KR20240045953A - Manufacturing method of multilayer electronic component - Google Patents

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KR20240045953A
KR20240045953A KR1020220173423A KR20220173423A KR20240045953A KR 20240045953 A KR20240045953 A KR 20240045953A KR 1020220173423 A KR1020220173423 A KR 1020220173423A KR 20220173423 A KR20220173423 A KR 20220173423A KR 20240045953 A KR20240045953 A KR 20240045953A
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박용
박정태
이종호
이은정
홍용민
박정진
백락현
김선미
이용웅
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Abstract

본 발명의 일 실시형태에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계와, 적층 방향과 다른 방향으로 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계를 포함하고, 부착시키는 단계는 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고, 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고, 제1 탄성체의 탄성계수는 50Mpa 초과 1000MPa 이하인 수 있다.A method of manufacturing a multilayer electronic component according to an embodiment of the present invention includes cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction to obtain a plurality of unit chips. and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin portion to a plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction, wherein the attaching step includes attaching a first elastic body on which the ceramic green sheet for a side margin portion is disposed and a plurality of unit chips. and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin portion to a plurality of unit chips by compressing the space between the first elastic body and the first elastic layer having a first elastic modulus, and a second elastic layer having a first elastic modulus different from the first elastic modulus. It includes a second elastic layer disposed between a plurality of unit chips and the first elastic layer, and the elastic modulus of the first elastic body may be greater than 50 MPa and less than or equal to 1000 MPa.

Figure P1020220173423
Figure P1020220173423

Description

적층형 전자 부품의 제조 방법{MANUFACTURING METHOD OF MULTILAYER ELECTRONIC COMPONENT}Manufacturing method of multilayer electronic components {MANUFACTURING METHOD OF MULTILAYER ELECTRONIC COMPONENT}

본 발명은 적층형 전자 부품의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing layered electronic components.

적층형 전자 부품 중 하나인 적층 세라믹 커패시터(MLCC: Multi-Layered Ceramic Capacitor)는 액정 표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display) 및 플라즈마 표시 장치 패널(PDP: Plasma Display Panel) 등의 영상 기기, 컴퓨터, 스마트폰 및 휴대폰 등 여러 전자 제품의 인쇄회로기판에 장착되어 전기를 충전시키거나 또는 방전시키는 역할을 하는 칩 형태의 콘덴서이다.Multi-Layered Ceramic Capacitor (MLCC), one of the multilayer electronic components, is used in video devices such as liquid crystal displays (LCDs) and plasma display panels (PDPs), computers, and smartphones. It is a chip-type condenser that is mounted on the printed circuit board of various electronic products such as mobile phones and chargers or discharges electricity.

종래, 적층 세라믹 커패시터를 소형화화면서 용량을 증가시키기 위한 방법으로, 내부 전극이 바디의 폭 방향으로 노출되도록 함으로써 마진 없는 설계를 통해 내부 전극의 폭 방향 면적을 극대화하되, 이러한 단위 칩 제작 후 소성 전 단계에서 단위 칩의 폭 방향 내부 전극 노출 면에 사이드 마진부를 별도로 부착하는 공정이 적용되고 있다.Conventionally, as a method to increase capacity while miniaturizing a multilayer ceramic capacitor, the width area of the internal electrode is maximized through a margin-free design by exposing the internal electrode in the width direction of the body. In this step, a process of separately attaching the side margin to the exposed surface of the internal electrode in the width direction of the unit chip is applied.

국내 등록특허공보 제10-1376921호Domestic Patent Publication No. 10-1376921

본 발명은 적층형 전자 부품에 사이드 마진부를 효율적으로 형성할 수 있는 적층형 전자 부품의 제조 방법을 제공한다. 예를 들어, 사이드 마진부가 적층형 전자 부품에 부착되는 과정에서의 불량 발생은 효율적으로 방지될 수 있다.The present invention provides a method of manufacturing a multilayer electronic component that can efficiently form a side margin in the multilayer electronic component. For example, defects occurring in the process of attaching the side margin to the multilayer electronic component can be efficiently prevented.

본 발명의 일 실시 예에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및 상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고, 상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고, 상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고, 상기 제1 탄성체의 탄성계수는 50Mpa 초과 1000MPa 이하일 수 있다.A method for manufacturing a multilayer electronic component according to an embodiment of the present invention is to obtain a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction. step; and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction. The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips. and wherein the first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient, and between the plurality of unit chips and the first elastic layer. It includes a second elastic layer disposed, and the elastic modulus of the first elastic body may be greater than 50 MPa and less than or equal to 1000 MPa.

본 발명의 일 실시 예에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및 상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고, 상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고, 상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고, 상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체에 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치되기 전에 제2 탄성체에 배치된 상기 복수의 단위 칩을 회전시키는 것을 더 포함하고, 상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함할 수 있다.A method for manufacturing a multilayer electronic component according to an embodiment of the present invention is to obtain a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction. step; and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction. The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips. and wherein the first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient, and between the plurality of unit chips and the first elastic layer. and a second elastic layer disposed, wherein the attaching step further includes rotating the plurality of unit chips disposed on the second elastic body before the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed on the first elastic body. , the second elastic body includes a third elastic layer having a third elastic coefficient, and a fourth elastic layer having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the third elastic layer. It may include an elastic layer.

본 발명의 일 실시 예에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및 상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고, 상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고, 상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고, 상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체와 제2 탄성체의 사이에 상기 복수의 단위 칩이 배치된 이후에 상기 제1 및 제2 탄성체의 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고, 상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함할 수 있다.A method for manufacturing a multilayer electronic component according to an embodiment of the present invention is to obtain a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction. step; and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction. The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips. and wherein the first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient, and between the plurality of unit chips and the first elastic layer. and a second elastic layer disposed, wherein the attaching step is performed by compressing between the first and second elastic bodies after the plurality of unit chips are disposed between the first elastic body and the second elastic body. and attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips, wherein the second elastic body includes a third elastic layer having a third elastic modulus, and a fourth elastic modulus different from the third elastic modulus. It may include a fourth elastic layer disposed between the plurality of unit chips and the third elastic layer.

본 발명은 적층형 전자 부품에 사이드 마진부를 효율적으로 형성할 수 있다. 예를 들어, 사이드 마진부가 적층형 전자 부품에 부착되는 과정에서의 불량 발생은 효율적으로 방지될 수 있다.The present invention can efficiently form side margins in multilayer electronic components. For example, defects occurring in the process of attaching the side margin to the multilayer electronic component can be efficiently prevented.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법에 의해 제조될 수 있는 적층형 전자 부품의 사시도를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 2는 도 1의 I-I` 단면도이다.
도 3은 도 1의 II-II` 단면도이다.
도 4은 본 발명의 일 실시형태에 따른 복수의 단위 칩을 얻는 단계의 적층 단계를 개략적으로 나타낸 분해사시도이다.
도 5은 본 발명의 일 실시형태에 따른 복수의 단위 칩을 얻는 단계의 절단 단계를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시형태에 따른 복수의 단위 칩을 얻는 단계의 절단 단계의 수행 직후 복수의 단위 칩의 형태를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 7는 본 발명의 일 실시형태에 따른 복수의 단위 칩을 얻는 단계의 절단 단계의 수행 직후 복수의 단위 칩을 제1 방향에서 바라본 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시형태에 따른 단위 칩의 형상을 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시형태에 따른 부착시키는 단계의 회전 단계를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시형태에 따른 부착시키는 단계의 근접 단계를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시형태에 따른 부착시키는 단계의 펀칭 단계를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 12은 본 발명의 일 실시형태에 따른 부착시키는 단계의 마무리 단계를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 13은 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층이 포함할 수 있는 재료들의 탄성계수 측정방식을 분석하기 위한 응력-변형률 곡선을 나타낸 도면이다.
도 14는 PET(Polyethylene terephthalate)와 같이 선형 탄성거동을 가지는 재료들의 탄성계수 측정방식을 나타내는 그래프이다.
도 15는 부직포와 같이 비선형 탄성거동을 가지는 재료들의 탄성계수 측정방식을 나타내는 그래프이다.
도 16는 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층이 포함할 수 있는 재료들의 탄성계수들을 나타낸 그래프이다.
Figure 1 schematically shows a perspective view of a layered electronic component that can be manufactured by a method for manufacturing a layered electronic component according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II′ of FIG. 1.
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line II-II′ of FIG. 1.
Figure 4 is an exploded perspective view schematically showing the stacking step of obtaining a plurality of unit chips according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a perspective view schematically showing a cutting step in obtaining a plurality of unit chips according to an embodiment of the present invention.
Figure 6 is a perspective view schematically showing the form of a plurality of unit chips immediately after performing the cutting step of obtaining the plurality of unit chips according to an embodiment of the present invention.
Figure 7 is a plan view of a plurality of unit chips viewed from a first direction immediately after performing the cutting step of obtaining a plurality of unit chips according to an embodiment of the present invention.
Figure 8 is a perspective view schematically showing the shape of a unit chip according to an embodiment of the present invention.
Figure 9 is a side view schematically showing the rotation step of the attaching step according to one embodiment of the present invention.
Figure 10 is a side view schematically showing a close step of the attaching step according to one embodiment of the present invention.
Figure 11 is a side view schematically showing the punching step of the attaching step according to one embodiment of the present invention.
Figure 12 is a side view schematically showing the final step of attaching according to an embodiment of the present invention.
Figure 13 is a diagram showing a stress-strain curve for analyzing the elastic modulus measurement method of materials that may be included in the first, second, third, and fourth elastic layers.
Figure 14 is a graph showing a method of measuring the elastic modulus of materials with linear elastic behavior such as PET (polyethylene terephthalate).
Figure 15 is a graph showing a method of measuring the elastic modulus of materials with non-linear elastic behavior, such as non-woven fabric.
Figure 16 is a graph showing elastic moduli of materials that the first, second, third, and fourth elastic layers may include.

이하, 구체적인 실시형태 및 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 통상의 기술자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to specific embodiments and attached drawings. However, the embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Additionally, embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shapes and sizes of elements in the drawings may be exaggerated for clearer explanation, and elements indicated by the same symbol in the drawings are the same elements.

그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하고, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 또한, 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다. 나아가, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In order to clearly explain the present invention in the drawings, parts not related to the description are omitted, and the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of explanation, so the present invention is not necessarily limited to what is shown. . Additionally, components with the same function within the scope of the same idea are described using the same reference numeral. Furthermore, throughout the specification, when a part is said to “include” a certain element, this means that it may further include other elements rather than excluding other elements, unless specifically stated to the contrary.

도면에서, 제1 방향은 복수의 세라믹 그린시트의 적층되어 있는 방향 또는 두께(T) 방향, 상기 제1 방향과 수직한 방향인 제2 방향 및 제3 방향 중, 상기 제2 방향은 길이(L) 방향, 상기 제3 방향은 폭(W) 방향으로 정의될 수 있다.In the drawing, the first direction is the direction in which a plurality of ceramic green sheets are stacked or the thickness (T) direction, and among the second and third directions perpendicular to the first direction, the second direction is the length (L ) direction, the third direction may be defined as the width (W) direction.

