KR920007103A - 플라스마 테이퍼 에칭 방법 - Google Patents

플라스마 테이퍼 에칭 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR920007103A
KR920007103A KR1019910016577A KR910016577A KR920007103A KR 920007103 A KR920007103 A KR 920007103A KR 1019910016577 A KR1019910016577 A KR 1019910016577A KR 910016577 A KR910016577 A KR 910016577A KR 920007103 A KR920007103 A KR 920007103A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
plasma
etching
electrode
region
chamber
Prior art date
Application number
KR1019910016577A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100193757B1 (ko
Inventor
이사무 히지가따
가즈히또 후지사와
Original Assignee
나까네 히사시
도꾜 오까 고오교 가부시끼 가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 나까네 히사시, 도꾜 오까 고오교 가부시끼 가이샤 filed Critical 나까네 히사시
Publication of KR920007103A publication Critical patent/KR920007103A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100193757B1 publication Critical patent/KR100193757B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/31051Planarisation of the insulating layers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

플라스마 테이퍼 에칭 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 관한 플라스마 테이퍼 에칭 방법에 사용되는 플라스마 처리장치의 개략전체도,
제2도(A)내지 제2도(C)는 본 발명에 관한 각공정에서의 반도체 디바이스의 개략단면도.

Claims (10)

