RU94023276A - Электромагнитный структуроскоп для определения физико-механических параметров ферромагнитных объектов - Google Patents

Abstract

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для структуроскопии ферромагнитных объектов. Цель изобретения - обеспечение возможности контроля структуры крупногабаритных объектов и объектов с плоской поверхностью за счет отстройки от влияния вариации зазора путем совместной обработки сигналов электромагнитных преобразователей. При настройке структуроскопа электромагнитные преобразователи 1 и 2 устанавливают на ферритовой пластине с магнитной проницаемостью не менее магнитной проницаемости сердечников Э и 6 и по меньшей мере в 10 раз большей, чем магнитная проницаемость контролируемого объекта. Затем путем регулировки потенциометра 18 и подбора емкости конденсатора 19 добиваются минимального выходного напряжения на выходе вычислителя 15 отношения напряжений. После этого устанавливают электромагнитные преобразователи 1, 2 на образце с номинальными параметрами и с помощью компенсатора 15 устанавливают "нуль" на индикаторе. Затем устанавливают электромагнитные преобразователи на образце с известной величиной отклонения контролируемого параметра, связанного, например, со степенью деформации металла. С помощью масштабирующего усилителя 16 устанавливают соответствующее значение по индикатору 17, после чего структуроскоп готов к работе. Электромагнитные преобразователи устанавливают на контролируемом участке и по показаниям индикатора 17 судят о контролируемом параметре. 1 с.п.и 2 з. п. ф-лы, 2 ил.

Claims (1)

1. Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для структуроскопии ферромагнитных объектов. Цель изобретения - обеспечение возможности контроля структуры крупногабаритных объектов и объектов с плоской поверхностью за счет отстройки от влияния вариации зазора путем совместной обработки сигналов электромагнитных преобразователей. При настройке структуроскопа электромагнитные преобразователи 1 и 2 устанавливают на ферритовой пластине с магнитной проницаемостью не менее магнитной проницаемости сердечников Э и 6 и по меньшей мере в 10 раз большей, чем магнитная проницаемость контролируемого объекта. Затем путем регулировки потенциометра 18 и подбора емкости конденсатора 19 добиваются минимального выходного напряжения на выходе вычислителя 15 отношения напряжений. После этого устанавливают электромагнитные преобразователи 1, 2 на образце с номинальными параметрами и с помощью компенсатора 15 устанавливают "нуль" на индикаторе. Затем устанавливают электромагнитные преобразователи на образце с известной величиной отклонения контролируемого параметра, связанного, например, со степенью деформации металла. С помощью масштабирующего усилителя 16 устанавливают соответствующее значение по индикатору 17, после чего структуроскоп готов к работе. Электромагнитные преобразователи устанавливают на контролируемом участке и по показаниям индикатора 17 судят о контролируемом параметре. 1 с.п.и 2 з. п. ф-лы, 2 ил.