RU2591253C1 - Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента - Google Patents

Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента Download PDF

Info

Publication number
RU2591253C1
RU2591253C1 RU2015116782/28A RU2015116782A RU2591253C1 RU 2591253 C1 RU2591253 C1 RU 2591253C1 RU 2015116782/28 A RU2015116782/28 A RU 2015116782/28A RU 2015116782 A RU2015116782 A RU 2015116782A RU 2591253 C1 RU2591253 C1 RU 2591253C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ions
crystal
erbium
laser
active
Prior art date
Application number
RU2015116782/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Елена Валерьевна Строганова
Валерий Викторович Галуцкий
Николай Николаевич Налбантов
Александр Алексеевич Цема
Николай Андреевич Яковенко
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "КубГУ")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "КубГУ") filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "КубГУ")
Priority to RU2015116782/28A priority Critical patent/RU2591253C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2591253C1 publication Critical patent/RU2591253C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Lasers (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области лазерной техники и касается монокристаллического материала с неоднородным распределением оптических примесей по заданному закону вдоль активного лазерного элемента со следующей структурной формулой:
Figure 00000016
где
Figure 00000017
Figure 00000018
Figure 00000019
где z - пространственная координата, направленная вдоль длины кристалла и определяющая изменение концентрационного профиля ионов эрбия и иттербия, в системе отсчета, берущей начало на входной грани активного элемента, и имеющая значения от 0 до 1 см. Технический результат заключается в повышении эффективности продольной накачки активного лазерного элемента. 5 ил., 1 табл.

Description

Изобретение относится к материалам для лазерной техники, в частности для твердотельных лазеров с диодной накачкой.
Источники когерентного оптического излучения в диапазоне длин волн 1,5-1,6 мкм находят ряд применений в производстве телекоммуникационных (третье окно прозрачности кварцевых волокон, окно прозрачности атмосферы) и медицинских приборов (офтальмология). Для технических задач, требующих высокой стабильности генерационных параметров лазера и качества выходного пучка излучения, вместо широко распространенных лазерных диодов и активированных эрбием фторидных стекол применяют монокристаллические активные элементы.
Среди лазерных кристаллов, на которых реализована генерация в диапазоне длин волн 1,5-1,6 мкм, известны активные элементы на основе фторида магния (MgF2) с примесями двухвалентных ионов никеля, кобальта и ванадия [Moulton P.F. IEEE J. Quantum Electron, 1982, V. 18, p. 1185]. Они обладают широкой спектральной полосой усиления (1,2-1,8 мкм), однако эффективная генерация может быть достигнута только при криогенных температурах (77 К).
В большинстве других известных лазерных элементах данного класса в качестве активной среды используют кристаллы с постоянным равномерным распределением ионов эрбия (концентрационная серия с содержанием Er3+ 0,1-4 ат.% для оксидных матриц) [Koechner W. Solid-State Laser Engineering, 6 ed., Springer, 2006, p. 73-75]. Лазерный уровень ионов эрбия 4Ι13/2 имеет большое время жизни (порядка нескольких миллисекунд), однако КПД генерации составляет значения около 0,01% из-за процессов кросс-релаксации, ап-конверсии и реабсорбции, а также невысокого сечения поглощения накачки предлазерным уровнем 4I11/2/2 (λ=980 нм). Следует отметить, что с ростом степени легирования до уровня 3-4 ат.% энергетическая эффективность оптической накачки растет, но вместе с этим возрастает и вклад паразитных энергетических процессов, приводящих, в частности, к повышению температуры кристалла, ухудшению качества лазерного пучка. При превышении концентрации 4 ат.% происходит тушение люминесценции ионов Er3+ из-за высокой скорости кросс-релаксации электронного возбуждения с предлазерного уровня 4I11/2.
Общеприменимым методом повышения эффективности оптической накачки для лазерных кристаллов с 1,5 мкм генерацией является сенсибилизирование матрицы ионами иттербия (Yb3+: до 30 ат. %) [Koechner W. Solid-State Laser Engineering, 6 ed., Springer, 2006, p. 75-79]. Высокоэффективный резонансный безызлучательный перенос энергии электронного возбуждения от ионов-доноров (Yb3+) к ионам-акцепторам (Er3+) позволяет значительно увеличить темпы заселения предлазерного уровня. Однако применение материалов с высоким содержанием (более 25-30 ат. %) ионов-сенсибилизаторов приводит к мощной люминесценции ионов Yb3+, сопровождающейся высокой степенью реабсорбции данного излучения, и, как следствие, к снижению генерационных параметров.
Известны активные элементы на основе ортоборатов и ортосиликатов редкоземельных и щелочноземельных металлов, таких как Yb:Er:LaSc3(ВО3)4 (LSB) [Перфилин А., Несынов Е., Подцепко М., Лебедев В., Чуев Ю., Спектрально-люминесцентные исследования монокристаллов боратов и силикатов с примесями иттербия и эрбия. Природа. Общество. Человек, Вестник Южно-Российского отделения Международной Академии наук Высшей школы, 4-5 (7-8)/1996, с. 31-33], Yb:Er:YCa4(BO3)3O (YCAB) [патент RU №2186161, МПК7, опубл. 27.07.2002], Yb:Er:Ce:CaGd4(SiO4)3O (CGS) [патент RU №2186162, МПК7, опубл. 27.07.2002] и др. Их основные преимущества заключаются в подавлении фононной релаксации возбуждения ионов эрбия и снижении времени жизни предлазерного уровня. Однако они обладают невысокой теплопроводностью, а технологии выращивания монокристаллов с высоким оптическим качеством являются сложными и экономически неэффективными процессами.
Наиболее близким аналогом к заявляемому материалу является монокристаллический алюмоиттриевый гранат Yb0,6:Er0,06:Y2.34Аl2(AlO4)3 с равномерным профилем легирования ионами эрбия и иттербия. Данный лазерный материал широко используется в лазерной промышленности на протяжении нескольких десятилетий. Наряду с высокими теплофизическими характеристиками, кристаллы YAG, легированные эрбием, обладают одним из самых высоких коэффициентов усиления среди кристаллических матриц: α=5-6 см-1 [Koechner W. Solid-State Laser Engineering, 6 ed., Springer, 2006, p. 75-79]. К недостаткам монокристаллического алюмоиттриевого граната с однородным распределением оптических примесей относится малая эффективность оптической продольной накачки и невысокий квантовый выход лазерного излучения, что обусловлено кросс-релаксацией электронного возбуждения, ап-конверсией и реабсорбцией лазерного излучения. Развитие этих эффектов приводит к снижению скорости безызлучательного переноса энергии от ионов-доноров Yb3+ к активным лазерным ионам Er3+, в связи с чем уменьшается эффективность генерации индуцированного излучения.
