RU2664261C2 - Способ и устройство для детектирования вещества - Google Patents

Способ и устройство для детектирования вещества Download PDF

Info

Publication number
RU2664261C2
RU2664261C2 RU2016119150A RU2016119150A RU2664261C2 RU 2664261 C2 RU2664261 C2 RU 2664261C2 RU 2016119150 A RU2016119150 A RU 2016119150A RU 2016119150 A RU2016119150 A RU 2016119150A RU 2664261 C2 RU2664261 C2 RU 2664261C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
light
light source
detection zone
plane
analyzing device
Prior art date
Application number
RU2016119150A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2016119150A3 (ru
RU2016119150A (ru
Inventor
Дирк БАЛЬТАЗАР
Тобиас ХАРТМАН
Джон МАКГЛОУГЛИН
Дуглас Александер РИЙД
Original Assignee
Томра Сортинг Нв
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Томра Сортинг Нв filed Critical Томра Сортинг Нв
Publication of RU2016119150A publication Critical patent/RU2016119150A/ru
Publication of RU2016119150A3 publication Critical patent/RU2016119150A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2664261C2 publication Critical patent/RU2664261C2/ru

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C2501/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material to be sorted
    • B07C2501/009—Sorting of fruit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N2021/8592—Grain or other flowing solid samples

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

Использование: для детектирования вещества. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для детектирования вещества содержит: средства групповой подачи, предназначенные для подачи нескольких предметов в зону детектирования; по меньшей мере один источник света, каждый из которых имеет фокусирующий элемент и предназначен для отправки света в соответствующем первом направлении для освещения по меньшей мере одного предмета, движущегося в плоскости предмета в зоне детектирования; и первое анализирующее свет устройство, предназначенное для считывания света, излученного из указанного по меньшей мере одного источника света и прошедшего через предмет, и для установления количества света, полученного от указанного по меньшей мере одного источника света, причем указанное первое анализирующее свет устройство предназначено для считывания света, имеющего направление в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства, и причем указанное соответствующее первое направление отличается от направлений в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства. Технический результат: обеспечение возможности на некоторый период времени измерения только лишь окружающего света с целью вычитания результата измерения окружающего света из результата проводимого измерения. 4 н. и 19 з.п. ф-лы, 8 ил.

Description

Область техники, к которой относится изобретение
Изобретение относится к системам и способам неразрушающего контроля. В частности, изобретение относится к оптическим системам, устройствам и способам детектирования вещества и определения одного или нескольких параметров предмета. Изобретение особенно подходит для определения свойств одного или нескольких полупрозрачных предметов.
Предпосылки изобретения
Существуют различные способы определения качества собранных фруктов и овощей. В сельскохозяйственной отрасли представляют интерес сортировка продукции на основании внутренних параметров, таких как содержание сахара, кислотность, спелость, наличие гнили и повреждений, и внешних признаков, таких как размер, геометрическая форма и цвет, и на основании этих параметров и признаков проведение определенных сортировочных операций.
Хорошо известно использование при определении различных свойств собранных фруктов и овощей спектроскопии в ближней инфракрасной (NIR) области и спектроскопии в видимой области (VIS). Излучение в ближней инфракрасной (NIR) области обычно определяется как диапазон электромагнитного спектра в пределах от 780 до 2500 нм, а спектр в пределах от 400 нм до 780 нм называется излучением в видимой (VIS) области. При спектроскопии в ближней инфракрасной (NIR) области или видимой области (VIS) предмет, подвергаемый анализу, облучают, и измеряют отраженное или проходящее излучение. Изменения отраженного света анализируют для определения различных характеристик поверхности предмета. Проходящий свет, т.е. излучение, проникающее через предмет, претерпевает рассеивание и/или поглощение, что влияет на его длину волны. Эти изменения зависят от светорассеивающих свойств предмета, а также от его химического состава.
Известный уровень техники включает документ JP 2010 210355 А, в котором описаны способ и устройство для выполнения неразрушающего измерения концентрации целевого компонента. В этом способе пищевой объект, подлежащий измерению, такой как овощ, фрукт, мясо, облучают светом с длиной волны в диапазоне от 400 до 2500 нм. Путем детектирования проходящего света и/или отраженного света получают спектр поглощения, и концентрацию целевого компонента в измеряемом предмете определяют, используя калибровочную кривую, полученную из значений поглощения всех измерительных длин волн или конкретной длины волны.
Известный уровень техники включает также документ CN 2733343 Y, в котором описывается внутреннее интегральное аналитическое оборудование для неразрушающего контроля сельскохозяйственной продукции, такой как фрукты и овощи, содержащее систему источника света, фильтр и систему визуализации. Оборудование может освещать разную сельскохозяйственную продукцию под разными углами, и свет, проникающий через образцы, может поступать в спектрометр (если источник света является хроматическим) или детектор (если источник света является монохроматическим) посредством максимально возможного использования функции визуализации с помощью линзы для использования спектроскопии в ближней инфракрасной области для анализа качества сельскохозяйственной продукции.
Более того, в документе JP 2009226248 описан способ детектирования обесцвеченных гранул путем анализа света, отраженного/обратно рассеянного от гранул.
Кроме того, в документе US 6646218 описано устройство для сортировки изделий, в котором свет, отраженный от изделий, анализируется с целью установления различия между приемлемыми и неприемлемыми изделиями.
Кроме того, в документе JP 2007033273 описано устройство для детектировнаия инородного вещества в белых пищевых продуктах с применением отраженного и проходящего белого света, причем оптическая ось света, который должен проходить, выровнена с полем обзора камеры, вследствие чего инородное вещество четко различимо.
В известных системах и способах предметы облучают и анализируют по одному, что требует помещения каждого предмета вовнутрь детектора либо вручную, либо на конвейерной ленте, имеющей специально выделенные гнезда для каждого предмета. Желательно, таким образом, повысить пропускную способность предметов в вышеупомянутых устройствах.
Сущность изобретения
Изобретение изложено и характеризовано в независимых пунктах формулы изобретения, а в зависимых пунктах формулы изобретения описаны других характеристики изобретения.
Таким образом, предлагается устройство для детектирования вещества, отличающееся тем, что содержит:
- средства групповой подачи, предназначенные для подачи нескольких предметов в зону детектирования;
- по меньшей мере один источник света, имеющий фокусирующий элемент и предназначенный для освещения по меньшей мере одного предмета, движущегося в плоскости предмета в зоне детектирования; и
- первое анализирующее свет устройство, предназначенное для считывания света, прошедшего через предмет.
В соответствии с одним примером предлагается устройство для детектирования вещества, отличающееся тем, что содержит:
- средства групповой подачи, предназначенные для подачи нескольких предметов зону детектирования;
- по меньшей мере один источник света, каждый из которых имеет фокусирующий элемент и предназначен для отправки света в соответствующем первом направлении для освещения по меньшей мере одного предмета, движущегося в плоскости предмета в зоне детектирования; и
- первое анализирующее свет устройство, предназначенное для считывания света, прошедшего через предмет, и для установления количества света, полученного от указанного по меньшей мере одного источника света, причем указанное первое анализирующее свет устройство предназначено для считывания света, имеющего направление в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства, и
причем указанное соответствующее первое направление отличается от направлений в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства.
Иными словами, при отсутствии предмета в зоне детектирования свет, излучаемый или отправляемый указанным по меньшей мере одним источником света, обычно не будет считываться указанным первым анализирующим свет устройством. Выражаясь иначе, при отсутствии предмета в зоне детектирования свет, излучаемый или отправляемый указанным по меньшей мере одним источником света, будет отправляться вне поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства. В частности, при отсутствии предмета в зоне детектирования указанным первым анализирующим свет устройством обычно не будет считываться никакая часть или будет считываться не более чем очень малая часть света, отправленного от указанного по меньшей мере одного источника света, вследствие, например, рассеяния в окружающую среду или поверхность (поверхности). В соответствии с одним примером при отсутствии предмета в зоне детектирования указанное первое анализирующее свет устройство идентифицирует не более 10%, или не более 5%, или не более 1%, или не более 0,5%, или не более 0,1%, или не более 0,05% света, отправленного из по меньшей мере одного источника света.
В соответствии с одним примером, если предмет присутствует в зоне детектирования и облучается указанным по меньшей мере одним источником света, свет от указанного по меньшей мере одного источника света, прежде чем достигает датчика анализирующего свет устройства, диффузно проходит через указанный предмет или отражается от него. В частности, более 75% или более 90% этого света от указанного по меньшей мере одного источника света, достигающие датчика указанного первого анализирующего свет устройства, диффузно прошли через указанный предмет или отразились от него, прежде чем достигли датчика анализирующего свет устройства.
Как уже отмечалось, указанное первое анализирующее свет устройство предназначено для идентификации света, полученного от указанного по меньшей мере одного источника света; иными словами, указанное первое анализирующее свет устройство предназначено для проведения различия между окружающим светом и светом, полученным от по меньшей мере одного источника света. Выражаясь иначе, количество света, получаемое от указанного первого анализирующего свет устройства, намного выше уровня шума, присутствующего, когда по меньшей мере один источник света не выключен.
В соответствии с одним примером источник света и фокусирующий элемент имеют результирующую оптическую ось, направленную в первом направлении. Указанное первое направление находится вне поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства, иными словами, непреломленный свет, излучаемый по указанной первой оптической оси, находится вне поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства и не будет считываться указанным первым анализирующим свет устройством.
