RU2095790C1 - Устройство для эмиссионного спектрального анализа - Google Patents

Устройство для эмиссионного спектрального анализа Download PDF

Info

Publication number
RU2095790C1
RU2095790C1 RU94030997A RU94030997A RU2095790C1 RU 2095790 C1 RU2095790 C1 RU 2095790C1 RU 94030997 A RU94030997 A RU 94030997A RU 94030997 A RU94030997 A RU 94030997A RU 2095790 C1 RU2095790 C1 RU 2095790C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
electrodes
chamber
cathode
electrons
atomizer
Prior art date
Application number
RU94030997A
Other languages
English (en)
Other versions
RU94030997A (ru
Inventor
Юрий Александрович Сапрыкин
Богдан Михайлович Головко
Юрий Антонович Паздерский
Original Assignee
Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом filed Critical Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом
Priority to RU94030997A priority Critical patent/RU2095790C1/ru
Publication of RU94030997A publication Critical patent/RU94030997A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2095790C1 publication Critical patent/RU2095790C1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

Использование: область спектрального анализа, спектральная аппаратура и может быть использовано для определения микропримесей элементов в различных объектах. Сущность: устройство для эмиссионного спектрального анализа содержит камеру с электродами, из которых по крайней мере один выполнен с возможностью нагрева, источник электрического тока, подключенный к электродам, и спектральный прибор, оптически связанный с камерой. Электроды имеют между собой зазор, обеспечивающий при напряжении источника тока ниже порога зажигания самостоятельного разряда, протекание электрического тока между электродами с помощью электронов, эмитируемых нагретым электродом, а сам зазор оптически связан со спектральным прибором. 1 ил.

