RU1818602C - Device for determining spatial distribution of magnetic field - Google Patents
Device for determining spatial distribution of magnetic fieldInfo
- Publication number
- RU1818602C RU1818602C SU4875517A RU1818602C RU 1818602 C RU1818602 C RU 1818602C SU 4875517 A SU4875517 A SU 4875517A RU 1818602 C RU1818602 C RU 1818602C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- magnetic field
- sensor
- film
- magnetic
- spatial distribution
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области наг- нитоизмерительной техники и может быть использовано дл исследовани трехмерного распределени магнитных полей в микро- объемах. Сущность изобретени . Устройство содержит генератор 8, датчик 6, выполненный в виде тонкого металлизированного носител магнитной записи, источник 1 непол ризованного света, призму 9 косого освещени , расположенную в микроскопе 2, пол ризатор4, анализатор 5, источник 7 магнитного пол , фотоприемник 9 с датчиком 13 перемещений, селективный усилитель 10, фазовый детектор 11 и регистрирующий прибор 12. 2 ил.The invention relates to the field of pressure measuring technology and can be used to study the three-dimensional distribution of magnetic fields in microvolumes. SUMMARY OF THE INVENTION The device comprises a generator 8, a sensor 6 made in the form of a thin metallized magnetic recording medium, a source of unpolarized light 1, an oblique illumination prism 9 located in a microscope 2, a polarizer 4, an analyzer 5, a magnetic field source 7, a photodetector 9 with a displacement sensor 13 , selective amplifier 10, phase detector 11 and recording device 12. 2 ill.
Description
Изобретение относитс к области маг- нитоизмерительной техники и может быть использовано дл исследовани трехмерного распределени магнитных полей в микро- объемах.The invention relates to the field of magnetic measuring technology and can be used to study the three-dimensional distribution of magnetic fields in microvolumes.
Целью изобретени вл етс расширение динамического диапазона измер емых полей и повышение точности измерени .The aim of the invention is to expand the dynamic range of the measured fields and increase the accuracy of the measurement.
На фиг.1 изображена блок-схема устройства; на фиг.2 показаны распределени нормальной и горизонтальной составл ющих пол над магнитной головкой, измеренные с помощью данного устройства.Figure 1 shows a block diagram of a device; Fig. 2 shows the distributions of the normal and horizontal components of the floor above the magnetic head, measured with this device.
Устройство (фиг,1) содержит источник 1 непол ризованного света, оптическую систему , включающую микроскоп 2, призму 3 косого освещени , пол ризатор 4 и анализатор 5. датчик 6 магнитного пол , источник 7 магнитного пол , генератор 8, регистрирующий прибор, включающий фотоприемник 9, селективный усилитель 10, выход усилител подключен к входу фазового детектора 11,The device (FIG. 1) contains an unpolarized light source 1, an optical system including a microscope 2, oblique prism 3, a polarizer 4 and an analyzer 5. magnetic field sensor 6, magnetic field source 7, generator 8, a recording device including a photodetector 9, selective amplifier 10, the output of the amplifier is connected to the input of the phase detector 11,
на выход которого подаетс опорный с генератора 8. Выход фазового детектора 11 соединен с входом Y двухкоординатного регистрирующего прибора 12. На вход X регистратора подаетс сигнал датчика 13 перемещений, пропорциональный одной из координат в плоскости датчика.the output of which is supplied by the reference from the generator 8. The output of the phase detector 11 is connected to the input Y of the two-coordinate recording device 12. The signal X of the displacement sensor 13 is proportional to one of the coordinates in the plane of the sensor.
Устройство работает следующим образом .The device operates as follows.
Датчик 6 помещают в исследуемое поле. Свет от источника 1 непол ризованного света проходит оптическую систему, отражаетс от датчика 6 и попадает на регистрирующую систему, котора фиксирует изменение интенсивности отраженного света. Дл измерени составл ющих пол , параллельных плоскости пленки, в оптическую систему вводитс пол ризатор 4 и призма 3 косого освещени . На р-компонен- те света без анализатора изменение интенсивности отраженного от датчика 1 света пропорционально составл ющей пол пер00Sensor 6 is placed in the test field. The light from the unpolarized light source 1 passes through the optical system, is reflected from the sensor 6, and enters the recording system, which detects a change in the intensity of the reflected light. To measure the field components parallel to the film plane, a polarizer 4 and a slanting prism 3 are introduced into the optical system. On the p-component of light without an analyzer, the change in the intensity of the light reflected from the sensor 1 is proportional to the field component per00
00 О О00 O O
юYu
пендикул рной плоскости падени света (экваториальный эффект Керра). Дл измерени поворота плоскости пол ризации Света пропорционального составл ющей пол параллельной плоскости падени света (меридианальный эффект Керра) пол ризатор 4 устанавливаетс на S-компоненту и в оптическую систему вводитс анализатор 8, плоскость пол ризации которого устанавливаетс под углом 45° к плоскости падени света. При измерении нормальной к поверхности датчика составл ющей пол в оптической системе присутствуют, пол ризатор и анализатор, скрещенные под углом 45°, призма косого освещени отсутствует. Поворот плоскости пол ризации света пропорционален нормальной составл ющей пол (пол рный эффект Керра). Датчик предварительно отградуирован в известном магнитном поле источника 7 по экваториальному, меридианальному и пол рному эффектам Керра. . perpendicular plane of incidence of light (equatorial Kerr effect). To measure the rotation of the plane of polarization of Light, which is proportional to the field component parallel to the plane of incidence of light (Meridian Kerr effect), polarizer 4 is mounted on the S component and analyzer 8 is introduced into the optical system, the plane of polarization of which is set at an angle of 45 ° to the plane of incidence of light. When measuring the field component normal to the sensor surface, the optical system is present, the polarizer and analyzer crossed at an angle of 45 °, there is no oblique prism of illumination. The rotation of the plane of polarization of light is proportional to the normal component of the field (polar Kerr effect). The sensor is pre-calibrated in the known magnetic field of source 7 according to the equatorial, meridian and polar Kerr effects. .
