RU2311492C1 - Device for high-speed magnetron sputtering - Google Patents
Device for high-speed magnetron sputtering Download PDFInfo
- Publication number
- RU2311492C1 RU2311492C1 RU2006114574/02A RU2006114574A RU2311492C1 RU 2311492 C1 RU2311492 C1 RU 2311492C1 RU 2006114574/02 A RU2006114574/02 A RU 2006114574/02A RU 2006114574 A RU2006114574 A RU 2006114574A RU 2311492 C1 RU2311492 C1 RU 2311492C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- target
- magnetic
- cathode
- anode
- magnets
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
Устройство относится к технике вакуумного нанесения металлических и диэлектрических покрытий методом магнетронного распыления на различные подложки, включая металлы, стекло, полимерные пленки и ткани.The device relates to techniques for vacuum deposition of metal and dielectric coatings by magnetron sputtering on various substrates, including metals, glass, polymer films and fabrics.
Известны устройства для вакуумного нанесения покрытий методом магнетронного распыления, в которых распыляемая мишень находится над магнитной системой (J.S.Chapin. Research / Development. 1, 39, 1974, патент РФ №2107971, С23С 14/35, 1998).Known devices for vacuum coating by magnetron sputtering, in which the sprayed target is located above the magnetic system (J.S. Chapin. Research / Development. 1, 39, 1974, RF patent No. 2107971, C23C 14/35, 1998).
Такие устройства имеют сравнительно небольшие скорости нанесения покрытий (~50 Å/с), поскольку мишень распыляется в основном в узкой зоне, что приводит к локальному перегреву ее при больших мощностях. Это в свою очередь приводит к термомеханическому изгибу мишени, и в итоге к выходу из строя конструкции магнетрона. Кроме того, при реактивном распылении участки мишени, не подвергающиеся распылению, т.е. ее центральные и периферийные области, покрываются диэлектрическими слоями, которые вызывают пробои, что негативно сказывается на работе источника питания магнетрона, вплоть до выхода его из строя (A.Segers et al. Arc discharges in the reactive sputtering of electrical insulating compounds. Society of Vacuum Coaters. 45-th Annual Techn. Conf. Proceedings. 2002, p.30-35). Эти же пробои являются причиной появления дефектов в покрытии из-за капельной фазы материала мишени, возникающей в результате микропробоев диэлектрических областей. Арочная конфигурация магнитного поля в таких устройствах приводит к тому, что электроны и ионы с энергией ~500 эВ, двигаясь по незамкнутым на поверхности мишени линиям магнитного поля, попадают на подложку, вызывая ее перегрев, что не позволяет наносить покрытия с требуемой производительностью на подложки из нетермостойких материалов, такие как полимерные пленки, ткани и т.п.Such devices have relatively low deposition rates (~ 50 Å / s), since the target is sputtered mainly in a narrow zone, which leads to its local overheating at high powers. This, in turn, leads to thermomechanical bending of the target, and as a result to failure of the magnetron structure. In addition, in reactive sputtering, non-sputtering target portions, i.e. its central and peripheral regions are covered by dielectric layers that cause breakdowns, which negatively affects the operation of the magnetron power source, up to its failure (A. Segers et al. Arc discharges in the reactive sputtering of electrical insulating compounds. Society of Vacuum Coaters. 45-th Annual Techn. Conf. Proceedings. 2002, p.30-35). The same breakdowns are the cause of defects in the coating due to the droplet phase of the target material resulting from micro breakdowns of the dielectric regions. The arched configuration of the magnetic field in such devices leads to the fact that electrons and ions with energies of ~ 500 eV, moving along lines of the magnetic field that are not open on the target surface, fall on the substrate, causing it to overheat, which does not allow coating with the required performance on the substrates non-heat resistant materials such as polymer films, fabrics, etc.
Наиболее близкой к предлагаемому устройству является конструкция магнетрона, в которой мишень расположена между полюсными наконечниками магнитной системы, находящейся под плавающим потенциалом (R.Kukla et al. A highest rate self-sputtering magnetron source. Vacuum, V.41, №7-9, p.1968-1970, 1990). В этой конструкции магнитные силовые линии располагаются практически параллельно распыляемой поверхности мишени, так что магнетронный разряд достаточно равномерно распределяется по мишени, и вся ее поверхность подвергается эффективному распылению, т.е. на поверхности мишени не образуется нераспыляемых участков. Кроме того, поскольку полюсные наконечники магнитной системы находятся под плавающим потенциалом (~ -10В), то электроны, находящиеся над ними, не получают достаточно энергии, чтобы вызвать поток ионов, т.е. напыляемая подложка не перегревается из-за воздействия ионов и электронов даже при больших мощностях, подводимых к мишени.Closest to the proposed device is the design of the magnetron, in which the target is located between the pole tips of the magnetic system under floating potential (R. Kukla et al. A highest rate self-sputtering magnetron source. Vacuum, V.41, No. 7-9, p. 1968-1970, 1990). In this design, the magnetic field lines are located almost parallel to the sprayed surface of the target, so that the magnetron discharge is fairly evenly distributed over the target, and its entire surface undergoes effective spraying no spray areas are formed on the target surface. In addition, since the pole pieces of the magnetic system are at a floating potential (~ -10V), the electrons above them do not receive enough energy to cause an ion flux, i.e. the sprayed substrate does not overheat due to the action of ions and electrons even at high powers supplied to the target.
Известное устройство имеет следующие недостатки.The known device has the following disadvantages.
Из распределения параллельной и перпендикулярной составляющих магнитного поля на поверхности мишени для такой конструкции следует, что перпендикулярная составляющая магнитного поля B⊥ пересекает поверхность мишени, т.е. равняется нулю, только в одной точке. Это указывает на то, что интенсивность магнетронного разряда здесь максимальна, так что негативное влияние неравномерности разряда плазмы в этой конструкции в значительной мере сохраняется.From the distribution of the parallel and perpendicular components of the magnetic field on the target surface for such a structure, it follows that the perpendicular component of the magnetic field B ⊥ intersects the target surface, i.e. equals zero, at only one point. This indicates that the intensity of the magnetron discharge is maximum here, so that the negative effect of the non-uniformity of the plasma discharge in this design is largely preserved.
Кроме того, для обеспечения минимального нагрева подложки при высокоскоростном магнетронном распылении необходимо, чтобы водоохлаждаемый анод находился под положительным смещением относительно земли (J.R.Doyle et al. Effect of anode bias on plasma confinement in direct current magnetron discharges. Y. Vac. Sci. TechoL, A 12(3), May/Jun 1994).In addition, to ensure minimum substrate heating during high-speed magnetron sputtering, it is necessary that the water-cooled anode be positively offset from the ground (JR Doyle et al. Effect of anode bias on plasma confinement in direct current magnetron discharges. Y. Vac. Sci. TechoL, A 12 (3), May / Jun 1994).
Для получения качественных покрытий с высокой равнотолщинностью рабочий газ следует подавать на поверхность мишени с высокой равномерностью по всей ее длине, что примерно вдвое уменьшает необходимое для работы магнетрона количество газа и за счет этого примерно вдвое снижает газовую нагрузку на высоковакуумный насос.To obtain high-quality coatings with high uniform thickness, the working gas should be supplied to the target surface with high uniformity along its entire length, which approximately halves the amount of gas required for the operation of the magnetron and thereby reduces the gas load on the high-vacuum pump by about half.
Задачей предлагаемого изобретения является создание устройства для высокоскоростного магнетронного распыления, имеющего максимальную скорость нанесения покрытия при минимальной термической нагрузке на напыляемую поверхность.The objective of the invention is to provide a device for high-speed magnetron sputtering having a maximum coating rate with minimal thermal load on the sprayed surface.
В результате использования предлагаемого изобретения появляется возможность наносить в вакууме металлические и диэлектрические покрытия с высокой равномерностью по толщине и с минимальной тепловой нагрузкой на напыляемые подложки, обеспечивая коэффициент использования материала мишени в 60-70%, при этом увеличивается скорость нанесения покрытий, уменьшается температура поверхности, на которую наносится покрытие при одновременном снижении требуемой скорости высоковакуумной откачки.As a result of the use of the present invention, it becomes possible to apply metal and dielectric coatings in vacuum with high uniformity in thickness and with a minimum heat load on the sprayed substrates, providing a coefficient of utilization of the target material of 60-70%, while the deposition rate increases, the surface temperature decreases, on which the coating is applied while reducing the required high-vacuum pumping speed.
