KR970030566A - 반도체 장치를 위한 자동 테스터용 핸들러 접촉장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 자동 테스터용 핸들러 접촉장치에 관해 게시한다. 본 발명은 반도체 장치의 리드와 접촉하는 제1도전형막대 및 상기 제1도전형막대를 지지하는 제2도전형막대를 갖는 포고핀으로 구성되어 있다. 본 발명에 의하여 반도체 장치의 전기적 테스트의 수율을 향상시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 의한 포고핀(pogo pin)을 설명하기 위한 도면.
제6도는 반도체 장치의 리드와 포고핀모듈(module)에 장착된 포고핀이 접촉하기 전의 상태를 도시한 도면.
제7도는 반도체 장치의 리드와 포고핀모듈에 장착된 포고핀이 접촉한 상태를 도시한 도면.
Claims (7)
- 반도체 장치의 리드와 접촉하는 제1도전형막대; 및 상기 제1도전형막대를 지지하는 제2도전형막대가 결합된 포고핀을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1도전형막대와 제2도전형막대의 단면모양은 원형, 경사각형 또는 직사각형인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.
- 제1항에 있어서, 상기 반도체 장치는 SOJ형과 TSOP형의 패키지(packpage)인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1도전형막대의 굵기는 0.15∼0.95mm인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1도전형막대가 외부로 노출된 부분의 길이는 0.70∼3.50mm인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장지.
- 제1항에 있어서, 상기 반도체 장치를 전기적 테스트하는데 사용되는 소켓(socket)의 형태는 SOJ와 TSOP형태인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1도전형막대와 제1도전형막대는 모듈에 장착되어 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 자동 테스터용 핸들러 접촉장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950042622A KR970030566A (ko) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 반도체 장치를 위한 자동 테스터용 핸들러 접촉장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019950042622A KR970030566A (ko) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 반도체 장치를 위한 자동 테스터용 핸들러 접촉장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970030566A true KR970030566A (ko) | 1997-06-26 |
Family
ID=66588584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950042622A KR970030566A (ko) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 반도체 장치를 위한 자동 테스터용 핸들러 접촉장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970030566A (ko) |
-
1995
- 1995-11-21 KR KR1019950042622A patent/KR970030566A/ko not_active Application Discontinuation
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