В одном варианте осуществления по меньшей мере один источник света предназначен для отправки падающего света в направлении нескольких предметов, движущихся в плоскости предмета, и причем первое анализирующее свет устройство расположено так, что плоскости измерения для проходящего света и падающего света лежат не в одной плоскости.
В одном варианте осуществления средства групповой подачи предназначены для подачи предметов в зону детектирования случайным образом.
В одном варианте осуществления по меньшей мере один источник света расположен в первом фокусе отражателя в форме усеченного эллипсоида, а отражатель расположен таким образом, что второй фокус отражателя в форме усеченного эллипсоида совпадает с плоскостью предмета.
Иными словами, свет, излучаемый от по меньшей мере одного источника света, вначале будет сходиться в фокус, а затем расходиться. Анализирующее свет устройство преимущественно расположено таким образом, что расходящийся свет не достигнет его датчика.
По меньшей мере один источник света может содержать один или несколько светоизлучающих диодов (светодиодов) и может дополнительно содержать по меньшей мере одну линзу, которая может фокусировать свет в плоскости предмета.
В одном варианте осуществления источник света и первое анализирующее свет устройство расположены с противоположных сторон плоскости предмета. В одном варианте осуществления первый источник света расположен симметрично второму источнику света относительно центральной оси.
В одном варианте осуществления второе анализирующее свет устройство расположено с противоположной стороны плоскости предмета относительно первого анализирующего свет устройства и предназначено для приема отраженного света от предмета, полученного в результате из света, отправленного от соответствующих первого и второго источников света.
В одном варианте осуществления по меньшей мере третий источник света расположен по ту же сторону от плоскости предмета, что и первое анализирующее свет устройство, и предназначен для облучения предмета светом, отраженным на первое анализирующее свет устройство.
Анализирующее свет устройство может содержать систему спектроскопии или систему гиперспектральной камеры.
В одном варианте осуществления по меньшей мере один источник света представляет собой импульсный источник света, предназначенный для отправки пульсирующего света в зону детектирования. Средства управления светом могут быть обеспечены и предназначены для отправки пульсирующего света в зону детектирования управляемым образом.
Средства групповой подачи могут включать вибрационный питатель или конвейерную ленту, факультативно в сочетании с желобом, посредством которых обеспечивается падение предметов через зону детектирования. Кроме того, средства групповой подачи может представлять собой полупрозрачную конвейерную ленту, проходящую в зону детектирования и предназначенную по меньшей мере для частичной поддержки предмета в зоне детектирования.
В одном варианте осуществления конвейерная лента включает конвейерную ленту из проволочной сетки или две конвейерные ленты, разделенные промежутком.
Кроме того, предлагается система для сортировки предметов, в которой устройство согласно изобретению объединено с выталкивающим устройством, предназначенным для управляемого и избирательного выталкивания предмета из системы, исходя из свойств света, полученного первым анализирующим свет устройством.
Кроме того, предлагается способ определения параметра по меньшей мере одного предмета, включающий этапы:
i) обеспечения перемещения предмета в плоскости в зоне детектирования;
ii) освещения предмета падающим светом;
iii) детектирования света, прошедшего через предмет и падающего в плоскости измерения; и
iv) определения специфического для предмета параметра на основании детектированного проходящего света, падающего в плоскости измерения.
Кроме того, предлагается способ определения параметра по меньшей мере одного предмета, включающий этапы:
i) обеспечения перемещения предмета в плоскости (Р-Р) в зоне детектирования (D);
ii) освещения предмета падающим светом, имеющим первое направление, который излучается по меньшей мере от одного источника света;
iii) детектирования и идентификация света, поступающего от указанного по меньшей мере одного источника света и проходящего через предмет, причем указанный свет имеет второе направление, отличающееся от указанного первого направления; и
iv) определения специфического для предмета параметра на основании детектированного проходящего света.
В одном варианте осуществления плоскости измерения для проходящего света и падающего света лежат не в одной плоскости. Движение на этапе i) включает свободное падение или может осуществляться посредством конвейерной ленты.
В одном варианте осуществления способа согласно изобретению этап освещения включает отправку пульсирующего света в направлении зоны детектирования, а этап детектирования дополнительно включает детектирование окружающего света в течение промежутков времени, в которые свет не отправляют в направлении зоны детектирования.
Специфический для предмета параметр может представлять собой один или несколько параметров из списка, содержащего: содержание сахара, кислотность, спелость, наличие гнили, наличие механических повреждений, присутствие постороннего вещества, присутствие кости.
В одном варианте осуществления предмет сортируют, исходя из специфического для предмета параметра, определенного на этапе iv).
Изобретение не ограничивается спектроскопией в ближней инфракрасной (NIR) или видимой (VIS) областях спектра и может в целом использоваться с любым способом спектроскопии, включая также, но без ограничения, спектроскопию в ультрафиолетовой (UV) и средней инфракрасной (MIR) областях спектра.
Кроме того, все, что указано выше в отношении устройства, как правило, может быть применимо и к способам.
Краткое описание графических материалов
Эти и другие характеристики изобретения станут понятными из последующего описания одного предпочтительного вида варианта осуществления, приведенного как пример, не ограничивающий объем настоящего изобретения, со ссылками на прилагаемые графические материалы, на которых:
фиг. 1а и 1b представляют собой вид сбоку и вид сверху соответственно первого варианта осуществления системы согласно изобретению;
фиг. 2 представляет собой вид сбоку второго варианта осуществления системы согласно изобретению;
фиг. 3 представляет собой вид сбоку третьего варианта осуществления системы согласно изобретению;
фиг. 4 представляет собой вид сбоку четвертого варианта осуществления системы согласно изобретению;
фиг. 5 представляет собой вид сбоку пятого варианта осуществления системы согласно изобретению;
фиг. 6 представляет собой вид сбоку, иллюстрирующий еще один вариант осуществления изобретения; и
на фиг. 7 показано расположение, в котором свет из корпуса лампы является пульсирующим.
Подробное описание предпочтительного варианта осуществления
В последующем описании будут использоваться такие термины, как «горизонтальный», «вертикальный», «боковой», «вперед и назад», «вверх и вниз», »верхний», «нижний», «внутренний», «наружный», «передний», «задний» и т.д. Эти термины, как правило, относятся к видам и ориентациям, как показано на графическом материале, и связаны с нормальным использованием изобретения. Эти термины используются лишь для удобства читателя и не должны ограничивать объем настоящего изобретения.
На фиг. 1а и 1b приведено схематическое представление системы согласно изобретению. Осветительная система 8 передает свет L в направлении системы 4 спектроскопии. Конвейер 3 подает несколько предметов 2 (например, собранные фрукты или овощи) в направлении, показанном стрелкой М, и при этом предметы 2 последовательно сваливаются и (в целом по параболической траектории) падают вниз через освещенную зону, образованную между осветительной системой и системой спектроскопии. Буквой S обозначена линия сканирования, буквами Р-Р - плоскость предмета, и буквами SR - диапазон сканирования. Таким образом, предметы 2 освещаются снизу, когда они падают в плоскости предмета в зоне D детектирования, и проходящий свет детектируется и анализируется системой 4 спектроскопии.