도 4 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 복수의 내부 전극 패턴(221, 222)과 복수의 세라믹 그린시트(201, 202)가 적층 방향(예: 제1 방향)으로 교대로 적층된 적층체(200)를 적층 방향(예: 제1 방향)으로 절단하여 복수의 단위 칩(210)을 얻는 단계를 포함할 수 있다. 바(300)는 지지 필름(310) 상에 적층체(200)가 배치된 구조를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 4 to 8 , in the method of manufacturing a multilayer electronic component according to an embodiment of the present invention, a plurality of internal electrode patterns 221 and 222 and a plurality of ceramic green sheets 201 and 202 are oriented in a stacking direction ( It may include the step of obtaining a plurality of unit chips 210 by cutting the laminates 200 alternately stacked in the stacking direction (e.g., the first direction). The bar 300 may include a structure in which the laminate 200 is disposed on a support film 310 .

도 4를 참조하면, 지지 필름(310)은 도전 패턴(221', 222') 및 복수의 세라믹 그린시트(201, 202)가 적층된 적층체(200)를 지지하는 역할을 수행할 수 있다. 예를 들어, 지지 필름(310)은 적층체(200)를 효과적으로 지지 및 부착하기 위하여 Latex, 전분, cellulose, 단백질, IR(Isoprene Rubber), NBR(Nitrile Butadiene Rubber), SBR(Styrene Butadiene Rubber), CR(Chloroprene Rubber), Silicon Rubber, Silicon계, Urethane계, Acryl계 및 이들의 혼합제 와 같은 점착성 물질을 포함할 수 있다. 지지 필름(310)과 지면은 서로 평행할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.Referring to FIG. 4 , the support film 310 may serve to support a laminate 200 in which conductive patterns 221' and 222' and a plurality of ceramic green sheets 201 and 202 are stacked. For example, the support film 310 is made of latex, starch, cellulose, protein, IR (Isoprene Rubber), NBR (Nitrile Butadiene Rubber), SBR (Styrene Butadiene Rubber), etc. in order to effectively support and attach the laminate 200. It may include adhesive materials such as CR (Chloroprene Rubber), Silicon Rubber, Silicon-based, Urethane-based, Acryl-based and mixtures thereof. The support film 310 and the ground may be parallel to each other, but are not limited to this.

복수의 세라믹 그린시트(201, 202)는 세라믹 파우더, 유기용제, 분산제 및 바인더를 포함하는 세라믹 페이스트로 형성될 수 있다. 상기 세라믹 파우더는 적층형 전자 부품(100)의 유전체층(111)을 형성하는 원료로서, 티탄산바륨계 재료, 납 복합 페로브스카이트계 재료 또는 티탄산스트론튬계 재료 등을 사용할 수 있다. 상기 티탄산바륨계 재료는 BaTiO3계 세라믹 분말을 포함할 수 있으며, 상기 세라믹 분말의 예시로, BaTiO3, BaTiO3에 Ca(칼슘), Zr(지르코늄) 등이 일부 고용된 (Ba1-xCax)TiO3 (0<x<1), Ba(Ti1-yCay)O3 (0<y<1), (Ba1-xCax)(Ti1-yZry)O3 (0<x<1, 0<y<1)또는 Ba(Ti1-yZry)O3 (0<y<1) 등을 들 수 있다. 복수의 세라믹 그린시트(201, 202)가 소성되면 바디(110)를 구성하는 유전체층(111)이 된다.The plurality of ceramic green sheets 201 and 202 may be formed of a ceramic paste containing ceramic powder, an organic solvent, a dispersant, and a binder. The ceramic powder is a raw material for forming the dielectric layer 111 of the multilayer electronic component 100, and barium titanate-based materials, lead composite perovskite-based materials, or strontium titanate-based materials may be used. The barium titanate-based material may include BaTiO 3 -based ceramic powder. An example of the ceramic powder is BaTiO 3 , BaTiO 3 in which Ca (calcium), Zr (zirconium), etc. are partially dissolved (Ba 1-x Ca). x )TiO 3 (0<x<1), Ba(Ti 1-y Ca y )O 3 (0<y<1), (Ba 1-x Ca x )(Ti 1-y Zr y )O 3 ( Examples include 0<x<1, 0<y<1) or Ba(Ti 1-y Zr y )O 3 (0<y<1). When the plurality of ceramic green sheets 201 and 202 are fired, they become the dielectric layer 111 constituting the body 110.

한편, 일 실시예에서는 적층체(200)는 커버부(112, 113)를 형성하는 커버부용 세라믹 그린시트(203)를 더 포함할 수 있다. 커버부용 세라믹 그린시트(203)는 세라믹 그린시트(201, 202)와 동일한 재료 및 성분으로 구성될 수 있으나 이에 제한되는 것은 아니며, 소성과정을 거쳐 바디(110)의 상부 및 하부 커버부(112, 113)를 형성할 수 있다. 예를 들어, 커버부용 세라믹 그린시트(203)는 적층체의 제1 방향 일면과 타면에 형성될 수 있으며, 단일한 층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다.Meanwhile, in one embodiment, the laminate 200 may further include a ceramic green sheet 203 for the cover portion that forms the cover portions 112 and 113. The ceramic green sheet 203 for the cover part may be composed of the same materials and components as the ceramic green sheets 201 and 202, but is not limited thereto, and the upper and lower cover parts 112, 113) can be formed. For example, the ceramic green sheet 203 for the cover portion may be formed on one side and the other side of the laminate in the first direction, and may be formed as a single layer or a plurality of layers.

내부 전극 패턴(221, 222)은 도전성 금속을 포함하는 내부 전극용 페이스트에 의하여 세라믹 그린시트(201, 202) 상에 형성될 수 있다. 내부 전극 패턴(221, 222)에 포함되는 도전성 금속은 특별히 제한되지 않으며, 전기 전도성이 우수한 재료를 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 도전성 금속은 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 주석(Sn), 텅스텐(W), 티타늄(Ti) 및 이들의 합금 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 세라믹 그린시트(201, 202) 상에 내부 전극 패턴(221, 222)을 형성하는 방법은 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어 상기 도전성 금속을 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트를 세라믹 그린시트(201, 202)에 스크린 인쇄 또는 그라비아 인쇄하여 형성할 수 있다. The internal electrode patterns 221 and 222 may be formed on the ceramic green sheets 201 and 202 using an internal electrode paste containing a conductive metal. The conductive metal included in the internal electrode patterns 221 and 222 is not particularly limited, and any material with excellent electrical conductivity can be used. For example, the conductive metals include nickel (Ni), copper (Cu), palladium (Pd), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), tin (Sn), tungsten (W), and titanium ( Ti) and one or more of their alloys. The method of forming the internal electrode patterns 221 and 222 on the ceramic green sheets 201 and 202 is not particularly limited. For example, the conductive paste for internal electrodes containing the conductive metal can be formed on the ceramic green sheets 201 and 202 by screen printing or gravure printing.

내부 전극 패턴(221, 222)은 스트라이프형일 수 있다. 구체적으로, 내부 전극 패턴은 제2 방향으로 일정한 간격을 두고 세라믹 그린시트(201, 202)의 제3 방향 양단과 접하도록 형성될 수 있다. The internal electrode patterns 221 and 222 may be striped. Specifically, the internal electrode pattern may be formed to contact both ends of the ceramic green sheets 201 and 202 in the third direction at regular intervals in the second direction.

내부 전극 패턴(221, 222)은 세라믹 그린시트(201)에 형성된 제1 내부 전극 패턴(221) 및 다른 세라믹 그린시트(202)에 형성된 제2 내부 전극 패턴(222)을 포함할 수 있다. 이때, 제1 내부 전극 패턴(221)이 형성된 세라믹 그린시트를 제1 세라믹 그린시트(201), 제2 내부 전극 패턴(222)이 형성된 세라믹 그린시트를 제2 세라믹 그린시트(202)로 지칭할 수 있다. The internal electrode patterns 221 and 222 may include a first internal electrode pattern 221 formed on a ceramic green sheet 201 and a second internal electrode pattern 222 formed on another ceramic green sheet 202 . At this time, the ceramic green sheet on which the first internal electrode pattern 221 is formed will be referred to as the first ceramic green sheet 201, and the ceramic green sheet on which the second internal electrode pattern 222 is formed will be referred to as the second ceramic green sheet 202. You can.

도 4에 도시된 바와 같이, 복수의 세라믹 그린시트(201, 202)는 제1 내부 전극 패턴(221)과 제2 내부 전극 패턴(222)이 교차 적층 되도록 번갈아 가며 적층될 수 있다. 이에 따라 후술할 단위 칩(210)을 형성할 때, 제1 내부 전극 패턴(221)은 제3 면(3)에 노출되고 제2 내부 전극 패턴(222)은 제4 면(4)에 노출될 수 있다. 제1 내부 전극 패턴(221)은 소성 이후 제1 내부 전극(121)이 되고, 제2 내부 전극 패턴(222)은 소성 이후 제2 내부 전극(122)이 될 수 있다.As shown in FIG. 4 , a plurality of ceramic green sheets 201 and 202 may be alternately stacked so that the first internal electrode pattern 221 and the second internal electrode pattern 222 are alternately stacked. Accordingly, when forming the unit chip 210, which will be described later, the first internal electrode pattern 221 will be exposed to the third surface 3 and the second internal electrode pattern 222 will be exposed to the fourth surface 4. You can. The first internal electrode pattern 221 may become the first internal electrode 121 after firing, and the second internal electrode pattern 222 may become the second internal electrode 122 after firing.

도 5 내지 도 7을 참조하면, 바(300)를 기준으로 복수의 세라믹 그린시트(201, 202)의 적층되어 있는 방향을 제1 방향이라 할 때, 바(300)를 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 1회 이상 절단하고, 제1 및 제2 방향과 수직한 제3 방향으로 1회 이상 절단하여 복수의 단위 칩(210)을 얻되, 내부 전극 패턴(221, 222)이 단위 칩(210)의 제1 및 제2 측면(S1, S2)과 모두 연결되도록 절단한다.5 to 7, when the direction in which the plurality of ceramic green sheets 201 and 202 are stacked with respect to the bar 300 is referred to as the first direction, the bar 300 is positioned perpendicular to the first direction. A plurality of unit chips 210 are obtained by cutting at least once in the second direction and at least once in a third direction perpendicular to the first and second directions, wherein the internal electrode patterns 221 and 222 are unit chips ( It is cut so as to be connected to both the first and second sides (S1, S2) of 210).

도 5에 도시된 바와 같이, 적층체(200)는 서로 직교하는 절단선 C1-C1 및 C2-C2를 따라 절단될 수 있다. C1-C1 절단선은 제2 방향과 평행한 절단선으로, 제3 방향으로 실질적으로 등간격으로 배치되며, C2-C2 절단선은 제3 방향과 평행한 절단선으로, 제2 방향으로 실질적으로 등간격으로 배치된다. C1-C1 절단선에 의해 실질적으로 일정한 제3 방향 크기를 가지는 단위 칩(210)이 형성될 수 있으며, C2-C2 절단선에 의해 실질적으로 일정한 제2 방향 크기를 가지는 단위 칩(210)이 형성될 수 있다.As shown in FIG. 5, the laminate 200 may be cut along cutting lines C1-C1 and C2-C2 that are orthogonal to each other. The C1-C1 cutting line is a cutting line parallel to the second direction and is disposed at substantially equal intervals in the third direction, and the C2-C2 cutting line is a cutting line parallel to the third direction and substantially arranged in the second direction. They are placed at equal intervals. A unit chip 210 having a substantially constant size in the third direction can be formed by the C1-C1 cutting line, and a unit chip 210 having a substantially constant size in the second direction can be formed by the C2-C2 cutting line. It can be.

