Claims (1)
Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти, состоящая из автомата управления, контроллера интерфейса Ethernet, оперативного запоминающего устройства, контроллера интерфейса карты полупроводниковой памяти, блока регистров управления, блока формирования и измерения временных параметров интерфейса карты памяти с разрешением 2,5 нс, умножитель частоты на основе фазовой автоподстройки частоты, блока управления устройством ввода и устройством индикации, блока приемопередатчика последовательного интерфейса, программируемой логической интегральной схемы, микросхемы приемопередатчика интерфейса Ethernet, вторичного источника питания, постоянной перепрограммируемой памяти, преобразователя уровня напряжения интерфейса карты памяти, тактового генератора 25 МГц, устройства ввода, устройства индикации, датчика температуры карты памяти, управляемого источника питания с выходным напряжением от 1 В до 5 В, датчика тока и контактного устройства для подключения карты полупроводниковой памяти, отличающаяся тем, что автомат управления, контроллер интерфейса Ethernet, оперативное запоминающее устройство, контроллер интерфейса карты полупроводниковой памяти, блок регистров управления, блок формирования и измерения временных параметров интерфейса карты памяти с разрешением 2,5 нс, умножитель частоты на основе фазовой автоподстройки частоты, блок управления устройством ввода и устройством индикации, блок приемопередатчика последовательного интерфейса реализованы в программируемой логической интегральной схеме; персональный компьютер через приемопередатчик интерфейса Ethernet и контроллер интерфейса Ethernet подключен к блоку регистров управления; автомат управления через блок управления устройством ввода и устройством индикации подключен к устройству ввода и устройству индикации; автомат управления через блок приемопередатчика последовательного интерфейса подключен к датчику температуры карты памяти, управляемому источнику питания с выходным напряжением от 1 В до 5 В и датчику тока; автомат управления подключен к блоку формирования и измерения временных параметров интерфейса карты памяти с разрешением 2,5 нс, контроллеру интерфейса карты полупроводниковой памяти, оперативному запоминающему устройству, блоку регистров управления; контроллер интерфейса карты полупроводниковой памяти подключен к оперативному запоминающему устройству, контроллер интерфейса карты полупроводниковой памяти подключен к контактному устройству для подключения карты полупроводниковой памяти через блок формирования и измерения временных параметров интерфейса карты памяти с разрешением 2,5 нс и преобразователь уровня напряжения интерфейса карты памяти; управляемый источник питания с выходным напряжением от 1 В до 5 В подключен к преобразователю уровня напряжения интерфейса карты памяти и к контактному устройству для подключения карты полупроводниковой памяти через датчик тока; тактовый генератор 25 МГц подключен к умножителю частоты на основе фазовой автоподстройки частоты, тактовая частота с которого подается на все блоки, реализованные в программируемой логической интегральной схеме; вторичный источник питания соединен со всеми элементами схемы.
Functional testing system for semiconductor memory cards, consisting of a control unit, Ethernet interface controller, random access memory, semiconductor memory card interface controller, control register block, memory card interface generation and measurement unit with a resolution of 2.5 ns, frequency multiplier based on phase locked loop, control unit for input device and indicating device, transceiver unit for serial interface, programs an integrated logical integrated circuit, an Ethernet interface transceiver chip, a secondary power supply, a permanent reprogrammable memory, a memory card interface voltage level converter, a 25 MHz clock generator, an input device, an indication device, a memory card temperature sensor, a controlled power supply with an output voltage of 1 V or more up to 5 V, current sensor and contact device for connecting a semiconductor memory card, characterized in that the control unit, Ethernet interface controller , random access memory, semiconductor memory card interface controller, control register block, 2.5 ns resolution memory card interface generation and measurement unit, phase-locked loop frequency multiplier, input and indication device control unit, serial transceiver unit the interfaces are implemented in a programmable logic integrated circuit; a personal computer is connected to the control register block through an Ethernet interface transceiver and an Ethernet interface controller; the control machine through the control unit of the input device and the display device is connected to the input device and the display device; the control unit through the transceiver unit of the serial interface is connected to a temperature sensor of the memory card, controlled by a power source with an output voltage of 1 V to 5 V and a current sensor; the control unit is connected to a block for generating and measuring time parameters of a memory card interface with a resolution of 2.5 ns, a semiconductor memory card interface controller, random access memory, a control register block; a semiconductor memory card interface controller is connected to a random access memory, a semiconductor memory card interface controller is connected to a contact device for connecting a semiconductor memory card via a 2.5 ns resolution memory card interface generating and measuring unit and a voltage converter of a memory card interface; a controlled power supply with an output voltage of 1 V to 5 V is connected to a voltage level converter of the memory card interface and to a contact device for connecting a semiconductor memory card through a current sensor; a 25 MHz clock is connected to a frequency multiplier based on a phase-locked loop, the clock frequency from which is supplied to all blocks implemented in a programmable logic integrated circuit; a secondary power source is connected to all circuit elements.