KR960012901B1 - Pcb 기판 시험 시스템 - Google Patents
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Abstract
내용없음.
Description
제1도는 본 발명에 따른 블록도.
제2도는 본 발명에 따른 스티뮬러스의 상세 회로도.
제3도는 전류 측정부의 상세회로도.
제4도는 전압 측정부의 상세회로도.
제5도는 아날로그 / 디지탈 변환기의 상세 회로도.
제6도는 주파수 카운터의 상세 회로도.
제7도는 센서 시뮬레이션의 상세 회로도.
제8도는 파워 소오스의 상세 회로도.
제9도는 시그날 컨디션너의 상세 회로도.
제10도는 멀티 릴레이의 상세 회로도.
제11도는 ICT의 동작 상태를 설명하기 위한 블록도.
제12도는 FBT의 동작 상태를 설명하기 위한 블록도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
110 : 스티뮬러스 120 : 전류 측정부
130 : 전압측정부 140 : 아날로그 / 디지탈변환기
150 : 주파수 카운터 160 : 센서 시뮬레이션
170 : 파워 소오스 180 : 신호 컨디션너
190 : 멀티 릴레이부 200 : 퍼스날 컴퓨터
210 : 피측정용 PCB기판 20 : 기준 주파수 발생기
21 : 위상 비교기 22 : 로우 패스 필터
23 : 전압 제어 발생기24 : 프로그램어블 드라이버
25 : 직류 전압 발생기26 : 엠프
27: 엠프28 : 전압/전류 변환기
29 : 스위칭소자 31 : 전류/전압 변환기
32 : 엠프33 : 전파 정류 회로
34 : 아날로그 / 디지탈 변환기 41 : 엠프
42 : 전파 정류 회로43 : 아날로그 / 디지탈변환기
51 : 샘플링/지연부52 : 샘플링/지연부
53 : 연속 추정형 아날로그 / 디지탈 변환기
54 : 연속 추정형 아날로그 / 디지탈 변환기 61 : 앤드 게이트
62 : 카운터63 : 타이밍 신호 발생기
71-73 : 가변 레지스터 74-76 : 스위칭 소자
81 : 트랜스82 : 스위칭부
91 : 감쇠기92 : 엠프
93 : 스위칭 소자 94 : 밴드 패스 필터
95 : 스위칭 소자 RY : 릴레이
본 발명은 네일 픽스처를 이용한 PCB 기판 시험 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 PCB 기판을 동작시키지 않은 상태에서 각 부품의 특성을 측정하고 PCB 기판에 전원을 인가하여 입력조건에 대응하는 출력상태를 측정할 수 있도록 된 PCB 기판 검사 시스템에 관한 것이다.
경제적인 풍요와 함께 문화 생활을 즐기는 층이 증가하고 여유 시간을 중요시하는 사회적인 욕구에 따라 가전 제품의 기능도 함께 발전하여 가전제품의 종류와 기능이 다양화되고, 많은 수요자의 욕구를 충족시키기 위하여 대량생산체계를 갖추고 많은 양의 가전 제품을 생산할 수 있도록 하고 있다.
이같이 대량 생산 체계를 갖춘 공장에서는 가전제품의 규모가 조그마한 경우에는 가전제품을 완성하여 가전제품의 성능이나 기타 정상 동작 여부를 판정하게 되나 가전 제품의 규모가 큰 경우에는 가전제품을 일부 완성한 단계에서 가전제품의 성능이나 정상 동작 여부를 판정한다.
즉 규모가 간단한 가전 제품은 하나의 공정으로 가전제품이 완성되고 검사되어 제품으로 출하되지만 가전제품의 규모(내부 구성도 더불어 증가한다.)가 증가함에 따라 가전제품을 구성하는 부품을 PCB 기판별로 나누어 생산한 후 이를 결합하여 하나의 가전제품을 완성하기 때문에 각 PCB 기판을 생산하는 과정에서 1차 기능 및 동작검사가 이루어지고 제품이 완성된 후에 다시 제품을 전체적으로 검사하여 수요자가 보다 나은 제품을 구입 할 수 있도록 하고 있다.
