RU2265830C2 - Device for detecting crystals and polycrystals in article - Google Patents

Device for detecting crystals and polycrystals in article Download PDF

Info

Publication number
RU2265830C2
RU2265830C2 RU2000128151/28A RU2000128151A RU2265830C2 RU 2265830 C2 RU2265830 C2 RU 2265830C2 RU 2000128151/28 A RU2000128151/28 A RU 2000128151/28A RU 2000128151 A RU2000128151 A RU 2000128151A RU 2265830 C2 RU2265830 C2 RU 2265830C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
detector
collimation
ray
collimator
ray source
Prior art date
Application number
RU2000128151/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2000128151A (en
Inventor
РИЗ Герман (DE)
РИЗ Герман
ШАЛЛ Патриси (DE)
ШАЛЛ Патрисия
КОРДЕЗ Франк (DE)
КОРДЕЗ Франк
ХАРТИКК Мартин (DE)
ХАРТИКК Мартин
Original Assignee
Хайманн Системс Гмбх
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хайманн Системс Гмбх filed Critical Хайманн Системс Гмбх
Publication of RU2000128151A publication Critical patent/RU2000128151A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2265830C2 publication Critical patent/RU2265830C2/en

Links

Images

Classifications

    • G01V5/222—
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01V5/224—
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K5/00—Irradiation devices
    • G21K5/04—Irradiation devices with beam-forming means

Abstract

FIELD: investigating or analyzing materials.
SUBSTANCE: device comprises collimating-detecting system that is made controllable in height with respect to the source of Roentgen radiation. The system and source are adjustable in longitudinal and transverse directions. The collimating-detecting system is provided with single collimator and detector. The collimator has conically diverging circular slot, which reproduce a given angle of the light path of diffusion radiation.
EFFECT: increased rate of detecting.
cl, dwg

Description

Настоящее изобретение относится к устройству для определения наличия в предмете кристаллических и поликристаллических материалов.The present invention relates to a device for determining the presence in the subject of crystalline and polycrystalline materials.

В целях обеспечения безопасности, например, воздушного сообщения багаж (объект) с входящими в этот багаж предметами необходимо контролировать прежде всего на наличие взрывчатых веществ, для чего задействуются самые современные технические средства.In order to ensure security, for example, by air, baggage (object) with items included in this baggage must be monitored primarily for the presence of explosives, for which the most modern technical means are used.

Для поиска взрывчатых веществ может быть, в частности, использован рентгенодифракционный анализ, в котором измеряют рассеянное кристаллической структурой рентгеновское излучение и сравнивают его с характерными энергетическими спектрами, например, различных взрывчатых веществ, что позволяет на основании указанного измерения энергии сделать вывод о наличии в объекте взрывчатого вещества, а также о материале взрывчатого вещества.To search for explosives, in particular, X-ray diffraction analysis can be used, in which the X-ray radiation scattered by the crystal structure is measured and compared with the characteristic energy spectra, for example, various explosives, which allows us to conclude that there is explosive in the object substances, as well as explosive material.

В DE 19510168 А1 описано соответствующее устройство. В этом устройстве на источнике рентгеновского излучения установлена диафрагма, с помощью которой формируется веерообразный пучок рентгеновских лучей, направляемый на контролируемую зону проверяемого материала. В контролируемой зоне напротив источника рентгеновского излучения симметрично оси центрального рентгеновского луча в плоскости, перпендикулярной веерообразному пучку рентгеновских лучей, расположены щелевые коллиматоры. Рентгеновское излучение детектируется по всей просвечиваемой контролируемой зоне несколькими детекторами.DE 19510168 A1 describes a corresponding device. In this device, a diaphragm is installed on the x-ray source, with the help of which a fan-shaped x-ray beam is formed, directed to the controlled area of the material being tested. Slit collimators are located in the controlled area opposite the x-ray source symmetrically to the axis of the central x-ray in a plane perpendicular to the fan-shaped x-ray beam. X-ray radiation is detected over the entire translucent controlled area by several detectors.

В ЕР 0354045 А2 описаны устройство и способ, в которых также предусмотрено формирование веерообразного пучка рентгеновских лучей. При просвечивании проверяемого объекта этим веерообразным пучком рентгеновские лучи дифрагируют на кристаллической решетке объекта, что регистрируется в виде энергетического спектра несколькими детекторами.EP 0354045 A2 describes a device and method in which the formation of a fan-shaped x-ray beam is also provided. When a test object is illuminated by this fan-shaped beam, x-rays are diffracted on the crystal lattice of the object, which is recorded in the form of an energy spectrum by several detectors.

Еще одно устройство описано в US 4956856. В этом устройстве формируется узкий пучок рентгеновских лучей, который вращающимся диском со спиралевидной щелью направляется на просвечиваемый объект. Этой щелью узкий пучок перемещается по проверяемому объекту в поперечном направлении.Another device is described in US Pat. No. 4,956,856. A narrow x-ray beam is formed in this device, which is directed by a rotating disk with a spiral-shaped slit onto a translucent object. With this slit, a narrow beam moves across the test object in the transverse direction.

Использование в рентгеновской установке первичного пучка лучей небольшого сечения описано в DE 4101544 А1. При этом рассеянное излучение первичного пучка лучей регистрируется несколькими детекторами и концентрической коллиматорной системой.The use of a small sectional primary beam in an X-ray machine is described in DE 4101544 A1. In this case, the scattered radiation of the primary beam of rays is detected by several detectors and a concentric collimator system.

В публикации SU 1608526 А1 раскрыто наиболее близкое к изобретению техническое решение, по существу относящееся к устройству для определения наличия кристаллических и поликристаллических материалов предмета в объектах, имеющему электронограф, включающий коллимационно-детекторную систему, состоящую из коллиматоров и детекторов, и ориентированный на нее источник рентгеновского излучения. Однако известное решение относится к рентгеновскому вычислительному томографическому устройству и не приспособлено для быстрого определения наличия кристаллических и поликристаллических материалов в отдельных предметах багажа.In the publication SU 1608526 A1, the technical solution closest to the invention is disclosed, essentially related to a device for determining the presence of crystalline and polycrystalline materials of an object in objects having an electron diffractor comprising a collimation-detector system consisting of collimators and detectors and an x-ray source oriented thereto radiation. However, the known solution relates to an x-ray computed tomographic device and is not adapted to quickly determine the presence of crystalline and polycrystalline materials in individual items of baggage.

Соответственно, недостаток вышеописанных устройств состоит в том, что для определения всех не разрешенных к провозу предметов багажа сканированию всегда подвергается все место багажа целиком.Accordingly, the disadvantage of the above devices is that in order to determine all items of baggage not allowed for transportation, the entire piece of baggage is always scanned.

Из DE 4130039 А1 известна система для формирования вытянутого пучка рентгеновских лучей. Используемая для этой цели диафрагма состоит из двух ограничительных элементов, которые ориентированы друг относительно друга таким образом, чтобы ограничивать промежуток, соответствующий форме пучка лучей. Эта система предназначена для увеличения охватываемой рентгеновским излучением площади поверхности.A system for generating an elongated x-ray beam is known from DE 4130039 A1. The diaphragm used for this purpose consists of two restrictive elements that are oriented relative to each other so as to limit the gap corresponding to the shape of the beam of rays. This system is designed to increase the surface area covered by X-rays.

Исходя из вышеизложенного, в основу настоящего изобретения была положена задача разработать такое устройство указанного в начале описания типа, которое позволяло бы быстро определять наличие в отдельном предмете кристаллических и поликристаллических материалов.Based on the foregoing, the present invention was based on the task of developing such a device of the type indicated at the beginning of the description that would quickly determine the presence of crystalline and polycrystalline materials in a single object.

Указанная задача решается за счет усовершенствования конструкции ближайшего аналога таким образом, что коллимационно-детекторная система имеет возможность регулирования ее положения по высоте относительно источника рентгеновского излучения с помощью соответствующих приспособлений и возможность синхронного регулирования ее бокового положения вместе с этим источником рентгеновского излучения, для чего источник рентгеновского излучения выполнен с возможностью направленного перемещения в боковом направлении с помощью приспособления, а управление указанными приспособлениями осуществляется компьютером.This problem is solved by improving the design of the closest analogue in such a way that the collimation-detector system has the ability to adjust its height position relative to the x-ray source using appropriate devices and the ability to synchronously adjust its lateral position with this x-ray source, for which the x-ray source radiation is made with the possibility of directional movement in the lateral direction using niya, and the control of these devices is carried out by a computer.