Вышеуказанный технический результат достигается тем, что в устройстве для высокоскоростного магнетронного распыления, содержащем корпус с магнитной системой, между полюсами которой установлен распыляемый катод, причем на распыляемой поверхности имеются выступы, служащие для электростатического удержания плазмы на поверхности мишени, а мишень имеет вид полого катода, при этом магнитная система находится под плавающим потенциалом, и анод, анод находится под положительным относительно земли потенциалом и включает в себя газораспределительную систему, состоящую из металлической трубы прямоугольного сечения, внутри которой расположены перфорированные перегородки, которые образуют четыре каскада газораспределения с равномерной подачей рабочего газа на поверхность распыляемого катода, а магниты магнитной системы установлены сверху полюсных наконечников, причем магнитопровод магнитной системы имеет жидкостное охлаждение.The above technical result is achieved in that in a device for high-speed magnetron sputtering, comprising a housing with a magnetic system, between the poles of which a sprayed cathode is mounted, and on the sprayed surface there are protrusions serving to electrostatically hold the plasma on the target surface, and the target has the form of a hollow cathode, while the magnetic system is at a floating potential, and the anode, anode is at a potential positive relative to the ground and includes a gas distribution tion system consisting of a metal tube of rectangular section, inside which are located the perforated partitions, which form a four-stage valve with a uniform supply of the working gas on the surface of the sputtering cathode and the magnets of the magnetic system mounted on top of the pole pieces, the magnetic circuit of the magnetic system has liquid cooling.
В устройстве на боковых гранях магнитов установлены магнитные шунты из магнитной стали.In the device, magnetic magnetic steel shunts are installed on the side faces of the magnets.
В предлагаемом устройстве мишень может быть припаяна к системе охлаждения низкотемпературным припоем, а может крепиться к системе охлаждения механически, например винтами.In the proposed device, the target can be soldered to the cooling system with low-temperature solder, and can be attached to the cooling system mechanically, for example with screws.
Сущность изобретения поясняется чертежами.The invention is illustrated by drawings.
На фиг.1 представлена общая схема конструкции предлагаемого устройства.Figure 1 presents the General design diagram of the proposed device.
На фиг.2 представлена схема системы газораспределения.Figure 2 presents a diagram of a gas distribution system.
На фиг.3 - картина силовых линий магнитного поля на поверхности мишени.Figure 3 is a picture of the magnetic field lines on the surface of the target.
Устройство для высокоскоростного магнетронного распыления содержит магнитную систему 1, катод-мишень 2, анод с системой газораспределения 3. Магнитная система включает в себя магниты 4, полюсные наконечники 5 и магнитопровод 6, охлаждаемый водой через медную трубку 15, припаянную к магнитопроводу.A device for high-speed magnetron sputtering contains a
Между полюсными наконечниками магнитной системы установлен катод-мишень 2 с системой охлаждения 7, электрически изолированный от магнитопровода изолятором 8. В данном случае мишень припаяна к системе охлаждения низкотемпературным припоем. Однако мишень может крепиться к системе охлаждения и механически, например винтами. На распыляемой поверхности имеются выступы 9, служащие для электростатического удержания плазмы на поверхности мишени, т.е. мишень имеет вид полого катода. Пунктиром на мишени показана характерная зона выработки материала мишени. Штифты 10 служат для фиксации мишени в процессе ее пайки к системе охлаждения. Винты 11 служат для фиксации катодного узла в магнитной системе. Полюсные наконечники вместе с магнитами закрыты медным кожухом 12, предназначенным для отвода тепла от магнитов.A cathode-
Анод состоит из системы газораспределения 3 и трубки водяного охлаждения 13, припаянной или приваренной к верхней части системы газораспределения. Анод электрически изолирован от корпуса магнетрона изоляторами 14.The anode consists of a
Расположение магнитов сверху полюсных наконечников позволяет существенно изменить картину силовых линий магнитного поля на поверхности мишени (фиг.3).The location of the magnets on top of the pole pieces can significantly change the picture of the magnetic field lines on the surface of the target (figure 3).
Как можно видеть из фиг.3, такая установка магнитов соответствующей намагниченности позволяет получить равномерную интенсивность магнетронного разряда практически по всей ширине распыляемой мишени. Для устранения возможной неоднородности магнитного поля по длине мишени, которая может быть вызвана зазорами между магнитами и разной степенью их намагниченности, используют магнитные шунты 16 из магнитомягкой стали (на фиг.1 не показаны).As can be seen from figure 3, such an installation of magnets of the corresponding magnetization allows you to get a uniform intensity of the magnetron discharge over almost the entire width of the sputtered target. To eliminate possible heterogeneity of the magnetic field along the length of the target, which can be caused by the gaps between the magnets and their different degrees of magnetization, magnetic shunts 16 made of soft magnetic steel are used (not shown in FIG. 1).