특히, C2-C2 절단선은 제1 및 제2 내부 전극 패턴(221, 222)의 제2 방향 중심부와 제1 및 제2 내부 전극 패턴(221, 222)이 제2 방향으로 이격된 공간을 절단하도록 형성되므로, 단위 칩(210)의 제1 내부 전극 패턴(221)은 제3 면(3)으로, 제2 내부 전극 패턴(222)은 제4 면(4)으로 노출될 수 있다.In particular, the C2-C2 cutting line cuts the center of the first and second internal electrode patterns 221 and 222 in the second direction and the space where the first and second internal electrode patterns 221 and 222 are spaced apart in the second direction. Therefore, the first internal electrode pattern 221 of the unit chip 210 may be exposed to the third surface 3 and the second internal electrode pattern 222 may be exposed to the fourth surface 4.

적층체(200)를 절단하는 수단은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면 적층체(200)를 닥터 블레이드, 다이싱 블레이드 등의 블레이드 절단법, 길로틴 절단법 또는 레이저 절단법을 이용할 수 있다.The means for cutting the laminate 200 is not particularly limited. For example, the laminate 200 can be cut using a blade cutting method such as a doctor blade or a dicing blade, a guillotine cutting method, or a laser cutting method.

도 6 및 도 7을 참조하면, 바(300)의 절단에 따라, 적층체(200)는 복수의 단위 칩(210)으로 분할될 수 있다. 복수의 단위 칩(210)은 지지 필름(310)의 점착성으로 인해 절단 후에도 지지 필름(310) 상에 접착될 수 있다.Referring to FIGS. 6 and 7 , as the bar 300 is cut, the stack 200 may be divided into a plurality of unit chips 210. The plurality of unit chips 210 can be adhered to the support film 310 even after cutting due to the adhesiveness of the support film 310.

도 6 및 도 7는 절단에 의해 복수의 단위 칩(210)이 서로 일정 간격을 두고 이격되어 있는 구조를 나타내나, 복수의 세라믹 그린시트(201, 202) 및 내부 전극 패턴(221, 222)의 점성에 의해 복수의 단위 칩(210)은 상호간에 접착력이 약해진 상태에서 실질적으로 접한 상태일 수 있다.6 and 7 show a structure in which a plurality of unit chips 210 are spaced apart from each other at regular intervals by cutting, but the plurality of ceramic green sheets 201 and 202 and the internal electrode patterns 221 and 222 are Due to viscosity, the plurality of unit chips 210 may be in actual contact with each other while their adhesive strength is weakened.

다만, 복수의 단위 칩이 서로 이격되어 있는 것을 배제하는 것은 아니며, 절단하는 수단에 따라 일부 이격되어 배치될 수 있으나, 복수의 단위 칩 간에 이격된 공간의 크기는 인접한 단위 칩이 서로 접촉없이 회전할 수 있는 크기보다는 좁을 수 있다. However, it does not exclude that the plurality of unit chips are spaced apart from each other, and may be arranged partially spaced apart depending on the cutting means, but the size of the space between the plurality of unit chips is such that adjacent unit chips can rotate without contacting each other. It may be narrower than it can be.

도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시형태에 따른 복수의 단위 칩(210)의 내부 전극 패턴(221, 222)은 단위 칩(210)의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면(S1, S2)과 모두 연결되도록 절단된다. 이에 따라, 내부 전극 패턴(221, 222)이 형성될 수 있는 면적을 최대화하여 적층형 전자 부품(100)의 단위 부피당 용량을 향상시킬 수 있다. 다만, 내부 전극 패턴(221, 222)이 노출되는 제1 및 제2 측면(S1, S2)은 외부 수분 침투에 취약한 부분이며, 후술할 외부 전극이 제1 및 제2 측면(S1, S2)으로 연장되어 형성될 경우 쇼트가 발생할 우려가 있다.Referring to FIG. 8, the internal electrode patterns 221 and 222 of the plurality of unit chips 210 according to an embodiment of the present invention are formed on the first and second side surfaces S1 and S2 of the unit chip 210 facing each other. ) is cut so that it is all connected. Accordingly, the area where the internal electrode patterns 221 and 222 can be formed can be maximized, thereby improving the capacity per unit volume of the multilayer electronic component 100. However, the first and second sides (S1, S2) where the internal electrode patterns (221, 222) are exposed are vulnerable to external moisture penetration, and the external electrodes, which will be described later, are connected to the first and second sides (S1, S2). If it is extended and formed, there is a risk of a short circuit occurring.

후술할 본 발명의 일 실시형태의 부착시키는 단계에서는 사이드 마진부용 세라믹 그린시트를 제1 측면(S1) 및/또는 제2 측면(S2)에 부착 및 펀칭하여 제1 사이드 마진부를 형성함으로써 상기 내습 신뢰성 문제 및 쇼트가 발생할 우려를 해결할 수 있다.In the attaching step of an embodiment of the present invention, which will be described later, the ceramic green sheet for the side margin is attached and punched to the first side (S1) and/or the second side (S2) to form the first side margin, thereby improving the moisture resistance reliability. Concerns about problems and short circuits can be resolved.

도 9 내지 도 12를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 적층형 전자 부품의 제조 방법은, 적층체(200)의 적층 방향(예: 도 8의 제1 방향)과 다른 방향(예: 도 8의 제3 방향)으로, 복수의 단위 칩(210)에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 복수의 제1 부분(47a)을 부착시키는 단계를 포함할 수 있다. 복수의 제1 부분(47a)은 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 일부분일 수 있다. 상기 부착시키는 단계는, 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)가 배치된 제1 탄성체(50d)와 복수의 단위 칩(210) 사이를 압착하여 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이를 절단하면서 복수의 제1 부분(47a)을 복수의 단위 칩(210)에 부착시키는 것을 포함할 수 있다. 이는 펀칭(punching)이라고 표현될 수 있다.Referring to FIGS. 9 to 12 , a method of manufacturing a stacked electronic component according to an embodiment of the present invention involves stacking the laminate 200 in a direction different from the stacking direction (e.g., the first direction in FIG. 8) (e.g., FIG. It may include attaching the plurality of first portions 47a of the ceramic green sheet 47 for the side margin portion to the plurality of unit chips 210 in the third direction of 8). The plurality of first portions 47a may be part of the ceramic green sheet 47 for the side margin portion. The attaching step includes compressing between the first elastic body 50d on which the ceramic green sheet 47 for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips 210 to form a plurality of first plurality of ceramic green sheets 47 for the side margin portion. This may include attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210 while cutting between the part 47a and the second part 47b. This can be expressed as punching.

제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수가 낮을수록, 제1 탄성체(50a, 50d)의 형태는 외부 힘에 의해 더욱 쉽게 변형될 수 있고, 복수의 제1 부분(47a)이 복수의 단위 칩(210)에 부착되는 과정에서 복수의 단위 칩(210)이 손상되는 것은 효율적으로 억제될 수 있다.The lower the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d, the more easily the shape of the first elastic bodies 50a and 50d can be deformed by an external force, and the plurality of first parts 47a are formed into a plurality of unit chips. Damage to the plurality of unit chips 210 in the process of being attached to 210 can be effectively prevented.

제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수가 높을수록, 제1 탄성체(50a, 50d)의 형태는 더욱 강하게 유지될 수 있고, 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이가 절단되는 과정에서의 절단 불량은 효율적으로 억제될 수 있다.The higher the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d, the more strongly the shape of the first elastic bodies 50a and 50d can be maintained, and the distance between the plurality of first parts 47a and the second parts 47b is Cutting defects during the cutting process can be efficiently suppressed.

따라서, 제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수가 최적화될 경우, 복수의 제1 부분(47a)이 복수의 단위 칩(210)에 부착되는 과정에서 복수의 단위 칩(210)이 손상되는 것과 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이가 절단되는 과정에서의 절단 불량은 효율적으로 억제될 수 있다.Therefore, when the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d is optimized, the plurality of unit chips 210 are damaged in the process of attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210. Cutting defects in the process of cutting between the plurality of first parts 47a and the second parts 47b can be efficiently suppressed.

제1 탄성체(50a, 50d)는 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층(51)과, 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 복수의 단위 칩(210) 중 적어도 하나와 제1 탄성층(51)의 사이에 배치된 제2 탄성층(52)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수는 최적화되기 더 유리해질 수 있다.The first elastic bodies 50a and 50d include a first elastic layer 51 having a first elastic modulus, a second elastic modulus different from the first elastic modulus, and at least one of the plurality of unit chips 210 and the first elastic layer 51 having a first elastic modulus. It may include a second elastic layer 52 disposed between the layers 51. Accordingly, the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d can be more advantageously optimized.

제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수는 제1 탄성체(50a, 50d)에 대해 직접적으로 탄성계수를 측정하는 방식으로 측정될 수 있으며, 보간(interpolation) 탄성계수와 거의 동일할 수 있다. 보간 탄성계수는 제1 탄성층(51)의 부피와 제1 탄성계수의 곱(제1 값)과, 제2 탄성층(52)의 부피와 제2 탄성계수의 곱(제2 값)의 합(제3 값)에서, 제1 탄성층(51)의 부피와 제2 탄성층(52)의 부피의 합(제4 값)을 나눈 값으로 계산될 수 있다. 즉, 제1 값과 제2 값의 합은 제3 값이고, 제3 값에서 제4 값을 나눈 값은 제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수일 수 있다.The elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d may be measured by directly measuring the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d, and may be substantially the same as the interpolation elastic modulus. The interpolated elastic modulus is the sum of the product of the volume of the first elastic layer 51 and the first elastic modulus (first value) and the product of the volume of the second elastic layer 52 and the second elastic modulus (second value) In (third value), it can be calculated as a value divided by the sum (fourth value) of the volume of the first elastic layer 51 and the volume of the second elastic layer 52. That is, the sum of the first value and the second value is the third value, and the value obtained by dividing the third value by the fourth value may be the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d.

제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수는 제1 및 제2 탄성층(51, 52)의 전반적(overall) 탄성계수일 수 있고, 50Mpa 초과 1000MPa 이하일 수 있다. 제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수가 50Mpa을 초과하므로, 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이가 절단되는 과정에서의 절단 불량은 효율적으로 억제될 수 있다. 제1 탄성체(50a, 50d)의 탄성계수가 1000Mpa 이하이므로, 복수의 제1 부분(47a)이 복수의 단위 칩(210)에 부착되는 과정에서 복수의 단위 칩(210)이 손상되는 것은 효율적으로 억제될 수 있다.The elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d may be the overall elastic modulus of the first and second elastic layers 51 and 52, and may be greater than 50 MPa and less than or equal to 1000 MPa. Since the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d exceeds 50Mpa, cutting defects in the process of cutting between the plurality of first parts 47a and second parts 47b can be efficiently suppressed. Since the elastic modulus of the first elastic bodies 50a and 50d is 1000Mpa or less, the plurality of unit chips 210 are effectively prevented from being damaged in the process of attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210. It can be suppressed.

부착시키는 단계는, 제1 탄성체(50a, 50d)와 제2 탄성체(50b, 50c)의 사이에 복수의 단위 칩(210)이 배치된 이후에 제1 탄성체(50a, 50d)와 제2 탄성체(50b, 50c)의 사이를 압착하여 복수의 제1 부분(47a)을 복수의 단위 칩(210)에 부착시키는 것을 포함할 수 있다. 제2 탄성체(50b, 50c)는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층(53)과, 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 복수의 단위 칩(210) 중 적어도 하나와 제3 탄성층(53)의 사이에 배치된 제4 탄성층(54)을 포함할 수 있다.In the attaching step, after the plurality of unit chips 210 are disposed between the first elastic bodies 50a and 50d and the second elastic bodies 50b and 50c, the first elastic bodies 50a and 50d and the second elastic bodies (50a, 50d) This may include attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210 by compressing between the 50b and 50c). The second elastic bodies 50b and 50c include a third elastic layer 53 having a third elastic coefficient, at least one of the plurality of unit chips 210 and a third elastic layer 53 having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient. It may include a fourth elastic layer 54 disposed between the elastic layers 53.

이에 따라, 제2 탄성체(50b, 50c)의 탄성계수도 최적화되기 더 유리해질 수 있으므로, 복수의 제1 부분(47a)이 복수의 단위 칩(210)에 부착되는 과정에서 복수의 단위 칩(210)이 손상되는 것과 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이가 절단되는 과정에서의 절단 불량은 더욱 효율적으로 억제될 수 있다. 제1 탄성계수와 제3 탄성계수는 서로 동일할 수도 있고 다를 수도 있다. 제2 탄성계수와 제4 탄성계수는 서로 동일할 수도 있고 다를 수도 있다.Accordingly, the elastic coefficients of the second elastic bodies 50b and 50c may also be more advantageously optimized, so that in the process of attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210, the plurality of unit chips 210 ) damage and cutting defects in the process of cutting between the plurality of first parts 47a and the second parts 47b can be suppressed more efficiently. The first elastic modulus and the third elastic modulus may be the same or different from each other. The second elastic modulus and the fourth elastic modulus may be the same or different from each other.

예를 들어, 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성계수 각각은 50Mpa를 초과할 수 있다. 이에 따라, 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이가 절단되는 과정에서의 절단 불량은 안정적으로 억제될 수 있다.For example, each of the first, second, third and fourth elastic moduli may exceed 50Mpa. Accordingly, cutting defects in the process of cutting between the plurality of first parts 47a and the second parts 47b can be stably suppressed.

예를 들어, 제2 탄성계수는 제1 탄성계수보다 더 높고, 제1 탄성층(51)의 두께는 제2 탄성층(52)의 두께보다 더 두껍고, 제4 탄성계수는 제3 탄성계수보다 더 높고, 제3 탄성층(53)의 두께는 제4 탄성층(54)의 두께보다 더 두꺼울 수 있다. 이에 따라, 제1 탄성층(51) 및/또는 제3 탄성층(53)은 복수의 단위 칩(210)에 대한 완충 역할을 효율적으로 수행할 수 있고, 제2 탄성층(52) 및/또는 제4 탄성층(54)은 복수의 제1 부분(47a)과 제2 부분(47b) 사이를 절단하는 역할을 효율적으로 수행할 수 있다.For example, the second elastic modulus is higher than the first elastic modulus, the thickness of the first elastic layer 51 is thicker than the thickness of the second elastic layer 52, and the fourth elastic modulus is higher than the third elastic modulus. It is higher, and the thickness of the third elastic layer 53 may be thicker than the thickness of the fourth elastic layer 54. Accordingly, the first elastic layer 51 and/or the third elastic layer 53 can efficiently perform a buffering role for the plurality of unit chips 210, and the second elastic layer 52 and/or The fourth elastic layer 54 can efficiently perform the role of cutting between the plurality of first parts 47a and second parts 47b.

예를 들어, 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층(51, 52, 53, 54) 각각의 두께는 0㎛ 초과 3㎛ 이하일 수 있다. 예를 들어, 제1 탄성체(50a, 50d)와 제2 탄성체(50b, 50c) 각각의 경도값은 100 이하일 수 있다. 예를 들어, 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층(51, 52, 53, 54) 각각의 상하면 면적은 500mm * 500mm 이하일 수 있다.For example, the thickness of each of the first, second, third, and fourth elastic layers 51, 52, 53, and 54 may be greater than 0 μm and less than or equal to 3 μm. For example, the hardness value of each of the first elastic bodies 50a and 50d and the second elastic bodies 50b and 50c may be 100 or less. For example, the top and bottom areas of each of the first, second, third, and fourth elastic layers 51, 52, 53, and 54 may be 500 mm * 500 mm or less.

예를 들어, 부직포는 PET(Polyethylene terephthalate)보다 더 낮은 탄성계수를 가지 수 있으므로, 제1 및 제3 탄성층(51, 53) 각각에 포함될 수 있다. 제2 및 제4 탄성층(52, 54) 각각은 PET를 포함할 수 있다. 여기서, 제1 및 제3 탄성층(51, 53) 각각의 두께는 0㎛ 초과 2㎛ 이하이고, 제2 및 제4 탄성층(52, 54) 각각의 두께는 0㎛ 초과 1㎛ 이하일 수 있다.For example, non-woven fabric may have a lower elastic modulus than PET (polyethylene terephthalate), so it may be included in each of the first and third elastic layers 51 and 53. Each of the second and fourth elastic layers 52 and 54 may include PET. Here, the thickness of each of the first and third elastic layers 51 and 53 may be greater than 0 μm and less than or equal to 2 μm, and the thickness of each of the second and fourth elastic layers 52 and 54 may be greater than 0 μm and less than or equal to 1 μm. .

예를 들어, 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층(51, 52, 53, 54) 각각은 부직포와 PET뿐만 아니라, 실리콘(Silicone), Polyurethane(PU), 천연 고무(Natural rubber) 및 Polyolefine(PO) 중 적어도 하나를 대신 또는 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 실리콘은 실리콘 고무일 수 있고, 실리콘 고무의 탄성계수는 60Mpa 이상 80MPa 이하일 수 있다.For example, each of the first, second, third, and fourth elastic layers 51, 52, 53, and 54 is made of non-woven fabric and PET, as well as silicone, polyurethane (PU), and natural rubber. and Polyolefine (PO) may be included instead or in addition. For example, silicone may be silicone rubber, and the elastic modulus of silicone rubber may be 60 MPa or more and 80 MPa or less.

제2 탄성층(52)에서 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)를 마주보는 면의 거칠기는 제1 및 제2 탄성층(51, 52)이 서로 마주보는 면의 거칠기보다 거칠 수 있고, 제4 탄성층(54)에서 복수의 단위 칩(210) 중 적어도 하나를 마주보는 면의 거칠기는 제3 및 제4 탄성층(53, 54)이 서로 마주보는 면의 거칠기보다 거칠 수 있다. 이에 따라, 복수의 제1 부분(47a)이 복수의 단위 칩(210)에 부착되는 과정에서 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)나 복수의 단위 칩(210)이 옆으로 미끄러지는 것은 효율적으로 방지될 수 있다. 예를 들어, 제2 및 제4 탄성층(52, 54) 각각의 상면과 하면 간의 거칠기 차이를 구현하기 위해, 알려진 조도 처리 공정은 제2 및 제4 탄성층(52, 54) 각각의 상면과 하면 중 하나에만 적용될 수 있다.The roughness of the surface of the second elastic layer 52 facing the ceramic green sheet 47 for the side margin may be rougher than the roughness of the surface of the first and second elastic layers 51 and 52 facing each other, and the fourth The roughness of the surface of the elastic layer 54 facing at least one of the plurality of unit chips 210 may be rougher than the roughness of the surfaces of the third and fourth elastic layers 53 and 54 facing each other. Accordingly, during the process of attaching the plurality of first parts 47a to the plurality of unit chips 210, the side margin ceramic green sheet 47 or the plurality of unit chips 210 are effectively prevented from sliding sideways. It can be. For example, in order to implement a difference in roughness between the upper and lower surfaces of the second and fourth elastic layers 52 and 54, respectively, a known roughness treatment process is performed on the upper and lower surfaces of the second and fourth elastic layers 52 and 54, respectively. It can only be applied to one of the following:

도 9를 참조하면, 부착시키는 단계는, 제1 탄성체에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치되기 전에 제2 탄성체(50b)에 배치된 복수의 단위 칩(210)을 회전시키는 것을 더 포함하고, 제2 탄성체(50b)는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층(53)과, 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 복수의 단위 칩(210) 중 적어도 하나와 제3 탄성층(53)의 사이에 배치된 제4 탄성층(54)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 9, the attaching step further includes rotating the plurality of unit chips 210 disposed on the second elastic body 50b before the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed on the first elastic body, 2 The elastic body 50b includes a third elastic layer 53 having a third elastic coefficient, at least one of the plurality of unit chips 210 having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient, and a third elastic layer ( It may include a fourth elastic layer 54 disposed between 53).

예를 들어, 복수의 단위 칩(210)은 점착 시트(38)와 함께 지지대(40) 상에 배치될 수 있고, 판(41)은 복수의 단위 칩(210)의 상측에 배치될 수 있다. 이후, 판(41)은 수평방향으로 전동(tumbling)할 수 있다. 점착 시트(38)는 연결부(34)에 의해 판(41)과 함께 전동할 수 있으므로, 점착 시트(38) 상의 복수의 단위 칩(210)은 한꺼번에 90도 회전될 수 있다. 이때, 지지대(40)와 판(41) 사이를 지지하는 지지 기둥(35)도 넘어질 수 있다.For example, the plurality of unit chips 210 may be disposed on the support 40 together with the adhesive sheet 38, and the plate 41 may be disposed on the upper side of the plurality of unit chips 210. Afterwards, the plate 41 can tumble in the horizontal direction. Since the adhesive sheet 38 can roll together with the plate 41 by the connecting portion 34, the plurality of unit chips 210 on the adhesive sheet 38 can be rotated 90 degrees at once. At this time, the support pillar 35 supporting between the support 40 and the plate 41 may also fall.

제1 탄성체(50a) 및/또는 제2 탄성체(50b)의 탄성계수가 낮을수록, 제1 탄성체(50a) 및/또는 제2 탄성체(50b)는 판(41)의 전동에 기반한 응력이 복수의 단위 칩(210)으로 전달되는 것에 대한 완충 역할을 할 수 있으므로, 복수의 단위 칩(210)의 손상은 방지될 수 있다. 제1 탄성체(50a) 및/또는 제2 탄성체(50b)의 탄성계수가 높을수록, 복수의 단위 칩(210)의 회전 불량은 방지될 수 있다.The lower the elastic modulus of the first elastic body (50a) and/or the second elastic body (50b), the lower the stress based on the rolling of the plate 41. Since it can act as a buffer against what is transmitted to the unit chip 210, damage to the plurality of unit chips 210 can be prevented. As the elastic modulus of the first elastic body 50a and/or the second elastic body 50b is higher, rotation failure of the plurality of unit chips 210 can be prevented.

제1 탄성체(50a)는 서로 다른 제1 및 제2 탄성계수를 각각 가지는 제1 및 제2 탄성층(51, 52)을 포함할 수 있으므로, 제1 탄성체(50a)의 탄성계수는 효율적으로 최적화될 수 있다. 제2 탄성체(50b)는 서로 다른 제3 및 제4 탄성계수를 각각 가지는 제3 및 제4 탄성층(53, 54)을 포함할 수 있으므로, 제2 탄성체(50b)의 탄성계수는 효율적으로 최적화될 수 있다. 제1 탄성체(50a) 및/또는 제2 탄성체(50b)의 탄성계수 최적화에 따라, 복수의 단위 칩(210)의 회전은 안정적으로 진행될 수 있고, 복수의 단위 칩(210)의 손상은 효율적으로 방지될 수 있다.Since the first elastic body 50a may include first and second elastic layers 51 and 52 each having different first and second elastic moduli, the elastic modulus of the first elastic body 50a can be efficiently optimized. It can be. Since the second elastic body 50b may include third and fourth elastic layers 53 and 54 each having different third and fourth elastic moduli, the elastic modulus of the second elastic body 50b can be efficiently optimized. It can be. By optimizing the elastic coefficient of the first elastic body 50a and/or the second elastic body 50b, rotation of the plurality of unit chips 210 can proceed stably, and damage to the plurality of unit chips 210 can be efficiently prevented. It can be prevented.

한편, 도 9의 제1 탄성체(50a)와 도 10 내지 도 12의 제1 탄성체(50d)는 서로 동일할 수도 있고 서로 다를 수도 있다. 도 9의 제2 탄성체(50b)와 도 10 내지 도 12의 제2 탄성체(50c)는 서로 동일할 수도 있고 서로 다를 수도 있다.Meanwhile, the first elastic body 50a of FIG. 9 and the first elastic body 50d of FIGS. 10 to 12 may be the same or different from each other. The second elastic body 50b of FIG. 9 and the second elastic body 50c of FIGS. 10 to 12 may be the same or different from each other.

도 10 내지 도 12를 참조하면, 부착시키는 단계는 도 10이 나타내는 근접 단계와 도 11이 나타내는 펀칭(punching) 단계와 도 12가 나타내는 마무리 단계가 순차적으로 수행되는 것을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 10 to 12, the attaching step may include sequentially performing the approximation step shown in FIG. 10, the punching step shown in FIG. 11, and the finishing step shown in FIG. 12.

도 10 내지 도 12를 참조하면, 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)는 전술한 세라믹 그린시트(201, 202)와 같이 티탄산바륨계 재료, 납 복합 페로브스카이트계 재료 또는 티탄산스트론튬계 재료 등을 포함하는 세라믹 파우더, 유기용제, 분산제 및 바인더를 포함하는 세라믹 페이스트로 형성될 수 있다. 다만, 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 조성은 전술한 세라믹 그린시트(201, 202)와 반드시 동일한 조성을 가질 필요는 없으며, 상이한 조성을 가질 수 있다. 이에 따라 소성 후의 마진부(114, 115)는 유전체층(111)과 상이한 유전체 평균 입경, 치밀도 또는 경도를 가질 수 있다.10 to 12, the ceramic green sheet 47 for the side margin portion is made of a barium titanate-based material, a lead composite perovskite-based material, or a strontium titanate-based material, like the ceramic green sheets 201 and 202 described above. It may be formed as a ceramic paste containing ceramic powder, organic solvent, dispersant, and binder. However, the composition of the ceramic green sheet 47 for the side margin does not necessarily have to have the same composition as the ceramic green sheets 201 and 202 described above, and may have a different composition. Accordingly, the margin portions 114 and 115 after firing may have an average dielectric grain size, density, or hardness that is different from that of the dielectric layer 111.

예를 들어, 부착시키는 단계에서의 주변 온도는 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 변형 및/또는 균열의 방지를 위해 50℃~150℃로 조절될 수 있다. 이는 열압착이라고 표현될 수 있다. 또는, 부착시키는 단계에서의 주변 온도는 사이드 마진부용 세라믹 그린시트(47)의 건조 방지를 위해 50℃ 이하로 조절될 수도 있다.For example, the ambient temperature during the attaching step may be adjusted to 50°C to 150°C to prevent deformation and/or cracking of the ceramic green sheet 47 for the side margin portion. This can be expressed as heat compression. Alternatively, the ambient temperature during the attaching step may be adjusted to 50° C. or lower to prevent drying of the ceramic green sheet 47 for the side margin portion.

예를 들어, 접착제(예: 아크릴, 에폭시)는 제2 탄성층(52)과 판(41)의 사이에 배치될 수 있고, 제4 탄성층(54)과 지지대(40)의 사이에 배치될 수도 있다.For example, an adhesive (e.g., acrylic, epoxy) may be disposed between the second elastic layer 52 and the plate 41, and may be disposed between the fourth elastic layer 54 and the support 40. It may be possible.

예를 들어, 소성 과정은 복수의 제1 부분(47a)이 부착된 복수의 단위 칩(210)에 수행될 수 있다. 소성 과정은 환원 분위기의 1000~1300℃의 온도에서 수행될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 이후 바디(110)의 제3 및 제4 면(3, 4) 각각에 외부 전극(131, 132)을 형성하여 적층형 전자 부품(100)을 제조할 수 있다.For example, the firing process may be performed on a plurality of unit chips 210 to which a plurality of first parts 47a are attached. The firing process may be performed at a temperature of 1000-1300°C in a reducing atmosphere, but is not limited thereto. Thereafter, the multilayer electronic component 100 can be manufactured by forming external electrodes 131 and 132 on each of the third and fourth surfaces 3 and 4 of the body 110.

한편, 제1 및 제2 사이드 마진부(214, 215)가 형성된 단위 칩(210)은 추가적인 공정 없이 소성되어 바디(110)를 형성할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니며, 전기 전도성이 우수한 금속을 포함하는 도전성 페이스트를 제3 면 및 제4 면(3, 4)에 각각 배치하고 바디(110)와 함께 동시에 소성함으로써 외부 전극(131, 132)를 형성하여 적층형 전자 부품(100)을 제조할 수 있다.Meanwhile, the unit chip 210 on which the first and second side margin portions 214 and 215 are formed may be fired without an additional process to form the body 110, but is not limited thereto, and may be made of a metal with excellent electrical conductivity. The multilayer electronic component 100 can be manufactured by forming the external electrodes 131 and 132 by placing the conductive paste containing the conductive paste on each of the third and fourth surfaces 3 and 4 and simultaneously firing it together with the body 110. there is.

도 13의 응력-변형률 곡선의 세로축과 가로축은 각각 응력(Stress)과 변형률(Strain)이다. 제1 탄성체 및/또는 제2 탄성체에 응력(Stress)을 가하기 시작하면, 변형률(Strain)은 modulus of resilience 범위 내에서 선형적으로 증가할 수 있다. 이때, 곡선의 기울기는 탄성계수에 대응될 수 있다.The vertical and horizontal axes of the stress-strain curve in FIG. 13 represent stress and strain, respectively. When stress begins to be applied to the first elastic body and/or the second elastic body, the strain may increase linearly within the modulus of resilience range. At this time, the slope of the curve may correspond to the elastic modulus.

도 14의 5개 곡선은 PET 샘플(sample)의 5회 측정에 따라 얻은 5개 응력-변형률 곡선을 나타내며, 선형 탄성거동을 가지는 PET의 탄성계수는 5회 측정의 응력-변형률 곡선들이 선형적인 범위 내에서의 응력-변형률 곡선들의 기울기들의 평균값으로 측정될 수 있다.The five curves in Figure 14 represent five stress-strain curves obtained according to five measurements of a PET sample, and the elastic modulus of PET, which has linear elastic behavior, is in the linear range of the stress-strain curves of five measurements. It can be measured as the average value of the slopes of the stress-strain curves within.

도 15의 5개 곡선은 부직포 샘플(sample)의 5회 측정에 따라 얻은 5개 응력-변형률 곡선을 나타내며, 비선형 탄성거동을 가지는 부직포의 탄성계수는 5회 측정의 응력-변형률 곡선들의 초기접선 기울기들의 평균값으로 측정될 수 있다.The five curves in Figure 15 represent five stress-strain curves obtained according to five measurements of a non-woven fabric sample, and the elastic modulus of a non-woven fabric with non-linear elastic behavior is the initial tangent slope of the stress-strain curves of five measurements. It can be measured as the average value.

도 14 및 도 15의 10개의 응력-변형률 곡선은 TIRA사의 인장측정기에 의해 얻어졌으며, 샘플의 형태는 판 형태이고, 상기 판의 상하면 면적은 5mm * 5mm 이다.The 10 stress-strain curves in FIGS. 14 and 15 were obtained by a tensile measuring device from TIRA. The shape of the sample was a plate, and the upper and lower surfaces of the plate were 5 mm * 5 mm.

도 16의 탄성계수들은 아래의 표 1의 측정값에 따라 정리되었다. 여기서, 0.8T_70, 0.6T_50(조도), 0.4T_70, 0.4T_70(조도) 및 0.2T_70 각각은 제1 및 제2 탄성층을 포함하는 제1 탄성체에 대응되며, 제1 및 제2 탄성층에 포함된 재료나 부피비가 서로 다르게 조절된 구조를 포함할 수 있다.The elastic moduli in Figure 16 are organized according to the measured values in Table 1 below. Here, 0.8T_70, 0.6T_50 (roughness), 0.4T_70, 0.4T_70 (roughness), and 0.2T_70 each correspond to the first elastic body including the first and second elastic layers, and are included in the first and second elastic layers. It may include structures with different materials or volume ratios adjusted differently.

0.8T_700.8T_70 0.6T_50
(조도)
0.6T_50
(illuminance)
0.4T_700.4T_70 0.4T_70
(조도)
0.4T_70
(illuminance)
0.2T_700.2T_70 바이린
부직포
Bylin
Non-woven
PET FilmPET Film
측정 1Measurement 1 120120 240240 411411 420420 660660 390390 42004200 측정 2Measurement 2 130130 360360 390390 330330 630630 420420 40804080 측정 3Measurement 3 136136 270270 390390 480480 990990 420420 36003600 측정 4Measurement 4 130130 300300 330330 510510 960960 480480 39003900 측정 5measure 5 129129 240240 354354 510510 960960 450450 42004200 최소값minimum value 120120 240240 330330 330330 630630 390390 36003600 최대값maximum value 136136 360360 411411 510510 990990 480480 42004200 평균값medium 129129 282282 375375 450450 840840 432432 39963996

이하, 도 1 내지 3을 참조하여, 본 발명의 일 실시형태에 따른 제조방법에 의해 제조될 수 있는 적층형 전자 부품(100)에 대하여 설명하도록 한다. 다만, 적층형 전자 부품(100)을 제1 내지 3의 형태로 제한하고자 하는 것은 아니며, 내부 전극 및 외부 전극의 형태와 수는 실장 위치 또는 용도에 따라 다양할 수 있다. Hereinafter, with reference to FIGS. 1 to 3, a multilayer electronic component 100 that can be manufactured by the manufacturing method according to an embodiment of the present invention will be described. However, it is not intended to limit the multilayer electronic component 100 to the first to third forms, and the shape and number of internal and external electrodes may vary depending on the mounting location or purpose.

적층형 전자 부품(100)은 유전체층(111) 및 유전체층을 사이에 두고 번갈아 배치되는 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함하는 바디(110); 및 바디(110) 상에 배치되는 외부 전극(131, 132)를 포함할 수 있다.The multilayer electronic component 100 includes a body 110 including a dielectric layer 111 and first and second internal electrodes 121 and 122 alternately disposed with the dielectric layer interposed therebetween; and external electrodes 131 and 132 disposed on the body 110.

바디(110)는 유전체층(111) 및 내부 전극(121, 122)이 교대로 적층되어 있다.The body 110 includes dielectric layers 111 and internal electrodes 121 and 122 alternately stacked.

바디(110)의 구체적인 형상에 특별한 제한은 없지만, 도시된 바와 같이 바디(110)는 육면체 형상이나 이와 유사한 형상으로 이루어질 수 있다. 소성 과정에서 바디(110)에 포함된 세라믹 분말의 수축으로 인하여, 바디(110)는 완전한 직선을 가진 육면체 형상은 아니지만 실질적으로 육면체 형상을 가질 수 있다.There is no particular limitation on the specific shape of the body 110, but as shown, the body 110 may have a hexahedral shape or a similar shape. Due to shrinkage of the ceramic powder included in the body 110 during the firing process, the body 110 may not have a hexahedral shape with completely straight lines, but may have a substantially hexahedral shape.

바디(110)는 제1 방향으로 서로 대향하는 제1 및 제1 면(1, 2), 제1 및 제2 면(1, 2)과 연결되고 제2 방향으로 서로 대향하는 제3 및 제4 면(3, 4), 제1 내지 제4 면과 연결되고 제3 방향으로 서로 대향하는 제1 및 제2 측면(S1, S2)을 가질 수 있다.The body 110 has first and first surfaces 1 and 2 facing each other in a first direction, third and fourth surfaces connected to the first and second surfaces 1 and 2 and facing each other in a second direction. It may have first and second sides S1 and S2 that are connected to the surfaces 3 and 4 and the first to fourth surfaces and face each other in a third direction.

바디(110)를 형성하는 복수의 유전체층(111)은 소성된 상태로서, 인접하는 유전체층(111) 사이의 경계는 주사전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope)를 이용하지 않고 확인하기 곤란할 정도로 일체화될 수 있다. The plurality of dielectric layers 111 forming the body 110 are in a fired state, and the boundaries between adjacent dielectric layers 111 may be integrated to the extent that it is difficult to check without using a scanning electron microscope (SEM). there is.

본 발명의 일 실시형태에 따르면, 상기 유전체층(111)을 형성하는 원료는 충분한 정전 용량을 얻을 수 있는 한 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 티탄산바륨계 재료, 납 복합 페로브스카이트계 재료 또는 티탄산스트론튬계 재료 등을 사용할 수 있다. 상기 티탄산바륨계 재료는 BaTiO3계 세라믹 분말을 포함할 수 있으며, 상기 세라믹 분말의 예시로, BaTiO3, BaTiO3에 Ca(칼슘), Zr(지르코늄) 등이 일부 고용된 (Ba1-xCax)TiO3 (0<x<1), Ba(Ti1-yCay)O3 (0<y<1), (Ba1-xCax)(Ti1-yZry)O3 (0<x<1, 0<y<1)또는 Ba(Ti1-yZry)O3 (0<y<1) 등을 들 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the raw material forming the dielectric layer 111 is not particularly limited as long as sufficient electrostatic capacity can be obtained. For example, barium titanate-based materials, lead composite perovskite-based materials, or strontium titanate-based materials can be used. The barium titanate-based material may include BaTiO 3 -based ceramic powder. An example of the ceramic powder is BaTiO 3 , BaTiO 3 in which Ca (calcium), Zr (zirconium), etc. are partially dissolved (Ba 1-x Ca). x )TiO 3 (0<x<1), Ba(Ti 1-y Ca y )O 3 (0<y<1), (Ba 1-x Ca x )(Ti 1-y Zr y )O 3 ( Examples include 0<x<1, 0<y<1) or Ba(Ti 1-y Zr y )O 3 (0<y<1).

또한, 상기 유전체층(111)을 형성하는 원료는 티탄산바륨(BaTiO3) 등의 파우더에 본 발명의 목적에 따라 다양한 세라믹 첨가제, 유기용제, 결합제, 분산제 등이 첨가될 수 있다. In addition, the raw material for forming the dielectric layer 111 is powder such as barium titanate (BaTiO 3 ), and various ceramic additives, organic solvents, binders, dispersants, etc. may be added according to the purpose of the present invention.

바디(110)는 바디(110)의 내부에 배치되며, 유전체층(111)을 사이에 두고 번갈아 배치되는 제1 내부 전극(121) 및 제2 내부 전극(122)을 포함하여 용량이 형성되는 용량 형성부(Ac)와 상기 용량 형성부(Ac)의 제1 방향 상부 및 하부에 형성된 커버부(112, 113)를 포함할 수 있다. The body 110 is disposed inside the body 110 and includes first internal electrodes 121 and second internal electrodes 122 alternately disposed with the dielectric layer 111 interposed therebetween, thereby forming a capacitance. It may include a portion Ac and cover portions 112 and 113 formed above and below the capacitance forming portion Ac in the first direction.

또한, 상기 용량 형성부(Ac)는 커패시터의 용량 형성에 기여하는 부분으로서, 유전체층(111)을 사이에 두고 복수의 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 반복적으로 적층하여 형성될 수 있다. In addition, the capacitance forming part (Ac) is a part that contributes to forming the capacitance of the capacitor, and can be formed by repeatedly stacking a plurality of first and second internal electrodes 121 and 122 with the dielectric layer 111 interposed therebetween. there is.

커버부(112, 113)는 상기 용량 형성부(Ac)의 제1 방향 상부에 배치되는 상부 커버부(112) 및 상기 용량 형성부(Ac)의 제1 방향 하부에 배치되는 하부 커버부(113)를 포함할 수 있다. The cover parts 112 and 113 include an upper cover part 112 disposed above the capacity forming portion Ac in the first direction and a lower cover portion 113 disposed below the capacity forming portion Ac in the first direction. ) may include.

상기 상부 커버부(112) 및 하부 커버부(113)는 단일 유전체층 또는 2 개 이상의 유전체층을 용량 형성부(Ac)의 상하면에 각각 두께 방향으로 적층하여 형성할 수 있으며, 기본적으로 물리적 또는 화학적 스트레스에 의한 내부 전극의 손상을 방지하는 역할을 수행할 수 있다. The upper cover part 112 and the lower cover part 113 can be formed by stacking a single dielectric layer or two or more dielectric layers on the upper and lower surfaces of the capacitance forming part Ac in the thickness direction, respectively, and are basically resistant to physical or chemical stress. It can play a role in preventing damage to the internal electrode.

상기 상부 커버부(112) 및 하부 커버부(113)는 내부 전극을 포함하지 않으며, 유전체층(111)과 동일한 재료를 포함할 수 있다. The upper cover part 112 and the lower cover part 113 do not include internal electrodes and may include the same material as the dielectric layer 111.

즉, 상기 상부 커버부(112) 및 하부 커버부(113)는 세라믹 재료를 포함할 수 있으며, 예를 들어 티탄산바륨(BaTiO3)계 세라믹 재료를 포함할 수 있다.That is, the upper cover part 112 and the lower cover part 113 may include a ceramic material, for example, a barium titanate (BaTiO 3 )-based ceramic material.

또한, 상기 용량 형성부(Ac)의 측면에는 마진부(114, 115)가 배치될 수 있다. Additionally, margin portions 114 and 115 may be disposed on the side of the capacity forming portion Ac.

마진부(114, 115)는 바디(110)의 제1 측면(S1)에 배치된 마진부(114)와 제2 측면(S2)에 배치된 마진부(115)를 포함할 수 있다. 즉, 마진부(114, 115)는 상기 바디(110)의 제3 방향 양 단면(end surfaces)에 배치될 수 있다. The margin portions 114 and 115 may include a margin portion 114 disposed on the first side S1 and a margin portion 115 disposed on the second side S2 of the body 110. That is, the margin portions 114 and 115 may be disposed on both end surfaces of the body 110 in the third direction.

마진부(114, 115)는 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 바디(110)를 폭-두께(W-T) 방향으로 자른 단면(cross-section)에서 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 양 끝단과 바디(110)의 경계면 사이의 영역을 의미할 수 있다. As shown in FIG. 3, the margin portions 114 and 115 are the first and second internal electrodes 121 and 122 in a cross-section of the body 110 in the width-thickness (W-T) direction. It may refer to the area between both ends of and the boundary surface of the body 110.

마진부(114, 115)는 기본적으로 물리적 또는 화학적 스트레스에 의한 내부 전극의 손상을 방지하는 역할을 수행할 수 있다. The margin portions 114 and 115 may basically serve to prevent damage to the internal electrodes due to physical or chemical stress.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 내부 전극(121, 122)에 의한 단차를 억제하기 위하여, 적층 후 내부 전극이 바디의 제1 및 제2 측면(S1, S2)으로 노출되도록 절단한 후, 단일 유전체층 또는 2 개 이상의 유전체층을 용량 형성부(Ac)의 양측면에 제3 방향으로 적층하여 마진부(114, 115)를 형성할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, in order to suppress the step caused by the internal electrodes 121 and 122, after lamination, the internal electrode is cut to expose the first and second sides (S1 and S2) of the body, and then a single The margin portions 114 and 115 may be formed by stacking a dielectric layer or two or more dielectric layers on both sides of the capacitance forming portion Ac in a third direction.

마진부(114, 115)의 폭은 특별히 한정할 필요는 없다. 다만, 적층형 전자 부품의 소형화 및 고용량화를 보다 용이하게 달성하기 위하여 마진부(114, 115)의 평균 폭은 15μm 이하일 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 지지 필름으로부터 상기 단위 칩을 상기 세라믹 그린시트가 적층된 방향으로 분리한 후, 상기 단위 칩을 분리한 방향에 수직한 방향으로 이동시켜 점착 테이프에 상기 단위 칩의 제2 측면이 접하도록 배열하는 배열 단계를 포함함으로써 신뢰성이 향상된 적층형 전자 부품을 제조할 수 있기 때문에, 마진부(114, 115)의 평균 폭이 15μm 이하인 경우에도 우수한 신뢰성을 확보할 수 있다. The width of the margin portions 114 and 115 does not need to be particularly limited. However, in order to more easily achieve miniaturization and high capacity of stacked electronic components, the average width of the margin portions 114 and 115 may be 15 μm or less. In addition, according to one embodiment of the present invention, after separating the unit chip from the support film in the direction in which the ceramic green sheets are stacked, the unit chip is moved in a direction perpendicular to the direction in which the unit chip is separated to attach the unit chip to the adhesive tape. Since it is possible to manufacture a multilayer electronic component with improved reliability by including an arrangement step of arranging the second side of the chip to be in contact, excellent reliability can be secured even when the average width of the margin portions 114 and 115 is 15 μm or less. .

마진부(114, 115)의 평균 폭은 마진부(114, 115)의 제3 방향 평균 크기를 의미할 수 있으며, 용량 형성부(Ac)의 측면에서 등간격의 5개 지점에서 측정한 마진부(114, 115)의 제3 방향 크기를 평균한 값일 수 있다.The average width of the margin portions 114 and 115 may refer to the average size of the margin portions 114 and 115 in the third direction, and the margin portions are measured at five points at equal intervals on the side of the capacitance forming portion Ac. It may be the average value of the third direction sizes of (114, 115).

복수의 내부 전극(121, 122)은 유전체층(111)을 사이에 두고 번갈아 배치될 수 있다. The plurality of internal electrodes 121 and 122 may be alternately arranged with the dielectric layer 111 interposed therebetween.

