KR930702085A - Electronics test processor - Google Patents

Electronics test processor

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KR930702085A
KR930702085A KR1019930700871A KR930700871A KR930702085A KR 930702085 A KR930702085 A KR 930702085A KR 1019930700871 A KR1019930700871 A KR 1019930700871A KR 930700871 A KR930700871 A KR 930700871A KR 930702085 A KR930702085 A KR 930702085A
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트위그 레이지.
브이. 호커스 말콤
산티노 마론
더블유. 크러그 마크
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레이몬드 지. 트위그
심-테크 시스템즈 인코포레이티드
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Abstract

본 발명은 선택된 온도에서 장치를 테스트하기 위한 일체로된 조건 제어를 가진 전자 장치 테스트 처리기에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic device test processor with integrated condition control for testing a device at a selected temperature.

전자 장치에 시험용 테스터를 제공하기 위한 장치는 전자 장치의 세트를 각각 운반하기 위한 복수의 캐리어와, 적재 단계와, 예비-테스트 챔버와 포스트-테스트 챔버와 하역 단계와, 캐리어가 적재 단계에 있을 때 각각의 캐리어로부터 전자 장치의 세트를 적재하기 위한 수단과, 캐리어가 하역 단계에 있을 때 각각의 캐리어로부터 전자 장치의 세트를 하역하기 위한 수단 및, 캐리어가 테스트 단계에 있을 때 캐리어에 의하여 운반된 전기 장치 세트와 테스트 사이에서 전기적인 접촉을 제공하는 수단을 포함한다.A device for providing a test tester for an electronic device includes a plurality of carriers for carrying each set of electronic devices, a loading step, a pre-test chamber and a post-test chamber and an unloading step, and when the carrier is in the loading step. Means for loading the set of electronic devices from each carrier, means for unloading the set of electronic devices from each carrier when the carrier is in the unloading stage, and electricity carried by the carrier when the carrier is in the testing phase. Means for providing an electrical contact between the set of devices and the test.

Description

전자장치 테스트 처리기Electronics test processor

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음Since this is an open matter, no full text was included.

제1도는 기계를 통과하는 캐리어 유닛의 경로 및 운동을 도시한 사시도, 제2도는 트레이 형태의 하나의 주캐리어와 삽입부로써의 통상의 제2캐리어를 도시하는 사시도, 제3도는 전자 장치의 안착 및 제거 및 캐리어 유닛의 향상된 매카니즘의 정면도.1 is a perspective view showing the path and movement of the carrier unit through the machine, FIG. 2 is a perspective view showing one main carrier in the form of a tray and a conventional second carrier as an insert, and FIG. 3 is a seating of the electronic device. And front view of the removal and improved mechanism of the carrier unit.

Claims (15)

전자 장치를 시험용 테스터에 제공하기 위한 장치에 있어서, 전자 장치의 세트를 각각 운반하기 위한 복수의 캐리어와, 적재 스테이지와, 예비-테스트 챔버와, 테스트 스테이지와, 포스트-테스트 챔버와, 하역 스테이지와, 캐리어가 적재 스테이지에 있을 때 각각의 캐리어에 전자 장치의 세트를 적재하기 위한 수단과, 캐리어가 하역 스테이지에 있을 때 각각의 캐리어로 부터 전자 장치의 세트를 하역하기 위한 수단과, 캐리어가 테스트 스테이지에 있을 때 캐리어에 의하여 운반된 전자 장치 세트와 테스트 사이에서 전기적인 접촉을 제공하는 수단 및, 폐쇄된 루프내의 복수의 캐리어를, 적재 스테이지로 부터 예비-테스트 챔버를 통하여, 예비-테스트 챔버로부터 테스트 스테이지로, 테스트 스테이지로부터 포스트-테스트 챔버로, 포스트-테스트 챔버로부터 하역 스테이지로, 하역 스테이지로부터 적재 스테이지로 원통형으로 이송하는 수단을 포함하며, 상기 각각의 장치 캐리어는 적재 스테이지에서 전기 장치의 세트가 그 위에 충분히 적재시킬 수 있도록 정지되며, 상기 각각의 캐리어는 테스트 스테이지에서 캐리어에 의해 수용된 전기 장치의 세트상에서 희망의 테스트가 실행되도록 정지되며, 상기 각각의 장치는 하역 스테이지에서 전기 장치의 하역이 충분히 이루어지도록 정지되는 것을 특징으로 하는 장치.An apparatus for providing an electronic device to a test tester, the apparatus comprising: a plurality of carriers, each for carrying a set of electronic devices, a loading stage, a pre-test chamber, a test stage, a post-test chamber, an unloading stage, Means for loading a set of electronic devices into each carrier when the carrier is in the loading stage, means for unloading a set of electronic devices from each carrier when the carrier is in the unloading stage, and the carrier being a test stage Means for providing an electrical contact between the test and the set of electronics carried by the carrier when in the test, and testing the plurality of carriers in the closed loop from the pre-test chamber, from the loading stage through the pre-test chamber From the test stage to the post-test chamber, post-test chamber Means for conveying cylindrically from the unloading stage to the loading stage, each of the device carriers stopped at the loading stage to allow a set of electrical devices to be fully loaded thereon, each of the carriers being tested And stop the desired test on the set of electrical devices received by the carrier at the stage, wherein each of the devices is stopped enough to unload the electrical device at the unloading stage. 제1항에 있어서, 상기 캐리어는 주 캐리어의 다수의 부 캐리어를 부가로 포함하며, 각각의 주 캐리어는 부 캐리어의 세트를 수용하며, 각각의 부 캐리어는 전기 장치의 세트를 수용하며, 전기 장치의 세트를 적재하기 위한 수단은 적재 스테이지에서 상기 세트를 주 캐리어의 부 캐리어의 세트상에 적재하도록 작동되며, 전기 장치의 세트를 하역하기 위한 수단을 하역 스테이지에서 전기 장치의 세트를 주 캐리어의 부 캐리어의 세트로부터 하역시키도록 작동되는 것을 특징으로 하는 장치.The apparatus of claim 1, wherein the carrier further comprises a plurality of secondary carriers of the primary carrier, each primary carrier receiving a set of secondary carriers, each secondary carrier receiving a set of electrical devices, and The means for loading the set of operators is operative to load the set on a set of secondary carriers of the main carrier at the loading stage, and the means for unloading a set of electrical devices are carried out at the loading stage. And actuate to unload from the set of carriers. 제2항에 있어서, 각각의 제2 캐리어는 그 주 캐리어에 의해 형성된 시트 배치되어 중력에 의해 유지되며, 테스터와 전자 세트 사이에 전기 접촉을 제공하는 수단은 테스트 위치사이에 배치된 하향으로 접하는 컨텍터를 갖는 테스트 헤드와, 테스트 위치에서 주 캐리어의 제2 캐리어의 세트를, 제2 캐리어 세트에 의해 운반된 전자 장치의 리드가 테스트 헤드 컨텍터와 전기적으로 통하는 포인트까지 이동시키기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.3. The second carrier of claim 2, wherein each second carrier is disposed by a sheet formed by its primary carrier and maintained by gravity, and means for providing electrical contact between the tester and the electronic set is a downwardly contacting contact disposed between the test locations. And a means for moving a test head having a tester and a second set of carriers of the primary carrier at the test position to a point at which the leads of the electronic device carried by the second set of carriers are in electrical communication with the test head contactor. Device characterized in that. 제3항에 있어서, 각각의 제2 캐리어 시트의 베이스에서 주 캐리어에 의해 한정된 통과구를 또한 포함하며, 상기 이동 수단은 통과구상에 위치한 제2 캐리어를 그 시트로부터, 상승된 제2 캐리어에 의해 운반된 전자 장치 세트의 리드가 테스트 헤드 컨텍터와 전기적으로 통하는 포인트까지 작동하게 하는 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.4. The apparatus of claim 3, further comprising a passageway defined by the primary carrier at the base of each second carrier sheet, wherein the means for moving comprises a second carrier located on the passageway by the raised second carrier from the sheet. And means for causing the leads of the set of conveyed electronics to work to a point in electrical communication with the test head contactor. 제1항에 있어서, 상기 예비 테스트 챔버는 입구 및 출구를 이루고, 캐리어를 수용하기 위하여 다수개의 시트를 그안에 갖는 상승 컨베이어와, 캐리어를 적재 스테이지로부터 입구를 통해 상승 컨베이어의 하부 시트상으로 이동시키기 위한 수단과, 출구를 향해 상부로 시트를 크게 이동시키기 위한 수단과, 캐리어를 상승 컨베이어의 상부 시트로부터 제거하고 이것을 출구를 통해 예비 테스트 챔버로부터 제거하기 위한 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.2. The preliminary test chamber of claim 1, wherein the preliminary test chamber forms an inlet and an outlet, and moves a lift conveyor having a plurality of sheets therein to receive a carrier, and moves the carrier from the loading stage through the inlet onto the lower seat of the lift conveyor. And means for largely moving the sheet upwards towards the outlet, and means for removing the carrier from the upper sheet of the lift conveyor and removing it from the preliminary test chamber through the outlet. 제1항에 있어서, 상기 포스트 테스트 챔버는 입구 및 출구를 형성하고 캐리어를 유지하기 위해 다수개의 시트를 그 안에 갖는 하강 컨베이어와, 캐리어를 입구를 통해 하강 컨베이어의 상부 시트상으로 삽입하기 위한 수단과, 출구를 향해 상부로 시트를 크게 이동시키기 위한 수단과, 캐리어를 하강 컨베이어의 하부 시트로부터 제거하고 이것을 포스트 테스트 챔버로부터 입구를 통해 비적재 상태상으로 제거하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.The post test chamber of claim 1, wherein the post test chamber comprises a lowering conveyor having a plurality of sheets therein for forming an inlet and an outlet and for retaining a carrier, and means for inserting the carrier through the inlet onto the upper sheet of the lowering conveyor; Means for moving the sheet largely upwards towards the exit, and means for removing the carrier from the lower sheet of the lowering conveyor and removing it from the post test chamber through the inlet unloaded. . 제1항에 있어서, 캐리어가 적재 스테이지에 있을 때 한 세트의 전자 장치를 각 캐리어상에 적재시키기 위한 수단은, 적재 스테이지와 전자 장치의 소오스 사이에서 왕복 운동하는 적재 헤드와 상기 전자 장치의 소오스에서 하나 이상의 개별 전자 장치를 골라서 적재 스테이지에서 전자 장치를 캐리어상으로 방출하기 위한 적재 헤드에 고정된 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.The device of claim 1, wherein the means for loading a set of electronic devices on each carrier when the carrier is in the loading stage comprises a loading head that reciprocates between the loading stage and the source of the electronic device and the source of the electronic device. And means secured to the loading head for picking one or more individual electronic devices and releasing the electronic devices onto the carrier at the loading stage. 제1항에 있어서, 캐리어가 하역 상태에 있을 때 각 캐리어로부터 한 세트의 전자 장치를 하역하기 위한 수단은 하역 스테이지와 이동 플랫폼 사이에서 왕복 운동하는 하역 헤드와, 캐리어로부터 하나 이상의 개별 전자 장치를 골라서 이동 플랫폼에서 골라진 장치를 방출하기 위하여 하역 헤드에 고정된 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.The apparatus of claim 1, wherein the means for unloading a set of electronic devices from each carrier when the carrier is in the unloading state comprises a pick-up head that reciprocates between the unloading stage and the moving platform, and one or more individual electronic devices from the carrier. And means secured to the unloading head for releasing the selected device from the moving platform. 제1항에 있어서, 테스트 스테지가 다른 캐리어에 의해 점유된다면 예비 테스트 챔버를 갖는 캐리어가 정지될 수 있는 테스트 스테이지와 예비테스트 챔버를 중재하는 예비 테스트 스테이지와, 테스트 스테이지와, 테스트 스테이지로 부터 포스트 테스트 챔버로 이동되는 캐리어가 포스트 테스트 챔버내의 개방 시트를 기다리기 위해 정지되는 포스트 테스트 챔버를 중재하는 포스트 테스트 스테이지와, 캐리어를 예비 테스트 스테이지로부터 테스트 스테이지로 운반하기 위한 것과 캐리어를 테스트 스테이지로부터 포스트 테스트 스테이지로 운반하기 위한 것으로 구성되는 독립적으로 작동 가능한 2개의 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.2. The test stage according to claim 1, wherein the carrier having the preliminary test chamber can be stopped if the test stage is occupied by another carrier, the preliminary test stage intervening the preliminary test chamber, the test stage, and the post test from the test stage. A post test stage that mediates the post test chamber where the carrier moved to the chamber is stopped to wait for an open seat in the post test chamber, for transporting the carrier from the preliminary test stage to the test stage and the carrier from the test stage to the post test stage An apparatus further comprising two independently operable means configured for carrying. 제2항에 있어서, 예비 테스트 챔버는 입구 및 출구를 가지며, 주 캐리어를 유지하기 위하여 다수개의 시트를 그 안에 또는 상승 컨베이어와, 주 캐리어는 적재 상태로부터 출구를 통해 상승 컨베이어의 하부 시트상으로 이동시키는 수단과, 입구를 향해 상부로 시트를 크게 이동시키기 위한 수단과, 주 캐리어를 상승 컨베이어의 상부 시트로부터 제거하고 이것을 예비 테스트 챔버로부터 출구를 통해 제거하기 위한 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.3. The preliminary test chamber of claim 2, wherein the preliminary test chamber has an inlet and an outlet, and a plurality of sheets therein or a lift conveyor to hold the main carrier, and the main carrier moves from the loaded state through the outlet onto the lower seat of the lift conveyor. And means for largely moving the sheet upwards towards the inlet, and means for removing the main carrier from the upper sheet of the lift conveyor and removing it from the preliminary test chamber through the outlet. . 제2항에 있어서, 포스트 테스트 챔버는 입구 및 출구를 가지며, 주 캐리어를 유지하기 위하여 다수개의 시트를 그 안에 갖는 하강 컨베이어와, 주 캐리어를 입구를 통해 하강 컨베이어의 상부 시트상으로 삽입하기 위한 수단과, 시트를 출구를 향해 하향으로 크게 이동시키기 위한 수단과, 주 캐리어를 하강 컨베이어의 하부 시트로부터 제거하고 이것을 포스트 테스트 챔버로부터 입구를 통해 하역 스테이지 상으로 제거하기 위한 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.The post test chamber of claim 2, wherein the post test chamber has an inlet and an outlet, the lowering conveyor having a plurality of sheets therein for holding the main carrier, and means for inserting the main carrier through the inlet onto the upper sheet of the lowering conveyor. And means for moving the sheet largely downward toward the outlet, and means for removing the main carrier from the lower sheet of the lowering conveyor and removing it from the post test chamber through the inlet onto the unloading stage. Device. 제2항에 있어서, 주 캐리어가 적재 스테이지에 있을 때 각 주 캐리어 상으로 한 세트의 전자 장치를 적재하기 위한 수단은 적재 스테이지와 전자 장치의 소오스 사이에서 왕복 운동하는 적재헤드와, 전자 장치의 소오스에서 하나 이상의 개별 전자 장치를 선택하고 적재 상태에서의 전자 장치를 주 캐리어상으로 방출하기 위하여 적재 헤드에 고정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.3. The apparatus of claim 2, wherein the means for loading a set of electronic devices onto each main carrier when the main carrier is in the loading stage comprises a loading head reciprocating between the loading stage and the source of the electronic device, and the source of the electronic device. Means for selecting at least one individual electronic device and securing it to the loading head for releasing the electronic device in the loaded state onto the primary carrier. 제2항에 있어서, 주 캐리어가 하역 스테이지에 있을 때 각 주 캐리어로부터 한 세트의 전자 장치를 하역하기 위한 수단은 하역 상태와 운반 플랫폼 사이에서 왕복운동하는 하역 헤드와, 주 캐리어로부터 하나 이상의 개별 전자 장치를 선택하고 운반 플랫폼에서 선택된 장치를 방출하기 위하여 비적재 헤드에 고정된 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.3. The apparatus of claim 2, wherein the means for unloading a set of electronic devices from each main carrier when the main carrier is in the unloading stage comprises a unloading head reciprocating between the unloaded state and the transport platform, and one or more individual electrons from the main carrier. And means secured to the unloading head for selecting the device and for ejecting the selected device from the transport platform. 제2항에 있어서, 예비 테스트 챔버와 테스트 상태가 다른 주 캐리어에 의해 점유될 때 예비 테스트 챔버를 갖는 주 캐리어가 정지되는 테스트 스테이지를 중재하는 예비 테스트 스테이지와, 테스트 스테이지와 테스트 스테이지로부터 포스트 테스트 챔버로 운반되는 주 캐리어가 포스트 테스트 챔버내의 개방 시트를 기다리기 위해 정지되는 포스트 테스트 챔버를 중재하는 포스트 테스트 스테이지와, 주 캐리어를 예비 테스트 스테이지로부터 테스트 스테이지로 운반하기 위한 것과 주 캐리어를 테스트 스테이지로부터 포스트 테스트 챔버로 운반하기 위한 것으로 구성되는 독립하여 작동가능한 2개의 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.3. The preliminary test stage according to claim 2, wherein the preliminary test stage mediates a test stage in which a main carrier having a preliminary test chamber is stopped when the preliminary test chamber and the test state are occupied by another main carrier, and a post test chamber from the test stage and the test stage. A post test stage which mediates the post test chamber in which the main carrier to be transported is stopped to wait for an open seat in the post test chamber, for transporting the main carrier from the preliminary test stage to the test stage and post testing the main carrier from the test stage. Further comprising two independently operable means configured for conveying into the chamber. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
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