Description

Изобретение относится к спектральной аналитической аппаратуре, в частности к эмиссионным спектрометрам, и может быть использовано для анализа микропримесей в материалах и изделиях полупроводниковой техники, для анализа микроэлементов в объектах окружающей среды, в сельском хозяйстве, в медицине и других областях науки и техники.
Известны устройства для эмиссионного спектрального анализа, содержащие камеру с электродами, из которых по крайней мере один выполнен с возможностью нагрева. Нагреваемый электрод является атомизатором и одновременно может выполнять роль катода [1] или анода [2] Камеру заполняют аргоном или гелием. Источник постоянного или переменного электрического тока подключают к электродам для получения между электродами тлеющего [1-2] или высокочастотного разряда [3] Камеру оптически связывают со спектральным прибором.
Недостатком известных устройств является недостаточно низкий предел обнаружения анализируемых элементов.
Наиболее близким к предлагаемому техническим решением является устройство для эмиссионного спектрального анализа [4] содержащее камеру с электродами, один из которых выполнен с возможностью нагрева. Он выполняет роль атомизатора и одновременно является катодом. Роль анода выполняет часть камеры, электрически изолированная от катода. Устройство имеет источник электрического тока, подключенный к аноду и катоду для образования тлеющего разряда. Камеру заполняют аргоном и оптически связывают со спектральным прибором.
Недостатком данного устройства, как и других известных устройств, является недостаточно низкий предел обнаружения элементов из-за высокой интенсивности сплошного фона, излучаемого плазмой разряда.
Известно, что сплошной бесструктурный фон в излучении плазмы появляется главным образом вследствие рекомбинации электронов с положительными ионами или при торможении электронов в электрическом поле ионов. Спектр такого излучения является непрерывным и накладывается на все линии анализируемых элементов, что вследствие неизбежных флуктуаций фона является основным фактором, ограничивающим предел обнаружения элементов.
Интенсивность сплошного фона подчиняется известной формуле Унзольда:
Figure 00000002
,
где Jф интенсивность сплошного фона;
A некоторая постоянная;
ne, ni концентрации электронов и положительных ионов;
K постоянная Больцмана;
T абсолютная температура плазмы.
Из этого выражения следует, что интенсивность сплошного фона сильно зависит от концентрации электронов и положительных ионов и намного слабее от температуры плазмы. Учитывая, что эффективность возбуждения атомов анализируемых элементов зависит главным образом от концентрации электронов (естественно, при достаточной для возбуждения атомов энергии), единственным путем для уменьшения интенсивности сплошного фона является снижение концентрации положительных ионов.
При использовании любого самостоятельного разряда для возбуждения атомов анализируемых элементов уменьшить концентрацию положительных ионов по сравнению с концентрацией элементов не представляется возможным, так как электроны и ионы образуются из нейтральных атомов путем ударной ионизации и их концентрации в плазме практически равны.
В основу изобретения поставлена задача создания устройства для эмиссионного спектрального анализа, в котором возбуждение атомного пара производится потоком электронов, энергия которых достаточна для возбуждения атомов анализируемых элементов, но недостаточна для ионизации окружающего газа, например гелия, чем достигается отсутствие или значительное уменьшение интенсивности сплошного фона и за счет этого значительное снижение предела обнаружения анализируемых элементов.
Поставленная задача решается тем, что в устройстве для эмиссионного спектрального анализа, содержащем камеру с электродами, из которых по крайней мере один выполнен с возможностью нагрева, источник электрического тока, подключенный к электродам, и спектральный прибор, оптически связанный с камерой, согласно изобретению, электроды имеют между собой зазор, обеспечивающий при напряжении источника тока ниже порога зажигания самостоятельного разряда прохождение электрического тока между электродами с помощью электронов, эмитируемых нагретым электродом, а сам зазор оптически связан со спектральным прибором.
Известное устройство для эмиссионного спектрального анализа не дает возможности осуществить возбуждение атомного пара потоком электронов при напряжении между электродами ниже порога зажигания самостоятельного разряда из-за достаточно большого межэлектродного промежутка. Электроны, эмитируемые нагретым катодом, тормозятся частицами окружающего газа, всегда присутствующего в камере, и образуют вокруг катода отрицательно заряженное электронное облако, заряд которого препятствует движению электронов к аноду. Энергия электронов в этом облаке недостаточна для возбуждения атомов большинства анализируемых элементов. Уменьшение зазора между электродами до 0,5-3 мм (в зависимости от давления газа в камере) влечет за собой рассасывание объемного разряда и по крайней мере часть электронов при этом достигает анода, вызывая появление в цепи электрического тока. В этих условиях электроны, получив ускорение в электрическом поле между электродами, приобретают энергию, достаточную для возбуждения атомов анализируемых элементов. Изменяя напряжение источника тока, можно подобрать такие условия, когда электроны имеют энергию, достаточную для возбуждения анализируемых атомов, но недостаточную для ионизации окружающего газа, например гелия. Учитывая, что потенциал ионизации гелия составляет 24,5 эв, а для возбуждения большинства элементов достаточна энергия 2-10 эв, очевидно, что с помощью предлагаемого устройства достаточно легко можно подобрать условия, при которых происходит эффективное возбуждение атомов анализируемых элементов и в то же время отсутствуют положительные ионы, а следовательно, и сплошной фон.
На чертеже изображена схема предлагаемого устройства для эмиссионного спектрального анализа.
Устройство содержит герметичную прозрачную камеру 1, выполненную из кварцевого стекла. Камера имеет два ввода 2, 3 для подключения к источнику инертного газа, в качестве которого использовали гелий, и к вакуумному насосу. Кроме того, камера имеет отверстие с пробкой (на схеме не показано) для ввода анализируемой пробы.
Внутри камеры расположены два электрода. Один из них, катод-атомизатор 4, выполнен с возможностью нагрева и представляет собой спираль из тугоплавкого материала, в данном случае вольфрама. Импульсный разогрев катода-атомизатора 4 производят при помощи батареи конденсаторов 5. Заряд конденсаторов осуществляют при помощи регулируемого источника постоянного тока 6. Для включения разогрева катода-атомизатора служит включатель 7.
Другой электрод, выполняющий роль анода 8, выполнен из электропроводящего материала, например стеклоуглерода. Анод 8 соединен с положительным полюсом источника постоянного тока 9 с регулируемым выходным напряжением 0 300 В. Отрицательный полюс источника соединен с катодом-атомизатором.
Катод-атомизатор 4 и анод 8 расположены таким образом, чтобы зазор между ними составлял 0,5-1,5 мм. В этих условиях при нагреве катода-атомизатора выше 2500oC и напряжении между электродами ниже порога зажигания самостоятельного разряда в цепи между анодом и катодом-атомизатором течет ток, обусловленный эмиссией электронов с нагретого катода, в широком интервале давлений инертного газа в камере.
Сам зазор расположен на оптической оси спектрального прибора 10, например монохроматора, за выходной щелью которого установлен фотоприемник, связанный с регистрирующим устройством 11.
Работа предлагаемого устройства для эмиссионного спектрального анализа осуществляется следующим образом.
При помощи дозатора через отверстие в камере (на схеме не показано) пробу анализируемого раствора наносят на спираль катода-атомизатора 4. Закрывают отверстие и производят сушку пробы, откачивая камеру вакуумным насосом и подавая небольшое напряжение на спираль катода-атомизатора для его подогрева.
После окончания сушки устанавливают определенное напряжение между анодом 8 и катодом-атомизатором 4 и заряжают блок конденсаторов 5 до заданного напряжения.
При помощи включателя 7 разряжают конденсаторы 5 на спираль катода-атомизатора 4, благодаря чему происходит импульсный нагрев спирали до температуры порядка 3000oC. Сухой остаток пробы при этом испаряется и атомизируется, а вокруг спирали образуется облако атомного пара анализируемых элементов. Одновременно нагретая спираль эмитирует электроны, которые приобретают дополнительную энергию в электрическом поле между анодом 8 и катодом-атомизатором 4 и, сталкиваясь с атомами анализируемых элементов, возбуждают их с излучением характеристических линий.
Световое излучение зазора между анодом и катодом-атомизатором любым известным способом подают на спектральный прибор 10, где выделяются аналитические линии определяемых элементов и при помощи фотоприемника преобразовываются в электрический сигнал, который подают затем на регистрирующее устройство 11.
В качестве катода-атомизатора используют стандартную лампу накаливания (8 В, 20 Вт) после удаления стеклянного баллона. Анодом служит стержень из стеклоуглерода. Зазор между анодом и катодом составляет 1-1,5 мм.
Емкость батареи конденсаторов составляет 30 000 мкф. Заряд конденсаторов осуществляют до напряжения 16-17 В. Напряжение между электродами составляет 150-180 В. Давление гелия в камере в режиме сушки поддерживают 30-40 мм рт. ст. а в режиме атомизации и возбуждения 300-400 мм рт.ст.
Зазор между электродами при помощи кварцевой линзы проектируют на щель монохроматора, в качестве которого используют монохроматор НК 1000 фирмы "Жобэн Ивон". Ширина входной щели 0,01 мм, выходной 0,02 мм.
Сигнал с фотоумножителя подают на усилитель постоянного тока типа ИМТ-05, а регистрацию сигнала осуществляют с помощью самопишущего потенциометра КСП-4.
Градуировочные растворы анализируемых элементов готовят из государственного стандартного образца раствора металлов (ГСОРМ-2) путем соответствующего разбавления его бидистиллированной водой, приготовленной в аппарате из кварцевого стекла.
Наносят на спираль катода-атомизатора 15 мкл приготовленного раствора соответствующей концентрации и регистрируют сигналы. Строят градуировочные графики. Предел обнаружения для меди, кобальта, никеля, стронция, железа и некоторых других элементов с учетом 3б-критерия составляет 1•10-9 - 5•10-8 мас. что значительно ниже, чем в известных устройствах для эмиссионного спектрального анализа.

Claims (1)

  1. Устройство для эмиссионного спектрального анализа, содержащее камеру с электродами, из которых по крайней мере один выполнен с возможностью нагрева, источник электрического тока, подключенный к электродам, и спектральный прибор, оптически связанный с камерой, отличающееся тем, что электроды имеют между собой зазор, обеспечивающий при напряжении источника тока ниже порога зажигания самостоятельного разряда прохождение электрического тока между электродами с помощью электронов, эмитируемых нагретым электродом, а сам зазор оптически связан со спектральным прибором.
RU94030997A 1994-08-19 1994-08-19 Устройство для эмиссионного спектрального анализа RU2095790C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94030997A RU2095790C1 (ru) 1994-08-19 1994-08-19 Устройство для эмиссионного спектрального анализа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94030997A RU2095790C1 (ru) 1994-08-19 1994-08-19 Устройство для эмиссионного спектрального анализа

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU94030997A RU94030997A (ru) 1996-08-27
RU2095790C1 true RU2095790C1 (ru) 1997-11-10

Family

ID=20159919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU94030997A RU2095790C1 (ru) 1994-08-19 1994-08-19 Устройство для эмиссионного спектрального анализа

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2095790C1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Falk H. и др. Spectrochim.acta. B 36, 1981, N 8, 767 - 771. Harnly J. и др. Pitsburgh Couf.aud.expo., Anal.Chew. and Appl.Spectrosc. New York, N.Y., March 5 - 9, 1990, Abstr. Pop.-New York (N.Y.), 1990, 401. Sturgeon R.E. и др. J.Anal.Atom.Spectrom - 1989, 4, N 7, 669 - 672. DDR, патент, 143178, кл. G 01 J 3/443, 1980. *

Also Published As

Publication number Publication date
RU94030997A (ru) 1996-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Davis et al. An atmospheric pressure glow discharge optical emission source for the direct sampling of liquid mediaPresented at the 2001 European Winter Conference on Plasma Spectrochemistry, Lillehammer, Norway, February 4–8, 2001.
Shelley et al. Characterization of direct-current atmospheric-pressure discharges useful for ambient desorption/ionization mass spectrometry
Harrison et al. Glow discharge techniques in analytical chemistry
US7820979B2 (en) Pulsed ultraviolet ion source
Shuaibov et al. OVERSTRESSED NANOSECOND DISCHARGE IN THE GASES AT ATMOSPHERIC PRESSURE AND ITS APPLICATION FOR THE SYNTHESIS OF NANOSTRUCTURES BASED ON TRANSITION METALS.
JPH03214044A (ja) 固体状態の試料物質を分析する方法、プラズマを発生させる場合に使用する固体試料陰極を支持するための試料ホルダー、およびマトリックス中に変態を生じることのない一体化された連続の固体試料を直接に分析するための装置、ならびに固体試料を質量スペクトル分析するための源
US6400089B1 (en) High electric field, high pressure light source
Iwai et al. A pulse-synchronized microplasma atomic emission spectroscopy system for ultrasmall sample analysis
RU2095790C1 (ru) Устройство для эмиссионного спектрального анализа
Magnusson et al. Laser-enhanced ionization detection of trace elements in a graphite furnace
Langer et al. Propagation of ionization waves during ignition of fluorescent lamps
RU2252412C2 (ru) Способ эмиссионного спектрального анализа состава вещества и устройство для его осуществления
Anghel et al. Atmospheric pressure capacitively coupled plasma source for the direct analysis of non-conductive solid samples
US4097781A (en) Atomic spectrum light source device
NL8004817A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van geioniseerde stoffen in een draaggas.
Milán et al. Removal of air interference in laser-induced breakdown spectrometry monitored by spatially and temporally resolved charge-coupled device measurements
Winefordner et al. Status of and perspectives on microwave and glow discharges for spectrochemical analysis. Plenary lecture
Ramazanov et al. Analysis of the water composition using emission spectra of a gas discharge
US2974256A (en) Light sources for the spectro-chemical analysis of substances
Coleman et al. Evidence for an ionic toroidal postdischarge environment in the atmospheric‐pressure spark discharge
US4367427A (en) Glow discharge lamp for qualitative and quantitative spectrum analysis
Mohamed et al. Direct sample introduction of solid material into a pulse-operated MIP
RU2634926C2 (ru) Способ масс-спектрометрического анализа газообразных веществ
Seltzer et al. An Active Nitrogen Plasma Atom Reservoir for Laser-Induced Ionization Spectrometry
Trivedi et al. Direct analysis of solid powder samples with electrically vaporized thin-film sampling and ICP detection