Основная идея изобретения состоит в том, чтобы на соответствующей ступени контроля располагать в рентгеновской установке электронограф, включающий коллимационно-детекторную систему и направленный на нее источник рентгеновского излучения, с возможностью регулирования по высоте и в поперечном направлении, что с использованием рентгенодифракционного анализа позволяет определять материал предмета в заданной локальной зоне контроля. С этой целью коллимационно-детекторная система и источник рентгеновского излучения выполнены с возможностью их совместного синхронного регулирования по положению, при этом коллимационно-детекторную систему предпочтительно выполняют регулируемой по высоте относительно источника рентгеновского излучения.The main idea of the invention is to install an electronograph in an X-ray unit at an appropriate control stage, including a collimation-detector system and an X-ray source directed at it, with the possibility of adjustment in height and in the transverse direction, which allows using the X-ray diffraction analysis to determine the material of an object in a given local control zone. To this end, the collimation-detector system and the x-ray source are configured to be synchronously jointly controlled in position, while the collimation-detector system is preferably made height-adjustable relative to the x-ray source.

На основании лишь двух известных координат предварительно заданной локальной зоны (например, положения транспортерной ленты и угла) регулируемый по положению электронограф может непрерывно сканировать третью недостающую координату за один измерительный проход. Благодаря этому создается возможность измерять и определять с привязкой к конкретной локальной зоне расположенные на этой линии материалы. На основании трех известных координат предварительно заданной локальной зоны электронограф может целенаправленно наводиться на ту точку, в которой затем будет определен тип материала.Based on only two known coordinates of a predefined local area (for example, the position of the conveyor belt and the angle), an electronically adjustable position scanner can continuously scan the third missing coordinate in one measurement pass. This creates the opportunity to measure and determine, with reference to a specific local zone, the materials located on this line. Based on the three known coordinates of the predefined local zone, the electron diffractor can purposefully aim at the point at which the type of material will then be determined.

При этом предпочтительно, чтобы регулируемая по высоте коллимационно-детекторная система состояла из юстируемого коллиматора и расположенного за ним детектора. В таком варианте коллиматор может иметь конически расширяющуюся круговую щель, воспроизводящую заданный угол и ориентированную на детектор.In this case, it is preferable that the height-adjustable collimation-detector system consisted of an adjustable collimator and a detector located behind it. In such an embodiment, the collimator may have a conically expanding circular slit reproducing a given angle and oriented to the detector.

На следующей стадии, зная дифракционный спектр и дополнительно определяемый по среднему значению заряда ядра атомов тип материала, можно получить дополнительную информацию для определения этого материала. С этой целью в коллиматоре с круговой щелью может быть предусмотрено центральное глухое, закрытое со стороны детектора отверстие, в котором последовательно на некотором расстоянии друг от друга расположены два различных детекторных блока и с помощью которого известным образом определяется среднее значение заряда ядра атомов для находящегося в первичном пучке предмета. Этим отверстием коллимационно-детекторная система может быть ориентирована на первичный пучок от источника рентгеновского излучения. Первый детекторный блок может быть выполнен в виде детектора для более низкой, а второй - в виде детектора для более высокой энергии рентгеновского излучения.At the next stage, knowing the diffraction spectrum and the type of material additionally determined by the average value of the atomic nucleus charge, additional information can be obtained to determine this material. For this purpose, a central blind hole closed on the detector side can be provided in the collimator with a circular slit, in which two different detector blocks are successively located at a certain distance from each other and with the help of which the average value of the atomic charge for the primary bunch of subject. With this hole, the collimation-detector system can be oriented to the primary beam from the x-ray source. The first detector unit may be made in the form of a detector for a lower one, and the second in the form of a detector for a higher energy of x-ray radiation.

Ниже изобретение более подробно поясняется на примере одного из вариантов его выполнения со ссылкой на прилагаемые чертежи, на которых показано:Below the invention is explained in more detail on the example of one of the options for its implementation with reference to the accompanying drawings, which show:

на фиг.1 - схематичное изображение предлагаемого в изобретении устройства,figure 1 - schematic representation of the proposed invention, the device

на фиг.2 - изображение электронографа по фиг.1,figure 2 - image of the electron diffraction in figure 1,

на фиг.3 - еще одно изображение коллимационно-детекторной системы по фиг.2.figure 3 is another image of a collimation-detector system of figure 2.

На фиг.1 показан просвечиваемый объект 1, который находится в рентгеновской камере 2 контрольной рентгеновской установки 3. Внутри рентгеновской камеры 2 расположен регулируемый по положению электронограф 10. Этот электронограф 10 состоит из коллимационно-детекторной системы 11 и источника 12 рентгеновского излучения. Коллимационно-детекторная система 11 ориентирована на рентгеновский луч FX'. который предпочтительно представляет собой узкий первичный пучок, излучаемый указанным источником 12 рентгеновского излучения, который предпочтительно располагать в рентгеновской камере 2 под транспортером 4. Коллимационно-детекторная система 11 выполнена регулируемой по положению с возможностью ее одновременного перемещения по высоте и в боковом направлении (в направлениях Z и Y), для чего предусмотрены не показанные более подробно приспособления 5. Вместе с этим источник 12 рентгеновского излучения также выполнен регулируемым в боковом направлении с возможностью перемещения в направлении Y, для чего служит приспособление 6, на котором он закреплен. Направленное перемещение коллимационно-детекторной системы 11 источника 12 рентгеновского излучения происходит синхронно, для чего предусмотрено централизованное управление приспособлениями 5 и 6, например прямолинейными направляющими с приводом от ходового винта. Такое перемещение может координировать не показанный на чертеже компьютер. Просвечиваемый объект 1 с его предметами 7, 8 находится на транспортере 4.Figure 1 shows the translucent object 1, which is located in the x-ray chamber 2 of the control x-ray unit 3. Inside the x-ray chamber 2 is a position-adjustable electronograph 10. This electronograph 10 consists of a collimation-detector system 11 and an x-ray source 12. The collimation-detection system 11 is focused on the x-ray beam FX '. which preferably is a narrow primary beam emitted by the indicated X-ray source 12, which is preferably located in the X-ray chamber 2 under the conveyor 4. The collimation-detector system 11 is made adjustable in position with the possibility of its simultaneous movement in height and in the lateral direction (in the Z directions and Y), for which devices 5, not shown in more detail, are provided. At the same time, the X-ray source 12 is also made laterally adjustable direction movable in the Y direction, which is the fixture 6, on which it is mounted. The directional movement of the collimation-detector system 11 of the X-ray source 12 occurs synchronously, for which centralized control of devices 5 and 6, for example, linear guides driven by a lead screw, is provided. Such movement can be coordinated by a computer not shown in the drawing. The illuminated object 1 with its objects 7, 8 is on the conveyor 4.

На фиг.2 более подробно показан электронограф 10.Figure 2 shows in more detail the electronograph 10.

Коллиматор 13 имеет круговую щель 15, которая имеет форму усеченного конуса и которая выполнена таким образом, чтобы пропускать только ту часть рассеянного излучения, идущего от контролируемой точки GM7 предмета 7 в объекте, которая падает под определенным углом θM. Таким образом, рассеянное излучение FX", поступающее под углом рассеяния θM, регистрируется расположенным за коллиматором 13 детектором 14, а именно его чувствительной к энергии излучения поверхностью 14.1. Для получения первичного пучка FX' перед источником 12 рентгеновского излучения установлена диафрагма 16, например точечная диафрагма.The collimator 13 has a circular slit 15, which has the shape of a truncated cone and which is designed to pass only that part of the scattered radiation coming from the controlled point G M7 of object 7 in the object, which falls at a certain angle θ M. Thus, the scattered radiation FX "arriving at a scattering angle θ M is detected by a detector 14 located behind the collimator 13, namely, its surface 14.1 sensitive to radiation energy. To obtain the primary beam FX ', a diaphragm 16 is installed in front of the X-ray source 12, for example, a pinhole diaphragm.

