SE457315B - DEVICE FOR TESTING CIRCUITS - Google Patents

DEVICE FOR TESTING CIRCUITS

Info

Publication number
SE457315B
SE457315B SE8704467A SE8704467A SE457315B SE 457315 B SE457315 B SE 457315B SE 8704467 A SE8704467 A SE 8704467A SE 8704467 A SE8704467 A SE 8704467A SE 457315 B SE457315 B SE 457315B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
contact
support
circuit board
support plate
elements
Prior art date
Application number
SE8704467A
Other languages
Swedish (sv)
Other versions
SE8704467D0 (en
Inventor
Reinhold Strandberg
Original Assignee
Reinhold Strandberg
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Reinhold Strandberg filed Critical Reinhold Strandberg
Priority to SE8704467A priority Critical patent/SE457315B/en
Publication of SE8704467D0 publication Critical patent/SE8704467D0/en
Priority to PCT/SE1988/000611 priority patent/WO1989005089A1/en
Publication of SE457315B publication Critical patent/SE457315B/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

457 315 fordringar. Någon uppstödning av stödplattan på dess undersida har icke låtit sig genomföras eftersom det tillgängliga utrymmet under stödplattan erfordras för organ för anslutning av ledare till kontaktanordningarna. 457,315 receivables. No support of the support plate on its underside has been possible because the available space under the support plate is required for means for connecting conductors to the contact devices.

SAMMANFATTNING AV UPPFINNINGEN Föreliggande uppfinning syftar till att anvisa en utväg att uppnå effektiv uppstödning av stödplattan utan att för den skull anslutningen av ledarna till kontaktanord- ningarna omöjliggörs eller försvåras.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention aims to provide a way to achieve efficient support of the support plate without making the connection of the conductors to the contact devices impossible or difficult.

Detta syfte uppnås enligt uppfinningen genom att appa- raten förlänas de särdrag som närmast framgår av den kännetecknande delen till efterföljande krav 1.This object is achieved according to the invention by giving the apparatus the features which are most apparent from the characterizing part of the following claim 1.

Genom att följaktligen i enlighet med uppfinníngens prin- cip utnyttja listartade stödorgan och kontaktelement så utformade att stödorganen vart och ett kan stödja socklar hos två angränsande kontaktelement uppnås att stödplattan effektivt kan stödjas av stödorganen via kontaktelementens socklar, varvid de elektriska ledarna hörande till ett kontaktelement kommer att sträcka sig i utrymmet mellan två angränsande stödorgan. u Fördelaktiga vidareutformningar av uppfinningen är före- mål för de osjälvständiga patentkraven.Accordingly, in accordance with the principle of the invention, utilizing strip-like support means and contact elements so designed that the support means can each support sockets of two adjacent contact elements is achieved that the support plate can be effectively supported by the support means via the contact element sockets, the electrical conductors belonging to a contact element to extend in the space between two adjacent support members. Advantageous further embodiments of the invention are the subject matter of the dependent claims.

KORT BESKRIVNING AV RITNINGARNA Under hänvisning till efterföljande ritningar följer nedan en närmare beskrivning av ett såsom exempel anfört utförande av uppfinningen. 4157 315 Pâ ritningarna är fig 1 en schematisk, delvis skuren vy illustrerande delar hos den uppfinningsenliga provningsapparaten före ett provningstillfälle, fig 2 ett snitt utmed linjen II-II i fig 3 och illustre- rande ett arrangemang för stödjande av den i fig 1 illust- rerade stödplattan, fig 3 ett snitt taget utmed linjen III-III i fig 2, och fig 4 en perspektivisk vy illustrerande samordningen av ett listartat stödorgan och ett antal angränsande kontaktelement uppvisande av stödorganet stödda socklar.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS With reference to the following drawings, a more detailed description of an exemplary embodiment of the invention follows. In the drawings, Fig. 1 is a schematic, partly cut-away view illustrating parts of the test apparatus according to the invention before a test session, Fig. 2 is a section along the line II-II in Fig. 3 and illustrating an arrangement for supporting the test shown in Fig. 1. Fig. 3 is a section taken along the line III-III in Fig. 2, and Fig. 4 is a perspective view illustrating the coordination of a strip-like support member and a number of adjacent contact elements having supports supported by the support member.