  1. 플라스마 테이퍼의 엣칭 방법에 있어서, 동일 챔버내에 플라스마 처리영역과 이 플라스마 처리영역과 떨어져 위치하는 플라스마 발생영역을 갖는 플라스마 처리수단을 갖춘 스텝과, 표면에 복수의 요철부가 형성된 피처리물을 상기 플라스마 처리영역에 셋트하는 스텝과, 상기 챔버내의 플라스마 발생영역에 Ar을 주체로 하는 처리개스를 도입하여 플라스마를 생성하는 것에 의해 상기 요철부의 엣지를 테이퍼상으로 엣칭하는 스텝으로 이루어진 플라스마 테이퍼 엣칭 방법.
  2. 제1항에 있어서, 피처리를 표면의요철부의 엣지를 테이퍼상으로 엣칭하는 스텝에서는 피처리물 표면의 평평화의 목정으로 엣칭물의 요철부에 인접하는 철부사이에 데포지션시키는 것을 포함하는 것으로 된 엣칭 방법.
  3. 제1항에 있어서, 플라스마 처리영역은 플라스마 발생영역의 하부에 위치시키며, 상기 피처리물 표면의 요철부의 엣칭하는 스텝에서는 엣칭을 조장하고, 피처리부의 바로 옆에 인접하는 주위에서 상기 처리개스를 배출하는 스텝을 다시 포함시키는 엣칭 방법.
  4. 제1항에 있어서, 피처물의 요철부는 실리콘 웨이퍼에 형성된 알루미늄 패턴상에 적층된 산화규소층으로 되고 엣칭 처리조건은 처리압 0.01~0.2Torr, 처리온도 50~150℃, 및 처리전력 500~2000w, 인 것인 엣칭 방법.
  5. 피처리물의 표면상에 형성된 복수의 요철부의 엣지를 테이퍼상으로 엣칭하는 플라스마 테이퍼 엣칭장치에 있어서, 플라스마 처리영역 및 이 플라스마 처리영역과 떨어져 위치하는 프라스마 발생영역을 갖는 챔버수단과, 전기 챔버수단에Ar을 주체로 한 처리개스를 도입하는 처리개스 도입수단과 전기 플라스마 발생영역에 전기 처리 개스에 의한 플라스마를 발생시켜 전기 챔버수단에 작용하는 고주파 전력 공급수단을 갖추고, 복수의 요철부가 형성된 표면이 상기 플라스마 발생영역에 대항하여 상기피처리물을 플라스마 처리영역에 셋트함으로써, 요철부의 엣지를 테이퍼상으로 엣칭처리하는 것으로 된 플라스마 테이퍼 엣칭 장치.
  6. 제5항에 있어서, 엣칭장치가 저판부재와 상기 피처리물이 재치되는 어스된 테이블상 하부 전극을 갖는 승강 수단을 갖추고, 전기 챔버수단은 저판 부재상에 재치되는 플라스마 영역으로 되는 대경부 및 이 플라스마 처리영역의 상방에 떨어진 상태로 위치하며, 처리개스가 도입되어 상기 플라스마 발생영역으로 되는 소경부를 갖는 벨자형의 석영제 챔버이며, 상기 저부부재는 상기 피처리물을 상기 플라스마 처리영역에 임하도록 하기 위하여 전기 테이블상 하부 전극의 승강운동을 허용하는 중앙개구부를 구획하여 놓고, 상기 고주파전력 공급수단은 상기 챔버의 소경부에 부착되어 고주파전력을 인가하는 상기전력을 가지며, 상기 피처리물 표면 요철부의 엣지는 테이퍼상으로 엣칭시킴과 동시에 그의 엣칭물이 인접하는 철부사이에 데포지션되는 엣칭시키는 장치.
  7. 제6항에 있어서, 저판부재는 전기 요철부의 엣지의 테이퍼 엣칭과 그의 엣칭물의 데포지션을 조장하고, 전기 챔버내의 플라스마 상태의 처리개스를 하부 전극 주위에서, 보다 바람직하기로는 하부 전극 상에 재치된 처리물에 인접하는 주위에서 배기하는 배기수단을 갖는 엣칭 장치.
  8. 제6항에 있어서, 상부 전극은 소경부의 통둘레를 감싸는 통상(筒狀) 전극으로 된 엣칭 장치.
  9. 제6항에 있어서, 상부 전극은 소경부 전체를 덮는 캡상 전극으로 된 엣칭 장치.
  10. 제6항에 있어서, 상부 전극은 소경부의 통둘레를 덮는 분할된 2개의 반통상(半筒狀) 전극이며, 한쪽 반통상 전극에는 공급수단을 개재하여 고주파 전력을 인가하고, 다른쪽 반통상 전극에 대하여는 공급수단을 개재하여 선택적으로 고주파 전력을 인가시키든가 어스시키는 것으로 된 엣칭 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910016577A 1990-09-21 1991-09-20 플라스마 테이퍼 에칭 방법 KR100193757B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2253631A JPH04132220A (ja) 1990-09-21 1990-09-21 プラズマテーパエッチング方法
JP90-253631 1990-09-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920007103A true KR920007103A (ko) 1992-04-28
KR100193757B1 KR100193757B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=17254031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910016577A KR100193757B1 (ko) 1990-09-21 1991-09-20 플라스마 테이퍼 에칭 방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5254214A (ko)
JP (1) JPH04132220A (ko)
KR (1) KR100193757B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3266163B2 (ja) * 1992-10-14 2002-03-18 東京応化工業株式会社 プラズマ処理装置
US6565721B1 (en) * 1996-04-04 2003-05-20 Micron Technology, Inc. Use of heavy halogens for enhanced facet etching
US5880005A (en) * 1997-10-23 1999-03-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method for forming a tapered profile insulator shape
KR100440264B1 (ko) * 1997-12-30 2004-09-18 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 제조 방법
KR100547242B1 (ko) * 1999-12-22 2006-02-01 주식회사 하이닉스반도체 보이드를 방지한 반도체 소자의 금속층간절연막 형성방법
KR20010063770A (ko) * 1999-12-24 2001-07-09 황 철 주 플라즈마를 이용하는 반도체소자 제조장치 및 이 장치를이용한 박막형성방법
US8753016B2 (en) 2002-07-29 2014-06-17 Nsk Ltd. Rolling bearing, grease supply system, spindle unit, grease supply method, and grease supply program
JP5486383B2 (ja) * 2010-04-13 2014-05-07 富士フイルム株式会社 ドライエッチング方法及び装置
JP5774395B2 (ja) 2011-07-13 2015-09-09 Ntn株式会社 転がり軸受装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6028246A (ja) * 1983-07-26 1985-02-13 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体多層配線の製造方法
JP2563180B2 (ja) * 1987-07-27 1996-12-11 日本電信電話株式会社 半導体装置の製造方法
US4952274A (en) * 1988-05-27 1990-08-28 Northern Telecom Limited Method for planarizing an insulating layer
JPH02205030A (ja) * 1989-02-02 1990-08-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5254214A (en) 1993-10-19
KR100193757B1 (ko) 1999-06-15
JPH04132220A (ja) 1992-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920007103A (ko) 플라스마 테이퍼 에칭 방법
JPH10326772A (ja) ドライエッチング装置
JPS55166926A (en) Dry etching apparatus
JPH0571668B2 (ko)
KR100603099B1 (ko) 플라즈마 처리 방법 및 장치
CN107154369A (zh) 等离子体处理方法
JPH04132219A (ja) プラズマ処理装置とそれを用いる半導体装置の製造方法
JPH09162172A (ja) エッチングダメージの除去方法
JP2862088B2 (ja) プラズマ発生装置
JPS63116428A (ja) ドライエツチング方法
JPS63260033A (ja) プラズマ反応処理装置
TWI414016B (zh) 進行電漿蝕刻製程的裝置
JPH0737971A (ja) ウエハチャック
US20240136159A1 (en) Metallic Shield For Stable Tape-Frame Substrate Processing
JP2548164B2 (ja) ドライエッチング方法
JPH02268429A (ja) プラズマエッチング装置
JP2003068724A5 (ko)
JPH07230987A (ja) 放電プラズマ処理装置
JP2776866B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
TWI280078B (en) Plasma treatment apparatus
WO2024091528A1 (en) Metallic shield for stable tape-frame substrate processing
JPS5720450A (en) Forming method for pattern of semiconductor device
KR200167583Y1 (ko) 스페이서 제조용 플라즈마 식각장치
JPH0513006Y2 (ko)
JPS5772350A (en) Fabrication of semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070125

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee