RU2571399C1 - Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures - Google Patents
Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures Download PDFInfo
- Publication number
- RU2571399C1 RU2571399C1 RU2014143664/08A RU2014143664A RU2571399C1 RU 2571399 C1 RU2571399 C1 RU 2571399C1 RU 2014143664/08 A RU2014143664/08 A RU 2014143664/08A RU 2014143664 A RU2014143664 A RU 2014143664A RU 2571399 C1 RU2571399 C1 RU 2571399C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- field
- output
- effect transistor
- source
- drain
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области электроники и измерительной технике и может быть использовано в качестве устройства усиления сигналов различных датчиков, в структуре аналоговых микросхем различного функционального назначения, работающих в условиях воздействия низких температур и радиации. The invention relates to the field of electronics and measurement technology and can be used as a device for amplifying the signals of various sensors, in the structure of analog microcircuits of various functional purposes, operating under conditions of low temperature and radiation.
Для работы в условиях космического пространства, в экспериментальной физике необходимы радиационно-стойкие усилители сигналов различных сенсоров, допускающие одновременное воздействие на них низких температур, потока нейтронов и т.п. Мировой опыт проектирования устройств данного класса показывает, что решение этих задач возможно с использованием полевых транзисторов, т.к. биполярные полупроводниковые приборы характеризуются резким уменьшением коэффициента усиления по току базы (β) при температурах, меньших -60°C÷-100°C.To work in outer space, in experimental physics, radiation-resistant signal amplifiers of various sensors are required that allow simultaneous exposure to low temperatures, neutron flux, etc. World experience in the design of devices of this class shows that the solution to these problems is possible using field-effect transistors, because bipolar semiconductor devices are characterized by a sharp decrease in the base current gain (β) at temperatures lower than -60 ° C ÷ -100 ° C.
Известны дифференциальные усилители (ДУ) на полевых транзисторах с управляющим p-n переходом [1-6], предназначенные для работы при низких температурах.Known differential amplifiers (DU) on field-effect transistors with a p-n junction control [1-6], designed to operate at low temperatures.
Ближайшим прототипом (фиг. 1) заявляемого устройства является дифференциальный усилитель по патенту US №6.407.537, fig. 1. Он содержит первый 1 и второй 2 входные полевые транзисторы, затворы которых соединены с соответствующими первым 3 и вторым 4 входами устройства, масштабный резистор 5, включенный между истоками первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, первый 6 и второй 7 вспомогательные транзисторы, стоки которых соединены с истоками соответствующих первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, затворы объединены и связаны с первой 8 шиной источника питания через первый 9 вспомогательный двухполюсник, истоки первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов связаны с первой 8 шиной источника питания, вторую 10 шину источника питания, первый 11, второй 12, третий 13 и четвертый 14 выходные полевые транзисторы, первый 15 выход устройства.The closest prototype (Fig. 1) of the claimed device is a differential amplifier according to US patent No. 6.407.537, fig. 1. It contains the first 1 and second 2 input field-effect transistors, the gates of which are connected to the corresponding first 3 and second 4 inputs of the device, a large-
Существенный недостаток известного ДУ состоит в том, что он может быть выполнен в виде однокристальной микросхемы только на основе достаточно редких, как правило, не радиационно-стойких технологических процессов, реализующих одновременно полевые BiFET транзисторы с двумя типами проводимости канала (p, n). Это не позволяет применять известную схему ДУ при построении низкотемпературных радиационно-стойких микросхем на основе хорошо зарекомендовавшего себя радиационно-стойкого биполярно-полевого технологического процесса [7], который обеспечивает формирование только р-канальных полевых транзисторов с радиационной стойкостью до 1 Мрад и потоком нейтронов до 1013 н/см2, а также незначительные изменения их параметров до -190°C.A significant drawback of the known remote control is that it can be made in the form of a single-chip microcircuit only on the basis of rather rare, as a rule, non-radiation-resistant technological processes that simultaneously realize BiFET field-effect transistors with two types of channel conductivity (p, n). This does not allow the well-known DE scheme to be used in constructing low-temperature radiation-resistant microcircuits based on the well-established radiation-resistant bipolar-field technological process [7], which ensures the formation of only p-channel field-effect transistors with radiation resistance up to 1 Mrad and a neutron flux up to 10 13 n / cm 2 , as well as minor changes in their parameters to -190 ° C.