DETALJERAD BESKRIVNING AV FÖREDRAGET UTFÖRANDE Det i fig 1 schematiskt illustrerade kretskortet 1 bi- bringas vid tillverkningen pà i och för sig känt sätt ett elektriskt ledningsmönster pá den i fig 1 undre sidan 2 men eventuellt också på den i fig 1 övre sidan 3. Vid tillverkningen förses kretskortet vidare med hål 4 för anslutning av elektriska komponenter, däri inbegripet integrerade kretsar. Hàlen 4 är noga lägesbestämda i förhållande till ledningsmönstret. I en operation efter háltagningen med tillämpning av borrning, laserbearbet- ning etc. kan hålväggarna pläteras pá önskat sätt i ända- mål att förläna dem elektrisk ledningsförmàga.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT The circuit board 1 schematically illustrated in Fig. 1 is provided during manufacture in a manner known per se on the electrical side of the lower side 2 in Fig. 1 but possibly also on the upper side 3 in Fig. 1. the circuit board is further provided with holes 4 for connecting electrical components, including integrated circuits. Hälen 4 is carefully positioned in relation to the cable pattern. In a post-haul operation with the application of drilling, laser machining, etc., the hole walls can be plated in the desired manner in order to impart electrical conductivity to them.

Efter tillverkningen provas kretskorten för att fast- ställa om de elektriska ledningsbanorna i ledningsmönstren uppfyller fordringarna och denna provning utföres i den i fig 1 schematiskt illustrerade apparaten, som inbegriper en hållare 5 och en anordning 6, varvid hàllaren 5 och anordningen 6 är relativt rörliga mot och från varandra i riktningen antydd genom dubbelpilen 7. I exemplet avses hållaren 5 vara stationär i riktningen av pilen 7 medan 457 315 det är anordningen 6 som förflyttas relativt hàllaren 5. Pâ sätt som närmare kommer att beskrivas i det föl-'I jande är hållaren 5 stödd av en stödplatta 9, som i tur- är uppstödd relativt ett ramverk hos provningsapparaten medan anordningen 6, som kan uppvisa en pressplatta 10 för anläggning mot kretskortet 1, med hjälp av godtyck- liga i och för sig välkända kraftanordningar av t ex pneumatisk eller hydraulisk typ är rörlig relativt ram- verket och därmed hàllaren 5 och stödplattan 9 i en nog- grant styrd, rätlinjig rörelse. Det föredrages att denna rörelse är vertikal.After manufacture, the circuit boards are tested to determine if the electrical wiring paths in the wiring patterns meet the requirements and this test is performed in the apparatus schematically illustrated in Fig. 1, which includes a holder 5 and a device 6, the holder 5 and the device 6 being relatively movable towards and from each other in the direction indicated by the double arrow 7. In the example the holder 5 is intended to be stationary in the direction of the arrow 7 while 457 315 it is the device 6 which is moved relative to the holder 5. In a manner which will be described in more detail below. the holder 5 is supported by a support plate 9, which in turn is supported relative to a framework of the test apparatus, while the device 6, which can have a press plate 10 for abutment against the circuit board 1, by means of any per se well-known power devices of e.g. pneumatic or hydraulic type is movable relative to the framework and thus the holder 5 and the support plate 9 in a precisely controlled, rectilinear movement. It is preferred that this movement be vertical.

På hâllaren 5 är anordnade generellt med 11 betecknade kontaktanordningar avsedda att kontakta elektriskt ledande ställen, exempelvis i anslutning till häl 4, pà krets- kortet, företrädesvis från den med ledningsmönster för- sedda sidan av detta. Kontaktanordningarna 11 är anord- nade att överföra den på dem vid kontakten med krets- kortet 1 pâförda presskraften till stödplattan 9. När- mare bestämt är var och en av kontaktanordningarna 11 bildade av ett första kontaktorgan 12 och ett andra kon- taktorgan 13. Kontaktorganen 12 uppvisar vart och ett i exemplet hylsartade kroppar 14, i vilka kontaktstift 15, som träder i direkt kontakt med kretskortet 1,_är x fjädrande intryckbart anordnade.On the holder 5, contact devices generally indicated by 11 are arranged intended to contact electrically conductive points, for example in connection with heel 4, on the circuit board, preferably from the side provided with a wiring pattern. The contact devices 11 are arranged to transmit the pressing force applied to them at the contact with the circuit board 1 to the support plate 9. More specifically, each of the contact devices 11 is formed by a first contact means 12 and a second contact means 13. The contact means 12 each has in the example sleeve-like bodies 14, in which contact pins 15, which come into direct contact with the circuit board 1, are resiliently arranged resiliently.

