SE460275B - Saett och anordning foer att orientera moenster vid en stenciltryckmaskin - Google Patents

Description

460 275 mönstret avsett material är i och för sig tidigare kända i ett flertal olika utföringsformer.

Sålunda kan nämnas att i den amerikanska patentskriften 4 226 181 är det tidigare känt en metod och en apparat för att justera läget för en sten- cil i förhållande till ett tryckbord och som kännetecknas utav; a) b) c) applicerandet av ett transparent material till tryck- bordet över ett referensmönster, överföra stencilmönstret till det transparenta materi- alet genom ett tryckningsförfarande, kompensera för och eliminera varje avvikelse mellan det tryckta mönstret och referensmönstret genom att förskjuta det transparenta materialet med det tryckta mönstret så att mönstret överensstämer med referens- mönstret och därefter justera positionen för stencilen och en ram uppbärande nämnda stencil på samma sätt som utförd justering av det transparenta materialet.

Vidare kan nämnas att genom den svenska utläggningsskriften 440 204 är det tidigare känt ett sätt att injustera ett tryckmönster på ett material i förhållande till ett referensmönster och som uppvisar de speciella egenheterna att; a) ett som original tjänande referensmönster appliceras till ett registerbord uppvisande registerorgan för materialet och vilka företrädesvis motsvarar register- organ i en tryckerimaskin, ' att ett eller flera avsökningsorgan inregleras i rela- tion till på originalet utbildade partier av referens- mönster (företrädesvis registermärken), att via avsökningsorganet utvärderas positionsvärdena för partierna, att originalet med fördel avlägsnas, att ett tryckmönster appliceras på ett material, när det är registrerat av registerorgan i tryckerimaski- nen, 460 275 3 f) att detta material, tryckt enligt "e“, appliceras till registerbordets registerorgan, 9) att på detta material, tryck enligt "e", utbildade partier utvärderas av avsökningsorganet, h) att eventuell diskrepans till absolutvärde och rikt- ning mellan trycket enligt "c" och trycket enligt "e" utvärderas samt i) att från den erhållna diskrepansen utvärderas de för- skjutningsvärden som erfordras för att kompensera diskrepansen och få trycket exakt eller väsentligen exakt applicerat till materialet.

Till teknikens tidigare ståndpunkt hör även det som är visat och beskri- vet i den tyska Offenlegungsschriften 30 27 717, nämligen ett förfarande för styrning av en tryckanordning med individuellt styrbara organ.

REDOGURELSE FUR UPPFINNINGEN TEKNISKT PROBLEM Mot bakgrunden av vad som är tidigare känt inom nu aktuellt tekniskt område framstår det som ett ytterst akut problem att dels enkelt kunna fastställa eventuell diskrepans mellan positionen för ett material och/eller ett på ett material tryckt mönsters position och en position för ett förväntat tryckmönster (det andra mönstret), och dels kunna med enkla medel utföra en kompensering, som medför att det förväntade tryc- ket och/eller det efterföljande trycket kommer att bli applicerat exakt till referenspositionerna eller i vart fall applicerat inom mycket snäva toleransvärden, säg mindre än 0,1 mm.

Med de höga krav på hög beläggning av tryckerimaskinerna som numera föres fram blir varje åtgärd som kan nedbringa stillestånds- och inkör- ningstiderna synnerligen viktig.

Sålunda kan nämnas att inställningsarbetet, för de båda ovan angivna tidigare kända möjligheterna, har visat sig bli komplicerat, främst med anledning av att inställningen inte kan ske enbart via två inställnings- organ utan här erfordras en komplicerad samverkan mellan tre 4eo_27s inställningsorgan. Dessutom är det i den ena utföringsformen nödvändigt att okulärt avgöra när varje punkt för det nya trycket på det transpa- renta materialet blir beläget exakt över motsvarande punkter för ref- erensmönstret. Olika sträckningar i stenciler under tryckningsskedet bidrager till svårigheter att få en exakt överensstämmelse.

Att erhålla en exakt överensstänmelse mellan det tryckta mönstrets posi- tion för varje punkt med en på förhand bestämd position för varje punkt är vid stenciltryckmaskiner egentligen praktiskt omöjligt enär stencilen utsättes för en sträckning under tryckningsskedet.