Схема системы газораспределения приведена на фиг.2. Система газораспределения состоит из металлической трубы прямоугольного сечения 17, внутри которой расположены перфорированные перегородки 18. Они образуют четыре каскада газораспределения 19, 20, 21 и 22. Эта система похожа на хорошо известную бинарную систему газораспределения (F.Milde et al. Gas Inlet System for Large Area Linear Magnetron Sputtering Sources. Society of Vacuum Coaters, 44-th Annual Technical Conference Proceedings, 2001, p.204-209), однако выгодно отличается от нее простотой изготовления, надежностью (не засоряется) и имеет меньшее время реакции потока газа, необходимого для поддержания заданного технологического процесса.The timing system is shown in figure 2. The gas distribution system consists of a metal pipe of
В обычной бинарной системе газораспределения газ сильно тормозится за счет соударений со стенками малых каналов, поэтому при быстроменяющихся процессах, как в реактивном распылении, она не всегда успевает отследить процесс. Предлагаемая система практически устраняет этот недостаток. Вместо одной трубы 17 в данной конструкции возможно использовать четыре трубы квадратного сечения, по одной на каждый каскад. При этом трубы должны быть герметично сварены по периметру.In a conventional binary gas distribution system, gas is strongly inhibited due to collisions with the walls of small channels, therefore, with rapidly changing processes, as in jet spraying, it does not always have time to track the process. The proposed system virtually eliminates this drawback. Instead of one
Устройство для высокоскоростного магнетронного распыления работает следующим образом.A device for high-speed magnetron sputtering works as follows.
Вакуумная камера, в которую установлено устройство, откачивается до давления не более 5·10-5 мм рт.ст. Затем в анод с газораспределительной системой 3 подается рабочий газ, как правило аргон. При этом на анод от источника питания подается постоянное положительное напряжение от +10 до +500 В, в зависимости от требуемого технологического процесса. На катод-мишень 2 от источника питания подается постоянное отрицательное напряжение величиной от -300 до -1000 В. Над мишенью зажигается магнетронный разряд, при этом на полюсах магнитной системы 5 возникает плавающий потенциал величиной ~ -10 В в зависимости от состава остаточного газа в вакуумной камере. Мощность, подаваемая на анод и катод данного устройства, ограничена только теплопередачей от мишени 2 к системе охлаждения 7, при этом тепловая нагрузка на подложку обусловлена только энергией конденсирующихся атомов мишени. По сравнению с обычным устройством магнетронного распыления, в котором мишень расположена над магнитной системой, предлагаемое устройство позволяет примерно в 10 раз увеличить удельную мощность на поверхности мишени, что примерно в 10 раз повышает скорость нанесения покрытий без существенного повышения температуры подложки. Наличие анода 3 с системой газораспределения 17, включающей четыре каскада распределения рабочего газа 19, 20, 21 и 22, обеспечивает равномерную подачу газа по всей рабочей поверхности мишени, за счет чего обеспечивается равнотолщинность наносного покрытия материала мишени по всей длине магнетрона.The vacuum chamber in which the device is installed is pumped to a pressure of not more than 5 · 10 -5 mm Hg. Then, the working gas, usually argon, is supplied to the anode with the
ЛитератураLiterature
1. J.S. Chapin. Research / Development. 1, 39 (1974).1. J.S. Chapin. Research / Development. 1, 39 (1974).
2. П.С.Ананьин, В.П.Кривобоков, О.С.Кузьмин, В.Н.Легостаев. Магнетронная распылительная система. Патент РФ №2107971, С23С 14/35, 1998.2. P.S. Ananyin, V.P. Krivobokov, O.S. Kuzmin, V.N. Legostaev. Magnetron Spray System. RF patent No. 2107971, C23C 14/35, 1998.
3. A.Segers et al. Arc discharges in the reactive sputtering of electrical insulating compounds. Society of Vacuum Coaters. 45-th Annual Techn. Conf. Proceedings. 2002, p.30-35.3. A. Segers et al. Arc discharges in the reactive sputtering of electrical insulating compounds. Society of Vacuum Coaters. 45th annual Techn. Conf. Proceedings. 2002, p.30-35.
4. R.Kukia et al. A highest rate self-sputtering magnetron source. Vacuum, V.41, №7-9, p.1968-1970, 1990.4. R. Kukia et al. A highest rate self-sputtering magnetron source. Vacuum, V.41, No. 7-9, p. 1968-1970, 1990.
5. J.R.Doyle et al. Effect of anode bias on plasma confinement in direct current magnetron discharges. Y. Vac. Sci. Techol, A 12(3), May/Jun 1994.5. J. R. Doyle et al. Effect of anode bias on plasma confinement in direct current magnetron discharges. Y. Vac. Sci. Techol, A 12 (3), May / Jun 1994.
