RU2265236C1 - Method for diagnosing equipment - Google Patents
Method for diagnosing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- RU2265236C1 RU2265236C1 RU2004109565/09A RU2004109565A RU2265236C1 RU 2265236 C1 RU2265236 C1 RU 2265236C1 RU 2004109565/09 A RU2004109565/09 A RU 2004109565/09A RU 2004109565 A RU2004109565 A RU 2004109565A RU 2265236 C1 RU2265236 C1 RU 2265236C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- signals
- controlled device
- branches
- circuit
- response signals
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области технической диагностики, в частности к диагностике состояния и диагностике неисправностей радиоэлектронной аппаратуры.The invention relates to the field of technical diagnostics, in particular to the diagnosis of conditions and the diagnosis of malfunctions of electronic equipment.
Из уровня техники известны способы диагностики состояния и диагностики неисправностей радиоэлектронной аппаратуры, основанные на сличении параметров тестируемых изделий и параметров эталонных изделий данного типа (Надежность и эффективность в технике. Справочник в 10 т., т.9. Техническая диагностика. Под редакцией В.В.Клюева, М.: Машиностроение, 1987 г., с.177-179).The prior art methods for diagnosing the condition and diagnosing malfunctions of electronic equipment based on a comparison of the parameters of the tested products and the parameters of the reference products of this type (Reliability and efficiency in technology. Handbook of 10 volumes,
Недостатком данного способа является необходимость иметь на месте тестирования изделий эталонные образцы каждого типа тестируемых изделий. При большой номенклатуре тестируемых изделий (например, сменных элементов сложных радиоэлектронных систем) это может привести к огромным затратам на формирование комплекта эталонных изделий.The disadvantage of this method is the need to have reference samples of each type of tested products at the place of testing products. With a large range of products under test (for example, replaceable elements of complex electronic systems), this can lead to huge costs for the formation of a set of reference products.
Данный недостаток устранен в способе диагностики, использующем априорную информацию в виде графа состояний и переходов диагностируемой системы (Надежность и эффективность в технике. Справочник в 10 т., т.9. Техническая диагностика. Под редакцией В.В.Клюева, М.: Машиностроение, 1987 г., с.152-153).This drawback is eliminated in the diagnostic method, using a priori information in the form of a graph of states and transitions of the diagnosed system (Reliability and efficiency in technology. Handbook of 10 volumes, vol. 9. Technical diagnostics. Edited by V.V. Klyuyev, M .: Mechanical Engineering , 1987, p. 152-153).
Недостатком данного способа является то, что при неравных вероятностях состояний диагностируемой аппаратуры трудно, а иногда и невозможно реализовать даже квазиоптимальные способы диагностирования отказов проверяемых изделий. Кроме того, формирование диагностических тестов при диагностике сложной радиоэлектронной аппаратуры с пересекающимися ветвями функциональной схемы и многоуровневой структурой представляет значительную сложность.The disadvantage of this method is that with unequal probabilities of the conditions of the diagnosed equipment, it is difficult, and sometimes impossible, to implement even quasi-optimal methods for diagnosing failures of the tested products. In addition, the formation of diagnostic tests in the diagnosis of complex electronic equipment with intersecting branches of the functional circuit and a multilevel structure is of considerable complexity.
Техническим результатом от использования способа является упрощение реализации процедуры диагностики состояния и диагностики неисправностей сложных радиоэлектронных устройств с обеспечением целеуказаний местоположения неисправности в конструкции контролируемого устройства.The technical result from the use of the method is to simplify the implementation of the procedure for diagnosing the condition and diagnosing malfunctions of complex electronic devices with providing target designations of the location of the malfunction in the design of the controlled device.
Этот технический результат достигается следующим.This technical result is achieved as follows.
