KR980700575A - 주기발생장치 - Google Patents
주기발생장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR980700575A KR980700575A KR1019970703559A KR19970703559A KR980700575A KR 980700575 A KR980700575 A KR 980700575A KR 1019970703559 A KR1019970703559 A KR 1019970703559A KR 19970703559 A KR19970703559 A KR 19970703559A KR 980700575 A KR980700575 A KR 980700575A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- multiplexer
- terminal
- output
- input terminal
- stage
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318552—Clock circuits details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Saccharide Compounds (AREA)
Abstract
고속동작이 요구되는 주기발생장치를 CMOS 구조의 IC에서 실현하는 것을 가능하게 한다. 주기 데이터를 기억하는 주기 메모리의 전단 및 후단에 파이프라인으로서 동작하는 시프트레지스터를 각각 설치하여, 각 시프트레지스터를 구성하는 플립플롭의 각 전단에 전환 회로를 설치하고, 각 전환 회로를 주기 데이터와 기준 클록을 계수하는 카운터의 출력과의 일치를 검출하는 일치검출수단으로부터 일치신호가 출력되는 동안만, 각 플립플롭을 종속접속하여 그 트리거단자에 부여되는 기준 클록에 의해서 시프트동작을 실행하도록 전환제어한다. 이것에 의해서 각 시프트레지스터는 일치검출수단으로부터 일치신호가 출력되어 있지 않은 때에는 기억한 데이터를 유지하고, 또한, 일치신호를 출력되어 있는 때에는 기준 클록에 의해 확실하게 시프트동작을 실행한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 제1도에 도시한 실시예에 사용된 시프트레지스터의 상세한 구성을 가리키는 블럭도이다.
Claims (4)
- 소정의 주기의 주기신호를 패턴발생기에 공급하여, 이 패턴발생기로부터 피시험반도체디바이스에 부여되는 시험패턴신호의 주기를 결정함과 동시에, 상기 패턴발생기로부터 공급되는 타이밍 세트 데이터에 의해서 상기 주기신호의 주기가 규정되는 주기발생장치로서, 기준 클록을 계수하는 카운터와, 복수의 주기 데이터가 미리 격납되어 있고, 상기 패턴발생기로부터 출력되는 상기 타이민 세트 데이터가 어드레스 신호로서 부여되고, 이 어드레스 신호에 의해서 엑세스된 어드레스의 주기 데이트를 출력하는 주기 메모리와, 상기 카운터의 계수치와 상기 주기 메모리로부터 판독되는 주기 데이터를 비교하고, 이들 계수치와 주기 데이터의 일치를 검출했을 때에 일치신호를 출력하는 일치검출수단과, 상기 주기 메모리에 공급되는 상기 타이밍 세트 데이터를 기억한 복수단수의 레지스터를 가지고, 주기신호가 발생할 때마다 차례로 1단씩 타이밍 세트 데이터를 보진시키는 파이프라인를 구성하는 시프트레지스터를 구비한 주기발생장치에 있어서; 상기 시프트레지스터를 구성하는 복수의 레지스터의 각 전단에 각각 설정된 전환 수단과, 이들 전환 수단을, 상기 일치검출수단이 일치신호를 출력한 상태에서는 각 전환 수단의 전단의 레지스터에 기억되어 있는 타이밍 세트 데이터를 상기 기준 클록에 동기하여 다음단의 레지스터에 보내주는 상태로 전환하고, 상기 일치신호를 출력되어 있지 않은 상태에서는 상기 각 레지스터에 기억된 타이밍 세트 데이터를 상기 기준 클록에 동기하여 자기의 입력단자에 귀환시키는 상태로 전환되도록 제어하는 수단을 구비하고, 상기 일치신호를 출력되지 않은 상태에서는 상기 각 레지스터에 기억된 타이밍 세트 데이터를 유지하도록 구성한 것을 특징으로 하는 주기발생장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 시프트레지스터를 구성하는 복수의 레지스터는 각각 D형 플립플롭이고, 상기 각 전환회로는 2개의 입력단자와 1개의 제어단자를 가지는 멀티플렉서이고, 각 멀티플렉서는 그 제어단자에 상기 일치신호가 공급되지 않는 때에는 한편의 입력단자가 출력단자에 접속되고, 각 멀티플렉서의 제어단자에 상기 일치신호가 공급된 때에 다른쪽의 입력단자가 출력단자에 접속되도록 구성되어 있고, 각 플립플롭의 트리거단자에는 상기 기준 클록이 공급되어, 그 입력단자에 전단의 멀티플렉서의 출력단자가 접속되고, 그 출력단자가 전단의 멀티플렉서의 한편의 입력단자와 다음단의 멀티플렉서의 다른쪽의 입력단자에 접속되어, 초단의 멀티플렉서의다른쪽의 입력단자에 상기 타이밍 세트 데이터가 입력되고, 종단의 플립플롭의 출력단자로부터 타이밍 세트 데이터가 상기 주기 메모리에 출력되는 것을 특징으로 하는 주기발생장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 주기 메모리의 후단에, 상기 주기 메모리로부터 판독된 주기 데이터를 기억하는 복수단수의 레지스터를 가지고 있고, 판독된 주기 데이터를 차례로 1단씩 보진시키는 파이프라인을 구성하는 제2의 시프트레지스터를 설치하고, 이 시프트레지스터를 구성하는 각 레지스터의 전단에 각각 전환수단을 설치하고, 또한 각 전환수단을 상기 일치검출수단이 일치신호를 출력한 상태에서는 각 전환수단의 전단의 레지스터에 기억되어 있는 주기 데이터를 상기 기준 클록에 동기하여 다음단의 레지스타로 보내주는 상태로 전환하고, 또한 상기 일치신호가 출력되어 있지 않은 상태에서는 상기 각 레지스터에 기억된 주기 데이터를 상기 기준 클록에 동기하여 자기의 입력단자에 귀환하는 상태로 전환되도록 제어하는 수단을 설치하고,상기 일치신호가 출력되지 않는 상태에서는 상기 각 레지스터에 기억된 주기 데이터를 유지하도록 구성한 것을 특징으로 하는 주기발생장치.
- 제 3 항에 있어서, 상기 제2의 시프트레지스터를 구성하는 복수의 레지스터는 각각 D 형 플립플롭이고, 이들 레지스터의 전단에 각각 설치된 상기 각 전환회로는 2개의 입력단자와 1개의 출력단자와 1개의 제어단자를 가지고 있는 멀티플렉서이고, 각 멀티플렉서는 그 제어단자에 상기 일치신호가 공급되지 않는 때에는 한편의 입력단자가 출력단자에 접속되어, 각 멀티플렉서의 제어단자에 상기 일치신호가 공급된 때에 다른쪽의 입력단자가 출력단자에 접속되도록 구성되어 있고, 각 플립플롭의 트리거단자에는 상기 기준 클록이 공급되고, 그 입력단자에 전단의 멀티플렉서의 출력단자가 접속되고, 그 출력단자가 전단의 멀티플렉서의 한편의 입력단자와 다음단의 멀티플렉서의 다른쪽의 입력단자에 접속되어, 초단의 멀티플렉서의 다른쪽의 입력단자에 상기 주기 메모리로부터 판독된 주기 데이터가 입력되고, 종단의 플립플롭의 출력단자로부터 주기 데이터가 상기 일치검출수단에 출력되는 것을 특징으로 하는 주기발생장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25334995A JP3368572B2 (ja) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | 周期発生装置 |
JP95-253349 | 1995-09-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980700575A true KR980700575A (ko) | 1998-03-30 |
KR100236727B1 KR100236727B1 (ko) | 2000-01-15 |
Family
ID=17250098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970703559A KR100236727B1 (ko) | 1995-09-29 | 1996-09-27 | 주기발생장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5734662A (ko) |
JP (1) | JP3368572B2 (ko) |
KR (1) | KR100236727B1 (ko) |
TW (1) | TW305026B (ko) |
WO (1) | WO1997012255A1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5917834A (en) * | 1997-08-21 | 1999-06-29 | Credence Systems Corporation | Integrated circuit tester having multiple period generators |
DE10102871C2 (de) * | 2001-01-23 | 2003-03-06 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbauelement zum Anschluß an ein Testsystem sowie Testsystem mit dem Halbleiterbauelement |
US7623984B2 (en) | 2007-03-23 | 2009-11-24 | Advantest Corporation | Test apparatus and electronic device |
US8938370B2 (en) * | 2010-07-12 | 2015-01-20 | Advantest Corporation | Method and apparatus for complex time measurements |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6249272A (ja) * | 1985-08-28 | 1987-03-03 | Nec Corp | 順序回路用試験回路 |
JPH0498419A (ja) * | 1990-08-13 | 1992-03-31 | Nec Corp | パターン・メモリ駆動回路 |
JPH04109183A (ja) * | 1990-08-29 | 1992-04-10 | Fujitsu Ltd | 遅延試験方式 |
-
1995
- 1995-09-29 JP JP25334995A patent/JP3368572B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-09-27 WO PCT/JP1996/002825 patent/WO1997012255A1/ja active IP Right Grant
- 1996-09-27 US US08/849,145 patent/US5734662A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-27 KR KR1019970703559A patent/KR100236727B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-09-30 TW TW085111989A patent/TW305026B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1997012255A1 (fr) | 1997-04-03 |
TW305026B (ko) | 1997-05-11 |
US5734662A (en) | 1998-03-31 |
JP3368572B2 (ja) | 2003-01-20 |
JPH0996663A (ja) | 1997-04-08 |
KR100236727B1 (ko) | 2000-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960042083A (ko) | Ic 테스터의 타이밍 발생기 | |
KR960042730A (ko) | 반도체기억장치 | |
KR940016816A (ko) | 반도체 집적 회로 장치 | |
KR100238869B1 (ko) | 버스트 모드 신호를 제공하기 위한 반도체 메모리 장치 | |
KR980700575A (ko) | 주기발생장치 | |
KR100442967B1 (ko) | 반도체소자의파이프레지스터에따른딜레이보상파이프라인장치 | |
US6430198B1 (en) | Apparatus and method of reducing packet length count processing | |
KR940008248A (ko) | 리세트회로 | |
US3688200A (en) | Automatic clock pulse frequency switching system | |
KR0150125B1 (ko) | 데이타 처리를 위한 메모리의 지연 시간 가변 장치 | |
JPS62261084A (ja) | タイミング信号発生装置 | |
KR930006540A (ko) | 승산 회로의 부분 승수 선택 회로 | |
KR100220201B1 (ko) | 패턴 발생 회로 | |
JP2605275B2 (ja) | マイクロコンピユータ | |
KR960014956A (ko) | 바운더리 스캔 구조의 테스트 데이터 입력 장치 | |
SU494745A1 (ru) | Устройство дл синтеза многотактной схемы | |
SU922773A1 (ru) | Устройство дл функционального контрол больших интегральных схем | |
KR100206906B1 (ko) | 타이머/카운터 회로 | |
KR940008855B1 (ko) | 입력/출력디바이스의 액세스 타이밍 셋팅장치 | |
KR0123068B1 (ko) | 랜덤발생기 | |
SU1753475A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых устройств | |
RU1803912C (ru) | Суммирующее устройство | |
KR100266001B1 (ko) | 카운터 회로 | |
KR970000260B1 (ko) | 병렬입력 처리가 가능한 바운더리 스캔 구조 | |
SU1469505A1 (ru) | Устройство дл отладки программ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20090925 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |