KR920704133A - 비파괴 검사 방법 및 장치 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

비파괴 검사 방법 및 장치

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

이하에서 도면을 참조하여 본 발명을 기술한다.

제1도는 전자계 유니트의 단면도,

제2도는 제1도의 AA선을 취한 하부도.

제3도는 작업대의 단면도.

Claims (10)

1. 전기 전도체내의 결합 여부를 비파괴적으로 검사하기 위하여 전도체상에 위치하고 자계가 원형으로 형성되도록 코일에 반복 여기 신호를 인가하고, 자계내에서 전도체의 표면상에 원형 주사 경로를 인가하고, 자계대에 전도체의 표면상에 원형 주사 경로를 따라 일점 자계 검출기를 이동시키면서 주사 경로상의 위치 변동에 따른 자계 신호의 변동의 검출하고, 상기 자계 검출기는 저주파수에 응답하는 홀-효과 장치 또는 이화 유사한 장치인 비파괴 검사 방법에 있어서, i)여기 신호와 동기된 시간 간격에서 필드 신호를 케이팅함으로서 여기 신호의 반복 범위내에 슬라이드와 같은 연속 순차로 필드 신호내에 한정하고, 연속 슬라이스의 순차는 자계검출기의 주사 경로에 따른 지짐에서 검사의 특성 길이 구역으로 부터 반사된 필드 신호를 맵핑하며,ⅱ )주사경로상의 한 지점에서 검사를 행하여 깊이 구역의 결함으로 인한 임펄스 펄스의 반사에 따라 순차내에서의 기본 레벨의 변동치를 확인하도록 슬라이스 순차에 따라 측정 레벨을 비교하고 각 순차내의 신호 레벨을 측정하며, 상기 구역내의 결합의 존재는 레벨 변동에 의해 식별되며, 결함의 방위 위치는 레벨 변동의 순차대의 위치에 의해 확인되는 것을 특징로 하는 비파괴 검사 방법.
2. 제1항에 있어서, 게이팅 동작은 적정 시간에 행하여져서 여기 구형과 내의 연속 레벨 변동치 간의 주기내에서 필드 신호의 제1부분으로부터 발생되어서, 상기 슬라이스내의 획득으로부터 표면 구역 반사를 제거하는데 충분한 배제 기간을 제거시키는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 슬라이스의 각 순차내의 신호 레벨은 각 슬라이스에 대한 특수의 측정치를 발생하기 위해 여기 신호와 동기된 세트간격에서 측정되며, 각 슬라이스에 대한 측정치는 평균화되고, 동기된 측칭치에 의해서 구해진 평균값은 여기 신호의 주기에서 슬라이스 배제부분에서 클러터까지 비교하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법.
4. 선행항중 어느 한 항에 있어서, 전기 전도체내의 고정자에서 비파괴 검사를 행할 때에, 주사 반경의 중심점과 고정자 중심간의 비정렬에 해당하는 신호는, 여기 구형파의 연속 레벨 변동간의 간격의 제1부분을 구성하는 필드 신호의 슬라이스 순차를 한정하도록 게이팅 동작이 행해지며, 상기 순차의 각 슬라이스내의 신호 레벨은, 피크 신호 레벨 순차내의 위치와 진폭을 정하기 위해서 동일 순차대의 다른 것을 측정 및 비교하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사방법.
5. 제1항 내지 제4항중 어느 한항에 따른 방법을 행하기 위해서, 여기 코일과, 일지점 자기 검출기와, 검사시에 자기 검출기가 원형 주사 경로를 따라 회전 구동 수단에 의해 구동되도록 구성된 회전 구동 수단을 가지며, 상기 자기 검출기는 저주파수에 응답하는 홀-효과 장치 또는 이와 유사한 장치인 비파괴 검사 장치에 있어서, i)자계 검출기의 이동에 따라 동기되는 반복 구형파 신호를 갖는 여기 코일을 활성화시키도록 동작하는 여기 신호 발생기와, ⅱ) 여기 전류의 반복당 한 슬라이스와 같은 연속형 시간 한정 슬라이스 순차로 통과시키도록 여기 신호에 동기되는 간격에서 자계 검출기에 의해 수신되는 필드 신호를 시간 게이트하도록 동작하는 디바이스와, 각 통과된 슬라이스의 순차내에서 신 일체화되도록 동작하는 집적 회로를 구비하는 최소한 하나의 채널을 갖는 필드 신호 처리기와, iii) 필드 신호 처리기의 임의의 채널에서 순차로 각 슬라이스에 대응하는 집적신호의 레벨을 측정하도록 동작하는 수단과, iv)기본으로 부터의 레벨 변화가 동일하도록 각 순차내에서 슬라이스에서 슬라이스까지 집적 레벨 사이의 비교를 행하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.
6. 제5항에 있어서, 필드 신호 처리기는 대응하는 각 순차 슬라이스를 한정하는 최소합 두개의 채널을 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.
7. 제6항에 있어서, 슬라이스 채널을 제공하도록 배열되는 필드 신호 처리기의 한 채널을 여기 구형파의 연속 레벨 변화 사이에서 각 간격의 전단부를 구비하며, 슬라이스 순차를 제공하도록 배열되는 신호 처리기의 최소한 다른 채널은 상기 간격 또는 다른 부분의 나머지 부분을 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.
8. 제5 내지 7항중 어느 한항에 있어서, 컴퓨터는 처리 장치와 메모리 장치를 구비하고, 상기 컴퓨터는 신호처리기의 각 채널내에서 스위칭 디바이스의 좌표 동작 및 여기 신호 발생기에서 동기를 유지하도록 구성 및 프로그램되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치.
9. 제8항에 있어서, 상기 컴퓨터는 측정 수단으로 하여금 여기 신호로 동기되는 시간내에서 각 슬라이스에 대한 최소한 하나의 기회 및 간격에 따라 일체화 신호의 신호 레벨을 샘플하도록 하여, 다른 것과 비교하여 각 일체화 슬라이스에 대한 값 또는 평균 값을 발생하도록 구성 및 프로그램되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.
10. 표시 상치를 구비하여, 고정사 위치에서 사용하기 적합한 제8 내지 9항중 어느 한항에 청구된 바와같은 장치에 있어서, 최소한 장치의 임의 모드내에서 필드 신호 처리기의 채널은 여기 구형파의 연속 레벨 변화 사이에서 각 간격의 전단부를 구비하는 슬라이스 순차를 제공하도록 배열되며, 상기 컴퓨터는 순차적으로 각 슬라이스내의 신호 레벨을 측정하며, 상기 레벨을 비교하며, 그리고 순차 및 크기에 따라 피크 레벨의 위치를 정함으로써 필요한 배열 보정의 표시 또는 프로브 및 고정자 사이의 배열 에러 표시를 표시 장치상에 제공하도록 구성 및 프로그램되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치.

    ※참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.