Praktiska erfarenheter tyder på att en i och för sig tidigare känd möj- lighet, att förskjuta stencilen under tryckningsskedet för att kompen- sera mot sträckningarna i stencilen, visserligen bidrager väsentligen till att förbättra positionsnoggrannheten men att den icke helt kan kompensera sträckningarna, som är mindre i början av tryckningsförfaran- det än i slutet av tryckningsförfarande.

I den praktiska tillämpningen blir det därför nödvändigt att orientera det andra mönstret på materialet eller över ett redan befintligt mönster på materialet så att det tryckta andra mönstret uppvisar minsta möjliga genomsnittliga avvikelse från en på förhand bestämd position. Här krävs således en komplicerad minimering av diskrepansen, som kan bedömas olika för olika delar av trycket.

Svárigheterna med att göra denna utvärdering och reglering ligger före- trädesvis i den olägenheten att tidigare kända anordningar nödvändig- gjort förflyttningar och nytryck för att kunna utvärdera diskrepansen.

Det är därför ett kvalificerat tekniskt problem att skapa sådana förut- sättningar att det förväntade andra mönstrets form och position, innan detta applicerats som ett tryck till ett material, kan fastställas redan när materialet intager sitt läge på tryckbordet och utan att någon tryck- ning förekommit och att eventuell kompensering skall kunna ske innan tryckningen, genom att på i och för sig känt sätt förskjuta stencilramen och/eller tryckbordet och/eller materialet till ett läge där diskrepan- sen totalt sett kan minimeras. 460 275 FÖRDELAR De väsentligaste fördelarna, som är förknippade med ett sätt och en anordning i enlighet med föreliggande uppfinning, är att injusterings- arbetet kan numera nedbringas väsentligen samtidigt som en ökad exakthet kan erhållas mellan positionen för det till materialet applicerade andra mönstret och materialet och/eller därpå redan tidigare applicerat möns- ter. Vidare är det enligt föreliggande uppfinning möjligt att minimera diskrepansens inverkan på mönstrets olika partier även när andra i och för sig väsentliga medel, såsom stencilförskjutning under tryckningsför- farandet, utnyttjas i akt och mening att nedbringa diskrepansens värde.

Det som främst kan få anses vara kännetecknande för ett sätt att orien- tera ett från ett första på en stencil utbildat mönster härrörande andra mönster i förhållande till ett för mönstret avsett material anges i det efterföljande patentkravets 1 kännetecknande del medan en anordning för att i en stenciltryckmaskin orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster härrörande andra mönster i förhållande till ett för mönstret avsett material anges i det efterföljande patentkravets 5 kän- netecknande del.

KORT FIGURBESKRIVNING En för närvarande föreslagen utföringsform uppvisande de för förelig- gande uppfinning signifikativa kännetecknen skall nu närmare beskrivas med hänvisning till bifogad ritning där; figur 1 visar i perspektivvy och i en mycket stark förenkling en stenciltryckmaskin med tillhörande stencil och med tryckbordet visat i ett från stencilen förskjutet läge för att därigenom illustrera möjligheterna att kunna orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster härrörande andra mönster i förhållande till det för mönstret avsett material, genom att förskjuta det första mönstret och/eller genom att förskjuta materialet, 460 275 figur 2 figur 3 figur 4 figur 5 figur 6 visar i horisontalvy tre inställningsorgan applicerade till tryckbordet, för att kunna förskjuta materialet, visar en horisontalvy av en stenciltryckmaskin där för uppfinningen signifikativa positionsavkännande organ är illustrerade och där inställningsorgan förefinns för att orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster härrörande andra mönster i förhål- lande till ett för mönstret avsett material genom att ändra stencilens läge i förhållande till stenciltryck- maskinens ram, visar ett utföringsexempel av en del av en anordning för utvärderande av ett registermärke på materialet, illustrerar verkningssättet för anordningen enligt figur 4 för att möjliggöra en exakt utvärdering av registermärkets position samt visar i blockschemaform de elektriskt med varandra samverkbara delarna eller organen för att möjliggöra orientering och förskjutning av ett på en stencil utbildat första mönster härrörande andra mönster i förhållande till ett för mönstret avsett material.

BESKRIVNING UVER NU FURESLÅGEN UTFORINGSFORM: Föreliggande uppfinning avser således ett sätt och en anordning för att kunna orientera ett från ett första på en stencil 1 utbildat mönster la härrörande andra mönster 10a i förhållande till ett för mönstret avsett material 8, varvid det andra mönstret är bildat genom att en för mate- rialet 8 avsedd beläggning passerar genom det första mönstret la via en ej visad rakel eller liknande i en stenciltryckmaskin.

Med hänvisning till figur 1 skall grundprinciperna för föreliggande uppfinning närmare beskrivas.

Uppfinningen utgår ifrån att injusteringen av en stencils 1 läge i för- hållande till ett tryckbords 2 läge alternativt ett på tryckbordet 2 placerat materials 8 läge kan ske genom att injustera stencilen, genom att justera materialet och/eller genom att justera tryckbordet. Utförings- exemplet enligt figur 1 illustrerar möjligheter att göra en önskad jus- ...n V) 460 275 tering genom att ändra stencilens läge och/eller genom att ändra materia- lets läge. Ändring av tryckbordets läge skulle kunna ske på samma sätt som stencilen.

I och för ändamålet att kunna justera stencilens läge i förhållande till tryckbordet och/eller materialets läge är stencilen 1 inspänd i en inre första ram 3, som i sin tur är fasthållen av och inplacerad i en yttre andra ram 4. Den inre ramen 3 kan tilldelas olika förskjutningslägen i förhållande till den yttre ramen 4, som i sin tur är fast relaterad till stenciltryckmaskinens stativ eller ramdelar, genom tre inställningsdon eller inställningsorgan tilldelade hänvisningsbeteckningarna 5, 6 och 7.

Genom samtidig lika påverkan av inställningsorganen 5 och 6 sker en förskjutning av den inre ramen 3 i förhållande till den yttre ramen 4 i koordinatens "x" riktning medan en påverkan av enbart inställningsorga- net 7 tilldelar den inre ramen 3 en förskjutning i koordinatens "y" riktning i förhållande till den yttre ramen 4. Olika påverkan av in- ställningsorganen 5 och 6 ger en vridning av ramen 3 i den yttre ramen 4 och genom detta arrangemang blir det möjligt att injustera varje smärre avvikelse oavsett hur den uppträder.

Den yttre ramen 4 är visserligen höj- och sänkbar men ändå fast relate- rad till tryckerimaskinens ram där endast stöden lb och lc visats i figur 1.

Tryckbordet 2 har här visats såsom ett fram och åter rörligt tryckbord men rörelsen och tryckbordets läge är alltså relaterat till tryckerimas- kinens ram lb, lc.

Till tryckbordet 2 appliceras ett material 8 med ett tidigare applicerat mönster 8a. Här illustreras att mönstret 8a är lika det mönster la som stencilen 1 uppvisar nämligen "R".

I och med att materialet är fast relaterat till tryckbordet 2, exempel- vis via ett antal registreringsorgan 11 kommer även mönstret 8a att få en i förhållande till stenciltryckmaskinens ram fast relaterat läge. 460 275 Det är nu ett ändamål för föreliggande uppfinning att tillförsäkra att det första mönstret “R", och med hänvisningsbeteckningen la, för sten- cilen 1 vid tryckningen ger en andra mönster l0a, som då skall få ett så exakt läge som möjligt över det redan befintliga mönstret 8a på materia- let 8.

Här illustreras ett antagande att stencilens 1 första mönster la när detta tryckes på materialet 8 så som ett andra mönster 10a tilldelas ett läge, som avviker från läget för mönstret 8a och att det därför är er- forderligt att förskjuta stencilens mönster i den andra ramen 4 så att vid trycket ett från det första mönstret la relaterat andra mönster 10a kommer att bli placerat över mönstret 8a.

Det skall här noteras att mellan det första mönstrets la form och det andra mönstrets 10a form föreligger en diskrepans genom de vid tryck- ningsförfarandet uppträdande sträckningarna i stencilen. Uppfinningens huvuduppgift är att skapa förutsättningar för att få detta andra mönster 10a att med så små diskrepanser som möjligt överlagra sig det redan befintliga mönstret 8a eller med sanne precision appliceras till materia- let.