При падении первичного пучка FX' на материал этот пучок FX'. как известно, частично отклоняется кристаллической решеткой материала (закон Брэгга) и выходит из материала в виде рассеянного излучения FX". В результате по энергетическому спектру, полученному чувствительным к энергии излучения детектором 16, можно определить кристаллическую структуру материала, а тем самым идентифицировать и сам материал. Подобным образом можно, в частности, распознавать и различать также взрывчатые вещества.When the primary fx 'beam falls onto the material, this fx' beam. as is known, it is partially deflected by the crystal lattice of the material (Bragg's law) and leaves the material in the form of scattered radiation FX ". As a result, the crystal structure of the material can be determined from the energy spectrum obtained by the radiation-sensitive detector 16, and thereby the material itself can be identified . In a similar way, explosives can be recognized and distinguished in particular.

Если на более низкой ступени контроля известна информация о положении, например, предметов 7 и 8 по двум пространственным координатам (например, положение транспортерной ленты и угол), то недостающую координату необходимо в каждом случае определять непрерывным сканированием с помощью измерительного прохода. С этой целью транспортер 4 и коллимационно-детекторную систему 11 каждый раз переводят в начальное положение, соответствующее предмету 7. Отсюда начинается измерительный проход, заключающийся в перемещении указанной системы 11 по высоте и при необходимости вбок синхронно с источником 12 рентгеновского излучения в направлении недостающей координаты. Сигналы, воспринимаемые детектором в течение измерительного прохода, запоминаются в одном или нескольких энергетических спектрах и известным образом сравниваются в компьютере с известными энергетическими спектрами. Это позволяет путем сравнения определить тип материала, прежде всего материал взрывчатого вещества.If at a lower control level information is known about the position of, for example, objects 7 and 8 in two spatial coordinates (for example, the position of the conveyor belt and the angle), then the missing coordinate must in each case be determined by continuous scanning using a measuring passage. For this purpose, the conveyor 4 and the collimation-detection system 11 are each time transferred to the initial position corresponding to item 7. From here, a measuring passage begins, which consists in moving the indicated system 11 in height and, if necessary, sideways synchronously with the x-ray source 12 in the direction of the missing coordinate. The signals received by the detector during the measurement pass are stored in one or more energy spectra and are compared in a known manner in a computer with known energy spectra. This allows you to compare the type of material, especially the explosive material.

Если положение предварительно определенных точек GM7 и GM8 в трех пространственных координатах известно, то коллимационно-детекторную систему 11 и источник 12 рентгеновского излучения электронографа 10 последовательно смещают в точки GM7 и GM8. Отклоняемое кристаллической решеткой предметов 7 или 8 рассеянное излучение FX" источника 12 рентгеновского излучения улавливается круговой щелью 15 коллиматора 13. Дополнительное перемещение коллимационно-детекторной системы 11 во время соответствующего измерения не является необходимым.If the position of the predefined points G M7 and G M8 in three spatial coordinates is known, then the collimation-detector system 11 and the X-ray source 12 of the electron diffraction device 10 are successively shifted to points G M7 and G M8 . The scattered radiation FX "of the X-ray source 12, which is deflected by the crystal lattice of objects 7 or 8, is captured by the circular slit 15 of the collimator 13. Additional movement of the collimation-detector system 11 during the corresponding measurement is not necessary.

Существует также возможность комбинировать информацию о координатах, полученную на более низкой ступени контроля, с дополнительной пространственной информацией, полученной на более высокой ступени контроля, расширив ее при необходимости за счет использования нескольких измерительных проходов, и таким образом определять объем и точное пространственное расположение, например, предмета 8 в объекте 1.It is also possible to combine the coordinate information obtained at the lower control level with the additional spatial information obtained at the higher control level, expanding it if necessary by using several measuring passes, and thus determine the volume and the exact spatial location, for example, item 8 in object 1.