복수의 내부 전극(121, 122)는 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함할 수 있다. 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 바디(110)를 구성하는 유전체층(111)을 사이에 두고 서로 대향하도록 번갈아 배치되며, 바디(110)의 제3 및 제4 면(3, 4)에 각각 연결될 수 있다.The plurality of internal electrodes 121 and 122 may include first and second internal electrodes 121 and 122. The first and second internal electrodes 121 and 122 are alternately disposed to face each other with the dielectric layer 111 constituting the body 110 interposed, and are disposed on the third and fourth sides 3 and 4 of the body 110. ) can be connected to each.

구체적으로, 제1 내부 전극(121)의 일단은 제3 면(3)에 연결되며, 제2 내부 전극(122)의 일단은 제4 면(4)에 연결될 수 있다.Specifically, one end of the first internal electrode 121 may be connected to the third surface 3, and one end of the second internal electrode 122 may be connected to the fourth surface 4.

제1 내부 전극(121)은 제4 면(4)과 이격되며 제3 면(3)을 통해 노출되고, 제2 내부 전극(122)은 제3 면(3)과 이격되며 제4 면(4)을 통해 노출될 수 있다. 바디의 제3 면(3)에는 제1 외부 전극(131)이 배치되어 제1 내부 전극(121)과 연결되고, 바디의 제4 면(4)에는 제2 외부 전극(132)이 배치되어 제2 내부 전극(122)과 연결될 수 있다. The first internal electrode 121 is spaced apart from the fourth surface 4 and exposed through the third surface 3, and the second internal electrode 122 is spaced apart from the third surface 3 and exposed through the fourth surface 4. ) can be exposed through. A first external electrode 131 is disposed on the third side 3 of the body and connected to the first internal electrode 121, and a second external electrode 132 is disposed on the fourth side 4 of the body. 2 may be connected to the internal electrode 122.

즉, 제1 내부 전극(121)은 제2 외부 전극(132)과는 연결되지 않고 제1 외부 전극(131)과 연결되며, 제2 내부 전극(122)은 제1 외부 전극(131)과는 연결되지 않고 제2 외부 전극(132)과 연결된다. 따라서, 제1 내부 전극(121)은 제4 면(4)에서 일정거리 이격되어 형성되고, 제2 내부 전극(122)은 제3 면(3)에서 일정거리 이격되어 형성될 수 있다.That is, the first internal electrode 121 is not connected to the second external electrode 132 but is connected to the first external electrode 131, and the second internal electrode 122 is not connected to the first external electrode 131. It is not connected but is connected to the second external electrode 132. Accordingly, the first internal electrode 121 may be formed at a certain distance apart from the fourth surface 4, and the second internal electrode 122 may be formed at a certain distance apart from the third surface 3.

이때, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 중간에 배치된 유전체층(111)에 의해 서로 전기적으로 분리될 수 있다. At this time, the first and second internal electrodes 121 and 122 may be electrically separated from each other by the dielectric layer 111 disposed in the middle.

바디(110)는 제1 내부 전극 패턴(221)이 인쇄된 세라믹 그린시트(201)와 제2 내부 전극 패턴(222)이 인쇄된 세라믹 그린시트(202)를 번갈아 적층한 후, 소성하여 형성할 수 있다.The body 110 is formed by alternately stacking ceramic green sheets 201 on which the first internal electrode pattern 221 is printed and ceramic green sheets 202 on which the second internal electrode pattern 222 are printed, and then firing them. You can.

내부 전극(121, 122)을 형성하는 재료는 특별히 제한되지 않으며, 전기 전도성이 우수한 재료를 사용할 수 있다. 예를 들어, 내부 전극(121, 122)은 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 주석(Sn), 텅스텐(W), 티타늄(Ti) 및 이들의 합금 중 하나 이상을 포함할 수 있다. The material forming the internal electrodes 121 and 122 is not particularly limited, and any material with excellent electrical conductivity can be used. For example, the internal electrodes 121 and 122 are nickel (Ni), copper (Cu), palladium (Pd), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), tin (Sn), and tungsten (W). ), titanium (Ti), and their alloys.

또한, 내부 전극(121, 122)은 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 은(Ag), 금(Au), 백금(Pt), 주석(Sn), 텅스텐(W), 티타늄(Ti) 및 이들의 합금 중 하나 이상을 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트를 세라믹 그린시트에 인쇄하여 형성할 수 있다. 상기 내부 전극용 도전성 페이스트의 인쇄 방법은 스크린 인쇄법 또는 그라비아 인쇄법 등을 사용할 수 있으며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, the internal electrodes 121 and 122 are nickel (Ni), copper (Cu), palladium (Pd), silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), tin (Sn), tungsten (W), A conductive paste for internal electrodes containing one or more of titanium (Ti) and its alloys can be formed by printing on a ceramic green sheet. The printing method for the conductive paste for internal electrodes may be a screen printing method or a gravure printing method, but the present invention is not limited thereto.

외부 전극(131, 132)은 바디(110)의 제3 면(3) 및 제4 면(4)에 각각 배치되어 제1 외부 전극(131)은 제1 내부 전극(121)과, 제2 외부 전극(132)은 제2 내부 전극(122)과 전기적으로 연결될 수 있다.The external electrodes 131 and 132 are disposed on the third surface 3 and the fourth surface 4 of the body 110, respectively, and the first external electrode 131 is connected to the first internal electrode 121 and the second external electrode. The electrode 132 may be electrically connected to the second internal electrode 122.

본 실시 형태에서는 적층형 전자 부품(100)이 2개의 외부 전극(131, 132)을 가지는 구조를 설명하고 있지만, 외부 전극(131, 132)의 개수나 형상 등은 내부 전극(121, 122)의 형태나 기타 다른 목적에 따라 바뀔 수 있을 것이다.In this embodiment, a structure in which the multilayer electronic component 100 has two external electrodes 131 and 132 is described, but the number and shape of the external electrodes 131 and 132 are determined by the shape of the internal electrodes 121 and 122. It may change depending on other purposes.

한편, 외부 전극(131, 132)은 금속 등과 같이 전기 전도성을 갖는 것이라면 어떠한 물질을 사용하여 형성될 수 있고, 전기적 특성, 구조적 안정성 등을 고려하여 구체적인 물질이 결정될 수 있으며, 나아가 다층 구조를 가질 수 있다. On the other hand, the external electrodes 131 and 132 can be formed using any material as long as it has electrical conductivity, such as metal, and the specific material can be determined considering electrical characteristics, structural stability, etc., and can further have a multi-layer structure. there is.

예를 들어, 외부 전극(131, 132)은 바디(110)의 표면에 배치되어 내부 전극(121, 122)와 직접 접하는 전극층및 전극층상에 형성된 도금층을 포함할 수 있다. For example, the external electrodes 131 and 132 may be disposed on the surface of the body 110 and include an electrode layer in direct contact with the internal electrodes 121 and 122 and a plating layer formed on the electrode layer.

전극층에 대한 보다 구체적인 예를 들면, 전극층은 도전성 금속 및 글라스를 포함한 소성 전극이거나, 도전성 금속 및 수지를 포함한 수지계 전극일 수 있다. For a more specific example of the electrode layer, the electrode layer may be a fired electrode containing a conductive metal and glass, or a resin-based electrode containing a conductive metal and resin.

또한, 전극층은 바디 상에 소성 전극 및 수지계 전극이 순차적으로 형성된 형태일 수 있다. 또한, 전극층은 바디 상에 도전성 금속을 포함한 시트를 전사하는 방식으로 형성되거나, 소성 전극 상에 도전성 금속을 포함한 시트를 전사하는 방식으로 형성된 것일 수 있다. Additionally, the electrode layer may be in the form of a fired electrode and a resin-based electrode sequentially formed on the body. Additionally, the electrode layer may be formed by transferring a sheet containing a conductive metal onto a body, or may be formed by transferring a sheet containing a conductive metal onto a fired electrode.

전극층에 포함되는 도전성 금속으로 전기 전도성이 우수한 재료를 사용할 수 있으며 특별히 한정하지 않는다. 예를 들어, 도전성 금속은 니켈(Ni), 구리(Cu) 및 그들의 합금 중 하나 이상일 수 있다. As the conductive metal included in the electrode layer, any material with excellent electrical conductivity can be used and is not particularly limited. For example, the conductive metal may be one or more of nickel (Ni), copper (Cu), and their alloys.

도금층은 실장 특성을 향상시키는 역할을 수행한다. 도금층의 종류는 특별히 한정하지 않으며, Ni, Sn, Pd 및 이들의 합금 중 하나 이상을 포함하는 도금층일 수 있고, 복수의 층으로 형성될 수 있다. The plating layer plays a role in improving mounting characteristics. The type of the plating layer is not particularly limited, and may be a plating layer containing one or more of Ni, Sn, Pd, and alloys thereof, and may be formed of multiple layers.

도금층에 대한 보다 구체적인 예를 들면, 도금층은 Ni 도금층 또는 Sn 도금층일 수 있으며, 전극층상에 Ni 도금층 및 Sn 도금층이 순차적으로 형성된 형태일 수 있고, Sn 도금층, Ni 도금층 및 Sn 도금층이 순차적으로 형성된 형태일 수 있다. 또한, 도금층은 복수의 Ni 도금층 및/또는 복수의 Sn 도금층을 포함할 수도 있다.For a more specific example of the plating layer, the plating layer may be a Ni plating layer or a Sn plating layer, and may be a form in which a Ni plating layer and a Sn plating layer are formed sequentially on the electrode layer, and a Sn plating layer, a Ni plating layer, and a Sn plating layer are formed sequentially. It can be. Additionally, the plating layer may include a plurality of Ni plating layers and/or a plurality of Sn plating layers.

이상에서 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited by the above-described embodiments and the attached drawings, but is intended to be limited by the appended claims. Accordingly, various forms of substitution, modification, and change may be made by those skilled in the art without departing from the technical spirit of the present invention as set forth in the claims, and this also falls within the scope of the present invention. something to do.

또한, 본 개시에서 사용된 '일 실시예'라는 표현은 서로 동일한 실시예를 의미하지 않으며, 각각 서로 다른 고유한 특징을 강조하여 설명하기 위해서 제공된 것이다. 그러나, 상기 제시된 일 실시예들은 다른 일 실시예의 특징과 결합되어 구현되는 것을 배제하지 않는다. 예를 들어, 특정한 일 실시예에서 설명된 사항이 다른 일 실시예에서 설명되어 있지 않더라도, 다른 일 실시예에서 그 사항과 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 다른 일 실시예에 관련된 설명으로 이해될 수 있다. In addition, the expression 'one embodiment' used in the present disclosure does not mean the same embodiment, but is provided to emphasize and explain different unique features. However, the above-presented embodiments do not exclude being implemented in combination with the features of other embodiments. For example, even if a matter described in one specific embodiment is not explained in another embodiment, it can be understood as a description related to another embodiment, unless there is a description that is contrary or contradictory to the matter in another embodiment. You can.

본 개시에서 사용된 용어는 단지 일 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 개시를 한정하려는 의도가 아니다. 이때, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.The terms used in this disclosure are only used to describe one embodiment and are not intended to limit the disclosure. At this time, singular expressions include plural expressions, unless the context clearly indicates otherwise.