Основная задача предлагаемого изобретения состоит в создании радиационно-стойкого низкотемпературного ДУ, реализуемого только на р-канальных полевых транзисторах биполярно-полевого технологического процесса (НПО «Интеграл» (г. Минск)) [7].The main objective of the invention is to create a radiation-resistant low-temperature remote control, implemented only on r-channel field effect transistors of a bipolar field process (NPO Integral (Minsk)) [7].
Поставленная задача достигается тем, что в дифференциальном усилителе фиг. 1, содержащем первый 1 и второй 2 входные полевые транзисторы, затворы которых соединены с соответствующими первым 3 и вторым 4 входами устройства, масштабный резистор 5, включенный между истоками первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, первый 6 и второй 7 вспомогательные транзисторы, стоки которых соединены с истоками соответствующих первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, затворы объединены и связаны с первой 8 шиной источника питания через первый 9 вспомогательный двухполюсник, истоки первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов связаны с первой 8 шиной источника питания, вторую 10 шину источника питания, первый 11, второй 12, третий 13 и четвертый 14 выходные полевые транзисторы, первый 15 выход устройства, предусмотрены новые элементы и связи - исток первого 11 выходного полевого транзистора соединен со стоком первого 1 входного полевого транзистора и затвором третьего 13 выходного полевого транзистора через первый 16 дополнительный резистор, причем затвор первого 11 выходного полевого транзистора соединен с затвором третьего 13 выходного полевого транзистора, а сток первого 11 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания, исток второго 12 выходного полевого транзистора соединен со стоком второго 2 входного полевого транзистора и затвором четвертого 14 выходного полевого транзистора через второй 17 дополнительный резистор, причем затвор второго 12 выходного полевого транзистора соединен с затвором четвертого 14 выходного полевого транзистора, а сток второго 12 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания, исток третьего 13 выходного полевого транзистора соединен со вторым 18 выходом устройства и через первый 19 вспомогательный двухполюсник подключен к объединенным затворам первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов, исток четвертого 14 выходного полевого транзистора соединен с первым 15 выходом устройства и через второй 20 вспомогательный двухполюсник подключен к объединенным затворам первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов, причем стоки третьего 13 и четвертого 14 выходных полевых транзисторов связаны со второй 10 шиной источника питания.The problem is achieved in that in the differential amplifier of FIG. 1, containing the first 1 and second 2 input field-effect transistors, the gates of which are connected to the corresponding first 3 and second 4 inputs of the device, a
На чертеже фиг. 1 показана схема ДУ-прототипа, а на чертеже фиг. 2 - схема заявляемого устройства в соответствии с пп. 1 и 2 формулы изобретения.In the drawing of FIG. 1 shows a diagram of a remote control prototype, and in the drawing of FIG. 2 - diagram of the inventive device in accordance with paragraphs. 1 and 2 of the claims.
На чертеже фиг. 3 представлена схема заявляемого устройства в соответствии с п. 4 формулы изобретения, а на чертеже фиг. 4 - в соответствии с п. 4 формулы изобретения.In the drawing of FIG. 3 shows a diagram of the inventive device in accordance with
На чертеже фиг. 5 представлена схема заявляемого устройства в соответствии с п. 5, а на чертеже фиг. 6 - в соответствии с п. 6 формулы изобретения.In the drawing of FIG. 5 is a diagram of the inventive device in accordance with
На чертеже фиг. 7 приведена схема первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, реализуемых в соответствии с п. 7 формулы изобретения в виде составных активных элементов. Такое решение повышает коэффициент усиления по напряжению ДУ в связи с увеличением выходных сопротивлений таких составных активных элементов (1 и 2).In the drawing of FIG. 7 shows a diagram of the first 1 and second 2 input field-effect transistors, implemented in accordance with
На чертеже фиг. 8 приведена схема заявляемого дифференциального усилителя фиг. 2 в среде PSpice на моделях интегральных транзисторов АБМК [7].In the drawing of FIG. 8 is a diagram of the inventive differential amplifier of FIG. 2 in the PSpice environment on ABMK integrated transistor models [7].
На чертеже фиг. 9 показана частотная зависимость коэффициента усиления для дифференциального выхода усилителя фиг. 8.In the drawing of FIG. 9 shows the frequency dependence of the gain for the differential output of the amplifier of FIG. 8.
На чертеже фиг. 10 представлена схема заявляемого дифференциального усилителя фиг. 2 в среде PSpice на моделях транзисторов АБМК (при включении диодов Q13 и Q14 в истоке полевых транзисторов 6, 7 и R12=R13=6.5 кОм, R9=100 Ом, R2=R3=70 кОм, R4=R5=5 кОм).In the drawing of FIG. 10 is a diagram of the inventive differential amplifier of FIG. 2 in the PSpice environment on ABMK transistor models (when Q13 and Q14 diodes are turned on at the source of the
На чертеже фиг. 11 приведена частотная зависимость коэффициента усиления по напряжению ДУ фиг. 10.In the drawing of FIG. 11 shows the frequency dependence of the voltage gain of the remote control of FIG. 10.
Дифференциальный усилитель на основе радиационно-стойкого биполярно-полевого технологического процесса для работы при низких температурах фиг. 2 содержит первый 1 и второй 2 входные полевые транзисторы, затворы которых соединены с соответствующими первым 3 и вторым 4 входами устройства, масштабный резистор 5, включенный между истоками первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, первый 6 и второй 7 вспомогательные транзисторы, стоки которых соединены с истоками соответствующих первого 1 и второго 2 входных полевых транзисторов, затворы объединены и связаны с первой 8 шиной источника питания через первый 9 вспомогательный двухполюсник, истоки первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов связаны с первой 8 шиной источника питания, вторую 10 шину источника питания, первый 11, второй 12, третий 13 и четвертый 14 выходные полевые транзисторы, первый 15 выход устройства. Исток первого 11 выходного полевого транзистора соединен со стоком первого 1 входного полевого транзистора и затвором третьего 13 выходного полевого транзистора через первый 16 дополнительный резистор, причем затвор первого 11 выходного полевого транзистора соединен с затвором третьего 13 выходного полевого транзистора, а сток первого 11 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания, исток второго 12 выходного полевого транзистора соединен со стоком второго 2 входного полевого транзистора и затвором четвертого 14 выходного полевого транзистора через второй 17 дополнительный резистор, причем затвор второго 12 выходного полевого транзистора соединен с затвором четвертого 14 выходного полевого транзистора, а сток второго 12 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания, исток третьего 13 выходного полевого транзистора соединен со вторым 18 выходом устройства и через первый 19 вспомогательный двухполюсник подключен к объединенным затворам первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов, исток четвертого 14 выходного полевого транзистора соединен с первым 15 выходом устройства и через второй 20 вспомогательный двухполюсник подключен к объединенным затворам первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов, причем стоки третьего 13 и четвертого 14 выходных полевых транзисторов связаны со второй 10 шиной источника питания.A differential amplifier based on a radiation-resistant bipolar field process for operating at low temperatures, FIG. 2 contains the first 1 and second 2 input field-effect transistors, the gates of which are connected to the corresponding first 3 and second 4 inputs of the device, a
На чертеже фиг. 2, в соответствии с п. 2 формулы изобретения, истоки первого 6 и второго 7 вспомогательных транзисторов связаны с первой 8 шиной источника питания через соответствующие первый 21 и второй 22 согласующие резисторы (двухполюсники).In the drawing of FIG. 2, in accordance with
На чертеже фиг. 3, в соответствии с п. 3 формулы изобретения, сток первого 11 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания через первый 23 управляемый повторитель тока, а сток второго 12 выходного полевого транзистора связан со второй 10 шиной источника питания через второй 24 управляемый повторитель тока. Первый 23 управляемый повторитель тока имеет токовый вход 25 и выход 26, а также узел установления статического режима 27. Второй 24 управляемый повторитель тока имеет токовый вход 28, выход 29, а также узел установления статического режима 30.In the drawing of FIG. 3, in accordance with
На чертеже фиг. 4, в соответствии с п. 4 формулы изобретения, первый 23 управляемый повторитель тока содержит первый 31 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 25 первого 23 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 26 первого 23 управляемого повторителя тока, а затвор связан со стоком первого 1 входного полевого транзистора, второй 24 управляемый повторитель тока содержит второй 32 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 28 второго 24 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 29 второго 24 управляемого повторителя тока, а затвор связан со стоком второго 2 входного полевого транзистора.In the drawing of FIG. 4, in accordance with
На чертеже фиг. 5, в соответствии с п. 5 формулы изобретения, первый 23 управляемый повторитель тока содержит третий 33 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 25 первого 23 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 26 первого 23 управляемого повторителя тока, а затвор связан с истоком первого 11 выходного полевого транзистора, второй 24 управляемый повторитель тока содержит четвертый 34 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 28 второго 24 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 29 второго 24 управляемого повторителя тока, а затвор связан с истоком второго 12 выходного полевого транзистора.In the drawing of FIG. 5, in accordance with
На чертеже фиг. 6, в соответствии с п. 6 формулы изобретения, первый 23 управляемый повторитель тока содержит пятый 35 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 25 первого 23 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 26 первого 23 управляемого повторителя тока, а затвор связан со вторым 18 выходом устройства, второй 24 управляемый повторитель тока содержит шестой 36 согласующий полевой транзистор, исток которого соединен со входом 28 второго 24 управляемого повторителя тока, сток подключен к выходу 29 второго 24 управляемого повторителя тока, а затвор связан с первым 15 выходом устройства.In the drawing of FIG. 6, in accordance with
На чертеже фиг. 7, в соответствии с п. 7 формулы изобретения, каждый первый 1 и второй 2 входные полевые транзисторы выполнены как составные транзисторы, содержащие первый 37 и второй 38 дополнительные транзисторы, причем затвор первого 37 дополнительного транзистора является затвором первого 1 (второго 2) входного полевого транзистора, исток первого 37 дополнительного транзистора является истоком первого 1 (второго 2) входного полевого транзистора, исток второго 38 дополнительного полевого транзистора соединен со стоком первого 37 дополнительного транзистора, затвор второго 38 дополнительного транзистора связан с истоком первого 37 дополнительного транзистора, а сток второго 38 дополнительного транзистора является стоком первого 1 (второго 2) входного полевого транзистора.In the drawing of FIG. 7, in accordance with
Рассмотрим работу заявляемого ДУ фиг. 2.Consider the operation of the claimed remote control of FIG. 2.
Напряжение затвор - исток Uзи полевых транзисторов (1, 2, 11, 12) связано с током стока (истока) следующей приближенной формулыGate-source voltage U si of field-effect transistors (1, 2, 11, 12) is connected with the drain current (source) of the following approximate formula
где Ic.max - максимальный ток стока при Uзи=0;where I c.max is the maximum drain current at U zi = 0;
Uотс - напряжение отсечки полевого транзистора при Ic≈0.U OT - cutoff voltage of the field effect transistor at I c ≈0.
