SE500305C2 - Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskort - Google Patents
Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskortInfo
- Publication number
- SE500305C2 SE500305C2 SE9203145A SE9203145A SE500305C2 SE 500305 C2 SE500305 C2 SE 500305C2 SE 9203145 A SE9203145 A SE 9203145A SE 9203145 A SE9203145 A SE 9203145A SE 500305 C2 SE500305 C2 SE 500305C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- circuit board
- connection
- organ
- electromagnetic radiation
- shield
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
- H05K9/0069—Methods for measuring the shielding efficiency; Apparatus therefor; Isolation container for testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
- G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/14—Mounting supporting structure in casing or on frame or rack
- H05K7/1438—Back panels or connecting means therefor; Terminals; Coding means to avoid wrong insertion
- H05K7/1439—Back panel mother boards
- H05K7/1445—Back panel mother boards with double-sided connections
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Power Sources (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
500 505 REoocöRELsE rön UPPFINNINGEN För mätning av utstrålning från och strålningseffekter på ett enskilt kort anvisas ett sätt och en anordning, vars närmare bestämningar framgår av de bifogade patentkraven.
Sålunda används ett bakplan eller anslutningsplan av i princip det slag, som visas i den ovan anförda skriften. Dessutom är emellertid alla övriga organ- eller kretskort än det, som skall provas, omgivna av lämpliga elektriska och/eller magnetiska skärmningar. Härigenom störs inte mätningen av strålning, som utsänds av de andra organ- eller kretskorten. Inte heller upp- står fel i de skärmade korten utom möjligen i det kort, som pro- vas och som utskjuter bakifrån anslutningsplanet. Det kort, som skall provas, utskjuter då lämpligen genom en slits i skärmning- en, vilken i sitt enklaste utförande är en elektriskt ledande, jordad låda.
På en sida av denna låda, som ligger intill det kort, vilket provas, kan ferritmaterial finnas anordnat för att också ge en magnetisk skärmning. Även själva slitsområdet, genom vilket kor- tet utskjuter från lådan, kan vara täckt med en ferritplatta.
Denna är då försedd med lämpliga hål för anslutningsstift eller anslutningsledningar till organ- eller kretskortet, vilket skall provas.
För vissa kort kan också med fördel ett undre och/eller ett övre jordplan anordnas, som är belägna i rät vinkel mot kortets yta.
Detta eller dessa extra jordplan är vidare med fördel också klädda med ferritmaterial på den sida, som vetter mot det pro- vade kortet.
Vidare bör anordningen vid provning drivas med en batteriström- källa, eventuellt med tillsats av ett lämpligt spänningsomvand- lande aggregat för åstadkommande olika lämpliga drivspänningar.
KORT FIGURBESKRIVNING Uppfinningen skall nu beskrivas i samband med de bifogade rit- ningarna, i vilka 500 505 3 fig. 1 visar en perspektivvy av en anordning för mätning av ut- strålning från och inkommande strålnings påverkan på ett enskilt kort, där locket är borttaget för tydlighetens skull, och fig. 2 visar en skärmplatta för användning vid avstörning av an- slutningsslitsen för ett kort.
BESKRIVNING AV FÖREDRAGEN UTFÖRINGSFORM En elektronisk utrustning innefattar på vanligt sätt flera or- gan- eller kretskort. Korten är monterade i ett skåp eller i ett magasin och är alla elektriskt anslutna till samma sida av ett gemensamt bakplan eller anslutningsplan. Bakplanet utgörs på vanligt sätt av en kretsplatta med lämpliga anslutningssocklar för de enskilda organ- eller kretskorten.
I fig. 1 visas i perspektivvy hur den elektroniska utrustningen modifieras för provning av ett enskilt kort. När man sålunda vill mäta den elektromagnetiska utstrålningen från ett enskilt organ- eller kretskort 7, framställer man ett bakplan 3, som har samma utförande som det vid ordinär drift av den ursprungliga elektroniska utrustningen använda bakplanet men med det undanta- get att anslutningen, dvs sockeln 9, för det kretskort 7, som skall provas, är placerat på motsatt sida av bakplanet 3 jämfört med de andra anslutningarna 5 för de övriga organ- eller krets- korten 1. Detta innebär att de enskilda ledarnas anslutningar på kortet till sockeln 9 kommer att placeras på ett sätt, så att de motsvarar en spegelbild med avseende på mittpunkten hos sockeln av de ursprungliga anslutningarna för ett ej flyttat motsvarande kretskort.
Det på detta sätt utformade bakplanet 3 är då ekvivalent med det ursprungliga bakplanet till sin funktion och den med det modifi- erade bakplanet uppbyggda elektroniska utrustningen är givetvis också likvärdig med den ursprungliga elektroniska utrustningen, förutsatt att övriga komponenter i den elektroniska utrustningen är oförändrade.
Bakplanet 3 placeras med sina anslutna organ- och kretskort 1 och 7 i en skärmad låda ll tillsammans med andra lämpliga kompo- 500 305 4 nenter i den elektroniska utrustningen. Lådan 11 består av, så- som visas i figuren, en rektangulär låda med botten, sidor och lock (locket visas inte i figuren). Lådan är försedd med en öpp- ning 13, genom vilken det kretskort 7, som skall provas, ut- skjuter. Vidare finns i den skärmade lådan 11 företrädesvis den elektroniska utrustningens strömförsörjning anordnad, såsom t ex visas med ett batteri 15 och ett aggregat 17 för erhållande av lämpliga likspänningar med utgångspunkt från batteriets 15 lik- spänning.
Alternativt kan utrustningen matas med hjälp av en yttre anslut- ning 19, i figuren visad med streckade linjer, varvid i så fall aggregatet 17 är ett konventionellt likspänningsaggregat. An- slutningsledningen 19 måste, när den är ansluten till en yttre spänningskälla, vara mycket väl skärmad.
Vid mätning igångsätts anordningen, varvid även det i fig. 1 in- te visade locket är påsatt på skärmlådan 11. För mätning av ut- strålning placeras vidare hela den elektroniska utrustningen på en plats, som är fri från extra elektromagnetiska fält, såsom i en frifältmätplats eller i ett elektromagnetiskt dämpat rum in- klätt med dämpande kakelplattor eller med dämpkoner. En motta- garantenn, schematiskt visad vid 20, placeras på olika ställen intill den elektroniska utrustningen och ansluts till en analys- utrustning (ej visad), varigenom ett utstrålningsfält kan be- stämmas eller t ex endast maximumriktningen för den utsända elektromagnetiska strålningen.
Skärmlådan 11 är vidare jordad med hjälp av en jordkabel 21 och för att ytterligare förbättra avskärmningen av strålningen, som härrör från det inre av skärmlådan 11, kan en sida av skärmlådan beklädas med ferritplattor 23. Detta utförs företrädesvis endast på den sida av lådan 11, som upptar öppningen 13 för kortet 7, vilket skall provas. Även skärmningen av öppningen 13 i denna sida kan förbättras, genom att en ferritplatta 25 placeras i öppningen. Ferritplattan är, såsom visas i fig. 2, försedd med ett antal hål 27, genom vilka anslutningarna i form av t ex stift från kortet 7 eller alternativt från sockeln 9 passerar. 500 595 5 Kort med frontanslutning och speciell jordning kan för skärm- ningsändamål kräva en tillsats i form av ett extra jordplan 27, som uppbär en kortstyrning 29, t ex såsom normalt av plast. Med fördel är också jordplanet 27 klätt med ferritplattor 31. Jord- planet 27 utskjuter från skärmlådan 11 och är anordnat i rät vinkel mot det kort 7, som skall provas. Sådana jordplan 27 kan finnas anordnade både vid kortets undre och övre kant, om så er- fordras. Lämpliga kortstyrningar liknande den som visas vid 29 används för övrigt med fördel också, när några extra jordplan 27 inte används.
I vissa fall kan ferritplattorna både på baksidan och på de ext- ra jordplanen för att öka dämpningen för mycket höga frekvenser kompletteras med koner av dämpmaterial (ej visade).
Ovan har uppfinningen beskrivits för fallet med mätning av ut- strålning från ett enskilt organkort. När elektronikutrustning- ens tålighet mot elektriska störningar i stället skall provas, sätts utrustningen såsom ovan i drift och lämpliga elektromagne- tiska yttre vågor alstras med hjälp av någon lämplig sändaran- tenn, såsom den vid 20 antydda. Antennens strålningsfält bör härvid vara känt. Under drift av den elektroniska utrustningen och med variation av strålningsfältet, dess effekt och frekvens och riktning, detekteras i den elektroniska utrustningen, huru- vida några störningar av funktionen uppträder. För detta finns lämpligen en yttre analysutrustning 33 med en ytterligare, myc- ket väl skärmad anslutning 35 till elektroniken i den skärmade lådan 11.
Claims (20)
1. Sätt att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottag- ning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett en- skilt organ- eller kretskort, vilket i en elektronisk anordning är anordnat parallellt med andra organ- eller kretskort, vilka kort alla har elektriska anslutningar anordnade på samma sida av en för korten gemensam anslutnings- eller bakplatta, k ä n n e t e c k n a t av att en anslutnings- eller bakplatta framställs, som är likadan som, dvs elektriskt ekvivalent med, den normalt i den elektro- niska anordningen använda anslutnings- eller bakplattan, med det undantaget att den anslutning, som skall användas för det en- skilda organ- eller kretskortet, är anbragt på den sida av an- slutnings- eller bakplattan, som är motsatt den sida, där alla de övriga anslutningarna till de andra organ- eller kretskorten är belägna, att alla organ- eller kretskort placeras i sina anslutningar i den framställda anslutnings- eller bakplattan, varigenom erhålls en elektronisk anordning, som till sin funktion är likvärdig med den elektroniska anordning, som skall provas, att en elektrisk skärmning anordnas runt omkring de andra organ- eller kretskorten och eventuella övriga beståndsdelar i den elektroniska anordningen med undantag av det organ- eller krets- kort, som skall provas, att den på detta sätt modifierade elektroniska anordningen sätts i drift och den elektromagnetiska utstrålningen från resp mot- tagningen av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i den elektroniska anordningen uppmäts.
2. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att åtminsto- ne delvis en magnetisk skärmning finns anordnad som komplement till den elektriska skärmningen. "500 305 7
3. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att skärm- ningen innefattar en elektriskt ledande låda, som är ansluten till jord.
4. Sätt enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a t av att den le- dande lådan har en sida, som ligger intill det framställda bak- planet, och att denna sida är täckt med ferritmaterial.
5. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att den elektriska skärmningen förses med en slitsformig öppning, genom vilken det enskilda organ- eller kretskortet passerar.
6. Sätt enligt krav 5, k ä n n e t e c k n a t av att den slitsformiga öppningen förses med en övertäckning av ferritma- terial, i vilken hål är upptagna, för passage av elektriska an- slutningsledningar till det enskilda organ- eller kretskortet.
7. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att ett elektriskt ledande skärmplan anordnas vid en underkant och/eller en överkant av det enskilda organ- eller kretskortet och vinkel- rätt mot kortet.
8. Sätt enligt krav 7, k ä n n e t e c k n a t av att det elektriskt ledande skärmplanet är anslutet till jord.
9. Sätt enligt krav 7, k ä n n e t e c k n a t av att det elektriskt ledande skärmplanet är täckt med ferritmaterial.
10. Sätt enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a t av att den elektroniska anordningen sätts i drift genom att den ansluts till en batteriströmkälla anordnad i skärmade lådan.
11. ll. Anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett enskilt organ- eller kretskort, vilket i en elektronisk anordning är anordnat parallellt med andra organ- eller krets- kort, vilka kort alla har elektriska anslutningar anordnade på samma sida av en för korten gemensam anslutnings- eller bak- platta, varvid för mätning av den elektromagnetiska utstrålning- 500 505 8 en anordningen är avsedd att användas med medel för mätning av elektromagnetisk strålning, k ä n n e t e c k n a d av att mätanordningen innefattar en anslutnings- eller bakplatta, som är likadan som den i den elektroniska anordningen använda anslutnings- eller bakplattan, med det undantaget att den an- slutning, som hör till det enskilda organ- eller kretskortet, är anbragt på den sida av anslutnings- eller bakplattan, som är motsatt den sida, där alla de övriga anslutningarna till de and- ra organ- eller kretskorten är belägna, att alla organ- eller kretskort är placerade i sina anslutningar i mätanordningens anslutnings- eller bakplatta och att mätanord- ningen dessutom innefattar alla de beståndsdelar, som ingår i den elektroniska anordningen, att en elektrisk skärmning är anordnad runt omkring de andra or- gan- eller kretskorten och övriga beståndsdelar med undantag av det enskilda organ- eller kretskortet, att mätanordningen, när den används för att uppmäta mottagningen av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i mätanordningen, innefattar organ för mäta denna mottagning.
12. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att åtminstone delvis är den elektriska skärmningen kompletterad av en magnetisk skärmning.
13. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att skärmningen innefattar en elektriskt ledande låda, som är anslu- ten till jord.
14. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att den ledande lådan innefattar en sida, som ligger intill mäta- nordningens bakplan, och att denna sida är täckt med en magne- tisk skärmning såsom av ferritmaterial. 500 305 9
15. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att den elektriska skärmningen är försedd med en slitsformig öpp- ning, genom vilken det enskilda organ- eller kretskortet passe- rar.