Den i figur 1 visade diskrepansen mellan det andra mönstret 10a och materialets mönster 8a illustrerar att stencilen måste ändras så att det andra mönstret 10a blir förskjutet i koordinatens "y" riktning och i koordinatens "x" riktning.

Det är således uppenbart att denna förskjutning antingen kan ske genom att stencilen 1 förskjutes på ett önskat sätt i förhållande till ramen 4 men det är även möjligt att enligt samma princip förskjuta tryckbordet 2 och/eller materialet och i det senare fallet utnyttjas ett antal in- ställningsorgan 13, 14 och 15. Denna förskjutning sker på samma sätt som beskriven förskjutning av stencilen 1 i ramen 4.

I figur 2 visas i horisontalvy kantytan för tryckbordet 2 med inställ- ningsorganen 13,14 och 15. Sålunda framgår att inställningsorganen 13, 14 samverkar med bordets kantyta 2a och samverkar där med en balk 12, vilken uppbär registreringsorgan 11 för ett ej visat material 8. Det .I'J.*\ ln; 460 275 föreslås att inställningsorganen 13 och 14 är vridbart lagrade i balken 12 och att en med gänga försedd del l3b och 14b sträcker sig in i tryck- bordets kantyta 2a till samverkan med var sin mutter applicerad i ett med kantytan 2a parallellt orienterat spår och vilket spår tillåter muttrarna att få en förskjutning i koordinatens "y" riktning. Genom att påverka inställningsorganen 13 och 14 lika mycket och i samma riktning erhålles en förskjutning av materialet 8 i koordinatens "x" riktning medan en vridning och påverkan av inställningsorganet 15, som ävenledes samverkar med balken 12 på det sätt som ovan beskrivits men via en vinkel- del 1Za, ger en förskjutning i koordinatens "y" riktning. Detta innebär att om materialets 8 mönster Ba har en punkt belägen i "A" medan det andra mönstret 1Da har en motsvarande punkt belägen i “A'" erfordras enbart av påverkan av inställningsorganet 15. Om däremot mönstret Ba har en punkt belägen i "B" erfordras en lika påverkan av båda inställnings- organen 13 och 14 för att få en från det andra mönstret 10a härrörande punkt "B'“ att förskjuta sig omedelbart över "B". Om däremot mönstret 8a har en punkt "C" där den från det första mönstret 10a på stencilen här- rörande andra mönstret bildar en punkt"C'“ erfordras en förskjutning i "y" koordinaten och en förskjutning i "x" koordinaten och detta sker genom att dels kunna påverka inställningsorganet 13 dels påverka in- ställningsorganet 14 och eventuellt även inställningsorganet 15.

Under beaktande av den justeringsmöjlighet som illustreras med hänvis- ning till figurerna 1 och 2 skall en för närvarande föreslagen utfö- ringsform av en enligt uppfinningen konstruerad stenciltryckmaskin be- skrivas med hänvisning till figur 3. Stenciltryckmaskinen enligt figur 3 är starkt förenklad i förtydligande syfte och här illustreras endast möjligheterna att justera stencilens 1 läge i förhållande till materia- lets och/eller dess mönsters läge.

Figur 3 illustrerar således en anordning för att i en stenciltryckmaskin kunna orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster la härrörande andra mönster 10a i förhållande till ett för mönstret avsett material 8 och/eller till materialet 8 tidigare applicerat mönster 8a.

Detta material vilar mot ett tryckbord 2 och materialet 8 är registrerat i sin position med hjälp av registreringsorgan 11 och med en tillåten diskrepans mindre än 1 mm. Det tryck lDa som skall appliceras till mate- 46og27s 10 rialet 8 får emellertid icke avvika mer än 0,1 mm från ett bestämt värde, varför det erfordras en injustering och reglering utav stencilen, så att det från ett första på stencilen utbildat mönster la härrörande andra mönster 10a, som skall appliceras till materialet 8, verkligen appliceras inom snäva toleransgränser.

För att kunna inreglera stencilens läge i förhållande till materialet 8 förefinns tre stegmotorer 25, 26 och 27, vilka arbetar i princip på samma sätt som inställningsorganen 5, 6 och 7 i figur 1 med undantag för att dessa är elektriskt drivna med hjälp av pulser.

