KR890000391B1 - 초음파 탐상법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

초음파 탐상법 및 장치
제1도는 본 발명의 한 실시예에 따른 방법에 있어 적용된 4개의 초음파 탐촉자의 배열을 도시한 도.
제2a도 내지 제2h도는 검사할 관(tube) 둘레 작도 위치에 따라 지배를 받는 다른 탐촉자 쌍사이에서 반사되고 발신된 초음파 에너지의 파형을 도시한 그래프.
제3도는 산술연산(arithmetic operation)에 따라 제2a도 내지 제2h도의 파형으로부터 발생된 파형을 설명하는 그래프.
제4도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 방법에 있어서, 적용된 2개의 초음파 탐촉자의 배열을 나타낸 도.
제5도는 또다른 실시예의 방법에 사용된 3개의 초음파 탐촉자의 배열을 나타낸 도.
제6도는 또다른 실시예의 방법에 사용된 4개의 초음파 탐촉자의 배열을 나타낸 도.
제7도는 검사할 관 둘레 각도에 따른 위치의 지배를 받는 탐촉자 쌍사이에서 반사된 초음파 에너지의 파형을 나타낸 그래프.
제8도는 검사할 관 둘레 각도에 따른 위치의 지배를 받는 탐촉자 쌍사이에서 반사된 초음파 에너지의 파형을 나타낸 그래프.
제9도는 관 둘레 각도에 따른 위치의 지배를 받는 제5도의 탐촉자 배열에 의하여 발생된 데이터로부터 유도해낸 평가치를 나타내는 그래프.
제10도는 평균데이터로부터 유도된 계산치를 도시한 제9도와 유사한 그래프.
제11도는 본 발명 방법을 수행하기 위한 회로 배치의 블록선도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 관 14 : 아날로그/디지탈 변환기18 : 엔코더
15 : 레지스터 17 : 컴퓨터
A, B, C, D : 탐촉자 또는 변환기 O : 결함.
본 발명은 예를들어 원심주조공정에 의하여 제작된 강관과 같은 고형물체에 시간의 경과로 인하여 발생된 결함을 초음파를 이용하여 검사하기 위한 비파괴 검사방법 및 장치에 관한 것이다.
수증기와 접촉시켜 가스를 재처리하는데 사용하기 위한 가열관은 예를들어 HK-40(탄소 0.40%, 크롬 25%, 니켈 20% 함유)과 같은 오오스테나이트 강으로 만들어지고 부식, 열 및 압력에 대한 내성을 증가시키기 위하여 주로 원심주조에 의하여 제작된 내열성 주조관을 의미한다. 그러한 복수개의 주조관들은 소정의 관 길이를 얻기 위하여 서로 용접된다. 사용시 스팀과 원료가스를 압력하에서 촉매제로서 채워진 관으로 보내져서 관은 외부 히터에 의하여 고온으로 가열된다.
관은 고온과 높은 압력을 받기 때문에 약 3년이 경과하면 관의 차가운 내부표면과 가열된 외부표면 사이의 온도차에 다른 열응력에 의하여 야기되고 경년에 따른 틈이나 그러한 온도차에 따른 관의 내측표면에서의 결함이 발달하는 경향이 있다. 관의 유지보수 수명을 확실히 유지하기 위하여 비파괴 방법으로 그러한 경년에 따른 결함을 검사하는 것은 관의 안정성 및 안정된 작동에 대단히 중요하다.
원심주조에 의하여 제작된 관에서 결함을 검사하기 위한 비파괴검사법은 방사선 탐상 및 초음파 탐상을 포함한다.
방사선 탐상법은 방사선이 전달된 방향으로 어떠한 소정의 크기를 갖는 결함을 검사하는데 효과적이다. 그 결함들은 검사될 대상의 벽두께의 1% 또는 그 이상의 두께를 갖고 있으면 효과적으로 검출될 수 있으며 방사선의 이동방향에 수직인 방향으로 연장된다.
크랙(crack)과 같은 다른 결함들은 방사선 탐상법으로는 검출되지 않는다. 따라서 방사선 검사방법은 검사 정확도에 있어 효율이 낮다.
초음파 탐상법은 통상의 연강(鍊鋼) 및 주조탄 소강과 같은 상대적으로 균일한 강재에서의 내부결함을 검사하는데 아주 효과적이다. 초음파 탐상법은 여러가지의 다양한 방법이 알려져 있다. 예를들면, 반사법, 전체 전달법(a through transmission method), 및 공진법을 포함한다. 몇몇 초음파 탐상법은 한두개의 초음파 탐침을 이용하거나 시험할 대상에 수직으로 또는 비스듬히 초음파를 쏘게 된다. 이러한 다음 검사법들은 시험재료의 형상, 시험재료에의 결함의 형태 및 다른 인자에 따라 선택된다. 그러나 관재료가 초음파 에너지를 크게 감쇠시켜 큰 입자가 입계반사를 야기하듯이 많은 에코펄스에 의하여 디스플레이된 상이 복잡하여지므로 원심주조에 의한 오오스테나이트강으로 제작된 내열성 관으로서 내부의 어떠한 결함을 검사하는 데엔 난점이 있었다.