Техническим результатом предлагаемого технического решения является повышение эффективности оптической диодной продольной накачки активного лазерного элемента путем повышения эффективной скорости переноса электронного возбуждения от ионов-сенсибилизаторов иттербия к ионам-акцепторам эрбия.
Для достижения технического результата предложен монокристаллический материал на основе алюмоиттриевого граната с неоднородным распределением оптических примесей, в качестве которых взяты активные ионы эрбия и иттербия, по заданному закону вдоль активного лазерного элемента следующей структурной формулы:
Figure 00000001
где:
Figure 00000002
Figure 00000003
Figure 00000004
р=22,5 ат. %, q=2,25 ат. %, где 0≤z≤1 см,
z - пространственная координата, направленная вдоль длины кристалла, см, в системе отсчета, берущей начало на входной грани активного элемента.
И заявляемый монокристаллический материал, и прототип содержат одни и те же исходные компоненты, но в отличие от прототипа их содержание и распределение в соответствии с формулами (1)-(4) обеспечивают повышение эффективности оптической диодной продольной накачки активного лазерного элемента путем повышения эффективной скорости переноса электронного возбуждения от ионов-сенсибилизаторов иттербия к ионам-акцепторам эрбия.
На фиг. 1 изображена ростовая установка, используемая для получения предлагаемого материала.
На фиг. 2 представлены графики распределения ионов эрбия и иттербия вдоль длины кристалла, а именно:
a(z) - график распределения концентрации ионов-доноров Yb3+(2) - I;
b(z) - график распределения концентрации ионов-акцепторов Er3+ (3) - II;
уровень концентрации 12,563 ат. %, соответствующий средней эффективной степени легирования ионами иттербия - III;
уровень концентрации 1,256 ат. %, соответствующий средней эффективной степени легирования ионами эрбия - IV.
На фиг. 3 изображены графики распределения мощности выходного оптического лазерного излучения, где поверхность а соответствует распределению электромагнитного поля в неоднородно легированном кристалле со структурной формулой (1) и поверхность б - распределению в однородно легированном кристалле со структурной формулой Yb06489:Er0,049:Y2.462Al2(AlO4)3.
На фиг. 4 представлен график зависимости результирующей выходной мощности от концентрации ионов эрбия (при постоянной эффективной концентрации ионов иттербия 12,563 ат.%).
На фиг. 5 изображен график зависимости эффективности безызлучательного переноса к ионам-акцепторам в зависимости от концентрации ионов эрбия (при постоянной эффективной концентрации ионов иттербия 12,563 ат.%).
Для получения монокристалла применяли метод Чохральского с жидкостной подпиткой [Патент RU №2402646, 10.03.2009]. Для осуществления способа используют установку (фиг. 1), включающую тигель 1; индуктор 2; ЭВМ 3; контроллер мощности 4; расплав 5, находящийся в основном тигле 1; вращающийся шток 6; датчик веса 7; водоохлаждаемый шток 8; контроллер перемещения 9 водоохлаждаемого штока 8; затравку для вытягиваемого кристалла 10; термопару 11; контроллер температуры 12 расплава 13; отверстия 14 в тигле-реакторе 15; устройство перемещения 16 нижнего штока 17.
В основной тигель 1 (фиг. 1) наплавляют шихту алюмоиттриевого граната состава Yb3+:Er3+:Y3Al5O12, изготовленную из оксида иттрия массой 171,18 г, оксида алюминия массой 77,29 г, оксида эрбия массой 0,97 г и оксида иттербия массой 4,98 г. После этого из полученной шихты изготавливают таблетки диаметром 30-40 мм и высотой 20-25 мм. В центре таблеток просверливается отверстие диаметром 2-3 мм. Полученные просверленные в центре таблетки из шихты алюмоиттриевого граната помещают в отжиговую печь для проведения твердофазного синтеза при температуре 1200-1400°C в течение 48 часов. После этого таблетки из спеченной шихты алюмоиттриевого граната с отверстиями в центре нанизываются на иридиевый стержень, образуя, таким образом, затравку для вытягиваемого кристалла 10, закрепленную к верхнему вращающемуся штоку 6. Свободный конец затравки для вытягиваемого кристалла 10 упирается в дно основного тигля 1. Основной тигель 1, расположенный внутри индуктора 2, разогревают путем задания уровня мощности с помощью ЭВМ 3, которая управляет контроллером мощности 4. При достижении мощности, при которой происходит плавление таблеток из спеченной шихты алюмоиттриевого граната, повышение уровня мощности прекращается и выдерживается в течение времени после плавления последней таблетки, затравку для вытягиваемого кристалла 10 поднимают вверх и иридиевый стержень, на который были нанизаны таблетки, полностью оказывается над поверхностью расплава 5. После этого выключают подводимую к тиглю 1 мощность и добиваются остывания до комнатной температуры тигля 1 с закристаллизовавшимся расплавом 5.
После этого тигель-реактор 15 крепят на устройство перемещения 16 нижнего штока 17. Тигель-реактор 15 центрируют относительно затравки для вытягиваемого кристалла 10 и основного тигля 1 и подводят на расстояние порядка 1 см к застывшему расплаву 5 в основном тигле 1. Включают индукционный нагрев системы тиглей 1 и 15, управляемый контроллерами температуры 12 с помощью термопары 11. Расплав 5 в основном тигле 1 плавится, после этого под контролем программного управления с помощью ЭВМ 3 тигель-реактор 15 погружается в основной тигель 1 на заданную глубину, которая определяется исходя из площади сечения тигля-реактора 15 и плотности расплава 5. При этом расплав 5 поступает в тигель-реактор 15 через отверстия 14, заполняя расплавом 13. Глубина погружения тигля-реактора 15 диаметром 3,2 см в расплав 5 предлагаемой шихты, содержащийся в основном тигле 1, составляет 1,0 см и выставляется с помощью контроллера перемещения 9 с помощью системы штоков 6 и 8. Тогда масса расплава 13 в тигле-реакторе 15 составляет:
Figure 00000005
где:
Si - площадь поперечного сечения тигля-реактора 15;
ρ - плотность расплава 5.
После этого основной тигель 1 вместе с тиглем-реактором 15 с расплавом 13 алюмоиттриевого граната остужают до комнатной температуры путем прекращения подвода мощности нагрева. Вес кристалла, получившегося из затравки для вытягиваемого кристалла 10, определяется с помощью датчика веса 7, передающего данные ЭВМ 3.
В расплав 5 в основном тигле 1 досыпали 1,73 г оксида эрбия, в расплав 13 в тигле-реакторе 15 досыпали 8,89 г оксида иттербия.
Массовая скорость вытягивания кристалла 1,45 г/ч, линейная скорость опускания тигля-реактора 15 составляет 0,26 см/ч. Результирующее распределение концентрации для i-й компоненты расплава 13 вычисляют в соответствии с выражением:
Figure 00000006
где:
Nc - число частиц в кристалле;
mс - масса кристалла в затравке для вытягиваемого кристалла 10, г;
Ni - число частиц в тигле-реакторе 15;
mi - масса расплава в тигле-реакторе 15, г;
k - коэффициент вхождения компонента из расплава 5 в кристалл;
Figure 00000007
- параметр подпитки;
V1 - массовая скорость расплава 5, поступающего из основного тигля 1 в тигель-реактор 15, г/ч;
Vcr - массовая скорость вытягивания кристалла, г/ч.
В соответствии с выражением (6) и указанными параметрами ростового процесса распределение концентраций ионов эрбия и иттербия вдоль длины кристалла описывается в аналитическом виде с помощью формул (2) и (3).
Восходящие участки параболических профилей концентрации ионов-акцепторов a(z) (2) и доноров и b(z) (3) (фиг. 2) позволяют одновременно снизить лучевую нагрузку на входной торец активного элемента при продольной накачке, а также увеличить эффективность генерации вблизи выходного торца активного элемента. Повышение эффективности генерации связано с более высоким темпом безызлучательного переноса энергии от ионов-доноров к ионам-акцепторам, что, в свою очередь, связано с тем, что на большей части длины кристалла концентрации данных примесей превышают свое среднее эффективное значение (12,563 ат.% и 1,2563 ат.%, соответственно).
Условия легирования монокристаллических оксидных матриц ионами Er3+ и Yb3+ с учетом влияния концентраций обеих примесей (CEr, СYb) на значения сечений поглощения и излучения (σпогл, σизл) и генерационные параметры отражены в таблице 1.
Figure 00000008
Figure 00000009
Расчеты эффективности безызлучательного переноса энергии и мощности выходного лазерного излучения проводились в соответствии с программой для ЭВМ «Интерактивный комплекс расчета тепловых и генерационных параметров в градиентных лазерных кристаллах» (свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ №2012618765). В соответствии с данными математического моделирования процесса лазерной генерации [Строганова Е.В., Галуцкий В.В., Ткачев Д.С. и др., Оптика и спектроскопия, 2014, Т. 117, №6, с. 1012-1017] нами был получен активный лазерный элемент с изменением концентраций оптических примесей вдоль длины кристалла в соответствии соотношением (1), обеспечивающим выходную мощность лазерного излучения 13,5 мВт (№6 таблицы 1, фиг. 3), с пиковой эффективностью безызлучательного переноса энергии от ионов-сенсибилизаторов к ионам-акцепторам 87,4%).
Как видно из таблицы 1, активные лазерные элементы с однородным легированием по длине оптических примесей (№№1-3 таблицы 1) при увеличении концентраций Yb3+ и Er3+ демонстрируют рост эффективного сечения поглощения (Yb) и излучения (Er), увеличение скорости эффективного безызлучательного переноса энергии и мощности оптического излучения.
Пиковая мощность выходного излучения для однородно легированного кристалла с концентрациями оптических примесей, соответствующими верхнему пределу концентраций в предлагаемом градиентном кристалле, составляет Рвых=10 мВт (№4 таблицы 1, фиг. 3).
Однако при дальнейшем увеличении концентраций оптических центров Yb и Er наблюдается резкое снижение эффективности генерационных процессов из-за возрастания уровня люминесценции ионов-доноров Yb и одновременной реабсорбции излучения (№5 таблицы 1).
Граничные и начальные условия математического моделирования, в результате которого был получен активный лазерный элемент с оптимальными концентрационными профилями Er3+ и Yb3+ (№6 таблицы 1) определялись следующим техническим исполнением:
- резонатор Фабри-Перо длиной z=1 см, состоящий из двух плоскопараллельных зеркал, напыленных на торцевые грани активного элемента;
- коэффициент отражения входного зеркала на длине волны 1,55 мкм равен Твх=0,99;
- коэффициент отражения выходного зеркала на длине волны 1,55 мкм равен Твых=0,9;
- значение поглощенной ионами-сенсибилизаторами мощности накачки задается соответствующим удвоенному значению пороговой мощности генерации Рпор=0,182 Вт-Рпогл=0,364 Вт;
- коэффициент конверсии накачки в возбуждение электронов лазерного уровня ионов эрбия принимался равным kконв=0.03, с учетом потерь на такие паразитные процессы, как фононная релаксация, ап-конверсия, реабсорбция и др.;
- радиус пятна накачки составляет 125 мкм;
- кривизна волнового фронта составляет величину не менее 34,21 см, что позволяет считать распространяющуюся волну усиления плоской; волна накачки также предполагается плоской;
- зафиксированные значения выходной оптической мощности (таблица 1, фиг. 4) соответствуют значению мощности на выходной грани активного элемента в центральном сечении плоскостью YZ (х=0) после двух полных обходов резонатора волной усиления (фиг. 3).
В связи с динамикой роста эффективности переноса энергии и мощности генерации в зависимости от повышения концентрации ионов эрбия, представленной на фиг. 4 и 5, а также усилением паразитных энергетических процессов кросс-релаксации и an-конверсии электронного возбуждения и реабсорбции люминесценции при росте концентраций ионов эрбия и иттербия [Koechner. W. Solid-State Laser Engineering, 6 ed., Springer, 2006, p. 73-75, 75-79], в предлагаемом материале используют средние диапазоны значения концентраций обоих оптических примесей, а именно (5,0625÷16,3125) ат.% для Yb3+ и (0,50625÷1,63125) ат.% для Er3+. Дальнейшее увеличение концентрации активных ионов эрбия не обеспечивает значительного улучшения генерационных параметров («плато» на кривых выходной оптической мощности (фиг. 4)), так как уменьшается оптическое качество кристалла, развивается дефектная структура кристалла и снижается эффективность переноса энергии («плато» на кривых выходной оптической мощности (фиг. 5))·
Применение активных лазерных элементов на основе монокристаллов алюмоиттриевого граната с неоднородным распределением ионов-сенсибилизаторов иттербия и ионов-акцепторов эрбия позволяет увеличить среднюю эффективную скорость безызлучательного переноса энергии до 87.4%. За счет неоднородного продольного распределения примесей в пределах средних концентраций удалось увеличить мощность генерации более чем на 30% по сравнению с однородно легированными кристаллами без увеличения степени легирования матрицы, приводящей к развитию паразитных нелинейных эффектов.

Claims (1)

  1. Монокристаллический материал на основе алюмоиттриевого граната, активированного ионами эрбия и иттербия, отличающийся тем, что активный лазерный элемент содержит исходные компоненты в соответствии со структурной формулой:
    Figure 00000010

    где
    Figure 00000011

    Figure 00000012

    Figure 00000013

    Figure 00000014
    Figure 00000015

    z - пространственная координата, направленная вдоль длины кристалла и определяющая изменение концентрационного профиля ионов эрбия и иттербия, в системе отсчета, берущей начало на входной грани активного элемента, и имеющая значения от 0 до 1 см.
RU2015116782/28A 2015-04-30 2015-04-30 Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента RU2591253C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015116782/28A RU2591253C1 (ru) 2015-04-30 2015-04-30 Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015116782/28A RU2591253C1 (ru) 2015-04-30 2015-04-30 Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2591253C1 true RU2591253C1 (ru) 2016-07-20

Family

ID=56412285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015116782/28A RU2591253C1 (ru) 2015-04-30 2015-04-30 Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2591253C1 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2226732C2 (ru) * 2002-06-21 2004-04-10 Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН Активный элемент твердотельного лазера
US8175131B2 (en) * 2009-03-03 2012-05-08 Raytheon Company Laser media with controlled concentration profile of active laser ions and method of making the same
WO2012110009A1 (en) * 2011-02-17 2012-08-23 Crytur Spol.S R.O. Preparation of doped garnet structure single crystals with diameters of up to 500 mm
WO2013025926A1 (en) * 2011-08-16 2013-02-21 Raytheon Company Method for tailoring the dopant profile in a laser crystal using zone processing

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2226732C2 (ru) * 2002-06-21 2004-04-10 Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН Активный элемент твердотельного лазера
US8175131B2 (en) * 2009-03-03 2012-05-08 Raytheon Company Laser media with controlled concentration profile of active laser ions and method of making the same
WO2012110009A1 (en) * 2011-02-17 2012-08-23 Crytur Spol.S R.O. Preparation of doped garnet structure single crystals with diameters of up to 500 mm
WO2013025926A1 (en) * 2011-08-16 2013-02-21 Raytheon Company Method for tailoring the dopant profile in a laser crystal using zone processing

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Boulon Fifty years of advances in solid-state laser materials
Fornasiero et al. Czochralski growth and laser parameters of RE3+-doped Y2O3 and Sc2O3
Rivera et al. Expanding broadband emission in the near-IR via energy transfer between Er3+–Tm3+ co-doped tellurite-glasses
Seo et al. Visible Laser Action of Dy3+ Ions in Monoclinic KY (WO 4) 2 and KGd (WO 4) 2 Crystals under Xe-Flashlamp Pumping
Lupei et al. Nd: YAG at its 50th anniversary: Still to learn
Li et al. Crystal growth, spectral properties, and laser demonstration of laser crystal Nd: LYSO
Qi et al. Influence of Tm 3+ ions on the amplification of Ho 3+: 5 I 7→ 5 I 8 transition in fluoride glass modified by Al (PO 3) 3 for applications in mid-infrared optics
Zhang et al. Growth, spectra and continuous-wave 2.1 μm laser operation of a Ho 3+-doped bismuth silicate crystal
Tang et al. Silicate-clad highly Er3+/Yb3+ co-doped phosphate core multimaterial fibers
Gan et al. Er3+/Pr3+ co-doped GeAsGaSe chalcogenide glasses for infrared emissions and their potential in 2.7 μm fiber laser
Dong et al. Spectroscopy and LD end-pumped high power 2.79 μm CW laser from an Er: LuYSGG mixed crystal
Ding et al. Crystal growth and spectroscopic properties of erbium doped Lu2SiO5
Kesavulu et al. Optical and upconversion properties of Er3+-doped oxyfluoride transparent glass-ceramics containing SrF2 nanocrystals
Han et al. Polarized spectroscopic properties and 1046 nm laser operation of Yb3+: Ca3TaGa3Si2O14 crystal
RU2591253C1 (ru) Монокристаллический материал с неоднородным распределением оптических примесей для активного лазерного элемента
Zhang et al. Improvement of single pulse energy and laser efficiency by co-doping Cr3+ ions into the Er: YAG crystal
Trivedi et al. Transition metal doped cadmium manganese telluride: A new material for tunable mid-infrared lasing
Shavelev et al. Single crystals with advanced laser properties LiCaAlF6: Ce3+ grown by Bridgman technique
Sudesh et al. Pulsed laser action in Tm, Ho: LuLiF/sub 4/and Tm, Ho: YLiF/sub 4/crystals using a novel quasi-end-pumping technique
Xue et al. Spectroscopic and laser properties of Tm: CNGG crystals grown by the micro-pulling-down method
Feng et al. 1.8 μm luminescent properties and energy transfer of Yb3+/Tm3+ co-doped α-NaYF4 single crystals
Heumann et al. cw laser action of Er3+ in double sensitized fluoroaluminate glass at room temperature
Li et al. The micro-pulling-down growth of Tm: LuAG and Tm, Pr: LuAG crystals and optical properties
Tolkachev Zero-Phonon Transition Frequency in Diffuse Electronic Spectra of Color Centers in Crystals and Glasses
Zhang et al. 2 μm emission of PbF2 single crystal co-doped with Ho3+/Yb3+ ions