Причем напряжения затвор-исток Uзи.11=Ic11R16, Uзи.12=Ic12R17 и, следовательно, с учетом (1) можно найти, что токи стока транзисторовMoreover, the gate-source voltage U zi.11 = I c11 R 16 , U zi.12 = I c12 R 17 and, therefore, taking into account (1), we can find that the drain currents of transistors
Таким образом, статические токи стока входных полевых транзисторов 1 и 2 устанавливаются соответственно первым 16 и вторым 17 дополнительными резисторами и зависят от крутизны стоко-затворной характеристики первого 11 и второго 12 выходных полевых транзисторов, т.е. от их геометрии.Thus, the static drain currents of the input field-
Коэффициент усиления по напряжению ДУ фиг. 2 (например, для второго 18 выхода) определяется уравнениемThe voltage gain of the remote control of FIG. 2 (for example, for the second 18 output) is determined by the equation
где - эквивалентное сопротивление в узле А1,Where - equivalent resistance in node A1,
S1(S2) - крутизна стоко-затворной характеристики первого 1 (второго 2) входного полевого транзистора.S 1 (S 2 ) is the slope of the gate-gate characteristic of the first 1 (second 2) input field-effect transistor.
Причем эквивалентная проводимость уэкв.А1 имеет три составляющие:Moreover, the equivalent conductivity at equiv. A1 has three components:
где у11 - эквивалентная проводимость двухполюсника на первом 11 выходном полевом транзисторе;where y 11 is the equivalent conductivity of a two-terminal on the first 11 output field-effect transistor;
увх.13 - входная проводимость третьего 13 выходного полевого транзистора;at vkh.13 - input conductivity of the third 13 output field-effect transistor;
увых.1 - выходная проводимость первого 1 входного полевого транзистора:y chan.1 - output conductance of the
µ1=10-2÷10-3 - коэффициент внутренней обратной связи первого 1 входного полевого транзистора, характеризующий влияние напряжения сток-затвор на его стоко-затворную характеристику.µ 1 = 10 -2 ÷ 10 -3 is the internal feedback coefficient of the first 1 input field-effect transistor, characterizing the effect of the drain-gate voltage on its drain-gate characteristic.
Уравнение для проводимости у11 в схеме фиг. 2 можно представить в видеThe equation for conductivity at 11 in the circuit of FIG. 2 can be represented as
где µ11=10-2÷10-3 - коэффициент внутренней обратной связи первого 11 выходного полевого транзистора, характеризующий влияние напряжения сток-затвор на его стоко-затворную характеристику.where μ 11 = 10 -2 ÷ 10 -3 is the internal feedback coefficient of the first 11 output field-effect transistor, characterizing the effect of the drain-gate voltage on its drain-gate characteristic.
Если считать, что увых.1≈0, увх.13≈0, , то уравнение для коэффициента усиления (4) принимает видIf we assume that at output 1 ≈0, at input 13 ≈0, , then the equation for gain (4) takes the form
Таким образом, для повышения Ку необходимо использовать первый 11 и второй 12 выходные полевые транзисторы с как можно меньшей глубиной внутренней обратной связи (µ11≈10-2÷10-3).Thus, to increase K y, it is necessary to use the first 11 and second 12 output field-effect transistors with the smallest possible depth of internal feedback (µ 11 ≈10 -2 ÷ 10 -3 ).
Схема фиг. 3, соответствующая п. 3 формулы изобретения, обеспечивает более высокие значения коэффициента усиления по напряжению за счет повышения эквивалентного сопротивления в узлах А1 и А2. Для этой цели применяются усилители тока 23 и 24, практическая реализация которых возможна по схемам фиг. 4, фиг. 5, фиг. 6. Данные схемотехнические решения существенно уменьшают проводимость у11, и следовательно эквивалентную проводимость в узле А1, которая, однако, будет ограничена выходной проводимостью входных транзисторов 1 и 2 (увых.1, увых.2).The circuit of FIG. 3, corresponding to
Так, в схемах фиг. 4 и фиг. 5 эквивалентные проводимости у11, у12 существенно уменьшаются:So, in the diagrams of FIG. 4 and FIG. 5 equivalent conductivities in 11 , in 12 are significantly reduced:
где µij - коэффициент внутренней обратной связи соответствующих (ij) полевых транзисторов, характеризующих влияние напряжения сток-затвор на их стоко-затворную характеристику.where µ ij is the internal feedback coefficient of the corresponding (ij) field effect transistors characterizing the effect of the drain-gate voltage on their drain-gate characteristic.
Для минимизации составляющих увых.1 (увых.2) в эквивалентных проводимостях узлов Α1, А2 входные транзисторы 1 и 2 реализуются в соответствии с п. 7 формулы изобретения на основе составных транзисторов (чертеж фиг. 7). Применение составных активных элементов в качестве входных транзисторов 1 и 2 (фиг. 7), в соответствии с п. 7 формулы изобретения, уменьшает их эквивалентные выходные проводимости увых.1, увых.2 To minimize the components of output 1 ( output 2 ) in the equivalent conductivities of nodes Α1, A2,
В конечном итоге это также повышает Ку.Ultimately, it also increases K y .
Рассмотренный выше комплекс схемотехнических мер позволяет обеспечить повышенные значения одного из основных динамических параметров ДУ - коэффициента усиления по напряжению.The complex of circuitry measures considered above makes it possible to provide increased values of one of the main dynamic parameters of the remote control - voltage gain.
Экспериментальные исследования р-канальных полевых транзисторов биполярно-полевого технологического процесса [7] подтверждают их работоспособность до температуры -190°С, накопленной дозы радиации до 1 Мрад и потоке нейтронов до 10+3 н/см2.Experimental studies of r-channel field-effect transistors of a bipolar field process [7] confirm their operability up to a temperature of -190 ° C, an accumulated radiation dose of up to 1 Mrad and a neutron flux of up to 10 +3 n / cm 2 .
Таким образом, заявляемое устройство имеет существенные преимущества в сравнении с прототипом.Thus, the claimed device has significant advantages in comparison with the prototype.
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОКBIBLIOGRAPHIC LIST
1. Патент US 4.667.165 fig. 31. Patent US 4.667.165 fig. 3
2. Патент US 3.851.270 fig. 12. Patent US 3.851.270 fig. one
3. Патент US 6.433.638.3. Patent US 6.433.638.
4. Патент US 4.709.216 fig. 14. Patent US 4.709.216 fig. one
5. Патентная заявка US 2010/0117735 fig. 2.5. Patent application US 2010/0117735 fig. 2.
6. Патент US 5.563.598 fig. 6.6. Patent US 5.563.598 fig. 6.
7. Элементная база радиационно-стойких информационно-измерительных систем: монография / Н.Н. Прокопенко, О.В. Дворников, С.Г. Крутчинский; под. общ. ред. д.т.н. проф. Н.Н. Прокопенко; ФГБОУ ВПО «Южно-Рос. гос. ун-т. экономики и сервиса». - Шахты: ФГБОУ ВПО ЮРГУЭС, 2011. - 208 с. 7. The element base of radiation-resistant information-measuring systems: monograph / N.N. Prokopenko, O.V. Dvornikov, S.G. Krutchinsky; under. total ed. Doctor of Technical Sciences prof. N.N. Prokopenko; FSBEI HPE “South-Ros. state un-t economics and service. " - Mines: FSBEI HPE SRSUE, 2011. - 208 p.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2014143664/08A RU2571399C1 (en) | 2014-10-28 | 2014-10-28 | Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2014143664/08A RU2571399C1 (en) | 2014-10-28 | 2014-10-28 | Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2571399C1 true RU2571399C1 (en) | 2015-12-20 |
Family
ID=54871344
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2014143664/08A RU2571399C1 (en) | 2014-10-28 | 2014-10-28 | Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2571399C1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2621286C1 (en) * | 2016-02-24 | 2017-06-01 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) | Differential operational amplifier for operating at low temperatures |
RU2766861C1 (en) * | 2021-09-08 | 2022-03-16 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет» (ДГТУ) | Differential amplifier on field-effect transistors with control p-n junction |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6407537B2 (en) * | 1999-12-21 | 2002-06-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Voltage regulator provided with a current limiter |
RU2421887C1 (en) * | 2010-05-27 | 2011-06-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Differential amplifier with paraphase output |