Способ диагностики сложных радиоэлектронных устройств, основанный на поочередной подаче на входы устройства предварительно сформированных совокупностей входных тестовых сигналов и эквивалентных им совокупностей сигналов отклика на выходах контролируемого изделия, отличающийся тем, что для каждой совокупности входных тестовых сигналов предварительно формируют эквивалентные им совокупности сигналов отклика для промежуточных точек, соответствующих выходам каскадов (функциональных уровней) ветвей схемы изделия, совокупности сигналов отклика идентифицируют с типом составной части изделия, с геометрическим положением данной составной части на поверхности печатной платы контролируемого изделия и с ветвью функциональной схемы, для промежуточных точек которой сформированы указанные сигналы, подают сочетания тестовых входных сигналов на входные контакты диагностируемого изделия, получают эквивалентные сигналы откликов с выходных контактов диагностируемого изделия, сравнивают параметры измеренных сигналов отклика с параметрами предварительно сформированных эталонных сигналов отклика для данного типа изделия, определяют степень совпадения измеренных и эталонных сигналов, при выявлении несовпадений фиксируют номера выходных контактов с несовпавшими сигналами и определяют ветвь функциональной схемы изделия, содержащую неисправность, повторяют процедуру диагностики состояния изделия путем перебора всех предварительно сформированных комбинаций входных сигналов и определяют указанным способом все номера выходных контактов изделия с несовпавшими сигналами и номера функциональных ветвей схемы изделия с предполагаемыми неисправностями, при отсутствии несовпадающих выходных сигналов диагностируемое изделие квалифицируют как исправное, а при наличии несовпадений переходят к диагностике мест неисправности, выбирают сочетания входных сигналов, идентифицированных при формировании тестов с проверкой работоспособности подозреваемых на отказ ветвей функциональной схемы, последовательно задают сочетания входных тестовых сигналов на входные контакты изделия, являющиеся входами диагностируемых ветвей функциональной схемы изделия, формируют указания на определение параметров сигналов отклика в промежуточных точках диагностируемых ветвей функциональной схемы изделия при пошаговых переходах в направлении от выхода ко входам ветвей функциональной схемы изделия, определяют параметры сигналов отклика в указанных промежуточных точках ветвей функциональной схемы изделия, сравнивают полученные параметры сигналов отклика в промежуточных точках с предварительно сформированными критериальными параметрами эталонных сигналов для тех же точек, определяют интервал перехода от несовпадения сигналов на одном шаге к совпадению сигнала на следующем шаге диагностируемой ветви функциональной схемы изделия, идентифицируют тип и местоположение выявленной неисправной составной части схемы диагностируемого изделия, повторяют процедуру поиска неисправностей для других ветвей функциональной схемы диагностируемого изделия до полного выявления, идентификации и локализации всех неисправностей и формируют указания на устранение выявленных неисправностей.A method for diagnosing complex electronic devices based on alternately applying to the device inputs pre-formed sets of input test signals and equivalent sets of response signals at the outputs of the controlled product, characterized in that, for each set of input test signals, they are pre-formed with equivalent sets of response signals for intermediate points corresponding to the outputs of the cascades (functional levels) of the branches of the product circuit, the signal The response signals are identified with the type of the component part of the product, with the geometric position of this component on the surface of the printed circuit board of the product being monitored and with the branch of the functional circuit for which the indicated signals are formed for the intermediate points, combinations of test input signals are input to the input contacts of the diagnosed product, and they receive equivalent response signals from the output contacts of the diagnosed product, compare the parameters of the measured response signals with the parameters of the pre-formed alon response signals for this type of product, determine the degree of coincidence of the measured and reference signals, when detecting mismatches, record the numbers of output contacts with mismatched signals and determine the branch of the product functional diagram containing a malfunction, repeat the procedure for diagnosing the product status by sorting through all previously generated combinations of input signals and determine in this way all the numbers of the output contacts of the product with mismatched signals and the numbers of functional branches with products with suspected malfunctions, if there are no mismatching output signals, the diagnosed product is qualified as serviceable, and if there are mismatches, they will go on to diagnose the places of malfunction, select combinations of input signals identified during test formation with checking the operability of suspected failure of the functional circuit branches, sequentially set combinations of input test signals to the input contacts of the product, which are inputs of the diagnosed branches of the functional circuit products, form instructions for determining the parameters of the response signals at intermediate points of the diagnosed branches of the functional circuit of the product during step-by-step transitions from the output to the inputs of the branches of the functional circuit of the product, determine the parameters of the response signals at the specified intermediate points of the branches of the functional circuit of the product, compare the obtained parameters of the response signals in intermediate points with pre-formed criterial parameters of reference signals for the same points, determine the int tore off the transition from signal mismatch at one step to the signal match at the next step of the diagnosed branch of the functional diagram of the product, identify the type and location of the identified faulty component of the circuit of the diagnosed product, repeat the troubleshooting procedure for the other branches of the functional circuit of the diagnosed product until it is completely identified, identified and localized all malfunctions and form instructions for eliminating the identified malfunctions.
Реализация заявленного способа поясняется на структурной схеме автоматизированной диагностической системы, приведенной на фиг.1. В состав системы фиг.1 входит диагностируемое изделие 1, к входным контактам которого подключены источники 2 входных тестовых сигналов, к выходным контактам и промежуточным точкам диагностируемого изделия 1 подключены входы измерителей 3 сигналов отклика, входы источников 2 входных тестовых сигналов и выходы измерителей 3 сигналов отклика подключены к соответствующим выходам и входам ЭВМ 4, выход которой является выходом системы фиг.1.The implementation of the claimed method is illustrated in the structural diagram of an automated diagnostic system shown in figure 1. The system of figure 1 includes the diagnosed
Перед реализацией заявленного способа в ЭВМ 4 устанавливается программное обеспечение, реализующее алгоритм работы диагностической системы фиг.1 по заявленному способу.Before implementing the inventive method in
При подготовке системы фиг.1 одним из известных способов формируются диагностические тесты, включающие:When preparing the system of FIG. 1, one of the known methods includes forming diagnostic tests, including:
1) описание сочетаний параметров входных сигналов, подлежащих подаче на входные контакты для проверки состояний ветвей функциональной схемы данного типа диагностируемых изделий;1) a description of the combinations of parameters of the input signals to be supplied to the input contacts to check the state of the branches of the functional circuit of this type of diagnosed products;
2) описание сочетаний параметров выходных сигналов на выходных контактах и в промежуточных точках диагностируемых ветвей функциональной схемы изделий (идентифицированные с номерами выходных контактов, типом и положением составных частей изделия соответственно);2) a description of the combinations of parameters of the output signals at the output contacts and at the intermediate points of the diagnosed branches of the product functional diagram (identified with the numbers of output contacts, type and position of the component parts of the product, respectively);
3) описание указаний по пошаговым переходам по промежуточным точкам ветвей функциональной схемы диагностируемого изделия;3) a description of the instructions for step-by-step transitions along the intermediate points of the branches of the functional diagram of the diagnosed product;
4) описание последовательностей перебора сочетаний входных сигналов, задаваемых на входные контакты при диагностике состояния и диагностике неисправностей изделия.4) a description of the sequences of enumeration of combinations of input signals assigned to the input contacts when diagnosing the condition and diagnosing product malfunctions.
Указанные исходные данные могут быть сформированы одним из способов, известных из уровня техники (например, на основе эталонных образцов изделий данного типа, используемых единовременно для формирования тестов; на основе использования эквивалентных моделей изделия и т.п.).The specified initial data can be generated by one of the methods known from the prior art (for example, based on reference samples of products of this type used at a time to form tests; based on the use of equivalent product models, etc.).
После подготовки системы ее подключают к диагностируемому образцу изделия, как это показано на фиг.1. Запускают программу автоматизированной реализации алгоритма и выполняют все операции заявленного способа. Указания для переходов к измерениям в промежуточных точках и другие диалоговые процедуры осуществляют путем выдачи соответствующих сообщений оператору на экран монитора, входящего в состав ЭВМ 4.After preparing the system, it is connected to the diagnosed sample of the product, as shown in figure 1. Run the program for the automated implementation of the algorithm and perform all operations of the claimed method. Instructions for transitions to measurements at intermediate points and other dialog procedures are carried out by issuing appropriate messages to the operator on the monitor screen, which is part of
В качестве источников 2 входных тестовых сигналов (в зависимости от типа диагностируемого изделия) могут быть использованы генераторы параллельных кодовых комбинаций сигналов, программируемые генераторы импульсов, генераторы сигналов специальной формы, программноуправляемые генераторы высокочастотных сигналов и другие программноуправляемые приборы, известные из уровня техники.As sources of 2 input test signals (depending on the type of diagnosed product), generators of parallel code combinations of signals, programmable pulse generators, signal generators of a special form, program-controlled high-frequency signal generators and other program-controlled devices known from the prior art can be used.
В качестве измерителей 3 сигналов отклика с выходных контактов и промежуточных точек изделия 1 могут использоваться (в зависимости от типа диагностируемого изделия) цифровые осциллографы, анализаторы спектра, логические анализаторы, сигнатурные анализаторы и другие цифровые измерительные приборы, известные из уровня техники.As
В качестве ЭВМ 4 в составе системы фиг.1 могут использоваться персональные компьютеры необходимой производительности, известные из уровня техники, оснащенные соответствующим программным обеспечением и интерфейсными устройствами для подключения источников 2 входных сигналов и измерителей 3 сигналов отклика.As the
Таким образом, заявленный способ обеспечивает получение нового положительного эффекта, заключающегося в быстром однозначном определении неисправностей в составе функционально сложных диагностируемых изделий и формирования указаний на устранение выявленных неисправностей - с указанием типа неисправностей составной части и ее местоположения в составе диагностического изделия.Thus, the claimed method provides a new positive effect, which consists in quickly unambiguously identifying faults in the composition of functionally complex diagnosed products and generating instructions for eliminating the identified faults - indicating the type of faults of the component and its location in the diagnostic product.
Для иллюстрации применения заявленного способа рассмотрим процедуру диагностики радиоэлектронного изделия, представляющего собой печатную плату с реализованной на ней функциональной логикой. Схема объекта контроля, используемого в рассматриваемом примере, приведена на фиг.2. Как видно из схемы фиг.2, в составе устройства реализованы две автономных логических цепи, функции которых могут быть описаны логическими уравнениямиTo illustrate the application of the claimed method, we consider the procedure for diagnosing a radio electronic product, which is a printed circuit board with functional logic implemented on it. The scheme of the control object used in this example is shown in figure 2. As can be seen from the diagram of figure 2, as part of the device implemented two autonomous logical circuits, the functions of which can be described by logical equations
где Y1 и Y8 - входной и выходной разъемы;where Y 1 and Y 8 are the input and output connectors;
Y1-N и Y8-N - соответствующие сигналы на контактах "N" разъемов Y1 и Y8;Y 1-N and Y 8-N - the corresponding signals on the contacts "N" of the connectors Y 1 and Y 8 ;
Y2 и Y4 - радиоэлектронные элементы схемы фиг.2, реализующие логическую функцию (ab);Y 2 and Y 4 - electronic components of the circuit of figure 2, implementing the logical function (ab);
Y3 и Y5 - радиоэлектронные элементы, реализующие логическую функцию (а+b);Y 3 and Y 5 - electronic components that implement the logical function (a + b);
Y6 и Y7 - радиоэлектронные элементы, реализующие логическую функцию 
Поскольку логические цепи, заканчивающиеся выходами Y8-8 и Y8-14, по своим функциям и по своему составу идентичны (см. схему фиг.2), тесты для диагностики состояния каждой из цепей будут также идентичны. Диагностические тесты для диагностики состояния и для диагностики неисправности схемы фиг.2 приведены в таблице, представленной на фиг.3.Since the logic circuits ending in outputs Y 8-8 and Y 8-14 are identical in their functions and composition (see the circuit of FIG. 2), the tests for diagnosing the state of each circuit will also be identical. Diagnostic tests for diagnosing the condition and for diagnosing a malfunction of the circuit of FIG. 2 are shown in the table presented in FIG. 3.
Перед началом диагностики одним из известных способов формируются диагностические тесты, представляющие собой сочетание значений сигналов на входных контактах объекта диагностики (на контактах Y1-1, Y1-3, Y1-5 и Y1-7 - для первой логической цепи, а также на контактах Y1-9, Y1-10, Y1-11 и Y1-12 - для второй логической цепи схемы фиг.2), а также соответствующих им значений сигналов на выходных контактах объекта диагностики (контакты Y8-8 и Y8-14) и значений сигналов в промежуточных точках схемы (например, на контактах Y6-1 и Y6-2 для первой логической цепи и на контактах Y7-1 и Y7-2 для второй логической цепи). Сочетания значений тестовых сигналов на входных контактах изменяются от такта к такту (см. таблицу фиг.3) таким образом, чтобы были проверены все возможные работоспособные состояния контролируемого изделия. В рассматриваемом примере это представлено в виде логических состояний тестовых сигналов на входных контактах схемы фиг.2, изменяющихся в 16-ти тактах (первые четыре колонки таблицы фиг.3). Каждому сочетанию тестовых входных сигналов при исправном состоянии контролируемых логических цепей схемы фиг.2 будут соответствовать критериальные значения сигналов отклика на выходных контактах Y8-8 и Y8-14 (правая колонка таблицы фиг.3) и в промежуточных точках Y6-1, Y6-2, Y7-1, Y7-2 (две предпоследние правые колонки таблицы фиг.3). Кроме указанного, в качестве исходных данных перед началом диагностики определяются и фиксируются координаты положения устройств Y1,...Y81 на плате (которые могут задаваться, например, значениями ортогональных координат "х y" положения электрорадиоэлементов на поверхности печатной платы, номером "z" стороны печатной платы или любым другим способом описания координат положения ЭРЭ), позволяющие сформировать однозначное указание оператору о положении неисправного элемента в конструкции объекта диагностики.Before starting diagnostics, one of the known methods for generating diagnostic tests is a combination of signal values at the input contacts of the diagnostic object (at contacts Y 1-1 , Y 1-3 , Y 1-5 and Y 1-7 for the first logical circuit, and also on the contacts Y 1-9 , Y 1-10 , Y 1-11 and Y 1-12 for the second logic circuit of the circuit of Fig.2), as well as the corresponding signal values at the output contacts of the diagnostic object (contacts Y 8-8 and Y 8-14 ) and signal values at the intermediate points of the circuit (for example, on the contacts Y 6-1 and Y 6-2 for the first logic circuit and on ontacts Y 7-1 and Y 7-2 for the second logical chain). The combination of the values of the test signals at the input contacts varies from step to step (see table of figure 3) so that all possible operational states of the product under test are checked. In this example, this is represented in the form of logical states of test signals at the input contacts of the circuit of figure 2, changing in 16 clock cycles (the first four columns of the table of figure 3). For each combination of test input signals in good condition of the controlled logic circuits of figure 2 will correspond to the criterial values of the response signals at the output contacts Y 8-8 and Y 8-14 (right column of the table of figure 3) and at the intermediate points Y 6-1 , Y 6-2 , Y 7-1 , Y 7-2 (two penultimate right columns of the table of figure 3). In addition to the indicated data, the coordinates of the position of the devices Y 1 , ... Y 81 on the circuit board (which can be set, for example, by the values of the orthogonal coordinates "x y" of the position of the electrical elements on the surface of the printed circuit board, number "z "side of the printed circuit board or in any other way to describe the coordinates of the position of the ERE), allowing to form an unambiguous indication to the operator about the position of the faulty element in the design of the diagnostic object.
