RU2375697C1 - Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц - Google Patents
Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц Download PDFInfo
- Publication number
- RU2375697C1 RU2375697C1 RU2008128096/28A RU2008128096A RU2375697C1 RU 2375697 C1 RU2375697 C1 RU 2375697C1 RU 2008128096/28 A RU2008128096/28 A RU 2008128096/28A RU 2008128096 A RU2008128096 A RU 2008128096A RU 2375697 C1 RU2375697 C1 RU 2375697C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- particles
- emitter
- mirror
- elliptical mirror
- focus
- Prior art date
Links
Landscapes
- Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области диагностики, в частности диагностики слабосветящихся частиц при технологических процессах нанесения порошковых покрытий методами холодного газодинамического и детонационного напыления. Устройство содержит излучатель, оптически связанный с фокусирующим объективом и видеокамеру с проецирующим объективом. В качестве излучателя использована дуговая лампа с эллиптическим зеркалом, фокусирующей насадкой и сферическим зеркалом, оптически связанным с излучателем, причем центр кривизны сферического зеркала совпадает с фокусом эллиптического зеркала, а также оптической ловушкой. Техническим результатом является обеспечение идентификации треков с одновременным расширением функциональных возможностей устройства за счет диагностики потока частиц и обеспечение регистрации параметров холодных и слабонагретых частиц, а также удешевление комплекса диагностической аппаратуры. 1 ил.
Description
Изобретение относится к области диагностики, в частности диагностики слабосветящихся частиц при технологических процессах нанесения порошковых покрытий методами холодного газодинамического и детонационного напыления.
Известно устройство для диагностики потоков частиц [1], состоящее из видеокамеры и проецирующего объекта.
Данное устройство не может обеспечить регистрацию слабонагретых и холодных частиц и определить их параметры - скорость, размеры - ввиду низкой интенсивности свечения частиц и недостаточной чувствительности видеокамеры.
Наиболее близким по технической сущности к заявленному устройству является устройство для диагностики потоков частиц [2], состоящее из линейки импульсных полупроводниковых лазеров, видеокамеры и проецирующего объектива.
Недостатком данного устройства является трудность идентификации треков частиц из-за короткой длительности импульса лазеров, необходимость синхронизации видеокамеры и лазера, дороговизна аппаратного комплекса.
Задачей данного изобретения является обеспечение идентификации треков с одновременным расширением функциональных возможностей устройства за счет диагностики потока частиц и обеспечение регистрации параметров холодных и слабонагретых частиц, а также удешевление комплекса диагностической аппаратуры.
Поставленная техническая задача решается тем, что в устройстве для определения параметров высокоскоростного потока частиц, содержащем излучатель, оптически связанный с фокусирующим объективом и видеокамеру с проецирующим объективом, в качестве излучателя использована дуговая лампа с эллиптическим зеркалом, фокусирующей насадкой и сферическим зеркалом, оптически связанным с излучателем, причем центр кривизны сферического зеркала совпадает с фокусом эллиптического зеркала, а также оптической ловушкой.
Сущность изобретения поясняется чертежом, где изображен общий вид предлагаемого устройства.
Устройство содержит дуговую лампу 1 с цветовой температурой от 5000 до 6000 К, разрядный промежуток которой находится в фокусе эллиптического зеркала 2. На эллиптическое зеркало 2 надета фокусирующая насадка 3. В области второго фокуса эллиптического зеркала 2 располагается исследуемый поток частиц 4. Сферическое зеркало 5 размещено на оптической оси эллиптического зеркала 2 на расстоянии своего радиуса от фокуса эллиптического зеркала 2. Видеокамера 6 с проецирующим объективом расположена под углом к оптической оси. Проецирующий объектив отображает область потока вблизи фокуса на ПЗС - приемник видеокамеры 6. Излучение, не попадающее в апертуру сферического зеркала 5, поглощается в оптической ловушке 7, снижающей фоновую засветку.
Устройство работает следующим образом. Излучение дуговой лампы 1 фокусируется эллиптическим зеркалом 2 в область второго фокуса эллиптического зеркала 2 в пятно освечивания 8 диаметром приблизительно 15 мм. В эту область перпендикулярно оптической оси подается поток частиц 4. Излучение, рассеянное на частицах, регистрируется видеокамерой 6. Время экспозиции определяется длительностью открытия затвора видеокамеры и может составлять 1-10 мкс. Нерассеянное излучение попадает на сферическое зеркало 5 и возвращается в фокальную область эллиптического зеркала 2. Тем самым увеличивается интенсивность потока излучения в фокальной области. Фокусирующая насадка 3 также обеспечивает увеличение приблизительно на 20% интенсивности подсветки частиц.
Использование предлагаемого устройства позволило определить параметры холодных частиц, скорости и распределение по размерам при скоростях частиц от 700 до 1000 м/с при минимальных затратах на оборудование.
Литература
1. J.R.Fincke, W.D.Swank // IEEE Trans. Plasma Sci. v. PS-19, 1990, 948-957.
2..E.Hamalainen, J.Vattulainen et al. // Proceedings ITSC 2000, 2000, p.83-91.
Claims (1)
- Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц, содержащее излучатель и видеокамеру с проецирующим объективом, отличающееся тем, что дополнительно снабжено сферическим зеркалом и оптической ловушкой, а в качестве излучателя использована дуговая лампа, разрядный промежуток которой находится в фокусе эллиптического зеркала, на которое надета фокусирующая насадка, при этом сферическое зеркало, центр кривизны которого совпадает с фокусом эллиптического зеркала и оптической ловушкой, размещено на оптической оси эллиптического зеркала, в области второго фокуса которого располагается исследуемый поток частиц, а видеокамера с проецирующим объективом расположена под углом к оптической оси.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2375697C1 true RU2375697C1 (ru) | 2009-12-10 |
Family
ID=41489710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2008128096/28A RU2375697C1 (ru) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2375697C1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012023056A2 (ru) * | 2010-07-19 | 2012-02-23 | Chivel Yury Aleksandrovich | Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления. |
CN105891119A (zh) * | 2015-02-18 | 2016-08-24 | 阿自倍尔株式会社 | 粒子检测装置 |
-
2008
- 2008-07-09 RU RU2008128096/28A patent/RU2375697C1/ru not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
HAMALAINEN E. et al. Imaging Diagnostics in Thermal Spraying - Spray Watch System. Proceedings of the 1 st International Thermal Spray Conference 8-11 May 2000, p.79-83. FINCKE J.R. et al. Simultaneous Measurement of Particle Size, Velocity, And Temperature in Thermal Plasmas. IEEE Trans. Plasma Sci., v.l8, №6, 1990, p.948-957. * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012023056A2 (ru) * | 2010-07-19 | 2012-02-23 | Chivel Yury Aleksandrovich | Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления. |
WO2012023056A3 (ru) * | 2010-07-19 | 2012-06-07 | Chivel Yury Aleksandrovich | Способ контроля и управления процессом термического напыления и устройство для его осуществления. |
RU2479861C2 (ru) * | 2010-07-19 | 2013-04-20 | Юрий Александрович Чивель | Устройство для контроля и управления процессом термического напыления |
CN105891119A (zh) * | 2015-02-18 | 2016-08-24 | 阿自倍尔株式会社 | 粒子检测装置 |
CN105891119B (zh) * | 2015-02-18 | 2019-10-29 | 阿自倍尔株式会社 | 粒子检测装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3212647B2 (ja) | イメージングフローサイトメータ | |
JP3145486B2 (ja) | イメージングフローサイトメータ | |
EP0950890B1 (en) | Particle imaging apparatus | |
CN108037310B (zh) | 一种用于显微粒子成像测速***的图像采集装置及采集方法 | |
US11300492B2 (en) | Multiple beam and convergent light illumination crossed-beam imaging | |
JP2001509266A (ja) | 光学装置 | |
EP2472248A3 (en) | Microparticle detection apparatus | |
JPH073419B2 (ja) | 流体中の細胞分析方法および装置 | |
RU2375697C1 (ru) | Устройство для определения параметров высокоскоростного потока частиц | |
JP2008175590A (ja) | パーティクルモニタシステム及び基板処理装置 | |
JP2006012583A5 (ru) | ||
JP2869423B2 (ja) | 流体中の粒子分析装置 | |
JP2869422B2 (ja) | 流体中の粒子分析装置 | |
JP2000056099A (ja) | X線照射装置及びx線発生位置検出器 | |
US20220214265A1 (en) | Method, system, and lighting module for fast-moving particle characterization | |
JP4925036B2 (ja) | 暗視野顕微鏡及びその調整方法 | |
JP6249049B2 (ja) | 微小粒子測定装置 | |
JP2010101881A (ja) | 粒子撮影装置 | |
Murphy et al. | Droplet sizing and imaging of agricultural sprays using particle/droplet image analyses | |
JP2009534694A (ja) | 顕微鏡で使用するための、光反射が最小化された、均一な光の強さで照射するための装置 | |
JPH07270302A (ja) | イメージングフローサイトメータ | |
JP2835692B2 (ja) | 流体中の粒子分析装置 | |
JP4016328B2 (ja) | 粘度測定方法および測定装置 | |
JP2004151445A (ja) | 輪帯光照射用光源ユニットおよび光学システム | |
RU107379U1 (ru) | Система оптической регистрации |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20110710 |