RU2423779C1 (en) * | 2010-07-15 | 2011-07-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Differential amplifier with low-voltage input transistors |
EP2375565A1 (en) * | 2010-04-09 | 2011-10-12 | Nxp B.V. | Bias circuit design for bipolar power amplifier linearity improvement |
-
2014
- 2014-10-28 RU RU2014143664/08A patent/RU2571399C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6407537B2 (en) * | 1999-12-21 | 2002-06-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Voltage regulator provided with a current limiter |
EP2375565A1 (en) * | 2010-04-09 | 2011-10-12 | Nxp B.V. | Bias circuit design for bipolar power amplifier linearity improvement |
RU2421887C1 (en) * | 2010-05-27 | 2011-06-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Differential amplifier with paraphase output |
RU2423779C1 (en) * | 2010-07-15 | 2011-07-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Differential amplifier with low-voltage input transistors |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2621286C1 (en) * | 2016-02-24 | 2017-06-01 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) | Differential operational amplifier for operating at low temperatures |
RU2766861C1 (en) * | 2021-09-08 | 2022-03-16 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет» (ДГТУ) | Differential amplifier on field-effect transistors with control p-n junction |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104460811B (en) | Reference voltage temperature coefficient calibration circuit and method of work thereof | |
US9483069B2 (en) | Circuit for generating bias current | |
US10483922B2 (en) | Photoelectric conversion device | |
RU2571399C1 (en) | Differential amplifier based on radiation-resistant bipolar-field technological process for operation at low temperatures | |
KR20180030963A (en) | Linear regulator | |
RU2523124C1 (en) | Multi-differential operational amplifier | |
CN104090625B (en) | A kind of current mirror for low supply voltage | |
EP3696980A3 (en) | Configurations of composite devices comprising of a normally-on fet and a normally-off fet | |
CN114341764B (en) | Integrated circuit | |
Dvornikov et al. | The differential and differential difference operational amplifiers of sensor systems based on bipolar-field technological process AGAMC | |
Xu et al. | A 28 ppm/° C, 2.54 ppm/V,− 77 dB@ 100 Hz pico-ampere voltage reference for high-end IoT systems | |
RU2571578C1 (en) | Input stage of multidifferential operational amplifier for radiation-resistant bipolar-field process | |
RU2677401C1 (en) | Bipolar-field buffer amplifier | |
RU2741056C1 (en) | Radiation-resistant and low-temperature operational amplifier on complementary field-effect transistors | |
RU2615066C1 (en) | Operational amplifier | |
RU2615068C1 (en) | Bipolar-field differential operational amplifier | |
RU2568384C1 (en) | Precision operational amplifier based on radiation resistant bipolar and field process | |
Sanuy et al. | Wideband pulse amplifiers for the NECTAr chip | |
RU2741055C1 (en) | Operational amplifier with "floating" input differential cascade on complementary field-effect transistors with control p-n junction | |
RU2571579C1 (en) | Precision operational amplifier for radiation-proof bipolar field technological process | |
RU2732583C1 (en) | Low-temperature operational amplifier with high attenuation of input in-phase signal on complementary field-effect transistors with control p-n junction | |
RU2616573C1 (en) | Differential operation amplifier | |
RU2615071C1 (en) | Bipolar-field multidifferential operational amplifier | |
RU2621289C1 (en) | Two-stage differential operational amplifier with higher gain | |
RU2770916C1 (en) | Operational amplifier on complementary field-effect transistors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20161029 |