Еще одним видом априорной информации, закладываемой в состав исходных данных для диагностики изделий, являются (расчетные или экспериментальные) характеристики надежности "рi" ветвей схемы диагностируемого изделия. Эти значения используются в качестве весовых коэффициентов для автоматизированной выработки последовательности диагностики ветвей схемы с целью более быстрого поиска места неисправности. В рассматриваемом примере схемы фиг.2 в качестве таких весовых коэффициентов будут использоваться значения вероятностей отказа (p2=р4) для ветвей устройств Y2 и Y4, а также (p3=р5) для ветвей с устройствами Y3 и Y5 - соответственно.Another type of a priori information included in the composition of the initial data for product diagnostics is (calculated or experimental) reliability characteristics "p i " of the circuit branches of the diagnosed product. These values are used as weights for the automated generation of a sequence of diagnostics of the circuit branches in order to more quickly find the fault location. In this example, the scheme of figure 2 as such weights will be used the values of the probability of failure (p 2 = p 4 ) for the branches of devices Y 2 and Y 4 , as well as (p 3 = p 5 ) for the branches with devices Y 3 and Y 5 - respectively.
Процедура диагностики состояния контролируемого изделия фиг.2 начинается включением объекта диагностики 1 в состав диагностической системы фиг.1. В память компьютера 4 системы фиг.1 заносятся диагностические тесты согласно фиг.3 и указанные дополнительные исходные данные (описания координат местоположения элементов схемы "х, y, z" и вероятностей отказа "рi" ветвей схемы фиг.2). По программе из компьютера 4 системы фиг.1 с помощью устройства формирования тестов 2 на объект диагностики 1 (на схему фиг.2) поочередно такт за тактом выдаются тестовые сигналы, значения которых приведены в первых четырех колонках таблицы фиг.3. С выходных контактов объекта контроля 1 (с контактов Y8-8 и Y8-14 схемы фиг.2) с помощью измерителя 3 в каждом такте определяются значения параметров сигналов отклика и измеренные значения с выхода измерителя 3 поступают в компьютер 4 для сравнения с критериальными значениями (последняя колонка таблицы фиг.3).The procedure for diagnosing the state of the monitored product of figure 2 begins with the inclusion of the
Если в каждом из тактов значения сигналов отклика, полученные с помощью измерителя 3, будут совпадать со значениями критериальных сигналов таблицы фиг.3, то по прохождении последнего такта (16-го такта таблицы фиг.3) диагностическая система фиг.1 квалифицирует состояние данного образца объекта контроля как "исправное", пригодное для применения по его целевому назначению.If in each of the clocks the values of the response signals obtained using the
Если в одном из тактов сигналы отклика, полученные с одного из выходов диагностируемого изделия (с выхода Y8-8 или Y8-14 схемы фиг.2) не совпадут с критериальными значениями (со значениями, приведенными в последней колонке таблицы фиг.3), то диагностическая система фиг.1 квалифицирует отказ диагностируемого образца изделия и перейдет к диагностике неисправности.If in one of the clocks the response signals received from one of the outputs of the diagnosed product (from the output Y 8-8 or Y 8-14 of the circuit of FIG. 2) do not coincide with the criterion values (with the values given in the last column of the table of FIG. 3) , then the diagnostic system of figure 1 qualifies the failure of the diagnosed sample of the product and proceeds to diagnose the malfunction.
Поиск неисправности будет происходить по следующему алгоритму.Troubleshooting will be performed according to the following algorithm.
Несовпадение измеренных сигналов отклика и критериального значения сигнала на одном из выходов (последняя колонка таблицы фиг.3) позволяет определить неисправную часть (неисправную логическую цепь - см. фиг.2) схемы объекта диагностики, связанную с данным выходом.The mismatch of the measured response signals and the criterial value of the signal at one of the outputs (the last column of the table of FIG. 3) allows us to determine the faulty part (faulty logic circuit — see FIG. 2) of the diagnostic object circuit associated with this output.
Логическая цепь, заканчивающаяся выходом с выявленным признаком неисправности (выход Y8-8 или Y8-14 на фиг.2) представляет собой "дерево", разветвленное в сторону входов. В каждой из ветвей "дерева" потенциально возможна неисправность.The logical circuit ending with the output with a detected symptom of failure (output Y 8-8 or Y 8-14 in figure 2) is a "tree" branched towards the inputs. In each of the branches of the "tree", a malfunction is potentially possible.
В рассматриваемом примере фиг.2 принимаем, что неисправность обнаружена в логической цепи, связанной с выходом Y8-8. Тогда причиной неисправности могут быть или отказы устройств Y6, Y2 и Y3, или повреждение электрических соединений между контактами цепей ветви.In the considered example of figure 2, we assume that a malfunction is detected in the logic circuit associated with the output Y 8-8 . Then the cause of the malfunction can be either failures of the devices Y 6 , Y 2 and Y 3 , or damage to the electrical connections between the contacts of the branch circuits.
Для уточнения места неисправности производят измерение сигналов откликов в промежуточных точках неисправной цепи (в нашем случае - в точках Y6-1 и Y6-2) и сравнивают их со значениями критериальных сигналов отклика для этих точек (предпоследние правые колонки таблицы фиг.3).To clarify the location of the fault, measure the response signals at the intermediate points of the faulty circuit (in our case, at points Y 6-1 and Y 6-2 ) and compare them with the values of the criterion response signals for these points (the penultimate right column of the table in figure 3) .
При обнаружении совпадений сигналов отклика в этих точках с критериальными сигналами квалифицируют неисправность устройства Y6 (на вход приходят сигналы, совпадающие с критериальными, а на выходе - несовпадение, означающее неисправность).If a coincidence of the response signals at these points with the criterion signals is detected, the malfunction of device Y 6 is qualified (the signals that match the criterion come to the input, and the mismatch indicates the malfunction at the output).
При несовпадении сигналов на одной из промежуточных точек с критериальными сигналами квалифицируется неисправность предшествующей части ветви, выходом которой является данный контакт. Например, если несовпадение на контакте Y6-1, то неисправность в устройстве Y2 (или в электрической цепи между контактами Y6-1 и Y2-3).If the signals do not coincide at one of the intermediate points with the criterion signals, the malfunction of the previous part of the branch, the output of which is this contact, is qualified. For example, if there is a mismatch on pin Y 6-1 , then there is a malfunction in device Y 2 (or in the electrical circuit between contacts Y 6-1 and Y 2-3 ).
Для того чтобы ускорить поиск неисправности при сложных многозвенных схемах объектов диагностики, последовательность просмотра промежуточных точек на каждом уровне схемы (в каждом узле ветвления - см. фиг.2) производится с учетом априорной информации о вероятности отказа "рi" предшествующих частей схемы. Например, если вероятность отказа "р2" устройства Y2 больше, чем вероятность отказа "р3" устройства Y3, то вначале нужно проводить диагностику ветви, содержащей устройство Y2 (т.е. путем измерения сигналов в точках Y6-1 и Y2-3), а затем в ветви, содержащей устройство Y3.In order to speed up the troubleshooting process for complex multi-link circuits of diagnostic objects, the sequence of viewing intermediate points at each level of the circuit (at each branch node - see Fig. 2) is made taking into account a priori information about the probability of failure "p i " of the previous parts of the circuit. For example, if the probability of failure "p 2 " of device Y 2 is greater than the probability of failure "p 3 " of device Y 3 , then first you need to diagnose the branch containing device Y 2 (that is, by measuring signals at points Y 6-1 and Y 2-3 ), and then in the branch containing the device Y 3 .
Выявление неисправности электрических цепей между контактами производится путем измерения сигналов отклика в контакте конца и в контакте начала (например, контакта Y8-8 и Y6-3, Y6-1, и Y2-3 и т.д.) каждой электрической цепи контролируемой ветви.The failure of electrical circuits between the contacts is detected by measuring the response signals at the end contact and at the start contact (for example, contact Y 8-8 and Y 6-3 , Y 6-1 , and Y 2-3 , etc.) of each electric chain controlled branch.
Ускорение диагностики обеспечивается также тем, что после выявления части неисправной схемы формируется (на основе априорной информации об описании местоположения компонентов схемы конструкции изделия) указание о месте подключения измерительного щупа устройства 3 (см. фиг.1) к соответствующей промежуточной точке неисправной части схемы.Acceleration of diagnostics is also ensured by the fact that after identifying a part of the faulty circuit, an indication of the location of the connection of the measuring probe of device 3 (see FIG. 1) to the corresponding intermediate point of the faulty circuit part is formed (based on a priori information about the location of the components of the product design circuit).
Таким образом:Thus:
1) на основе сравнения сигналов отклика по каждому выходу диагностируемого изделия с соответствующими критериальными значениями сигналов отклика выявляется наличие неисправности изделия и определяется неисправная часть изделия, связанная (по схеме) с данным выходом;1) based on a comparison of the response signals for each output of the diagnosed product with the corresponding criterial values of the response signals, the presence of a product malfunction is detected and the defective part of the product associated (according to the scheme) with this output is determined;
2) уточнение места неисправности производится путем измерения сигналов отклика в промежуточных точках ветвей неисправной части схемы изделия и сравнения с критериальными значениями сигналов отклика для этих точек, причем просмотр промежуточных точек идет последовательно (шагами) в направлении от выхода ко входам ветвей схемы изделия;2) the fault location is clarified by measuring the response signals at intermediate points of the branches of the faulty part of the product circuit and comparing it with the criterion values of the response signals for these points, and the intermediate points are viewed sequentially (in steps) in the direction from the output to the inputs of the branches of the product circuit;
3) очередность просмотра точек, относящихся к разным ветвям изделия, производится с учетом априорной информации о вероятности отказа диагностируемых ветвей неисправной части схемы изделия - с первоочередным просмотром ветвей, имеющих более высокую вероятность отказа;3) the sequence of viewing points related to different branches of the product is made taking into account a priori information about the probability of failure of the diagnosed branches of the faulty part of the product circuit — with priority viewing of branches that have a higher probability of failure;
4) для выявления отказов электрических цепей в промежуточных точках неисправной части схемы диагностику отказов в промежуточных точках производят дважды - в контакте конца и в контакте начала электрического соединения (электрической цепи), принадлежащей промежуточной точке схемы;4) to identify failures of electrical circuits at intermediate points of the faulty part of the circuit, diagnostics of failures at intermediate points are performed twice - at the end contact and at the beginning contact of the electrical connection (electric circuit) belonging to the intermediate point of the circuit;
5) для ускорения процедуры отыскания места неисправности после выявления неисправной части схемы производится (на основе априорного описания местоположения элементов схемы в конструкции изделия - например, на поверхности печатной платы) идентификация местоположения очередной промежуточной точки и выдаются указания оператору (например, на мониторе компьютера 4 системы фиг.1) о расположении измерительных точек.5) to speed up the procedure for finding the place of malfunction after identifying the faulty part of the circuit, (based on an a priori description of the location of circuit elements in the product design - for example, on the surface of a printed circuit board) the location of the next intermediate point is identified and instructions are given to the operator (for example, on a
Указанная процедура диагностики по заявленному способу обеспечивает более высокую производительность диагностики неисправностей, более высокую достоверность диагностики и быструю сходимость процесса отыскания места неисправности.The specified diagnostic procedure according to the claimed method provides a higher performance diagnostic faults, higher reliability of the diagnosis and faster convergence of the process of finding the location of the fault.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2004109565/09A RU2265236C1 (en) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | Method for diagnosing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2004109565/09A RU2265236C1 (en) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | Method for diagnosing equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2004109565A RU2004109565A (en) | 2005-10-10 |
| RU2265236C1 true RU2265236C1 (en) | 2005-11-27 |
Family
ID=35850744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2004109565/09A RU2265236C1 (en) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | Method for diagnosing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2265236C1 (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2488872C1 (en) * | 2012-07-23 | 2013-07-27 | Открытое акционерное общество "Головной центр сервисного обслуживания и ремонта Концерна ПВО "Алмаз-Антей" "Гранит" | Method for automatic performance monitoring and diagnosing faults in communication electronic equipment |
| WO2014077724A1 (en) * | 2012-11-19 | 2014-05-22 | Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение "Федеральное Агентство По Правовой Защите Результатов Интеллектуальной Деятельности Военного, Специального И Двойного Назначения" (Фгбу "Фаприд") | Method for locating multiple uncontrolled failures of technical systems |
| RU2530315C2 (en) * | 2012-06-13 | 2014-10-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Method for thermal imaging diagnostics of radioelectronic elements on printed-circuit board |
| RU2588587C2 (en) * | 2011-04-08 | 2016-07-10 | Таль | Method and device for determining diagnosis |
| RU2789850C1 (en) * | 2022-07-22 | 2023-02-14 | Акционерное общество "ОДК-Авиадвигатель" | Method for studying electroic control systems of complex technical objects and a test bench for studying electroic control systems of complex technical objects |
-
2004
- 2004-03-31 RU RU2004109565/09A patent/RU2265236C1/en active
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2588587C2 (en) * | 2011-04-08 | 2016-07-10 | Таль | Method and device for determining diagnosis |
| RU2530315C2 (en) * | 2012-06-13 | 2014-10-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Method for thermal imaging diagnostics of radioelectronic elements on printed-circuit board |
| RU2488872C1 (en) * | 2012-07-23 | 2013-07-27 | Открытое акционерное общество "Головной центр сервисного обслуживания и ремонта Концерна ПВО "Алмаз-Антей" "Гранит" | Method for automatic performance monitoring and diagnosing faults in communication electronic equipment |
| WO2014077724A1 (en) * | 2012-11-19 | 2014-05-22 | Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение "Федеральное Агентство По Правовой Защите Результатов Интеллектуальной Деятельности Военного, Специального И Двойного Назначения" (Фгбу "Фаприд") | Method for locating multiple uncontrolled failures of technical systems |
| RU2557441C2 (en) * | 2012-11-19 | 2015-07-20 | Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение "Федеральное Агентство По Правовой Защите Результатов Интеллектуальной Деятельности Военного, Специального И Двойного Назначения" (Фгбу "Фаприд") | Cyclic method of localising uncontrolled multiple failures of engineering systems during operation thereof and apparatus therefor |
| CN105103060A (en) * | 2012-11-19 | 2015-11-25 | 联邦政府预算机构《用于军事、特殊和双用途智力活动结果的法律保护的联邦机构》 | Method for locating multiple uncontrolled failures of technical systems and device for implementing the method |
| KR101757086B1 (en) | 2012-11-19 | 2017-07-11 | 페더럴 스테이트 버지터리 인스티튜션 ≪페더럴 에이전시 포 리걸 프로텍션 오브 밀리터리, 스페셜 앤드 듀얼 유스 인텔렉추얼 액티버티 리절트≫ (에프에스비아이 ≪팔피아르≫) | Method for locating multiple uncontrolled failures of technical systems |
| US9734002B2 (en) | 2012-11-19 | 2017-08-15 | Federal State Budgetary Institution<Federal Agency for Legal Protection of Military, Special and Dual Use Intellectual Activity Results>(FSBI<FALPIAR>) | Cyclical method and a device for localizing uncontrollable multiple failures in engineering systems in operation |
| CN105103060B (en) * | 2012-11-19 | 2018-04-10 | 联邦政府预算机构《用于军事、特殊和双用途智力活动结果的法律保护的联邦机构》 | To the cyclical method and equipment of uncontrollable multiple fault localizations in the engineering system of operation |
| RU2797535C1 (en) * | 2022-03-21 | 2023-06-07 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации | Method for automated performance monitoring and troubleshooting of radio electronic equipment |
| RU2789850C1 (en) * | 2022-07-22 | 2023-02-14 | Акционерное общество "ОДК-Авиадвигатель" | Method for studying electroic control systems of complex technical objects and a test bench for studying electroic control systems of complex technical objects |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2004109565A (en) | 2005-10-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Millman et al. | Diagnosing CMOS bridging faults with stuck-at fault dictionaries | |
| US7296201B2 (en) | Method to locate logic errors and defects in digital circuits | |
| US4857833A (en) | Diagnosis of faults on circuit board | |
| US4242751A (en) | Automatic fault-probing method and apparatus for checking electrical circuits and the like | |
| US4228537A (en) | Method of and apparatus for automatic fault diagnosis of electrical circuits employing on-line simulation of faults in such circuits during diagnosis | |
| JP3597891B2 (en) | Apparatus and method for power application test of conventional and boundary scan mixed logic circuit | |
| US4680761A (en) | Self diagnostic Cyclic Analysis Testing System (CATS) for LSI/VLSI | |
| US5260649A (en) | Powered testing of mixed conventional/boundary-scan logic | |
| WO1980000375A1 (en) | Hybrid signature test method and apparatus | |
| Zhang et al. | Board-level fault diagnosis using Bayesian inference | |
| RU2504828C1 (en) | System of automatic operability control and fault diagnostics of electronics | |
| US9400311B1 (en) | Method and system of collective failure diagnosis for multiple electronic circuits | |
| RU2257604C2 (en) | Automated control and diagnostic complex (variants) | |
| RU2488872C1 (en) | Method for automatic performance monitoring and diagnosing faults in communication electronic equipment | |
| JP2680259B2 (en) | Automatic opening detection method | |
| CN107171893A (en) | Automatic test platform and its method of testing based on CAN network | |
| RU2265236C1 (en) | Method for diagnosing equipment | |
| US7093174B2 (en) | Tester channel count reduction using observe logic and pattern generator | |
| US4796259A (en) | Guided probe system and method for at-speed PC board testing | |
| JPH11274261A (en) | System for testing tolerance of component of device for testing integrated circuit | |
| WO2023064160A1 (en) | Predicting tests that a device will fail | |
| US20180238962A1 (en) | Structurally assisted functional test and diagnostics for integrated circuits | |
| RU2261471C1 (en) | Method for forming diagnostical tests | |
| CN106383306A (en) | Method for testing output locking or no-output fault of digital circuit | |
| RU2784384C2 (en) | Automated system for control and diagnostics of replaceable elements of radio-electronic equipment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PC4A | Invention patent assignment |
Effective date: 20101115 |
|
| PC41 | Official registration of the transfer of exclusive right |
Effective date: 20130705 |
|
| PD4A | Correction of name of patent owner |