RU2660121C1 - Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем - Google Patents

Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем Download PDF

Info

Publication number
RU2660121C1
RU2660121C1 RU2017131746A RU2017131746A RU2660121C1 RU 2660121 C1 RU2660121 C1 RU 2660121C1 RU 2017131746 A RU2017131746 A RU 2017131746A RU 2017131746 A RU2017131746 A RU 2017131746A RU 2660121 C1 RU2660121 C1 RU 2660121C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
crystal
crystals
level
installation
adhesive
Prior art date
Application number
RU2017131746A
Other languages
English (en)
Inventor
Антон Алексеевич Пухов
Original Assignee
Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") filed Critical Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы")
Priority to RU2017131746A priority Critical patent/RU2660121C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2660121C1 publication Critical patent/RU2660121C1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0495Mounting of components, e.g. of leadless components having a plurality of work-stations

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

Изобретение относится к способам, предназначенным для позиционирования, размещения и монтажа частей интегральной схемы в корпусе, а именно прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС) с установкой кристалла на кристалл, и может быть использовано в ракетно-космическом и наземном приборостроении. Технический результат – повышение точности и качества монтажа многокристальных сборок. Это достигается тем, что в способе прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем с установкой кристалла на кристалл последовательно позиционируют полупроводниковые кристаллы ручным методом с помощью графических цифровых линеек. Обеспечивается повышение точности и качества монтажа многокристальных сборок. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

Description

Изобретение относится к способам, предназначенным для позиционирования, размещения и монтажа частей интегральной схемы в корпусе, а именно прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС) с установкой кристалла на кристалл, и может быть использовано в ракетно-космическом приборостроении.
Из уровня техники известен способ изготовления вертикальных контактных структур на полупроводниковых пластинах или печатных платах (см. RU 2600514 C1, 20.10.2016) (1), который может быть использован при высокоплотном монтаже полупроводниковых кристаллов на различные платы с большим количеством контактных межсоединений, а также при 3D-монтаже кристалла на кристалл. Изобретение обеспечивает монтаж кристаллов за счет изготовления вертикальных контактных структур. Таким образом, при изготовлении многокристальных сборок интегральных схем (ИС) с установкой кристалла на кристалл трудоемкость монтажа кристаллов уменьшатся, но увеличивается сложность изготовления корпуса интегральной схемы (ИС), что является недостатком способа (1).
Из уровня техники также известен, выбранный в качестве наиболее близкого аналога, способ монтажа полупроводниковых кристаллов, и устройство для его осуществления (см. WO 2009096454, 06.08.2000) (2), в котором выравнивание и монтаж полупроводникового чипа производится по специальным меткам на корпусе, при сохранении соотношения между отдельными кристаллами, остальные кристаллы притягивают вакуумным инструментом и позиционируют на корпусе, второй уровень кристаллов позиционируется по первому также при сохранении расстояния между кристаллами.
Недостатком выбранного в качестве наиболее близкого аналога способа (2) является то, при упрощении монтажа кристаллов за счет предварительно нанесенных меток усложняется предварительная подготовка корпуса, одновременно снижается универсальность использования корпуса для дальнейшего применения, а также снижается качество и точность позиционирования кристаллов, поскольку они зависят от точности предварительной разметки.
Техническим результатом заявленного изобретения является повышение точности и качества монтажа многокристальных сборок.
Технический результат достигается за счет создания способа прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС) с установкой кристалла на кристалл, который включает градуировку графических цифровых линеек устройства для установки кристаллов в корпус при помощи линейки с точностью шкалы до 10 мкм, установку ширины первой пары графических цифровых линеек, равной необходимому расстоянию между колодцем корпуса ИС и кристаллом, установку ширины второй пары последующих пар графических цифровых линеек, количество которых соответствует количеству уровней кристаллов многокристальной сборки, равной необходимому смещению последующего уровня кристаллов относительно предыдущего по осям Х и У соответственно, установку корпуса с нанесенным адгезивом с совмещением его сторон с наружными частями графической цифровой линейки при помощи блока из двух видеокамер, позволяющего просматривать монтируемую интегральную схему с двух сторон, далее осуществляют подъем кристалла с помощью пластикового или резинового инструмента за лицевую часть кристалла в ручном режиме, выравнивают кристалл с помощью блока камер по внутренней стороне графических цифровых линеек, выполняют монтаж кристалла на адгезив, аналогично выполняют монтаж оставшихся кристаллов первого уровня, производят полимеризацию адгезива, наносят адгезив на лицевую часть уже установленных кристаллов первого уровня, в ручном режиме производят подъем следующего кристалла для второго уровня, выполняя все действия так же, как для кристалла первого уровня, при этом кристалл выравнивают с помощью графических линеек относительно сторон кристалла первого уровня, установленного ранее, выполняют монтаж кристалла, аналогично устанавливают оставшиеся кристаллы второго уровня и последующих уровней, проводя после монтажа каждого уровня полимеризацию адгезива.
В частном варианте выполнения подъем кристалла за лицевую часть осуществляют из происпособления, в котором все кристаллы, необходимые для сборки, размещены в одной плоскости, которое устанавливается на устройство для установки кристаллов перед монтажом.
Заявленный способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС) проиллюстрирован следующими изображениями.
Фиг.1 - блок-схема способа прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС).
Фиг.2 - схема позиционирования полупроводниковых кристаллов и корпуса.
Фиг.3 - общий вид многокристальной сборки интегральной схемы.
На фиг.1-3:
1 - контактные площадки корпуса,
2 - графические цифровые линейки,
3 - обратная сторона кристалла (один из четырех углов).
Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем (ИС) с установкой кристалла на кристалл осуществляется следующим образом: производят предварительный запуск устройства для установки кристаллов в корпус и компьютера, подключают блок из двух видеокамер, позволяющий просматривать монтируемую интегральную схему с двух сторон, создают две графические цифровые линейки по осям Х и У. При помощи ГОСТированной линейки с градацией шкалы до 10 мкм и камеры установки устанавливают ширину первой пары графических цифровых линеек, равную необходимому расстоянию от края колодца корпуса до кристалла и ширину второй пары и последующих пар графических цифровых линеек, количество которых соответствует количеству уровней кристаллов многокристальной сборки, равной расстоянию сдвига одного уровня кристаллов относительно другого (по осям Х и У соответственно).
Далее устанавливают на устройство металлокерамический корпус с нанесенным адгезивом и кристаллы в приспособлении, в котором все кристаллы, необходимые для сборки, размещены в одной плоскости. Выравнивают корпус на рабочем столике установки с помощью наружного края первой пары графических цифровых линеек и блока видеокамер, осуществляют подъем кристаллов с помощью пластикового или резинового инструмента за лицевую часть кристалла, в ручном режиме производят подъем первого кристалла, подводят блок камеры под кристалл. На экране будет виден угол кристалла с обратной стороны. С помощью двух камер установки необходимо совместить углы колодца корпуса с углами кристалла, используя соответственно первую пару графических цифровых линеек для отступа кристалла от стороны колодца корпуса. Опираясь на первую пару графических цифровых линеек, выравнивают стороны кристалла относительно сторон колодца корпуса, выполняют монтаж кристалла на адгезив, аналогично выполняют монтаж нижних оставшихся кристаллов (если их более 1-го), производят полимеризацию адгезива, наносят адгезив на лицевую часть уже установленных кристаллов первого уровня.
Для монтажа кристаллов второго уровня в ручном режиме производят подъем следующего кристалла, выполняют все действия аналогично описанным ранее, только на данном этапе кристалл выравнивают с помощью второй пары графических цифровых линеек 5 относительно сторон кристалла первого уровня, установленного ранее. Выполняют монтаж кристалла, аналогично устанавливают оставшиеся кристаллы второго уровня и последующих уровней. Проводят после монтажа каждого уровня полимеризацию адгезива, выключают установку.
Для проведения экспериментальных исследований использовался металлокерамический корпус (все открытые металлизированные поверхности и металлические части основания корпуса имеют антикоррозионное золотое покрытие) и 16 крупных полупроводниковых кристаллов (кремний, арсенид галлия), кристаллы устанавливались в четыре уровня, соответственно по четыре кристалла на каждый уровень. Для установки кристаллов использовались две пары графических цифровых линеек, так как расстояние между колодцем корпуса и первым уровнем кристаллов (1500 мкм), а также между кристаллами разного уровня (350 мкм) было различно. Таким образом, величины пар графических цифровых линеек устанавливались равными 1500 и 350 мкм. Операции способа осуществлялись в соответствии с блок-схемой (фиг.1).
При монтаже способом кристалл на кристалл необходимо устанавливать кристаллы с прецизионным смещением по 2-м сторонам, соблюдая параллельность всех сторон, в обратном случае на последующей операции микросварки возникнут сложности, в худшем случае – электрод сварочной установки вообще не сможет произвести микросварку.
Данное изобретение позволяет производить высокоточный монтаж кристаллов в крупные металлокерамические корпуса, а также позволяет вести монтаж кристаллов на уже установленный кристалл (более 2-х кристаллов).
В результате была собрана интегральная специализированная микросхема, на которой в дальнейшем было выполнено 1600 микросоединений алюминиевой проволокой.
Таким образом, заявленное изобретение является универсальным решением и позволяет с высокой точностью производить монтаж кристаллов разных размеров как друг на друга, так и точно позиционировать отдельные кристаллы относительно колодца корпуса в ручном режиме.
Результаты монтажа данным способом подтвердили качество и точность посадки кристаллов, тем самым положительно оценив эффективность и целесообразность применения заявленного изобретения для создания радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической техники, а также в тех областях техники, где предъявляются высокие требования к качеству сборки, не ограничиваясь данной областью применения.

