NL178923C - Microsondestelsel voor het met een afbuigbare bundel van geladen deeltjes aftasten van een voorwerp. - Google Patents
Microsondestelsel voor het met een afbuigbare bundel van geladen deeltjes aftasten van een voorwerp.Info
- Publication number
- NL178923C NL178923C NLAANVRAGE7409951,A NL7409951A NL178923C NL 178923 C NL178923 C NL 178923C NL 7409951 A NL7409951 A NL 7409951A NL 178923 C NL178923 C NL 178923C
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- dependable
- particulars
- bundle
- scanning
- microphone system
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/09—Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/24—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00382230A US3842272A (en) | 1973-07-24 | 1973-07-24 | Scanning charged particle microprobe with external spurious electric field effect correction |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL7409951A NL7409951A (nl) | 1975-01-28 |
NL178923B NL178923B (nl) | 1986-01-02 |
NL178923C true NL178923C (nl) | 1988-09-16 |
Family
ID=23508051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NLAANVRAGE7409951,A NL178923C (nl) | 1973-07-24 | 1974-07-23 | Microsondestelsel voor het met een afbuigbare bundel van geladen deeltjes aftasten van een voorwerp. |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3842272A (nl) |
JP (1) | JPS5822854B2 (nl) |
CA (1) | CA1013483A (nl) |
DD (1) | DD113661A1 (nl) |
DE (1) | DE2433999C2 (nl) |
FR (1) | FR2239013B1 (nl) |
GB (1) | GB1465518A (nl) |
IT (1) | IT1016963B (nl) |
NL (1) | NL178923C (nl) |
SE (1) | SE389762B (nl) |
SU (1) | SU572230A3 (nl) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5243058B2 (nl) * | 1974-04-22 | 1977-10-28 | ||
JPH06105601B2 (ja) * | 1986-10-08 | 1994-12-21 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡 |
US5463268A (en) * | 1994-05-23 | 1995-10-31 | National Electrostatics Corp. | Magnetically shielded high voltage electron accelerator |
US6714892B2 (en) * | 2001-03-12 | 2004-03-30 | Agere Systems, Inc. | Three dimensional reconstruction metrology |
JP6821822B2 (ja) | 2017-02-03 | 2021-01-27 | ガタン インコーポレイテッドGatan,Inc. | 電子エネルギー損失分光器のための高調波ラインノイズ補正関連出願の相互参照 |
RU2678504C1 (ru) * | 2018-01-09 | 2019-01-29 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" | Устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере |
TW202414496A (zh) | 2022-09-26 | 2024-04-01 | 德商卡爾蔡司多重掃描電子顯微鏡有限公司 | 帶電粒子束裝置的擾動補償 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE911056C (de) * | 1938-02-10 | 1954-05-10 | Siemens Ag | Elektronenmikroskop |
US3588586A (en) * | 1968-04-26 | 1971-06-28 | Jeol Ltd | Apparatus for correcting electron beam deflection |
US3549883A (en) * | 1968-10-07 | 1970-12-22 | Gen Electric | Scanning electron microscope wherein an image is formed as a function of specimen current |
US3678333A (en) * | 1970-06-15 | 1972-07-18 | American Optical Corp | Field emission electron gun utilizing means for protecting the field emission tip from high voltage discharges |
-
1973
- 1973-07-24 US US00382230A patent/US3842272A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-07-15 DE DE2433999A patent/DE2433999C2/de not_active Expired
- 1974-07-17 CA CA204,960A patent/CA1013483A/en not_active Expired
- 1974-07-19 SE SE7409441A patent/SE389762B/xx unknown
- 1974-07-19 FR FR7425154A patent/FR2239013B1/fr not_active Expired
- 1974-07-22 DD DD180055A patent/DD113661A1/xx unknown
- 1974-07-23 JP JP49083859A patent/JPS5822854B2/ja not_active Expired
- 1974-07-23 NL NLAANVRAGE7409951,A patent/NL178923C/nl not_active IP Right Cessation
- 1974-07-23 IT IT52237/74A patent/IT1016963B/it active
- 1974-07-24 GB GB3272574A patent/GB1465518A/en not_active Expired
- 1974-07-24 SU SU7402048236A patent/SU572230A3/ru active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7409951A (nl) | 1975-01-28 |
DD113661A1 (nl) | 1975-06-12 |
SU572230A3 (ru) | 1977-09-05 |
AU7148674A (en) | 1976-01-22 |
JPS5822854B2 (ja) | 1983-05-11 |
JPS5044769A (nl) | 1975-04-22 |
FR2239013B1 (nl) | 1978-01-27 |
SE7409441L (nl) | 1975-01-27 |
IT1016963B (it) | 1977-06-20 |
DE2433999C2 (de) | 1986-06-19 |
FR2239013A1 (nl) | 1975-02-21 |
US3842272A (en) | 1974-10-15 |
SE389762B (sv) | 1976-11-15 |
GB1465518A (en) | 1977-02-23 |
DE2433999A1 (de) | 1975-02-13 |
NL178923B (nl) | 1986-01-02 |
CA1013483A (en) | 1977-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL7412732A (nl) | Werkwijze voor het alkyleren van een isoalkaan. | |
NL176313C (nl) | Inrichting voor het herkennen van een gebeurtenis. | |
NL181062C (nl) | Werkwijze voor het maken van een elektreet. | |
NL177350C (nl) | Stelsel voor het vormen van een gecodeerd beeld van een voorwerp. | |
NL179087C (nl) | Aansluitsysteem voor leidingen. | |
NL152642B (nl) | Eindklem voor een kabel of dergelijke. | |
NL7506921A (nl) | Inrichting voor het onderzoeken van van een aftas- ter afkomstige signalen. | |
NL7509891A (nl) | Inrichting voor het afschermen van een meerpolige lijnsteker. | |
NL7415767A (nl) | Inrichting voor het aansluiten van een verbin- dingsgeleider. | |
NL178348C (nl) | Inrichting voor het met elkaar verbinden van leidingen. | |
NL7513027A (nl) | Inrichting voor het onderzoeken van een telefoon- lijn. | |
NL7511296A (nl) | Stelsel voor het afstemmen van een ontvanger. | |
NL166131C (nl) | Inrichting voor het vormen van een beeld van een ver- lichte kruisdraad. | |
NL7500883A (nl) | Stelsel voor het beheren van een telecommuni- catiecentrale. | |
NL181900C (nl) | Inrichting voor het maken van een verschilbeeld. | |
NL160496C (nl) | Inrichting voor het filtreren van een gas. | |
NL165866C (nl) | Inrichting voor het bewaken van een object. | |
NL7413227A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het verwijderen van jesvormige verontreinigingen uit een flui- room. | |
NL7608904A (nl) | Digitale inrichting voor het vormen van een arpeggio. | |
NL178923C (nl) | Microsondestelsel voor het met een afbuigbare bundel van geladen deeltjes aftasten van een voorwerp. | |
NL7411454A (nl) | Inrichting voor het verdichten van een vezelvlies. | |
NL7415445A (nl) | Inrichting voor het vormen van een voorwerp. | |
NL7510708A (nl) | Inrichting voor het omzetten van signalen. | |
NL7507178A (nl) | Radarstelsel voor een onderzeeboot. | |
NL7414752A (nl) | Werkwijze voor het trekken van een strengvor- mig voorwerp. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
BB | A search report has been drawn up | ||
BC | A request for examination has been filed | ||
CNR | Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection) |
Free format text: WARNER LAMBERT TECHNOLOGIES, INC. |
|
CNR | Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection) |
Free format text: NANOMETRICS, INC. |
|
A85 | Still pending on 85-01-01 | ||
R1B | Notice of opposition during period of laying open | ||
NP1 | Patent granted (not automatically) | ||
V4 | Discontinued because of reaching the maximum lifetime of a patent |