이 때 PCB 기판상에 구성된 전자 소자들의 정상동작 여부를 확인하기 위해서는 미완성된 PCB 기판에는 리드선이 노출되어 있지 않기 때문에 다수의 전자 부품들이 구성된 PCB 기판의 이면에 형성된 납땜부위에 테스터기를 접촉시켜 일부 완성된 가전제품의 기능검사를 수행하는데 테스터기의 리드선을 납땜부위에 직접 접촉시켜야 하므로 검사시간이 길어지는 문제점이 있었다.
또한 PCB 기판상에 구성된 부품들의 개별적인 특성을 PCB 기판에 전원을 인가하지 않은 상태에서 측정해야 하며 PCB 기판에 구성된 부품들에 전원을 공급한 후 PCB 기판의 부품중 일부 혹은 전체의 동작상태를 확인해야 하는 번거로움이 있었다.
따라서 본 발병은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 네일 픽스춰를 이용한 PCB 기판 시험 시스템으로부터 PCB 기판에 전원을 공급 혹은 차단한 상태에서 PCB 기판의 개별부품 혹은 전체적인 특성이나 동작상태를 측정할 수 있도록 한 PCB 기판 시험 시스템을 제공함에 그 목적이 있다.
상기한 바와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명 PCB 기판 시험 시스템은 피측정용 PCB 기판에 구성된 부품을 개별 혹은 전체적으로 전원을 공급/차단하여 측정하는 것에 있어서, ICT(In Circuit Test : 피측정용 PCB 기판에 전원을 인가하지 않은 상태에서 피측정용 PCB기판에 구성된 부품에 소정의 전압 혹은 전류를 공급하여 각 부품개별단위로 특성을 측정하는 것을 말하며 이하 ICT라 말한다.) 측정시 교류/직류 전원의 정전압 또는 정전류를 발생하여 피측정용 PCB기판에 인가하는 스티뮬러스와, ICT측정시 피측정용 PCB기판에 구성된 각 부품에 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부와, ICT 측정시 피측정용 PCB기판에 구성된 각 부품에 걸리는 전압을 측정하는 전압 측정부와, FBT(Functional Board Test : 피측정용 PCB기판에 전원을 인가하여 동작시킨 상태에서 필요한 입력조건을 피측정용 PCB기판에 인가하면서 정상적인 출력이 나타나는가를 검사하는 것을 말하며, 이하 FBT라 말한다.) 측정시 피측정용 PCB기판의 각 노드점에서 검출되는 직류/교류전압, 리플 전압, 발광 다이오드의 온/오프 상태, 등을 샘플링(Sampling)하는 아날로그 / 디지탈 변환기와, FBT측정시 피측정용 PCB기판의 각 노드점의 주파수를 측정하는 주파수 카운터와, FBT 측정시 센서 및 스위치를 시뮬레이션하는 센서 시뮬레이션과, FBT 측정시 피측정용 PCB기판에 동작 전원을 공급하는 파워 소오스와, 입력신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호 컨디션너와, 피측정용 PCB기판의 필요한 노드점을 선택하는 멀티 릴레이부와, 상기 구성들의 전반적인 동작을 제어하며 측정된 각종 데이타를 퍼스날 컴퓨터를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 것이다.
이하 본 발명의 구성을 첨부된 예시도면과 함께 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 예시도면 제1도에서와 같이 완제품으로 미완성된 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품을 개별 혹은 전체적으로 전원을 공급/차단하여 부품의 특성이나 동작 상태를 측정하는 것에 있어서, ICT 측정시 교류/직류 전원을 강압하여 피측정용 PCB기판 (210)에서 필요로 하는 정전압 또는 정전류를 발생하여 피측정용 PCB기판 (210)에 인가하는 스티뮬러스(110)와, ICT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 각 부품에 흐르는 전류를 측정하는 전압 측정부(120)와, ICT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 각 부품에 걸리는 전압을 측정하는 전압 측정부(130)와, FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점에서 검출되는 직류/교류전압, 리플 전압, 발광 다이오드의 온/오프 상태등을 샘플링(Sampling)하는 아날로그 / 디지탈 변환기(140)와, FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점의 주파수를 측정하는 주파수 카운터(150)와, FBT 측정시 센서 및 스위치를 시뮬레이션하는 센서 시뮬레이션(160)과, FBT측정시 피측정용 PCB기판(210)에 동작 전원을 공급하는 파워 소오스(170)와, 입력신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호 컨디션너(180)와, 피측정용 PCB기판(210)의 필요한 노드점을 선택하는 멀티 릴레이부(190)와, 상기 구성들의 전반적인 동작을 제어하며 측정된 각종 데이타를 처리하는 퍼스날 컴퓨터(200)로 구성된다.
여기서 스티뮬러스(110)는 예시도면 제2도에서와 같이 기준 주파수 발생기(20)와, 위상비교기(21), 로우 패스 필터(22 : Low Pass Filter), 전압 제어 발진기(23)의 동작을 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 구동시켜 가변 교류 전원을 출력시키는 프로그램어블 드라이버(24)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 동작하여 일정 레벨의 직류, 전원을 발생시키는 직류 전원 발생기(25)와, 상기 직류 전원과 교류전원을 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 선택하는 스위칭 소자(29)와, 상기 선택된 직류 전원이 이득을 제어하여 일정 레벨의 정전압으로 출력하는 엠프(26)와, 상기 선택된 직류 전원의 이득을 제어하여 일정 레벨의 정전압으로 변환시킨후 이를 전류로 변환하여 출력하는 엠프(27) 및 전압/전류 변환기(28)로 구성된다.
ICT 측정시 전류을 측정하는 전류 측정부(120)는 예시도면 제3도에서와 같이, 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터 입력된 전류를 인가받아 전압으로 변환시키는 전류/전압 변환기(31)와, 상기 전류/전압 변환기(31)에서 변환된 전압값을 프로그램된 이득값에 따라 완충증폭시키는 엠프(32)와, 상기 엠프(32)에서 완충증폭된 전압값을 전파정류하는 전파정류회로(33)와, 상기 전파정류된 전압값을 다지탈값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)로 인가시키는 아날로그/ 디지탈 변환기(34)로 구성된다.
ICT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 각 부품에 걸리는 전압을 측정하는 전압 측정부(130)는 예시도면 제4도에서와 같이 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터의 입력된 전압을 인가받아 프로그램된 이득값에 따라 완충증폭시키는 엠프(41)와, 상기 엠프(41)에서 완충증폭된 전압값을 전파정류하는 전파정류회로(42)와, 상기 전파 정류된 전압값을 디지탈값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가시키는 아날로그/ 디지탈 변환기(43)로 구성된다.
FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점에서 검출되는 직류/교류전압, 리플 전압, 발광 다이오드의 온/오프 상태, 등을 샘플링(Samping)하는 아날로그/ 디지탈 변환기(140)는 예시도면 제5도에서와 같이 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터의 입력된 두 개의 입력신호를 선택적으로 샘플링 혹은 지연하는 샘플링/지연부(51)(52)와, 상기 샘플링/지연부(51)(52)에서 샘플링된 입력신호를 연속동작하여 디지탈값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가시키는 연속 추정형 아날로그/ 디지탈변환기(53)(54)로 구성된다.
FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점의 주파수를 측정하는 주파수 카운터(150)는 예시도면 제6도에서와 같이 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 동작하여 타이밍 신호를 발생하는 타이밍 신호 발생기(63)와, 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점으로부터 인가되는 파형과 상기 타이밍 신호 발생기(63)로부터 인가된 타이밍 신호를 조합하는 앤드 게이트(61)와, 상기 앤드 게이트(61)의 출력과 타이밍 신호 발생기(63)로부터 발생한 타이밍 신호를 카운팅하여 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가시키는 카운터(62)로 구성된다.
FBT측정시 센서 및 스위치를 시뮬레이션하는 센서 시뮬레이션(160)은 예시도면 제7도에서와 같이 일측단부가 피측정용 PCB기판(200)의 노드점중 센서가 연결되는 노드점에 연결되며 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 저항값이 변환되는 가변 레지스터(71)(72)(73)와 일측단부가 피측정용 PCB기판(200)의 노드점중 스위칭 소자가 연결되는 노드점에 연결되며 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하는 스위칭부(74)(75)(76)로 구성한다.
예시도면 제8도에서와 같이 일차측 코일에는 교류/직류 전원이 인가되고 이차측에서는 2,4,6,8볼트의 전압을 출력할 수 있도록 코일이 감겨진 트랜스(81)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하여 상기 트랜스(81)의 이차측 출력전압을 조합하여 피측정용 PCB기판(210)에 동작 전원으로 공급하는 스위칭부(82)로 FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 동작 전원을 공급하는 파워 소오스(170)를 구성한다.
입력신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호 컨디션너(180)는 예시도면 제9도에서와 같이 피측정용 PCB기판(210)으로부터 측정된 각 노드점간으로부터의 입력을 감쇠시키는 감쇠기(91)와, 피측정용 PCB기판(210)으로부터 측정된 각 노드점간으로부터의 입력을 프로그램된 이득값으로 증폭시키는 엠프(92)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 상기 감쇠기(91)와 엠프(92) 및 피측정용 PCB기판(210)으로부터의 입력을 선택하는 스위칭부(93)와, 상기 노이즈 성분을 제거하기 위하여 스위칭부(93)를 통한 출력을 밴드 패스시키는 밴드 패스 필터(94)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하여 상기 밴드 패스 필터(94)의 출력 혹은 스위칭부(93)의 출력을 선택하는 스위칭부(95)로 구성된다.
이와같이 구성된 본 발명의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.
생산라인에서 부분 완성된 PCB기판에 구성된 부품의 동작상태나 PCB 기판에 구성된 각부품간의 동작상태를 시험하기 위하여 다수의 네일 픽스춰가 형성된 PCB 기판 시험시스템에 시험하고자 하는 PCB 기판을 안착시키고 압압하면 PCB 기판의 이면에 형성된 각 노드점에 네일 픽스춰가 접속되게 한다.
이와 같이 PCB 기판의 이면에 형성된 각 노드점에 네일 픽스춰가 접속된 상태에서 퍼스날 컴퓨터(200)에 연결된 키보드를 조작하여 PCB 기판 시험시스템이 동작하여 PCB 기판에 형성된 각 부품에 대한 특성을 측정(ICT 측정)함과 아울러 PCB 기판에 형성된 부품 일부분 혹은 전체의 동작을 측정(FBT)하게 된다.
이를 PCB 기판에 동작 전원을 공급하지 않고 PCB 기판에 형성된 부품에 동작전원을 공급한 상태에서 부품의 특성을 측정하는 ICT측정과 PCB 기판에 동작 전원을 공급하고 PCB 기판에 형성된 부품의 일부 혹은 전체의 동작 상태를 측정하는 FBT 측정을 예시도면과 함께 설명한다.
ICT 측정은 예시도면 제11도에서와 같이 퍼스날 컴퓨터(200)에 형성된 키보드를 조작하여 ICT 측정 모드를 설정하면, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스티뮬러스(110)가 동작하여 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품에 정전압 혹은 정전류를 인가하고, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 멀티 릴레이(190)가 동작하여 피측정용 PCB기판(210)의 임의의 노드점과 네일 픽스춰의 네일이 접속되어 부품을 선택하며, 선택된 부품으로부터 출력된 신호는 컨디션너(180)를 통하여 전류 측정부(120)와, 전압 측정부(130)에서 전류/전압값으로 측정되어 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가함으로 퍼스날 컴퓨터(200)에서는 퍼스날 컴퓨터(200)내부에 저장된 기준값과 비교하여 부품 정상여부를 판정하게 된다.
즉 퍼스날 컴퓨터(200)를 동작시켜 ICT측정모드를 설정하면 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어신호가 인가된 프로그램어블 드라이버(24)의 제어로 기준주파수 발생기(20)와 위상비교기(21), 로우 패스필터(22), 전압제어 발진기(23)가 구동하여 일정레벨의 교류 전압이 스위칭 소자(29)의 일측단자에 인가되고, 직류전압발생기(25)에서 발생된 직류 전원이 피측정용 PCB기판(210)의 부품에서 필요한 레벨로 스위칭 소자(29)의 일측단자에 인가된다.
이와 같이 발생된 직류/ 교류전원은 현재 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품중 어떤 부품의 특성을 측정할 것인가를 퍼스날 컴퓨터(200)가 인지하여 스위칭 소자(29)의 절환 모드를 선택함으로 피측정용 PCB기판(210)의 부품에 스위칭 소자(29)를 통한 교류/ 직류 전원이 엠프(26)에서 정전압으로 이득이 제어되어 인가되어지나, 스위칭 소자(29)를 통한 직류/교류 전원이 엠프(27)와 전압/전류 변환기(28)를 통하여 일정레벨의 전류로서 피측정용 PCB기판(210)의 부품에 인가된다.
이때 피측정용 PCB기판(210)에 구성딘 부품중 임의의 부품에 동작전원을 인가하거나 부품의 특성을 측정하기 위하여 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 멀티 릴레이부(190)의 릴레이(RY)를 구동시켜 피측정용 PCB기판(210)의 이면에 형성된 노드점에 전원을 공급하거나 전류 측정부(120)와 전압 측정부(130)에 연결하게 된다. 전원을 인가받은 부품의 양단간에 걸린 직류 전원과 교류 전원은 멀티 릴레이부(190)의 선택으로 신호 컨디션너(180)의 감쇠기(91)나 엠프(92)를 거쳐 스위칭 소자(93)의 입력단에 인가되고 감쇠기(91)나 엠프(92)를 거치지 않고 바로 스위칭 소자(93)의 입력단에 인가되면 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품중 어떤 부품을 시험할 것인가를 판단하여 부품에서 출력되는 출력신호의 레벨에 따라 직접 혹은 증폭/감쇠시킨다.
출력레벨에 따라 레벨변환을 한 출력신호는 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 선택되어 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하는 스위치 소자(95)의 입력단에 인가되어 전류 측정부(120)나 전압 측정부(130)에 인가되는데, 이때 스위칭소자(93)를 통하여 출력되는 출력신호의 성분에 따라 출력신호에 노이즈 성분이 함유되어 있을때에는 밴드 패스 필터(94)를 거쳐서 스위칭 소자(95)의 입력단에 인가하고 노이즈 성분이 없는 경우에는 밴드 패스 필터(94)를 거치지 않고 직접 스위칭 소자(95)의 입력단에 인가한다.
신호 컨디션너(180)로부터 피측정용 PCB기판(210)의 부품특성신호가 인가된 전류 측정부(120)의 전류/전압 변환기(31)에서는 인가된 전류신호를 전압값으로 변환시켜 엠프(32)에서 프로그램된 이득값에 따라 증폭하여 전파 정류 회로(33)에 인가하고, 전파 정류 회로(33)에서 전파정류된 전압값은 아날로그/ 디지탈(34)에서 디지탈 값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가함으로 퍼스날 컴퓨터(200)에서 인가된 전압값을 기초로 전류값을 연산한 후 퍼스날 컴퓨터(200)내부에 저장된 현재 측정한 부품에 대한 정상적인 전류특성과 비교하여 부품특성을 판단하게 된다.
또한 신호 컨디션너(180)로부터 피측정용 PCB기판(210)의 부품특성신호가 인가된 전압 측정부(120)의 엠프(41)에서는 인가된 전압신호의 레벨을 프로그램된 이득값에 따라 증폭시켜 전파 전류 회로(42)로 전파 정류한 후 전파 정류 회로(42)에서 전파정류된 전압값은 아날로그/ 디지탈 변환기(34)에서 디지탈 값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가함으로 퍼스날 컴퓨터(200)에서 인가된 전압값을 퍼스날 컴퓨터(200)내부에 저장된 현재 측정한 부품에 대한 정상적인 전압특성과 비교하여 부품특성을 판단하게 된다.
FBT 측정은 예시도면 제12도에서와 같이 퍼스날 컴퓨터(200)에 형성된 키 보드를 조작하여 FBT 측정 모드를 설정하면, 퍼스날 컴퓨터(200)는 파워 소오스(170)의 스위칭부(82)를 조합동작시켜 피측정용 PCB기판(210)에서 필요한 레벨의 전원을 피측정용 PCB기판(210)의 전원 입력단에 공급한다.
또한 멀티 릴레이(190)를 통하여 피측정용 PCB기판(210)의 노드점에 연결된 센서 시뮬레이션(160)에서는 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 가변 레지스터(71)(72)(73)와 스위칭 소자(74)(75)(76)가 동작하여 피측정 PCB기판(210)에 형성된 노드점에 연결되는 센서나 스위칭 소자의 역할을 대신하여 레지스터값을 아울러 스위칭 동작을 수행하게 된다.
이와 같이 파워 소오스(170)로부터 인가된 동작전원으로 동작된 피측정 PCB기판(210)에 구성된 다수의 소자들로부터 출력된 출력신호는 ICT 측정시와 동일하게 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 멀티 릴레이(190)와 신호 컨디션너(180)에서 처리되어 아날로그/ 디지탈 변환기(140)와 주파수 카운터(150)에 인가된다.
신호 컨디션너(180)의 스위칭 소자(95)로부터 피측정용 PCB기판(210)의 부품특성신호가 인가된 아날로그/ 디지탈 변환기(140)의 샘플링/지연부(51)(52)에서는 인가된 출력을 샘플링하여 연속 추정형 아날로그/ 디지탈 변환기(54)에서 디지탈값으로 변환하여 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가한다.
따라서 퍼스날 컴퓨터(200)에서는 퍼스날 컴퓨터(200)에 내부에 저장중인 정상상태에서의 출력특성을 나타낸 값과 측정된 출력특성값을 비교하여 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품들의 정상동작 여부를 판정하게 된다.
신호 컨디션너(180)의 스위칭 소자(95)로부터 피측정 PCB기판(210)의 부품특성신호가 인가된 주파수 카운터(150)의 앤드 게이트(61)에서는 인가된 출력 신호를 타이밍 신호 발생기(63)로부터 발생한 타이밍 신호와 조합하여 카운터(62)에 인가하면 카운터(62)에서는 인가된 앤드 게이트(61)의 출력을 타이밍 신호 발생기(63)로부터 인가되는 타이밍 신호를 기초로 카운팅하여 퍼스날 컴퓨터(200)로 출력한다.
따라서, 퍼스날 컴퓨터(200)에서는 퍼스날 컴퓨터(200)에 내부에 저장중인 정상상태에서의 출력특성을 나타내는 카운팅값과 측정된 출력특성의 카운팅값을 비교하여 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품들의 정상동작 여부를 판정하게 된다.
상술한 바와 같이 본 발명은 퍼스날 컴퓨터의 제어로 ICT 측정시에는 교류/직류 전원의 정전압 또는 정전류를 발생하여 피측정용 PCB기판에 인가하는 스티뮬러스와, 측정시 피측정용 PCB기판에 구성된 각 부품에 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부와, 피측정용 PCB기판에 구성된 각 부품에 걸리는 전압을 측정하는 전압 측정부와, 입력신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호컨디션너와, 피측정용 PCB기판의 필요한 노드점을 선택하는 멀티 릴레이를 동작시켜 피측정용 PCB기판에 구성된 부품 각개의 특성을 검사하고, FBT 측정시에는 피측정용 PCB기판에 동작 전원을 공급하는 파워 소오스와, 센서 및 스위치를 시뮬레이션하는 센서 시뮬레이션과, 피측정용 PCB기판의 각 노드점에서 검출되는 직류/교류전압, 리플 전압, 발광 다이오드의 온/오프상태등을 샘플링(Sampling)하는 아날로그/ 디지탈 변환기와, 피측정용 PCB기판의 각 노드점의 주파수를 측정하는 주파수카운터와, 입력신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호컨디션너와, 피측정용 PCB기판의 필요한 노드점을 선택한 멀티릴레이를 동작시켜 피측정용 PCB기판에 구성된 부품중 일부 혹은 전체의 동작상태를 시험할 수 있게 되는 것이다.
Claims (10)
- 완제품으로 미완성된 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 부품을 개별 혹은 전체적으로 전원을 공급/차단하여 부품의 특성이나 동작 상태를 측정하는 것에 있어서, ICT측정시 교류/직류 전원을 강압하여 피측정용 PCB기판(210)에서 필요로 하는 정전압 또는 정전류를 발생하여 피측정용 PCB기판(210)에 인가하는 스티뮬러스(110)와, ICT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 각 부품에 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부(120)와, ICT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 구성된 각 부품에 걸리는 전압을 측정하는 전압 측정부(130)와, FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점에서 검출되는 직류/교류전압, 리플 전압, 발광 다이오드의 온/오프 상태, 등을 샘플링(Sampling)하는 아날로그/ 디지탈 변환기(140)와, FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점의 주파수를 측정하는 주파수 카운터(150)와, FBT 측정시 센서 및 스위치를 시뮬레이션하는 센서 시뮬레이션(160)과, FBT 측정시 피측정용 PCB기판(210)에 동작 전원을 공급하는 파워 소오스(170)와, 입력 신호의 감쇠 및 필터링 등을 조작하는 신호 컨디션너(180)와, 피측정용 PCB기판(210)의 필요한 노드점을 선택하는 멀티 릴레이부 (190)와, 상기 구성들의 전반적인 동작을 제어하며 측정된 각종 데이타를 처리하는 퍼스날 컴퓨터 (200)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 스티뮬러스 (110)는 기준 주파수 발생기(20)와, 위상비교기(21), 로우 패스 필터(22 ; Low Pass Filter)와, 전압 제어 발진기(23)의 동작을 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 구동시켜 가변 교류 전원을 출력시키는 프로그램어블 드라이버(24)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 동작하여 일정레벨의 직류 전원을 발생시키는 직류 전원 발생기(25)와 상기 직류 전원과 교류전원을 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 선택하는 스위칭 소자(29)와, 상기 선택된 직류 전원의 이득을 제어하여 일정 레벨의 정전압으로 출력하는 엠프(26)와, 상기 선택된 직류 전원의 이득을 제어하여 일정 레벨의 정전압으로 변환시킨 후 이를 전류로 변환하여 출력하는 엠프(27) 및 전압/전류 변환기(28)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 전류 측정부(120)는 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터의 입력된 전류를 인가받아 전압으로 변환시키는 전류/전압 변환기(31)와, 상기 전류/전압 변환기(31)에서 변환된 전압값을 프로그램된 이득값에 따라 완충증폭시키는 엠프(32)와, 상기 엠프(32)에서 완충증폭된 전압값을 전파정류하는 전파 정류 회로(33)와, 상기 전파정류된 전압값을 디지탈값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)로 인가시키는 아날로그/ 디지탈 변환기(34)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 전압 측정부(130)는 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터의 입력된 전압을 인가받아 프로그램된 이득값에 따라 완충증폭시키는 엠프(41)와, 상기 엠프(41)에서 완충증폭된 전압값을 전파정류하는 전파정류회로(42)와, 상기 전파 정류된 전압값을 디지탈값으로 변환시켜 컴퓨터(200)에 인가시키는 아날로그/ 디지탈 변환기(43)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 아날로그/ 디지탈 변환기(140)는 피측정용 PCB기판(210)의 노드점으로부터의 입력된 두개의 입력신호를 선택적으로 샘플링 혹은 지연하는 샘플링/지연부(51)(52)와, 상기 샘플링/지연부(51)(52)에서 샘플링된 입력신호를 연속동작하여 디지탈값으로 변환시켜 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가시키는 연속 추정형 아날로그/ 디지탈 변환기(53)(54)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 주파수 카운터(150)는 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 동작하여 타이밍 신호를 발생하는 타이밍 신호 발생기(63)와, 피측정용 PCB기판(210)의 각 노드점으로부터 인가되는 파형과 상기 타이밍 신호 발생기(63)로 부터 인가된 타이밍 신호를 조합하는 앤드 게이트(61)와, 상기 앤드 게이트(61)의 출력과 타이밍 신호 발생기(63)로 부터 발생한 타이밍 신호를 카운팅하여 퍼스날 컴퓨터(200)에 인가시키는 카운터(62)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 센서 시뮬레이션(160)은 일측단부가 피측정용 PCB기판(200)의 노드점중 센서가 연결되는 연결되며 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 저항값에 변환되는 가변 레지스터(71)(72)(73)와, 일측단부가 피측정용 PCB기판(200)의 노드점중 스위칭 소자가 연결되는 노드점에 연결되며 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하는 스위칭부(74)(75)(76)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 파워 소오스(170)은 일차측 코일에는 교류/직류 전원이 인가되고 이차측에서는 2,4,6,8볼트의 전압을 출력할 수 있도록 코일이 감겨진 트랜스(81)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하여 상기 트랜스(81)의 이차측 출력전압을 조합하여 피측정용 PCB기판(210)에 동작 전원으로 공급하는 스위칭부(82)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 신호 컨디션너(180)는 피측정용 PCB기판(210)으로부터 측정된 각 노드점간으로부터의 입력을 감쇠시키는 감쇠기(91)와, 피측정용 PCB기판(210)으로부터 측정된 각 노드점간으로부터의 입력을 프로그램된 이득값으로 증폭시키는 엠프(92)와 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 상기 감쇠기(91)와 엠프(92) 및 피측정용 PCB기판(210)으로부터의 입력을 선택하는 스위칭부(93)와, 상기 노이즈 성분을 제거하기 위하여 스위칭부(93)를 통한 출력을 밴드 패스시키는 밴드 패스 필터(94)와, 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 스위칭 동작하여 상기 밴드 패스 필터(94)의 출력 혹은 스위칭부(93)의 출력을 선택하는 스위칭부(95)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
- 제1항에 있어서, 피측정용 PCB기판(210)의 필요한 노드점을 선택하는 멀티릴레이부(190)는 퍼스날 컴퓨터(200)의 제어로 구동하여 피측정용 PCB기판(210)의 노드점을 선택하는 릴레이(RY)를 포함하여 구성되어짐을 특징으로 하는 PCB 기판 시험 시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940017632A KR960012901B1 (ko) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | Pcb 기판 시험 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940017632A KR960012901B1 (ko) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | Pcb 기판 시험 시스템 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR960012901B1 true KR960012901B1 (ko) | 1996-09-25 |
Family
ID=19388489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019940017632A KR960012901B1 (ko) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | Pcb 기판 시험 시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR960012901B1 (ko) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100815244B1 (ko) * | 2006-09-13 | 2008-03-19 | 한국과학기술원 | 스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한측정 방법 |
| CN109116217A (zh) * | 2018-08-28 | 2019-01-01 | 惠州市金田科技有限公司 | 一种变频器pcba板测试*** |
| CN115328073A (zh) * | 2022-06-30 | 2022-11-11 | 中国第一汽车股份有限公司 | 电驱***检测保护***、电驱***检测保护方法、处理器 |
-
1994
- 1994-07-21 KR KR1019940017632A patent/KR960012901B1/ko not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100815244B1 (ko) * | 2006-09-13 | 2008-03-19 | 한국과학기술원 | 스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한측정 방법 |
| CN109116217A (zh) * | 2018-08-28 | 2019-01-01 | 惠州市金田科技有限公司 | 一种变频器pcba板测试*** |
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