NL8201558A - Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. - Google Patents
Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8201558A NL8201558A NL8201558A NL8201558A NL8201558A NL 8201558 A NL8201558 A NL 8201558A NL 8201558 A NL8201558 A NL 8201558A NL 8201558 A NL8201558 A NL 8201558A NL 8201558 A NL8201558 A NL 8201558A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- foil
- capacity
- current
- voltage
- electrode
- Prior art date
Links
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 30
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 5
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/04—Electrodes or formation of dielectric layers thereon
- H01G9/048—Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by their structure
- H01G9/055—Etched foil electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Electrochemical Coating By Surface Reaction (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
4ί * Jf PHN 10.322 1 N.V. Philips1 Gloeilampenfabrieken te Eindhoven "Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor eléktrolytkondensatoren".
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytische kon-densatoren gedurende bewerking, met name met aluminiumfolie, welke folie voor toepassing als anode gebeitst en daarna geformeerd wordt, 5 en voor toepassing als kathode gebeitst, doch niet geformeerd wordt.
In het Duitse Auslegeschrift 22 46 421 zijn een meetmethode en een daarvoor geschikte inrichting beschreven voor de continue rreting van de capaciteit van aluminiumfolie gedurende bewerking.
De meting van de impedantie van de folie vindt volgens het 10 Duitse Auslegescbrift plaats aan het zich van een rol afwikkelèadê en door de behandelingsvloeistof bewegende folie tussen deze folie en zich aan weerszijden ervan bevindende elektroden. In Fig. 1 van bijgaande tekening is het principe van de rreetopstelling geschetst. De folie is aangegeven met 1, de beide elektroden met 2 en 3. Op de plaats 4 wordt 15 de impedantie Z gemeten.
Voor een continue meting van de capaciteit voor controle gedurende het beitsproces, waaraan grote behoefte bestaat, en van de * capaciteit bij het fanneren bij lage spanningswaarden is de inrichting volgens het Duitse Auslegeschrift minder geschikt, cmdat het meetresul-20 taat in dat geval alleen correct is als de capaciteit van de meet-elëktroden zeer veel groter is dan die van de folie.
De uitvinding verschaft een dergelijke inrichting, die zowel voor het continu meten van de capaciteit van folie gedurende beitsen als voor het meten van de capaciteit van folie gedurende formeren geschikt 25 is.
De inrichting voor het continu meten van de capaciteit van zich in één richting bewegende, door een behandelingsvloeistof gevoerde folie is volgens de uitvinding daardoor gekenmerkt, dat vanuit tenminste één strocmvoerende elektrode in de nabijheid van de folie in 30 de behandelingsvloeistof een wisselstroom gevoerd wordt, en er zich tussen de strocmvoerende electrode(n) en de folie tenminste éên spanningselektrode qp geringe afstand van de folie bevindt, waaraan de spanning als maat voor de gevraagde foliecapaciteit door middel 8201558 1 ' » PHN 10.322 2 van een geschikte fasegevoelige Voltmeter wordt gemeten.
Het kenmerkende van de inrichting volgens de uitvinding is, dat de stroommeting en de spanningsmeting gescheiden zijn, zodat zij elkaar niet kunnen beïnvloeden. Bovendien, doordat de stroon opge-5 legd wordt, speelt de impedantie tussen elektrode en vloeistof geen rol.
De afstand, waarop de spanningselektrode ten opzichte van de folie wordt geplaatst, is als regel 1 a 2 ran.'
In een uitvoeringsvorm wordt de wisselstroon tussen de elek-10 trode en de bewegende folie aangelegd, hetgeen betekent, dat deze op de beits-, resp. formeerstrocm wordt gesuperponeerd. De spanning wordt eveneens tussen de aparte spanningselektrode en de folie gemeten.
Bij deze meting moet, evenals bij de uit het hierboven besproken DE-AS de folie worden gecontacteerd. Dit is een nadeel, cmdat er 15 dan kans bestaat op wisselende waarden van de overgangsweerstand op de contactplaatsen, hetgeen de metingen minder nauwkeurig maakt.
Volgens een voorkeursvorm van de inrichting volgens de uitvinding heeft deze twee stroamvoerende elektroden aan weerszijde van de folie en twee spanningselektroden, waarmede het imaginaire deel 20 van de impedantie joc als maat voor de foliecapaciteit wordt gemeten.
Deze uitvoeringsvorm vertoont het bovenbedoelde nadeel niet, doordat de meting zonder contactering van de folie plaatsvindt.
In Fig. 2 van bijgaande tekening is het principe van de meetopstelling volgens een uitvoeringsvorm van de uitvinding weerge-25 geven. De verwijzingscijfers 1 en 2 zijn dezelfde als in Fig. 1. De spanningselectrode is met 5 aangeduid, en deze bestaat uit een gespi-raliseerde platinadraad met een diameter van 0,5 mm en een lengte van de spiraal van 1,5 £ 2 mm cp 1 irm afstand van de folie. De stroamr- 2 voerende elektrode 2 bestaat uit een platina-plaat van 5 cm oppervlak, 30 op 3 cm van de folie 1 geplaatst. Bij 7 wordt de op de beitsstroom ge-superponeerde wisselstroom afgesplitst en gemeten. De fasegevoelige voltmeter 8 tussen de elektrode 5 en de bewegende folie 1 meet het imaginaire deel van de impedantie jqc die een maat is voor de capaciteit van de folie.
35 In Fig. 3 van de tekening is grafisch uitgezet het verband tussen de capaciteit van gebeitst folie, na formeren cp 20 Volt, Cs (f) als funktie van de capaciteit van hetzelfde folie tijdens het beitsen C (e) in de inrichting van Fig. 2. s 8201558 EHN 10.322 3
Er blijkt een zeer behoorlijk lineair verband te bestaan, hetgeen een grote betrouwbaarheid van de meting met behulp van de inrichting volgens de uitvinding illustreert.
In Fig. 4 van de bijgaande tekening is het principe van 5 de meetopstelling volgaas de voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding geschetst. De verwijzingscijfers 1 t/m 3 zijn dezelfde als in Fig. 1.
De beide spanningselèktroden zijn met de cijfers 5 en 6 aangegeven en hebben dezelfde vorm als electrode 5 in Fig. 2 en bevinden zich eveneens beide op 1 mm. afstand van de folie 1. De strocravoerende elektro-10 den zijn uitgevoerd zoals volgens Fig. 2 en bevinden zich eveneens op 3 cm afstand van de bewegende folie 1. Een wisselstrocmampêremster 7 geeft de waarde van de gestabiliseerde stroom tussen de elektroden 2 en 3 aan en een f asegevoelige Voltmeter 8 de spanning tussen de spannings-elektroden 5 en 6. De voeding van het stroomcircuit en de stroorr 15 stabilisatie zijn in deze fig. niet weergegeven. Terwijl de inrichting met wisselspanning gevoed wordt,, meet men op de Voltmeter 8 eveneens de imaginaire component van de impedantie Z.
20 25 30 35 8201558
Claims (2)
1. Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van zich in één richting bewegende, door een behandelingsvloeistof gevoerde folie, met het kenmerk, dat vanuit tenminste één strocmvoeren-de elektrode in de nabijheid van de folie in de behandelingsvloeistof 5 een wisselstroom gevoerd wordt, en er zich tussen de strocmvoerende elektrode (n) en de folie tenminste één spanningselektrode op geringe afstand van de folie bevindt, waaraan de spanning als maat voor de gevraagde foliecapaciteit door middel van een fasegevoelige Voltmeter wordt gemeten. 10
2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat deze twee strocmvoerende elektroden aan weerszijde van de folie heeft en twee spanningselektroden, waarmee het imaginaire deel van de impedantie als maat voor de foliecapaciteit wordt gemeten. 15 20 25 30 35 8201558
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8201558A NL8201558A (nl) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. |
US06/479,595 US4497699A (en) | 1982-04-14 | 1983-03-28 | Method of treating foil for electrolytic capacitors |
EP83200519A EP0091722B1 (en) | 1982-04-14 | 1983-04-12 | Method of treating foil for electrolytic capacitors |
JP58063113A JPS58197713A (ja) | 1982-04-14 | 1983-04-12 | 電解コンデンサ用箔の処理方法および箔のキヤパシタンスの連続測定装置 |
DE8383200519T DE3368341D1 (en) | 1982-04-14 | 1983-04-12 | Method of treating foil for electrolytic capacitors |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8201558A NL8201558A (nl) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. |
NL8201558 | 1982-04-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8201558A true NL8201558A (nl) | 1983-11-01 |
Family
ID=19839575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8201558A NL8201558A (nl) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4497699A (nl) |
EP (1) | EP0091722B1 (nl) |
JP (1) | JPS58197713A (nl) |
DE (1) | DE3368341D1 (nl) |
NL (1) | NL8201558A (nl) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4886552A (en) * | 1988-09-09 | 1989-12-12 | United Technologies Corporation | Method for monitoring the removal of a metallic contaminant from the surface of a metallic article |
US5582746A (en) * | 1992-12-04 | 1996-12-10 | International Business Machines Corporation | Real time measurement of etch rate during a chemical etching process |
US5788801A (en) * | 1992-12-04 | 1998-08-04 | International Business Machines Corporation | Real time measurement of etch rate during a chemical etching process |
US5338390A (en) * | 1992-12-04 | 1994-08-16 | International Business Machines Corporation | Contactless real-time in-situ monitoring of a chemical etching process |
US5573624A (en) * | 1992-12-04 | 1996-11-12 | International Business Machines Corporation | Chemical etch monitor for measuring film etching uniformity during a chemical etching process |
US5451289A (en) * | 1994-06-30 | 1995-09-19 | International Business Machines Corporation | Fixture for in-situ noncontact monitoring of wet chemical etching with passive wafer restraint |
US5516399A (en) * | 1994-06-30 | 1996-05-14 | International Business Machines Corporation | Contactless real-time in-situ monitoring of a chemical etching |
US5445705A (en) * | 1994-06-30 | 1995-08-29 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for contactless real-time in-situ monitoring of a chemical etching process |
US5489361A (en) * | 1994-06-30 | 1996-02-06 | International Business Machines Corporation | Measuring film etching uniformity during a chemical etching process |
US5501766A (en) * | 1994-06-30 | 1996-03-26 | International Business Machines Corporation | Minimizing overetch during a chemical etching process |
US5480511A (en) * | 1994-06-30 | 1996-01-02 | International Business Machines Corporation | Method for contactless real-time in-situ monitoring of a chemical etching process |
US5715133A (en) * | 1995-06-21 | 1998-02-03 | Philips Electronics North America Corporation | Method of producing aluminum foil for electrolytic capacitors and product thereof |
US6726825B2 (en) | 2000-04-07 | 2004-04-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for manufacturing positive electrode foil of aluminum electrolytic capacitor |
DE102005040296B4 (de) * | 2005-08-21 | 2007-06-14 | Hahn-Meitner-Institut Berlin Gmbh | Messverfahren zur in-situ-Kontrolle des chemischen Ätzvorgangs von latenten Ionenspuren |