다른 문제점은 외측 관 표면상의 주조표면 때문에 관을 통과하는 초음파 에너지의 소요 총량을 전달하는 것이 어렵다는 점이다. 따라서 초음파 탐상법은 그러한 관내에서 결함을 검출하는데 낮은 비율을 갖고 있으므로 오오스페나이트 주강의 내열성 관에서 결함을 검사하기 위하여 초음파 탐상법이 광범위하게 사용되지 않았었다.
일본 특허 공개공보 소58-47252호엔 용접된 시임(seam)에 인접한 반대편 관부위와 용접된 시임을 통과하여 전달된 초음파 에너지를 측정하여 결함의 여부를 확인하기 위하여 평가방정식(evaluation equation)에 따라 세개의 측정치를 가감하므로서 원주에 용접된 관부위에서 결함을 검사하기 위한 기술이 공개되어 있다. 그러나 이러한 결함검사기술은 재료성질이 측정지점에 따라 다르고 그러한 성질의 차이는 노이스 레벨에 영향을 주며 3개의 측정지점은 항상 높은 정확도를 선택되지 않으므로 낮은 검사 정확도를 가져다 준다.
일본 특허 공개공보 소59-99251호는 전술한 바와 같은 결점을 갖고 있는 3개의 초음파 탐촉자를 사용함을 보여준다.
본 출원인은 재료의 감쇠계수의 차이를 보상하기 위한 방법에 대한 일본 특원소 59-146488호를 출원한 바 있다. 그러나 이러한 공개된 방법은 각각의 탐촉자, 각 초음파 비임의 다른 패턴(확산패턴 ; spreading pattern) 및 비임 통로내의 다른 재료특성을 갖는 발신 및 수신효율을 변화시키므로서 발생된 초음파 에너지의 분산의 문제점을 해결할 수는 없다.
본 발명의 목적은 탐촉자의 다른 발신 및 수신효율, 탐촉자의 다른 입사 및 반사효율, 변화하는 초음파 비임패턴 및 비임 통로내에서 변화하는 재료특성과 같은 다양한 다른 성질에 의하여 역으로 영향을 받지 않고 일정한 한계레벨을 사용하므로서, 복수개의 초음파 탐촉자를 이용하여 조악한 입자의 부동방성 오오스테나이트 스테인레스강으로 제작된 고형재료내의 결함을 검사하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 전술한 방법을 수행하기 위한 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면 복수개의 초음파 변환기가 검사될 대상의 한 영역 주위에 위치하고 변환기중 하나는 그 영역에 초음파 비임을 쏘도록 여기되고 쏘아진 초음파에 응답하여 그 영역을 통과하여 발신되고 거기에서 반사된 초음파는 수신된다. 음압은 이때 반사되고 발신된 초음파로부터 측정되고 평가치는 반사된 초음파의 음압을 발신된 초음파의 음압으로 산술적으로 나누어 산출된다.
본 발명의 한 실시예에서, 4개의 초음파 변환기가 서로 각도 간격이 일정하게 떨어져 영역주위에 배치되어 있고 이들 4개의 초음파 변환기는 초음파 비임을 쏘기 위하여 차례로 여기되며, 이들 4개의 초음파 변화기중 2개는 여기된 초음파 변환기에 대각으로 마주하고 인접되어 있는데 반사 및 발신된 초음파 각각을 수신하도록 차례로 선택된다.
다른 실시예에서 2개의 초음파 변환기는 영역의 각측에 하나씩 배치되고 2개의 초음파 변환기는 양자택일적으로 여기되어 초음파 비임을 쏘아 반사되고 발신된 초음파 각각을 수신하도록 연속적으로 작동된다.
다른 실시예에 따르면 4개의 초음파 변환기가 서로 각도 간격이 일정하게 영역 주위에 위치되고 4개의 초음파 변환기중 2개는 양자택일로 여기되어 초음파 비임을 쏘고 여기된 초음파 변환기에 대각으로 마주보고 인접하는 4개의 초음파 변환기 중 다른 2개는 반사되고 발신된 초음파 각각을 수신하도록 선택된다.
또다른 실시예에 따르면 3개의 초음파 변환기가 서로 각도 간격이 서로 일정하게 영역주위에 배치되고 하나의 변환기를 제외한 세개의 변환기중 2개가 반사되고 발신된 초음파 각각을 수신하도록 연속적으로 작동된다.
본 발명의 방법은 물체내의 초음파로 검사하기 위한 장치로 수행될 수 있는데, 검사할 대상물의 한 영역에 초음파를 차례로 쏘고, 그 영역을 통과하여 발신되고 영역으로부터 반사된 초음파를 수신하여 수신된 초음파를 전기적인 신호로 변환시키기 위하여 검사할 대상물에 대하여 움직일 수 있게 배치된 복수개의 초음파 변환기, 상기 대상물에 대하여 초음파 변환기의 위치를 표시하는 위치신호를 발신하기 위한 엔코더, 초음파 변환기를 차례로 여기시키고 초음파 변환기로부터 전기적 신호를 수신하기 위한 위치신호에 응답하는 수단, 수신된 전기신호를 디지탈 신호로 변환시키기 위한 아날로그 대 디지탈 신호를 기억시키기 위한 레지스터, 및 발신된 초음파의 음압으로 반사된 초음파의 음압을 산술적으로 나누어 레지스터로부터 평가치로 디지탈 신호를 처리하기 위한 컴퓨터로 상기 장치는 구성된다.
전술한 수단은 초음파 변환기중 하나를 초음파를 쏘기 위한 초음파 발신기로서, 초음파 변환기중 2개를 반사되고 발신된 초음파를 수신하기 위한 초음파 수신기로서 차례로 선택하기 위한 채널 셀렉터, 및 선택된 초음파 변환기를 여기시키고 선택된 초음파 수신기로부터 전기신호를 수신하기 위한 초음파 테스터로 구성된다.
본 발명에 대한 전술한 그리고 다른 목적, 특징 및 장점은 본 발명의 전술한 실시예가 기술적인 일례에 의하여 도시된 첨부도면에 따라 참고하여 보면 다음의 기술내용으로부터 보다 명백하여 질 것이다.
본 발명에 따른 초음파 탐상법은 제1도를 참조로 하여 기술하고자 한다.
제1도에서 초음파 탐상법은 오오스테나이트 내열주강으로 제작된 가열관에 실시된다. 그러나 본 발명은 그 내부의 결함에 대한 판재 또는 입계에 기인하는 높은 노이스 레벨을 발생시키는 재료로 제작된 관 및 판재의 검사에도 응용될 수 있다.
제1도에 도시한 바와같이, 초음파 탐촉자 또는 변환기(A, B, C, D)는 검사될 관(1) 주위에 배치된다. 초음파 탐촉자(A, B, C, D)는 초음파가 발신되어 축방향 및 원주방향으로 관을 통하여 발신되어 관(1) 내에서 원주방향으로 연장된 내부결함(O)에 의하여 반사되도록 위치된다. 보다 특히, 탐촉자중 하나(A)가 여기되어 초음파 비임을 발신하면 탐촉자(B)는 결함(O)에 의하여 반사된 초음파 에코를 수신하고 탐촉자(C)는 결함(O)을 통과한 초음파 비임을 수신한다.
다른 탐촉자(B, C, D)가 여기되어 각 초음파 비임을 발신하면 탐촉자의 조합(A 및 D, D 및 A, C 및 B)은 반사되고 발신된 초음파 에너지를 수신하기 위한 초음파 수신기로서 유사하게 제공된다.
4개의 탐촉자(A, B, C, D)는 순차적으로 여기되어 초음파 비임을 발신하기 위한 초음파 발신기로서 작용하며 이에 상응하는 탐촉자쌍은 반사되고 발신된 초음파를 수신하도록 순서적으로 적용된다.
전술한 차례로의 초음파 발신의 결과로서, 4개의 탐촉자(A, B, C, D)는 4개의 반사된 초음파 에너지 또는 음압(PAB, PBA, PCD, PDC) 및 4개의 발신된 초음파 에너지 또는 음압(PAC, PCA, PDB, PBD)을 차례로 측정한다.
수신된 음압은 다음과 같이 표현된다.
반사된 음압
PAB=PA·ζA·
Figure kpo00001
AO·δAB·
Figure kpo00002
OB·ηB
PBA=PB·ζB·
Figure kpo00003
BO·δBA·
Figure kpo00004
OA·ηA
PCD=PC·ζC·
Figure kpo00005
CO·δCD·
Figure kpo00006
OD·ηD
PDC=PD·ζD·
Figure kpo00007
DO·δDC·
Figure kpo00008
OC·ηC
발신된 음압
PAC=PA·ζA·
Figure kpo00009
AO·γAC·
Figure kpo00010
OC·ηC
PCA=PC·ζC·
Figure kpo00011
CO·γCA·
Figure kpo00012
OA·ηA
PDB=PD·ζD·
Figure kpo00013
DO·γDB·
Figure kpo00014
OB·ηB
PBD=PB·ζB·
Figure kpo00015
BO·γBD·
Figure kpo00016
OD·ηD
여기에서 PAB(PBA, PCD, PDC, PAC, PDB, PBD) : 탐촉자 A(B, C, D, A, C, D, B)가 탐촉자 B(A, D, C, D, A, B, D)에 의하여 수신될때의 음압, PA(PB, PC, PD) : 탐촉자 A(B, C, D)에 의하여 발신된 음압 ζA(ζB,ζC,ζD) : 탐촉자 A(B, C, D)의 발신효율(관표면에서 입사효율포함)
Figure kpo00017
AO(
Figure kpo00018
BO,
Figure kpo00019
CO,
Figure kpo00020
DO,
Figure kpo00021
DA,
Figure kpo00022
OB,
Figure kpo00023
DC,
Figure kpo00024
OD) : 탐촉자(A)(또는 결함)(B, C, D, D, O, D, O)로부터 결함(O)(또는 탐촉자)(O, O, O, A, B, C, D)까지의 비임통로내 비임의 패턴 및 길이에 근거를 둔 입자에 의한 초음파분산 및 다른재료특성과 같은 모든 영향인자 ζAB(ζBA, ζCD, ζDC) : 탐촉자 A(B, C, D)로부터 탐촉자 B(A, D, C)까지 비임에 대한 결함으 반사계수 γAC(γCA, γDB, γBD) : 탐촉자 A(C, C, B)로부터 탐촉자 C(A, B, D)까지 비임에 대한 결함의 발신계수 ηA(ηB, ηC, ηD) : 탐촉자 A(B, C, D)의 수신계수(관표면에서의 반사효율 포함)이다.
4개의 반사음압의 곱은 다음과 같이 4개의 발신된 음압의 곱으로 나누어진다.
Figure kpo00025
상기 산술연산은 실험에 의하여 확인되었다. 외경이 123mm, 내경이 83.6mm, 벽두께가 19.7mm 이고 원주방향으로 20mm 뻗어있고 관의 벽두께의 1/2인 깊이를 갖는 결함을 갖고 있는 관이 제1도에 도시된 바와같이 배치된 초음파 탐촉자에 의하여 검사되었는데 여기되어 1MHz의 주파수를 갖는 초음파를 발생시켰다.
그 결과는 제2a도 내지 제2h도에 도시되어 있다.
제2a도 내지 제2h도 각각에 도시된 그래프는 수평축이 관주위의 각도위치를 표시하고 수직축이 수신된 음압을 나타낸다. 제2a도는 탐촉자(A)로부터 쏘아진 초음파가 결함에 의하여 반사되고 탐촉자(B)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 표시한다.
제2b도는 탐촉자(A)로부터 쏘아진 초음파가 결함을 통과하여 발신되어 탐촉자(C)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 나타낸다.
제2c도는 탐촉자(B)로부터 쏜 초음파가 결함에 의하여 반사되어 탐촉자(A)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 나타낸다.
제2d도는 탐촉자(C)로부터 쏘아진 초음파가 결함을 통과하여 발신되고 탐촉자(A)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 보여준다.
제2e도는 탐촉자(C)로부터 쏘아진 초음파가 결함에 의하여 반사되어 탐촉자(D)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 나타낸다.
제2f도는 탐촉자(B)로부터 쏘아진 초음파가 결함을 통과하여 발신되어 탐촉자(D)에 의하여 수신될때 발신된 음압을 나타낸다. 제2g도는 탐촉자(D)로부터 쏘아진 초음파가 결함에 의하여 반사되어 탐촉자(C)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 나타낸다.
제2h도는 탐촉자(D)로부터 쏘아진 초음파가 결함을 통과하여 발신되고 탐촉자(B)에 의하여 수신되었을때 발생된 음압을 나타낸다. 실제의 검사과정에서, 탐촉자(A, B, C, D)는 관 주위를 움직이는 동시에 비임의 확산이 무시될 수 있는 수 msec.와 같은 결과적인 위치에러로서 스위치된다.
제3도는 본 발명에 따른 산술연산에 측정된 데이터를 적용시키므로서 얻어진 결과를 나타낸다.
제3도에서 결함(O) 이외의 다른 것으로부터 수신된 신호는 비임통로에서 입계로부터의 분산된 에코와 같은 랜덤 노이스(randum noises)이며 감소된 음압에 따른 산술연산에 의하여 원활하게 처리된다. 따라서 상기 산술연산의 영향을 받아 노이스는 감소되고 결함으로부터의 신호가 강하게 되어 따라서 S/N비는 개선된다.
본 발명은 오오스테나이트 내열성 주강으로 제작된 가열관에서 결함을 검사하는 상기 방법에 제한을 받지않으며 초음파를 감쇠시키는 다른 국부영역과 다른 결정립 크기, 방향 및 형상을 갖는 박판 및 주물재와 같은 재료와 다양한 형태의 결함을 검사하는 방법에도 적용할 수 있다.
전술한 실시예에서 결함(O)은 관의 원주방향으로 치우쳐 있는 동시에 관의 축방향으로 걸쳐있는 결함은 제1도에 도시한 바와같이 동일한 탐침배치에 의하여 검사될 수 있다. 그러나 작동시 탐촉자(A)가 초음파 변환기일때, 예를들면 이때 탐촉자(D)는 축방향 결함으로부터 초음파 에코를 수신하기 위한 초음파 수신기로서 제공된다. 수신된 음압은 다음과 같이 표현된다.
반사된 음압
PAD=PA·ζA·
Figure kpo00026
AO·δAD·
Figure kpo00027
OD·ηD
PBC=PB·ζB·
Figure kpo00028
BO·δBC·
Figure kpo00029
OC·ηC
PCB=PC·ζC·
Figure kpo00030
CO·δCB·
Figure kpo00031
OB·ηB
PDA=PD·ζD·
Figure kpo00032
DO·δDA·
Figure kpo00033
OA·ηA
발신된 음압
PAC=PA·ζA·
Figure kpo00034
AO·γAC·
Figure kpo00035
OC·ηC
PCA=PC·ζC·
Figure kpo00036
CO·γCA·
Figure kpo00037
OA·ηA
PDB=PD·ζD·
Figure kpo00038
DO·γDB·
Figure kpo00039
OB·ηB
PBD=PB·ζB·
Figure kpo00040
BO·γBD·
Figure kpo00041
OD·ηD
따라서,
Figure kpo00042
제4도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 초음파 탐상법을 보여준다. 이 초음파 탐상법은 결함(O)이 관과같은 물체(1)에 고정된 방향으로 치우쳐 있는 곳에 이용된다. 2개의 초음파 탐촉자 또는 변환기(A, B)는 탐촉자에 수직방향으로 사이에 있는 결함(O)의 각 옆에 하나씩 위치된다. 작동시에 탐촉자(A)는 결함(O)을 통과하여 발신된 초음파를 수신하는 탐촉자(B)를 향하여 초음파를 쏘기위한 초음파 발신기로서 여기된다. 양자택일적으로 탐촉자(A)는 탐촉자(B)를 향하여 초음파를 쏘기 위한 초음파 발신기/수신기로서 사용된다. 그때 탐촉자(A)는 비임통로(AA)내의 결함(O)으로부터 반사된 초음파 에코를 수신하고 탐촉자(B)는 비임통로(AB)내의 결함(O)을 통과하여 발신된 초음파를 수신한다.
그 다음 탐촉자(B)는 결함(O)을 통과하여 발신된 초음파를 수신하는 탐촉자(A)를 향하여 초음파를 쏘기위한 초음파 발신기로서 여기된다. 양자택일적으로 탐촉자(B)는 탐촉자(A)를 향하여 초음파 비임을 쏘기위한 초음파 발신기/수신기로서 사용된다. 그때 탐촉자(B)는 비임통로(BB)내의 결함(O)으로부터 반사된 초음파 에코를 수신하고 탐촉자(B)는 비임통로(BA)내의 결함(O)을 통과하여 발신된 초음파를 수신한다.
전술한 양자택일의 초음파 발신 및 수신과정에서, 2개의 탐촉자(A, B)는 두개의 반사된 초음파 에너지 또는 음압(PAA, PBB) 및 2개의 발신된 초음파 에너지 또는 음압(PAB, PBA)를 양자택일로 측정한다.
수신된 음압은 다음과 같이 표현된다.
반사된 음압
PAA=PA·ζA·
Figure kpo00043
AO·δAA·
Figure kpo00044
OA·ηA
PBB=PB·ζB·
Figure kpo00045
BO·δBB·
Figure kpo00046
OB·ηB
발신된 음압
PAB=PA·ζA·
Figure kpo00047
AO·γAB·
Figure kpo00048
OB·ηB
PBA=PB·ζB·
Figure kpo00049
BO·γBA·
Figure kpo00050
OA·ηA
여기에서 PAA(PBB, PAB, PBA) : 탐촉자 A(B, A, B)에 의하여 발신된 초음파가 탐촉자 A(B, B, A)에 의하여 수신되었을때의 음압, PA(PB) : 탐촉자 A(B)에 의하여 발신된 음압, ζA(ζB) : 탐촉자A(B)의 발신효율(관표면에서의 입사효율포함),
Figure kpo00051
AO(
Figure kpo00052
BO,
Figure kpo00053
OA,
Figure kpo00054
OB) : 탐촉자 A(또는 결함)(B, O, O)으로부터 결함 O(또는 탐촉자)(O, A, B)까지 비임통로내의 비임의 외형 및 길이 및 다른 재료성질에 기초를 둔 입자에 의한 초음파 분산과 같은 영향을 주는 모든 인자, δAA(δBB) : 탐촉자 A(B)로부터 탐촉자 A(B)까지 비임에 대한 결함의 반사계수, γAB(γBA) : 탐촉자 A(B)로부터 탐촉자 B(A)까지 비임에 대한 결함의 발신계수, ηA(ηB) : 탐촉자 A(B)의 수신효율(관표면에서 반사효율포함)이다.
2개의 반사된 음압의 곱은 다음과 같이 2개의 발신된 음압의 곱에 의하여 나누어진다.
Figure kpo00055
결함이 있거나 없거나 간에 상기 산술연산에 의하여 계산된 결과로부터 항시 일정한 한계로 결정될 수 있다. 계산치는 출력레벨이 결과를 보다 쉽게 평가하기 위하여 조정된 평가치 K를 산출하기 위한 곱해진 항의 수효와 같은 출력에 의하여 산출되어야 한다.
제5도는 비임통로내 비임의 외형 및 길이와 재료성질에 근거를 둔 입자에 의한 초음파 분산과 같은 영향을 주는 모든 인자가 물체내에서 일정하고 탐침의 수신효율이 동일할때 본 발명의 또다른 실시예에 따른 초음파 탐상법을 설명해준다.
제5도에서, 초음파 탐촉자 또는 변환기(A, B)는 물체 또는 관(1) 내의 결함(2)의 각 옆에 하나씩 배치되어 탐촉자(A)로부터 쏘아진 초음파 비임은 탐촉자(B)를 향하여 결함(2)을 통과하여 발신될 것이다. 또다른 초음파 탐촉자 또는 변환기(C)는 결함(2)으로부터 초음파 에코를 수신하도록 위치된다. 다른 초음파 탐촉자 또는 변환기(C)는 결함(2)으로부터 초음파 에코를 수신하도록 위치된다. 탐촉자(A)로부터 탐촉자(B)까지의 비임통로는 길이(l)와 중심(D)을 갖고 있으며 결함(2)으로부터 탐촉자(C)까지 비임통로는 길이(1/2l)를 갖고 있다. 발신된 초음파 비임은 탐촉자(A)로부터 탐촉자(B)까지 화살표(RB)방향으로 움직이고, 반사된 초음파 에코는 결함(2)을 통과하여 탐촉자(A)로부터 탐촉자(C)까지 화살표(RC)방향으로 움직이며, 참조부호 RB, RC는 그들 방향으로 움직인 초음파 에너지의 수신된 음압으로서 앞으로는 사용된다.
따라서 제5도에 도시된 탐촉자(B, C)는 관의 어떠한 원하는 축방향에서 그리고 관의 전원주 표면주위에서 탐촉자(A)로부터 쏘아진 초음파 에너지의 발신되고 반사된 량, 즉 발신되고 반사된 음압(RB, RC) 각각을 측정하기 위하여 제공된다.
측정된 데이터는 다음과 같이 처리된다.
발신되고 반사된 음압(RC, RB)은 다음과 같이 표현된다.
RC=PoK Re-μl
RB=PoK Te-μl
여기에서
RC ; 반사된 음압
RB ; 발신된 음압
K ; 관표면에서, 왕복발신비와 초음파의 분산에 관련된 계수
R ; 결함의 반사계수
T ; 결함의 발신계수
μ ; 감쇠계수
l ; 초음파 에너지가 발신되고 반사된 거리(비임통로길이)
Po ; 탐촉자(A)에 의하여 발신된 음압
본 실시예에 따르면 각각의 측정된 값은 다음의 평가식에 의하여 관련된다.
평가치=RC/RB= R/ T
=결함의 외형에 전적으로 지배를 받는 상수
제6도는 감쇠계수를 제외한 영향을 주는 다른 인자가 탐촉자에 의하여 발신된 음압과 검사할 재료에서 일정하고 발신효율 및 수신효율이 거의 서로 같을때, 결함(2)을 함유한 용접시임(3)에 의하여 서로 용접된 관부분(1a,1b)을 갖고 있고 다른 재료성질을 갖고 있으며 감쇠계수 μ1, μ2를 갖는 관부분(1a, 1b)을 갖고 있는 관에 대한 다른 실시예에 따른 초음파 탐촉자 또는 변환기의 또다른 배치를 도시하고 있다. 2개의 발신 탐촉자(A1, A2) 및 2개의 수신탐촉자(B1, B2)가 결합(2)을 함유하는 검사될 영역에 관하여 결합관계로 배치되어 있다. 수신 탐촉자(B1)는 발신탐촉자(A1)로부터 쏘아지고 결함(2)에 의하여 반사된 초음파 에코(R1)를 수신하고, 초음파 비임(R4)은 발신탐촉자(A2)로부터 쏘아지고 결함(2)을 통과하여 발신된다. 수신 탐촉자(B2)는 발신탐촉자(A1)로부터 쏘아지고 결함(2)을 통과하여 발신된 초음파 비임(R3)과 발신탐촉자(A2)로부터 쏘아지고 결함(2)에 의하여 반사된 초음파 에코(R2)를 수신한다.
또한 참조부호 R1, R2, R3, R4는 이들 초음파 비임 및 에코의 수신된 음압을 표시한다.
수신된 음압은 다음과 같이 주어진다.
R1=Po RKe-μ1ㅣ
R2=Po RKe-μ2ㅣ
R3=Po TKe-μ1ㅣ/2 e-μ2ㅣ/2
R4=Po TKe-μ1ㅣ/2 e-μ2ㅣ/2
평가치=R1×R2/R3×R4
Figure kpo00056
=결함의 외형에 전적으로 지배를 받는 상수
용접된 시임의 양측에서 가변성질을 갖는 재료와 밀접한 특성에 무관하게 결함이 있거나 또는 없거나, 아주 높은 신뢰할만한 결함검사를 확인하는데 효과적이다.
데이터는 관 주위를 전체적으로 탐촉자를 계속 움직여 측정된다. 측정된 데이터 및 관련 결과치는 다음과 같다.
제7도는 제5도에 도시된 탐촉자 배치에 의하여 검사된 반사 초음파 에코로부터 얻어진 데이터를 보여주며, 이 그래프는 수평축이 관둘레 각도위치를 표시하고, 수직축이 반사된 음압의 강도를 표시한다.
제8도는 제5도에 도시된 탐촉자 배치에 의하여 검사된 발신 초음파 에코로부터 연속적으로 얻어진 데이터를 나타내고 이 그래프는 수평축이 관 둘레 각도위치를 나타내며 수직축은 발신된 음압의 강도를 나타낸다.
검사된 관은 관두께의 1/2인 두께를 갖는 인위의 결함을 갖고 있고, 제7도 및 제8도는 결함의 위치를 나타내는 화살표가 도시하고 있다. 검사된 관은 재료의 성질과 결함조건을 단순화시켰으므로 제7도 및 제8도에 도시된 초음파는 많은 에코중의 결함과 발신된 음압을 명확하게 도시하고 있다. 그러나 원심주조로서 제작된 실제관으로 그래프상에 결함의 실재를 나타낸다는 것은 대단히 어려운 일이다.
제9도는 본 발명 방법에 따른 평가치 RC/RB로부터 계산된 결과치를 도시하고 있다. 제9도의 그래프는 관재료 성질의 영향을 받지않는 무차원 값을 나타내는 수직축을 갖고 있다.
제7도 내지 제9도에 도시된 것과 같은 결과치는 제6도에 도시된 바와같이 초음파 탐촉자를 배치하고 검사된 데이터로부터 평가치 R1×R2/R3×R4를 계산하므로서 얻어질 수 있다.
발신되고 반사된 초음파는 입계에서 발생된 국부적으로 분산된 노이스에 지배를 받으며, 이들 노이스는 다음 비임 통로내에서 변화하는 랜덤 노이스이다. 어떠한 결함이나 홈은 일정한 공간을 차지하므로 결함을 통과하여 발신되거나 결함으로부터 반사된 초음파 에너지는 검사될 관 주위 어떠한 각도 간격내에 분포하게 된다. 국부적으로 분산된 노이스와 결함에 의하여 감소된 초음파 에너지 레벨 사이의 상기 차이점에 대하여, 관의 원주방향 및 축방향에서 얻어진 데이터는 평균을 이루어 국부적으로 분산된 노이스가 상대적으로 평탄함이 부여된 제2데이터를 산출하게 된다.
제2데이터는 이때 본 발명에 따른 평가치를 산출하도록 처리된다. 이 과정은 제10도에 도시된 바와같이 보다 높은 신뢰성으로서 결함이나 홈을 검사할 수 있다. 원래의 데이터를 평균화시키고 평균데이터를 처리하는 대신에 원래의 데이터는 평균화될 수 있는 평가치를 산출하기 위하여 우선 처리될 수 있다.
제11도는 본 발명에 따른 검사할 재료내의 결함을 초음파를 이용하여 검사하기 위한 회로 배치를 불록선도로 나타내었다.
제11도에 도시한 바와같이 채널 셀렉터(10)는 검사될 관과 같은 재료에 0.1MHz 내지 10MHz범위의 주파수를 갖는 초음파를 쏘아, 또한 관으로부터 반사되거나 발신된 초음파를 수신하여 전기적인 신호로 변환시킬 수 있는 4개의 초음파 탐촉자 또는 변환기(A, B, C, D)에 연결되어 있다. 채널 셀렉터(10)는 초음파 수신기와 같은 초음파 발신기 및 다른 초음파 탐촉자로서 하나의 초음파 탐촉자를 선택한다. 채널 셀렉터(10)는 다른 발신기/수신기 쌍을 순처적으로 선택하여 그들을 선택된 초음파 발신기에 고전압을 주로 사용하여 초음파 비임을 쏠 수 있게 하는 초음파 테스터(11)에 연결하여 선택된 초음파 수신기로부터 전기신호를 수신한다. 초음파 테스터(11)로부터 신호는 필터(12)에 의하여 여과되어 여과된 신호는 이득보정회로(gain correction circuit)(13)에 공급된다.
선결된 레벨로 교정된 신호는 상기 신호를 디지탈신호로 변환시키는 고속 아날로그 대 디지탈(A/D) 변환기에 응용된다. 고속 A/D 변환기(14)로부터 디지탈신호는 레지스터(15)에 기억된다.
기억된 신호는 인터페이스(16)를 통하여 컴퓨터(17)로 입력된다. 16비트 CPU로 구성된 컴퓨터(17)는 본 발명의 방법에 대하여 전술한 바와같이 초음파 탐침(A, B, C, D)으로부터 연속하여 얻어진 데이터를 평가치로 처리하기 위하여 제공된다. 탐촉자(A, B, C, D)의 어셈블리는 관에 대한 탐촉자의 각도위치를 표시하는 신호를 산출하는 로터리 엔코더(18)와 연결된다. 엔코더(18)로부터 위치신호는 트리거 신호를 발신하는 엔코더 인터페이스(19)에 공급된다. 엔코더 인터페이스(19)로부터 트리거 신호에 응답하여 타이밍 유니트(20)는 초음파 탐촉자(A, B, C, D)로부터 연속적으로 신호를 초음파 테스터가 수신할 수 있도록 채널 셀렉터와 초음파 테스터에 타이밍 신호를 보낸다. 또한 엔코더 인터페이스(19)로부터 트리거 신호는 관에 대한 탐촉자의 위치를 계수하는 위치계수기(position counter)(21)에 보낸다.
위치계수기(21)는 신호를 인터페이스(16)에 보낸다.
비록 어떤 불특정 실시예가 도시되고 기술되었을지라도, 첨부된 청구범위에서 벗어나지 아니하고 범위내에서 많은 변경과 수정이 이루어 질 수 있음을 밝혀둔다.

Claims (7)

  1. (a) 검사될 대상중 어느 한 영역 주위에 복수개의 초음파 변환기를 위치시키고 ; (b) 상기 영역으로 초음파 비임을 쏘기 위하여 상기 초음파 변환기중 하나를 여기시키고 ; (c) 쏘아진 초음파 비임에 응답하여 상기 영역으로부터 반사되고, 상기 영역을 통과하여 발신된 초음파를 수신하고 ; (d) 반사되고 발신된 초음파로부터 음압을 측정하고 ; (e) 반사된 초음파의 음압을 발신된 초음파의 음압으로 산술적으로 나누어 평가치를 산출하는 단계들 ; 로 구성되는 것을 특징으로 하는 검사할 대상내의 결함을 검사하기 위한 초음파 탐상법.
  2. 제1항에 있어서, 4개의 초음파 변화기는 서로 각도에 따른 간격이 일정한 관계를 갖고 상기 영역 주위에 배치되고, 상기 4개의 초음파 변환기는 초음파 비임을 쏘기 위하여 순차적으로 여기되며, 여기된 초음파 변환기에 인접하고 대각으로 대향하는 상기 4개의 초음파 변환기중 2개는 반사되고 발신된 초음파를 수신하도록 순차적으로 각각 선택되는 것을 특징으로 하는 초음파 탐상법.
  3. 제1항에 있어서, 2개의 초음파 변환기는 상기 영역의 각 옆에 하나씩 배치되고, 상기 2개의 초음파 변환기는 초음파 비임을 쏘도록 양자택일적으로 여기되고 순차적으로 작동하여 반사되고 발신된 초음파를 각각 수신하게 되는 것을 특징으로 하는 초음파 탐상법.
  4. 제1항에 있어서, 4개의 초음파 변환기가 서로 각도 간격이 일정한 관계를 갖고 상기 영역 주위에 배치되고, 상기 4개의 초음파 변환기중 2개는 양자택일적으로 여기되어 초음파 비임을 쏘고, 여기된 초음파 변환기에 인접하고 대각으로 대향하는 상기 4개의 초음파 변환기중 다른 2개는 선택되어, 반사되고 발신된 초음파를 각각 수신하는 것을 특징으로 하는 초음파 탐상법.
  5. 제1항에 있어서, 3개의 초음파 변환기는 서로 각도 간격이 일정한 관계를 갖도록 상기 영역 주위에 배치되고, 상기 하나의 초음파 변환기를 제외하고 상기 3개의 초음파 변환기중 2개는 순차적으로 작동하여 반사되고 발신된 초음파를 각각 수신하는 것을 특징으로 하는 초음파 탐상법.
  6. (a) 검사할 대상물의 한 영역에 초음파를 순차적으로 쏘고, 상기 영역을 통과하여 발신되고 상기 영역으로부터 반사된 초음파를 수신하여, 수신된 초음파를 전기적 신호로 변환시키기 위하여 검사할 대상물에 대하여 움직일 수 있도록 배치된 복수개의 초음파 변환기 ; (b) 상기 대상물에 대하여 상기 초음파 변환기의 위치를 표시하는 위치신호를 발신하도록 상기 초음파에 연결된 엔코더 ; (C) 수신된 전기신호를 디지탈 신호로 변환시키기 위한 아날로그 대 디지탈 컨버어터 ; (d) 상기 디지탈 신호를 기억시키기 위한 레지스터 ; 및 (e) 반사된 초음파의 음압을 발신된 초음파의 음압으로 산술적으로 나누어, 상기 레지스터로부터 평가치로 상기 디지탈 신호를 처리하기 위한 컴퓨터 ; 로 구성되는 것을 특징으로 하는 검사할 대상물 내의 결함을 초음파로 검사하기 위한 초음파 탐상장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 수단이 초음파 변환기중 하나를 초음파를 쏘기위한 초음파 발신기로서, 초음파 변환기중 2개를 반사되고 발신된 초음파를 수신하기 위한 초음파 수신기로서 순차적으로 선택하기 위한 채널 컬렉터 및 선택된 초음파 변환기를 여기시키고 선택된 초음파 수신기로부터 전기신호를 수신하기 위한 테스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 초음파 탐상장치.
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