16. Anordning enligt krav 15, k ä n n e t e c k n a d av att den slitsformiga öppningen är försedd med en övertäckning av magnetiskt skärmande material såsom ferritmaterial, i vilken hål är upptagna, för passage av elektriska anslutningsledningar till det enskilda organ- eller kretskortet.
17. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att ett elektriskt ledande skärmplan är anordnat vid en underkant och/eller en överkant av det enskilda organ- eller kretskortet.
18. Anordning enligt krav 17, k ä n n e t e c k n a d av att det elektriskt ledande skärmplanet är anslutet till jord.
19. Anordning enligt krav 17, k ä n n e t e c k n a d av att det elektriskt ledande skärmplanet är täckt med magnetiskt skär- mande material såsom ferritmaterial.
20. Anordning enligt krav 11, k ä n n e t e c k n a d av att mätanordningen innefattar en anslutning till en batteriströmkäl- la och att anslutningen och strömkällan är placerade innanför den elektriska skärmningen.
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9203145A SE500305C2 (sv) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskort |
DE69305975T DE69305975T2 (de) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | Verfahren und vorrichtung zur messung elektromagnetischer strahlung, die von einer schaltungs-platine empfangen oder abgestrahlt wird |
DK93924259.0T DK0619936T3 (da) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | Fremgangsmåde og indretning til måling af elektromagnetisk udstråling fra, eller modtagelse af udefra kommende elektromagnetisk stråling i, et kredsløbskort |
EP93924259A EP0619936B1 (en) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | A method and a device to measure electromagnetic radiation emitted from or received by a circuit card |
AT93924259T ATE145315T1 (de) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | Verfahren und vorrichtung zur messung elektromagnetischer strahlung, die von einer schaltungs-platine empfangen oder abgestrahlt wird |
ES93924259T ES2093988T3 (es) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | Un metodo y un dispositivo para medir la radiacion electromagnetica emitida o recibida por una tarjeta de circuito. |
AU54005/94A AU673559B2 (en) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | A method and a device to measure electromagnetic radiation from or reception of from outside coming electromagnetic radiation in a circuit card |
PCT/SE1993/000876 WO1994010825A1 (en) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | A method and a device to measure electromagnetic radiation from or reception of from outside coming electromagnetic radiation in a circuit card |
US08/244,852 US5498968A (en) | 1992-10-27 | 1993-10-26 | Method and a device to measure electromagnetic radiation from or reception of from outside coming electromagnetic radiation in a circuit card |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9203145A SE500305C2 (sv) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskort |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9203145D0 SE9203145D0 (sv) | 1992-10-27 |
SE9203145L SE9203145L (sv) | 1994-04-28 |
SE500305C2 true SE500305C2 (sv) | 1994-05-30 |
Family
ID=20387578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9203145A SE500305C2 (sv) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskort |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5498968A (sv) |
EP (1) | EP0619936B1 (sv) |
AT (1) | ATE145315T1 (sv) |
AU (1) | AU673559B2 (sv) |
DE (1) | DE69305975T2 (sv) |
DK (1) | DK0619936T3 (sv) |
ES (1) | ES2093988T3 (sv) |
SE (1) | SE500305C2 (sv) |
WO (1) | WO1994010825A1 (sv) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5920984A (en) * | 1993-12-10 | 1999-07-13 | Ericsson Ge Mobile Communications Inc. | Method for the suppression of electromagnetic interference in an electronic system |
US6160517A (en) * | 1998-01-20 | 2000-12-12 | Dell Usa, Llp | Method and apparatus for testing electronic systems using electromagnetic emissions profiles |
US6411102B1 (en) * | 2000-01-07 | 2002-06-25 | International Business Machines Corporation | Apparatus for testing various structural parameters of an electro-magnetic radiation barrier |
CN100392414C (zh) * | 2005-04-15 | 2008-06-04 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种电子设备内电磁辐射源的测量方法和装置 |
US11378608B2 (en) * | 2019-07-19 | 2022-07-05 | Dell Products L.P. | System and method for device state determination |