JP1595451S (nl) * | 2017-06-20 | 2018-01-22 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2832734A (en) * | 1952-02-14 | 1958-04-29 | Leeds & Northrup Co | Coulometric systems |
US2928774A (en) * | 1953-08-31 | 1960-03-15 | Standard Oil Co | Automatic titration system |
DE2246421C3 (de) * | 1972-09-21 | 1978-05-11 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zum kontinuierlichen Bestimmen der Güte einer Aluminiumfolie und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE2434154B2 (de) * | 1974-07-16 | 1977-07-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur kontinuierlichen bestimmung der qualitaet von einer in wanderbaedern formierten aluminiumfolie fuer elektrolytkondensatoren |
DE2458501A1 (de) * | 1974-12-11 | 1976-06-16 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und anordnung zur messung der kapazitaetsausbeute |
US4095176A (en) * | 1976-10-06 | 1978-06-13 | S.A Texaco Belgium N.V. | Method and apparatus for evaluating corrosion protection |
CH617508A5 (nl) * | 1976-12-24 | 1980-05-30 | Eric Robert | |
JPS57126126A (en) * | 1981-01-29 | 1982-08-05 | Yoshiyuki Okamoto | Method of etching aluminum foil for electrolytic condenser |
US4343686A (en) * | 1981-02-27 | 1982-08-10 | Sprague Electric Company | Method for controlling etching of electrolytic capacitor foil |
-
1982
- 1982-04-14 NL NL8201558A patent/NL8201558A/nl not_active Application Discontinuation
-
1983
- 1983-03-28 US US06/479,595 patent/US4497699A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-04-12 DE DE8383200519T patent/DE3368341D1/de not_active Expired
- 1983-04-12 EP EP83200519A patent/EP0091722B1/en not_active Expired
- 1983-04-12 JP JP58063113A patent/JPS58197713A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0091722B1 (en) | 1986-12-10 |
US4497699A (en) | 1985-02-05 |
JPS58197713A (ja) | 1983-11-17 |
DE3368341D1 (en) | 1987-01-22 |
EP0091722A1 (en) | 1983-10-19 |
JPH0257695B2 (nl) | 1990-12-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL8201558A (nl) | Inrichting voor het continu meten van de capaciteit van folie voor elektrolytkondensatoren. | |
US4243932A (en) | Method and system for checking sealed containers for pinholes by comparing two discharge currents | |
US20070024287A1 (en) | Apparatus and method for measuring liquid conductivity and electrode series capacitance | |
JP7071723B2 (ja) | 複素誘電率測定用回路、複素誘電率測定装置及び複素誘電率の測定方法 | |
JPH01503506A (ja) | 半導体層構造の層厚の決定方法及び装置 | |
EP0244326A3 (en) | Method for detecting and/or identifying a biological substance in a liquid medium with the aid of electrical measurements, and apparatus for carrying out this method | |
JP4008173B2 (ja) | 蓄電器の絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置 | |
US4095176A (en) | Method and apparatus for evaluating corrosion protection | |
JPS60253209A (ja) | 電解コンデンサ用アルミニウム箔上に形成された酸化物の厚さを連続的に監視する方法 | |
US4343686A (en) | Method for controlling etching of electrolytic capacitor foil | |
JPH06317552A (ja) | 水分測定方法及び水分測定装置 | |
JPH05203604A (ja) | 酸素濃度測定方法と装置 | |
KR960703701A (ko) | 점 용접시 온도 측정 방법 및 장치 및 점 용접의 품질을 평가하기 위한 그 용도(process and device for determining the temperature at a spot weld and their use for evaluating the quality of the spot weld) | |
RU2133943C1 (ru) | Способ измерения шероховатости поверхности | |
Sutton et al. | Numerical simulation of the time-dependent current to membrane-covered oxygen sensors. Part IV. Experimental verification that the switch-on transient is non-Cottrellian for microdisc electrodes | |
JP2019113534A (ja) | 腐食環境測定装置、並びにそれを用いた液膜厚さ及び電気伝導率の測定方法 | |
SU1572170A1 (ru) | Способ контрол толщины диэлектрической пленки на электропровод щей подложке | |
KR100482465B1 (ko) | 특정 물질 농도 검출 장치 및 이를 이용한 특정 물질 농도확인 장치 및 포화 상태 확인 방법 | |
JPH079410B2 (ja) | 導電率測定装置 | |
SU365665A1 (nl) | ||
SU411362A1 (ru) | Способ измерения концентрации полимеров в электропроводящих растворах | |
JP2004117085A5 (nl) | ||
RU2240500C1 (ru) | Способ измерения шероховатости поверхности | |
SU1141327A1 (ru) | Способ контрол защитных диэлектрических покрытий | |
SU1095030A1 (ru) | Способ контрол толщины плоских диэлектриков |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A1B | A search report has been drawn up | ||
A85 | Still pending on 85-01-01 | ||
BV | The patent application has lapsed |