NL8801983A - IMAGE DISPLAY DEVICE. - Google Patents
IMAGE DISPLAY DEVICE. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8801983A NL8801983A NL8801983A NL8801983A NL8801983A NL 8801983 A NL8801983 A NL 8801983A NL 8801983 A NL8801983 A NL 8801983A NL 8801983 A NL8801983 A NL 8801983A NL 8801983 A NL8801983 A NL 8801983A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- display device
- image display
- target
- strip
- target strip
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J17/00—Gas-filled discharge tubes with solid cathode
- H01J17/38—Cold-cathode tubes
- H01J17/48—Cold-cathode tubes with more than one cathode or anode, e.g. sequence-discharge tube, counting tube, dekatron
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/10—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
- H01J31/12—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen
- H01J31/123—Flat display tubes
- H01J31/124—Flat display tubes using electron beam scanning
Landscapes
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Description
N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven.N.V. Philips' Incandescent lamp factories in Eindhoven.
Beeldweergaveinrichting.Image display device.
De uitvinding heeft betrekking op eenbeeldweergaveinrichting die een geëvacueerd omhulsel met in hoofdzaakvlakke, op een afstand van elkaar geplaatste voor- en achterwanden, eenlaag luminescerend materiaal langs het binnenoppervlak van de voorwand,een generatiesysteem voor het genereren van meerdere, in een rijgerangschikte, elektronenbundels die zich praktisch in hoofdzaakevenwijdig aan de voorwand bewegen en een afbuigsysteem voor hetafbuigen van de elektronenbundels naar het beeldscherm bevat, waarbijiedere elektronenbundel één kolom beeldelementen aftast.The invention relates to an image display device comprising an evacuated envelope having substantially planar spaced front and rear walls, a single layer of luminescent material along the inner surface of the front wall, a generation system for generating multiple row-arranged electron beams practically moving substantially parallel to the front wall and including a deflection system for deflecting the electron beams to the display, each electron beam scanning one column of picture elements.
Een dergelijke beeldweergaveinrichting is bekend uit hetAmerikaanse octrooischrift 2,858,464, waarin een beeldweergaveinrichtingbeschreven is die terzijde van de laag luminescerend materiaal, hierverder ook "het beeldscherm· genoemd, een generatiesysteem bevat met eenlijnkathode omgeven door een binnenste en een buitenste cilindrischeelektrode, die van rijen openingen zijn voorzien. Het aantal openingenin de buitenste elektrode komt overeen met het aantal vertikale kolommenbeeldelementen. Het generatiesysteem bevat verder twee buiten en langsde buitenste elektrode geplaatste afbuigspoelen. In een uitvoeringsvorm,getoond in figuur 3 van dit octrooischrift, zijn de openingen in deelektroden zo geplaatst en de afbuigspoelen, de lijnkathode en deelektroden zo gevormd dat in bedrijf selectief steeds vanuit éénopening in de buitenste elektrode een elektronenbundel in een vlaknagenoeg parallel aan het beeldscherm wordt gegenereerd. Hetafbuigsysteem bevat afbuigelektroden op de achterwand. Door selektievebekrachtigen van de afbuigelektroden wordt een elektronenbundel naar hetbeeldscherm afgebogen. Op deze wijze wordt een beeld op het beeldschermopgebouwd.Such an image display device is known from United States Patent Specification 2,858,464, which describes an image display device which, aside from the layer of luminescent material, hereinafter also referred to as "the display screen", comprises a generation system with a single-line cathode surrounded by an inner and an outer cylindrical electrode provided with rows of openings The number of openings in the outer electrode corresponds to the number of vertical column pixels The generation system further includes two deflection coils placed outside and along the outer electrode In an embodiment shown in Figure 3 of this patent, the openings in the electrodes are so positioned and the deflection coils , the line cathode and partial electrodes formed so that in operation selectively an electron beam is generated from one aperture in the outer electrode in a plane substantially parallel to the display screen. The deflection system includes deflection electrodes on the back wall. By electronically energizing the deflection electrodes, an electron beam is deflected to the display. In this way an image is built up on the screen.
In beeldbuizen treden beeldfouten op, onder andere alsgevolg van magnetische velden. Het waarneembare gevolg van dergelijkefouten is een vervorming in positie van het beeld en/of kleur. Deinvloed van magnetische velden is groter naarmate de energie van deelektronen in de elektronenbundel minder is. In beeldbuizen van de in de eerste alinea omschreven soort worden meestal relatief laagenergetischeelektronenbundels (met energie minder dan enkele KeV) gegenereerd.Picture tubes occur in picture tubes, partly as a result of magnetic fields. The observable consequence of such errors is a distortion in the position of the image and / or color. The influence of magnetic fields is greater the less the energy of the electrons in the electron beam is less. Generally, relatively low-energy electron beams (with energy less than a few KeV) are generated in picture tubes of the type described in the first paragraph.
De uitvinding heeft ten doel een beeldweergaveinrichtingte verschaffen waarvoor beeldfouten verminderd zijn.The object of the invention is to provide an image display device for which image errors are reduced.
Een beeldweergaveinrichting van de in de eerste alineavermelde soort is hiertoe volgens de uitvinding gekenmerkt doordat debeeldweergaveinrichting generatiemiddelen voor het genereren vantenminste één separate ijkbundel, afbuigmiddelen voor het afbuigenvan de tenminste ene ijkbundel naar een bijbehorende trefstrook enbepalingsmiddelen voor het bepalen van een trefvlek van de tenminste eneijkbundel op de bijbehorende trefstrook, en met de bepalingsmiddelenaanstuurbare correctiemiddelen voor het corrigeren van de banen van deelektronenbundels bevat.An image display device of the type mentioned in the first paragraph is for this purpose characterized according to the invention in that the image display device generates means for generating at least one separate calibration beam, deflection means for deflecting the at least one calibration beam to an associated target strip and determining means for determining a spot of the at least one calibration beam on contains the associated target strip, and with the determining means controllable correction means for correcting the paths of the partial electron beams.
Het is hierdoor mogelijk voor de invloed van magnetischevelden op de afbuiging te compenseren. In bedrijf wordt de trefvlek vande ijkbundel bepaald met behulp van de bepalingsmiddelen. De trefvlek isgecorreleerd met de trefvlekken van de elektronenbundels op hetbeeldscherm. Afwijkingen van de trefvlek van de ijkbundel van een idealetrefvlek vormen een maatstaf voor optredende beeldfouten. In debeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding wordt in bedrijf deafbuiging van de elektronen naar het beeldscherm gecorrigeerd aan dehand van deze afwijkingen. Onder separate ijkbundel wordt hier eenelektronenbundel verstaan die geen element uitmaakt van de rijelektronenbundels waarmee een beeld op het beeldscherm wordt opgebouwd.Onder corrigeren van de banen elektronenbundels dient zowel eencorrectie van de richting van de baan, als van de vorm van deelektronenbundel, bijvoorbeeld een correctie van de focussering,verstaan te worden.This makes it possible to compensate for the influence of magnetic fields on the deflection. In operation, the spot of the calibration beam is determined with the aid of the determining means. The target is correlated with the targets of the electron beams on the display. Deviations from the target spot of the calibration beam of an ideal target spot are a measure of image errors that occur. In the image display device according to the invention, the deflection of the electrons to the screen during operation is corrected on the basis of these deviations. Separate calibration beam is here understood to mean an electron beam that does not form an element of the row electron beams with which an image is built up on the screen. Correcting the orbits of electron beams requires both a correction of the direction of the orbit and the shape of the electron beam, for example a correction of the focus, to be understood.
Een uitvoeringsvorm van de beeldweergaveinrichtingvolgens de uitvinding wordt gekenmerkt doordat de generatiemiddelen voorhet genereren van tenminste één ijkbundel parallel aan en naast derij geschikt zijn en de bijbehorende trefstrook zich naast hetbeeldscherm uitstrekt.An embodiment of the image display device according to the invention is characterized in that the generating means are suitable for generating at least one calibration beam parallel to and next to the row and the associated target strip extends next to the screen.
De ijkbundel zou zich tussen de elektronenbundels kunnenuitstrekken, de bij de ijkbundel behorende trefstrook strekt zich dantussen de fosforlijnen uit. Bij voorkeur strekt de ijkbundel zich echternaast en parallel aan de rij uit en strekt de trefstrook zich naast de luminescerende laag uit. Daar de ijkbundel zich naast en parallel aan derij elektronenbundels uitstrekt, zijn de afwijkingen in de ijkbundel opeenvoudige wijze gecorreleerd aan de afwijkingen in de rijelektronenbundels, zonder dat de ijkbundel het beeld kan verstoren, daardeze zich buiten het beeld bevindt.The calibration beam could extend between the electron beams, the target strip associated with the calibration beam extends between the phosphor lines. Preferably, however, the calibration beam extends adjacent to and parallel to the row and the target strip extends adjacent the luminescent layer. Since the calibration beam extends adjacent to and parallel to the row of electron beams, the deviations in the calibration beam are correlated in a simple manner to the deviations in the row electron beams, without the calibration beam being able to disturb the image, since it is outside the image.
Een verdere uitvoeringsvorm van de beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding wordt gekenmerkt doordatde generatiemiddelen voor het genereren van tenminste één ijkbundelnaast beide einden van de rij geschikt zijn.A further embodiment of the image display device according to the invention is characterized in that the generating means for generating at least one calibration beam next to both ends of the row are suitable.
Beeldfouten zijn dan aan twee zijden van het beeldschermte bepalen. Een gemiddelde beeldfout over het beeldscherm zowel als eenverloop van een beeldfout over het beeldscherm is dan te bepalen. Ditlevert een uitbreiding van de mogelijkheden tot correctie van hetafbuigsysteem.Image errors can then be determined on two sides of the screen. An average image error across the screen as well as a course of an image error across the screen can then be determined. This provides an extension of the possibilities for correction of the deflection system.
Een nog weer verdere uitvoeringsvorm van debeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding wordt gekenmerkt doordatde generatiemiddelen, de trefstroken en de afbuigmiddelen symmetrischten opzichte van een lijn door het midden van de luminescerende laaggevormd zijn.Yet a further embodiment of the image display device according to the invention is characterized in that the generating means, the target strips and the deflecting means are formed symmetrically relative to a line through the center of the luminescent layer.
Dit vereenvoudigt het bepalen van een verloop van eenbeeldfout over het beeldscherm.This simplifies determining an image error course across the display.
Een uitvoeringsvorm van de beeldweergaveinrichtingvolgens de uitvinding wordt gekenmerkt doordat de generatiemiddelen voorhet genereren van tenminste twee ijkbundels naast een einde van de rijgeschikt zijn.An embodiment of the image display device according to the invention is characterized in that the generating means for generating at least two calibration beams next to one end of the row are suitable.
Verschillende beeldfouten kunnen optreden: verschuivingenvan de elektronenbundels parallel aan de trefstroken, verschuivingendwars op de trefstroken en focusseringfouten. Door het gebruik van tweeijkbundels is het beter mogelijk verschillende fouten te bepalen.Different image errors can occur: shifts of the electron beams parallel to the streaks, shifts transverse to the streaks and focusing errors. The use of two calibration beams makes it easier to determine various errors.
In een verdere uitvoeringsvorm overlappen twee zich naastelkaar uitstrekkende trefstroken elkaar gedeeltelijk. Hierdoor nemen detrefstroken minder ruimte in.In a further embodiment, two side-by-side extending strips partially overlap. This means the target strips take up less space.
Bij voorkeur is het generatiesysteem opgebouwd uitonderling nagenoeg gelijke eenheden, waarbij elke eenheid geschikt isvoor het genereren van één elektronenbundel. Dit vereenvoudigt hetsamenstellen van het generatiesysteem en maakt correctie van de banenvan de elektronenbundels eenvoudiger.Preferably, the generation system is made up of substantially equal units, each unit being capable of generating one electron beam. This simplifies the assembly of the generation system and makes correction of the trajectories of the electron beams easier.
In een uitvoeringsvorm bevat iedere eenheid eenhalfgeleider-kathode met een emitterend oppervlak en een stapelelektroden. Halfgeleiderkathoden werken bij relatief lage temperaturen.Dit vermindert thermische spanningen en daardoor door thermischespanningen optredende beeldfouten.In one embodiment, each unit includes a semiconductor cathode with an emissive surface and a stack of electrodes. Semiconductor cathodes operate at relatively low temperatures, which reduces thermal stresses and therefore thermal image defects.
Bij voorkeur zijn de elektroden geïntegreerd tot eenstapel plaatelektroden. Dit vereenvoudigt het samenstellen van hetgeneratiesysteem en vermindert thermische spanningen.Preferably, the electrodes are integrated into a stack of plate electrodes. This simplifies assembly of the generation system and reduces thermal stresses.
Een verdere uitvoeringsvorm van de uitvinding wordtgekenmerkt doordat de generatiemiddelen van modulatiemiddelen voor hetmoduleren met een modulatiefrequentie van de intensiteit van detenminste ene ijkbundel voorzien zijn en de bepalingsmiddelen voorzienzijn van filtermiddelen voor het meten van een frequentiecomponent vaneen signaal in een frequentiegebied rondom de modulatiefrequentie.A further embodiment of the invention is characterized in that the generating means of modulating means for modulating with a modulating frequency of the intensity of the at least one calibration beam are provided and the determining means are provided with filtering means for measuring a frequency component of a signal in a frequency range around the modulation frequency.
In bedrijf wordt de intensiteit van de ijkbundelgemoduleerd met een modulatiefrequentie. De bepalingsmiddelen zijngeschikt voor het detecteren van de frequentiecomponent van een signaalrondom de modulatiefrequentie. Het voordeel hiervan is dat een door hettreffen van de ijkbundel op de trefstrook geïnduceerd signaal zonderveel verzwakking gedetecteerd wordt terwijl storende signalen afkomstigvan de elektronenbundels waarmee het beeld op het beeldscherm wordtopgebouwd worden weggefilterd daar zulke storende signalen in hetalgemeen geen of slechts een zeer geringe frequentiecomponent in hetfrequentiegebied rondom de modulatiefrequentie bevatten.In operation, the intensity of the calibration beam is modulated with a modulation frequency. The determining means are suitable for detecting the frequency component of a signal around the modulation frequency. The advantage of this is that a signal induced by hitting the calibration beam on the target strip is detected without much attenuation, while disturbing signals from the electron beams with which the image is built up on the screen are filtered out, since such disturbing signals generally have no or only a very small frequency component in the frequency range. around the modulation frequency.
Als de generatiemiddelen geschikt zijn voor het genererenvan zich naast elkaar uitstrekkende ijkbundels dan zijn degeneratiemiddelen bij voorkeur voorzien van middelen voor het modulerenvan zich naast elkaar uitstrekkende ijkbundels met verschillendemodulatiefrequenties en zijn de bepalingsmiddelen voor de tweeverschillende ijkbundels ieder voorzien van filtermiddelen voor hetmeten van een frequentiecomponent van een signaal in een ·frequentiegebied rondom de modulatiefrequentie van de betreffendeijkbundel.If the generating means are suitable for generating side-by-side calibration beams, degeneration means are preferably provided with means for modulating side-by-side calibration beams with different modulation frequencies and the determination means for the two different calibration beams are each provided with filter means for measuring a frequency component of a signal in a frequency range around the modulation frequency of the relevant bundle.
De signalen van verschillende ijkbundels zijn metverschillende modulatiefrequentie gemoduleerd. Signalen vanverschillende trefstroken zijn dan op eenvoudige wijze te onderscheiden.The signals from different calibration beams are modulated with different modulation frequencies. Signals of different target strips can then be easily distinguished.
In een uitvoeringsvorm bevat de trefstrook cathodoluminescerend materiaal en bevatten de bepalingsmiddelendetectiemiddelen voor het detecteren van door het cathodoluminescerendemateriaal op de trefstrook uitgezonden licht.In one embodiment, the target strip contains cathodoluminescent material and the determining means detecting means for detecting light emitted from the cathodoluminescent material on the target strip.
In een andere uitvoeringsvorm bevat de trefstrook eenmateriaal met een hoge secundaire elektronenemissiecoêfficcient enbevatten de bepalingsmiddelen detectiemiddelen voor het detecteren vandoor het materiaal met een hoge secundaire elektronenemissiecoêfficientuitgezonden secundaire elektronen.In another embodiment, the target strip contains a material with a high secondary electron emission coefficient and the determining means includes detection means for detecting secondary electrons emitted by the material with a high secondary electron emission coefficient.
In nog een andere uitvoeringsvorm bevat de trefstrook eengeleidend materiaal en bevatten de bepalingsmiddelen met het geleidendmateriaal verbonden stroommetingsmiddelen. Op simpele wijze, doorstroommeting, is dan zonder de noodzaak van additionele detectiemiddelende trefvlek bepaalbaar.In yet another embodiment, the target strip contains a conductive material and the determining means comprise current measuring means connected to the conductive material. In a simple manner, flow measurement can then be determined without the need for additional detection means target.
Ten opzichte van uitvoeringsvormen waarbij licht ofsecundaire elektronen gedetecteerd worden heeft deze uitvoeringsvorm hetvoordeel dat er geen of weinig storende signalen door het beeldschermgegenereerd worden: Detectiemiddelen voor licht of secundaire elektronenzullen ook gevoelig zijn voor door het beeldscherm uitgezonden licht ofsecundaire elektronen.Compared to embodiments in which light or secondary electrons are detected, this embodiment has the advantage that no or little disturbing signals are generated by the screen: Detection means for light or secondary electrons will also be sensitive to light or secondary electrons emitted by the screen.
De trefstrook kan uit een aantal separate trefgebiedenbestaan. De meest eenvoudige uitvoering is die waarin de trefstrook eennagenoeg over de gehele lengte van de trefstrook samenhangende trefstripbevat. Dit is vooral van voordeel als de trefstrook geleidend materiaalbevat, daar dan weinig elektrische aansluitingen nodig zijn.The target strip may consist of a number of separate target areas. The simplest embodiment is that in which the target strip contains a consistent strip of strips along the entire length of the target strip. This is especially advantageous if the target strip contains conductive material, as few electrical connections are then required.
Bij voorkeur is de trefstrip zodanig gevormd dat detrefvlek van de ijkbundel in een richting langs de trefstrip bepaalbaaris.The target strip is preferably formed such that the target spot of the calibration beam can be determined in a direction along the target strip.
Hiertoe varieert in een uitvoeringsvorm van debeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding de doorsnede van detrefstrip dwars op de trefstrip langs de trefstrip, is in een andereuitvoeringsvorm de trefstrip in een langs de trefstrip gezienversprongen structuur gevormd en in weer een andere uitvoeringsvorm detrefstrip van gebieden met verschillende elektronenacceptatiecoêfficienten voorzien. Uitvoeringsvormen welke de kenmerken van de verschillendeiiierboven genoemde trefstrippen combineren zijn ook mogelijk.To this end, in an embodiment of the image display device according to the invention, the cross-section of the target strip transversely to the target strip along the target strip, in another embodiment the target strip is formed in a staggered structure seen along the target strip and in yet another embodiment the target strip is provided with regions with different electron acceptance coefficients. Embodiments which combine the features of the various target strips mentioned above are also possible.
In een uitvoeringsvorm bevatten de bepalingsmiddelen een?aar, parallele, geleidende, over nagenoeg de gehele trefstrook samenhangende, door een niet geleidend kanaal gescheiden trefstrippen.Door vergelijking van de signalen van beide trefstrippen is de trefvlekvan de ijkbundel ten opzichte van de trefstrippen bepaalbaar. Bijvoorkeur is het paar trefstrippen spiegelsymmetrisch ten opzichte vaneen lijn tussen de trefstrippen gevormd. Dit vereenvoudigt het bepalenvan de trefvlek. Het paar van trefstrippen is bij voorkeur zo gevormddat de trefvlek in een richting dwars op de trefstrippen bepaalbaar is.Bij voorbeeld varieert de doorsnede van het kanaal dwars op het kanaallangs het kanaal.In one embodiment, the determining means comprise a parallel, conductive target strips, which are connected by a non-conductive channel and are connected across almost the entire target strip. By comparing the signals of both target strips, the target spot of the calibration beam with respect to the target strips can be determined. Preferably, the pair of target strips is formed mirror-symmetrically relative to a line between the target strips. This simplifies the determination of the target. The pair of target strips is preferably formed so that the target is determinable in a direction transverse to the target strips. For example, the cross section of the channel varies transversely of the channel along the channel.
Enige uitvoeringsvormen van de uitvinding worden nu bijwijze van voorbeeld nader beschreven aan de hand van een tekening waarin:Some embodiments of the invention are now further described by way of example with reference to a drawing, in which:
Figuur 1 een gedeeltelijk opengewerkt perspectivischaanzicht van een beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding;Figure 1 shows a partly cut-away perspective view of an image display device according to the invention;
Figuur 2 een doorsnede door een beeldweergaveinrichtingvolgens de uitvinding;Figure 2 is a section through an image display device according to the invention;
Figuur 3 een bovenaanzicht van een beeldscherm van eenbeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding;Figure 3 shows a top view of a screen of an image display device according to the invention;
Figuren 4 en 5 bovenaanzichten van beeldschermen vanverdere voorbeelden van beeldweergaveinrichtingen volgens de uitvinding;Figures 4 and 5 show top views of screens of further examples of image display devices according to the invention;
Figuur 6 een detail van een beeldweergaveinrichtingvolgens de uitvinding;Figure 6 shows a detail of an image display device according to the invention;
Figuren 7a en 7b in bovenaanzicht een voorbeeld van eencorrectiemiddel geschikt voor een beeldweergaveinrichting volgens deuitvinding;Figures 7a and 7b show in top view an example of a correction means suitable for an image display device according to the invention;
Figuur 8a schematisch een trefstrip geschikt voor eenbeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding en figuur 8b de sterktevan een door het treffen van een ijkbundel op de trefstrip geinduceerdsignaal als functie van de plaats van de trefvlek;Figure 8a schematically shows a target strip suitable for an image display device according to the invention and Figure 8b shows the strength of a signal induced by striking a calibration beam on the target strip as a function of the location of the target spot;
Figuren 9a, 10a en 11a een verdere trefstrip geschiktvoor een beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding en figuren 9b, 10b en 11b de sterkte van een door het treffen van een ijkbundel op detrefstrip geinduceerd signaal als functie van de plaats van detrefvlek;Figures 9a, 10a and 11a show a further target strip suitable for an image display device according to the invention and Figures 9b, 10b and 11b show the strength of a signal induced by striking a calibration beam on the target strip as a function of the location of the target spot;
Figuren 12a, 13a, 14a, 15a, 16, 17, 18 en 19 verderevoorbeelden van trefstroken en trefstrippen geschikt voor een eenbeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding; enFigures 12a, 13a, 14a, 15a, 16, 17, 18 and 19 further examples of target strips and target strips suitable for a one-image display device according to the invention; and
Figuren 12b, 13b, 14b en 15b door trefvlekken gegenereerde signalen tonen.Figures 12b, 13b, 14b and 15b show spot-generated signals.
De figuren zijn schematisch, en niet op schaal getekend,waarbij in de verschillende uitvoeringsvormen overeenkomstige delen alsregel met dezelfde verwijzingscijfers worden aangeduid.The figures are schematic, not drawn to scale, with corresponding parts generally being designated with the same reference numerals in the various embodiments.
Figuur 1 toont een gedeeltelijk perspectivisch aanzichtvan een beeldweergaveinrichting 1 volgens de uitvinding. Dezebeeldweergaveinrichting bevat in een omhulling 2 een beeldvenster 3 dataan de binnenkant voorzien is van een beeldscherm 4. Verder bevat debeeldweergaveinrichting 1 een generatiesysteem 5 dat een aantalelementen 6 voor het genereren van een rij elektronenbundels 7 bevat.Het generatiesysteem bevat verder een verzameling plaatelektroden 8.Deze plaatelektroden 8 zorgen er onder andere voor dat de door deelementen 6 uitgezonden elektronenbundels 7 versneld worden enuiteindelijk in een richting parallel aan het beeldscherm 4 geemitteerdworden. Door de afbuigelektroden 9 worden de elektronenbundels 7 naarhet beeldscherm 4 afgebogen. Voor het beeldscherm 4 is in dit voorbeeldeen schaduwmasker 10 geplaatst. Het generatiesysteem bevat een aantalnagenoeg gelijke eenheden, waarbij iedere eenheid uit een emitterendelement 6 en bijbehorende delen van de plaatelektroden 8 bevat.Figure 1 shows a partial perspective view of an image display device 1 according to the invention. This image display device contains in an envelope 2 an image window 3 which is provided with a screen 4 on the inside. Furthermore, the image display device 1 comprises a generation system 5 which contains a number of elements 6 for generating a row of electron beams 7. The generation system further comprises a collection of plate electrodes 8. plate electrodes 8 ensure, inter alia, that the electron beams 7 emitted by sub-elements 6 are accelerated and are ultimately emitted in a direction parallel to the screen 4. The electron beams 7 are deflected to the display 4 by the deflection electrodes 9. In this example, a shadow mask 10 is placed in front of the screen 4. The generation system contains a number of substantially equal units, each unit consisting of an emitter element 6 and associated parts of the plate electrodes 8.
Figuur 2 toont de in figuur 1 weergegevenbeeldweergaveinrichting in doorsnede.Figure 2 shows the cross section image display device shown in Figure 1.
Figuur 3 toont schematisch een vooraanzicht van eenbeeldweergaveinrichting volgens de uitvinding. Naast de elementen 6bevindt zich een generatiemiddel 11 voor het genereren van een ijkbundel12, naast en parallel aan de elektronenbundels 7. Naast het beeldscherm4 strekt zich een trefstrook 13 uit. Niet getoond zijn de afbuigmiddelenvoor het afbuigen van de ijkbundel naar de trefstrook. Iedereelektronenbundel tast een kolom beeldelementen 7a af. Een kolombeeldelementen kan uit een fosforstrip kathodeluminescerend materiaalvan één kleur bestaan. Een kleurenbeeld kan worden gemaaktbijvoorbeeld door iedere derde fosforstrip van een rode fosfor, deernaast gelegen fosforstrip van een blauwe fosfor, en de daarnaastgelegen fosforstrip van een groene fosfor te maken. In een dergelijkeuitvoeringsvorm tast iedere elektronenbundel één strip van éénkleur af. Voordelen van een dergelijke uitvoeringsvorm zijn dat er geenschaduwmasker nodig is en de aansturing van de elementen eenvoudig is.Het nadeel is dat een geringe deviatie van een elektronenbundel dwars op de elektronenbundel tengevolge heeft dat er kleurverschillen optreden.Figure 3 schematically shows a front view of an image display device according to the invention. Next to the elements 6 there is a generating means 11 for generating a calibration beam 12, next to and parallel to the electron beams 7. A target strip 13 extends next to the screen 4. The deflecting means for deflecting the calibration beam towards the target strip are not shown. Each electron beam scans a column of picture elements 7a. A column image element may consist of a phosphor strip cathode luminescent material of one color. For example, a color image can be made by making every third phosphor strip from a red phosphor, adjacent phosphor strip from a blue phosphor, and the adjacent phosphor strip from a green phosphor. In such an embodiment, each electron beam scans one strip of one color. Advantages of such an embodiment are that no shadow mask is required and the control of the elements is simple. The disadvantage is that a small deviation of an electron beam transverse to the electron beam results in color differences.
In de uitvoeringsvorm getoond in figuur 2 bevat debeeldweergaveinrichting een schaduwmasker 10. Iedere kolombeeldelementen 7a is opgebouwd uit een patroon van rode (R), groene (G)en blauwe (B) fosforen. Voor iedere opening in het schaduwmasker bevatde fosforstrip een trio fosforen (R, G, B).In the embodiment shown in Figure 2, the image display device includes a shadow mask 10. Each column image elements 7a is composed of a pattern of red (R), green (G) and blue (B) phosphors. For each opening in the shadow mask, the phosphor strip contained a trio of phosphors (R, G, B).
Figuur 4 toont in bovenaanzicht een verder voorbeeld vaneen beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding. Dezebeeldweergaveinrichting bevat middelen 11a en 11b voor het genereren vantwee ijkbundels 12a en 12b aan beide zijde van de rij elektronenbundels7. Naast het beeldscherm 4 strekken zich twee trefstroken 13a en 13buit. Afwijkingen kunnen aan beide zijden van het beeldscherm bepaaldworden. Het is mogelijk zowel een betere bepaling van het gemiddelde vaneen beeldfout te maken, als een verloop van een beeldfout over hetbeeldscherm 4 te bepalen.Figure 4 shows in top view a further example of an image display device according to the invention. This image display device includes means 11a and 11b for generating two calibration beams 12a and 12b on either side of the row of electron beams 7. In addition to the screen 4, two target strips 13a and 13bout. Deviations can be determined on both sides of the screen. It is possible to make a better determination of the average of an image error as well as to determine an evolution of an image error over the display screen 4.
Figuur 5 toont in bovenaanzicht een ander voorbeeld vaneen beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding. Dezebeeldweergaveinrichting bevat generatiemiddelen 11c en 11d voor hetgenereren van ijkbundels 12c en 12d. Naast het beeldscherm 4 strekkenzich trefstroken 12c en 12d uit. Door het gebruik van twee ijkbundelszijn beeldfouten nauwkeuriger te bepalen. Bovendien is een beeldfoutzelfs indien één van de generatiemiddelen uitvalt te bepalen.Figure 5 shows in top view another example of an image display device according to the invention. This image display device includes generating means 11c and 11d for generating calibration beams 12c and 12d. In addition to the display 4, streaks 12c and 12d extend. Image errors can be determined more precisely by using two calibration beams. Moreover, an image error can be determined even if one of the generation resources fails.
Figuur 6 toont een detail van de beeldweergaveinrichtinggetoond in figuren 1 en 2. Element 6 is in dit voorbeeld een element vaneen rij halfgeleiderkathoden met een genererend oppervlak voor hetgenereren van elektronen. Element 6 kan ook één of een verzamelingvan veldemissiekathodes bevatten. De verzameling elektroden 8 bevat eenaantal elektroden 14 tot en met 19 voor het versnellen, focusseren engeleiden van de door de generatiemiddelen 6 geëmitteerdeelektronenbundels 7. De elektronenbundels 7 worden door de elektroden 8over een hoek van 90° over een zeer korte afstand afgebogen. Deelektronenbundels worden hierdoor in banen parallel aan het beeldschermgeëmitteerd. Op elektrode 19 is in dit voorbeeld een correctiemiddel21, in de vorm van een tweetal kamvormige elektroden geplaatst.Correctiemiddel 21 is door middel van een isolerende tussenlaag 20 vande elektrode 19 gescheiden.Figure 6 shows a detail of the image display device shown in Figures 1 and 2. Element 6 in this example is an element of a row of semiconductor cathodes with a generating surface for generating electrons. Element 6 may also contain one or a set of field emission cathodes. The set of electrodes 8 contains a number of electrodes 14 to 19 for accelerating, focusing and guiding the electron beams 7 emitted by the generating means 6. The electron beams 7 are deflected by the electrodes 8 over an angle of 90 ° over a very short distance. The electron beams are thereby emitted in orbits parallel to the screen. In this example, a correction means 21, in the form of two comb-shaped electrodes, is placed on electrode 19. Correction means 21 is separated from the electrode 19 by an insulating intermediate layer 20.
Figuur 7a toont een vooraanzicht van op correctiemiddel 21. Dit correctiemiddel 21 bestaat in dit voorbeeld uit twee kamvormigeelektroden, de ene elektrode bestaande uit tanden 21a en eenverbindendsstuk 21c, de andere uit tanden 21b en een verbindingsstuk21d. Door openingen 22 treden de elektronenbundels 7. Door de kamvormigeelektrode met verschillende potentialen te bekrachtigen zijn de banenvan de elektronenbundels te corrigeren, in dit voorbeeld in een richtingparallel aan een vlak door de elektronenbundels. Figuur 7b toont eenvooraanzicht op een correctiemiddel om de banen van de elektronenbundelste corrigeren in een richting dwars op een vlak door deelektronenbundels. In dit voorbeeld is het correctiemiddel 21 geplaatstop electrode 19. Dit dient niet als beperkend te worden beschouwd. Hetcorrectiemiddel kan een los van een elektrode staande eenheid vormen,mogelijkerwijs buiten de elektroden 8, vastgemaakt zijn aan een van deandere elektrode, of geïntegreerd zijn in het element 6. Het is ookmogelijk dat zowel een correctiemiddel als weergegeven in figuur 7 alseen correctiemiddel als weergegeven in figuur 8 in debeeldweergaveinrichting bevat zijn. Evenmin dient de vorm van decorrectiemiddelen als beperkend beschouwd te worden. De in figuren 7 en8 weergegeven elektroden vormen slechts een voorbeeld. Het isbijvoorbeeld mogelijk dat correctie van de banen van deelektronenbundels door middel van elektromagnetische veldenplaatsvindt. In deze figuren zijn coorectiemiddelen getoond welke alleelektronen bundels gelijkelijk beïnvloeden. Een dergelijke opstellingkan slechts gemiddelde afwijkingen coorigeren. Het is ook mogelijkcorrectiemiddelen 21d op te splitsen in subcorrectieraiddelenbijvoorbeeld door verbindingsstukken 21c en 21d te onderbreken zoals infiguren 7a en 7b door stippellijnen is aangegeven. Het aantal benodigdeaparte aansluitingen neemt dan evenredig toe. Dan is tevens een verloopvan een beeldfout te corrigeren.Figure 7a shows a front view of correction means 21. In this example, this correction means 21 consists of two comb-shaped electrodes, one electrode consisting of teeth 21a and a connecting piece 21c, the other of teeth 21b and a connecting piece 21d. The electron beams 7 pass through apertures 22. By energizing the comb-shaped electrode with different potentials, the paths of the electron beams can be corrected, in this example in a direction parallel to a plane through the electron beams. Figure 7b shows a front view of a correction means for correcting the paths of the electron beams in a direction transverse to a plane through the electron beams. In this example, the correction means 21 is placed on electrode 19. This should not be considered limiting. The correction means may form a unit separate from an electrode, possibly outside the electrodes 8, attached to one of the other electrodes, or integrated in the element 6. It is also possible that both a correction means as shown in Figure 7 and a correction means as shown in Figure 8 is included in the image display device. Nor should the form of decorative means be regarded as limiting. The electrodes shown in Figures 7 and 8 are only an example. For example, it is possible that correction of the paths of the electron beams takes place by means of electromagnetic fields. Corrosion means are shown in these figures which influence all electron beams equally. Such an arrangement can only correct average deviations. It is also possible to split correction means 21d into sub-correction means, for example by interrupting connectors 21c and 21d, as infigures 7a and 7b are indicated by dotted lines. The number of required connections then increases proportionately. Then an image defect can also be corrected.
De ijkbundels verschillen bij voorkeur slechts weinig enop een gecontroleerde wijze van de elektronenbundels waarmee het beeldwordt opgebouwd. Dit is op eenvoudige wijze te realiseren indien hetgeneratiemiddel voor het genereren van de ijkbundel en het afbuigmiddelvoor het afbuigen van de ijkbundel naar het beeldscherm nagenoeg eendergevormd zijn als het generatiesysteem voor het genereren van en hetafbuigsysteem voor het afbuigen naar het beeldscherm van deelektronenbundels. Hit de afwijking of afwijkingen van de posities van een of meerdere trefvlekken van ijkbundels is dan de beste correctie tebepalen.The calibration beams preferably differ only slightly and in a controlled manner from the electron beams with which the image is built up. This can be realized in a simple manner if the generating means for generating the calibration beam and the deflecting means for deflecting the calibration beam to the screen are substantially the same as the generation system for generating and the deflection system for deflecting to the screen of the electron beams. Hit the deviation or deviations from the positions of one or more targets of calibration beams is then the best correction to be determined.
Figuur 8a toont een trefstrip 23. Deze trefstrip wordtdoor een ijkbundel 24 getroffen. Als gevolg van dit treffen wordt eensignaal gegenereerd. Als de trefstrip cathodoluminescerend materiaalbevat dan wordt een lichtsignaal gegenereerd, de intensiteit van ditlicht kan door middel van lichtsensoren gemeten worden. Als de trefstripmateriaal met een hoge secundaire elektronenemissie bevat dan wordensecundaire elektronen uitgezonden welke door middel van eenelektronensensor kunnen worden gemeten. De door de trefstrip uitgezondenelektronen of fotonen kunnen echter een nadelige invloed op hetweergegeven beeld hebben. Bij voorkeur bestaat de trefstrip uitgeleidend materiaal. Door middel van stroommeting is het aantalelektronen dat op de trefstrip valt te bepalen. In figuur 8b is het doorde op de trefstrip vallende elektronen gegenereerde signaal (I) alsfunctie van de plaats (y=langs de trefstrip, x= dwars op de trefstrip)weergegeven. Door middel van trefstrip 23 is wel de positie van detrefvlek van elektronenbundel 24 dwars op de trefstrip, maar niet in eenrichting langs de trefstrip te bepalen.Figure 8a shows a target strip 23. This target strip is hit by a calibration beam 24. As a result of this hit, a signal is generated. If the target strip contains cathodoluminescent material, a light signal is generated, the intensity of this light can be measured by means of light sensors. If the target strip material contains a high secondary electron emission, secondary electrons are emitted which can be measured by an electron sensor. However, the electrons or photons emitted by the hit strip may adversely affect the displayed image. Preferably the target strip consists of conductive material. The number of electrons on the target strip can be determined by means of current measurement. Figure 8b shows the signal (I) generated by the electrons falling on the target strip as a function of the location (y = along the target strip, x = transverse to the target strip). The position of the spot of the electron beam 24 transverse to the hit strip can be determined by means of target strip 23, but cannot be determined in one direction along the target strip.
Figuur 9a toont een trefstrip waarvan de doorsnede dwarsop de trefstrip langs de trefstrip verandert. Het signaal I verandert nuzowel als functie van x als van y zodat de positie van de trefvlek dwarsop de trefstrip bepaalbaar is. Dit is schematisch weergegeven in figuur9b.Figure 9a shows a target strip the cross-section of which changes along the target strip. The signal I now changes both as a function of x and of y so that the position of the target transverse to the target strip can be determined. This is shown schematically in Figure 9b.
Figuur 10a toont een trefstrip waarvan de gearceerdegebieden een hogere elektronenreflektiecoefficient hebben dan de niet-gearceerde gebieden. Het signaal I is zoals figuur 10b toont zowel van xals van y afhankelijk.Figure 10a shows a target strip whose shaded areas have a higher electron reflection coefficient than the non-shaded areas. As shown in Figure 10b, the signal I depends on both x and y.
Figuur 11a toont een trefstrip met een versprongenstructuur. Figuren 11b tonen het signaal I als functie van y voor x=0 envoor x^O. Duidelijk is te zien dat voor x^O het verloop van hetsignaal als functie y veel complexer wordt, dat wil zeggen dat hetsignaal I uit meer en hogere frequentiecomponenten is opgebouwd, zoalsin de onderste van de figuren 11b is weergegeven, in welke figuur dehorizontale as de frequentie weergeeft en de vertikale as de sterkte vande frequentiecomponenten. Voor x=0 bevat het signaal alleen componentenvoor een frequentie tg en hogere harmonische van fg, voor xfO is er ook een frequentiecomponent voor een frequentie f^.Figure 11a shows a target strip with an offset structure. Figures 11b show the signal I as a function of y for x = 0 and for x ^ O. It can be clearly seen that for x ^ O the course of the signal as function y becomes much more complex, i.e. the signal I is composed of more and higher frequency components, as shown in the lower one of figures 11b, in which figure the horizontal axis represents frequency and the vertical axis indicates the strength of the frequency components. For x = 0, the signal contains only components for a frequency tg and higher harmonic of fg, for xfO there is also a frequency component for a frequency f ^.
Figuur 12a toont een trefstrook die twee paralleletrefstrippen 23a en 23b bevat. Figuur 12b toont het verschil van designalen Ia en Ib van respectievelijk trefstrip 23a en trefstrip23b. Dit verschil is 0 indien trefvlek 24 zich midden tussen beidetrefstrippen bevindt.Figure 12a shows a target strip containing two parallel stripe strips 23a and 23b. Figure 12b shows the difference of design languages Ia and Ib of target strip 23a and target strip 23b, respectively. This difference is 0 if target 24 is midway between both target strips.
Figuur 13a toont een trefstrook die twee trefstrippenbevat waartussen zich een kanaal met een variërende doorsnedeuitstrekt. Ook nu is het verschil in intensiteit Ia-Ib 0 indien detrefvlek zich midden tussen de trefstrippen bevindt. De som vanIa+Ib varieert als functie van y zodat de plaats van de trefvlekdwars op de trefstrook bepaalbaar is. Indien de trefvlek nietsymmetrisch is ten opzichte van een lijn langs de trefstrook, maarbijvoorbeeld ei-vormig is, dan kan opgemerkt worden, dat Ia-Ibaltijd een kleine variatie rondom nul zal behouden. Het is dus ookmogelijk enige informatie over de vorm van de trefvlek te verkrijgen.Figure 13a shows a target strip containing two target strips between which a channel of varying cross-section extends. Again, the difference in intensity Ia-Ib is 0 if the target spot is midway between the target strips. The sum of Ia + Ib varies as a function of y so that the location of the target spot on the target strip is determinable. If the hit spot is non-symmetrical with respect to a line along the hit strip, but is, for example, egg-shaped, then it can be noted that Ia-Ibal time will maintain a small variation around zero. It is therefore also possible to obtain some information about the shape of the target.
