RU2375697C1 - Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц - Google Patents

Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц Download PDF

Info

Publication number
RU2375697C1
RU2375697C1 RU2008128096/28A RU2008128096A RU2375697C1 RU 2375697 C1 RU2375697 C1 RU 2375697C1 RU 2008128096/28 A RU2008128096/28 A RU 2008128096/28A RU 2008128096 A RU2008128096 A RU 2008128096A RU 2375697 C1 RU2375697 C1 RU 2375697C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
particles
emitter
mirror
elliptical mirror
focus
Prior art date
Application number
RU2008128096/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Александрович Чивель (BY)
Юрий Александрович Чивель
Игорь Смуров (FR)
Игорь Смуров
Бернард Лаже (FR)
Бернард Лаже
Original Assignee
Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси"
Национальная инженерная школа Сент-Этьенна
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси", Национальная инженерная школа Сент-Этьенна filed Critical Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси"
Priority to RU2008128096/28A priority Critical patent/RU2375697C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2375697C1 publication Critical patent/RU2375697C1/ru

Links

Landscapes

  • Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области диагностики, в частности диагностики слабосветящихся частиц при технологических процессах нанесения порошковых покрытий методами холодного газодинамического и детонационного напыления. Устройство содержит излучатель, оптически связанный с фокусирующим объективом и видеокамеру с проецирующим объективом. В качестве излучателя использована дуговая лампа с эллиптическим зеркалом, фокусирующей насадкой и сферическим зеркалом, оптически связанным с излучателем, причем центр кривизны сферического зеркала совпадает с фокусом эллиптического зеркала, а также оптической ловушкой. Техническим результатом является обеспечение идентификации треков с одновременным расширением функциональных возможностей устройства за счет диагностики потока частиц и обеспечение регистрации параметров холодных и слабонагретых частиц, а также удешевление комплекса диагностической аппаратуры. 1 ил.

Description

Изобретение относится к области диагностики, в частности диагностики слабосветящихся частиц при технологических процессах нанесения порошковых покрытий методами холодного газодинамического и детонационного напыления.
Известно устройство для диагностики потоков частиц [1], состоящее из видеокамеры и проецирующего объекта.
Данное устройство не может обеспечить регистрацию слабонагретых и холодных частиц и определить их параметры - скорость, размеры - ввиду низкой интенсивности свечения частиц и недостаточной чувствительности видеокамеры.
Наиболее близким по технической сущности к заявленному устройству является устройство для диагностики потоков частиц [2], состоящее из линейки импульсных полупроводниковых лазеров, видеокамеры и проецирующего объектива.
Недостатком данного устройства является трудность идентификации треков частиц из-за короткой длительности импульса лазеров, необходимость синхронизации видеокамеры и лазера, дороговизна аппаратного комплекса.
Задачей данного изобретения является обеспечение идентификации треков с одновременным расширением функциональных возможностей устройства за счет диагностики потока частиц и обеспечение регистрации параметров холодных и слабонагретых частиц, а также удешевление комплекса диагностической аппаратуры.
Поставленная техническая задача решается тем, что в устройстве для определения параметров высокоскоростного потока частиц, содержащем излучатель, оптически связанный с фокусирующим объективом и видеокамеру с проецирующим объективом, в качестве излучателя использована дуговая лампа с эллиптическим зеркалом, фокусирующей насадкой и сферическим зеркалом, оптически связанным с излучателем, причем центр кривизны сферического зеркала совпадает с фокусом эллиптического зеркала, а также оптической ловушкой.
Сущность изобретения поясняется чертежом, где изображен общий вид предлагаемого устройства.
Устройство содержит дуговую лампу 1 с цветовой температурой от 5000 до 6000 К, разрядный промежуток которой находится в фокусе эллиптического зеркала 2. На эллиптическое зеркало 2 надета фокусирующая насадка 3. В области второго фокуса эллиптического зеркала 2 располагается исследуемый поток частиц 4. Сферическое зеркало 5 размещено на оптической оси эллиптического зеркала 2 на расстоянии своего радиуса от фокуса эллиптического зеркала 2. Видеокамера 6 с проецирующим объективом расположена под углом к оптической оси. Проецирующий объектив отображает область потока вблизи фокуса на ПЗС - приемник видеокамеры 6. Излучение, не попадающее в апертуру сферического зеркала 5, поглощается в оптической ловушке 7, снижающей фоновую засветку.
Устройство работает следующим образом. Излучение дуговой лампы 1 фокусируется эллиптическим зеркалом 2 в область второго фокуса эллиптического зеркала 2 в пятно освечивания 8 диаметром приблизительно 15 мм. В эту область перпендикулярно оптической оси подается поток частиц 4. Излучение, рассеянное на частицах, регистрируется видеокамерой 6. Время экспозиции определяется длительностью открытия затвора видеокамеры и может составлять 1-10 мкс. Нерассеянное излучение попадает на сферическое зеркало 5 и возвращается в фокальную область эллиптического зеркала 2. Тем самым увеличивается интенсивность потока излучения в фокальной области. Фокусирующая насадка 3 также обеспечивает увеличение приблизительно на 20% интенсивности подсветки частиц.
Использование предлагаемого устройства позволило определить параметры холодных частиц, скорости и распределение по размерам при скоростях частиц от 700 до 1000 м/с при минимальных затратах на оборудование.
Литература
1. J.R.Fincke, W.D.Swank // IEEE Trans. Plasma Sci. v. PS-19, 1990, 948-957.
2..E.Hamalainen, J.Vattulainen et al. // Proceedings ITSC 2000, 2000, p.83-91.

Claims (1)

  1. Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц, содержащее излучатель и видеокамеру с проецирующим объективом, отличающееся тем, что дополнительно снабжено сферическим зеркалом и оптической ловушкой, а в качестве излучателя использована дуговая лампа, разрядный промежуток которой находится в фокусе эллиптического зеркала, на которое надета фокусирующая насадка, при этом сферическое зеркало, центр кривизны которого совпадает с фокусом эллиптического зеркала и оптической ловушкой, размещено на оптической оси эллиптического зеркала, в области второго фокуса которого располагается исследуемый поток частиц, а видеокамера с проецирующим объективом расположена под углом к оптической оси.
RU2008128096/28A 2008-07-09 2008-07-09 Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц RU2375697C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) 2008-07-09 2008-07-09 Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) 2008-07-09 2008-07-09 Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2375697C1 true RU2375697C1 (ru) 2009-12-10

Family

ID=41489710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) 2008-07-09 2008-07-09 Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2375697C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012023056A2 (ru) * 2010-07-19 2012-02-23 Chivel Yury Aleksandrovich Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления.
CN105891119A (zh) * 2015-02-18 2016-08-24 阿自倍尔株式会社 粒子检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HAMALAINEN E. et al. Imaging Diagnostics in Thermal Spraying - Spray Watch System. Proceedings of the 1 st International Thermal Spray Conference 8-11 May 2000, p.79-83. FINCKE J.R. et al. Simultaneous Measurement of Particle Size, Velocity, And Temperature in Thermal Plasmas. IEEE Trans. Plasma Sci., v.l8, №6, 1990, p.948-957. *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012023056A2 (ru) * 2010-07-19 2012-02-23 Chivel Yury Aleksandrovich Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления.
WO2012023056A3 (ru) * 2010-07-19 2012-06-07 Chivel Yury Aleksandrovich Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления.
RU2479861C2 (ru) * 2010-07-19 2013-04-20 Юрий Александрович Чивель Устройство для контроля и управления процессом термического напыления
CN105891119A (zh) * 2015-02-18 2016-08-24 阿自倍尔株式会社 粒子检测装置
CN105891119B (zh) * 2015-02-18 2019-10-29 阿自倍尔株式会社 粒子检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3212647B2 (ja) イメージングフローサイトメータ
JP3145486B2 (ja) イメージングフローサイトメータ
EP0950890B1 (en) Particle imaging apparatus
CN108037310B (zh) 一种用于显微粒子成像测速***的图像采集装置及采集方法
US11300492B2 (en) Multiple beam and convergent light illumination crossed-beam imaging
JP2001509266A (ja) 光学装置
EP2472248A3 (en) Microparticle detection apparatus
JPH073419B2 (ja) 流体中の細胞分析方法および装置
RU2375697C1 (ru) Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц
JP2008175590A (ja) パーティクルモニタシステム及び基板処理装置
JP2006012583A5 (ru)
JP2869423B2 (ja) 流体中の粒子分析装置
JP2869422B2 (ja) 流体中の粒子分析装置
JP2000056099A (ja) X線照射装置及びx線発生位置検出器
US20220214265A1 (en) Method, system, and lighting module for fast-moving particle characterization
JP4925036B2 (ja) 暗視野顕微鏡及びその調整方法
JP6249049B2 (ja) 微小粒子測定装置
JP2010101881A (ja) 粒子撮影装置
Murphy et al. Droplet sizing and imaging of agricultural sprays using particle/droplet image analyses
JP2009534694A (ja) 顕微鏡で使用するための、光反射が最小化された、均一な光の強さで照射するための装置
JPH07270302A (ja) イメージングフローサイトメータ
JP2835692B2 (ja) 流体中の粒子分析装置
JP4016328B2 (ja) 粘度測定方法および測定装置
JP2004151445A (ja) 輪帯光照射用光源ユニットおよび光学システム
RU107379U1 (ru) Система оптической регистрации

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20110710