Positionen för materialet 8 och/eller dess mönster 8a, utvärderas med hjälp av en eller flera optiska avkänningsorgan och utföringsexemplet anvisar två sådana optiska avkänningsorgan tilldelade hänvisningsbeteck- ningen 28 och 29 och då dessa organ är identiskt lika kommer enbart organet 29 att närmare illustreras.

Sålunda kan nämnas att det optiska avkänningsorganet 29 uppvisar ett linssystem 29a kopplat till en kamera 29b. Kameran 29b samt linssystemet 29 är förskjutbara från det i figur 3 visade avkännande läget till ett läge utanför tryckerimaskinen för att i detta utskjutna läge möjliggöra tryckning av det andra mönstret 10a till materialet 8.

Med hänvisning till figur 4 illustreras att linssystemets 29a fria ände 29a' uppvisar en lins, vilken lins är anordnad att kunna avläsa ett registermärke 20a beläget på materialet 8. Registermärket 20a illustre- ras såsom ett "+" men detta registermärke skulle givetvis även kunna vara ett hål eller en del utav ett redan till materialet applicerat mönster 8a.

Eftersom upplösningen från linssystemet är beroende utav avståndet "a" mellan linsen och materialets 8 överyta kommer registermärket 20a i kamerasystemet att kunna uppfattas enligt den streckadé linjen 20a' i figur 5. 460 275 11 Oavsett om kamerasystemet 29 och kameran 29b uppfattar registermärket 20a exakt som det är eller som konturer 20a' illustrerar skall register- märkets position bestämmas till en punkt.

Den från kameran 29b erhållna analoga signalen är anordnad att mottagas av en kamerakontroller 30, och i denna omvandlas den analoga signalen till en digital signal. Denna digitala signal överföres till ett datasys- tem 31, i vilken registermärkets eller mönsterdelens tyngdpunkt utvärde- ras, för att kunna bilda en mot registermärkets eller mönsterdelens position signifikativ tyngdpunkt och fastställa koordinaterna för denna punkt.

Datasystemet 31 utvärderar nu emottagna signaler och beräknade positions- värden för materialet 8 läge och bildar därifrån styrsignaler, som via stegmotorkontroller 32 och stegmotordriver 33 styr var och en av stegmo- torerna 25, 26 och 27, så att det andra mönstret 10a kommer att bli beläget med minsta möjliga diskrepans över mönstret 8a.

Det kan här nämnas att såsom kamera 29b har valts en under varumärket Reticon MC521 saluförd kamera och som kamerakontroller har valts en under varumärket Reticon RS521 saluförd kamerakontroller.

Datasystemet 31 utnyttjar en cpu-enhet med beteckningen 8088 och med tillhörande programvara.

Som stegmotorkontroller 32 har valts en av MICRO-CONTROLE, Paris, Frank- rike, saluförd stegmotorkontroller under beteckningen JP28 och som stegmo- tordriver 33 har valts en av MICRO-CONTROLE saluförd stegmotordriver TLl7.

Som stegmotorer 25, 26 och 27 har valts ävenledes av MICRO-CONTROLE saluförda stegmotorer under beteckningen VP70-40.

Föreliggande uppfinning anvisar nu en anordning för att i en stencil- tryckmaskin kunna orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster la härrörande andra mönster 10a i förhållande till ett för mönst- ret avsett material 8 eller därpå applicerat mönster 8a. För detta ända- mål anvisas organ, vanligtvis inbyggda i datasystemet 31, i form av ett 460 275 12 minne, som är anordnat att lagra det andra mönstrets 10a position relate- rat till en referenspunkt, vanligtvis tryckerimaskinens ramdel.

För att fastställa mönstrets 10a position i förhållande till tryckerimas- kinens ram utföres ett tryck av mönstret la och detta andra mönsters 10a positionsvärden för registermärken eller mönsterdelar utvärderas genom att föra in avkänningsorgan 28 och 29 och låta dessa fastställa oriente- ringen av registermärkena.

Inskjutningssträckan eller positionen vid avkänningsorganens avläsning lagras i ett minne 31a.

Inställningsläget för inställningsorganen 25, 26 och 27 lagras i ett minne 31b.

Positionsvärdena för registermärkenas tyngdpunkt lagras i ett minne 31c.

När därefter ett material 8, till vilket det andra mönstret 10a skall överföras, intager tryckläge skall även i detta läge utvärderas materia- lets position. Denna utvärdering sker med hjälp av organen 28, 29.