Figuren 14a en 14b tonen hoe, door gebruik te maken vantwee trefstroken 24 en 25, voor twee ijkbundels, met trefvlekken 26 en27 er meer eigenschappen van de ijkbundels bepaalbaar zijn en derhalvemeer beeldfouten te corrigeren. In figuur 14a verschillen de trefvlekkenin grootte door een verschil in focussering. Het verschil tussen designalen Ij van trefstrip 24 en I2 van trefstrip 25 is 0 indienbeide trefvlekken even groot zijn, en verschilt anders van 0. Dit isschematisch in figuur 14b weergegeven. I-j-^ is een functie van Δ,het verschil in diameter van de trefvlekken 26 en 27. Dit kan gebruiktworden voor het regelen van de focussering van de elektronenbundels, opde volgende wijze: Eén van de bundels wordt overgefocusseerd, de andere zoveelondergefocusseerd totdat de beide trefvlekken even groot zijn. Hieruitis op eenvoudige wijze door interpolatie de "juiste1' focussering tebepalen. Op deze manier is op veel snellere en nauwkeurigere wijze danwanneer slechts één ijkbundel gebruikt wordt, de juiste focusseringte bepalen.Figures 14a and 14b show how, by using two target strips 24 and 25, for two calibration beams, with spots 26 and 27, more properties of the calibration beams can be determined and thus correct more image errors. In Figure 14a, the spots differ in size due to a difference in focusing. The difference between designals Ij of target strip 24 and I2 of target strip 25 is 0 if both spots are the same size, and different from 0. This is schematically shown in Figure 14b. Ij- ^ is a function of Δ, the difference in diameter of the spots 26 and 27. This can be used to control the focusing of the electron beams, as follows: One of the beams is over-focused, the other under-focused until both spots are the same size. This makes it easy to determine the "correct1" focusing by interpolation. In this way, the correct focusing can be determined in a much faster and more accurate manner than when only one calibration beam is used.
Figuren 15a geven een volgend voorbeeld hoe door hetgebruik van twee ijkbundels, met trefvlekken 30 en 31 respectievelijk,meerdere eigenschappen van de ijkbundels te bepalen zijn. Trefstrippen28 en 29 variëren in doorsnede zodat van ieder van de trefvlekken 30 en 31 de positie langs de trefstrip te bepalen is. Het emissie- ofafbuigmiddel voor ijkbundel met trefvlek 30 heeft een iets andereinstelling van een parameter (bijvoorbeeld een potentiaal op eenelektrode) dan het emissie- of afbuigmiddel voor ijkbundel met trefvlek31. Als gevolg hiervan bevindt trefvlek 30 zich iets "boven" trefvlek31. Het signaal I1(=signaal van trefstrip 28) en het signaall2(=signaal van trefstrip 29) verschillen daardoor in fase. Opeenvoudige wijze is nu het verband tussen deze parameter en de plaatsvan de trefvlek te bepalen. Met behulp van deze gegevens is een beterecorrectie van de banen van de elektronenbundels mogelijk.Figures 15a give a further example of how multiple properties of the calibration beams can be determined by using two calibration beams, with spots 30 and 31 respectively. Target strips 28 and 29 vary in cross-section so that the position along the target strip can be determined for each of the target spots 30 and 31. The target spot calibration or deflector 30 has a slightly different parameter setting (for example, a potential on an electrode) than the target spot calibration or deflector 31. As a result, target 30 is slightly "above" target 31. The signal I1 (= signal from target strip 28) and the signal L2 (= signal from target strip 29) therefore differ in phase. The relationship between this parameter and the location of the target can now be determined in a simple manner. Using this data, a better correction of the trajectories of the electron beams is possible.
Figuur 16 geeft een verder voorbeeld van trefstrokengeschikt voor een beeldweergaveinrichting volgens de uitvinding, waarineen aantal van de aspecten van andere tekeningen gecombineerd zijn. Hierzijn een tweetal trefstroken ieder met twee trefstrippen, 32 en 33respectievelijk 34 en 35, getoond.Figure 16 shows a further example of target strips suitable for an image display device according to the invention, in which some of the aspects of other drawings are combined. Here, two target strips each with two target strips, 32 and 33 and 34 and 35 respectively, are shown.
Zoals reeds eerder vermeld wordt de intensiteit van deijkbundel bij voorkeur gemoduleerd met een modulatiefrequentie. Door hetsignaal in een frequentiegebied romdom deze modulatiefrequentie temeten, zijn storende signalen van de elektronenbundels of bijvoorbeeldvan door de elektronenbundels geïnduceerde secundaire elektronen "weg"te filteren. Indien het generatiemiddel geschikt is voor het genererenvan twee zich naast elkaar uitstrekkende ijkbundels, en de hierbijbehorende trefstroken zich naast elkaar uitstrekken dan is het met namevoordelig indien de twee ijkbundels met verschillendemodulatiefrequentie gemoduleerd worden. Ten eerste treedt dan geenstorende effecten van de ene ijkbundel op de positiebepaling van deandere ijkbundel op, en ten tweede is het mogelijk om gemeenschappelijketrefstrippen te gebruiken. Figuren 17 en 18 geven hiervan een tweetalvoorbeelden. Het signaal van elektrode 40 veroorzaakt door ijkbundels 38en 39, welke gemoduleerd zijn met frequenties f^ en f2respectievelijk, heeft twee frequentiecomponenten. Op simpele en verderbekende wijze kunnen deze frequentiecomponenten gemeten worden. Devoordelen van gemeenschappelijke trefstrippen zijn een simpelereconstructie en een besparing van ruimte.As mentioned earlier, the intensity of the calibration beam is preferably modulated with a modulation frequency. By measuring the signal in a frequency range around this modulation frequency, disturbing signals from the electron beams or, for example, from secondary electrons induced by the electron beams can be "filtered out". If the generating means is suitable for generating two side-by-side calibration beams, and the associated target strips extend side by side, it is particularly advantageous if the two calibration beams are modulated with different modulation frequency. Firstly, no disturbing effects of one calibration beam on the position determination of the other calibration beam occur, and secondly, it is possible to use common target strips. Figures 17 and 18 give two examples of this. The signal from electrode 40 produced by calibration beams 38 and 39, which are modulated with frequencies f1 and f2, respectively, has two frequency components. These frequency components can be measured in a simple and well-known manner. The advantages of common target strips are a simpler reconstruction and a saving of space.
Figuur 19 geeft een volgend voorbeeld van een paartrefstroken. In dit voorbeeld bevat dit paar trefstrippen 41, 43, 45 en47, gescheiden door kanalen 42, 44 en 46. Het signaal van een trefstrip X veroorzaakt door een trefvlek Y noemen wij hier I(X,Y).Figure 19 gives another example of a pair of stripe strips. In this example, this pair contains hit strips 41, 43, 45 and 47 separated by channels 42, 44 and 46. The signal of a hit strip X caused by a hit spot Y is here called I (X, Y).
Grootheden die bijvoorbeeld bepaald kunnen worden zijn: A) Plaats van trefvlek 48 ten opzichte van kanaal 42: volgt uit1(41,48) - (1(43,48) + 1(45,48)) B) Plaats van trefvlek 48 langs kanaal 42: volgt uit1(43,48) of 1(45,48) C) Grootte van trefvlek 48: volgt uitverhoudingen tussen 1(41,48), 1(43,48) en 1(45,48) D) Plaats van trefvlek 49 ten opzichte van kanaal 46: volgt uit1(47,49) - (1(45,49) + 1(43,49)) E) Plaats van trefvlek 49 ten langs kanaal 46: volgt uit1(43,49) of 1(45,49) F) Grootte van trefvlek 49: volgt uitverhoudingen tussen 1(47,49), 1(45,49) en 1(43,49) G) Relatief grootteverschil tussen trefvlek 48 en 49: volgt uit1(41,48)+1(43,48)+1(45,48)-1(43,49)-1(45,49)-1(47,49) H) Relatief verschil in positie van trefvlekken 48 en 49 langs dekanalen 42 en 43: volgt uit vergelijkingen tussen 1(43,48) en 1(45,48) met 1(43,49) en1(45,49)For example, quantities that can be determined are: A) Location of target 48 relative to channel 42: follows from 1 (41.48) - (1 (43.48) + 1 (45.48)) B) Location of target 48 along channel 42: follows from 1 (43.48) or 1 (45.48) C) Size of spot 48: follows ratios between 1 (41.48), 1 (43.48) and 1 (45.48) D) Place of target 49 relative to channel 46: follows from1 (47.49) - (1 (45.49) + 1 (43.49)) E) Location of target 49 along channel 46: follows from1 (43.49) or 1 (45.49) F) Size of spot 49: follows ratios between 1 (47.49), 1 (45.49) and 1 (43.49) G) Relative size difference between spot 48 and 49: follows from 1 ( 41.48) +1 (43.48) +1 (45.48) -1 (43.49) -1 (45.49) -1 (47.49) H) Relative difference in position of target spots 48 and 49 along channels 42 and 43: follows from comparisons between 1 (43.48) and 1 (45.48) with 1 (43.49) and 1 (45.49)
Het zal duidelijk zijn dat voor de vakman binnen het raam van de uitvinding vele variaties mogelijk zijn.It will be clear that many variations are possible for the skilled person within the scope of the invention.
Claims (26)
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8801983A NL8801983A (en) | 1988-08-09 | 1988-08-09 | IMAGE DISPLAY DEVICE. |
| EP89202028A EP0358252A1 (en) | 1988-08-09 | 1989-08-03 | Display device |
| KR1019890011256A KR900003947A (en) | 1988-08-09 | 1989-08-08 | Display device |
| JP1203982A JPH0282435A (en) | 1988-08-09 | 1989-08-08 | Display unit |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8801983 | 1988-08-09 | ||
| NL8801983A NL8801983A (en) | 1988-08-09 | 1988-08-09 | IMAGE DISPLAY DEVICE. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8801983A true NL8801983A (en) | 1990-03-01 |
Family
ID=19852734
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8801983A NL8801983A (en) | 1988-08-09 | 1988-08-09 | IMAGE DISPLAY DEVICE. |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0358252A1 (en) |
| JP (1) | JPH0282435A (en) |
| KR (1) | KR900003947A (en) |
| NL (1) | NL8801983A (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5441628A (en) * | 1992-09-15 | 1995-08-15 | Japan Energy Corporation | Method for preparation for a Zn-Ni electroplating or hot-dip galvanizing bath using a Zn-Ni alloy, and method for producing a Zn-Ni alloy |
| JP3730799B2 (en) | 1999-04-07 | 2006-01-05 | Ｎｅｃ液晶テクノロジー株式会社 | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
| DE202013006920U1 (en) | 2013-08-01 | 2014-11-03 | C. & E. Fein Gmbh | tooling |
| DE202013006900U1 (en) | 2013-08-01 | 2014-11-03 | C. & E. Fein Gmbh | machine tool |
| NO2884309T3 (en) | 2013-08-01 | 2018-09-08 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2858464A (en) * | 1955-09-26 | 1958-10-28 | Westinghouse Electric Corp | Cathode ray tube |
-
1988
- 1988-08-09 NL NL8801983A patent/NL8801983A/en not_active Application Discontinuation
-
1989
- 1989-08-03 EP EP89202028A patent/EP0358252A1/en not_active Withdrawn
- 1989-08-08 JP JP1203982A patent/JPH0282435A/en active Pending
- 1989-08-08 KR KR1019890011256A patent/KR900003947A/en not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0282435A (en) | 1990-03-23 |
| EP0358252A1 (en) | 1990-03-14 |
| KR900003947A (en) | 1990-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1072620A (en) | Guided beam flat display device | |
| NL8801983A (en) | IMAGE DISPLAY DEVICE. | |
| US5202609A (en) | Flat configuration image display apparatus | |
| EP0311184A1 (en) | Colour display tube having asymmetric deflection electrodes | |
| US5420476A (en) | Photomultiplier including election lens electrode | |
| US3819984A (en) | Side-by-side dual gun crt having horizontal deflector plates provided with side shields for correction of geometric distortion | |
| US4812707A (en) | Traveling wave push-pull electron beam deflection structure having voltage gradient compensation | |
| US4677341A (en) | Synchronous scan streaking device | |
| NL8006372A (en) | COLOR TELEVISION PICTURE TUBE. | |
| US5598054A (en) | Display device of the flat-panel type comprising an electron transport duct and a segmented filament | |
| NL9002515A (en) | COLOR IMAGE TUBE WITH IN-LINE ELECTRON CANNON. | |
| US6891340B2 (en) | Tracking picture tube | |
| JPS63266733A (en) | Image sensing tube system and its electron gun | |
| EP0046610B1 (en) | Television camera tube | |
| US5621271A (en) | Display device of the flat-panel type comprising an electron transport duct and a segmented filament | |
| JPH01154089A (en) | Beam index display tube and display system including the tube | |
| JPH0435871B2 (en) | ||
| USRE30195E (en) | Guided beam flat display device | |
| JPH07302550A (en) | Color cathode-ray tube | |
| KR100210176B1 (en) | Color display tube having a sadow mask suspension means | |
| JP3417394B2 (en) | Cathode ray tube and signal detection method in cathode ray tube | |
| US20030057896A1 (en) | Tracking tube with adapted tracking structure | |
| KR870000557Y1 (en) | Electron gun for a color crt | |
| JPS5935144B2 (en) | Color cathode ray tube equipment | |
| JP2004022236A (en) | Cathode-ray tube |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A1B | A search report has been drawn up | ||
| BV | The patent application has lapsed |