KR960009898Y1 - 테스트장비의 검사장치 - Google Patents

테스트장비의 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960009898Y1
KR960009898Y1 KR2019940023814U KR19940023814U KR960009898Y1 KR 960009898 Y1 KR960009898 Y1 KR 960009898Y1 KR 2019940023814 U KR2019940023814 U KR 2019940023814U KR 19940023814 U KR19940023814 U KR 19940023814U KR 960009898 Y1 KR960009898 Y1 KR 960009898Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test equipment
switch
test
check
equipment
Prior art date
Application number
KR2019940023814U
Other languages
English (en)
Other versions
KR960011968U (ko
Inventor
윤희용
Original Assignee
금성일렉트론 주식회사
문정환
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 금성일렉트론 주식회사, 문정환 filed Critical 금성일렉트론 주식회사
Priority to KR2019940023814U priority Critical patent/KR960009898Y1/ko
Publication of KR960011968U publication Critical patent/KR960011968U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960009898Y1 publication Critical patent/KR960009898Y1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31901Analysis of tester Performance; Tester characterization

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

테스트 장비의 검사장치
제1도는 종래의 테스트장비의 검사장치 구성도.
제2도는 본 고안의 테스트장비의 검사장치 구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11 : 제1인버터 12 : 제2인버터
본 고안은 테스트장비의 검사장치에 관한 것으로 특히, 테스타장비의 모든 테스트 채널(Test channel)을 검사하고 테스트장비의 종류와는 상관없이 사용하기에 적당하도록 한 테스트장비의 검사장치에 관한 것이다.
첨부된 제1도를 참조하여 종래의 테스트장비의 검사장치를 설명하면 다음과 같다.
제1도는 종래의 테스트장비의 검사장치의 구성도를 나타내었다.
도시된 바와 같이 종래의 테스트장비의 검사장비는 반도체 소자를 검사하기 위한 종래의 주요 부분인 테스트시스템(1)과, 각종 신호선과 파워를 각소자에 인가하는 테스트 핀으로 이루어진 테스트 헤드(2)의 검사할 소자를 상기 테스틀 헤드(2)에 연결시키는 피시비(PCB : Printrd Circuit Board)(3)와 표준 양품으로써 테스트장비의 이상 유무를 체크하는 테스트 장비의 검사장치(4)로 이루어진다.
그리고, 상기 구성에 따른 종래의 동작설명은 장비의 이상 유무를 검사하기 위하여 테스트장비의 검사장치를 PCB (3)에 장착하고 검사를 수행하여 검사결과에 따라 양품인지를 확인하다.
그러나, 상술한 종래의 테스트장비의 검사장치는 검사장치 핀수의 제약으로 테스트 장비의 모든 테스트 채널을 검사할 수 없고 검사장치의 핀이 입. 출력핀으로 각각 구분되어 체크 효율이 떨어지며 수명이 짧고 호환성이 낮아 여러 테스트 장비에 적용하기가 어려운 문제점이 있었다.
본 고안은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로 검사장치 핀수의 제약이 없고 핀 하나로 입. 출력을 함께 사용함으로써 테스트장비의 모든 테스트 채널을 검사하며 체크 효율의 향상과 호환성이 높은 테스트장비의 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 테스트 장비의 검사장치는 정방향과 역방향으로 신호를 인버팅할 수 있도록 제1인버터와 제2인버터가 병렬 연결되어 테스트장비의 입.출력단자에 연결되는 양방향 버스와, 상기 양방향버스의 일측단에서 테스트 장비의 기능 체크 모드 또는 전압전류체크모드를 선택하기 위한 제1스위치와, 상기 제1스위치가 전압전류체크모드를 선택할때 체크하고자 하는 전압 또는 전류를 선택하는 제2스위치와, 상기 제1스위치가 테스트 장비의 기능체크모드를 선택할때 체크방향으로 정방향 또는 역방향을 선택하기 위한 제3스위치를 구비하여 이루어진 회로시스템이 복수개 구성됨을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 고안의 테스트장비의 검사장치를 설명하면 다음과 같다.
제2도는 본 고안의 테스트 장비의 검사장치 구성도를 나타내었다.
도시된 바와같이 본 고안의 테스트장비의 검사장치의 구성은 병렬 연결되고 정 또는 역방향으로 신호를 인버팅하는 제1, 2인버터(11,12)와 테스트장비의 입. 출려단자로 사용되는 An과 Bn(n=1,2,3,…∞) 그리고, 각각 스위칭 역할을 하는 제1,2,3스위치로 구성된 시스템이 복수개로 이루어져 있으며 상기 구성에 따른 동작으로써, 제1스위치(SW1)을 a쪽으로 온(on)시켰을때는 An과 bn(n=1,2,3,…∞) 은 테스트 장비의 기능체크를 위한 입. 출력단자로 사용되며 PCB에 장착되어 테스트 장비 기능의 이상유무를 체크하며 제1스위치(SW1)을 b쪽으로 온(on)시켰을때는 An(n=1,2,3,…∞)을 이용하여 전류와 전압을 각각 체크한다.
우선, 상기 제1스위치(SW1)을 a쪽으로 온(on)시켰을 경우에는 첫째, 제3스위치(SW3)의 온/오프 작동에 의해 An과 Bn의 입. 출력단자가 달라지는데, 제3스위치(SW3)의 상태가 온(on)이며 로우(Low)신호가 인가되어 제1인버터(11)가 작동한다.
그래서, An이 입력단자로 사용되고 Bn은 출력단자로 사용된다.
그리고 반대로 제3스위치 상태가 오프(off)이면 하이(High)신호가 인가되어 제2인버터(12)가 작동함으로써 Bn이 입력단자로, An이 출력단자로 각각 사용되며, 테스트 장비의 모든 테스트 채널을 입력핀, 또는 출력핀으로 셋팅(setting)하여 테스트장비의 이상유무를 검사할 수가 있다.
둘째, 제1스위치(SW1)를 b쪽으로 on시켰을때는 제2스위치 on작동에 의해서 c의 전압()을 측정하고, 제2스위치(SW2)의 off에 의해 An의 전류()를 측정함으로써 테스트 장비의 이상유무를 검사할 수 있다.
이와 같이 상술한 본 고안의 테스트장비의 검사장치는 핀수의 제약이 없으므로 테스트장비의 모든 테스트 채널을 검사할 수 있고 제작의 용이함과 테스트장비의 종류의 상관없이 사용하며 수명이 반영구적이고 수리교체가 용이한 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 정방향과 역방향으로 신호를 인벼팅할 수 있도록 제1인버터와 제2인버터가 병렬 연결되어 테스트장비의 입. 출력단자에 연결되는 양방향버스와, 상기 양방향버스의 일측단에서 테스트장비의 가능체크모드 또는 전압전류체크모드를 선택하기 위한 제1스위치와, 상기 제1스위치가 전압전류체크모드를 선택할때 체크하고자 하는 전압 또는 전류를 선택하는 제2스위치와, 상기 제1스위치가 테스트장비의 가능체크모드를 선택할때 체크방향으로 정방향 또는 역방향을 선택하기 위한 제3스위치를 구비하여 이루어진 회로시스템이 복수개 구성됨을 특징으로 하는 테스트장비의 검사장치.
KR2019940023814U 1994-09-14 1994-09-14 테스트장비의 검사장치 KR960009898Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019940023814U KR960009898Y1 (ko) 1994-09-14 1994-09-14 테스트장비의 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019940023814U KR960009898Y1 (ko) 1994-09-14 1994-09-14 테스트장비의 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960011968U KR960011968U (ko) 1996-04-15
KR960009898Y1 true KR960009898Y1 (ko) 1996-11-18

Family

ID=19393205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019940023814U KR960009898Y1 (ko) 1994-09-14 1994-09-14 테스트장비의 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960009898Y1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR960011968U (ko) 1996-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970062714A (ko) 처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템
US3617879A (en) Apparatus for automatically indicating whether or not a test joint in a circuit is above or below a predetermined reference potential
KR870003393A (ko) 반도체 시험장치
KR100216116B1 (ko) 반도체 시험장치의 핀 시험회로
KR960009898Y1 (ko) 테스트장비의 검사장치
US7026822B1 (en) High voltage switching matrix for electrical safety compliance test equipment
US3922507A (en) Distributing terminal assembly test apparatus
KR20010018451A (ko) 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하기 위한 시스템
US3795857A (en) Electrical connector testing apparatus having a plurality of and gates
JPH0954143A (ja) 半導体試験装置における並列接続する電圧発生器及びコンタクト試験方法
KR100251802B1 (ko) 케이블 검사장치
SU1397854A1 (ru) Устройство дл контрол электрических цепей кабелей и жгутов
SU1749855A2 (ru) Устройство дл контрол монтажа
KR970007073Y1 (ko) 기억소자 검사회로
KR960016136B1 (ko) 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로.
KR20230064900A (ko) 브레이크 아웃 박스
KR950012292B1 (ko) 피시비 검사용 신호 입력장치
SU1734054A1 (ru) Устройство дл контрол соединений многослойных печатных плат
KR100215837B1 (ko) 핀 일렉트로닉스
ATE70639T1 (de) Logische schaltung mit verbesserter testmoeglichkeit fuer defekte durchgangskontakte.
KR0173260B1 (ko) 측정신호 전환기능을 구비한 부품검사장치 및 그 제어방법
KR200149564Y1 (ko) 전자제어장치 체크 치구
ATE238560T1 (de) Leiterplattenprüfvorrichtung
SU1510112A1 (ru) Устройство дл контрол печатных плат
KR200268645Y1 (ko) 온도 전송기의 점검 확장 카드

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20051021

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee