialbanans längsriktning. Exempelvis förekommer det att materialbannor av papper i pappersmaskiner framförs med en hastighet på över 400 meter per minut. Vid dessa hastigheter råder stora svårigheter att samla in information för mätning av materialbanans topografi.A difficulty in measuring the topography on the surface of material webs in industrial processes is that the material webs are advanced at a high speed in the longitudinal direction of the material web. For example, it happens that material webs of paper in paper machines are carried at a speed of more than 400 meters per minute. At these speeds, there is great difficulty in collecting information for measuring the topography of the material web.
Känd teknik Metoder för att mäta topografi på materialbanor är sedan tidigare kända. Exempelvis beskrivs i patentskriften WO 2009/083655Al ett bildande av ett ojämnhetsvärde av ljusblixtar från källor som avger olika spektra av ljus. Denna metod skiljer sig från metoden enligt den föreliggande uppfinningen i att ljuset inte bildas som en linje som indikerar att den faktiska topografin i tvärriktning över pappret (Cross-machine Direction) inte mäts, utan snarare ett medelvärde av den relativa höjden förändring över en yta. Med den föreliggande uppfinningen är bildandet av ett våglängdsspektrum ett resultat av mätningen, vilket inte är möjligt i den beskrivna patentskriften. Endast en kamera används i patentskriften, och detta tyder på att längre våglängder inte mäts, vilket är också en viktig skillnadjämfört med den föreliggande uppfinningen.Prior art Methods for measuring topography on material webs are already known. For example, patent specification WO 2009 / 083655Al describes the formation of an unevenness value of light flashes from sources which emit different spectra of light. This method differs from the method of the present invention in that the light is not formed as a line indicating that the actual topography across the paper (Cross-machine Direction) is not measured, but rather an average of the relative height change over a surface. With the present invention, the formation of a wavelength spectrum is a result of the measurement, which is not possible in the described patent specification. Only one camera is used in the patent, and this indicates that longer wavelengths are not measured, which is also an important difference compared to the present invention.
I patentskriften US 4202630 A beskrivs en metod för att mäta topografisk information på en yta.U.S. Pat. No. 4,202,630 A describes a method for measuring topographic information on a surface.
Det handlar i US 4202630 A dock inte om en ljuslinje utan om en serie ljuspunkter ordnade på en linje. Den stora skillnaden här ligger i att med en serie punkter (i US 4202630 A) så mäter man det relativa avståndet mellan punktema och omvandlar dessa avstånd till topografiska höj der. Med en sådan metod bör storleken på punktema vara markant mindre än avståndet mellan punktema, vilket begränsar upplösningen avsevärt eller ställer åtminstone orimliga krav på ljuskällan och raster för att uppnå samma spatiella upplösning som i den föreliggande uppfinningen. Dessutom måste upplösningen på en bildsensor (i en fömyad version av US 4202630 A) vara avsevärt högre än den slutliga spatiella upplösningen i mätningen. Det handlar i 536 900 US 4202630 A om en metod som kan lämpa sig väl för mätningar av ytor där den spatiella upplösningen inte är kritisk. Ska man däremot mäta i mikrometerområdet är mätmetoden i US 4202630 A i bästa fall ineffektiv. I den föreliggande uppfinningen projiceras en sammanhållen linje av ljus på ytan och bildsensom med efterföljande processning mäter sedan den relativa avvikelsen i normalriktningen mot linjeriktningen. Detta betyder att den spatiella upplösningen begränsas av bildsensoms pixelstorlek och antalet pixlar på en linjebredd, vilket gör denna metod till en betydligt teknikeffektivare metod än den i US 4202630 A.In US 4202630 A, however, it is not about a light line but about a series of light points arranged on a line. The big difference here is that with a series of points (in US 4202630 A) you measure the relative distance between the points and convert these distances to topographical heights. With such a method, the size of the dots should be markedly smaller than the distance between the dots, which limits the resolution considerably or places at least unreasonable demands on the light source and breaks to achieve the same spatial resolution as in the present invention. In addition, the resolution of an image sensor (in a modified version of US 4202630 A) must be significantly higher than the final spatial resolution of the measurement. 536 900 US 4202630 A is a method which can be well suited for measurements of surfaces where the spatial resolution is not critical. If, on the other hand, one is to measure in the micrometer range, the measurement method in US 4202630 A is at best inefficient. In the present invention, a coherent line of light is projected on the surface and the image sensor with subsequent processing then measures the relative deviation in the normal direction against the line direction. This means that the spatial resolution is limited by the pixel size of the image sensor and the number of pixels on a line width, which makes this method a much more technology-efficient method than that in US 4202630 A.
I patentskriften JP 57049805 A beskrivs en metod där man på en punkt (i korshåret mellan linjeljuskällan och linjesensorn) mäter intensitetsformen på tvärsnittet av ljuslinjen och sedan, genom att studera till vilken grad detta tvärsnitt är rektangulärt eller Gauss-forrnat, fatta ett beslut om ytråheten (roughness) på ytan. Denna mätning har inget med relativa topografiska höjder att göra. Det är heller inte möjligt att från mätmetoden i JP 57049805 A få fram spatiella våglängder, vilket är en viktig del av den föreliggande uppfinningen. Utökar man metoden i JP 57049805 A med en tvådimensionell bildsensor eller till och med flera sensorer kommer man ändå inte att kunna mäta topografi och heller inte kunna få fram spatiella våglängder. Det man skulle uppnå är att man kan medelvärdesbilda sin genomskämingsprofil över flera strips och på så sätt få ett något noggrannare mätvärde, som fortfarande skulle vara grundat på en empiriskt definierad uppskattning av en kurvform.JP 57049805 A describes a method in which at a point (in the crosshair between the line light source and the line sensor) the intensity shape of the cross section of the light line is measured and then, by studying the degree to which this cross section is rectangular or Gaussian, a decision is made on the surface roughness. (roughness) on the surface. This measurement has nothing to do with relative topographic elevations. It is also not possible to obtain spatial wavelengths from the measurement method in JP 57049805 A, which is an important part of the present invention. If you extend the method in JP 57049805 A with a two-dimensional image sensor or even fl your sensors, you will still not be able to measure topography fi nor will you be able to obtain spatial wavelengths. What you would achieve is that you can average your throughput profile over your strips and thus get a slightly more accurate measurement value, which would still be based on an empirically defined estimate of a curve shape.
I patentskriften EP 1898207 A1 använder man flera bildsensorer, vilket också görs i den föreliggande uppfinningen. Här slutar dock likhetema. I metoden i EP 1898207 A1 avbildar sensorema ytan utan någon speciell belysningsmetod. Man gör en direkt spektralanalys av ljusintensiteten hos två eller flera kolumner i sensorema. Detta för att se om det finns frekvenstoppar i spektret som skulle motsvara en, i maskinriktningen, oj ämnhet. Detta är en effektiv metod för att upptäcka släpspår på ytan, men där stannar användbarheten.The patent specification EP 1898207 A1 uses your image sensors, which is also done in the present invention. Here, however, the similarities end. In the method in EP 1898207 A1, the sensors image the surface without any special lighting method. A direct spectral analysis is made of the light intensity of two or fl your columns in the sensors. This is to see if there are frequency peaks in the spectrum that would correspond to an unevenness in the machine direction. This is an effective method for detecting traces on the surface, but that is where the usefulness stays.
I patentskriften US 4019066 A beskrivs en intressant relativt enkel lösning för att uppskatta (snarare än mäta) ytråheten (roughness) hos en yta. I US 4019066 A belyser man ytan och använder sedan de relativa intensitetsskillnadema hos hela den avbildade ytan för att ge en uppskattning om ytråheten. Det är en mycket oprecis metod som inte avbildar topografin och kan heller inte användas för att bygga upp spatiella våglängdsspektra. Det är en intressant enklare 536 900 metod för mätning av ytråhet som dock däröver har mycket lite gemensamt med den föreliggande uppfinningen.U.S. Pat. No. 4,091,066 A discloses an interesting relatively simple solution for estimating (rather than measuring) the roughness of a surface. US 4019066 A illuminates the surface and then uses the relative intensity differences of the entire imaged surface to give an estimate of the surface roughness. It is a very imprecise method that does not image the topography nor can it be used to build spatial wavelength spectra. It is an interesting simpler 536,900 method for measuring surface roughness which, however, has very little in common with the present invention.
I patentskriften WO00/68638 A1 beskrivs en metod för att mäta oj ämnheter/ytjämnhet och glans, snarare än topografi. En yta är upplyst och ett medelvärdesmått på oj ämnheter/ytj ämnhet och glans produceras. Patentskriften beskriver ingen hantering av någon rumslig våglängdsanalys eller tvärriktningstopografi. Dessutom beskriver inte patentskriften onlinemätningar.WO00 / 68638 A1 describes a method for measuring roughness / surface smoothness and gloss, rather than topography. A surface is illuminated and an average value of oj units / surface properties and gloss is produced. The patent does not describe any handling of any spatial wavelength analysis or transverse topography. In addition, the patent does not describe online measurements.
I patentskriften SE 511985 C2 beskrivs en metod att extrahera topografi från en yta genom att belysa den med diffust ljus. Det belysta området är mycket begränsat (5 x 5 mm) vilket medför att de längre rumsliga våglängdema i mäts. Den i patentskriften beskrivna metoden skiljer sig vidare från den granskade konstruktionen genom att denna inte är avsedd för onlinemätningar.Patent specification SE 511985 C2 describes a method of extracting topography from a surface by illuminating it with diffused light. The illuminated area is very limited (5 x 5 mm), which means that the longer spatial wavelengths are measured. The method described in the patent specification further differs from the examined construction in that it is not intended for online measurements.
I patentskriften SE 528526 C2 beskrivs en metod som är avsedd som ett komplement till ytjämnhetsmätningar, där större defekter på pappersytan upptäcks med hjälp av snedställt ljus på en yta. Detta ger ett numeriskt mått på hurjämn ytan är. Metoden som den beskrivs i patentskriften mäter inte den faktiska topografin i papperets tvärriktning (Cross-machine Direction). Till skillnad frän föreliggande uppfinning är metoden i patentskriften också bara avsedd för studier i laboratorium i stället för onlinemätningar.Patent specification SE 528526 C2 describes a method which is intended as a complement to surface smoothness measurements, where larger defects on the paper surface are detected by means of oblique light on a surface. This gives a numerical measure of how even the surface is. The method as described in the patent specification does not measure the actual topography in the cross-machine direction of the paper. Unlike the present invention, the method in the patent specification is also only intended for laboratory studies instead of online measurements.
I patentskriftema FI 914794 A och FI 91676 C beskrivs metoder där en laserpunkt sveps över ytan, i stället för att projicera en linje av ljus, som den föreliggande uppfinningen. Dessa beskrivna metoder använder också bara en kamera. Kombination av dessa saker innebär att längre rumsliga våglängder går förlorade. En korrekt faktiska topografiska representation i papperets tvärriktning (Cross-machine Direction) uppnås inte, utan snarare ett medelvärde av ytans ytjämnhet.Patents FI 914794 A and FI 91676 C describe methods in which a laser dot is swept over the surface, instead of projecting a line of light, as the present invention. These described methods also use only one camera. Combining these things means that longer spatial wavelengths are lost. A correct actual topographic representation in the transverse direction of the paper (Cross-machine Direction) is not achieved, but rather an average value of the surface roughness of the surface.
I patentskriften WO 96/09518 beskrivs en metod för att mäta vågigheten hos korrugerad kartog genom att projicera ett antal ljuslinjer på kartongytan, där vinkeln mellan kartongbanan och ljuskällan är mycket liten. På så vis kan man få avvikelser och skuggningar på ytan som sedan uppträder som toppar i en spatiell frekvensanalys. Metoden lämpar sig väl för att extrahera några få kraftigt framträdande spatiella våglängder, men inte för att ta fram ett komplett spatiellt våglängdsspektrum för en ytas topografi. Uppflnningen liknar mer den som är beskriven i EP 1898207 A1 än den föreliggande uppfinningen, och lämpar sig inte för topografisk 536 900 karakterisering av en yta. Även om man skulle ändra vinklen i WO 96/09518 när man ändå inte fram till den föreliggande uppfinningen utan att ändra radikalt i mätmetoden.WO 96/09518 describes a method for measuring the waviness of corrugated cardboard by projecting a number of light lines on the cardboard surface, where the angle between the cardboard web and the light source is very small. In this way, deviations and shadows can be obtained on the surface, which then appear as peaks in a spatial frequency analysis. The method is well suited for extracting a few highly prominent spatial wavelengths, but not for producing a complete spatial wavelength spectrum for a topography of a surface. The invention is more similar to that described in EP 1898207 A1 than the present invention, and is not suitable for topographical 536,900 characterization of a surface. Even if one were to change the angle in WO 96/09518 when one still does not arrive at the present invention without radically changing the measurement method.
I patentskriften US 2002/0100569 Al beskrivs en metod för att mäta formation hos en våt pappersyta, där ett minimum av 80% fukthalt är ett krav för mätarens funktionsduglighet.U.S. Pat. No. 2002/0100569 A1 describes a method for measuring the formation of a wet paper surface, where a minimum of 80% moisture content is a requirement for the meter's operability.
Metoden mäter dock inte den topografiska profilen utan den reflekterade ljusstrâlningen från ytan. Detta görs i en linjesensor, vilket omöjliggör en extraktion av en topografisk profil på det sätt som beskrivs i den föreliggande uppfinningen, vilket gör metoden i US 2002/0100569 A1 radikalt olik den föreliggande uppfinningen, och den kan heller inte lösa samma mätproblem som den föreliggande uppfinningen.However, the method does not measure the topographical profile but the reflected light radiation from the surface. This is done in a line sensor, which makes it impossible to extract a topographic profile in the manner described in the present invention, which makes the method in US 2002/0100569 A1 radically different from the present invention, nor can it solve the same measurement problems as the present invention. the invention.
I patentskriften US 5978750 A1 beskrivs en kontaktbaserad ytråhetsmätare där man med en pennliknande sensor får fram en ungefärlig topografisk kurva som sedan kan behandlas.U.S. Pat. No. 5,978,750 A1 describes a contact-based surface roughness meter in which a approximate topographic curve is obtained with a pen-like sensor which can then be processed.
Metoden har klara begränsningar jämfört med den föreliggande uppfinningen i att mätnoggrannheten beror av sensoms anläggningsyta och kontakttryck. Med en optisk metod är det betydligt lättare att få bra noggrannhet i mätningarna. Dessutom är en kontaktbaserad metod oftast omöjlig att implementera i onlinesammanhang när mätobjektet rör på sig. Den enda likheten med den föreliggande uppfinningen är att transformer används för att analysera datat från mätningarna. Det är dock stor skillnad mellan mätmetoderna.The method has clear limitations compared to the present invention in that the measurement accuracy depends on the sensor's contact surface and contact pressure. With an optical method, it is much easier to get good accuracy in the measurements. In addition, a contact-based method is often impossible to implement in an online context when the measuring object is moving. The only similarity with the present invention is that transformers are used to analyze the data from the measurements. However, there is a big difference between the measurement methods.
I patentskriften EP 1327852 A1 används en ljuskälla och en kamera för att avgöra hur platt en yta är. Ljuskällan är ett antal punktkällor i en rad och vinklarna hos ljuskällan och kameran ska helst vara sådana att man får direktreflektion in i kameran. Man kan med denna metod få ett ungefärligt mått på hur flat ytan är på makronivå, men metoden har en klar begränsning i att se mikrostrukturer på en yta, vilket är ett krav när man vill mäta ytråhet. Precis som tidigare beskrivna patentskrifter har denna metod vissa likheter med den föreliggande uppfinningen, men är i grunden en helt annan metod är den som är beskriven i den föreliggande uppfinningen. Även om dessa metoder från tidigare patentskrifter skulle kombineras är författarnas absoluta åsikt att en fackman inte utan vidare skulle komma fram till mätmetoden hos den föreliggande uppfinningen. Med avseende på problemen med den befintliga tekniken är det uppenbart att det föreligger ett behov av en väsentlig förbättrad utrustning för att mäta topografin i en materialbana i realtid. 536 900 Ändamålen med den föreliggande uppfinningen Det huvudsakliga ändamålet med den föreliggande uppfinningen är att skapa en väsentligt förbättrad metöd för att mäta topografi på en materialbana. Ett annat ändamål med den föreliggande uppfinningen är att mäta topografin på en materialbana under rörelse. Ett ännu ytterligare ändamål med den föreliggande uppfinningen är att skapa en metod för att mäta pappersbanans topografi i pappersbanans tvärriktning (Cross-machine Direction). Det är Vidare ännu ett ytterligare syfte med den föreliggande uppfinningen att mäta ett brett spatiellt våglängdsspektra med stor dynamik. 536 900 Kortfattad beskrivning av i följande stycken hänvisade figurer I den följande detaljerade beskrivningen av den föreliggande uppfinningen kommer hänvisning och referenser till följ ande figurer att ske. Respektive figur beskrivs kortfattat i den följ ande figurförteckningen. Notera att figurema är schematiska och att detalj er därmed kan vara utelämnade i dessa. De i figurema exemplifierade utföringsformerna är inte begränsande för skyddsomfånget för den föreliggande patentansökan.In the patent specification EP 1327852 A1 a light source and a camera are used to determine how flat a surface is. The light source is a number of point sources in a row and the angles of the light source and the camera should preferably be such that you get direct fl direction into the camera. With this method you can get an approximate measure of how fl the surface is at the macro level, but the method has a clear limitation in seeing microstructures on a surface, which is a requirement when you want to measure surface roughness. Like previously described patents, this method has some similarities with the present invention, but is essentially a completely different method than the one described in the present invention. Although these methods from previous patents would be combined, the authors' absolute opinion is that one skilled in the art would not readily arrive at the measurement method of the present invention. With regard to the problems with the existing technology, it is obvious that there is a need for a significantly improved equipment for measuring the topography in a material web in real time. OBJECTS OF THE PRESENT INVENTION The main object of the present invention is to create a substantially improved method for measuring topography on a web of material. Another object of the present invention is to measure the topography of a web of material in motion. An even further object of the present invention is to create a method for measuring the topography of the paper web in the cross-machine direction of the paper web. It is a further object of the present invention to measure a wide spatial wavelength spectrum with high dynamics. 536 900 Brief Description of the Figures Referred to in the following paragraphs In the following detailed description of the present invention, reference and references to the following figures will be made. Each figure is briefly described in the following list of figures. Note that the ur gures are schematic and that details can thus be omitted in these. The embodiments exemplified in the figures are not limiting of the scope of protection of the present patent application.
Figur 1 visar från sidan schematiskt principen för en anordning i enlighet med den föreliggande patentansökan.Figure 1 schematically shows from the side the principle of a device in accordance with the present patent application.
Figur 2 visar snett uppifrån schematiskt principen för en anordning i enlighet med den föreliggande patentansökan. Här har den mekaniska upphängningen av utrustningen utelämnats.Figure 2 shows obliquely from above schematically the principle of a device in accordance with the present patent application. Here, the mechanical suspension of the equipment has been omitted.
Figur 3 visar snett uppifrån en alternativ utföringsforin av den föreliggande uppfinningen. Här har den mekaniska upphängningen av utrustningen utelämnats.Figure 3 shows obliquely from above an alternative embodiment of the present invention. Here, the mechanical suspension of the equipment has been omitted.
Detaljerad beskrivning av uppfinningen Med hänvisning till figurema visas schematiskt en anordning 1, implementerande förfarandet, för att väsentligen i realtid mäta topografin av ytan 2 på en materialbana 3 som befinner sig i rörelse i materialbanans längsriktning.Detailed description of the invention With reference to the figures, a device 1, implementing the method, is schematically shown, for measuring in real time the topography of the surface 2 of a material web 3 which is in movement in the longitudinal direction of the material web.
Materialbanan 3 utgörs av en materialbana 3 vilken framförs med en hastighet av minst 10 meter per minut i förhållande till anordningen 1. l den föredragna utföringsforrnen av den föreliggande uppfinningen utgörs materialbanan 3 av en materialbana 3 i en maskin som framställer papper, papperboard, kartong eller liknande där materialbanan 3 framförs med en hastighet överstigande 100 meter per minut. Företrädesvis framförs materialbanan 3 med en hastighet överstigande 400 meter per minut. I alternativa utföringsformer är det tänkbart att materialbanan 3 utgörs av någon annan typ av materialbana 3 vilken framför med en hastighet överstiganden 10 meter per minut och företrädesvis överstigande 100 meter per minut.The web of material 3 is a web of material 3 which is advanced at a speed of at least 10 meters per minute relative to the device 1. In the preferred embodiment of the present invention, the web of material 3 is a web of material 3 in a machine producing paper, paperboard, cardboard or similar where the material web 3 is driven at a speed exceeding 100 meters per minute. Preferably, the material web 3 is driven at a speed exceeding 400 meters per minute. In alternative embodiments, it is conceivable that the material web 3 consists of some other type of material web 3 which advances at a speed exceeding 10 meters per minute and preferably exceeding 100 meters per minute.
F öreträdesvis mäts topografin av ytan 2 i materialbanans 3 tvärriktning eller väsentliga tvärriktning. I altemativa utföringsformer är det tänkbart att mätningen av topografin på materialbanans 3 yta 2 utförs i en annan riktning än den tvärgående eller den väsentligen tvärgående riktningen. 536 900 Förfarandet hos anordningen 1 innefattar vidare minst en elektromagnetiskt strålningsavgivande källa såsom företrädesvis en optisk strålningskälla 4, minst en bildsensor 5 och minst en bildbearbetningsanordning 6. Bearbetningsanordningen 6 bearbetar den insamlade informationen från bildsensorn, eller bildsensorema, 5. Bearbetningsanordningen 6 förutsätts innefatta erforderlig utrustning för lagring och bearbetning av bildsensorns, altemativt bildsensoremas, insamlade information. Företrädesvis innefattar bearbetningsanordningen även en funktion för att överföra den insamlade och/eller bearbetade information till annan typ av enhet eller liknande.Preferably, the topography of the surface 2 is measured in the transverse direction or substantially transverse direction of the web of material 3. In alternative embodiments, it is conceivable that the measurement of the topography on the surface 2 of the material web 3 is performed in a direction other than the transverse or the substantially transverse direction. The method of the device 1 further comprises at least one electromagnetic radiation emitting source such as preferably an optical radiation source 4, at least one image sensor 5 and at least one image processing device 6. The processing device 6 processes the information collected from the image sensor, or the image sensors. for storing and processing the collected information of the image sensor, alternatively the image sensors. Preferably, the processing device also comprises a function for transferring the collected and / or processed information to another type of unit or the like.
I den visade figuren är den elektromagnetiskt strålningsavgivande källan (eller källoma) 4 och bildsensorema 5 anslutna till en stomme, struktur eller liknande. Stommens, eller liknandes, tekniska effekt är att denna positionerar den strålningsavgivande källan, eller källorna, och bildsensorna inbördes i förhållande till varandra och i relation till materialbanan 2. Stommens, eller liknandes, konstruktion kan variera i stor omfattning inom ramen för den föreliggande uppfinningen.In the figure shown, the electromagnetic radiation emitting source (or sources) 4 and the image sensors 5 are connected to a body, structure or the like. The technical effect of the frame, or the like, is that it positions the radiation emitting source, or sources, and the image sensors relative to each other and in relation to the material web 2. The design of the frame, or the like, can vary widely within the scope of the present invention.
Den enskilda optiska strålningskällan 4 kan innefatta en eller flera optiska strålningskällor.The individual optical radiation source 4 may comprise one or fl your optical radiation sources.
Företrädesvis avger den optiska strålningsavgivande källan 4 optisk strålning inom frekvensområdet 100 nm till l mm.Preferably, the optical radiation emitting source 4 emits optical radiation in the frequency range 100 nm to 1 mm.
Den optiska strålningskällan 4 kan utgöras av, eller innefatta, LED, laser eller någon annan för ändamålet lämplig strålningskälla 4. I den föredragna utföringsformen används exempelvis en NIR laser som optisk strålningskälla, då det synliga spektret innefattande ambient ljus i rummet kan filtreras bort. Det är vidare tänkbart att olika typer av optiska strålningskällor kombineras och används i anordningen 1. Företrädelsevis används en eller flera ljuskällor med låg koherens för att minska koherensbruset i de avbildade linjerna och därmed öka noggrannheten på mätningama.The optical radiation source 4 may be, or include, LED, laser or any other suitable radiation source 4. In the preferred embodiment, for example, a NIR laser is used as the optical radiation source, as the visible spectrum comprising ambient light in the room can be filtered out. It is further conceivable that different types of optical radiation sources are combined and used in the device 1. Preferably, one or fl light sources with low coherence are used to reduce the coherence noise in the imaged lines and thereby increase the accuracy of the measurements.
Principen för att utföra mätningen i enlighet med förfarandet enligt den föreliggande patentansökan går ut på att minst en tvärgående, eller väsentligen tvärgående yta av materialbanan bestrålas (projiceras) med minst en linje 7 av optisk strålning avgiven av minst en strålningsavgivande källa 4. Den elektromagnetiska strålningen projiceras med infallsvinkel V1 mot materialbanans yta. Vinkel V1 utgörs av vinkeln mellan materialbanans yta och den avgivna 536 900 elektromagnetiska strålningens vinkel (huvudsakliga vinkel). Vinkeln V1 ligger företrädesvis inom intervallet 20-90 grader.The principle of performing the measurement according to the method of the present patent application is that at least one transverse, or substantially transverse surface of the web of material is irradiated (projected) with at least one line 7 of optical radiation emitted by at least one radiation emitting source 4. The electromagnetic radiation projected at an angle of incidence V1 towards the surface of the material web. Angle V1 consists of the angle between the surface of the web of material and the angle of the emitted 536 900 electromagnetic radiation (main angle). The angle V1 is preferably in the range 20-90 degrees.
Vid bestrålningen av ytan reflekteras delar av den optiska strålningen av ytan och delar av strålningen absorberas av ytan. Den reflekterade optiska strålningen i en viss riktning mot en viss punkt, linje eller yta varierar i förhållande till den bestrålade materialbanans topografi. Denna variation yttrar sig som laterala avvikelser hos ljuslinjen relativt en tänkt rak linje, och samlas in via minst en sensor 5. Informationen från sensorn 5, eller sensorema 5, utnyttjas i den föreliggande uppfinningen som ingående information till bearbetningsanordningen 6 i vilken den insamlade informationen bearbetas till topografisk information om materialbanans yta.During the irradiation of the surface, parts of the optical radiation are reflected by the surface and parts of the radiation are absorbed by the surface. The reflected optical radiation in a certain direction towards a certain point, line or surface varies in relation to the topography of the irradiated web of material. This variation manifests itself as lateral deviations of the light line relative to an imaginary straight line, and is collected via at least one sensor 5. The information from the sensor 5, or sensors 5, is used in the present invention as detailed information to the processing device 6 in which the collected information is processed. to topographic information about the surface of the material web.
Sensom 5, eller sensorerna 5, som samlar in information om den reflekterade optiska strålningen är företrädesvis vinklade enligt vinkel V2 i förhållande till materialbanan. Vinkel V2 utgörs av vinkeln mellan materialbanans yta och sensorns, alternativt sensorernas insamlingsriktning.The sensor 5, or the sensors 5, which collect information about the reflected optical radiation, are preferably angled according to angle V2 in relation to the web of material. Angle V2 consists of the angle between the surface of the material web and the collection direction of the sensor, or alternatively the sensors.
Vinkeln V2 ligger företrädesvis inom intervallet 20-90 grader. Företrädesvis innefattar konstruktionen ett flertal sensorer 5 vilka avkänner den reflekterade optiska strålningen och överför och/eller lagrar den insamlade informationen från respektive sensor 5 på ett för ändamålet lämpligt lagringsmedium. Skillnader i den topografiska höjden på ytan av materialbanan medför olika spatiala avvikelser av linjens position i förhållande till en ideal rak linje.The angle V2 is preferably in the range 20-90 degrees. Preferably, the construction comprises a number of sensors 5 which sense the reflected optical radiation and transmit and / or store the collected information from the respective sensor 5 on a storage medium suitable for the purpose. Differences in the topographic height of the surface of the material web cause different spatial deviations of the position of the line in relation to an ideal straight line.
I den exemplifierande utföringsforrnen har ett flertal sensorer 5 satts samman i materialbanans tvärriktning, eller väsentliga tvärriktning, så att dessa var för sig samlar in information av delar av den tvärgående linjen. Den insamlade informationen från sensorerna 5 bearbetas av bearbetningsanordningen och sätts ihop så att den insamlade information återger linjen i sin fulla längd. Vinkeln mellan bildsensorerna 5 och linjen 7 gör att linjen i bilderna kröker sig efter ytans topografi, se figur. Dessa vinklar optimeras för en viss yta i en specifik applikation, där en grov yta behöver en större vinkel mellan mätytan och ljuskällan, då skuggningar på ytan annars skulle distordera mätningarna, medan en slät yta behöver en mindre vinkel, då det behövs en högre relativ intensitet hos den topografiska informationen. Därefter beräknas linjens centrumlinje.In the exemplary embodiment, a number of sensors 5 have been assembled in the transverse direction, or essential transverse direction, of the material web, so that they each collect information of parts of the transverse line. The information collected from the sensors 5 is processed by the processing device and assembled so that the information collected represents the line in its full length. The angle between the image sensors 5 and the line 7 causes the line in the images to bend according to the topography of the surface, see figure. These angles are optimized for a particular surface in a specific application, where a rough surface needs a larger angle between the measuring surface and the light source, as shadows on the surface would otherwise distort the measurements, while a smooth surface needs a smaller angle, when a higher relative intensity is needed at the topographic information. Then the center line of the line is calculated.
Denna centrumlinje ses sedan som en uppskattning av ytans topografi utefter linjen. Denna reducering av data möjliggör också att datamängden kan processas i realtid. Centrumlinjen 536 900 transformeras sedan för att ge information om de spatiella våglängdema på ytan, där våglängdsspektra är något som företag i pappersindustrin använder som ett kvalitetsmått för tryckkvalitet. För att beskriva ett pappers genomsnittliga topografiska information tas medelvärden av flera linjer. För att möjliggöra mätning i höga hastigheter sker mätning av linjerna med ett visst tidsintervall och linjerna medelvärdesbildas sedan.This center line is then seen as an estimate of the topography of the surface along the line. This reduction of data also enables the amount of data to be processed in real time. The centerline 536 900 is then transformed to provide information about the spatial wavelengths on the surface, where wavelength spectra are something that companies in the paper industry use as a measure of print quality. To describe a paper's average topography, information should be averaged by your lines. To enable measurement at high speeds, the lines are measured at a certain time interval and the lines are then averaged.
Det unika med metoden är att den möjliggör mätning av topografisk information, som innehåller ett brett våglängdsspektra, tvärsöver en yta medan ytan rör sig med hög hastighet. Metoden möjliggör ett förhållande mellan den kortaste och den längsta mätta våglängden som är minst 200 gånger. Genom att sätta samman den topografiska informationen från flera bildsensorer genom korrelering och konkatenering av de överlappande avbildade linjema, skapa våglängdsspektrum innehållande längre våglängder, kan ett förhållande mellan den kortaste och den längsta mätta våglängden som är minst 1000 gånger uppnås. I pappersindustrin har företag tidigare provat att mäta på en punkt längs pappersbanan, en riktning vanligen benämnd Machine Direction (MD). Det har dock visat sig att det finns större variation i flertalet våglängder på ytan 2 tvärs över papperet (materialbanan), en riktning många kallar Cross-machine Direction (CD).The unique thing about the method is that it enables the measurement of topographic information, which contains a wide range of wavelength spectra, across a surface while the surface is moving at high speed. The method enables a ratio between the shortest and the longest measured wavelength that is at least 200 times. By assembling the topographic information from your image sensors by correlating and concatenating the overlapping imaged lines, creating wavelength spectra containing longer wavelengths, a ratio of the shortest to the longest measured wavelength of at least 1000 times can be achieved. In the paper industry, companies have previously tried to measure at a point along the paper path, a direction commonly referred to as Machine Direction (MD). However, it has been shown that there is greater variation in the number of wavelengths on the surface 2 across the paper (material web), a direction many call Cross-machine Direction (CD).
Med denna nya metod finns möjligheten att få ett kvalitetsmått för tryckbarhet i CD online i pappersmaskinen.With this new method there is the possibility of getting a quality measure for printability in CD online in the paper machine.
Detta föfarande har en begränsning i hur korta våglängder som kan mätas. Eftersom förfarandet använder centrum av en linje vars linjebredd innehåller flera bildpunkter kan metoden inte utnyttja bildsensoremas fulla upplösning. En kompletterande metod till detta förfarande är att projicera ljus 8 infallande från en liten vinkel (~10-20 grader) relativt ytan med en kompletterande lj uskälla 9. I detta fall kan ytans skuggningar utnyttjas för att öka intensiteten hos de topografiska värdena. I detta fall måste linjer från ljuset från ljuskällan 9 deriveras innan de transformeras för att återskapa topografin som distorderats av skuggningar. Denna metod lämpar sig för att beräkna intensiteten i kortare spatiella våglängder, cza 10-100 pm, och kompletterar och utökar befintliga våglängdsspektra med kortare våglängder.This procedure has a limitation in how short wavelengths can be measured. Because the method uses the center of a line whose line width contains fl your pixels, the method cannot take advantage of the full resolution of the image sensors. A complementary method to this method is to project light 8 incident from a small angle (~ 10-20 degrees) relative to the surface with a complementary light source 9. In this case, the shadows of the surface can be used to increase the intensity of the topographic values. In this case, lines from the light from the light source 9 must be diverted before being transformed to recreate the topography distorted by shadows. This method is suitable for calculating the intensity of shorter spatial wavelengths, cza 10-100 pm, and complements and extends considerable wavelength spectra with shorter wavelengths.
I den detaljerade beskrivningen av den föreliggande uppfinningen kan konstruktionsdetaljer vara utelämnade som är uppenbara för en fackman inom det område uppfinningen avser. Sådana uppenbara konstruktionsdetalj er ingår i den omfattning som krävs för att en fullgod funktion för den föreliggande uppfinningen skall uppnås. 10 536 900 Även om vissa föredragna utförandeforrner har beskrivits i detalj, kan variationer och modifieringar inom ramen för uppfinningen komma att framgå för fackmännen inom det område uppfinningen avser. Samtliga sådana varianter anses falla inom ramen för de efterföljande patentkraven. Det är exempelvis tänkbart att mätningen av topografi genomförs i kombination med mätning av minst en annan egenskap hos materialbanan.In the detailed description of the present invention, construction details may be omitted which will be apparent to a person skilled in the art to the field to which the invention relates. Such obvious design details are included to the extent required to achieve a satisfactory function for the present invention. Although certain preferred embodiments have been described in detail, variations and modifications within the scope of the invention may become apparent to those skilled in the art to which the invention pertains. All such variants are considered to fall within the scope of the appended claims. It is conceivable, for example, that the measurement of topography is carried out in combination with the measurement of at least one other property of the material web.
Fördelar med uppfinningen Med den föreliggande uppfinningen uppnås ett antal fördelar. Den viktigaste fördelen är att en väsentligt förbättrad metod för att mäta topografin i en pappersbanas tvärriktning erhålls. Med denna nya metod erhålls möjligheten att få ett kvalitetsmått för tryckbarhet i tvärriktningen i en pappersmaskin i realtid. 11Advantages of the Invention With the present invention, a number of advantages are achieved. The most important advantage is that a significantly improved method for measuring the topography in the transverse direction of a paper web is obtained. With this new method, it is possible to obtain a quality measure for printability in the transverse direction in a paper machine in real time. 11
Claims (4)
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE1100700A SE536900C2 (en) | 2011-09-25 | 2011-09-25 | Method for measuring topography on the surface of a material web |
| PCT/SE2012/000145 WO2013043103A1 (en) | 2011-09-25 | 2012-09-24 | Method for measurement of topography on the surface of a material web |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE1100700A SE536900C2 (en) | 2011-09-25 | 2011-09-25 | Method for measuring topography on the surface of a material web |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SE1100700A1 SE1100700A1 (en) | 2013-03-26 |
| SE536900C2 true SE536900C2 (en) | 2014-10-21 |
Family
ID=47914673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SE1100700A SE536900C2 (en) | 2011-09-25 | 2011-09-25 | Method for measuring topography on the surface of a material web |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| SE (1) | SE536900C2 (en) |
| WO (1) | WO2013043103A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022117401A1 (en) * | 2020-12-02 | 2022-06-09 | Basf Coatings Gmbh | A method and a system for assessing and optionally monitoring or controlling the texture of a surface |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4202630A (en) * | 1975-01-15 | 1980-05-13 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Method of and apparatus for recording surface irregularity of object |
| JPS5749805A (en) * | 1980-09-09 | 1982-03-24 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring device for roughness of surface |
| US4853777A (en) * | 1987-07-07 | 1989-08-01 | Ashland Oil, Inc. | Method for evaluating smooth surfaces |
| FR2624601B1 (en) * | 1987-12-11 | 1990-05-25 | Tech Bois Ameublement Centre | VIDEO-LASER DETECTION DEVICE FOR DETERMINING GEOMETRIC CHARACTERISTICS OF AN OBJECT |
| WO1994016290A1 (en) * | 1993-01-15 | 1994-07-21 | Thermo Electron Web Systems Inc. | Web curl measurement system |
| AUPM821994A0 (en) * | 1994-09-19 | 1994-10-13 | Amcor Limited | Washboard measuring apparatus |
| DE19622429A1 (en) * | 1996-06-04 | 1997-12-11 | Wagner Int | Method and device for determining the nature of a workpiece surface |
| US7101461B2 (en) * | 2001-01-29 | 2006-09-05 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Method and apparatus for imaging a paper web |
| EP1327852A1 (en) * | 2002-01-11 | 2003-07-16 | CENTRO SVILUPPO MATERIALI S.p.A. | Apparatus for the measuring of the surface flatness, in particular for metallic strips |
| EP1898207A1 (en) * | 2006-09-06 | 2008-03-12 | ABB Oy | Method and apparatus for measuring intensity of laid lines in a strip-like product |
-
2011
- 2011-09-25 SE SE1100700A patent/SE536900C2/en not_active IP Right Cessation
-
2012
- 2012-09-24 WO PCT/SE2012/000145 patent/WO2013043103A1/en active Application Filing
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022117401A1 (en) * | 2020-12-02 | 2022-06-09 | Basf Coatings Gmbh | A method and a system for assessing and optionally monitoring or controlling the texture of a surface |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2013043103A1 (en) | 2013-03-28 |
| SE1100700A1 (en) | 2013-03-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101832764A (en) | Three-dimensional laser scanning on-line detection profiler | |
| CN101576376B (en) | Method and system for laser detection of shape of charge level | |
| SE531915C2 (en) | Checking the relationship between pressure and crease lines of packaging | |
| FR3000193A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING VERTICALITY ON A CONTAINER | |
| US9062964B1 (en) | Laser caliper measurement of paper material | |
| CN106123803B (en) | A kind of uneven acid etching parameter evaluation method of rock beam | |
| CN101377467A (en) | Edge sensor and flaw detection apparatus | |
| Balasundaram et al. | In-process measurement of surface roughness using machine vision with sub-pixel edge detection in finish turning | |
| PT1770037E (en) | Process of detecting double feeding of postal items by image analysis of the upright items | |
| US20120127480A1 (en) | Topography device for a surface of a substrate | |
| CN109916922A (en) | Mirror surface/class mirror article defect inspection method | |
| Alam et al. | Online surface roughness characterization of paper and paperboard using a line of light triangulation technique | |
| JP2007163340A (en) | Plate length measuring device and method for measuring plate length | |
| SE536900C2 (en) | Method for measuring topography on the surface of a material web | |
| CN106092832A (en) | Based on the contact angle measuring method interfered | |
| JP5858524B2 (en) | Method for detecting the paint color of cosmetics | |
| CN204963756U (en) | Multi -function vehicle wheel tread appearance detects model | |
| He et al. | Non-contact measurement of damaged external tapered thread based on linear array CCD | |
| CN201697615U (en) | Three-dimensional laser scanning on-line detection profile meter | |
| Sansoni et al. | Design and development of a 3D system for the measurement of tube eccentricity | |
| Shi et al. | Noncontact 3D measurement method on hole-structure precision inspection | |
| JP3224054U (en) | Glass substrate split edge inspection system | |
| Pino et al. | Using laser speckle to measure the roughness of paper | |
| Lu et al. | A novel contact/non-contact hybrid measurement system for surface topography characterization | |
| Antonevich et al. | Uncertainty of the shadow method for the analysis of evaporating droplets |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| NUG | Patent has lapsed |