Осветительная система может содержать один или несколько источников света и вспомогательные устройства (например, отражатели, линзы), способные фокусировать свет в плоскости Р-Р предмета. Таким образом, подходящие источники света могут включать суперконтинуумные лазеры, широкополосные источники света, такие как галогенные лампы, или один или несколько светоизлучающих диодов (светодиодов) в сочетании с подходящими линзами или другими фокусирующими элементами. Один пример такой фокусирующей системы раскрыт в документе ЕР 0772498 В1, описывающем систему оптического контроля, имеющую линзы для направления света из его источников, таких как светодиоды, на продукты, проходящие через зону контроля. Источник света может представлять собой, например, одиночный широкополосный светодиод или матрицу из нескольких светодиодов, каждый из которых имеет разную ширину спектральной полосы.
В проиллюстрированном варианте осуществления система 4 спектроскопии содержит вращающееся зеркало 6 и датчик 7. Эта установка создает одиночный спектр для каждой точки на линии S сканирования. Следует понимать, что датчик может включать, например, спектрометр или систему гиперспектральной камеры. Кроме того, система спектроскопии может использовать очень чувствительные системы спектрометров, имеющие, например, лавинные фотодиоды (APD) или фотоэлектронные умножители (РМТ), известные в данной области техники.
На фиг. 2 приведено схематическое представление второго варианта осуществления системы согласно изобретению. Позицией 3 обозначено устройство групповой подачи, такое как конвейерная лента или вибрационный питатель и желоб, функцией которого является подача нескольких предметов таким образом, чтобы они падали в зону D детектирования. Для наглядности иллюстрации на фиг. 2 проиллюстрирован только один предмет. Однако следует понимать, что несколько предметов могут падать в зону D детектирования одновременно подобно ситуации, показанной на фиг. 1а, b. На фиг. 2 изображена ситуация, когда предмет 2 (например, фрукт или овощ) свалился с подающего устройства 3 и падает в зоне D детектирования, как показано стрелкой G.
Источник 10 света предназначен для отправки луча I1 падающего света в направлении предмета 2, падающего в плоскости Р-Р предмета. Линией Т показан проходящий свет, падающий в плоскости измерения (видимый вдоль плоскости), т.е. проходящий свет Т, детектируемый системой 4 спектроскопии. Иными словами, часть луча I1 падающего света проходит через предмет и после этого детектируется/идентифицируется системой 4 спектроскопии; эта часть далее называется проходящим и детектируемым светом. Как можно видеть на фиг. 2, направление падающего света I1 отличается от направления проходящего и детектируемого света TD1. В частности, направление падающего света может быть одинаковым с направлением центральной оси падающего света, а направление проходящего и обнаруживаемого света может быть одинаковым с центральной осью проходящего и детектируемого света.
При отсутствии предмета в зоне детектирования свет, излучаемый или отправляемый источником 10 света, не будет считываться системой 4 спектроскопии, поскольку свет, излучаемый источником 10 света, будет отправляться вне поля обзора указанной системы 4 спектроскопии. В частности, при отсутствии предмета в зоне детектирования системой 4 спектроскопии обычно не будет считываться никакая часть или будет считываться лишь очень малая часть света, отправленного из источника света, вследствие, например, рассеяния в окружающую среду. В соответствии с одним примером при отсутствии предмета в зоне детектирования система 4 спектроскопии идентифицирует не более 10%, или не более 5%, или не более 1%, или не более 0,5%, или не более 0,1%, или не более 0,05% света, отправленного из источника 10 света.
Если предмет присутствует в зоне детектирования и облучается указанным источником 10 света, свет от источника света, прежде чем достигает датчика системы 4 спектроскопии, диффузно проходит через указанный предмет или отражается от него. В частности, более 75% или более 90% этого света от источника света, достигающие датчика системы 4 спектроскопии, диффузно прошли через указанный предмет или отразились от него, прежде чем достигли датчика анализирующего свет устройства.
В соответствии с одним примером источник 10 света и фокусирующий элемент 12 имеют результирующую оптическую ось (OA), направленную в первом направлении. Указанное первое направление находится вне поля обзора указанной системы 4 спектроскопии, иными словами, непреломленный свет, излучаемый по указанной первой оптической оси, находится вне поля обзора указанной системы 4 спектроскопии и не будет считываться системой 4 спектроскопии.
В системе спектроскопии проходящий и детектируемый свет анализируется для определения внутренних свойств предмета. Если эти внутренние свойства находятся вне заданных допусков, например, если предмет имеет внутренние участки, которые сгнили или повреждены, выталкивающему устройству 9 (расположенному после зоны D детектирования) отправляется сигнал команды (линии управления не показаны), и это устройство удаляет предмет из системы. Выталкивающее устройство 9, являющееся факультативным, может представлять собой любое известное выталкивающее или удаляющее устройство, такое как заслонка, механические пальцы, воздушные сопла и т.д.
Источник 10 света и система 4 спектроскопии расположены таким образом, что падающий свет I1 и плоскость Т измерений не находятся на одной линии. Зона DB, находящаяся по другую сторону предмета 2 относительно системы 4 спектроскопии, является либо пустой, либо содержит факультативный темный контрольный элемент 61. Этот контрольный элемент предотвращает «ослепление» системы спектроскопии при отсутствии предметов в зоне детектирования.
Для того чтобы оптимизировать интенсивность света в плоскости предмета, в проиллюстрированном варианте осуществления источник 10 света представляет собой широкополосный источник света, такой как галогенная лампа, расположенный внутри отражателя 12, как показано на фиг. 2. Таким образом, со ссылкой на фиг. 1а, b, в варианте осуществления, проиллюстрированном на фиг. 2, осветительная система 8 содержит источник 10 света и отражатель 12 в корпусе 42 лампы. Отражатель 12 имеет форму усеченного эллипсоида (усеченного параллельно малой оси эллипсоида), а источник 10 света расположен в первом фокусе f1 усеченного эллипсоида. Поскольку каждый луч света, излученный из первого фокуса f1 усеченного эллипсоида, отражается отражателем для схождения во втором фокусе f'1 система разработана таким образом, что плоскость Р-Р предмета проходит через второй фокус f'1. Это обеспечивает, что при падении через зону D детектирования предмет 2 облучается концентрированным светом. Иными словами, свет, излучаемый источником 10 света, будет вначале сходиться в фокусе f'1 после чего расходиться. Анализирующее свет устройство обычно располагается так, что расходящийся свет не достигает его датчика.
Следует понимать, что хотя на фиг. 2 предмет 2 показан падающим вертикально в плоскости Р-Р предмета, это не является обязательным для изобретения. Достаточно, чтобы предмет проходил через второй фокус f'1 и плоскость предмета в зоне D детектирования, т.е. предмет может иметь не вертикальную траекторию.
На фиг. 3 приведено схематическое представление третьего варианта осуществления системы согласно изобретению. Далее будут рассмотрены лишь те аспекты, которые отличаются от описанных выше со ссылкой на фиг. 2. В этом третьем варианте осуществления второй источник света 20 и соответствующий второй отражатель 22 в форме усеченного эллипсоида расположены аналогично первому источнику 10 света и первому отражателю 12, как описано выше, внутри корпуса 42 лампы, со вторым источником 20 света в первом фокусе f2 усеченного эллипсоида. Второй отражатель 20 и первый отражатель 10 расположены симметрично относительно общей центральной оси С, и второй отражатель 20 (подобно первому отражателю 10) расположен так, что плоскость Р-Р предмета проходит через второй фокус f'2 второго отражателя. Таким образом, вторые фокусы f'1, f'2 совпадают и лежат в плоскости Р-Р предмета, как проиллюстрировано на фиг. 3. Этот вариант осуществления позволяет эффективно удвоить интенсивность облучения на предмете 2 по сравнению с вариантом осуществления, проиллюстрированным на фиг. 2.
Первый и второй источники 10, 20 света отправляют свои соответствующие первый и второй лучи I1, I2 света в направлении предмета 2, падающего в плоскости Р-Р предмета. Проходящий свет, падающий в плоскости Т измерения, детектируется системой 4 спектроскопии, как описано выше. Иными словами, часть луча I1 падающего света и часть луча I2 падающего света проходят через предмет и затем детектируются системой 4 спектроскопии; эти части называются проходящим и детектируемым светом. Как можно видеть на фиг. 3, направления лучей I1, I2 падающего света отличаются от направления проходящего и детектируемого света TD12. В частности, направление лучей падающего света может быть одинаковым с направлением центральной оси луча падающего света, а направление проходящего и обнаруживаемого света может быть одинаковым с центральной осью проходящего и детектируемого света.
Между отражателями 12, 22 расположен темный контрольный элемент 61, предотвращающий «ослепление» системы спектроскопии при отсутствии предметов в зоне D детектирования. В одном практическом варианте осуществления отражатели и их соответствующие источники света могут располагаться в одном корпусе 42 лампы. Таким образом, со ссылкой на фиг. 1а, b, в варианте осуществления, проиллюстрированном на фиг. 2, осветительная система 8 содержит источники 10, 20 света, отражатели 12, 22 и контрольный элемент 61 в корпусе 42.
На фиг. 2 и 3 показан также факультативный белый контрольный элемент 43, расположенный в корпусе 42 лампы, но в пределах диапазона сканирования системы 4 спектроскопии. Белый контрольный элемент 43 позволяет калибровать систему, когда она находится в режиме работы, что может повысить точность измерений. Белый контрольный элемент может, например, представлять собой небольшую пирамиду из бария, помещенную так, что она освещается источником (источниками) света.
На фиг. 4 приведено схематическое представление четвертого варианта осуществления системы согласно изобретению. На этой иллюстрации корпус лампы не показан. Далее будут рассмотрены лишь те аспекты, которые отличаются от описанных выше со ссылкой на фиг. 3.
В этом четвертом варианте осуществления темный контрольный элемент (позиция 61 на фиг. 3) заменен отверстием (или световодом) 62 между отражателями 12, 22, а вторая система 5 спектроскопии расположена на одной линии с первой системой 4 спектроскопии. При отправке первого и второго лучей I1, I2 падающего света в направлении предмета 2 часть Т проходит и отправляется в первую систему 4 спектроскопии. Однако часть падающего света также отражается (как показано R1,2) в направлении второй системы 5 спектроскопии. Таким образом, эта конфигурация обеспечивает как спектроскопию пропускания (в первой системе 4 спектроскопии), так и спектроскопию отражения (во второй системе 5 спектроскопии).
Четвертый вариант осуществления содержит также третий источник света 30 и оптический фильтр 63, предназначенные для отправки третьего луча I3 падающего света в направлении предмета 2. Оптический фильтр 63 предназначен для блокирования света длин волн, которые бы иначе создавали помехи проходящему свету, падающему в плоскости Т измерения. Таким образом, третий луч I3 падающего (отфильтрованного) света отражается предметом 2, и отраженный свет R3 направляется в первую систему 4 спектроскопии. Этот третий источник 30 света обеспечивает измерение и оценку поверхностных свойств предмета. Следует понимать, что могут использоваться несколько источников света, подобных третьему источнику света 30, например, симметрично по другую сторону первой системы 4 спектроскопии.
На фиг. 5 приведено схематическое представление пятого варианта осуществления системы согласно изобретению. Этот вариант осуществления является по существу комбинацией третьего и четвертого вариантов осуществления. На этой иллюстрации корпус лампы не показан. Между первым и вторым отражателями 12, 22 расположен темный контрольный элемент 61, как описано выше со ссылками на фиг. 3, а третий источник света 30 и оптический фильтр 63 расположены так, как описано выше со ссылками на фиг. 4.
На фиг. 6 показан вариант, в котором предлагаемая система расположена так, что предмет 2 не падает в плоскости предмета (как в вариантах осуществления изобретения, описанных выше), а перемещается через зону D детектирования на конвейерной ленте 3', движущейся в направлении В. Конвейерная лента 3', выровненная с плоскостью Р-Р предмета, является прозрачной и/или полупрозрачной, благодаря чему лучи I1,2 света могут проходить через ленту и на предмет. Конвейерная лента 3' может, таким образом, представлять собой, например, конвейерную ленту из проволочной сетки или две конвейерные ленты, расположенные с промежутком. Устройство, показанное на фиг. 6, позволяет использовать систему согласно изобретению для анализа и сортировки предметов, не пригодных для падения, например, мясных продуктов. Примерами таких мясных продуктов служат куриное мясо, свиная грудинка и мясной фарш. Это устройство подходит также для детектирования, анализа и сортировки предметов, имеющих менее определенные формы и способных образовывать слой или куски на конвейерной ленте 3', таких как говяжий фарш, рубленое мясо, мясной фарш и т.д. На фиг. 6 этот тип предмета обозначен позицией 2'. Следует понимать, что устройство на фиг. 6 может быть перевернутым, т.е. источники света могут находиться выше конвейерной ленты 3', а система спектроскопии - ниже.
При использовании любой из вариантов осуществления системы согласно изобретению и устройства обычно может устанавливаться в производственных цехах, например, рядом с оборудованием для упаковки продукции или в мясоперерабатывающих установках, где условия для проведения процессов оптического детектирования могут быть далеко не идеальными. Например, свет, детектируемый системой спектроскопии, обычно представляет собой сумму (i) света, генерируемого источниками света, который прошел через предмет, и (ii) окружающего света. Это изображено на фиг. 7, на которой стрелками, помеченными «А», показан окружающий свет, a L' представляет пульсирующий свет, поступающий от импульсного источника 40 света в корпусе 42 лампы. Окружающий свет может составлять значительную часть детектируемого света и может отрицательно влиять на процесс детектирования. Поэтому желательно суметь устранить окружающий свет из процесса детектирования и измерения.
Следовательно, согласно изобретению предлагаются способ и соответствующие средства для выключения источника (источников) света на некоторый период времени, чтобы система спектроскопии могла измерять лишь окружающий свет. Когда источник света выключен, свет через предмет не проходит. Устройство обработки (не показано) в системе 4 спектроскопии вычитает результат измерения окружающего света из результата измерения, выполненного системой спектроскопии, когда свет, генерируемый осветительной системой (источниками света), проходит через предмет.
Предметы обычно движутся (например, падают) через зону детектирования с высокой скоростью, и периоды времени, в которые источник света выключен, должны соответствовать этой скорости. Этого можно добиться при использовании импульсных сфокусированных светодиодов, обеспечивающих быстрый цикл включения/выключения. Использование импульсных светодиодов позволяет детектировать принятый свет от соседних пикселей, когда источник света выключен (только окружающий свет) и включен (сгенерированный свет + окружающий свет). Если источником света является, например, галогенная лампа (имеющая меньшее быстродействие), пульсирующий свет L' можно получить при расположении перед источником света средства 45 управления светом, как показано на фиг. 7. Средство 45 управления светом может представлять собой, например, механический затвор или так называемое электрохромное стекло. Электрохромные стекла хорошо известны; примером служит стекло SmartGlass™, выпускаемое компанией Schott AG.
Эта способность измерять и вычитать окружающий свет из процесса детектирования повышает универсальность системы. Например, зона детектирования не должна быть размещена в закрытом шкафу, она может находиться на открытом воздухе и подвергаться воздействию окружающего света. Следует понимать, что импульсные светодиоды можно комбинировать со средством 45 управления светом.
Хотя изобретение описано со ссылками на детектирование вещества во фруктах, овощах и мясе, следует понимать, что изобретение в равной мере применимо к детектированию вещества в полупрозрачных предметах вообще, включая без ограничения другие пищевые продукты.

Claims (35)

1. Устройство для детектирования вещества, отличающееся тем, что содержит:
- средства (3; 3') групповой подачи, предназначенные для подачи нескольких предметов (2; 2') в зону детектирования (D);
- по меньшей мере один источник (8; 10, 20; 40) света, каждый из которых имеет фокусирующий элемент и предназначен для отправки света в соответствующем первом направлении (I1; I2) для освещения по меньшей мере одного предмета (2; 2'), движущегося в плоскости (Р-Р) предмета в зоне детектирования (D); и
- первое анализирующее свет устройство (4), предназначенное для считывания света, излученного из указанного по меньшей мере одного источника света и прошедшего через предмет, и для установления количества света, полученного от указанного по меньшей мере одного источника света,
причем указанное первое анализирующее свет устройство (4) предназначено для считывания света (TD1; TD12), имеющего направление в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства (4), и причем указанное соответствующее первое направление отличается от направлений в пределах поля обзора указанного первого анализирующего свет устройства (4).
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что средства (3) групповой подачи предназначены для подачи предметов (2) в зону (D) детектирования случайным образом.
3. Устройство по любому из предыдущих пунктов, отличающееся тем, что по меньшей мере один источник (10; 20) света расположен в первом фокусе (f1; f2) отражателя (12; 22) в форме усеченного эллипсоида, и отражатель расположен таким образом, что второй фокус (f'1; f'2) отражателя в форме усеченного эллипсоида совпадает с плоскостью (Р-Р) предмета.
4. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что по меньшей мере один источник света содержит один или несколько светоизлучающих диодов (светодиодов).
5. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что по меньшей мере один источник (40) света дополнительно содержит по меньшей мере одну линзу, которая может фокусировать свет в плоскости предмета (Р-Р).
6. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что источник света и первое анализирующее свет устройство расположены с противоположных сторон плоскости (Р-Р) предмета.
7. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что первый источник (10) света расположен симметрично второму источнику (20) света относительно центральной оси (С).
8. Устройство по п. 7, отличающееся тем, что второе анализирующее свет устройство (5) расположено с противоположной стороны плоскости (Р-Р) предмета относительно первого анализирующего свет устройства (4) и предназначено для приема отраженного света (R1, 2) от предмета, полученного в результате из света (I1, I2), отправленного от соответствующих первого и второго источников света.
9. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что дополнительно содержит по меньшей мере третий источник (30, 63) света, расположенный по ту же сторону от плоскости (Р-Р) предмета, что и первое анализирующее свет устройство (4), и предназначенный для облучения предмета светом (I3), отраженным (R3) на первое анализирующее свет устройство (4).
10. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что анализирующее свет устройство (4, 5) содержит систему спектроскопии или систему гиперспектральной камеры.
11. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что по меньшей мере один источник света представляет собой импульсный источник (40) света, предназначенный для отправки пульсирующего света (L') в зону детектирования.
12. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что дополнительно содержит средство (45) управления светом, обеспеченное и предназначенное для отправки пульсирующего света (L') в зону детектирования управляемым образом.
13. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что средства (3) групповой подачи представляют собой вибрационный питатель или конвейерную ленту, факультативно в сочетании с желобом, посредством которых обеспечивается падение предметов через зону (D) детектирования.
14. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что средства групповой подачи представляют собой полупрозрачную конвейерную ленту (3'), проходящую в зону (D) детектирования и предназначенную по меньшей мере для частичной поддержки предмета (2; 2') в зоне детектирования.
15. Устройство по п. 14, отличающееся тем, что конвейерная лента (3') включает конвейерную ленту из проволочной сетки или две конвейерные ленты, разделенные промежутком.
16. Система для сортировки предметов, отличающаяся тем, что содержит устройство по п. 1 или 2 и выталкивающее устройство (9), предназначенное для управляемого и избирательного выталкивания предмета из системы, исходя из свойств света, полученного первым анализирующим свет устройством.
17. Способ определения параметра по меньшей мере одного предмета (2; 2'), включающий этапы:
i) обеспечения перемещения предмета в плоскости (Р-Р) в зоне (D) детектирования;
ii) освещения предмета падающим светом;
iii) детектирования света, прошедшего через предмет и падающего в плоскости (Т) измерения; и
iv) определения специфического для предмета параметра на основании детектированного проходящего света, падающего в плоскости (Т) измерения.
18. Способ определения параметра по меньшей мере одного предмета (2; 2'), включающий этапы:
i) обеспечения перемещения предмета в плоскости (Р-Р) в зоне детектирования (D);
ii) освещения предмета падающим светом, имеющим первое направление, который излучается по меньшей мере от одного источника света;
iii) детектирования и идентификации света, поступающего от указанного по меньшей мере одного источника света и проходящего через предмет, причем указанный свет имеет второе направление, отличающееся от указанного первого направления; и
iv) определения специфического для предмета параметра на основании детектированного проходящего света.
19. Способ по п. 17 или 18, отличающийся тем, что движение на этапе i) включает свободное падение.
20. Способ по п. 17 или 18, отличающийся тем, что движение на этапе i) осуществляют посредством конвейерной ленты (3').
21. Способ по п. 17 или 18, отличающийся тем, что этап освещения включает отправку пульсирующего света (L') в направлении зоны детектирования; и этап детектирования дополнительно включает детектирование окружающего света (А) в течение промежутков времени, в которые свет не отправляют в направлении зоны детектирования.
22. Способ по п. 17 или 18, отличающийся тем, что специфический для предмета параметр может представлять собой один или несколько параметров из списка, содержащего: содержание сахара, кислотность, спелость, наличие гнили, наличие механических повреждений, присутствие постороннего вещества, присутствие кости.
23. Способ по п. 17 или 18, отличающийся тем, что предмет сортируют, исходя из специфического для предмета параметра, определенного на этапе iv).
RU2016119150A 2013-11-01 2014-11-03 Способ и устройство для детектирования вещества RU2664261C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP13191270 2013-11-01
EP13191270.1 2013-11-01
PCT/EP2014/073577 WO2015063299A1 (en) 2013-11-01 2014-11-03 Method and apparatus for detecting matter