40: 지지대
41: 판
47: 사이드 마진부용 세라믹 그린시트
47a: 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 복수의 제1 부분
47b: 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 제2 부분
50a, 50d: 제1 탄성체
50b, 50c: 제2 탄성체
51: 제1 탄성층
52: 제2 탄성층
53: 제3 탄성층
54: 제4 탄성층
100: 적층형 전자 부품
110: 바디
111: 유전체층
112, 113: 커버부
114, 115: 마진부
121, 122: 내부 전극
131, 132: 외부 전극
140: 사이드 마진부용 세라믹 그린시트
200: 적층체
201, 202: 세라믹 그린시트
203: 커버용 세라믹 그린시트
210: 단위 칩
214, 215: 사이드 마진부
221, 222: 내부 전극 패턴
300: 바
40: support
41: plate
47: Ceramic green sheet for side margin area
47a: Plural first portions of ceramic green sheets for side margin portions
47b: Second part of ceramic green sheet for side margin portion
50a, 50d: first elastic body
50b, 50c: second elastic body
51: first elastic layer
52: second elastic layer
53: third elastic layer
54: fourth elastic layer
100: Laminated electronic components
110: body
111: dielectric layer
112, 113: Cover part
114, 115: margin part
121, 122: internal electrode
131, 132: external electrode
140: Ceramic green sheet for side margin area
200: Laminate
201, 202: Ceramic green sheet
203: Ceramic green sheet for cover
210: unit chip
214, 215: Side margin part
221, 222: Internal electrode pattern
300: bar

Claims (15)

복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및
상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고,
상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고,
상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고,
상기 제1 탄성체의 탄성계수는 50Mpa 초과 1000MPa 이하인 적층형 전자 부품의 제조 방법.
Obtaining a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction; and
attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction; Including,
The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips; ,
The first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, and a second elastic layer having a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the first elastic layer. Contains layers,
A method of manufacturing a multilayer electronic component wherein the elastic modulus of the first elastic body is greater than 50 MPa and less than 1000 MPa.
제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 탄성계수 각각은 50Mpa를 초과하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
A method of manufacturing a multilayer electronic component wherein each of the first and second elastic moduli exceeds 50Mpa.
제1항에 있어서,
상기 제2 탄성계수는 상기 제1 탄성계수보다 더 높고,
상기 제1 탄성층의 두께는 상기 제2 탄성층의 두께보다 더 두꺼운 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
The second elastic modulus is higher than the first elastic modulus,
A method of manufacturing a multilayer electronic component, wherein the first elastic layer has a thickness greater than the thickness of the second elastic layer.
제3항에 있어서,
상기 제1 탄성층은 부직포를 포함하고,
상기 제2 탄성층은 PET(Polyethylene terephthalate)를 포함하고,
상기 제1 탄성층의 두께는 0㎛ 초과 2㎛ 이하이고,
상기 제2 탄성층의 두께는 0㎛ 초과 1㎛ 이하인 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 3,
The first elastic layer includes non-woven fabric,
The second elastic layer includes PET (Polyethylene terephthalate),
The thickness of the first elastic layer is greater than 0 μm and less than or equal to 2 μm,
A method of manufacturing a multilayer electronic component wherein the second elastic layer has a thickness of more than 0 μm and less than or equal to 1 μm.
제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 탄성층 각각은 실리콘(Silicone), PET(Polyethylene terephthalate), Polyurethane(PU), 천연 고무(Natural rubber), Polyolefine(PO) 및 부직포 중 적어도 하나를 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
Each of the first and second elastic layers includes at least one of silicone (silicone), polyethylene terephthalate (PET), polyurethane (PU), natural rubber, polyolefine (PO), and nonwoven fabric. method.
제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 탄성층 각각의 두께는 0㎛ 초과 3㎛ 이하이고,
상기 제2 탄성층에서 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트를 마주보는 면의 거칠기는 상기 제1 및 제2 탄성층이 서로 마주보는 면의 거칠기보다 거친 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
The thickness of each of the first and second elastic layers is greater than 0 μm and less than or equal to 3 μm,
The roughness of the surface of the second elastic layer facing the ceramic green sheet for the side margin is rougher than the roughness of the surfaces of the first and second elastic layers facing each other.
제1항에 있어서,
상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체에 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치되기 전에 제2 탄성체에 배치된 상기 복수의 단위 칩을 회전시키는 것을 더 포함하고,
상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩 중 적어도 하나와 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
The attaching step further includes rotating the plurality of unit chips disposed on the second elastic body before the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed on the first elastic body,
The second elastic body is disposed between a third elastic layer having a third elastic coefficient, a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient, and at least one of the plurality of unit chips and the third elastic layer. A method of manufacturing a multilayer electronic component including a fourth elastic layer.
제1항에 있어서,
상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체와 제2 탄성체의 사이에 상기 복수의 단위 칩이 배치된 이후에 상기 제1 및 제2 탄성체의 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고,
상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to paragraph 1,
In the attaching step, after the plurality of unit chips are disposed between the first elastic body and the second elastic body, a portion of the ceramic green sheet for the side margin is compressed between the first and second elastic bodies. Including attaching to a plurality of unit chips,
The second elastic body includes a third elastic layer having a third elastic coefficient, and a fourth elastic layer having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the third elastic layer. Method for manufacturing a layered electronic component comprising a layer.
복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및
상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고,
상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고,
상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고,
상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체에 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치되기 전에 제2 탄성체에 배치된 상기 복수의 단위 칩을 회전시키는 것을 더 포함하고,
상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
Obtaining a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction; and
attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction; Including,
The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips; ,
The first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, and a second elastic layer having a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the first elastic layer. Contains layers,
The attaching step further includes rotating the plurality of unit chips disposed on the second elastic body before the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed on the first elastic body,
The second elastic body includes a third elastic layer having a third elastic coefficient, and a fourth elastic layer having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the third elastic layer. Method for manufacturing a layered electronic component comprising a layer.
복수의 내부 전극 패턴과 복수의 세라믹 그린시트가 적층 방향으로 교대로 적층된 적층체를 상기 적층 방향으로 절단하여 복수의 단위 칩을 얻는 단계; 및
상기 적층 방향과 다른 방향으로, 상기 복수의 단위 칩에 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 부착시키는 단계; 를 포함하고,
상기 부착시키는 단계는, 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트가 배치된 제1 탄성체와 상기 복수의 단위 칩 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고,
상기 제1 탄성체는, 제1 탄성계수를 가지는 제1 탄성층과, 상기 제1 탄성계수와 다른 제2 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제1 탄성층의 사이에 배치된 제2 탄성층을 포함하고,
상기 부착시키는 단계는, 상기 제1 탄성체와 제2 탄성체의 사이에 상기 복수의 단위 칩이 배치된 이후에 상기 제1 및 제2 탄성체의 사이를 압착하여 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트의 일부분을 상기 복수의 단위 칩에 부착시키는 것을 포함하고,
상기 제2 탄성체는, 제3 탄성계수를 가지는 제3 탄성층과, 상기 제3 탄성계수와 다른 제4 탄성계수를 가지고 상기 복수의 단위 칩과 상기 제3 탄성층의 사이에 배치된 제4 탄성층을 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
Obtaining a plurality of unit chips by cutting a laminate in which a plurality of internal electrode patterns and a plurality of ceramic green sheets are alternately stacked in the stacking direction; and
attaching a portion of a ceramic green sheet for a side margin to the plurality of unit chips in a direction different from the stacking direction; Including,
The attaching step includes attaching a portion of the ceramic green sheet for the side margin portion to the plurality of unit chips by compressing between the first elastic body on which the ceramic green sheet for the side margin portion is disposed and the plurality of unit chips; ,
The first elastic body includes a first elastic layer having a first elastic coefficient, and a second elastic layer having a second elastic coefficient different from the first elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the first elastic layer. Contains layers,
In the attaching step, after the plurality of unit chips are disposed between the first elastic body and the second elastic body, a portion of the ceramic green sheet for the side margin is compressed between the first and second elastic bodies. Including attaching to a plurality of unit chips,
The second elastic body includes a third elastic layer having a third elastic coefficient, and a fourth elastic layer having a fourth elastic coefficient different from the third elastic coefficient and disposed between the plurality of unit chips and the third elastic layer. Method for manufacturing a layered electronic component comprising a layer.
제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성계수 각각은 50Mpa를 초과하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to any one of claims 7 to 10,
A method of manufacturing a multilayer electronic component wherein each of the first, second, third and fourth elastic moduli exceeds 50Mpa.
제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제2 탄성계수는 상기 제1 탄성계수보다 더 높고,
상기 제1 탄성층의 두께는 상기 제2 탄성층의 두께보다 더 두껍고,
상기 제4 탄성계수는 상기 제3 탄성계수보다 더 높고,
상기 제3 탄성층의 두께는 상기 제4 탄성층의 두께보다 더 두꺼운 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to any one of claims 7 to 10,
The second elastic modulus is higher than the first elastic modulus,
The thickness of the first elastic layer is thicker than the thickness of the second elastic layer,
The fourth elastic modulus is higher than the third elastic modulus,
A method of manufacturing a multilayer electronic component, wherein the third elastic layer has a thickness greater than the fourth elastic layer.
제12항에 있어서,
상기 제1 및 제3 탄성층 각각은 부직포를 포함하고,
상기 제2 및 제4 탄성층 각각은 PET(Polyethylene terephthalate)를 포함하고,
상기 제1 및 제3 탄성층 각각의 두께는 0㎛ 초과 2㎛ 이하이고,
상기 제2 및 제4 탄성층 각각의 두께는 0㎛ 초과 1㎛ 이하인 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to clause 12,
Each of the first and third elastic layers includes a non-woven fabric,
Each of the second and fourth elastic layers includes PET (polyethylene terephthalate),
The thickness of each of the first and third elastic layers is greater than 0 μm and less than or equal to 2 μm,
A method of manufacturing a multilayer electronic component wherein each of the second and fourth elastic layers has a thickness of more than 0 μm and less than or equal to 1 μm.
제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층 각각은 Silicone, PET(Polyethylene terephthalate), Polyurethane(PU), Natural rubber, Polyolefine(PO) 및 부직포 중 적어도 하나를 포함하는 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to any one of claims 7 to 10,
The first, second, third, and fourth elastic layers each include at least one of silicone, polyethylene terephthalate (PET), polyurethane (PU), natural rubber, polyolefine (PO), and nonwoven fabric. .
제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1, 제2, 제3 및 제4 탄성층 각각의 두께는 0㎛ 초과 3㎛ 이하이고,
상기 제2 탄성층에서 상기 사이드 마진부용 세라믹 그린시트를 마주보는 면의 거칠기는 상기 제1 및 제2 탄성층이 서로 마주보는 면의 거칠기보다 거칠고,
상기 제4 탄성층에서 상기 복수의 단위 칩 중 적어도 하나를 마주보는 면의 거칠기는 상기 제3 및 제4 탄성층이 서로 마주보는 면의 거칠기보다 거친 적층형 전자 부품의 제조 방법.
According to any one of claims 7 to 10,
The thickness of each of the first, second, third and fourth elastic layers is greater than 0 μm and less than or equal to 3 μm,
The roughness of the surface of the second elastic layer facing the ceramic green sheet for the side margin is rougher than the roughness of the surfaces of the first and second elastic layers facing each other,
The roughness of the surface of the fourth elastic layer facing at least one of the plurality of unit chips is rougher than the roughness of the surfaces of the third and fourth elastic layers facing each other.
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