Предпочтительный вариант выполнения коллиматора 13 с круговой щелью представлен на фиг.3. При этом в коллиматоре 13 предпочтительно предусмотреть центральное глухое отверстие 17. Глухой конец этого отверстия 17 расположен со стороны установленного за ним детектора 14. В отверстии 17 расположен первый детекторный блок 21, а за ним и на определенном расстоянии от него - второй детекторный блок 22. Первый детекторный блок 21 выполнен в виде детектора для более низкой, а второй детекторный блок 22 - в виде детектора для более высокой энергии рентгеновского излучения. При такой конструкции с помощью этого коллиматора 13 можно, например, дополнительно проводить обычное обнаружение материалов путем определения средней величины заряда ядра атомов у материала предмета 7 или 8. Комбинирование указанной величины заряда ядра с полученным энергетическим спектром позволяет более надежно идентифицировать материал предметов 7 или 8. Такая возможность имеет особое значение прежде всего в тех случаях, когда предметы 7 или 8 содержат материал с высокой поглощающей способностью. Так, в частности, часто более низкая энергия центрального пучка FX' поглощается этим материалом, в результате чего в измеренном энергетическом спектре отсутствуют соответствующие дифракционные линии. Информацию об их отсутствии вместе с результатом дополнительного определения материала можно вводить в компьютер для их учета в сравнительном анализе.A preferred embodiment of a collimator 13 with a circular slit is shown in FIG. In this case, it is preferable to provide a central blind hole 17 in the collimator 13. The blind end of this hole 17 is located on the side of the detector 14 installed behind it. The first detector block 21 is located in the hole 17, and the second detector block 22 is located behind it and at a certain distance from it. The first detector unit 21 is in the form of a detector for a lower one, and the second detector unit 22 is in the form of a detector for a higher x-ray energy. With this design, using this collimator 13, it is possible, for example, to additionally carry out the usual detection of materials by determining the average value of the atomic nucleus charge of the material of an object 7 or 8. Combining this value of the nucleus charge with the obtained energy spectrum makes it possible to more reliably identify the material of objects 7 or 8. This possibility is of particular importance primarily in cases where objects 7 or 8 contain material with a high absorption capacity. So, in particular, often the lower energy of the central beam FX 'is absorbed by this material, as a result of which the corresponding diffraction lines are absent in the measured energy spectrum. Information about their absence, together with the result of an additional determination of the material, can be entered into a computer for accounting in a comparative analysis.

Кроме того, детекторные блоки 21, 22, которые можно выполнить, например, в виде квадрантных детекторов, позволяют с высокой точностью пространственно наводить (юстировать) коллимационно-детекторную систему 11 на источник 12 рентгеновского излучения. Саму юстировку при этом производят без присутствия объекта 1 между коллимационно-детекторной системой 11 и источником 12 рентгеновского излучения. Для этой цели в показанном на фиг.2 коллиматоре 13 предусматривается указанное дополнительное отверстие 17 с детекторными блоками, что для упрощения на фиг.2 подробно не показано.In addition, the detector blocks 21, 22, which can be performed, for example, in the form of quadrant detectors, make it possible to spatially align (align) the collimation-detector system 11 with the x-ray source 12. In this case, the adjustment itself is carried out without the presence of object 1 between the collimation-detector system 11 and the x-ray source 12. For this purpose, in the collimator 13 shown in FIG. 2, said additional hole 17 is provided with detector blocks, which is not shown in detail in FIG. 2 for simplicity.

Очевидно, что в изобретение можно вносить различные изменения, не выходя при этом за его объем. Так, например, можно использовать и другие электронографы 10, например такие, которые известны и описаны в уровне техники, при этом необходимо предусматривать возможность регулирования электронографа 10 по положению, как это, например, рассмотрено в настоящем описании.Obviously, various changes can be made to the invention without departing from its scope. So, for example, you can use other electronographs 10, for example those that are known and described in the prior art, it is necessary to provide for the possibility of adjusting the electronograph 10 in position, as is, for example, discussed in the present description.

Claims (5)

1. Устройство для определения наличия кристаллических и поликристаллических материалов предмета в объектах, преимущественно в багаже, имеющее электронограф, включающий коллимационно-детекторную систему, состоящую из коллиматоров и детекторов, и ориентированный на нее источник рентгеновского излучения, отличающееся тем, что коллимационно-детекторная система (11) имеет возможность регулирования ее положения по высоте относительно источника (12) рентгеновского излучения с помощью соответствующих приспособлений (5) и возможность синхронного регулирования ее бокового положения вместе с этим источником рентгеновского излучения, для чего источник (12) рентгеновского излучения выполнен с возможностью направленного перемещения в боковом направлении с помощью приспособления (6), а управление указанными приспособлениями (5, 6) осуществляется компьютером.1. A device for determining the presence of crystalline and polycrystalline materials of an object in objects, mainly in baggage, having an electron diffraction device including a collimation-detector system consisting of collimators and detectors, and an x-ray source oriented to it, characterized in that the collimation-detector system ( 11) has the ability to adjust its position in height relative to the source (12) of x-ray radiation using appropriate devices (5) and the ability to synchronously regulation of its lateral position at the same X-ray source, which source (12) of X-radiation is capable of sliding movement in a lateral direction by the tool (6) and said control devices (5, 6) by a computer. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что коллимационно-детекторная система (11) состоит из коллиматора (13) и расположенного за ним детектора (14), при этом коллиматор (13) имеет конически расширяющуюся круговую щель (15), воспроизводящую заданный угол (θМ) и ориентированную на детектор (14).2. The device according to claim 1, characterized in that the collimation-detector system (11) consists of a collimator (13) and a detector (14) located behind it, while the collimator (13) has a conically expanding circular slit (15) that reproduces a given angle (θ M ) and oriented to the detector (14). 3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что коллиматор (13) имеет центральное глухое, закрытое со стороны детектора (14) отверстие (17), в котором на определенном расстоянии друг от друга последовательно расположены два детекторных блока (21, 22).3. The device according to claim 2, characterized in that the collimator (13) has a central blind hole (17) closed on the side of the detector (14), in which two detector blocks (21, 22) are sequentially located at a certain distance from each other . 4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что первый детекторный блок (21) выполнен в виде детектора для более низкой, а второй детекторный блок (22) выполнен в виде детектора для более высокой энергии рентгеновского излучения.4. The device according to claim 3, characterized in that the first detector unit (21) is made in the form of a detector for a lower one, and the second detector unit (22) is made in the form of a detector for a higher x-ray energy. 5. Устройство по п.2, отличающееся тем, что коллимационно-детекторная система (11) ориентирована отверстием (17) на первичный пучок (FX') от источника (12) рентгеновского излучения.5. The device according to claim 2, characterized in that the collimation-detector system (11) is oriented by the hole (17) to the primary beam (FX ') from the x-ray source (12).
RU2000128151/28A 1999-11-13 2000-11-13 Device for detecting crystals and polycrystals in article RU2265830C2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19954664A DE19954664B4 (en) 1999-11-13 1999-11-13 Device for the determination of crystalline and polycrystalline materials of an article
DE19954664.9 1999-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2000128151A RU2000128151A (en) 2002-11-10
RU2265830C2 true RU2265830C2 (en) 2005-12-10

Family

ID=7928939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000128151/28A RU2265830C2 (en) 1999-11-13 2000-11-13 Device for detecting crystals and polycrystals in article

Country Status (5)

Country Link
DE (1) DE19954664B4 (en)
FR (1) FR2801105B1 (en)
GB (1) GB2359718B (en)
NL (1) NL1016470C2 (en)
RU (1) RU2265830C2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2444764C2 (en) * 2006-10-27 2012-03-10 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Imaging system for object imaging
RU2523771C2 (en) * 2007-12-25 2014-07-20 Рапискан Системз, Инк. Improved security system for screening people
RU2543994C2 (en) * 2009-03-27 2015-03-10 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Achromatic phase-contact image forming
RU2589394C2 (en) * 2011-04-15 2016-07-10 Американ Сайенс Энд Инджиниринг, Инк. Back-scattering system with variable size matrix sensors
RU2599596C1 (en) * 2014-05-14 2016-10-10 Ньюктек Компани Лимитед Image display method

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19954662B4 (en) * 1999-11-13 2004-06-03 Smiths Heimann Gmbh Apparatus and method for detecting unauthorized luggage items
US7651270B2 (en) 2007-08-31 2010-01-26 Rigaku Innovative Technologies, Inc. Automated x-ray optic alignment with four-sector sensor
CN104897703B (en) * 2014-03-04 2018-09-28 清华大学 Check equipment, method and system

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4986273A (en) * 1989-08-07 1991-01-22 Medical & Scientific Enterprises, Inc. Method of radiologically scanning the spine for measuring bone density
DE3886334D1 (en) * 1987-10-05 1994-01-27 Philips Patentverwaltung Arrangement for examining a body with a radiation source.
US5007072A (en) * 1988-08-03 1991-04-09 Ion Track Instruments X-ray diffraction inspection system
DE3909147A1 (en) * 1988-09-22 1990-09-27 Philips Patentverwaltung ARRANGEMENT FOR MEASURING THE IMPULSE TRANSFER
DE4101544A1 (en) * 1991-01-19 1992-07-23 Philips Patentverwaltung ROENTGENGERAET
DE4130039A1 (en) * 1991-09-10 1993-03-11 Philips Patentverwaltung X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies
DE19510168C2 (en) * 1995-03-21 2001-09-13 Heimann Systems Gmbh & Co Method and device for determining crystalline and polycrystalline materials in an examination area
DE19745669B4 (en) * 1997-10-17 2004-03-04 Bruker Daltonik Gmbh Analysis system for the non-destructive identification of the contents of objects, especially explosives and chemical warfare agents
WO1999066317A1 (en) * 1998-06-18 1999-12-23 American Science And Engineering, Inc. Coherent scattering for material identification

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2444764C2 (en) * 2006-10-27 2012-03-10 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Imaging system for object imaging
RU2523771C2 (en) * 2007-12-25 2014-07-20 Рапискан Системз, Инк. Improved security system for screening people
RU2543994C2 (en) * 2009-03-27 2015-03-10 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Achromatic phase-contact image forming
RU2589394C2 (en) * 2011-04-15 2016-07-10 Американ Сайенс Энд Инджиниринг, Инк. Back-scattering system with variable size matrix sensors
RU2599596C1 (en) * 2014-05-14 2016-10-10 Ньюктек Компани Лимитед Image display method

Also Published As

Publication number Publication date
NL1016470A1 (en) 2001-05-15
NL1016470C2 (en) 2004-09-16
FR2801105A1 (en) 2001-05-18
GB2359718B (en) 2003-12-31
DE19954664A1 (en) 2001-06-07
GB0027194D0 (en) 2000-12-27
GB2359718A (en) 2001-08-29
FR2801105B1 (en) 2005-03-18
DE19954664B4 (en) 2006-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2253861C2 (en) Method and device for detecting prohibited objects
US6542578B2 (en) Apparatus for determining the crystalline and polycrystalline materials of an item
US6532276B1 (en) Method and apparatus for determining a material of a detected item
US6621888B2 (en) X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects
RU2448342C2 (en) Object inspection system (versions)
EP0808468B1 (en) X-ray inspection system
TWI444589B (en) Apparatus and method for analysis of a sample
US8462913B2 (en) Detection of X-ray scattering
US7283613B2 (en) Method of measuring the momentum transfer spectrum of elastically scattered X-ray quanta
GB2299251A (en) Detecting crystalline material using X-ray diffraction
KR20070046834A (en) Radiography by selective detection of scatter field velocity components
US7852983B2 (en) X-ray diffractometer for mechanically correlated movement of the source, detector, and sample position
KR20090046849A (en) Scatter attenuation tomography
US20090225944A1 (en) X-ray inspection and detection system and method
US6163592A (en) Beam scattering measurement system with transmitted beam energy detection
RU2265830C2 (en) Device for detecting crystals and polycrystals in article
US20010036640A1 (en) System and methods for the high throughput screening of polymorphs
US7324627B2 (en) Apparatus for measuring the momentum transfer spectrum of elastically scattered X-ray quanta and method of determining this momentum transfer spectrum
CN109691238A (en) For improving the System and method for of the penetration power of radiophotography scanner
US5446777A (en) Position-sensitive X-ray analysis
KR101862692B1 (en) Inspection devices, inspection methods and inspection systems
WO2006095467A1 (en) X-ray diffraction analyzing method and analyzer
US6285736B1 (en) Method for X-ray micro-diffraction measurement and X-ray micro-diffraction apparatus
CA2093347A1 (en) Imaging method for defining the structure of objects
US5612988A (en) Device for measuring the momentum transfer spectrum of X-ray quanta elastically scattered in an examination zone

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20051114

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20070410