För att fastställa materialets 8 eller dess mönsters 8a position i för- hållande till tryckerimaskinens ram föres avkänningsorganen 28 och 29 in för att fastställa orienteringen av registermärken eller en del av mönst- ret 8a.

Inskjutningssträckan eller positionen vid avkänningsorganens avläsning lagras i ett minne 31f.

Positionensvärdena för registermärkenas tyngdpunkt lagras i ett minne 31h. ' Därjämte förefinns i datasystemet 31 medel 31k som är anordnade för att kunna utvärdera den diskrepans som eventuellt kommer att uppstå om det andra mönstret 10a skulle appliceras till materialet i detta tryckläge.

Så snart den aktuella diskrepansen är utvärderad skall en stencilen fasthållande ram, och/eller ett tryckbord och/eller materialet förskju- U än) XW 460 275 13 tas eller bringas på annat sätt till ett sådant av diskrepansens storlek och riktning beroende läge att vid applicerandet av det andra mönstret 10a till materialet 8 detta mönster får en position på materialet där tidigare fastställd diskrepans är fullt eller tillfredsställande kompen- serad.

Det är då uppenbart att varje materials position kommer att bli avkänd och aktuell diskrepanskompensation kommer att bli utförd innan en över- föring sker av det första mönstret som ett andra mönster till materia- let. När diskrepansen är fastställd till värde och riktning och under beaktande av avkänningsenhetens läge vid avkänningen av beräkningsenhe- ter 31k sker en påverkan av inställningsorganen 25, 26 och 27 så att diskrepansen helt eller i största möjliga mån kan kompenseras och det andra mönstret 10a får en orientering över mönstret 8a.

Denna påverkan av inställningsorganen 25, 26 och 27 lagras så att nästkom- mande diskrepansanpassning sker från den sist gjorda inställningen.

Speciellt i det fall när materialet redan försetts med ett mönster, när detta kommer fram till tryckläget, skall ett avkänningsorgan erhålla information om positionsvärden för mönstrets 8a aktuella position och dessa värden överföres till nämnda beräkningsenhet 31k, som via minnen kan få information om depositionsvärden som skulle gälla för det andra mönstret 10a om detta utan justering skulle appliceras till materialet.

Erhållna värden från organet 29 jämföres i beräkningsenheten 31 med redan lagrade värden, varvid beräkningsenheten är anordnad att utvärdera eventuell diskrepans och vid fastställd sådan tilldelas via stencilramen och/eller tryckbordet och/eller materialet samverkbara organ i en sådan påverkan att diskrepansen fullt eller tillfredsställande blir kompense- rad. De optiska avkänningsorganen 28, 29 samverkar med en positionsavlä- sande enhet, införbar mellan stencil och material, till en på förhand bestämd beräkningsbar position.

Uppfinnjngen anvisar vidare att vid ett flertal tryckbord, vart och ett avpassat för att förse ett material med ett tryck och med exakt regist- rering vid varje tryckbord skall enbart det första vara försett med avkänningsorgan avsedda att utvärdera positionen materialet och för det 460 275 14 mönster som skall appliceras till materialet medan övriga tryckbordets inställningsorgan 25, 26 och 27 inregleras för ett exakt tryck vid resp. tryckbord.

Som ett alternativ kan givetvis vid varje tryckbord avkänningsorganen utvärdera tryckläget för trycket applicerat vid föregående tryckbord och att sålunda organet kommer att erhålla information om värden för aktuell mönsterposition och denna överföres till beräkningsenheten, i “vilken tidigare ligger lagrat information om de värden som gäller för detta tryckbords andra mönster vid tryck och dess önskade position.

Erhâllna värden jämföres i beräkningsenheten och är anordnade att vid eventuell diskrepans tilldela stencilramen och/eller tryckbordet och/eller materialet en förskjutningsrörelse eller liknande för att fullt eller tillfredsställande kompensera utvärderad diskrepans.

För att höja produktiviteten av utrustningen föreslås att under det att det med tryck försett material avlägsnas införes positionsavläsande organ mellan stencil och tryckbord och att vid registrerat material till tryckbordet avläser organ materialets position varefter de positionsav- läsande organ avlägsna. Under denna tid utvärderas eventuell diskrepans och åtgärder vidtages för att kompensera för denna varefter tryck kan appliceras till materialet.