Claims (2)

1. Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем с установкой кристалла на кристалл, включающий градуировку графических цифровых линеек устройства для установки кристаллов в корпус при помощи линейки с градацией шкалы до 10 мкм, установку ширины первой пары графических цифровых линеек равной необходимому расстоянию между колодцем корпуса интегральной схемы и кристаллом, установку ширины второй и последующих пар графических цифровых линеек, количество которых соответствует количеству уровней кристаллов многокристальной сборки, равной необходимому смещению последующего уровня кристаллов относительно предыдущего по осям Х и У соответственно, установку корпуса с нанесенным адгезивом с совмещением его сторон с наружными частями первой пары графических цифровых линеек, при помощи блока из двух видеокамер, позволяющего просматривать монтируемую интегральную схему с двух сторон, далее осуществляют подъем кристалла с помощью пластикового или резинового инструмента за лицевую часть кристалла в ручном режиме, выравнивают кристалл с помощью блока камер по внутренней стороне первой пары графических цифровых линеек, выполняют монтаж кристалла на адгезив, аналогично выполняют монтаж оставшихся кристаллов первого уровня, производят полимеризацию адгезива, наносят адгезив на лицевую часть уже установленных кристаллов первого уровня, в ручном режиме производят подъем следующего кристалла для второго уровня, выполняя все действия так же, как для кристалла первого уровня, при этом кристалл выравнивают с помощью второй пары графических линеек относительно сторон кристалла первого уровня, установленного ранее, выполняют монтаж кристалла, аналогично устанавливают оставшиеся кристаллы второго уровня и последующих уровней, проводя после монтажа каждого уровня полимеризацию адгезива.
2.     Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем по п.1, отличающийся тем, что подъем кристалла за лицевую часть осуществляют из приспособления, в котором все кристаллы, необходимые для сборки, размещены в одной плоскости, которое устанавливается на устройство для установки кристаллов перед монтажом.
RU2017131746A 2017-09-12 2017-09-12 Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем RU2660121C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017131746A RU2660121C1 (ru) 2017-09-12 2017-09-12 Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017131746A RU2660121C1 (ru) 2017-09-12 2017-09-12 Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2660121C1 true RU2660121C1 (ru) 2018-07-05

Family

ID=62815360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017131746A RU2660121C1 (ru) 2017-09-12 2017-09-12 Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2660121C1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2705229C1 (ru) * 2019-03-05 2019-11-06 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Петрозаводский государственный университет" Способ трехмерного многокристального корпусирования интегральных микросхем памяти
RU2748393C1 (ru) * 2020-08-17 2021-05-25 Акционерное общество «Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем» (АО «Российские космические системы») Способ сборки гибридных многокристальных модулей
CN116741668B (zh) * 2023-06-15 2024-02-02 江苏东海半导体股份有限公司 一种集成电路的多芯片封装定位装置及其工作方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2314598C1 (ru) * 2006-04-21 2008-01-10 Юрий Дмитриевич Сасов Способ изготовления полимерного электронного модуля
WO2009096454A1 (ja) * 2008-01-30 2009-08-06 Toray Engineering Co., Ltd. チップ搭載方法およびチップ搭載装置
EA014277B1 (ru) * 2008-12-02 2010-10-29 Александр Иванович Таран Способ совмещения элементов многокристальных модулей для капиллярной сборки и установка для его реализации
JP2014017313A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Panasonic Corp 部品実装装置
RU2600514C1 (ru) * 2015-06-01 2016-10-20 Открытое акционерное общество "Институт точной технологии и проектирования" Способ изготовления вертикальных контактных структур на полупроводниковых пластинах или печатных платах

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2314598C1 (ru) * 2006-04-21 2008-01-10 Юрий Дмитриевич Сасов Способ изготовления полимерного электронного модуля
WO2009096454A1 (ja) * 2008-01-30 2009-08-06 Toray Engineering Co., Ltd. チップ搭載方法およびチップ搭載装置
EA014277B1 (ru) * 2008-12-02 2010-10-29 Александр Иванович Таран Способ совмещения элементов многокристальных модулей для капиллярной сборки и установка для его реализации
JP2014017313A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Panasonic Corp 部品実装装置
RU2600514C1 (ru) * 2015-06-01 2016-10-20 Открытое акционерное общество "Институт точной технологии и проектирования" Способ изготовления вертикальных контактных структур на полупроводниковых пластинах или печатных платах

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2705229C1 (ru) * 2019-03-05 2019-11-06 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Петрозаводский государственный университет" Способ трехмерного многокристального корпусирования интегральных микросхем памяти
RU2748393C1 (ru) * 2020-08-17 2021-05-25 Акционерное общество «Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем» (АО «Российские космические системы») Способ сборки гибридных многокристальных модулей
CN116741668B (zh) * 2023-06-15 2024-02-02 江苏东海半导体股份有限公司 一种集成电路的多芯片封装定位装置及其工作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2660121C1 (ru) Способ прецизионного монтажа многокристальных сборок интегральных схем
CN109870883A (zh) 一种用于直写式曝光机的标定板的位置补偿方法
WO2007013884A3 (en) Determining film stress from substrate shape using finite element procedures
JP2017166926A (ja) 磁気センサおよびその製造方法
US20120159782A1 (en) Optical alignment module utilizing transparent reticle to facilitate tool calibration during high temperature process
CN104078404A (zh) 电子部件的制造装置及其制造方法
CN106154768A (zh) 一种基于掩模板的集成电路基板二次曝光方法
CN102692820A (zh) 一种测量投影物镜畸变的装置及方法
CN102466977A (zh) 用于测量投影物镜畸变的标记结构及方法
US20210082870A1 (en) Shift control method in manufacture of semiconductor device
CN107884963A (zh) 电路板的制作方法及显示装置
KR20190135422A (ko) 부품 실장 장치를 교정하기 위한 방법
KR20100047173A (ko) Mems 장치 및 mems 조립 방법
JPH04234141A (ja) Tabフレームおよびその基板への接続方法
US6954272B2 (en) Apparatus and method for die placement using transparent plate with fiducials
KR100428510B1 (ko) 광학 시스템을 이용한 정밀 위치 제어 장치 및 방법
JP2007250868A (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置
CN106682413B (zh) 表贴集成电路引线基面的确定方法
JPH1154418A (ja) 信号波形補正方法および装置
Nesterenko et al. Influence of technological process for microelectromechanical sensors manufacturing on their technical characteristics
RU2773807C1 (ru) Способ изготовления микромодуля
JPH06334022A (ja) 半導***置決め方法
CN110191567B (zh) 使用物理对准标记和虚拟对准标记进行对准
Videkov et al. New assembling technique for BGA packages without thermal processes
Müller et al. Influence of absorber stress on the precision of x‐ray masks