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2016119150A RU2016119150A (ru) 2017-12-06
RU2016119150A3 RU2016119150A3 (ru) 2018-05-25
RU2664261C2 true RU2664261C2 (ru) 2018-08-15

Family

ID=49546262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016119150A RU2664261C2 (ru) 2013-11-01 2014-11-03 Способ и устройство для детектирования вещества

Country Status (16)

Country Link
US (1) US11724286B2 (ru)
EP (1) EP3063531B1 (ru)
JP (2) JP6711755B2 (ru)
CN (1) CN105874322B (ru)
AU (1) AU2014343596B2 (ru)
BR (1) BR112016009483B1 (ru)
CA (1) CA2928875C (ru)
CL (1) CL2016001042A1 (ru)
ES (1) ES2940563T3 (ru)
MX (1) MX366016B (ru)
PE (1) PE20161079A1 (ru)
PL (1) PL3063531T3 (ru)
RU (1) RU2664261C2 (ru)
SA (1) SA516371041B1 (ru)
UA (1) UA121201C2 (ru)
WO (1) WO2015063299A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2814069C2 (ru) * 2019-04-19 2024-02-21 Сэн-Гобэн Изовер Способ обнаружения стеклокерамики

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3757545B1 (en) * 2016-02-24 2023-03-01 TOMRA Sorting NV Method and apparatus for the detection of acrylamide precursors in raw potatoes
FR3048369B1 (fr) * 2016-03-01 2018-03-02 Pellenc Selective Technologies Machine et procede d'inspection d'objets defilant en flux
EP3242124A1 (en) * 2016-05-03 2017-11-08 TOMRA Sorting NV Detection of foreign matter in animal products
NL2017071B1 (nl) * 2016-06-29 2018-01-05 De Greef's Wagen- Carrosserie- En Machb B V Meetinrichting voor het meten van producten en werkwijze daarvoor
CN106872362B (zh) * 2017-01-18 2023-12-12 浙江大学 用于可见近红外光谱检测的led光源装置及其应用
FR3063542A1 (fr) * 2017-03-01 2018-09-07 Maf Agrobotic Procede et dispositif d'analyse optique de fruits ou legumes et dispositif de tri automatique
CA3062709A1 (en) 2017-05-11 2018-11-15 6511660 Canada Inc. Systems and methods for spectral identification and optical sorting of materials
CA3083095A1 (en) * 2017-11-21 2019-05-31 Fulfil Solutions, Inc. Product handling and packaging system
AU2020211063A1 (en) 2019-01-24 2021-09-16 Blue Cube Technology (Pty) Ltd Obtaining data from a moving particulate product
US11275069B2 (en) 2019-07-10 2022-03-15 Mettler-Toledo, LLC Detection of non-XR/MD detectable foreign objects in meat
US20230213443A1 (en) 2020-06-08 2023-07-06 Tomra Sorting Gmbh Apparatus for detecting matter
JP2022027631A (ja) 2020-07-30 2022-02-10 キヤノン株式会社 画像形成装置及び画像形成システム
JPWO2022044162A1 (ru) * 2020-08-26 2022-03-03
CN116380814A (zh) * 2021-06-23 2023-07-04 长江师范学院 基于视觉识别的脆李成熟度检测设备
US20230138374A1 (en) * 2021-11-01 2023-05-04 Tianjin University Of Commerce Sorting-based garbage classification method and device
JP2023069314A (ja) * 2021-11-05 2023-05-18 ウシオ電機株式会社 光測定方法および光測定装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1986003434A1 (en) * 1984-12-08 1986-06-19 Hukuzi Hayashi Rice sorting apparatus
US5013906A (en) * 1988-09-13 1991-05-07 Fujitsu Automation Limited Fish sex discrimination equipment and method
JPH0929184A (ja) * 1995-07-18 1997-02-04 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd ガラス瓶の色識別装置
JP2001116701A (ja) * 1999-08-25 2001-04-27 Spectra Science 非破壊果実選別機
RU2264708C2 (ru) * 2001-04-17 2005-11-27 Эмбрекс, Инк. Способ обработки яиц (варианты)
JP2009226248A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Naohiro Tanno プラスチックペレット選別機

Family Cites Families (62)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE788990A (fr) * 1971-09-23 1973-03-19 Lilly Co Eli Systeme optique de controle de capsules
US4558786A (en) * 1983-06-15 1985-12-17 Marvin M. Lane Electro-optical sorter
GB2142426B (en) * 1983-06-30 1986-09-17 Gunsons Sortex Ltd Sorting machine and method
JPH0799326B2 (ja) * 1986-08-30 1995-10-25 株式会社マキ製作所 球塊状物品の外観検査方法と装置
US5206699A (en) * 1988-05-06 1993-04-27 Gersan Establishment Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
JPH04369439A (ja) * 1991-06-17 1992-12-22 Fujitsu Ltd 黒体
JPH05133883A (ja) * 1991-11-12 1993-05-28 Shizuoka Seiki Co Ltd 籾米の品質判定方法
JP3248635B2 (ja) * 1993-01-22 2002-01-21 サンクス株式会社 半透明シート状物体の検査装置
US5352888A (en) * 1993-04-26 1994-10-04 Esm International, Inc. Method and apparatus for detecting and utilizing frame fill information in a sorting machine having a background and a color sorting band of light
IES940593A2 (en) 1994-07-25 1996-02-07 Oseney Ltd Optical inspection system
JPH09196854A (ja) 1996-01-24 1997-07-31 Iseki & Co Ltd 穀粒の検出装置
JP3109728B2 (ja) * 1996-05-22 2000-11-20 東洋製罐株式会社 林檎の内部品質検査装置
US5884775A (en) * 1996-06-14 1999-03-23 Src Vision, Inc. System and method of inspecting peel-bearing potato pieces for defects
US5808305A (en) 1996-10-23 1998-09-15 Src Vision, Inc. Method and apparatus for sorting fruit in the production of prunes
US6056127A (en) * 1996-10-28 2000-05-02 Sortex Limited Delivery system for sorting apparatus
US6191859B1 (en) * 1996-10-28 2001-02-20 Sortex Limited Optical systems for use in sorting apparatus
JPH10154794A (ja) 1996-11-26 1998-06-09 Sony Corp 半導体集積回路素子
JPH1190346A (ja) 1997-09-24 1999-04-06 Kubota Corp 不良検出装置及び不良物除去装置
US6646218B1 (en) * 1999-03-29 2003-11-11 Key Technology, Inc. Multi-band spectral sorting system for light-weight articles
JP2000292359A (ja) 1999-04-02 2000-10-20 Hisaichi Shibazaki 青果物の内部品質検査方法及びその装置
US6512577B1 (en) * 2000-03-13 2003-01-28 Richard M. Ozanich Apparatus and method for measuring and correlating characteristics of fruit with visible/near infra-red spectrum
EP1285268B1 (en) * 2000-05-29 2004-01-07 FPS Food Processing Systems B.V. Detection system for sorting apparatus
FR2822235B1 (fr) 2001-03-19 2004-10-22 Pellenc Sa Dispositif et procede d'inspection automatique d'objets defilant en flux sensiblement monocouche
DE10128557A1 (de) * 2001-06-14 2002-12-19 Nexpress Solutions Llc Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung eines lichtundurchlässigeren Gebietes oder Objektes mittels einer Lichtschranke
US7041926B1 (en) * 2002-05-22 2006-05-09 Alan Richard Gadberry Method and system for separating and blending objects
AU2003245326A1 (en) * 2002-05-28 2003-12-19 Satake Usa, Inc. Illumination source for sorting machine
US7763820B1 (en) * 2003-01-27 2010-07-27 Spectramet, Llc Sorting pieces of material based on photonic emissions resulting from multiple sources of stimuli
JP4438358B2 (ja) * 2003-09-04 2010-03-24 株式会社サタケ 表示調整機構を具えた粒状物色彩選別機
GB0322043D0 (en) * 2003-09-20 2003-10-22 Qinetiq Ltd Apparatus for,and method of,classifying objects in waste stream
US7564943B2 (en) * 2004-03-01 2009-07-21 Spectramet, Llc Method and apparatus for sorting materials according to relative composition
CN2733343Y (zh) 2004-05-12 2005-10-12 严衍禄 果蔬类农产品内部非破坏性整体分析装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2007033273A (ja) * 2005-07-27 2007-02-08 Mayekawa Mfg Co Ltd 白色系食品の異物検出装置
JP2007171027A (ja) 2005-12-22 2007-07-05 Toshiba Corp 光学検査方法およびこれに用いる光学検査装置
FR2895688B1 (fr) * 2005-12-30 2010-08-27 Pellenc Selective Technologies Procede et machine automatiques d'inspection et de tri d'objets non metalliques
UA15857U (en) 2006-02-03 2006-07-17 Kyiv Polytechnical Institute Device for measuring parameters of sheet materials
JP4746449B2 (ja) 2006-03-08 2011-08-10 株式会社東芝 紙葉類検査装置
US7851722B2 (en) * 2006-06-15 2010-12-14 Satake Corporation Optical cracked-grain selector
JP5007933B2 (ja) 2006-06-15 2012-08-22 株式会社サタケ 光学式胴割選別機
US20130056398A1 (en) * 2006-12-08 2013-03-07 Visys Nv Apparatus and method for inspecting and sorting a stream of products
WO2008122051A1 (en) * 2007-04-02 2008-10-09 Acoustic Cytometry Systems, Inc. Methods and devices for enhanced analysis of field focused cells and particles
JP4906583B2 (ja) * 2007-05-15 2012-03-28 株式会社日本自動車部品総合研究所 燃料性状検出装置
ES2456315T3 (es) * 2007-09-03 2014-04-22 Tomra Sorting Nv Dispositivo de clasificación con una fuente de radiación supercontinua y un método asociado
WO2009067622A1 (en) * 2007-11-20 2009-05-28 Monsanto Technology Llc Automated systems and assemblies for use in evaluating agricultural products and methods therefor
JP5093061B2 (ja) 2008-11-10 2012-12-05 三菱電機株式会社 プラスチックの選別方法およびプラスチックの選別装置
JP2010210355A (ja) 2009-03-09 2010-09-24 Kobe Univ 近赤外線分光法を用いた野菜等の成分の非破壊計測法および非破壊計測装置
US20100230330A1 (en) * 2009-03-16 2010-09-16 Ecullet Method of and apparatus for the pre-processing of single stream recyclable material for sorting
WO2010124347A1 (en) 2009-05-01 2010-11-04 Xtralis Technologies Ltd Improvements to particle detectors
US8253054B2 (en) * 2010-02-17 2012-08-28 Dow Agrosciences, Llc. Apparatus and method for sorting plant material
US8687055B2 (en) 2010-03-16 2014-04-01 Eli Margalith Spectral imaging of moving objects with a stare down camera
CN103210296B (zh) * 2010-06-01 2016-08-10 阿克莱机械公司 检查***
AT12076U1 (de) * 2010-07-27 2011-10-15 Evk Di Kerschhaggl Gmbh Verfahren, sensoreinheit und maschine zum detektieren von ''zuckerspitzen''-defekten in kartoffeln
DE102010046433B4 (de) 2010-09-24 2012-06-21 Grenzebach Maschinenbau Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Fehlstellen in kontinuierlich erzeugtem Float-Glas
US8941062B2 (en) * 2010-11-16 2015-01-27 1087 Systems, Inc. System for identifying and sorting living cells
US8829396B2 (en) * 2010-11-30 2014-09-09 Tp Solar, Inc. Finger drives for IR wafer processing equipment conveyors and lateral differential temperature profile methods
US8283589B2 (en) * 2010-12-01 2012-10-09 Key Technology, Inc. Sorting apparatus
JP2012242340A (ja) 2011-05-24 2012-12-10 Mitsubishi Engineering Plastics Corp 赤外線フィルター用ポリカーボネート樹脂の良否判定方法
GB2492358A (en) * 2011-06-28 2013-01-02 Buhler Sortex Ltd Optical sorting and inspection apparatus
GB2492359A (en) * 2011-06-28 2013-01-02 Buhler Sortex Ltd Inspection apparatus with alternate side illumination
NO336441B1 (no) 2012-01-24 2015-08-17 Tomra Sorting As Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie
JP6088770B2 (ja) * 2012-04-20 2017-03-01 国立大学法人広島大学 穀粒成分分析装置および穀粒成分分析方法
NO2700456T3 (ru) * 2012-08-24 2018-02-24

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1986003434A1 (en) * 1984-12-08 1986-06-19 Hukuzi Hayashi Rice sorting apparatus
US5013906A (en) * 1988-09-13 1991-05-07 Fujitsu Automation Limited Fish sex discrimination equipment and method
JPH0929184A (ja) * 1995-07-18 1997-02-04 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd ガラス瓶の色識別装置
JP2001116701A (ja) * 1999-08-25 2001-04-27 Spectra Science 非破壊果実選別機
RU2264708C2 (ru) * 2001-04-17 2005-11-27 Эмбрекс, Инк. Способ обработки яиц (варианты)
JP2009226248A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Naohiro Tanno プラスチックペレット選別機

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2814069C2 (ru) * 2019-04-19 2024-02-21 Сэн-Гобэн Изовер Способ обнаружения стеклокерамики

Also Published As

Publication number Publication date
PE20161079A1 (es) 2016-11-17
CA2928875C (en) 2023-06-20
RU2016119150A3 (ru) 2018-05-25
BR112016009483A2 (ru) 2017-08-01
RU2016119150A (ru) 2017-12-06
SA516371041B1 (ar) 2020-12-24
PL3063531T3 (pl) 2023-06-19
JP2020129008A (ja) 2020-08-27
JP7091388B2 (ja) 2022-06-27
CL2016001042A1 (es) 2016-11-25
JP2016537646A (ja) 2016-12-01
AU2014343596A1 (en) 2016-05-12
CN105874322A (zh) 2016-08-17
US11724286B2 (en) 2023-08-15
CA2928875A1 (en) 2015-05-07
MX366016B (es) 2019-06-24
WO2015063299A1 (en) 2015-05-07
UA121201C2 (uk) 2020-04-27
AU2014343596B2 (en) 2019-04-04
EP3063531B1 (en) 2022-12-21
US20160263624A1 (en) 2016-09-15
JP6711755B2 (ja) 2020-06-17
BR112016009483B1 (pt) 2021-07-06
EP3063531A1 (en) 2016-09-07
ES2940563T3 (es) 2023-05-09
MX2016005635A (es) 2016-10-28
CN105874322B (zh) 2019-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2664261C2 (ru) Способ и устройство для детектирования вещества
US7982876B2 (en) Apparatus and method for inspecting a stream of matter by light scattering inside the matter
JP2003527594A (ja) 可視光線スペクトル／近赤外線スペクトルにより果物の特性を測定し、相互に関連付けるための装置および方法
EP3210677B1 (en) Method and apparatus for the detection of acrylamide precursors in raw potatoes
AU5251100A (en) Side multiple-lamp on-line inside quality inspecting device
US20090185164A1 (en) Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
KR100381144B1 (ko) 비파괴 과일 선별장치
US11249030B2 (en) Product inspection and characterization device
WO2018044327A1 (en) Food inspection systems and methods
CN109313077B (zh) 包括多个光导的检测器***和包括检测器***的光谱仪
US20230152240A1 (en) Inspection system for quality analysis of a product to be inspected
Bee et al. Optical sorting systems
Bee et al. Colour sorting in the food industry
CA3220259A1 (en) Method and apparatus for inspecting full containers