Uppfinningen är givetvis inte begränsad till den ovan såsom exempel angivna utföringsformen utan kan genomgå modifikationer inom ramen för efterföljande patentkrav. h» (Y)

Claims (14)

ff 460 275 PÅTENTKRÅV

1. Sätt att orientera ett från ett första, på en stencil utbildat, mönster (la) härrörande andra mönster (10a) i förhållande till ett för mönstret avsett material (8), varvid det andra mönstret (10a) bildas genom att en för materialet avsedd beläggning passerar genom det första mönstret, exempelvis via en rakel i en stenciltryckmaskin, och när det andra mönstret (10a) applicerats till materialet utvärderas dess posi- tion relaterat till en referenspunkt, vanligtvis tryckerimaskinens ram- delar, och dess positionsvärden lagras i ett minne (31c), k ä n n e - t e c k n a t därav, att när ett nytt material, till vilket nämnda andra mönster (10a) skall överföras, blivit förskjutet till nämnda tryckläge utvärderas materialets eller ett därpå redan tidigare appli- cerat mönsters position och nämnda position jämföres med de lagrade positionsvärden (31c), varvid därjämte utvärderas den diskrepans som skulle komma att uppstå om det andra mönstret (10a) skulle appliceras till detta material i detta läge, varefter en stencilen fasthållande ram och/eller ett tryckbord och/eller materialet förskjutes eller bringas på annat sätt till ett sådant av diskrepansens storlek och riktning be- roende läge att vid det verkliga applicerandet av det andra mönstret (10a) till materialet detta mönster får en position på materialet där tidigare fastställd diskrepans är fullt eller tillfredsställande kompen- serad, varjämte diskrepansen utvärderas för ett flertal referensposi- tioner och att respektive diskrepans storlek och riktning och eventuellt läget för resp. referensposition utgör beräkningsstorheter för utvärde- ring av den storlek och den riktning som gäller för minsta möjliga to- tala diskrepans vid applicerandet av det andra mönstret.

2. Sätt enligt patentkravet 1, där materialets position utvärderas med hjälp av registermärken eller en del av ett tidigare mönster, k ä n n e- t e c k n a t därav, att positionen utvärderas med hjälp av optiska avkänningsorgan.

3. Sätt enligt patentkravet 1 eller 2, k ä n n e t e c k n a d därav, att varje materials position avkännes och att en diskrepanskompensation utföres innan överföring sker av det andra mönstret.

4. Sätt enligt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a t av, att 460 275 /C a) fastställa det andra mönstrets (l0a) position i förhållande till stenciltryckmaskinens stativ eller ramdel, b) fastställa materialet (8) och/eller dess mönsters (8a) läge relaterat till det andra mönstrets (10a) position och stencil- tryckmaskinens stativ när materialet (8) intager ett för tryck- ning avsett läge, c) vid diskrepans mellan "a" och "b“ vidtaga åtgärder för att förskjuta det andra mönstrets läge mot en önskad position med liten diskrepans och d) överföra till materialet (8) det andra mönstret (10a).

5. Anordning för att i en stenciltryckmaskin orientera ett från ett första på en stencil utbildat mönster (la) härrörande andra mönster (10a) i förhållande till ett för mönstret avsett material, med ett organ (3la, 31b, 3lc) anordnat att lagra det andra mönstrets position relate- rat till en referenspunkt, vanligtvis tryckerimaskinens ramdel, och med materialet (8), till vilket det andra mönstret (10a) skall överföras, förskjutbart till ett tryckläge, k ä n n e t e c k n a d därav, att ett organ (28, 29) är anordnat för att i detta läge fastställes materialets position, att därjämte förefinns medel (31k) anordnade att utvärdera den diskrepans som skulle komma att uppstå om det andra mönstret (10a) skul- le appliceras till detta material (8) i detta läge, att eventuell disk- repans utvärderas och i det fall sådan diskrepans föreligger skall en stencilen fasthâllande ram och/eller ett tryckbord och/eller materialet blir förskjuten eller på annat sätt intaga ett sådant av diskrepansens storlek och riktning beroende läge att vid applicerandet av det andra mönstret (10a) till materialet (8) detta mönster får en position på materialet där tidigare fastställd diskrepans är fullt eller tillfreds- ställande kompenserad, att positionen för materialet och/eller dess mönster är utvärderbar med hjälp av en eller flera optiska avkänningsor- gan, företrädesvis för utvärdering av positionen för ett registermärke, och att varje materials position blir sålunda avkänd och aktuell f| i) IW, ,, 460 275 diskrepanskompensation utförd innan en överföring sker av det första mönstret som ett andra mönster till materialet.

6. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k n a d därav, att när ett material (8) redan är försett med ett mönster, när detta kommer till ett tryckläge, skall ett organ (28,29) utvärdera erforderlig infor- mation om positionsvärden för mönstrets (8a) aktuella position, att dessa värden överföres till en beräkningsenhet, i vilken redan ligger lagrat erforderlig information om positionen hos det andra mönstret om detta skulle appliceras till materialet (8), att utvärderade värden från organet är anordnade att jämföras i beräkningsenheten (31) med de däri lagrade värdena, varvid beräkningsenheten (31) är anordnad att kunna utvärdera eventuell diskrepans och att vid en fastställd sådan diskre- pans skall, med stencilramen och/eller tryckbordet och/eller materialet samverkbara organ blir påverkade i en sådan omfattning att fastställd diskrepans fullt eller tillfredsställande blir kompenserad.

7. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k n a d därav, att organet utgöres av ett positionsavläsande organ (28,29) anordnat inför- bart mellan stencil och material till en på förhand bestämd beräknings- bar position.

8. Anordning enligt patentkravet 5, där en och samma stenciltryckmaskin uppvisar ett flertal tryckbord och därtill hörande stencil, rakel m.m., där ett och samma material är anordnat att för erhållande av olika möns- ter stegvis förflyttas från ett tryckbord till ett intillvarande, k ä n n e t e c k n a d därav, att ett flertal tryckbord är försedda med organ (25,26,27), avsedda att utvärdera positionen för det mönster som har applicerats till materialet (8) vid föregående tryckbord, att från organet erhållen information om värdena för aktuell mönsterposition är överförbara till en beräkningsenhet (31), i vilken redan ligger lag- rat information om de värden som gäller för detta tryckbords andra möns- ter vid ett tryck och dess önskade position, att erhâllna värden är anordnade för att jämföras i beräkningsenheten (31) , som är anordnad att vid eventuell diskrepans tilldela stencilramen och/eller tryckbordet och/eller materialet (8) en förskjutningsrörelse eller liknande för att fullt eller tillfredsställande kompensera utvärderad diskrepans. 460 275 /Y

9. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k n a d därav, att under det att ett med tryck försett material (8) är anordnat att bli förskjutet ifrån tryckläget är positionsavläsande organ (28,29) inför- bara mellan stencil och tryckbord, att vid registrerat material till tryckbordet avläser nämnda organ (28,29) materialets position, varefter de positionsavläsande organen (28,29) är återförbara och under denna tid kan eventuell diskrepans bli utvärderad och åtgärder kan vidtagas för att kompensera för denna, varefter ett tryck är applicerbart till mate- rialet (8).

10. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k n a d därav, att ett avläst registermärkes eller mönsterdels tyngdpunkt är utvärderbart för att bilda ett mot positionen signifikativt värde.

11. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k n a d därav, att en avläsning av ett registermärke eller en mönsterdel sker via en optisk avläsning, att därav utvärderade analoga värden är omvandlingsbara till digitala värden och matade till en beräkningsenhet (31).

12. Anordning enligt patentkravet 11, k ä n n e t e c k n a d därav, att en den optiska avläsningen tillhörande avkänningsdel (20a) är fram och åter förs kjutbar.

13. Anordning enligt patentkravet 12, k ä n n e t e c k n a d därav, att positionsvärden för förskjutningsläget ("x" och "y" koordinater) är matad till beräkningsenheten (31).

14. Anordning enligt patentkravet 11, k ä n n e t e c k n a d därav, att beräkningsenheten (31) är anordnad att via en signalomvandlare och anpassningskretsar styra ett antal stegmotorer, för att förskjuta sten- cilram, tryckbord, och/eller materialet (8) mot en position som minime- _rar fastställda diskrepanser. OT .