RU2011143362A - Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения - Google Patents

Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения Download PDF

Info

Publication number
RU2011143362A
RU2011143362A RU2011143362/07A RU2011143362A RU2011143362A RU 2011143362 A RU2011143362 A RU 2011143362A RU 2011143362/07 A RU2011143362/07 A RU 2011143362/07A RU 2011143362 A RU2011143362 A RU 2011143362A RU 2011143362 A RU2011143362 A RU 2011143362A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diffraction grating
phase
forming apparatus
image forming
detector
Prior art date
Application number
RU2011143362/07A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2543994C2 (ru
Inventor
Эвальд РЕССЛЬ
Томас КЕЛЕР
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Publication of RU2011143362A publication Critical patent/RU2011143362A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2543994C2 publication Critical patent/RU2543994C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/50Optics for phase object visualisation
    • G02B27/52Phase contrast optics
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Устройство формирования фазоконтрастного изображения для исследования представляющего интерес объекта, причем устройство (100) содержит:источник (101) для генерации пучка излучения;детектор (102) для детектирования излучения после прохождения им представляющего интерес объекта (103);первую фазовую дифракционную решетку (104), расположенную между источником (101) и детектором (102) и имеющую первый шаг;вторую фазовую дифракционную решетку (105), расположенную между источником (101) и детектором (102) и имеющую второй шаг;при этом первый шаг отличается от второго шага.2. Устройство формирования изображения по п.1,в котором вторая фазовая дифракционная решетка (105) располагается поблизости от первой фазовой дифракционной решетки (104).3. Устройство формирования изображения по п.1,в котором вторая фазовая дифракционная решетка (105) располагается на предварительно определенном расстоянии от первой фазовой дифракционной решетки (104).4. Устройство формирования изображения по п.1,в котором первый шаг соответствует первой энергии излучения;в котором второй шаг соответствует второй энергии излучения; ив котором первая фазовая дифракционная решетка (104) имеет расстояние Тальбота для первой энергии; ивторая фазовая дифракционная решетка (105) имеет то же самое расстояние Тальбота для второй энергии.5. Устройство формирования изображения по п.4, в котором первая энергия в два раза больше второй энергии.6. Устройство формирования изображения по п.1, дополнительно содержащее:третью дифракционную решетку (106);где третья дифракционная решетка (106) представляет собой поглощательную дифракционную решетку, которая расположена перед детектором (102); �

Claims (15)

1. Устройство формирования фазоконтрастного изображения для исследования представляющего интерес объекта, причем устройство (100) содержит:
источник (101) для генерации пучка излучения;
детектор (102) для детектирования излучения после прохождения им представляющего интерес объекта (103);
первую фазовую дифракционную решетку (104), расположенную между источником (101) и детектором (102) и имеющую первый шаг;
вторую фазовую дифракционную решетку (105), расположенную между источником (101) и детектором (102) и имеющую второй шаг;
при этом первый шаг отличается от второго шага.
2. Устройство формирования изображения по п.1,
в котором вторая фазовая дифракционная решетка (105) располагается поблизости от первой фазовой дифракционной решетки (104).
3. Устройство формирования изображения по п.1,
в котором вторая фазовая дифракционная решетка (105) располагается на предварительно определенном расстоянии от первой фазовой дифракционной решетки (104).
4. Устройство формирования изображения по п.1,
в котором первый шаг соответствует первой энергии излучения;
в котором второй шаг соответствует второй энергии излучения; и
в котором первая фазовая дифракционная решетка (104) имеет расстояние Тальбота для первой энергии; и
вторая фазовая дифракционная решетка (105) имеет то же самое расстояние Тальбота для второй энергии.
5. Устройство формирования изображения по п.4, в котором первая энергия в два раза больше второй энергии.
6. Устройство формирования изображения по п.1, дополнительно содержащее:
третью дифракционную решетку (106);
где третья дифракционная решетка (106) представляет собой поглощательную дифракционную решетку, которая расположена перед детектором (102); и
где третья дифракционная решетка (106) имеет третий шаг, который отличается от первого шага и второго шага.
7. Устройство формирования изображения по п.6, в котором
поглощательная дифракционная решетка (106) имеет третий шаг, равный среднему гармоническому шагов указанных двух дифракционных решеток в виде
2 × (первый шаг × второй шаг)/(первый шаг + второй шаг).
8. Устройство по п.1, дополнительно содержащее:
четвертую дифракционную решетку (107), расположенную между источником (101) и представляющим интерес объектом (103);
при этом четвертая дифракционная решетка (107) имеет четвертый шаг, который отличается от первого шага и второго шага.
9. Устройство формирования изображения по п.1, дополнительно содержащее:
пятую дифракционную решетку (108);
где пятая дифракционная решетка (108) представляет собой фазовую дифракционную решетку, имеющую пятый шаг, отличающийся от первого шага и второго шага.
10. Устройство формирования изображения по п.1,
в котором источник (101) представляет собой источник рентгеновского излучения; и
в котором устройство приспособлено для использования в качестве устройства формирования дифференциального фазоконтрастного изображения на основе рентгеновского излучения.
11. Устройство формирования изображения по п.1,
которое приспособлено для использования в качестве устройства для формирования оптического изображения.
12. Модуль с фазовыми дифракционными решетками (104, 105) для устройства формирования фазоконтрастного изображения (300) для исследования представляющего интерес объекта, причем модуль (104, 105) содержит:
первую фазовую дифракционную решетку (104), размещаемую между источником (101) устройства формирования изображения и детектором (102) устройства формирования изображения, где первая фазовая дифракционная решетка имеет первый шаг;
вторую фазовую дифракционную решетку (105), размещаемую между источником (101) и детектором (102), где вторая фазовая решетка имеет второй шаг;
при этом первый шаг отличается от второго шага.
13. Способ формирования фазоконтрастного изображения для исследования представляющего интерес объекта, причем способ содержит этапы, при которых:
генерируют пучок излучения источником;
используют первую фазовую решетку (104), имеющую первый шаг и размещаемую между источником (101) и детектором (102) для создания первого изображения Тальбота, соответствующего первой энергии излучения, на расстоянии Тальбота от первой фазовой дифракционной решетки;
используют вторую фазовую дифракционную решетку (105), имеющую второй шаг и размещаемую между источником (101) и детектором (102) для создания второго изображения Тальбота, соответствующего второй энергии излучения, на том же самом расстоянии Тальбота от первой фазовой дифракционной решетки;
детектируют, с помощью детектора, пучок излучения после его прохождения через представляющий интерес объект (103) и первую и вторую фазовые дифракционные решетки;
при этом первый шаг отличается от второго шага.
14. Способ по п.13, дополнительно содержащий этап, на котором:
используют третью фазовую дифракционную решетку (108), имеющую третий шаг, и размещаемую между источником (101) и детектором (102) для создания третьего изображения Тальбота, соответствующего третьей энергии излучения, на том же расстоянии Тальбота от первой фазовой дифракционной решетки;
при этом третий шаг отличается от первого шага и второго шага.
15. Способ по п.13, кроме того, содержащий этап, на котором:
используют поглощательную дифракционную решетку, имеющую шаг, равный среднему гармоническому шагов указанных двух дифракционных решеток, выраженному как
2 × (первый шаг × второй шаг)/(первый шаг + второй шаг);
где поглощательная дифракционная решетка расположена перед детектором.
RU2011143362/07A 2009-03-27 2010-03-19 Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения RU2543994C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09156457.5 2009-03-27
EP09156457 2009-03-27
PCT/IB2010/051198 WO2010109390A1 (en) 2009-03-27 2010-03-19 Achromatic phase-contrast imaging

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011143362A true RU2011143362A (ru) 2013-05-10
RU2543994C2 RU2543994C2 (ru) 2015-03-10

Family

ID=42224769

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011143362/07A RU2543994C2 (ru) 2009-03-27 2010-03-19 Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9881710B2 (ru)
EP (1) EP2411985B1 (ru)
JP (1) JP5631967B2 (ru)
CN (1) CN102365687B (ru)
RU (1) RU2543994C2 (ru)
WO (1) WO2010109390A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2631183C2 (ru) * 2012-08-20 2017-09-19 Конинклейке Филипс Н.В. Юстировка расстояния от решетки источника до фазовой решетки для фазовой настройки в несколько порядков при дифференциальной фазово-контрастной визуализации
RU2663176C2 (ru) * 2013-09-30 2018-08-01 Конинклейке Филипс Н.В. Устройство получения дифференциального фазоконтрастного изображения с подвижной решеткой(ами)

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012000694A1 (en) * 2010-06-28 2012-01-05 Paul Scherrer Institut A method for x-ray phase contrast and dark-field imaging using an arrangement of gratings in planar geometry
JP2012135612A (ja) * 2010-12-07 2012-07-19 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影方法および装置
JP2012148068A (ja) * 2010-12-27 2012-08-09 Fujifilm Corp 放射線画像取得方法および放射線画像撮影装置
JP5792961B2 (ja) * 2011-01-25 2015-10-14 キヤノン株式会社 トールボット干渉計及び撮像方法
US20150117599A1 (en) * 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US9360439B2 (en) 2012-12-19 2016-06-07 Industrial Technology Research Institute Imaging system
US8989347B2 (en) 2012-12-19 2015-03-24 General Electric Company Image reconstruction method for differential phase contrast X-ray imaging
US9724063B2 (en) 2012-12-21 2017-08-08 Carestream Health, Inc. Surrogate phantom for differential phase contrast imaging
US10096098B2 (en) 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9700267B2 (en) 2012-12-21 2017-07-11 Carestream Health, Inc. Method and apparatus for fabrication and tuning of grating-based differential phase contrast imaging system
US9494534B2 (en) 2012-12-21 2016-11-15 Carestream Health, Inc. Material differentiation with phase contrast imaging
US9907524B2 (en) 2012-12-21 2018-03-06 Carestream Health, Inc. Material decomposition technique using x-ray phase contrast imaging system
US9357975B2 (en) 2013-12-30 2016-06-07 Carestream Health, Inc. Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
US10578563B2 (en) 2012-12-21 2020-03-03 Carestream Health, Inc. Phase contrast imaging computed tomography scanner
US9001967B2 (en) * 2012-12-28 2015-04-07 Carestream Health, Inc. Spectral grating-based differential phase contrast system for medical radiographic imaging
US20150055745A1 (en) * 2013-08-23 2015-02-26 Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. Phase Contrast Imaging Using Patterned Illumination/Detector and Phase Mask
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
EP3169239B1 (en) * 2014-07-17 2018-10-31 Koninklijke Philips N.V. Phase contrast imaging x-ray device provided with at least one movable grating
EP3310259B1 (en) * 2015-08-26 2018-11-14 Koninklijke Philips N.V. Dual energy differential phase contrast imaging
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
JP6937380B2 (ja) 2017-03-22 2021-09-22 シグレイ、インコーポレイテッド X線分光を実施するための方法およびx線吸収分光システム
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
JP7195341B2 (ja) 2018-06-04 2022-12-23 シグレイ、インコーポレイテッド 波長分散型x線分光計
US11422292B1 (en) * 2018-06-10 2022-08-23 Apple Inc. Super-blazed diffractive optical elements with sub-wavelength structures
US10658145B2 (en) 2018-07-26 2020-05-19 Sigray, Inc. High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
US10962491B2 (en) 2018-09-04 2021-03-30 Sigray, Inc. System and method for x-ray fluorescence with filtering
WO2020051221A2 (en) 2018-09-07 2020-03-12 Sigray, Inc. System and method for depth-selectable x-ray analysis
DE112020004169T5 (de) 2019-09-03 2022-05-25 Sigray, Inc. System und verfahren zur computergestützten laminografieröntgenfluoreszenz-bildgebung
US11175243B1 (en) 2020-02-06 2021-11-16 Sigray, Inc. X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
