RU2701440C1 - Пятитактный фазовый 3-d сканер - Google Patents

Пятитактный фазовый 3-d сканер Download PDF

Info

Publication number
RU2701440C1
RU2701440C1 RU2018138617A RU2018138617A RU2701440C1 RU 2701440 C1 RU2701440 C1 RU 2701440C1 RU 2018138617 A RU2018138617 A RU 2018138617A RU 2018138617 A RU2018138617 A RU 2018138617A RU 2701440 C1 RU2701440 C1 RU 2701440C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
projector
additional
camera
bands
strips
Prior art date
Application number
RU2018138617A
Other languages
English (en)
Inventor
Яков Борисович Ландо
Original Assignee
Яков Борисович Ландо
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Яков Борисович Ландо filed Critical Яков Борисович Ландо
Priority to RU2018138617A priority Critical patent/RU2701440C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2701440C1 publication Critical patent/RU2701440C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для визуализации, математического моделирования и распознавания трехмерных объектов. Заявленное устройство дистанционного измерения трехмерных объектов содержит проектор, который осуществляет за три такта съемки проецирование на измеряемый объект двух типов, сдвинутых по фазе относительно друг друга, гармонических синусоидальных световых сигналов (полос) и одного постоянного сигнала, регистрирующую камеру, которая смещена относительно проектора на определенную величину dY и которая осуществляет регистрацию этих сигналов и передачу их на вычислительное устройство для определения координат измеряемой поверхности. При этом вводится дополнительное смещение камеры относительно проектора на небольшую величину dX, а также вводится два дополнительных такта съемки для регистрации двух, генерируемых проектором, дополнительных типов полос, перпендикулярных двум первым. Причем дополнительная информация, получаемая за счет смещения камеры dX и за счет регистрации дополнительных полос, используется вычислительным устройством для определения 2Pi интервалов в сдвиге основных полос при построении 3-d модели измеряемого объекта. Технический результат - увеличение диапазона глубины измерений, а также повышение точности за счет уменьшения ширины полос. 4 ил.

Description

Устройство относится к области измерительной техники и может быть использовано для визуализации, математического моделирования и распознавания трехмерных объектов.
Устройство реализует принцип структурированной подсветки измеряемой поверхности и принцип триангуляции для получения ее точек. Известны устройства (например сканеры Range Vision, Artec 3d), применяющие двоичное структурирование света, которые, при условии приемлемой точности, должны использовать 7-8 тактов съемки за цикл. Известны также устройства, использующие гармоническую подсветку. Наиболее близким является устройство, описанное в [1]. Оно выбрано в качестве ближайшего прототипа. Устройство содержит проектор Р и камеру С, которая смещена относительно проектора на величину dY (фиг. 1). В качестве структурированной подсветки используется гармонический световой сигнал и всего три такта съемки за цикл. При этом в каждом такте фаза светового сигнала проектора меняется на 120 градусов. В этом случае в любой точке поверхности, для сигналов на выходе камеры имеем:
Figure 00000001
Из уравнений (1) легко получить выражение для psiY.
Figure 00000002
В [2] приводится также упрощенный алгоритм:
Figure 00000003
Здесь:
Figure 00000004
В обоих случаях, для любой точки N (фиг. 1) с координатой у луча CN, по трем значениям В1, В2, В3 определяется фаза psiY сигнала камеры в этой точке (которая совпадает с фазой сигнала проектора для этой точки). Зная значение psiY для проектора, можно определить точку N0 и координату yO луча проектора PN0. Точка М пересечения лучей CN и PN0 является точкой измеряемой поверхности. Ее легко найти из треугольников РМС и NMN0.
Описанное устройство обладает существенным недостатком. Фаза psiY не должна превышать значения 2Pi. В противном случае, появляется неоднозначность решения (2) или (4). Физически это означает, что смещения световой полосы, связанные с изменением координаты Z измеряемой поверхности, не должны превышать ее ширины, (ширина полосы - это период гармонических колебаний). С другой стороны, ширину полосы проецируемого света нельзя делать большой, т.к. это приводит к резкому падению точности (из-за нелинейных искажений). Таким образом, недостатком устройства является малый допустимый диапазон перепадов уровня Z поверхности.
Сущность заявляемого устройства состоит в том, что с целью расширения допустимого диапазона перепадов уровня Z поверхности и увеличения точности, оно измеряет смещения световых полос в двух взаимно перпендикулярных направлениях (X и Y).
Новизна устройства состоит в том что в нем:
1. Вводится небольшое дополнительное смещение dX камеры относительно проектора (фиг. 2).
2. Используется 2 дополнительных такта съемки за цикл (фиг. 3).
Наличие указанных существенных признаков приводит к достижению технического результата, который выражается в расширении допустимого диапазона перепадов уровня Z измеряемой поверхности и повышении точности за счет использования узких световых полос.
Таким образом, предложенное техническое решение соответствует установленным условиям патентоспособности изобретения. Других технических решений аналогичного назначения с подобными существенными признаками не обнаружено.
На фиг. 1 показана схема работы прототипа.
Фиг. 2 поясняет принцип работы предлагаемого устройства. Здесь Р - проектор, С - камера, В.У. вычислительное устройство.
На фиг. 3 показаны 5 тактов проектора.
На фиг. 4а показана 3-d модель объекта при использовании алгоритма [1] прототипа в случае перепадов, превышающих ширину полосы. (Виден разрыв поверхности).
На фиг. 4б - результат работы (3-d модель объекта) для предлагаемого устройства.
Устройство работает следующим образом. В пяти тактах съемки проектор формирует пять различных световых сигналов (фиг. 3). Первые 3 такта воспроизводят алгоритм (3) - формируются полосы, параллельные оси X (Y-полосы), сдвинутые по фазе на 90 градусов, и постоянный сигнал (b0). Дополнительно вводятся еще два сигнала - полосы, параллельные оси Y (Х-полосы), также сдвинутые на 90 градусов (такты 4,5). На выходе камеры, для каждой точки поверхности все 5 сигналов имеют вид (фиг. 3):
Figure 00000005
Из первых трех уравнений системы (3) легко определяется угол psiY, из трех последних - угол psiX.
Figure 00000006
Значения сигналов В1-В5 поступают на вычислительное устройство - ВУ (фиг. 2), которое по формулам (6), (7) определяет значения psiX и psiY.
Отклонение камеры dX от проектора значительно меньше величины dY и выбирается таким образом, чтобы смещения Х-полос вдоль оси X не превышало их ширины при любых перепадах уровня измеряемой поверхности. В этом случае значение psiX не будет превышать величины 2Pi и из (7) будет определятся однозначно. По найденному значению psiX нельзя находить точки измеряемой поверхности (мала точность из-за малости величины dX), однако, ее хватает, чтобы определить количество 2Pi - интервалов в выражении (6) для psiY. Таким образом, с помощью psiX, угол psiY определяется вычислительным устройством однозначно. Далее, используя значение psiY, ВУ находит координаты точек измеряемой поверхности методом триангуляции, описанном выше для прототипа в любом диапазоне изменения координаты Z.
Предлагаемый способ может использоваться в различных технологических процессах с целью визуализации, математического моделирования и физического воспроизведения геометрии трехмерных объектов.
Литература.
[1] Peisen S. Huang and Song Zhang. Fast three-step phase-shifting algorithm.
[2] Song Zhang. Recent progresses on real-time 3D shape measurement using digital fringe projection techniques.
[3] Patent: US 2009238449 A1, 24.09.2009.

Claims (1)

  1. Устройство дистанционного измерения трехмерных объектов, содержащее проектор, который осуществляет за три такта съемки проецирование на измеряемый объект двух типов, сдвинутых по фазе относительно друг друга, гармонических синусоидальных световых сигналов (полос) и одного постоянного сигнала, регистрирующую камеру, которая смещена относительно проектора на определенную величину dY и которая осуществляет регистрацию этих сигналов и передачу их на вычислительное устройство для определения координат измеряемой поверхности, отличающееся тем, что с целью увеличения диапазона глубины измерений, а также повышения точности за счет уменьшения ширины полос, вводится дополнительное смещение камеры относительно проектора на небольшую величину dX, а также вводится два дополнительных такта съемки для регистрации двух, генерируемых проектором, дополнительных типов полос, перпендикулярных двум первым, причем дополнительная информация, получаемая за счет смещения камеры dX и за счет регистрации дополнительных полос, используется вычислительным устройством для определения 2Pi интервалов в сдвиге основных полос при построении 3-d модели измеряемого объекта.
RU2018138617A 2018-11-01 2018-11-01 Пятитактный фазовый 3-d сканер RU2701440C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018138617A RU2701440C1 (ru) 2018-11-01 2018-11-01 Пятитактный фазовый 3-d сканер

