RU49357U1 - Индикатор - Google Patents

Индикатор Download PDF

Info

Publication number
RU49357U1
RU49357U1 RU2005117800/22U RU2005117800U RU49357U1 RU 49357 U1 RU49357 U1 RU 49357U1 RU 2005117800/22 U RU2005117800/22 U RU 2005117800/22U RU 2005117800 U RU2005117800 U RU 2005117800U RU 49357 U1 RU49357 U1 RU 49357U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
reflective coating
indicator
dielectric plate
dielectric
transparent layer
Prior art date
Application number
RU2005117800/22U
Other languages
English (en)
Inventor
Н.П. Данилина
А.Н. Ивлюшкин
Н.Н. Людвиковская
В.Г. Самородов
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Научно-исслеледовательский институт газоразрядных приборов "Плазма" (ОАО "Плазма")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Научно-исслеледовательский институт газоразрядных приборов "Плазма" (ОАО "Плазма") filed Critical Открытое акционерное общество "Научно-исслеледовательский институт газоразрядных приборов "Плазма" (ОАО "Плазма")
Priority to RU2005117800/22U priority Critical patent/RU49357U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU49357U1 publication Critical patent/RU49357U1/ru

Links

Landscapes

  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Abstract

Высокое качество антибликового покрытия индикатора обеспечивается за счет формирования антибликового покрытия на оптически прозрачном слое, нанесенном на внешнюю поверхность лицевой диэлектрической пластины.

Description

Полезная модель относится к области электронной техники и может быть использована в производстве индикаторов,например, газоразрядных индикаторных панелей (ГИП),жидкокристаллических индикаторов и т.п.
Известен индикатор, в котором на внешней стороне лицевой пластины сформирована антибликовая поверхность методом травления. [Патент РФ №2152912, С 03 С 17/04, 2000 г.].
Недостатком данной конструкции является высокий коэффициент диффузного и зеркального отражения антибликового покрытия в условиях высокой внешней освещенности.
Известен индикатор - ГИП, включающая две диэлектрические пластины, между которыми расположены ячейки индикации, сформированное на внешней поверхности лицевой диэлектрической пластины антибликовое покрытие в виде продольных и поперечных полос, расположенных между ячейками индикации. [Патент РФ №2070749, H 01 J 17/49, 1996 г., кол.3].
К недостаткам ГИП относятся техническая сложность технологического процесса ее изготовления, обусловленная использованием сложного и высокоточного оборудования, высокая трудоемкость и низкий процент выхода годных приборов.
Наиболее близким устройством того же назначения к заявленному объекту по совокупности признаков является индикатор, содержащий нижнюю диэлектрическую пластину и лицевую диэлектрическую пластину с антибликовым покрытием на ее внешней стороне, ячейки индикации между диэлектрическими пластинами. [Патент РФ №2070749, H 01 J 17/49, 1996 г. - прототип.].
Недостатком данной конструкции является то, что антибликовое покрытие, формируемое на диэлектрической пластине с допустимыми технологическими дефектами, имеет низкое качество из-за неоднородности его светотехнических параметров.
Задачей, на решение которой направлена полезная модель, является создание индикатора с антибликовым покрытием высокого качества.
Указанный технический эффект достигается тем, что в известном индикаторе, содержащем нижнюю диэлектрическую пластину и лицевую диэлектрическую пластину с антибликовым покрытием на ее внешней стороне, ячейки индикации между диэлектрическими пластинами, на внутренней поверхности лицевой диэлектрической пластины под антибликовым покрытием сформирован оптически прозрачный слой.
Формирование антибликового покрытия на промежуточном оптически прозрачном слое позволяет улучшить качество антибликового покрытия, т.к. прозрачный слой исключает влияние допустимых технологических дефектов диэлектрической пластины при нанесении антибликового покрытия.
Проведенный заявителем анализ уровня техники, включающий поиск по патентным и научно-техническим источникам информации и выявление источников, содержащих сведения об аналогах заявленной полезной модели, позволяет установить, что заявителем не обнаружен аналог, характеризующийся признаками, идентичными признакам заявленной полезной модели, а определение из перечня выявленных аналогов прототипа, как наиболее близкого по совокупности признаков аналога, позволил выявить совокупность существенных по отношению к усматриваемому заявителем техническому результату отличительных признаков в заявленном объекте, изложенных в формуле полезной модели.
Следовательно, заявленная полезная модель соответствует требованию "новизна".
Предлагаемая конструкция индикатора поясняется чертежом.
На фиг.1 представлен один из вариантов заявленного индикатора - ГИП переменного тока
ГИП переменного тока (фиг.1) содержит нижнюю 1 и лицевую 2 диэлектрические пластины, ячейки индикации, образованные взаимноортогональными системами электродов 3, 4, диэлектрическое покрытие 5 на электродах 3, 4, шов герметизации 6, оптически прозрачный слой 7 на внешней поверхности лицевой диэлектрической пластины 2 и антибликовое покрытие 8, нанесенное на оптически прозрачный слой 7 с внешней стороны.
При подаче импульсов напряжения на электроды 3, 4 в ячейках индикации возбуждается газовый разряд, обеспечивающий отображение информации.
При работе индикатора в условиях повышенной освещенности на его внешней поверхности образуются блики, которые вызывают усталость глаз оператора и снижают надежность и быстроту считывания информации.
Для устранения указанного недостатка на внешней стороне лицевой диэлектрической пластины формируется антибликовое покрытие.
Для плоских конструкций индикаторов с заданными светотехническими характеристиками в условиях высокой внешней освещенности антибликовое покрытие должно иметь как низкие коэффициенты зеркального и диффузного отражения, так и высокую однородность светотехнических параметров,. Для обеспечения высокой однородности светотехнических параметров антибликового покрытия очень важно качество поверхности, на которой оно формируется. Наличие на поверхности технологических дефектов: царапин, "выщелачеваний", припекшихся частиц и т.д. приводит к образованию на антибликовом покрытии локальных зон с высоким коэффициентом диффузного отражения, ухудшающих считывание информации. Для устранения влияния таких дефектов на качество антибликового покрытия его формируют на промежуточном оптически прозрачном слое, расположенном на внешней поверхности индикатора.
Пример конкретного выполнения
Индикатор - ГИП переменного тока включает нижнюю стеклянную пластину и лицевую стеклянную пластину размером 190×162×4 мм. На каждой стеклянной пластине сформирована система параллельных электродов из золотосодержащей пасты толщиной 8 мкм, шириной 50 мкм с шагом 100 мкм.
На электроды обеих систем нанесен слой диэлектрика на основе ЛПС-С82-3. Электроды систем в перекрестьях образуют ячейки индикации. Стеклянные пластины соединены по периметру швом герметизации на основе стеклоцемента СЦП-84 для образования замкнутого объема, наполненного смесью газов Не, Хе, Ne при давлении 400 мм рт.ст.
На внешней поверхности лицевой стеклянной пластины сформирован оптически прозрачный слой из оптического клея марки "Скол" толщиной 15÷25 мкм, на который нанесено антибликовое покрытие из материала на основе SiO2 методом пульверизации толщиной до 1 мкм.
Коэффициенты диффузного и зеркального отражения такой ГИП переменного тока одинаковы по всему полю индикации и составляют соответственно 0,÷0,3% и 5÷15%, первый из которых в 20, а второй в 2÷3 раза ниже соответствующих коэффициентов антибликового покрытия в местах дефектов на поверхности лицевой стеклянной пластины в ГИП переменного тока с антибликовым покрытием, нанесенным непосредственно на поверхности лицевой стеклянной пластины.
Таким образом, вышеизложенные сведения свидетельствуют о том, что заявленная полезная модель соответствует требованию "промышленная применимость" по действующему законодательству.