US11754767B1 (en) 2020-03-05 2023-09-12 Apple Inc. Display with overlaid waveguide
DE112021002841T5 (de) 2020-05-18 2023-03-23 Sigray, Inc. System und Verfahren für Röntgenabsorptionsspektroskopie unter Verwendung eines Kristallanalysators und mehrerer Detektorelemente
WO2022061347A1 (en) 2020-09-17 2022-03-24 Sigray, Inc. System and method using x-rays for depth-resolving metrology and analysis
KR20230109735A (ko) 2020-12-07 2023-07-20 시그레이, 아이엔씨. 투과 x-선 소스를 이용한 고처리량 3D x-선 이미징 시스템
US11813102B2 (en) * 2021-10-06 2023-11-14 Houxun Miao Interferometer for x-ray phase contrast imaging
WO2023177981A1 (en) 2022-03-15 2023-09-21 Sigray, Inc. System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector
US11885755B2 (en) 2022-05-02 2024-01-30 Sigray, Inc. X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02263341A (ja) * 1988-08-02 1990-10-26 Minolta Camera Co Ltd 光ピックアップ装置の格子
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
DE19954664B4 (de) * 1999-11-13 2006-06-08 Smiths Heimann Gmbh Vorrichtung zur Bestimmung von kristallinen und polykristallinen Materialien eines Gegenstandes
EP1446989B1 (en) * 2001-10-30 2007-03-21 Loma Linda University Medical Center Device for aligning a patient for delivering radiotherapy
JP4445397B2 (ja) * 2002-12-26 2010-04-07 敦 百生 X線撮像装置および撮像方法
EP1447046A1 (en) * 2003-02-14 2004-08-18 Paul Scherrer Institut Apparatus and method to obtain phase contrast x-ray images
DE102006046034A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-16 Siemens Ag Röntgen-CT-System zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006015356B4 (de) * 2006-02-01 2016-09-22 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
DE102006037281A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-09 Siemens Ag Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt
DE102006063048B3 (de) 2006-02-01 2018-03-29 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037254B4 (de) * 2006-02-01 2017-08-03 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
WO2007125833A1 (ja) * 2006-04-24 2007-11-08 The University Of Tokyo X線撮像装置及びx線撮像方法
EP1879020A1 (en) * 2006-07-12 2008-01-16 Paul Scherrer Institut X-ray interferometer for phase contrast imaging
US7683300B2 (en) 2006-10-17 2010-03-23 Asml Netherlands B.V. Using an interferometer as a high speed variable attenuator
US20100080436A1 (en) * 2007-02-21 2010-04-01 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiographic imaging device and radiographic imaging system
DE102007029730B4 (de) * 2007-06-27 2017-06-08 Paul Scherer Institut Mess-System mit einem Phasenkontrast-Kontrastmittel und dessen Verwendung zur nicht-invasiven Bestimmung von Eigenschaften eines Untersuchungsobjektes
WO2009058976A1 (en) * 2007-10-30 2009-05-07 Massachusetts Institute Of Technology Phase-contrast x-ray imaging
CN201191275Y (zh) * 2007-11-23 2009-02-04 同方威视技术股份有限公司 一种x射线光栅相衬成像***
WO2009076700A1 (en) 2007-12-14 2009-06-25 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Phase-contrast imaging method and apparatus
WO2010146503A1 (en) 2009-06-16 2010-12-23 Koninklijke Philips Electronics N. V. Correction method for differential phase contrast imaging
JP5624253B2 (ja) 2011-07-29 2014-11-12 ザ・ジョンズ・ホプキンス・ユニバーシティ 微分位相コントラストx線イメージングシステム及びそのためのコンポーネント
US20140177789A1 (en) 2012-12-21 2014-06-26 Pavlo Baturin Grating-based differential phase contrast imaging system with adjustable capture technique for medical radiographic imaging
US9445775B2 (en) 2013-08-19 2016-09-20 University Of Houston System Single step differential phase contrast x-ray imaging
US9515113B2 (en) 2013-08-27 2016-12-06 Rambus Inc. Optical sensing of nearby scenes with tessellated phase anti-symmetric gratings
EP3042383A1 (de) 2013-10-07 2016-07-13 Siemens Healthcare GmbH Phasenkontrast-röntgenbildgebungsvorrichtung und phasengitter für eine solche
US9746405B2 (en) 2014-05-09 2017-08-29 General Electric Company Method for elementally detecting variations in density
US10170274B2 (en) 2015-03-18 2019-01-01 Battelle Memorial Institute TEM phase contrast imaging with image plane phase grating

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2631183C2 (ru) * 2012-08-20 2017-09-19 Конинклейке Филипс Н.В. Юстировка расстояния от решетки источника до фазовой решетки для фазовой настройки в несколько порядков при дифференциальной фазово-контрастной визуализации
RU2663176C2 (ru) * 2013-09-30 2018-08-01 Конинклейке Филипс Н.В. Устройство получения дифференциального фазоконтрастного изображения с подвижной решеткой(ами)

Also Published As

Publication number Publication date
CN102365687B (zh) 2015-08-19
EP2411985B1 (en) 2017-01-04
EP2411985A1 (en) 2012-02-01
US20120020461A1 (en) 2012-01-26
JP5631967B2 (ja) 2014-11-26
JP2012521793A (ja) 2012-09-20
CN102365687A (zh) 2012-02-29
US9881710B2 (en) 2018-01-30
RU2543994C2 (ru) 2015-03-10
WO2010109390A1 (en) 2010-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011143362A (ru) Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения
JP2013113623A5 (ja) 誘導ラマン散乱計測装置および誘導ラマン散乱計測方法
WO2011122007A3 (en) Imaging apparatus and imaging method
JP2019518547A5 (ru)
WO2011146758A3 (en) Hybrid x-ray optic apparatus and methods
WO2008142446A3 (en) Energy dispersive x-ray absorption spectroscopy in scanning transmission mode involving the calculation of the intensity ratios between successive frequency bands
WO2008119969A3 (en) Imaging of materials
WO2014169197A8 (en) Systems and methods for structured illumination super-resolution phase microscopy
JP2012037352A5 (ru)
ATE503198T1 (de) Verbesserte gamma-bilderzeugungsvorrichtung
WO2011093523A3 (en) X-ray imaging apparatus and x-ray imaging method
WO2014075792A3 (en) Apparatus and method for inspecting seals of items
JP2011041795A5 (ru)
WO2008126009A3 (en) Reducing trap effects in a scintillator by application of secondary radiation
SG152162A1 (en) An optical focus sensor, an inspection apparatus and a lithographic apparatus
JP2016114523A5 (ru)
JP2013220218A5 (ru)
WO2012032132A3 (de) Dentale röntgeneinrichtung mit bilderfassungseinheit zur oberflächenerfassung und verfahren zur erzeugung einer röntgenaufnahme eines patienten
WO2011100222A3 (en) Sample module with sample stream supported and spaced from window, for x-ray analysis system
JP2009520184A5 (ru)
ATE468591T1 (de) Erzeugung von röntgenbildern mit einem verringerten anteil an streustrahlung
JP2013031784A5 (ja) X線撮像装置
JP2012195545A5 (ja) テラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置、計測装置および光源装置
WO2014012641A3 (en) Projection exposure apparatus for microlithography comprising an optical distance measurement system
ZA202000316B (en) Convergent x-ray imaging device and method