RU2014107693A - Сцинтиллятор на основе тербия для детектора - Google Patents

Сцинтиллятор на основе тербия для детектора Download PDF

Info

Publication number
RU2014107693A
RU2014107693A RU2014107693/28A RU2014107693A RU2014107693A RU 2014107693 A RU2014107693 A RU 2014107693A RU 2014107693/28 A RU2014107693/28 A RU 2014107693/28A RU 2014107693 A RU2014107693 A RU 2014107693A RU 2014107693 A RU2014107693 A RU 2014107693A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
matrix
scintillator
paragraphs
visualization system
radiation
Prior art date
Application number
RU2014107693/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2605518C2 (ru
Inventor
Корнелис Рейндер РОНДА
Норберт КОНРАДС
Хеннинг ОЛАНД
Герберт ШРАЙНЕМАХЕР
Original Assignee
Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Н.В.
Publication of RU2014107693A publication Critical patent/RU2014107693A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2605518C2 publication Critical patent/RU2605518C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/77—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
    • C09K11/7766—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals containing two or more rare earth metals
    • C09K11/7767—Chalcogenides
    • C09K11/7769—Oxides
    • C09K11/7771—Oxysulfides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • G01T1/2023—Selection of materials
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00—Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)

Abstract

1. Система (100) визуализации, содержащая:источник (110) излучения; иматрицу (114) чувствительных к излучению детекторов, включающую в себя:матрицу (118) сцинтилляторов; иматрицу (120) фотодатчиков, оптически связанную с матрицей сцинтилляторов, причем матрица сцинтилляторов включает в себя GdOS:Pr,Tb,Ce, причем количество Tbравно или меньше чем пятьдесят мольных частей на миллион.2. Система визуализации по п. 1, в которой GdOS:Pr,Tb,Ce включает в себя Tbв количестве, при котором световой выход сцинтиллятора ниже заданного порогового значения светового выхода при заданном времени спада.3. Система визуализации по п. 2, в которой количество Tbравно или меньше чем десять мольных частей на миллион.4. Система визуализации по п. 2, в которой световой выход составляет примерно 46700 фотонов/МэВ.5. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой матрица (118) сцинтилляторов включает в себя композитный материал.6. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой матрица (118) сцинтилляторов включает в себя керамический материал.7. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой световая эффективность матрицы сцинтилляторов примерно на тридцать три процента превышает таковую для варианта, в котором матрица сцинтилляторов не включает в себя Tb.8. Система визуализации по любому из пп. 1-3, при этом система визуализации представляет собой сканер компьютерной томографии.9. Способ, содержащий:детектирование излучения с использованием матрицы (114) чувствительных к излучению детекторов системы (100) визуализации, причем матрица чувствительных к излучению детекторов включает в себя матрицу (118) сцинтилляторов на основе GdOS:Pr,Tb,Ce, и количество Tbравно или меньше чем �

Claims (15)

1. Система (100) визуализации, содержащая:
источник (110) излучения; и
матрицу (114) чувствительных к излучению детекторов, включающую в себя:
матрицу (118) сцинтилляторов; и
матрицу (120) фотодатчиков, оптически связанную с матрицей сцинтилляторов, причем матрица сцинтилляторов включает в себя Gd2O2S:Pr,Tb,Ce, причем количество Tb3+ равно или меньше чем пятьдесят мольных частей на миллион.
2. Система визуализации по п. 1, в которой Gd2O2S:Pr,Tb,Ce включает в себя Tb3+ в количестве, при котором световой выход сцинтиллятора ниже заданного порогового значения светового выхода при заданном времени спада.
3. Система визуализации по п. 2, в которой количество Tb3+ равно или меньше чем десять мольных частей на миллион.
4. Система визуализации по п. 2, в которой световой выход составляет примерно 46700 фотонов/МэВ.
5. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой матрица (118) сцинтилляторов включает в себя композитный материал.
6. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой матрица (118) сцинтилляторов включает в себя керамический материал.
7. Система визуализации по любому из пп. 1-3, в которой световая эффективность матрицы сцинтилляторов примерно на тридцать три процента превышает таковую для варианта, в котором матрица сцинтилляторов не включает в себя Tb3+.
8. Система визуализации по любому из пп. 1-3, при этом система визуализации представляет собой сканер компьютерной томографии.
9. Способ, содержащий:
детектирование излучения с использованием матрицы (114) чувствительных к излучению детекторов системы (100) визуализации, причем матрица чувствительных к излучению детекторов включает в себя матрицу (118) сцинтилляторов на основе Gd2O2S:Pr,Tb,Ce, и количество Tb3+ равно или меньше чем пятьдесят мольных частей на миллион.
10. Способ по п. 9, в котором Gd2O2S:Pr,Tb,Ce включает в себя Tb3+ в количестве, при котором световой выход сцинтиллятора ниже заданного порогового значения светового выхода при заданном времени спада.
11. Способ п. 10, в котором количество Tb3+ равно или меньше чем 10 мольных частей на миллион.
12. Способ по п. 10, в котором световой выход составляет примерно 46700 фотонов/МэВ.
13. Способ по любому из пп. 9-12, в котором матрица (118) сцинтилляторов включает в себя один из композитного материала или керамического материала.
14. Способ по любому из пп. 9-12, в котором световая эффективность матрицы сцинтилляторов примерно на тридцать три процента превышает таковую для варианта, в котором матрица сцинтилляторов не включает в себя Tb3+.
15. Способ по любому из пп. 9-12, в котором система визуализации представляет собой сканер компьютерной томографии.
RU2014107693/28A 2011-07-28 2012-07-03 Сцинтиллятор на основе тербия для детектора RU2605518C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161512452P 2011-07-28 2011-07-28
US61/512,452 2011-07-28
PCT/IB2012/053372 WO2013014557A1 (en) 2011-07-28 2012-07-03 Terbium based detector scintillator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2014107693A true RU2014107693A (ru) 2015-09-10
RU2605518C2 RU2605518C2 (ru) 2016-12-20

Family

ID=46545429

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014107693/28A RU2605518C2 (ru) 2011-07-28 2012-07-03 Сцинтиллятор на основе тербия для детектора

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9322935B2 (ru)
EP (1) EP2737340B1 (ru)
JP (1) JP6215825B2 (ru)
CN (1) CN103718063B (ru)
RU (1) RU2605518C2 (ru)
WO (1) WO2013014557A1 (ru)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105738939B (zh) * 2016-04-01 2019-03-08 西安电子科技大学 基于碳化硅PIN二极管结构的β辐照闪烁体探测器
CN115932932A (zh) * 2022-11-03 2023-04-07 宁波虔东科浩光电科技有限公司 一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3974389A (en) 1974-11-20 1976-08-10 Gte Sylvania Incorporated Terbium-activated rare earth oxysulfide X-ray phosphors
IL80333A (en) * 1985-12-30 1991-01-31 Gen Electric Radiation detector employing solid state scintillator material and preparation methods therefor
JP2928677B2 (ja) * 1991-06-21 1999-08-03 株式会社東芝 Ｘ線検出器およびｘ線検査装置
DE4402260A1 (de) * 1994-01-26 1995-07-27 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung eines Leuchtstoffs mit hoher Transluzenz
US5882547A (en) * 1996-08-16 1999-03-16 General Electric Company X-ray scintillators and devices incorporating them
JP3777486B2 (ja) 1997-07-08 2006-05-24 株式会社日立メディコ 蛍光体及びそれを用いた放射線検出器及びｘ線ｃｔ装置
JP3741302B2 (ja) * 1998-05-06 2006-02-01 日立金属株式会社 シンチレータ
RU2350579C2 (ru) * 2004-05-17 2009-03-27 Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-Исследовательский И Технологический Институт Оптического Материаловедения" Всероссийского Научного Центра "Государственный Оптический Институт Им. С.И.Вавилова" Флуоресцентная керамика
US7282713B2 (en) * 2004-06-10 2007-10-16 General Electric Company Compositions and methods for scintillator arrays
JP2008537001A (ja) * 2005-04-19 2008-09-11 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ＣＴのための非常に短い残光を有するＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒを得る方法。
WO2007004099A1 (en) * 2005-07-05 2007-01-11 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Gd2o2s: pr for ct with a very short afterglow due to the use of yb as a scavenger for eu
AU2006276196A1 (en) * 2005-07-25 2007-02-08 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Rare earth oxysulfide scintillator and methods for producing same
JP2009523689A (ja) 2006-01-18 2009-06-25 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 単軸加熱プレス及びフラックス助剤を用いるｇｏｓセラミックの生産方法
WO2008020373A2 (en) * 2006-08-15 2008-02-21 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Method of measuring and/or judging the afterglow in ceramic materials and detector
JP5345948B2 (ja) 2006-12-20 2013-11-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 高温軸方向圧縮方法
US8294112B2 (en) 2008-08-08 2012-10-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Composite scintillator including a micro-electronics photo-resist
KR101819757B1 (ko) * 2009-06-17 2018-01-17 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시간 평판 ｘ-선 영상기에서의 포토다이오드 및 기타 센서 구조물, 및 박막 전자 회로에 기초하여 평판 ｘ-선 영상기에서의 포토다이오드 및 기타 센서 구조물의 토폴로지적 균일성을 향상시키는 방법
JP2012185123A (ja) * 2011-03-08 2012-09-27 Sony Corp 放射線撮像装置および放射線撮像装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US9322935B2 (en) 2016-04-26
EP2737340A1 (en) 2014-06-04
RU2605518C2 (ru) 2016-12-20
JP2014529060A (ja) 2014-10-30
CN103718063A (zh) 2014-04-09
CN103718063B (zh) 2017-04-26
EP2737340B1 (en) 2019-04-24
WO2013014557A1 (en) 2013-01-31
JP6215825B2 (ja) 2017-10-18
US20140177783A1 (en) 2014-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Glodo et al. Effects of Ce concentration on scintillation properties of LaBr/sub 3: Ce
JP2016502575A5 (ru)
WO2012007734A3 (en) Radiation detector
RU2015122382A (ru) Сцинтилляционный материал
WO2014171985A3 (en) Codoping method for modifying the scintillation and optical properties of garnet-type scintillators
RU2007121268A (ru) Сцинтилляторы для обнаружения излучения, а также соответствующие способы и устройства
WO2008107808A3 (en) Improved light detection in a pixelated pet detector
BR112013031226A2 (pt) aparelhos e métodos para detecção de radiação incluindo nêutrons e raios gama
RU2011108446A (ru) Сцинтилляционный материал и соответствующий спектральный фильтр
Chewpraditkul et al. Scintillation properties of Lu3Al5O12, Lu2SiO5 and LaBr3 crystals activated with cerium
RU2014107693A (ru) Сцинтиллятор на основе тербия для детектора
Shirwadkar et al. New promising scintillators for gamma-ray spectroscopy: Cs (Ba, Sr)(Br, I) 3
JP2014529060A5 (ru)
RU2017106884A (ru) Детектор излучения прямого преобразования
CN105378031B (zh) 用于成像***中的ce3+激活的发光组合物
JP2016080557A (ja) 放射性物質測定器及び放射性物質測定方法
JP2010085415A (ja) ２次元放射線および中性子イメージ検出器
JPWO2018016224A1 (ja) 放射線モニタ
Harrison et al. Scintillation Performance of Aliovalently-Doped ${\rm CeBr} _ {3} $
Nepokupnaya et al. Large area detector of low-energy gamma radiation
JP5733233B2 (ja) 核医学診断装置
Khoshakhlagh et al. A Monte Carlo study for optimizing the detector of SPECT imaging using a XCAT human phantom
Glodo et al. Effects of Ce concentration on scintillation properties of LaBr/sub 3: Ce
JP6233925B2 (ja) 熱量検出器及び光検出器を用いた放射能絶対測定装置
KR20110123324A (ko) 방사선 센서 및 그 응용 방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200704