Kretskortet förses, lämpligen samtidigt med övrig häl- tagning i kretskortet, med styrmedel i form av hàl 16, som i exemplet är till antalet minst två. Dessa styrhål 16 är lokaliserade i noggrant bestämd relation till led- ningsmönstret på kretskortets sida 2. I praktiken kan därvid förfaras så att samtidigt med att ledningsmönstret på kretskortssidan 2 páläggs anbringas också lokaliserings- märken för den efterföljande hàltagningen, som sedan utföres i exakt motsvarighet till dessa lokaliserings- märken så att samtliga de hål 4 och 16 som utföres från sidan 2 av kretskortet blir exakt korrekt lokaliserade 4:57 is 175 i förhållande till ledningsmönstret på denna sida.The circuit board is provided, suitably at the same time as other tilting in the circuit board, with control means in the form of hole 16, which in the example is at least two in number. These guide holes 16 are located in a precisely determined relation to the wiring pattern on the side 2 of the circuit board. these location marks so that all the holes 4 and 16 made from side 2 of the circuit board are exactly correctly located 4:57 is 175 in relation to the lead pattern on this side.

Vid provningen av ett kretskort bringas detta att med sina styrhàl 16 ingripa med styrorgan 17 i form av stavar fastgjorda pà hállaren 5 i noggrant bestämd relation till kontaktorganen 12 pà denna.When testing a circuit board, it is caused to engage with its guide holes 16 with guide means 17 in the form of rods fixed to the holder 5 in a precisely determined relation to the contact means 12 thereon.

Kontaktorganen 12 är làngsträckta och anordnade att med sina från stiftens 15 ytterändar vända andra ändar 18 kontakta de andra kontaktorganen 13, som i sin tur på sätt som kommer att beskrivas i det följande är anslutna till en provningssignaler alstrande respektive mottagande inrättning. Kontaktorganen 13 är lägesfixerade relativt och mottagna i hål 19 i stödplattan 9. I närheten av ändarna 18 uppvisar kontaktorganen 12 partier 20, som sträcker sig i hål 21 i hállaren 5 och i exemplet också i hål 22 i en på stödplattan 9 anordnad ytterligare platta 23.The contact means 12 are elongate and arranged to contact the other contact means 13 with their other ends 18 facing away from the outer ends of the pins 15, which in turn, in a manner which will be described in the following, are connected to a test signal generating and receiving device, respectively. The contact means 13 are position-fixed relative and received in holes 19 in the support plate 9. Near the ends 18 the contact means 12 have portions 20 which extend in holes 21 in the holder 5 and in the example also in holes 22 in an additional plate 23 arranged on the support plate 9. .

Hållaren 5 innefattar i exemplet minst tvâ i förhållande till varandra fixerade skivor 24, 25, av vilka en första 24 uppvisar hål 26 för mottagande av kontaktorganen 12 med relativt ringa eller väsentligen utan spel medan den andra skivan 25 uppvisar nämnda hál 21 som mottager kontaktorganens_12 partier 20 med relativt stort spel- rum. Stödplattans 9 hål 19 mottager kontaktorganen 13 med relativt ringa spelrum och dessa hål 19 har en mindre vidd än utvidgade huvuden 26 hos kontaktorganen 13.The holder 5 in the example comprises at least two discs 24, 25 fixed relative to each other, of which a first 24 has holes 26 for receiving the contact means 12 with relatively little or substantially no play while the second disc 25 has said hole 21 which receives the parts 12 of the contact means 20 with relatively large clearance. The holes 19 of the support plate 9 receive the contact means 13 with relatively small clearances and these holes 19 have a smaller width than enlarged heads 26 of the contact means 13.

Plattan 23 har sina hål 22 vidgade pà den sida som är vänd mot stödplattan 9 så att dessa vidgade partier mot- tager kontaktorganens 13 huvuden 26. Kontaktorganens 12 ändar 18 anligger på elektriskt ledande vis mot ovan- sidan av kontaktorganens 13 huvuden 26.The plate 23 has its holes 22 widened on the side facing the support plate 9 so that these widened portions receive the heads 26 of the contact means 13. The ends 18 of the contact means 12 abut electrically conductively towards the top of the heads 26 of the contact means 13.

Hàllaren 5 innefattar närmare bestämt en ytterligare skiva 27 uppvisande hål 28, som med ringa spel mottager kontaktorganens hylsor 14. Skivorna 24, 25 och 27 är 457 315 inbördes fixerade relativt varandra och har mellan varandra ett antal distansorgan 29, som bestämmer avståndet mellan skivorna. Bultar sträckande sig genom de tre skivorna och genom distansorganen 29 låser samman skivorna och distansorganen.More specifically, the holder 5 comprises a further disc 27 having holes 28, which with small play receive the sleeves 14 of the contact means. The discs 24, 25 and 27 are 457 315 mutually fixed relative to each other and have between them a number of spacers 29, which determine the distance between the discs. Bolts extending through the three discs and through the spacers 29 lock the discs and spacers together.

Styrstavarna 17 bildar del av organ 30, som jämväl kan utöva en distanshällande funktion mellan skivorna.The guide rods 17 form part of means 30, which can also perform a distance-pouring function between the discs.