US11399450B2 (en) | 2019-07-19 | 2022-07-26 | Dell Products L.P. | System and method for managing electromagnetic interference |
US11644425B2 (en) | 2019-07-19 | 2023-05-09 | Dell Products L.P. | System and method for optical state determination |
US12004336B2 (en) | 2019-07-19 | 2024-06-04 | Dell Products L.P. | System and method for thermal management and electromagnetic interference management |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2509045A (en) * | 1947-11-26 | 1950-05-23 | Collins Radio Co | Ultra high frequency radiation indicating system |
FR2513769A1 (fr) * | 1981-09-29 | 1983-04-01 | Aerospatiale | Procede pour determiner le seuil de resistance d'un equipement electrique ou electronique a une agression electromagnetique exterieure et dispositifs pour sa mise en oeuvre |
SU1045430A1 (ru) * | 1982-06-04 | 1983-09-30 | Предприятие П/Я В-8231 | Устройство дл контрол печатных плат |
JPS61187672A (ja) * | 1985-02-15 | 1986-08-21 | Nec Corp | 密着型イメ−ジセンサの欠陥検査方法および欠陥検査装置 |
CA1286724C (en) * | 1986-03-27 | 1991-07-23 | Richard Ralph Goulette | Method and apparatus for monitoring electromagnetic emission levels |
US4939446A (en) * | 1988-03-30 | 1990-07-03 | Rogers Wesley A | Voltage transmission link for testing EMI susceptibility of a device or circuits |
-
1992
- 1992-10-27 SE SE9203145A patent/SE500305C2/sv unknown
-
1993
- 1993-10-26 DE DE69305975T patent/DE69305975T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-26 AU AU54005/94A patent/AU673559B2/en not_active Ceased
- 1993-10-26 US US08/244,852 patent/US5498968A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-26 DK DK93924259.0T patent/DK0619936T3/da active
- 1993-10-26 ES ES93924259T patent/ES2093988T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-26 AT AT93924259T patent/ATE145315T1/de not_active IP Right Cessation
- 1993-10-26 WO PCT/SE1993/000876 patent/WO1994010825A1/en active IP Right Grant
- 1993-10-26 EP EP93924259A patent/EP0619936B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1994010825A1 (en) | 1994-05-11 |
AU5400594A (en) | 1994-05-24 |
EP0619936B1 (en) | 1996-11-13 |
AU673559B2 (en) | 1996-11-14 |
SE9203145D0 (sv) | 1992-10-27 |
US5498968A (en) | 1996-03-12 |
ATE145315T1 (de) | 1996-11-15 |
DK0619936T3 (da) | 1997-04-07 |
SE9203145L (sv) | 1994-04-28 |
DE69305975D1 (de) | 1996-12-19 |
ES2093988T3 (es) | 1997-01-01 |
EP0619936A1 (en) | 1994-10-19 |
DE69305975T2 (de) | 1997-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4913511A (en) | Transient voltage suppression for electro-optic modules | |
US5990625A (en) | LCD having noise counteracting parallel resonant circuit | |
JP3739574B2 (ja) | 核磁気共鳴診断装置 | |
EP0105550A1 (en) | Nuclear magnetic resonance tomography apparatus including a Faraday cage | |
SE500305C2 (sv) | Sätt och anordning för att mäta elektromagnetisk utstrålning från eller mottagning av utifrån kommande elektromagnetisk strålning i ett kretskort | |
US4922382A (en) | Line protection device | |
US4928067A (en) | Non-intrusive fiber optic electromagnetic field probe apparatus and associated methods | |
JP4152450B2 (ja) | ファラデーケージの壁に設けられたフィードスルーユニットを有するmri装置 | |
EP1005708B1 (en) | Circuit board arrangement | |
EP0389824B1 (en) | Transient voltage suppression for electro-optic modules | |
Li et al. | EMI reduction from airflow aperture arrays using dual-perforated screens and loss | |
US5034682A (en) | Method and apparatus for mounting disk sensing optics on electric energy register circuit board | |
US11543515B2 (en) | Device for electromagnetically probing a sample | |
JPH03500593A (ja) | 集積回路を電気的に非活性化する装置 | |
CN116365316A (zh) | 一种用于芯片测试的线缆装置 | |
Sreedevi et al. | Role of EMC in packaging of electronic warfare systems | |
JPH11174101A (ja) | 電磁界の均一性測定装置及び測定方法 | |
Lange | Simulating the Electrical Effects of Nuclear Detonations | |
Greason et al. | Noninvasive measurement of electrostatic-discharge-induced phenomena in electronic systems | |
CN117849538A (zh) | 局部放电试验装置、局部放电试验***及方法 | |
JPH01276794A (ja) | 信号ケーブルのシールドアース接続構造 | |
Shrestha | The investigation of Embedded System Electromagnetic Radiation by using Automatic Near-Field Measurements | |
Phillips et al. | Design of test fixtures for electron‐beam tree experiments | |
JPH01148974A (ja) | 電磁波測定装置 | |
WO2012141670A1 (ru) | Устройство экранирования сенсорного блока магнитокардиографа |