Claims (1)

  1. Индикатор, содержащий нижнюю диэлектрическую пластину и лицевую диэлектрическую пластину с антибликовым покрытием на ее внешней стороне, ячейки индикации между диэлектрическими пластинами, отличающийся тем, что на внешней поверхности лицевой диэлектрической пластины под антибликовым покрытием сформирован оптически прозрачный слой.
    Figure 00000001
RU2005117800/22U 2005-06-08 2005-06-08 Индикатор RU49357U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005117800/22U RU49357U1 (ru) 2005-06-08 2005-06-08 Индикатор

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005117800/22U RU49357U1 (ru) 2005-06-08 2005-06-08 Индикатор

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU49357U1 true RU49357U1 (ru) 2005-11-10

Family

ID=35866610

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005117800/22U RU49357U1 (ru) 2005-06-08 2005-06-08 Индикатор

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU49357U1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10183889B2 (en) Glass having antiglare surface with low display sparkle
KR970007291B1 (ko) 저압 수은 증기 방전 램프 및 정보 표시 장치
JP2013536551A (ja) 有機発光ダイオードデバイスのための散乱層を有する支持体、その支持体を含む有機発光デバイス
KR20030004402A (ko) 확산 코팅
CN107560769A (zh) 一种基于薄层面光源与压敏漆的全场压力测试***
CN105068173A (zh) 一种大尺寸导光板玻璃及其制作方法
RU49357U1 (ru) Индикатор
KR20100061323A (ko) 이중관형 형광 램프의 제조 방법 및 이중관형 형광 램프
US20090180587A1 (en) Method of detecting fine surface defects
RU68776U1 (ru) Индикатор
CN108490662A (zh) 液晶显示器面板检测装置及液晶显示器面板检测方法
RU58786U1 (ru) Индикатор
EP1220266A3 (en) Plasma display panel
CN110426873A (zh) 一种lcd液晶屏测试方法
US7511810B2 (en) Plasma generating electrode inspection device
RU54697U1 (ru) Газоразрядная индикаторная панель
JPS61176035A (ja) プラズマデイスプレイパネル
CN208334822U (zh) 液晶显示器面板检测装置
RU2070749C1 (ru) Способ изготовления лицевой стеклопластины газоразрядной индикаторной панели
CN105204196B (zh) 基板抽检方法
JP4454434B2 (ja) 画像処理方法
WO2024020865A1 (zh) 一种背光显示方法及其装置
KR20120019083A (ko) 외부전극 형광램프의 크랙 검사를 위한 장치
JP2009271001A (ja) 基板表面欠陥検査方法,基板表面欠陥検査装置
CN1685387A (zh) 图像显示装置及其制造方法