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018138617A RU2701440C1 (ru) 2018-11-01 2018-11-01 Пятитактный фазовый 3-d сканер

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2701440C1 true RU2701440C1 (ru) 2019-09-26

Family

ID=68063285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018138617A RU2701440C1 (ru) 2018-11-01 2018-11-01 Пятитактный фазовый 3-d сканер

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2701440C1 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2148793C1 (ru) * 1999-02-19 2000-05-10 Филиппов Евгений Иванович Способ измерения формы и пространственного положения поверхности объекта
US20070115484A1 (en) * 2005-10-24 2007-05-24 Peisen Huang 3d shape measurement system and method including fast three-step phase shifting, error compensation and calibration
US20090238449A1 (en) * 2005-11-09 2009-09-24 Geometric Informatics, Inc Method and Apparatus for Absolute-Coordinate Three-Dimensional Surface Imaging
RU2649420C2 (ru) * 2014-05-20 2018-04-03 Яков Борисович Ландо Способ дистанционного измерения подвижных объектов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2148793C1 (ru) * 1999-02-19 2000-05-10 Филиппов Евгений Иванович Способ измерения формы и пространственного положения поверхности объекта
US20070115484A1 (en) * 2005-10-24 2007-05-24 Peisen Huang 3d shape measurement system and method including fast three-step phase shifting, error compensation and calibration
US20090238449A1 (en) * 2005-11-09 2009-09-24 Geometric Informatics, Inc Method and Apparatus for Absolute-Coordinate Three-Dimensional Surface Imaging
RU2649420C2 (ru) * 2014-05-20 2018-04-03 Яков Борисович Ландо Способ дистанционного измерения подвижных объектов

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Peisen S. Huang and Song Zhang. Fast three-step phase-shifting algorithm. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Beraldin et al. Active 3D sensing
Bräuer-Burchardt et al. Using geometric constraints to solve the point correspondence problem in fringe projection based 3D measuring systems
CN102721376B (zh) 一种大视场三维视觉传感器的标定方法
CN106257995A (zh) 一种结构光场三维成像方法及其***
CN110174079B (zh) 一种基于四步相移编码型面结构光的三维重建方法
Coggrave et al. High-speed surface profilometer based on a spatial light modulator and pipeline image processor
CN103234482B (zh) 一种基于正弦光栅的结构光测量***标定方法
CN101603812A (zh) 一种超高速实时三维视觉测量装置及方法
CN108036740B (zh) 一种基于多视角的高精度实时三维彩色测量***及其方法
CN108955571A (zh) 双频外差与相移编码相结合的三维测量方法
CN102494637B (zh) 三个编码周期的三基色梯形相移三维信息获取方法
CN110006365B (zh) 基于二维查找表的相位展开方法、装置及电子设备
CN105157614B (zh) 基于二值相移图案的三维测量方法
CN112461158B (zh) 散斑投影相移高频率立体视觉三维测量方法及装置
Yang et al. High-accuracy high-speed unconstrained fringe projection profilometry of 3D measurement
Pinto et al. Regular mesh measurement of large free form surfaces using stereo vision and fringe projection
Sansoni et al. A 3D vision system based on one-shot projection and phase demodulation for fast profilometry
US12013229B2 (en) Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
US10801834B2 (en) Fringe projection for determining topography of a body
RU2701440C1 (ru) Пятитактный фазовый 3-d сканер
RU2148793C1 (ru) Способ измерения формы и пространственного положения поверхности объекта
CN103559710B (zh) 一种用于三维重建***的标定方法
CN102519396B (zh) 三个灰度对称线性编码周期的采样点三维信息获取方法
García-Isáis et al. One shot profilometry using phase partitions
RU2699904C1 (ru) Трехтактный фазовый 3-d сканер с двумя камерами

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20201102