6. F.Milde et al. Gas Inlet System for Large Area Linear Magnetron Sputtering Sources. Society of Vacuum Coaters, 44-th Annual Technical Conference Proceedings, 2001, p.204-209.6. F. Milde et al. Gas Inlet System for Large Area Linear Magnetron Sputtering Sources. Society of Vacuum Coaters, 44th Annual Technical Conference Proceedings, 2001, p.204-209.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006114574/02A RU2311492C1 (en) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | Device for high-speed magnetron sputtering |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006114574/02A RU2311492C1 (en) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | Device for high-speed magnetron sputtering |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2311492C1 true RU2311492C1 (en) | 2007-11-27 |
Family
ID=38960294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2006114574/02A RU2311492C1 (en) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | Device for high-speed magnetron sputtering |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2311492C1 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2476953C2 (en) * | 2008-03-12 | 2013-02-27 | Алитус Корпорейшн, С.А. | Plasma system |
RU2528536C1 (en) * | 2013-01-09 | 2014-09-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" | Magnetic unit of spraying system |
RU2574537C2 (en) * | 2010-06-22 | 2016-02-10 | Эрликон Трейдинг Аг, Трюббах | Arc evaporator with preset electric field |
RU2634534C2 (en) * | 2016-04-25 | 2017-10-31 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Device for application of coatings in vacuum |
RU2640505C2 (en) * | 2012-09-14 | 2018-01-09 | Вейпор Текнолоджиз Инк. | Methods using remote arc discharge plasma |
RU2662912C2 (en) * | 2013-03-15 | 2018-07-31 | Вейпор Текнолоджиз Инк. | Low pressure arc plasma immersion coating vapour deposition and ion treatment |
-
2006
- 2006-04-28 RU RU2006114574/02A patent/RU2311492C1/en not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
R.KUKLA et al. A highest rate self-sputtering magnetron source. Vacuum, V.41, №7-9, p.1968-1970, 1990. * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2476953C2 (en) * | 2008-03-12 | 2013-02-27 | Алитус Корпорейшн, С.А. | Plasma system |
RU2574537C2 (en) * | 2010-06-22 | 2016-02-10 | Эрликон Трейдинг Аг, Трюббах | Arc evaporator with preset electric field |
RU2640505C2 (en) * | 2012-09-14 | 2018-01-09 | Вейпор Текнолоджиз Инк. | Methods using remote arc discharge plasma |
RU2528536C1 (en) * | 2013-01-09 | 2014-09-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" | Magnetic unit of spraying system |
RU2662912C2 (en) * | 2013-03-15 | 2018-07-31 | Вейпор Текнолоджиз Инк. | Low pressure arc plasma immersion coating vapour deposition and ion treatment |
RU2634534C2 (en) * | 2016-04-25 | 2017-10-31 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Device for application of coatings in vacuum |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Schneider et al. | Recent developments in plasma assisted physical vapour deposition | |
CA2205576C (en) | An apparatus for generation of a linear arc discharge for plasma processing | |
JP4907124B2 (en) | Anode for sputter coating | |
US4006073A (en) | Thin film deposition by electric and magnetic crossed-field diode sputtering | |
KR20020005512A (en) | Biased shield in a magnetron sputter reactor | |
JPH0633453B2 (en) | Equipment for depositing thin layers on substrates by cathodic sputtering | |
EP2014142A2 (en) | Dual plasma beam sources and method | |
RU2311492C1 (en) | Device for high-speed magnetron sputtering | |
US6623610B1 (en) | Magnetron sputtering target for magnetic materials | |
JP5232190B2 (en) | Source for vacuum processing process | |
US20090314631A1 (en) | Magnetron With Electromagnets And Permanent Magnets | |
TWM592875U (en) | Tilted magnetron in a pvd sputtering deposition chamber | |
US4209552A (en) | Thin film deposition by electric and magnetic crossed-field diode sputtering | |
JP6896691B2 (en) | Low temperature arc discharge ion plating coating | |
JP2001140073A (en) | Back face cooling gas for self-sputtering | |
JPS6176673A (en) | Sputtering method | |
KR100951007B1 (en) | Magnetron sputtering apparatus | |
KR100329632B1 (en) | Planar typed arc ion plating apparatus using cathodic arc discharge | |
JP2777657B2 (en) | Plasma deposition equipment | |
KR100281035B1 (en) | Magnetic sputtering cathode device | |
RU2022493C1 (en) | Plasma accelerator with closed drift of electrons | |
JP3778501B2 (en) | Sputtering apparatus and sputtering method | |
KR100779247B1 (en) | Manufacturing method of decorative metal plate | |
GB2108533A (en) | Ion plating | |
KR100701365B1 (en) | Apparatus for improving sputtering effect according to plasma source in pvd |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20080429 |