Так как датчик б выполнен в форме тонкого металлизированного носител , предназначенного дл высокоплотной аналоговой записи, то он обеспечивает пространственное разрешение, определ емое размерами области саморазмагничивани датчика 4-5 d, а градуировочные кривыеSince the sensor b is made in the form of a thin metallized medium designed for high-density analog recording, it provides spatial resolution, determined by the size of the self-magnetizing region of the sensor 4-5 d, and calibration curves
имеют линейные участки от нескольких эрстед до 3 кЭ. Величина пол рного эффекта Керра дл использованного носител такова , что его можно надежно измер ть при чувствительности измерений относительного изменени интенсивности света « 10 ...have linear sections from several oersted to 3 kOe. The magnitude of the polar Kerr effect for the used carrier is such that it can be reliably measured with a sensitivity of measurements of the relative change in light intensity of "10 ...
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4875517 RU1818602C (en) | 1990-07-03 | 1990-07-03 | Device for determining spatial distribution of magnetic field |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4875517 RU1818602C (en) | 1990-07-03 | 1990-07-03 | Device for determining spatial distribution of magnetic field |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1818602C true RU1818602C (en) | 1993-05-30 |
Family
ID=21541294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4875517 RU1818602C (en) | 1990-07-03 | 1990-07-03 | Device for determining spatial distribution of magnetic field |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1818602C (en) |
-
1990
- 1990-07-03 RU SU4875517 patent/RU1818602C/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ПТЭ, 1968, № 6, с. 182-185. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Cahan et al. | A high speed precision automatic ellipsometer | |
CN111060711A (en) | Optical rotating speed measuring system and method based on Stokes vector | |
FR2657163B1 (en) | SENSOR FOR DETECTION AND MEASUREMENT OF THE ROTATION ANGLE OF A LIGHT POLARIZATION PLAN. | |
JPS61271431A (en) | Interferometer for detecting wave front state | |
CN113567351B (en) | Complex magneto-optical angle measuring system and method based on quantum weak measurement | |
RU1818602C (en) | Device for determining spatial distribution of magnetic field | |
US4866264A (en) | Method and apparatus for measuring non-reciprocal loss of thin magnetic films and magnetic mirrors | |
CN108918424B (en) | Magnetic domain imaging method and magnetic domain wall shape discrimination method for magnetic wire | |
CN108414451A (en) | A kind of magnetic domain measuring device of magnet wire | |
Cloud et al. | Techniques in infrared photoelasticity: Paper discusses the equipment and experimental procedures which have been employed in the extension of photoelastic measurements into the infrared region | |
ATE155895T1 (en) | MEASURING METHOD OF THE ANGLE OF INCIDENCE OF A LIGHT BEAM, DEVICE FOR IMPLEMENTING THE METHOD AND THEIR USE FOR DISTANCE MEASUREMENT | |
Oakberg | Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator | |
JPS6491075A (en) | Magnetic field distribution measuring apparatus | |
Shribak | Autocollimating detectors of birefringence | |
CN108776315A (en) | A kind of Ke Er microscopes | |
CN208588667U (en) | A kind of magnetic domain measuring device of magnet wire | |
JPH01147306A (en) | Film thickness measuring instrument | |
CN108414452A (en) | A kind of nanostructure magnetic measuring device | |
SU1585769A1 (en) | Method of measuring hysteresis curves of ferromagnetic materials | |
CN208420681U (en) | A kind of nanostructure magnetic measuring device | |
SU1499293A1 (en) | Method of measuring magnetic field | |
SU957268A1 (en) | Device for checking head unit | |
SU1420559A1 (en) | Device for measuring magnetic fluxes | |
SU940236A1 (en) | Device for measuring coercive force of magnetic one-axis films | |
CN109001651A (en) | A kind of Ke Er sensitivity measure and calibration method |