RU2023979C1 - Resistance strain gage digital increment simulator - Google Patents

Resistance strain gage digital increment simulator Download PDF

Info

Publication number
RU2023979C1
RU2023979C1 SU4863673A RU2023979C1 RU 2023979 C1 RU2023979 C1 RU 2023979C1 SU 4863673 A SU4863673 A SU 4863673A RU 2023979 C1 RU2023979 C1 RU 2023979C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
simulator
resistance
current
resistor
switching element
Prior art date
Application number
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В.В. Шевчук
Original Assignee
Центральный аэрогидродинамический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Центральный аэрогидродинамический институт filed Critical Центральный аэрогидродинамический институт
Priority to SU4863673 priority Critical patent/RU2023979C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2023979C1 publication Critical patent/RU2023979C1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

FIELD: measuring devices for nonelectric quantities. SUBSTANCE: two additional resistors 2 and 3 are connected, respectively, to current and potential leads of standard resistor 1 connected to different leads of this resistor. Simulator provides for essential decrease in error brought in due to instability of switching element resistance. EFFECT: improved accuracy due to reduction of the effect of switching element 5 on output signal of calibrated system, insertion of shunt resistor 4 in circuit which causes stepped change of simulator resistance. 1 dwg

Description

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для имитации тензорезисторных датчиков и тензометрии при калибровке измерительных приборов. The invention relates to electrical engineering and can be used to simulate strain gauge sensors and strain gauges when calibrating measuring instruments.

Известен имитатор дискретного приращения сопротивления тензорезисторов с параллельным шунтом [1]. Точность такого имитатора невысока из-за значительного влияния сопротивлений соединительных и выводных проводников имитатора. Known simulator of a discrete increment of resistance of strain gauges with a parallel shunt [1]. The accuracy of such a simulator is low due to the significant influence of the resistances of the connecting and output conductors of the simulator.

Известен также имитатор дискретного приращения сопротивления тензорезисторов с параллельным шунтом, включаемый в цепь по четырехпроводной схеме [2]. Здесь влияние сопротивлений выводных проводников исключается многопроводным включением имитатора в измерительные цепи с использованием потенциальных и токовых выводных проводников. Однако влияние сопротивления коммутирующего элемента включения шунта в особенности при быстрых (порядка нескольких тысяч в секунду) переключениях, необходимых для поверки быстродействующих измерительных приборов и систем, остается существенным. Требование высокого быстродействия обязывает использовать для включения шунта в схему имитатора бесконтактных коммутирующих элементов типа МОП-транзисторов, имеющих значительное сопротивление в открытом состоянии. Коммутирующие элементы, например, типа 590КН5 обладают сопротивлением в открытом состоянии порядка 70 Ом. Относительная погрешность такого имитатора определяется выражением:
d = R5 ΔR/R2 1, где R5 - cопротивление коммутирующего элемента шунта; ΔR - приращение сопротивления имитаторов; R1 - опорное сопротивление имитатора. Для реальных значений тензометрии (R1 = 120 Ом, ΔR = 4,80 м, R5 = 70 Ом) d = 2,3%.
Also known is a simulator of discrete increment of resistance of strain gauges with a parallel shunt, included in the circuit in a four-wire circuit [2]. Here, the influence of the resistance of the output conductors is excluded by the multi-wire inclusion of the simulator in the measuring circuit using potential and current output conductors. However, the influence of the resistance of the switching element of the inclusion of the shunt, especially during fast (of the order of several thousand per second) switching, necessary for checking high-speed measuring instruments and systems, remains significant. The high-speed requirement obliges us to use non-contact switching elements such as MOS transistors with significant resistance in the open state to include a shunt in the circuit simulator. Switching elements, for example, type 590KN5, have an open resistance of about 70 ohms. The relative error of such a simulator is determined by the expression:
d = R 5 ΔR / R 2 1 , where R 5 is the resistance of the switching element of the shunt; ΔR - increment of resistance of imitators; R 1 - reference resistance of the simulator. For real strain gauge values (R 1 = 120 Ohm, ΔR = 4.80 m, R 5 = 70 Ohm) d = 2.3%.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к изобретению является имитатор, содержащий опорный резистор с токовым и потенциальным выводами на каждом из концов, два дополнительных резистора, один из которых подключен одним концом к токовому, а другой - одним концом к потенциальному выводам одного конца опорного резистора и шунтирующий резистор с коммутирующим элементом, подключенный к свободным концам дополнительных резисторов. The closest in technical essence and the achieved effect to the invention is a simulator containing a reference resistor with current and potential terminals at each end, two additional resistors, one of which is connected at one end to the current and the other at one end to the potential terminals of one end of the reference a resistor and a shunt resistor with a switching element connected to the free ends of additional resistors.

Относительная погрешность здесь определяется выражением:
d = R5 ΔR/R3 R2, где R2 и R3 - cопротивления дополнительных резисторов, например, при R2= R3 = 480 Ом, R1 = 120 Ом, Δ R = 4,8 Ом, R5 = 70 Oм имеем: d = 0,15%, что недостаточно для прецизионных имитаторов.
The relative error here is determined by the expression:
d = R 5 ΔR / R 3 R 2 , where R 2 and R 3 are the resistances of additional resistors, for example, when R 2 = R 3 = 480 Ohms, R 1 = 120 Ohms, Δ R = 4.8 Ohms, R 5 = 70 Ohm we have: d = 0.15%, which is not enough for precision simulators.

Целью изобретения является повышение точности имитатора. The aim of the invention is to improve the accuracy of the simulator.

Это достигается тем, что в имитаторе дискретного приращения сопротивления тензорезистора, содержащем опорный резистор с токовым и потенциальным выводами на каждом из концов, два дополнительных резистора, один из которых подключен одним концом к токовому, а другой - одним концом к потенциальному выводу, и последовательно соединенные шунтирующий резистор и коммутирующий элемент, свободные концы которых соединены соответственно со свободными концами дополнительных резисторов, дополнительные резисторы подключены соответственно к токовому и потенциальному выводам, соединенным с разными концами опорного резистора. This is achieved by the fact that in the simulator of a discrete increment of resistance of a strain gage containing a reference resistor with a current and potential terminals at each end, two additional resistors, one of which is connected at one end to the current and the other at one end to the potential terminal, and connected in series a shunt resistor and a switching element, the free ends of which are connected respectively to the free ends of additional resistors, additional resistors are connected respectively to currents mu and potential terminals connected to different ends of the reference resistor.

На чертеже представлена схема имитатора дискретного приращения тензорезистора. The drawing shows a circuit simulator of a discrete increment of a strain gauge.

Имитатор содержит опорный резистор 1 (R1) c токовыми и потенциальным выводами на каждом из концов, два дополнительных резистора 2 и 3 (R2 и R3), подключенных к токовому и потенциальному выводам разных концов опорного резистора, шунт 4 (R4) и соединенный с ним последовательно коммутирующий элемент 5 (R5), подключенные к концам дополнительных резисторов R2 и R3.The simulator contains a reference resistor 1 (R 1 ) with current and potential terminals at each end, two additional resistors 2 and 3 (R 2 and R 3 ) connected to the current and potential terminals of different ends of the reference resistor, shunt 4 (R 4 ) and a switching element 5 (R 5 ) connected in series with it, connected to the ends of additional resistors R 2 and R 3 .

Устройство работает следующим образом. Работа имитатора описывается системой уравнений:
I = i1 + i4
U = i1R1 - i4R3
U = i4R4 - i1R2, откуда: ΔR= R1(R1+R2+R3) + R2R3)/(R1+R2+R3+R4) R4 = R1((R1+R2+R3)+R2R3))/ ΔR-R1-R2-R3 В реальном случае: ΔR* =R1((R1+R2+R3)+R2R3))/(R1+R2+R3+R4+R5), поэтому погрешность: d = 1 - ΔR*/ ΔR = =R5/(R1+R2+R3+R4+R5) C другой стороны: d= R5ΔR(R2 1+R1R2+R1R3+R2R3) Для прототипа = 0,09%.
The device operates as follows. The work of the simulator is described by a system of equations:
I = i 1 + i 4
U = i 1 R 1 - i 4 R 3
U = i 4 R 4 - i 1 R 2 , whence: ΔR = R 1 (R 1 + R 2 + R 3 ) + R 2 R 3 ) / (R 1 + R 2 + R 3 + R 4 ) R 4 = R 1 ((R 1 + R 2 + R 3 ) + R 2 R 3 )) / ΔR-R 1 -R 2 -R 3 In the real case: ΔR * = R 1 ((R 1 + R 2 + R 3 ) + R 2 R 3 )) / (R 1 + R 2 + R 3 + R 4 + R 5 ), therefore the error: d = 1 - ΔR * / ΔR = = R 5 / (R 1 + R 2 + R 3 + R 4 + R 5) On the other hand: d = R 5 ΔR (R 2 1 + R 1 R 2 + R 1 R 3 + R 2 R 3 ) For the prototype = 0.09%.

Таким образом, подключение дополнительных резисторов 2 и 3 (R2 и R3) соответственно через токовый и потенциальный выводы к разным концам опорного резистора обеспечивает снижение погрешности, вносимой сопротивлением коммутирующего элемента 5.Thus, the connection of additional resistors 2 and 3 (R 2 and R 3 ), respectively, through the current and potential leads to different ends of the reference resistor, reduces the error introduced by the resistance of the switching element 5.

Изобретение позволяет значительно повысить точность имитаторов дискретного приращения сопротивления тензорезистора за счет уменьшения погрешности, вносимой коммутирующим элементом быстродействующих бесконтактных имитаторов, и повысить уровень метрологических работ по аттестации быстродействующих измерительных приборов и систем. The invention allows to significantly increase the accuracy of the simulators of the discrete increment of the resistance of the strain gage by reducing the error introduced by the switching element of the high-speed contactless simulators, and to increase the level of metrological work on the certification of high-speed measuring instruments and systems.

Claims (1)

ИМИТАТОР ДИСКРЕТНОГО ПРИРАЩЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРА, содержащий опорный резистор с токовым и потенциальным выводами на каждом из концов, два дополнительных резистора, один из которых подключен одним концом к токовому, а другой одним концом - к потенциальному выводу, и последовательно соединенные шунтирующий резистор и коммутирующий элемент, свободные концы которых соединены соответственно со свободными концами дополнительных резисторов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительные резисторы подключены соответственно к токовому и потенциальному выводам, соединенным с разными концами опорного резистора. TENSOR RESISTANCE RESISTANCE SIMULATOR, comprising a reference resistor with current and potential terminals at each end, two additional resistors, one of which is connected at one end to the current and the other at one end to the potential terminal, and a shunt resistor and a switching element are connected in series, the free ends of which are connected respectively to the free ends of additional resistors, characterized in that, in order to increase accuracy, additional resistors are connected ootvetstvenno to current and potential leads connected to different ends of the reference resistor.
SU4863673 1990-08-31 1990-08-31 Resistance strain gage digital increment simulator RU2023979C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4863673 RU2023979C1 (en) 1990-08-31 1990-08-31 Resistance strain gage digital increment simulator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4863673 RU2023979C1 (en) 1990-08-31 1990-08-31 Resistance strain gage digital increment simulator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2023979C1 true RU2023979C1 (en) 1994-11-30

Family

ID=21534639

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4863673 RU2023979C1 (en) 1990-08-31 1990-08-31 Resistance strain gage digital increment simulator

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2023979C1 (en)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Беклемищев А.И. и Судаков В.А. Устройство для автоматизации исследований метрологических характеристик. Труды ЦАГИ, М., 1981, вып. 2105, с.75, рис.3. *
2. Авторское свидетельство СССР N 1551979, кл. G 01B 7/18, 1987. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY105336A (en) Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification
EP0003433A1 (en) Improvements in or relating to the location of contact faults on electrically conductive cables
US4841229A (en) Method of and circuit for ohmmeter calibration
US3943434A (en) Arrangement for measuring temperatures
US4448078A (en) Three-wire static strain gage apparatus
RU2023979C1 (en) Resistance strain gage digital increment simulator
US3783375A (en) Means for calibrating a four-probe resistivity measuring device
WO1988005171A1 (en) Method and device for detecting a fault, e.g. a short circuit, break or leakage, in an electric cable or conductor
US4163938A (en) Calibrating device for control stations and indicators
US3290586A (en) Apparatus for measuring the distance to an open circuit in a cable pair including means for storing a charge commensurate with such distance
US6124724A (en) Method of increasing AC testing accuracy through linear extrapolation
US2290559A (en) Electrical measuring instrument
US4929900A (en) Method for locating conductive faults in telephone and similar cables
US1329432A (en) Method of and apparatus for fault location on electrical conductors
US3423680A (en) High precision potentiometer apparatus employing parallel resistors in an attenuator
SU1551979A1 (en) Simulator of discrete increment of resistance of strain gauge
US3605008A (en) Transducer network with current source conditioning
JPH06174565A (en) Load cell
Sanford et al. Errors in shunt calibration of strain gauge circuits due to cable resistance
RU2009448C1 (en) Strain measuring device
SU983553A1 (en) Measuring converter
US859556A (en) Method of and apparatus for fault location on electrical conductors.
US3449666A (en) Impedance sensing circuit having amplifier means for maintaining a pair of points at the same potential
SU1273739A1 (en) Multichannel measuring system with correction device for measuring characteristics
CN113777471A (en) Method for calibrating relative voltage offset error of measurement module