Det föredrages att samma plattor 9 och 23 utformas så att de är användbara för provning av vitt skilda krets- kortutformningar. För detta ändamål uppvisar stödplattan 9 och plattan 23 hål 19 respektive 22 i ett förutbestämt, mycket tätt mönster av rader och kolumner sträckande sig vinkelrätt mot varandra. Det må här noteras att i fíg 1 tätheten vad gäller kontaktorganen 13 och hålen 19 och 22 för tydlighets vinnande är betydligt mindre än i verkligheten. Ett mer verklighetstroget täthetsför- hållande redovisas i fig 2 och 3.It is preferred that the same plates 9 and 23 be designed so that they are useful for testing widely differed circuit board designs. For this purpose, the support plate 9 and the plate 23 have holes 19 and 22, respectively, in a predetermined, very dense pattern of rows and columns extending perpendicular to each other. It should be noted here that in Fig. 1 the density with respect to the contact means 13 and the holes 19 and 22 for gaining clarity is considerably less than in reality. A more realistic density ratio is shown in Figures 2 and 3.

I regel ärlanordningen sådan att i varje respektive hål 19 och 22 i plattorna 9 och 23 mottages ett kontaktorgan 13 även om vid provningen av en speciell typ av krets- kort därvid icke alla förekommande kontaktorgan 13 kommer till användningi Emellertid iordningstälfs hállaren 5 speciellt för varje kretskortsutformning som skall provas.As a rule, the contacting device is such that in each of the respective holes 19 and 22 in the plates 9 and 23 a contact member 13 is received, even if in the test of a special type of circuit board not all contact members 13 are used. to be tested.

Skivorna 24 och 27 förses följaktligen med häl 26 och 28 i det mönster som erfordras för mottagande av kontakt- organ 12 på ställen i exakt motsvarighet till de elektriskt ledande ställena på kortet 1 som skall komma i kontakt med kontaktorganen. Samtidigt med_denna hàltagning förses skivorna.24 och 27 med hål 31 exakt lägesbestämda i för- hållande till hålen 26 och 28 så att de styrstavarna 17 uppvisande organen 30 erhåller rätt lokalisering i förhållande till kontaktorganen 12. För noggrann över- ensstämmelse föredrages att háltagningen i skivorna 24 och 27 utföres med samma inriktningsteknik och med samma isf-r :ns utrustning som också används för háltagningen i krets- kortet 1. Det föredrages emellertid att skivan 25 i hàl- laren 5 uppvisar ett hàlmönster som är helt koncentriskt med hàlmönstret i plattorna 9 och 23 och följaktligen är förutbestämt och relativt tätt. Detta innebär att hàlmönstren i de två skivorna 24 och 27 kommer att vara exakt koncentriska men att dessa hàlmönster i regel kommer att ha hål som icke är förlagda helt koncentriskt í för- hållande till hålen i hàlmönstret i skivan 25. Vid infö- rande av kontaktorganen 12 i respektive hål i skivorna 24, 27 och 25 blir det därför ofta nödvändigt att något avböja partierna 20 hos kontaktorganen i sidled så att ändarna 18 bringas att träda in i de hål i skivan 25 som har den minsta radiella avvikelsen från de med varandra överensstämmande hålen i skivorna 24 och 27. För detta ändamål är partiet 20 hos kontaktorganen 12 utformat relativt slankt och därmed lättböjligt i tvärled. För- delen med det beskrivna arrangemanget är att plattorna respektive skivorna 9, 23 och 25 kan användas för en mängd olika kretskort medan skivorna 24 och 27 är de som måste specialtillverkas för varje kretskortsutform- ning.The discs 24 and 27 are consequently provided with heels 26 and 28 in the pattern required for receiving contact means 12 at places in exact correspondence to the electrically conductive places on the card 1 which are to come into contact with the contact means. Simultaneously with this halting, the discs 24 and 27 are provided with holes 31 precisely positioned in relation to the holes 26 and 28 so that the means 30 having the guide rods 17 obtain the correct location in relation to the contact means 12. For precise conformity it is preferred that the halting in the discs 24 and 27 are made with the same alignment technique and with the same ice equipment as is also used for the lathing in the circuit board 1. However, it is preferred that the disc 25 in the holder 5 has a hollow pattern which is completely concentric with the hollow pattern in the plates 9 and 23 and consequently is predetermined and relatively dense. This means that the hole patterns in the two discs 24 and 27 will be exactly concentric, but that these hole patterns will usually have holes which are not placed completely concentrically in relation to the holes in the hole pattern in the disc 25. When inserting the contact means 12 in the respective holes in the discs 24, 27 and 25, it therefore often becomes necessary to slightly deflect the portions 20 of the contact means laterally so that the ends 18 are caused to enter the holes in the disc 25 which have the smallest radial deviation from the corresponding ones. the holes in the discs 24 and 27. For this purpose, the portion 20 of the contact members 12 is formed relatively slender and thus easily bent transversely. The advantage of the described arrangement is that the plates and discs 9, 23 and 25, respectively, can be used for a variety of circuit boards, while the discs 24 and 27 are those which must be specially manufactured for each circuit board design.

Det är väsentligt att god kontakt ernás mellan kontakt- organen 12 och kontaktorganen 13. För detta ändamål är anordningen sådan att när hàllarens 5 kontaktorgan 12 och kretskortet 1 anpressas mot varandra kommer detta presstryck att via kontaktorganen 12 direkt överföras pà kontaktorganen 13 som i sin tur stöds av plattan 9 medelst huvudena 26.It is essential that good contact is achieved between the contact means 12 and the contact means 13. For this purpose the device is such that when the contact means 12 of the holder 5 and the circuit board 1 are pressed against each other this pressure will be transferred directly via the contact means 12 to the contact means 13 which in turn supported by the plate 9 by means of the heads 26.

I fig 2 och 3 illustreras stödplattan 9 och dess sam- verkan med ett stationärt ramverk 32 hos provningsappa- raten. Detta ramverk uppvisar närmare bestämt fyra rek- tangulärt förlagda rambalkar 33-36 utformade så att de bildar en rektangulär avsats 37, pà vilken kantpartierna av den rektangulära plattan 9 vilar. Såsom framgår av 457 315 fig 1 uppvisar kontaktorganen 13 stift 38, som skjuter ut från plattans 9 undersida och är utformade för anslut- ning via ledare 39 till den provningssignaler alstrande och mottagande inrâttningen.Figures 2 and 3 illustrate the support plate 9 and its interaction with a stationary framework 32 of the test apparatus. More specifically, this framework has four rectangularly arranged frame beams 33-36 designed so as to form a rectangular ledge 37, on which the edge portions of the rectangular plate 9 rest. As can be seen from 457 315 Fig. 1, the contact means 13 have pins 38 which project from the underside of the plate 9 and are designed for connection via conductor 39 to the test signal generating and receiving device.

För anslutningen till kontaktorganens 13 stift 38 ut- nyttjas kontaktelement generellt betecknade 40. Varje dylikt kontaktelement uppvisar en lángsträckt sockel 4ï av ett isolerande material och innehållande ett flertal i en rad förlagda kontaktorgan med honartad utformning.For the connection to the pin 38 of the contact members 13, contact elements generally designated 40 are used. Each such contact element has an elongate base 4ï of an insulating material and containing a plurality of contact members of a female design arranged in a series.

Kontaktorganen i respektive sockel är förbundna med de olika ledarna 39, som är inbäddade i ett av isolerande material förfärdigat band 42, som vid sin sockeln 41 motstående ände uppvisar kontaktorgan för anslutning till den provningssignaler alstrande och mottagande in- rättningen (ej visad). För stödjande av plattan 9 är anordnade ett flertal listartade stödorgan 43. För gott upptagande av tryckbelastningar har dessa stödorgan 43 väsentligt större höjd än tjocklek och närmare bes- tämt är stödorganens tjocklek så begränsad att vart och ett av stödorganen är anordnat att stödja två angränsande socklar 41 hos tvá angränsande kontaktelement så att dessa socklar 41 i sin tur anligger stödjande mot under- sidan av stödplattan 9 under det att ledarna 39, dvs bandet 42, sträcker sig i utrymmen mellan två respek- tive angränsande stödorgan 43. Genom att följaktligen stödorganen 43 stödjer plattan 9 via kontaktelementens 40 socklar 41 erhålls tillräcklig plats under plattan 9 för såväl kontaktelementen 40 som de mellan stödor- ganen sig sträckande bandledarna 42. Stödorganen 43 är på sätt som framgår av fíg 2 och 3 vid sina ändar stödda av stödelement 44 fixerade vid ramverket 32. Närmare bestämt har vart och ett av stödelementen 44 U-formigt tvärsnitt såsom antydes i fig 3 och skänklarna hos U- et anligger mot undersidan av ramverket 32 och är fixerade 457 315' därvid med hjälp av skruvar 45 sträckande sig in i ram- verkets balkar._ Såsom närmast framgår av fig 3 och 4 kommer kontaktele- mentens socklar 41 att vara belägna i ett relativt tätt förhållande sida vid sida och detsamma gäller för stöd- organen 43. Väsentligt är att vid övergången mellan sock- larna 41 och bandledarna 42 uppstår skulderartade avsatser, mot vilka stödorganen 43 anligger underifrån.The contact means in each socket are connected to the various conductors 39, which are embedded in a strip 42 made of insulating material, which at its opposite end 41 has contact means for connection to the test signal generating and receiving device (not shown). To support the plate 9, a plurality of strip-like support members 43 are provided. For good absorption of compressive loads, these support members 43 have a substantially greater height than thickness, and more specifically the thickness of the support members is so limited that each of the support members is arranged to support two adjacent bases 41 of two adjacent contact elements so that these sockets 41 in turn abut supportively against the underside of the support plate 9 while the conductors 39, i.e. the band 42, extend in spaces between two respective adjacent support members 43. Accordingly, the support members 43 supports the plate 9 via the sockets 41 of the contact elements 40, sufficient space is obtained under the plate 9 for both the contact elements 40 and the band conductors 42 extending between the support members. The support means 43 are fixed at their ends supported by support elements 44 at Figs. More specifically, each of the support members 44 has a U-shaped cross-section as indicated in Fig. 3, and The keys of the U abut against the underside of the frame 32 and are fixed 457 315 'thereby by means of screws 45 extending into the beams of the frame. As can be seen most closely from Figs. 3 and 4, the sockets 41 of the contact elements will be located in a relatively close relationship side by side and the same applies to the support members 43. It is essential that at the transition between the plinths 41 and the belt guides 42 shoulder-like ledges arise, against which the support members 43 abut from below.

Vid montage av anordningen enligt fig 2 och 3 anbringas först en rad av erforderligt antal kontaktelement 40 på i en rad befintliga kontaktstift 38 så att alltså kontaktelementen 40 sträcker sig inriktade i en rät linje med varandra. Därefter anbringas ett stödorgan 43 så att det med sin övre ände kommer att stödja kontaktele- mentens socklar i den applicerade raden, varpå en ny rad av i linje med varandra inriktade kontaktelement 40 skjuts på de fria kontaktstiften 38 i den rad som ligger invid de redan applicerade kontaktelementen. Under applicering av de ytterligare kontaktelementen 40 skjuts :dessa något snett uppåt och när de nått sitt översta läge svängs de med ett skulderartat längsgående kant- parti in över det-redan applicerade stödorganet. Där- efter appliceras_ett ytterligare stödorgah och operationen fortskrider sålunda med omväxlande anbringande av en rad av i linje med varandra inriktade kontaktelement 40 och stödorgan 43 intill dess att samtliga kontakt- stift 38 samverkar med kontaktorgan hos de olika kontakt- elementen 40 och följaktligen dessa och stödorganen 43 är belägna fördelade över hela den undre ytan av stöd- plattan 9 inom det av ramverkets balkar 33-36 definierade utrymmet. Med andra ord är då stödplattan 9 effektivt uppstödd över hela ytan. 457 315 10 Såsom framgár av fig 2 och 4 kan stödorganen 43 uppvisa ändpartier 46 med reducerad höjd skjutande in under par- tier av balkarna 33 och 34 i ramverket. Stödorganen 43 förhindras att stjälpa genom att de är förlagda sida vid sida i ett relativt tätt förhållande med bandledarna 42 belägna mellan angränsande stödorgan.When mounting the device according to Figs. 2 and 3, a row of required number of contact elements 40 is first applied to a row of contact pins 38 in a row so that the contact elements 40 thus extend aligned in a straight line with each other. Then a support member 43 is arranged so that it will support with its upper end the sockets of the contact elements in the applied row, whereupon a new row of aligned contact elements 40 is pushed onto the free contact pins 38 in the row adjacent to the already applied contact elements. During application of the further contact elements 40, these are pushed slightly obliquely upwards and when they have reached their top position they are pivoted with a shoulder-like longitudinal edge portion over the already applied support member. Thereafter, an additional support member is applied and the operation thus proceeds with alternating placement of a series of aligned contact members 40 and support members 43 until all contact pins 38 cooperate with contact members of the various contact members 40 and consequently these and the support members. 43 are located distributed over the entire lower surface of the support plate 9 within the space defined by the beams 33-36 of the framework. In other words, the support plate 9 is then effectively supported over the entire surface. As can be seen from Figs. 2 and 4, the support means 43 can have end portions 46 with reduced height projecting under portions of the beams 33 and 34 in the framework. The support means 43 are prevented from tipping over by being placed side by side in a relatively close relationship with the belt guides 42 located between adjacent support means.

Vid provning av kretskort medelst den beskrivna apparaten läggs ett kretskort 1 in i apparaten till läget enligt fig 1. Den därvid betydligt högre än vad som visas i fig 1 belägna anpressningsanordningen 10 bringas därefter nedåt så att kretskortet och kontaktorganen 12 pressas mot varandra. Presskrafterna vidarebefordras av kontakt- organen 12 till kontaktorganen 13 och páförs därigenom pà stödplattan 9. Från denna överförs presskrafterna till en del direkt till ramverket 32 medan en betydande del av presskrafterna pàförs på stödorganen 43 via kontakt- elementens 40 socklar 41. Från stödorganen 43 överförs presskraftsandelen till ramverket 32 via stödelementen 44. Via bandledarna 42 appliceras och returneras prov- ningssignaler från respektive till den tidigare nämnda provningsinrättningen och dessa signaler utvärderas på ett i och för sig känt sätt för fastställande av om åsyf- tade ledningsbanor pà kretskortet uppfyller fastlagda w fordringar.When testing circuit boards by means of the described apparatus, a circuit board 1 is inserted into the apparatus to the position according to Fig. 1. The pressing device 10 then located much higher than that shown in Fig. 1 is then brought down so that the circuit board and contact means 12 are pressed against each other. The compressive forces are transmitted by the contact means 12 to the contact means 13 and are thereby applied to the support plate 9. From this the compressive forces are transmitted to a part directly to the framework 32 while a significant part of the compressive forces is applied to the support means 43 via the contact element 40 bases 41. the proportion of compressive force to the framework 32 via the support elements 44. Via the belt conductors 42, test signals are applied and returned from the respective to the previously mentioned test device and these signals are evaluated in a manner known per se for determining whether .

Det är givet att det beskrivna utförandet kan modifieras pá ett flertal sätt inom ramen för uppfinningstanken.It is a given that the described embodiment can be modified in a number of ways within the scope of the inventive concept.

I den mån man önskar utföra samtidig provning av lednings- mönster ocksâ på kretskortets sida betecknad 3 skulle givetvis anordningen 6 kunna förses med kontaktorgan för anläggning mot denna sida av kretskortet. Vidare är det väl möjligt att utforma hela ramverket 32 rörligt så att istället anordningen 6 görs stationär.To the extent that it is desired to carry out simultaneous testing of wiring patterns also on the side 3 indicated on the side of the circuit board, the device 6 could of course be provided with contact means for installation against this side of the circuit board. Furthermore, it is well possible to design the entire framework 32 movably so that instead the device 6 is made stationary.

Claims (5)

4357 315 Patentkrav4357 315 Patent claims 1. Apparat för provning av kretskort innefattande en stödplatta (9), av denna stödda kontaktanordningar (11) för att träda i kontakt med elektriskt ledande ställen pà kretskortet, en anordning (6) för inbördes anpressning av kretskortet och kontaktanordningarna, och kontakt~ element (40) utformade med socklar (41) och kontaktorgan för lösgörbar anslutning till kontaktanordningarna (11) pá den från kretskortets lokalisering under provningen vända sidan av stödplattan (9), vilka kontaktorgan är förbundna med elektriska ledare (39), k ä n n e t e c k- n a d därav, att den innefattar listartade stödorgan (43) anordnade att vart och ett stödja socklarna (41) hos minst två angränsande kontaktelement (40) sà att dessa socklar i sin tur stödjer stödplattan (9) under det att ledarna (39) till kontaktorganen i socklarna sträcker sig i utrymmen mellan två respektive angränsande stödorgan (43).Apparatus for testing circuit boards comprising a support plate (9), of which supported contact devices (11) for contacting electrically conductive locations on the circuit board, a device (6) for mutually pressing the circuit board and the contact devices, and contact elements (40) formed with sockets (41) and contact means for releasable connection to the contact devices (11) on the side of the support plate (9) facing away from the location of the circuit board during the test, which contact means are connected to electrical conductors (39), that it comprises strip-like support means (43) arranged to each support the sockets (41) of at least two adjacent contact elements (40) so that these sockets in turn support the support plate (9) while the conductors (39) of the contact means in the plinths extend in spaces between two respective adjacent support members (43). 2. Apparat enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d därav, att vart och ett av kontaktelementen (40) uppvisar ett flertal i en rad förlagda kontaktorgan och att varje sockel (41) till ett kontaktelement har formen av en làngsträckt ribba.2. Apparatus according to claim 1, characterized in that each of the contact elements (40) has a plurality of contact members arranged in a row and that each base (41) of a contact element has the shape of an elongate rib. 3. Apparat enligt krav 2, k ä n n e t e c k n a d därav, att ledarna (39) till kontaktorganen i ett kontaktele- ment (40) är inbäddade i ett band (42).Apparatus according to claim 2, characterized in that the conductors (39) of the contact means in a contact element (40) are embedded in a band (42). 4. Apparat enligt något föregående krav, k ä n n e - t e c k n a d därav, att stödorganen (43) åtminstone vid sina ändar är stödda av stödelement (44). 457 315 12Apparatus according to any one of the preceding claims, characterized in that the support means (43) are supported at least at their ends by support elements (44). 457 315 12 5. Apparat enligt krav 4, k ä n n e t e c k n a d därav} att stödelementen (44) är fastgjorda vid ett jämväl stöd- plattan (9) stödjande ramverk (32) hos apparaten.Apparatus according to claim 4, characterized in that the support elements (44) are attached to a frame (32) of the apparatus supporting the support plate (9).
SE8704467A 1987-11-16 1987-11-16 DEVICE FOR TESTING CIRCUITS SE457315B (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8704467A SE457315B (en) 1987-11-16 1987-11-16 DEVICE FOR TESTING CIRCUITS
PCT/SE1988/000611 WO1989005089A1 (en) 1987-11-16 1988-11-15 Apparatus for testing circuit cards

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8704467A SE457315B (en) 1987-11-16 1987-11-16 DEVICE FOR TESTING CIRCUITS

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8704467D0 SE8704467D0 (en) 1987-11-16
SE457315B true SE457315B (en) 1988-12-12

Family

ID=20370228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8704467A SE457315B (en) 1987-11-16 1987-11-16 DEVICE FOR TESTING CIRCUITS

Country Status (2)

Country Link
SE (1) SE457315B (en)
WO (1) WO1989005089A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990012323A1 (en) * 1989-04-05 1990-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Device for testing printed circuit boards

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006059429A1 (en) 2006-12-15 2008-06-26 Atg Luther & Maelzer Gmbh Module for a test device for testing printed circuit boards
JP6598294B2 (en) * 2015-08-03 2019-10-30 株式会社笠作エレクトロニクス Charge / discharge device, probe pin mounting unit for charge / discharge device, probe pin unit for charge / discharge device, and charge / discharge system

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2243457C3 (en) * 1972-09-04 1978-09-14 Werner 7750 Konstanz Heilmann Device for testing electronic circuits
DE2344239B2 (en) * 1973-09-01 1977-11-03 Luther, Erich, 3050 Wunstorf; Maelzer, Fritz; Maelzer, Martin; 7910 Reutti Post Neu-Ulm; Türkkan, Tamer, 3011 Laatzen CONTACT DEVICE FOR CONNECTING A PRINTED CIRCUIT TO A TESTING DEVICE
DE3038665C2 (en) * 1980-10-13 1990-03-29 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Testing device for testing printed circuit boards provided with conductor tracks
DE3311977A1 (en) * 1983-03-31 1984-10-04 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Arrangement for the electrical scanning of an assembly
AT395485B (en) * 1985-01-22 1993-01-25 Feinmetall Gmbh PRUEFADAPTER
AT391762B (en) * 1985-11-26 1990-11-26 Alcatel Austria Ag DEVICE FOR CHECKING PCBS

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990012323A1 (en) * 1989-04-05 1990-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Device for testing printed circuit boards

Also Published As

Publication number Publication date
WO1989005089A1 (en) 1989-06-01
SE8704467D0 (en) 1987-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5399982A (en) Printed circuit board testing device with foil adapter
US4551673A (en) Testing arrangement for printed circuit boards
DE19960112B4 (en) Test arrangement for testing backplanes, subcarrier substrates, or populated printed circuit boards
US4977370A (en) Apparatus and method for circuit board testing
EP0791833B1 (en) Device for converting the test point grid of a machine for electrically testing unassembled printed circuit boards
US5633598A (en) Translator fixture with module for expanding test points
US5945838A (en) Apparatus for testing circuit boards
US20080030216A1 (en) Contactor assembly
US3924325A (en) Method and apparatus for mounting terminal pins from a single side of a double sided terminal board
US6271674B1 (en) Probe card
US4674006A (en) Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
DE3479341D1 (en) Adapter for a printed-circuit board testing device
GB2146849A (en) Electrical test probe head assembly
FR2660072B1 (en) PRINTED CIRCUIT TEST APPARATUS.
SE457315B (en) DEVICE FOR TESTING CIRCUITS
GB2156532A (en) Apparatus for testing a printed circuit board
JP3690909B2 (en) Non-mounted printed circuit board test equipment
DE3472461D1 (en) Contact device
SE458005B (en) PROCEDURE FOR TESTING CIRCUIT AND APPARATUS FOR PERFORMANCE OF TEST
US5898314A (en) Translator fixture with force applying blind pins
JP3708438B2 (en) Printed circuit board tester
JP2004511781A (en) Inspection equipment module for inspecting printed circuit boards
GB2157507A (en) Testing apparatus for printed circuit boards
EP0130430B1 (en) Method of generating circuit boards using electroeroded sheet layers and circuit boards so produced
Harrod et al. The BELLPAC modular electronic packaging system

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8704467-3

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8704467-3

Format of ref document f/p: F