KR20230134636A - 화소 및 이를 포함한 표시 장치 - Google Patents

화소 및 이를 포함한 표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20230134636A
KR20230134636A KR1020220031396A KR20220031396A KR20230134636A KR 20230134636 A KR20230134636 A KR 20230134636A KR 1020220031396 A KR1020220031396 A KR 1020220031396A KR 20220031396 A KR20220031396 A KR 20220031396A KR 20230134636 A KR20230134636 A KR 20230134636A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
pixel
sub
alignment
light emitting
Prior art date
Application number
KR1020220031396A
Other languages
English (en)
Inventor
신동희
손선권
차나현
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020220031396A priority Critical patent/KR20230134636A/ko
Priority to PCT/KR2023/003372 priority patent/WO2023177174A1/ko
Priority to US18/183,819 priority patent/US20230290921A1/en
Publication of KR20230134636A publication Critical patent/KR20230134636A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1255Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs integrated with passive devices, e.g. auxiliary capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명의 실시예에 따른 화소는, 제1 방향을 따라 배열되고, 발광 영역과 비발광 영역을 각각 포함하는 제1 서브 화소, 제2 서브 화소, 및 제3 서브 화소를 포함할 수 있다. 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 상기 제1 방향으로 연장된 제1 정렬 전극; 상기 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 상기 제1 정렬 전극과 이격되게 배치되는 제2 정렬 전극; 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 배치되는 발광 소자; 및 상기 발광 소자와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제1 전극과 제2 전극을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 발광 소자는 상기 제2 방향으로 서로 마주보는 제1 단부와 제2 단부를 구비할 수 있다. 상기 제1 전극은 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 중첩하고, 상기 제2 전극은 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 중첩할 수 있다.

Description

화소 및 이를 포함한 표시 장치{PIXEL AND DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME}
본 발명은 화소 및 이를 포함한 표시 장치에 관한 것이다.
최근 정보 디스플레이에 관한 관심이 고조됨에 따라, 표시 장치에 대한 연구 개발이 지속적으로 이루어지고 있다.
본 발명은 신뢰성이 향상된 화소 및 이를 포함한 표시 장치를 제공하는 데 목적이 있다.
실시예에 따른 화소는, 제1 방향을 따라 배열되고, 발광 영역과 비발광 영역을 각각 포함하는 제1 서브 화소, 제2 서브 화소, 및 제3 서브 화소를 포함할 수 있다. 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 상기 제1 방향으로 연장된 제1 정렬 전극; 상기 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 상기 제1 정렬 전극과 이격되게 배치되는 제2 정렬 전극; 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 배치되는 발광 소자; 및 상기 발광 소자와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제1 전극과 제2 전극을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 발광 소자는 상기 제2 방향으로 서로 마주보는 제1 단부와 제2 단부를 구비할 수 있다. 상기 제1 전극은 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 중첩하고, 상기 제2 전극은 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 중첩할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제1 전극은 상기 제1 방향으로 인접한 서브 화소의 상기 제1 전극과 이격되게 배치될 수 있다. 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제2 전극은 상기 제1 방향으로 인접한 서브 화소의 상기 제2 전극과 연결될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 서브 화소의 상기 제2 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 전극은 일체로 제공될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 화소는, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 비발광 영역에 위치하고, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 영역에 대응하는 제1 개구 및 상기 제1 개구와 이격된 제2 개구를 포함한 제1 뱅크; 상기 제1 서브 화소의 상기 비발광 영역에서 상기 제2 방향으로 연장되고, 상기 제1 정렬 전극과 연결된 제1 연결 배선; 및 상기 제3 서브 화소의 상기 비발광 영역에서 상기 제2 방향으로 연장되고, 상기 제2 정렬 전극과 연결된 제2 연결 배선을 더 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극은 서로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제1 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극은 서로 연결될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 화소는, 상기 제1 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제1 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제1 브릿지 패턴; 상기 제2 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제2 브릿지 패턴; 및 상기 제3 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제3 브릿지 패턴을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 브릿지 패턴, 상기 제2 브릿지 패턴, 및 상기 제3 브릿지 패턴은 서로 이격되게 배치될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제3 브릿지 패턴은 상기 제2 연결 배선과 일체로 제공될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 정렬 전극, 상기 제2 정렬 전극, 상기 제1 브릿지 패턴, 상기 제2 브릿지 패턴, 상기 제3 브릿지 패턴, 상기 제1 연결 배선, 및 상기 제2 연결 배선은 동일 층에 제공되며, 동일한 물질을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 기판; 상기 기판 상에 위치하며 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 전기적으로 연결된 스토리지 커패시터; 상기 기판 상에 위치하며 상기 스토리지 커패시터와 전기적으로 연결된 적어도 하나의 트랜지스터; 상기 기판 상에 위치하고 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되며 데이터 신호를 공급받는 데이터 라인; 상기 기판 상에 위치하고 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되며 제1 구동 전원의 전압을 공급받는 제1 전원 배선; 상기 기판 상에 위치하고 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 전기적으로 연결되며 제2 구동 전원의 전압을 공급받는 제2 전원 배선; 및 상기 트랜지스터, 상기 제1 전원 배선, 및 상기 제2 전원 배선 상에 위치하며 상기 스토리지 커패시터의 일부, 상기 제1 전원 배선의 일부, 및 상기 제2 전원 배선의 일부를 각각 노출하는 패시베이션층을 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 데이터 라인은 상기 제1 및 제2 정렬 전극들의 연장 방향에 수직인 방향으로 연장될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제1 브릿지 패턴과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제2 브릿지 패턴과 전기적으로 연결되며, 상기 제3 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제3 브릿지 패턴과 전기적으로 연결될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 정렬 전극은, 각각이 상기 제1 방향으로 연장되고 상기 제2 방향으로 이격되게 배치된 제1-1 정렬 전극, 제1-2 정렬 전극, 제1-3 정렬 전극, 제1-4 정렬 전극, 및 제1-5 정렬 전극을 포함할 수 있다. 상기 제2 정렬 전극은, 각각이 상기 제1 방향으로 연장되고 상기 제2 방향으로 이격되게 배치된 제2-1 정렬 전극, 제2-2 정렬 전극, 제2-3 정렬 전극, 제2-4 정렬 전극, 및 제2-5 정렬 전극을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극은 상기 제2 방향을 따라 교번하여 배치될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제1 전극은 상기 제2-1 정렬 전극과 중첩하고, 해당 서브 화소의 상기 제2 전극은 상기 제1-5 정렬 전극과 중첩할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제1 및 제2 전극들과 이격되게 배치되며, 상기 제1-1 정렬 전극 및 상기 제2-2 정렬 전극과 중첩하는 제1 중간 전극; 상기 제1 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제1 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-2 정렬 전극 및 상기 제2-3 정렬 전극과 중첩하는 제2 중간 전극; 상기 제2 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제2 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-3 정렬 전극 및 상기 제2-4 정렬 전극과 중첩하는 제3 중간 전극; 및 상기 제3 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제3 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-4 정렬 전극 및 상기 제2-5 정렬 전극과 중첩하는 제4 중간 전극을 더 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 영역에서, 해당 서브 화소의 상기 제1 전극을 기준으로 상기 제2 방향을 따라 상기 제1 전극, 상기 제1 중간 전극, 상기 제2 중간 전극, 상기 제3 중간 전극, 상기 제4 중간 전극, 및 상기 제2 전극의 순으로 배열될 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 전극, 상기 제2 중간 전극, 및 상기 제4 중간 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함할 수 있다. 상기 제2 전극, 상기 제1 중간 전극, 및 상기 제3 중간 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 전극, 상기 제1 중간 전극, 상기 제2 중간 전극, 상기 제3 중간 전극, 상기 제4 중간 전극, 및 상기 제2 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 소자는, 상기 제2-1 정렬 전극과 상기 제1-1 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제1 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제1 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제1 발광 소자; 상기 제2-2 정렬 전극과 상기 제1-2 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제1 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제2 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제2 발광 소자; 상기 제2-3 정렬 전극과 상기 제1-3 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제2 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제3 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제3 발광 소자; 상기 제2-4 정렬 전극과 상기 제1-4 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제3 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제4 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제4 발광 소자; 및 상기 제2-5 정렬 전극과 상기 제1-5 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제4 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제2 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제5 발광 소자를 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각은, 제1 반도체층, 활성층 및 제2 반도체층을 포함할 수 있다. 상기 제1 반도체층은 n형 도펀트가 도핑된 n형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 반도체층은 p형 도펀트가 도핑된 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각의 상기 제2 반도체층은 해당 발광 소자의 상기 제1 단부에 위치하고, 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각의 상기 제1 반도체층은 해당 발광 소자의 상기 제2 단부에 위치할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 상기 비발광 영역에서 상기 제1 뱅크 상에 위치하는 제2 뱅크; 상기 발광 영역에서 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 상부에 위치하고 상기 제1 내지 제5 발광 소자들에서 방출된 제1 색의 광을 제2 색의 광으로 변환하는 색 변환층; 및 상기 색 변환층 상에 위치하며 상기 제2 색의 광을 선택적으로 투과하는 컬러 필터를 더 포함할 수 있다.
실시예에 따른 표시 장치는, 표시 영역 및 비표시 영역을 포함한 기판; 및 상기 표시 영역에 제공되며, 발광 영역과 비발광 영역을 각각 포함하며 제1 방향을 따라 배열되는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들을 포함한 적어도 하나 이상의 화소를 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은, 상기 기판 상에 제공되며 적어도 하나 이상의 트랜지스터를 포함한 화소 회로층; 및 상기 화소 회로층 상에 제공되며 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되는 발광 소자를 포함하는 표시 소자층을 포함할 수 있다. 상기 표시 소자층은 상기 제1 방향으로 연장된 제1 정렬 전극; 상기 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 상기 제1 정렬 전극과 이격되게 배치되는 제2 정렬 전극; 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 배치되는 발광 소자; 및 상기 발광 소자와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 방향으로 서로 이격되게 배치된 제1 전극과 제2 전극을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 상기 발광 소자는 상기 제2 방향으로 서로 마주보는 제1 단부와 제2 단부를 구비할 수 있다. 상기 제1 전극은 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 중첩하고 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 전극은 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 중첩하고 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 전기적으로 연결될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 화소는, 수평 방향(또는 제1 방향)으로 연장된 제1 및 제2 정렬 전극들(또는 제1 및 제2 정렬 배선들)을 구비하고, 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 상기 수평 방향과 교차하는 수직 방향(또는 제2 방향)으로 발광 소자들을 정렬함으로써, 화소 전극(또는 전극)을 형성하는 공정 중에 상기 화소 전극이 기설정된 위치에서 틀어지더라도(또는 상기 화소 전극의 오버레이에 변동이 발생하더라도) 상기 발광 소자와 상기 화소 전극의 접촉 면적을 충분히 확보하여 상기 발광 소자와 상기 화소 전극 사이의 접촉 불량을 방지할 수 있다.
이에 따라, 상술한 화소를 포함한 표시 장치는 신뢰성이 향상될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 실시예에 따른 발광 소자를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1의 발광 소자의 개략적인 단면도이다.
도 3은 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 내지 제3 서브 화소들 각각에 포함된 구성 요소들의 전기적 연결 관계를 실시예에 따라 나타낸 개략적인 회로도이다.
도 5는 도 3에 도시된 화소의 화소 회로층을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 6은 도 5의 Ⅰ ~ Ⅰ'선에 따른 개략적인 단면도이다.
도 7은 도 3에 도시된 화소의 표시 소자층을 포함한 화소 영역을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 8은 도 7의 화소에 포함된 제1 및 제2 정렬 전극들과 발광 소자들만을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 9는 도 7에 도시된 화소의 발광부에 흐르는 구동 전류의 흐름을 나타낸 개략적인 평면도이다.
도 10 내지 도 12는 도 7의 Ⅱ ~ Ⅱ'선에 따른 개략적인 단면도들이다.
도 13은 도 7의 Ⅲ ~ Ⅲ'선에 따른 개략적인 단면도이다.
도 14a는 실시예에 따른 화소에 제1 전극, 제2 중간 전극, 및 제4 중간 전극을 형성하는 제1 마스크를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 14b는 실시예에 따른 화소에 제1 중간 전극, 제3 중간 전극, 및 제2 전극을 형성하는 제2 마스크를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 15는 도 3에 도시된 화소의 광학층을 포함한 화소 영역을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 16 내지 도 18은 도 15의 Ⅳ ~ Ⅳ'선에 따른 개략적인 단면도들이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조 부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 본 명세서에 있어서, 어느 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 상(on)에 형성되었다고 할 경우, 상기 형성된 방향은 상부 방향만 한정되지 않으며 측면이나 하부 방향으로 형성된 것을 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "아래에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
본 출원에서, "어떤 구성요소(일 예로 '제1 구성요소')가 다른 구성요소(일 예로 '제2 구성요소')에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어 ((operatively or communicatively) coupled with/to)" 있다거나, "접속되어 (connected to)" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(일 예로 '제3 구성요소')를 통하여 연결될 수 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소(일 예로 '제1 구성요소')가 다른 구성요소 (일 예로 '제2 구성요소')에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 다른 구성요소(일 예로 '제3 구성요소')가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예 및 그 밖에 당업자가 본 발명의 내용을 쉽게 이해하기 위하여 필요한 사항에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 아래의 설명에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 단수만을 포함하지 않는 한, 복수의 표현도 포함한다.
도 1은 실시예에 따른 발광 소자(LD)를 개략적으로 도시한 사시도이며, 도 2는 도 1의 발광 소자(LD)의 개략적인 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 있어서, 발광 소자(LD)의 종류 및/또는 형상이 도 1 및 도 2에 도시된 실시예에 한정되지는 않는다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 발광 소자(LD)는 제1 반도체층(11), 제2 반도체층(13), 제1 및 제2 반도체층들(11, 13) 사이에 개재된 활성층(12)을 포함할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13)이 순차적으로 적층된 발광 적층체(또는 적층 패턴)로 구현할 수 있다.
발광 소자(LD)는 일 방향으로 연장된 형상으로 제공될 수 있다. 발광 소자(LD)의 연장 방향을 길이 방향이라고 하면, 발광 소자(LD)는 길이 방향을 따라 서로 마주보는 제1 단부(EP1)와 제2 단부(EP2)를 포함할 수 있다. 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에는 제1 반도체층(11)과 제2 반도체층(13) 중 하나의 반도체층이 위치할 수 있고, 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에는 제1 반도체층(11)과 제2 반도체층(13) 중 나머지 반도체층이 위치할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에는 제2 반도체층(13)이 위치할 수 있고, 해당 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에는 제1 반도체층(11)이 위치할 수 있다.
발광 소자(LD)는 다양한 형상으로 제공될 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 도 1에 도시된 바와 같이 길이 방향으로 긴(또는 종횡비가 1보다 큰) 로드 형상(rod-like shape), 바 형상(bar-like shape), 또는 기둥 형상을 가질 수 있다. 다른 예로, 발광 소자(LD)는 길이 방향으로 짧은(또는 종횡비가 1보다 작은) 로드 형상, 바 형상, 또는 기둥 형상을 가질 수 있다. 또 다른 예로, 발광 소자(LD)는 종횡비가 1인 로드 형상, 바 형상, 또는 기둥 형상을 가질 수 있다.
이러한 발광 소자(LD)는 일 예로 나노 스케일(nano scale)(또는 나노 미터) 내지 마이크로 스케일(micro scale)(또는 마이크로 미터) 정도의 직경(D) 및/또는 길이(L)를 가질 정도로 초소형으로 제작된 발광 다이오드(light emitting diode, LED)를 포함할 수 있다.
발광 소자(LD)가 길이 방향으로 긴(즉, 종횡비가 1보다 큰) 경우, 발광 소자(LD)의 직경(D)은 0.5㎛ 내지 6㎛ 정도일 수 있으며, 그 길이(L)는 1㎛ 내지 10㎛ 정도일 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)의 직경(D) 및 길이(L)가 이에 한정되는 것은 아니며, 발광 소자(LD)가 적용되는 조명 장치 또는 자발광 표시 장치의 요구 조건(또는 설계 조건)에 부합되도록 발광 소자(LD)의 크기가 변경될 수 있다.
제1 반도체층(11)은 일 예로 적어도 하나의 n형 반도체층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 반도체층(11)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 어느 하나의 반도체 재료를 포함하며, Si, Ge, Sn 등과 같은 제1 도전성의 도펀트(또는 n형 도펀트)가 도핑된 n형 반도체층일 수 있다. 다만, 제1 반도체층(11)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질로 제1 반도체층(11)을 구성할 수 있다. 제1 반도체층(11)은 발광 소자(LD)의 길이 방향을 따라 활성층(12)과 접촉하는 상부 면과 외부로 노출된 하부 면을 포함할 수 있다.
활성층(12)은 제1 반도체층(11) 상에 배치되며, 단일 또는 다중 양자 우물(quantum wells) 구조로 형성될 수 있다. 일 예로, 활성층(12)이 다중 양자 우물 구조로 형성되는 경우, 상기 활성층(12)은 장벽층(barrier layer, 미도시), 스트레인 강화층(strain reinforcing layer), 및 웰층(well layer)이 하나의 유닛으로 주기적으로 반복 적층될 수 있다. 스트레인 강화층은 장벽층보다 더 작은 격자 상수를 가져 웰층에 인가되는 스트레인, 일 예로, 압축 스트레인에 대한 저항성을 더 강화할 수 있다. 다만, 활성층(12)의 구조가 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니다.
활성층(12)은 400nm 내지 900nm의 파장을 갖는 광을 방출할 수 있으며, 이중 헤테로 구조(double hetero structure)를 사용할 수 있다. 실시예에서, 발광 소자(LD)의 길이 방향을 따라 활성층(12)의 상부 및/또는 하부에는 도전성의 도펀트가 도핑된 클래드층(clad layer)(미도시)이 형성될 수도 있다. 일 예로, 클래드층은 AlGaN층 또는 InAlGaN층으로 형성될 수 있다. 실시예에 따라, AlGaN, InAlGaN 등의 물질이 활성층(12)을 형성하는 데에 이용될 수 있으며, 이 외에도 다양한 물질이 활성층(12)을 구성할 수 있다. 활성층(12)은 제1 반도체층(11)과 접촉하는 제1 면 및 제2 반도체층(13)과 접촉하는 제2 면을 포함할 수 있다.
발광 소자(LD)의 양 단부에 소정 전압 이상의 전계를 인가하게 되면, 활성층(12)에서 전자-정공 쌍이 결합하면서 발광 소자(LD)가 발광하게 된다. 이러한 원리를 이용하여 발광 소자(LD)의 발광을 제어함으로써, 발광 소자(LD)를 표시 장치의 화소를 비롯한 다양한 발광 장치의 광원(또는 발광원)으로 이용할 수 있다.
제2 반도체층(13)은 활성층(12)의 제2 면 상에 배치되며, 제1 반도체층(11)과 상이한 타입의 반도체층을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2 반도체층(13)은 적어도 하나의 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 반도체층(13)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 적어도 하나의 반도체 재료를 포함하며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등과 같은 제2 도전성의 도펀트(또는 p형 도펀트)가 도핑된 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 다만, 제2 반도체층(13)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질이 제2 반도체층(13)을 구성할 수 있다. 제2 반도체층(13)은 발광 소자(LD)의 길이 방향을 따라 활성층(12)의 제2 면과 접촉하는 하부 면과 외부로 노출된 상부 면을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 반도체층(11)과 제2 반도체층(13)은 발광 소자(LD)의 길이 방향으로 서로 상이한 두께를 가질 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)의 길이 방향을 따라 제1 반도체층(11)이 제2 반도체층(13)보다 상대적으로 두꺼운 두께를 가질 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)의 활성층(12)은 제1 반도체층(11)의 하부 면보다 제2 반도체층(13)의 상부 면에 더 인접하게 위치할 수 있다.
제1 반도체층(11)과 제2 반도체층(13)이 각각 하나의 층으로 구성된 것으로 도시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 있어서, 활성층(12)의 물질에 따라 제1 반도체층(11)과 제2 반도체층(13) 각각은 적어도 하나 이상의 층들, 일 예로 클래드층 및/또는 TSBR(tensile strain barrier reducing) 층을 더 포함할 수도 있다. TSBR 층은 격자 구조가 다른 반도체층들 사이에 배치되어 격자 상수(lattice constant) 차이를 줄이기 위한 완충 역할을 하는 스트레인(strain) 완화층일 수 있다. TSBR 층은 p-GaInP, p-AlInP, p-AlGaInP 등과 같은 p형 반도체층으로 구성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 상술한 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13) 외에도 상기 제2 반도체층(13) 상부에 배치되는 컨택 전극(미도시, 이하 '제1 컨택 전극' 이라 함)을 더 포함할 수도 있다. 또한, 다른 실시예에 따라, 제1 반도체층(11)의 일 단에 배치되는 하나의 다른 컨택 전극(미도시, 이하 '제2 컨택 전극'이라 함)을 더 포함할 수도 있다.
제1 및 제2 컨택 전극들 각각은 오믹(ohmic) 컨택 전극일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 컨택 전극들은 쇼트키(schottky) 컨택 전극일 수 있다. 제1 및 제2 컨택 전극들은 도전성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 컨택 전극들은, 크롬(Cr), 타이타늄(Ti), 알루미늄(Al), 금(Au), 니켈(Ni), 및 이들의 산화물 또는 합금 등을 단독 또는 혼합하여 사용한 불투명 금속을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 컨택 전극들은 인듐 주석 산화물(indium tin oxide, ITO), 인듐 아연 산화물(indium zinc oxide, IZO), 아연 산화물(zinc oxide, ZnOx), 인듐 갈륨 아연 산화물(indium gallium zinc oxide, IGZO), 인듐 주석 아연 산화물(indium tin zinc oxide, ITZO)과 같은 투명 도전성 산화물을 포함할 수도 있다. 여기서, 아연 산화물(ZnOx)는 산화아연(ZnO), 및/또는 과산화아연(ZnO2)일 수 있다.
제1 및 제2 컨택 전극들에 포함된 물질은 서로 동일하거나 상이할 수 있다. 제1 및 제2 컨택 전극들은 실질적으로 투명 또는 반투명할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)에서 생성된 광은 제1 및 제2 컨택 전극들 각각을 투과하여 발광 소자(LD)의 외부로 방출될 수 있다. 실시예에 따라, 발광 소자(LD)에서 생성된 광이 제1 및 제2 컨택 전극들을 투과하지 않고 상기 발광 소자(LD)의 양 단부를 제외한 영역을 통해 상기 발광 소자(LD)의 외부로 방출되는 경우 상기 제1 및 제2 컨택 전극들은 불투명 금속을 포함할 수도 있다.
실시예에 있어서, 발광 소자(LD)는 절연막(14)을 더 포함할 수 있다. 다만, 실시예에 따라, 절연막(14)은 생략될 수도 있으며, 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13) 중 일부만을 덮도록 제공될 수도 있다.
절연막(14)은, 활성층(12)이 제1 및 제2 반도체층들(11, 13) 외의 전도성 물질과 접촉하여 발생할 수 있는 전기적 단락을 방지할 수 있다. 또한, 절연막(14)은 발광 소자(LD)의 표면 결함을 최소화하여 발광 소자(LD)의 수명 및 발광 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 복수의 발광 소자들(LD)이 밀접하게 배치되는 경우, 절연막(14)은 발광 소자들(LD) 사이에서 발생할 수 있는 원치 않은 단락을 방지할 수 있다. 활성층(12)이 외부의 전도성 물질과 단락이 발생하는 것을 방지할 수 있다면, 절연막(14)의 구비 여부가 한정되지는 않는다.
절연막(14)은 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13)을 포함한 발광 적층체의 외주면을 전체적으로 둘러싸는 형태로 제공될 수 있다.
상술한 실시예에서, 절연막(14)이 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13) 각각의 외주면을 전체적으로 둘러싸는 형태로 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 발광 소자(LD)가 제1 컨택 전극을 포함하는 경우, 절연막(14)은 제1 반도체층(11), 활성층(12), 제2 반도체층(13), 및 제1 컨택 전극 각각의 외주면을 전체적으로 둘러쌀 수 있다. 또한, 다른 실시예에 따라, 절연막(14)은 상기 제1 컨택 전극의 외주면을 전체적으로 둘러싸지 않거나 상기 제1 컨택 전극의 외주면의 일부만을 둘러싸고 상기 제1 컨택 전극의 외주면의 나머지를 둘러싸지 않을 수도 있다. 또한, 실시예에 따라, 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1)에 제1 컨택 전극이 배치되고, 상기 발광 소자(LD)의 제2 단부(EP2)에 제2 컨택 전극이 배치될 경우, 절연막(14)은 상기 제1 및 제2 컨택 전극들 각각의 적어도 일 영역을 노출할 수도 있다.
절연막(14)은 투명한 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 절연막(14)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx), 타이타늄 산화물(TiOx), 하프늄 산화물(HfOx), 티탄스트론튬 산화물 (SrTiOx), 코발트 산화물(CoxOy), 마그네슘 산화물(MgO), 아연 산화물(ZnOx), 루세늄 산화물(RuOx), 니켈 산화물(NiO), 텅스텐 산화물(WOx), 탄탈륨 산화물(TaOx), 가돌리늄 산화물(GdOx), 지르코늄 산화물(ZrOx), 갈륨 산화물(GaOx), 바나듐 산화물(VxOy), ZnO:Al, ZnO:B, InxOy:H, 니오븀 산화물(NbxOy), 플루오린화 마그네슘(MgFX), 플루오린화 알루미늄(AlFx), Alucone 고분자 필름, 타이타늄 질화물(TiN), 탄탈 질화물(TaN), 알루미늄 질화물(AlNX), 갈륨 질화물(GaN), 텅스텐 질화물(WN), 하프늄 질화물(HfN), 나이오븀 질화물(NbN), 가돌리늄 질화물(GdN), 지르코늄 질화물(ZrN), 바나듐 질화물(VN) 등으로 이루어지는 군으로부터 선택된 하나 이상의 절연 물질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않으며, 절연성을 갖는 다양한 재료가 상기 절연막(14)의 재료로 사용될 수 있다.
절연막(14)은 단일층의 형태로 제공되거나 이중층을 포함한 다중층의 형태로 제공될 수 있다. 일 예로, 절연막(14)이 순차적으로 적층된 제1 레이어와 제2 레이어를 포함한 이중층으로 구성될 경우, 상기 제1 레이어와 상기 제2 레이어는 서로 상이한 물질(또는 재료)로 구성될 수 있으며, 상이한 공정으로 형성될 수 있다. 실시예에 따라, 상기 제1 레이어와 상기 제2 레이어는 동일한 물질을 포함하여 연속적인 공정에 의해 형성될 수도 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는, 코어-쉘(core-shell) 구조의 발광 패턴으로 구현될 수도 있다. 이 경우, 상술한 제1 반도체층(11)이 발광 소자(LD)의 코어(core), 즉, 가운데(또는 중앙)에 위치할 수 있고, 활성층(12)이 상기 제1 반도체층(11)의 외주면을 둘러싸는 형태로 제공 및/또는 형성될 수 있으며, 제2 반도체층(13)이 상기 활성층(12)을 둘러싸는 형태로 제공 및/또는 형성될 수 있다. 또한, 발광 소자(LD)는 상기 제2 반도체층(13)의 적어도 일측을 둘러싸는 컨택 전극(미도시)을 더 포함할 수도 있다. 또한, 실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 코어-쉘 구조의 발광 패턴의 외주면에 제공되며 투명한 절연 물질을 포함한 절연막(14)을 더 포함할 수 있다. 코어-쉘 구조의 발광 패턴으로 구현된 발광 소자(LD)는 성장 방식으로 제조될 수 있다.
상술한 발광 소자(LD)는, 다양한 표시 장치의 발광원(또는 광원)으로 이용될 수 있다. 발광 소자(LD)는 표면 처리 과정을 거쳐 제조될 수 있다. 예를 들어, 다수의 발광 소자들(LD)을 유동성의 용액(또는 용매)에 혼합하여 각각의 화소 영역(일 예로, 각 화소의 발광 영역 또는 각 서브 화소의 발광 영역)에 공급할 때, 상기 발광 소자들(LD)이 상기 용액 내에 불균일하게 응집하지 않고 균일하게 분사될 수 있도록 각각의 발광 소자(LD)를 표면 처리할 수 있다.
상술한 발광 소자(LD)를 포함한 발광부(발광 장치 또는 발광 유닛)는, 표시 장치를 비롯하여 광원을 필요로하는 다양한 종류의 전자 장치에서 이용될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널의 각 화소의 화소 영역 내에 복수 개의 발광 소자들(LD)을 배치하는 경우, 상기 발광 소자들(LD)은 상기 각 화소의 광원으로 이용될 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)의 적용 분야가 상술한 예에 한정되지 않는다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는 조명 장치 등과 같이 광원을 필요로하는 다른 종류의 전자 장치에도 이용될 수 있다.
도 3은 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 3에 있어서, 편의를 위하여 영상이 표시되는 표시 영역(DA)을 중심으로 표시 장치의 구조를 간략하게 도시하였다.
표시 장치가 스마트폰, 텔레비전, 태블릿 PC, 이동 전화기, 영상 전화기, 전자책 리더기, 데스크탑 PC, 랩탑 PC, 넷북 컴퓨터, 워크스테이션, 서버, PDA, PMP(portable multimedia player), MP3 플레이어, 의료기기, 카메라, 또는 웨어러블 등과 같이 적어도 일 면에 표시 면이 적용된 전자 장치라면 본 발명이 적용될 수 있다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 표시 장치는 기판(SUB), 기판(SUB) 상에 제공되며 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 각각 포함하는 복수의 화소들(PXL), 기판(SUB) 상에 제공되며 화소들(PXL)을 구동하는 구동부, 및 화소들(PXL)과 구동부를 연결하는 배선부를 포함할 수 있다.
표시 장치는 발광 소자(LD)를 구동하는 방식에 따라 패시브 매트릭스형(passive matrix type) 표시 장치와 액티브 매트릭스형(active matrix type) 표시 장치로 분류될 수 있다. 일 예로, 표시 장치가 액티브 매트릭스형 표시 장치로 구현되는 경우, 화소들(PXL) 각각은 발광 소자(LD)에 공급되는 전류량을 제어하는 구동 트랜지스터와 상기 구동 트랜지스터로 데이터 신호를 전달하는 스위칭 트랜지스터 등을 포함할 수 있다.
표시 장치는 다양한 형상으로 제공될 수 있으며, 일 예로, 서로 평행한 두 쌍의 변들을 가지는 직사각형의 판상으로 제공될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 표시 장치가 직사각형의 판상으로 제공되는 경우, 두 쌍의 변 들 중 어느 한 쌍의 변이 다른 한 쌍의 변보다 길게 제공될 수 있다. 편의를 위하여 표시 장치가 한 쌍의 장변과 한 쌍의 단변을 갖는 직사각형상인 경우를 나타내었으며, 장변의 연장 방향을 제2 방향(DR2), 단변의 연장 방향을 제1 방향(DR1)으로 표시하였다. 직사각형의 판상으로 제공되는 표시 장치에서는, 하나의 장변과 하나의 단변이 접하는(또는 만나는) 모서리부가 라운드 형상을 가질 수도 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
기판(SUB)은 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다.
표시 영역(DA)은 영상을 표시하는 화소들(PXL)이 제공되는 영역일 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 화소들(PXL)을 구동하기 위한 구동부 및 화소들(PXL)과 구동부를 연결하는 배선부의 일부가 제공되는 영역일 수 있다.
비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)에 인접하게 위치할 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 적어도 일측에 제공될 수 있다. 일 예로, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 둘레(또는 가장 자리)를 둘러쌀 수 있다. 비표시 영역(NDA)에는 화소들(PXL)에 연결된 배선부 및 배선부에 연결되며 화소들(PXL)을 구동하기 위한 구동부가 제공될 수 있다.
배선부는 구동부와 화소들(PXL)을 전기적으로 연결할 수 있다. 배선부는 각 화소(PXL)에 신호를 제공하며 각 화소(PXL)에 연결된 신호 라인들, 일 예로, 스캔 라인, 데이터 라인, 발광 제어 라인 등과 연결된 팬아웃 라인을 포함할 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 배선부는 각 화소(PXL)의 전기적 특성 변화를 실시간으로 보상하기 위하여 각 화소(PXL)에 연결된 신호 라인들, 일 예로, 제어 라인, 센싱 라인 등과 연결된 팬아웃 라인을 포함할 수 있다. 추가적으로, 배선부는 각 화소(PXL)에 소정의 전압을 제공하며 각 화소(PXL)에 연결된 전원 배선들과 연결된 팬아웃 라인을 포함할 수 있다.
기판(SUB)은 투명 절연 물질을 포함하여 광의 투과가 가능할 수 있다. 기판(SUB)은 경성(rigid) 기판이거나 가요성(flexible) 기판일 수 있다.
기판(SUB) 상의 일 영역은 표시 영역(DA)으로 제공되어 화소들(PXL)이 배치되고, 상기 기판(SUB) 상의 나머지 영역은 비표시 영역(NDA)으로 제공될 수 있다. 일 예로, 기판(SUB)은, 각각의 화소(PXL)가 배치되는 화소 영역들을 포함한 표시 영역(DA)과, 표시 영역(DA)의 주변에 배치되는(또는 표시 영역(DA)에 인접한) 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다.
화소들(PXL) 각각은 기판(SUB) 상의 표시 영역(DA) 내에 제공될 수 있다. 실시예에 있어서, 화소들(PXL)은 스트라이프 배열 구조 등으로 표시 영역(DA)에 배열될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
화소들(PXL) 각각이 제공된 화소 영역(PXA)에는 제1 서브 화소(SPXL1), 제2 서브 화소(SPXL2), 및 제3 서브 화소(SPXL3)가 제공될 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 서브 화소(SPXL1)는 적색 화소(또는 적색 서브 화소)일 수 있고, 제2 서브 화소(SPXL2)는 녹색 화소(또는 녹색 서브 화소)일 수 있으며, 제3 서브 화소(SPXL3)는 청색 화소(또는 청색 서브 화소)일 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 실시예에 따라, 제2 서브 화소(SPXL2)가 적색 화소일 수 있고, 제1 서브 화소(SPXL1)가 녹색 화소일 수 있으며, 제3 서브 화소(SPXL3)가 청색 화소일 수도 있다. 또한, 다른 실시예에 따라, 제3 서브 화소(SPXL3)가 적색 화소일 수 있고, 제1 서브 화소(SPXL1)가 녹색 화소일 수 있으며, 제2 서브 화소(SPXL2)가 청색 화소일 수도 있다.
제1 서브 화소(SPXL1)는 제1 화소 회로 및 제1 발광부(또는 제1 발광 유닛)를 포함하고, 제2 서브 화소(SPXL2)는 제2 화소 회로 및 제2 발광부(또는 제2 발광 유닛)를 포함하며, 제3 서브 화소(SPXL3)는 제3 서브 화소 및 제3 발광부(또는 제3 발광 유닛)를 포함할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 화소 회로들과 제1, 제2, 및 제3 발광부들은 서로 다른 층에 배치되며, 서로 중첩할 수 있다. 예를 들어, 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들은 각각의 서브 화소가 배치된 서브 화소 영역의 화소 회로층(일 예로, 도 5 및 도 6의 "PCL")에 배치될 수 있다. 그리고, 제1, 제2, 및 제3 발광부들은 해당 서브 화소에서 화소 회로층(PCL)과 중첩하는 표시 소자층(일 예로, 도 7 내지 도 13의 "DPL")에 배치될 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 발광부들에는 서로 이격된 제1 정렬 전극(또는 제1 정렬 배선) 및 제2 정렬 전극(또는 제2 정렬 배선)이 배치될 수 있다. 상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 발광 소자(LD)가 배치될 수 있다. 화소 영역(PXA)에 배치된 구성들에 대해서는 도 5 내지 도 18을 참고하여 후술하기로 한다.
각각의 화소(PXL)는 대응되는 스캔 신호 및 데이터 신호에 의해 구동되는 적어도 하나 이상의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 발광 소자(LD)는 나노 스케일(또는 나노 미터) 내지 마이크로 스케일(또는 마이크로 미터) 정도로 작은 크기를 가지며 인접하게 배치된 발광 소자들과 서로 병렬로 연결될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 발광 소자(LD)는 각 화소(PXL)(또는 각 서브 화소)의 광원을 구성할 수 있다.
각각의 화소(PXL)(또는 각 서브 화소)는 소정의 신호(일 예로, 스캔 신호 및 데이터 신호 등) 및/또는 소정의 전원(일 예로, 제1 구동 전원 및 제2 구동 전원 등)에 의해 구동되는 적어도 하나의 광원, 일 예로, 도 1 및 도 2에 도시된 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 다만, 실시예에서 각각의 화소(PXL)(또는 각 서브 화소)의 광원으로 이용될 수 있는 발광 소자(LD)의 종류가 이에 한정되지는 않는다.
구동부는 배선부를 통해 각각의 화소(PXL)(각 서브 화소)에 소정의 신호 및 소정의 전원을 공급하며, 이에 따라 상기 각각의 화소(PXL)(또는 상기 각 서브 화소)의 구동을 제어할 수 있다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 내지 제3 서브 화소들 각각에 포함된 구성 요소들의 전기적 연결 관계를 실시예에 따라 나타낸 개략적인 회로도이다.
예를 들어, 도 4는 액티브 매트릭스형 표시 장치에 적용될 수 있는 제1 내지 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각에 포함된 구성 요소들의 전기적 연결 관계를 실시예에 따라 도시하였다. 다만, 제1 내지 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 구성 요소들의 연결 관계가 이에 한정되지는 않는다. 이하의 실시예에서는, 제1 서브 화소(SPXL1), 제2 서브 화소(SPXL2), 및 제3 서브 화소(SPXL3)를 포괄하여 명명할 때에는 서브 화소(SPXL) 또는 서브 화소들(SPXL)이라고 한다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 서브 화소(SPXL)는 데이터 신호에 대응하는 휘도의 광을 생성하는 발광부(EMU)(또는 발광 유닛)를 포함할 수 있다. 또한, 서브 화소(SPXL)는 발광부(EMU)를 구동하기 위한 화소 회로(PXC)를 선택적으로 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 발광부(EMU)는 제1 구동 전원(VDD)에 접속하여 제1 구동 전원(VDD)의 전압이 인가되는 제1 전원 배선(PL1)과 제2 구동 전원(VSS)에 접속하여 제2 구동 전원(VSS)의 전압이 인가되는 제2 전원 배선(PL2) 사이에 병렬 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광부(EMU)는, 화소 회로(PXC) 및 제1 전원 배선(PL1)을 경유하여 제1 구동 전원(VDD)에 접속된 제1 전극(PE1)(또는 제1 화소 전극), 제2 전원 배선(PL2)을 통해 제2 구동 전원(VSS)에 접속된 제2 전극(PE2)(또는 제2 화소 전극), 상기 제1 전극(PE1)과 상기 제2 전극(PE2) 사이에 서로 동일한 방향으로 병렬 연결되는 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 전극(PE1)은 애노드(anode)일 수 있고, 제2 전극(PE2)은 캐소드(cathode)일 수 있다.
발광부(EMU)에 포함된 발광 소자들(LD) 각각은, 제1 전극(PE1)을 통하여 제1 구동 전원(VDD)에 연결된 제1 단부 및 제2 전극(PE2)을 통하여 제2 구동 전원(VSS)에 연결된 제2 단부를 포함할 수 있다. 제1 구동 전원(VDD)과 제2 구동 전원(VSS)은 서로 다른 전위를 가질 수 있다. 일 예로, 제1 구동 전원(VDD)은 고전위 전원으로 설정되고, 제2 구동 전원(VSS)은 저전위 전원으로 설정될 수 있다. 이때, 제1 및 제2 구동 전원들(VDD, VSS)의 전위차는 각 서브 화소(SPXL)의 발광 기간 동안 발광 소자들(LD)의 문턱 전압 이상으로 설정될 수 있다.
상술한 바와 같이, 서로 상이한 전원의 전압이 공급되는 제1 전극(PE1)과 제2 전극(PE2) 사이에 동일한 방향(일 예로, 순 방향)으로 병렬 연결된 각각의 발광 소자(LD)는 각각의 유효 광원을 구성할 수 있다.
발광부(EMU)의 발광 소자들(LD)은 해당 화소 회로(PXC)를 통해 공급되는 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 예를 들어, 각각의 프레임 기간 동안 화소 회로(PXC)의 해당 프레임 데이터의 계조 값에 대응하는 구동 전류를 발광부(EMU)로 공급할 수 있다. 발광부(EMU)로 공급되는 구동 전류는 발광 소자들(LD) 각각으로 나뉘어 흐를 수 있다. 이에 따라, 각각의 발광 소자(LD)가 그에 흐르는 전류에 상응하는 휘도로 발광하면서, 발광부(EMU)가 구동 전류에 대응하는 휘도의 광을 방출할 수 있다.
상술한 실시예에서는, 발광 소자들(LD)의 양 단부가 제1 및 제2 구동 전원들(VDD, VSS)의 사이에 동일한 방향으로 연결된 실시예에 대하여 설명하였으나, 이에 한정되지는 않는다. 실시예에 따라, 발광부(EMU)는, 각각의 유효 광원을 구성하는 발광 소자들(LD) 외에 적어도 하나의 비유효 광원, 일 예로 역방향 발광 소자(LDr)를 더 포함할 수 있다. 이러한 역방향 발광 소자(LDr)는 유효 광원들을 구성하는 발광 소자들(LD)과 함께 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2)의 사이에 병렬로 연결되되, 상기 발광 소자들(LD)과는 반대 방향으로 상기 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2)의 사이에 연결될 수 있다. 이러한 역방향 발광 소자(LDr)는, 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2) 사이에 소정의 구동 전압(일 예로, 순방향의 구동 전압)이 인가되더라도 비활성 상태를 유지하게 되고, 이에 따라 역방향 발광 소자(LDr)에는 실질적으로 전류가 흐르지 않게 된다.
화소 회로(PXC)는 서브 화소(SPXL)의 스캔 라인(Si) 및 데이터 라인(Dj)에 접속될 수 있다. 또한, 화소 회로(PXC)는 서브 화소(SPXL)의 제어 라인(CLi) 및 센싱 라인(SENj)에 접속될 수 있다. 일 예로, 서브 화소(SPXL)가 표시 영역(DA)의 i번째 행 및 j번째 열에 배치되는 경우, 상기 서브 화소(SPXL)의 화소 회로(PXC)는 표시 영역(DA)의 i번째 스캔 라인(Si), j번째 데이터 라인(Dj), i번째 제어 라인(CLi), 및 j번째 센싱 라인(SENj)에 접속될 수 있다.
화소 회로(PXC)는 제1 내지 제3 트랜지스터들(T1 ~ T3)과 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 발광부(EMU)로 인가되는 구동 전류를 제어하기 위한 구동 트랜지스터로써, 제1 구동 전원(VDD)과 발광부(EMU) 사이에 연결될 수 있다. 구체적으로, 제1 트랜지스터(T1)의 제1 단자는 제1 전원 배선(PL1)을 통하여 제1 구동 전원(VDD)에 전기적으로 연결될 수 있고, 제1 트랜지스터(T1)의 제2 단자는 제2 노드(N2)와 전기적으로 연결되며, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)에 인가되는 전압에 따라 제1 구동 전원(VDD)에서 제2 노드(N2)를 통하여 발광부(EMU)로 인가되는 구동 전류의 양을 제어할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 트랜지스터(T1)의 제1 단자는 드레인 전극이고, 제1 트랜지스터(T1)의 제2 단자는 소스 전극일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 단자가 소스 전극일 수 있고 제2 단자가 드레인 전극일 수도 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 스캔 신호에 응답하여 서브 화소(SPXL)를 선택하고, 서브 화소(SPXL)를 활성화하는 스위칭 트랜지스터로써 데이터 라인(Dj)과 제1 노드(N1) 사이에 연결될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 제1 단자는 데이터 라인(Dj)에 연결되고, 제2 트랜지스터(T2)의 제2 단자는 제1 노드(N1)에 연결되며, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 스캔 라인(Si)에 연결될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 제1 단자와 제2 단자는 서로 다른 단자로, 예컨대 제1 단자가 드레인 전극이면 제2 단자는 소스 전극일 수 있다.
이와 같은 제2 트랜지스터(T2)는, 스캔 라인(Si)으로부터 게이트-온 전압(일 예로, 하이 레벨 전압)의 스캔 신호가 공급될 때 턴-온되어, 데이터 라인(Dj)과 제1 노드(N1)를 전기적으로 연결할 수 있다. 제1 노드(N1)는 제2 트랜지스터(T2)의 제2 단자와 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극이 연결되는 지점으로써, 제2 트랜지스터(T2)는 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 데이터 신호를 전달할 수 있다.
제3 트랜지스터(T3)는 제1 트랜지스터(T1)를 센싱 라인(SENj)에 연결함으로써, 센싱 라인(SENj)을 통하여 센싱 신호를 획득하고, 센싱 신호를 이용하여 제1 트랜지스터(T1)의 문턱 전압 등을 비롯한 서브 화소(SPXL)의 특성을 검출할 수 있다. 서브 화소(SPXL)의 특성에 대한 정보는 서브 화소들(SPXL) 사이의 특성 편차가 보상될 수 있도록 영상 데이터를 변환하는 데 이용될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)의 제2 단자는 제1 트랜지스터(T1)의 제2 단자에 연결될 수 있고, 제3 트랜지스터(T3)의 제1 단자는 센싱 라인(SENj)에 연결될 수 있으며, 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 제어 라인(CLi)에 연결될 수 있다. 또한, 제3 트랜지스터(T3)의 제1 단자는 초기화 전원에 연결될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 제2 노드(N2)를 초기화할 수 있는 초기화 트랜지스터로써, 제어 라인(CLi)으로부터 센싱 제어 신호가 공급될 때 턴-온되어 초기화 전원의 전압을 제2 노드(N2)에 전달할 수 있다. 이에 따라, 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결된 스토리지 커패시터(Cst)의 제2 스토리지 전극은 초기화될 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 스토리지 전극(또는 하부 전극)과 제2 스토리지 전극(또는 상부 전극)을 포함할 수 있다. 제1 스토리지 전극은 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결될 수 있고, 제2 스토리지 전극은 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 한 프레임 기간 동안 제1 노드(N1)로 공급되는 데이터 신호에 대응하는 데이터 전압을 충전한다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cst)는 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극의 전압과 제2 노드(N2)의 전압 차이에 해당하는 전압을 저장할 수 있다.
발광부(EMU)는 서로 병렬로 전기적으로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함하는 적어도 하나의 직렬단(또는 스테이지)을 포함하도록 구성될 수 있다. 실시예에 있어서, 발광부(EMU)는 도 4에 도시된 바와 같이 직/병렬 혼합 구조로 구성될 수도 있다. 일 예로, 발광부(EMU)는 제1 직렬단(SET1), 제2 직렬단(SET2), 제3 직렬단(SET3), 제4 직렬단(SET4), 및 제5 직렬단(SET5)을 포함하도록 구성될 수도 있다.
발광부(EMU)는 제1 구동 전원(VDD)과 제2 구동 전원(VSS) 사이에 순차적으로 연결된 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5)을 포함할 수 있다. 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5) 각각은, 해당 직렬단의 전극 쌍을 구성하는 두 개의 전극들(PE1 및 CTE1_1, CTE1_2 및 CTE2_1, CTE2_2 및 CTE3_1, CTE3_2 및 CTE4_1, CTE4_2 및 PE2)과, 상기 두 개의 전극들(PE1 및 CTE1_1, CTE1_2 및 CTE2_1, CTE2_2 및 CTE3_1, CTE3_2 및 CTE4_1, CTE4_2 및 PE2) 사이에 동일한 방향으로 병렬 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다.
제1 직렬단(SET1)(또는 제1 스테이지)은 제1 전극(PE1)(또는 제1 화소 전극)과 제1-1 중간 전극(CTE1_1)을 포함하고, 제1 전극(PE1)과 제1-1 중간 전극(CTE1_1) 사이에 연결된 적어도 하나의 제1 발광 소자(LD1)를 포함할 수 있다. 또한, 제1 직렬단(SET1)은 제1 전극(PE1)과 제1-1 중간 전극(CTE1_1) 사이에서 제1 발광 소자(LD1)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제2 직렬단(SET2)(또는 제2 스테이지)은 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1)을 포함하고, 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1) 사이에 연결된 적어도 하나의 제2 발광 소자(LD2)를 포함할 수 있다. 또한, 제2 직렬단(SET2)은 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1) 사이에서 제2 발광 소자(LD2)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제2 직렬단(SET2)(또는 제2 스테이지)은 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1)을 포함하고, 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1) 사이에 연결된 적어도 하나의 제2 발광 소자(LD2)를 포함할 수 있다. 또한, 제2 직렬단(SET2)은 제1-2 중간 전극(CTE1_2)과 제2-1 중간 전극(CTE2_1) 사이에서 제2 발광 소자(LD2)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제1 직렬단(SET1)의 제1-1 중간 전극(CTE1_1)과 제2 직렬단(SET2)의 제1-2 중간 전극(CTE1_2)은 일체로 제공되어 서로 연결될 수 있다. 일 예로, 제1-1 중간 전극(CTE1_1)과 제1-2 중간 전극(CTE1_2)은 연속하는 제1 직렬 단(SET1)과 제2 직렬 단(SET2)을 전기적으로 연결하는 제1 중간 전극(CTE1)을 구성할 수 있다. 제1-1 중간 전극(CTE1_1)과 제1-2 중간 전극(CTE1_2)이 일체로 제공되는 경우, 상기 제1-1 중간 전극(CTE1_1)과 상기 제1-2 중간 전극(CTE1_2)은 제1 중간 전극(CTE1)의 서로 다른 일 영역일 수 있다.
제3 직렬단(SET3)(또는 제3 스테이지)은 제2-2 중간 전극(CTE2_2)과 제3-1 중간 전극(CTE3_1)을 포함하고, 제2-2 중간 전극(CTE2_2)과 제3-1 중간 전극(CTE3_1) 사이에 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제3 발광 소자(LD3)를 포함할 수 있다. 또한, 제3 직렬단(SET3)은 제2-2 중간 전극(CTE2_2)과 제3-1 중간 전극(CTE3_1) 사이에서 제3 발광 소자(LD3)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제2 직렬단(SET2)의 제2-1 중간 전극(CTE2_1)과 제3 직렬단(SET3)의 제2-2 중간 전극(CTE2_2)은 일체로 제공되어 서로 연결될 수 있다. 일 예로, 제2-1 중간 전극(CTE2_1)과 제2-2 중간 전극(CTE2_2)은 연속하는 제2 직렬단(SET2)과 제3 직렬단(SET3)을 전기적으로 연결하는 제2 중간 전극(CTE2)을 구성할 수 있다. 제2-1 중간 전극(CTE2_1)과 제2-2 중간 전극(CTE2_2)이 일체로 제공되는 경우, 상기 제2-1 중간 전극(CTE2_1)과 상기 제2-2 중간 전극(CTE2_2)은 제2 중간 전극(CTE2)의 서로 다른 일 영역일 수 있다.
제4 직렬단(SET4)(또는 제4 스테이지)은 제3-2 중간 전극(CTE3_2)과 제4-1 중간 전극(CTE4_1)을 포함하고, 제3-2 중간 전극(CTE3_2)과 제4-1 중간 전극(CTE4_1) 사이에 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제4 발광 소자(LD4)를 포함할 수 있다. 또한, 제4 직렬단(SET4)은 제3-2 중간 전극(CTE3_2)과 제4-1 중간 전극(CTE4_1) 사이에서 제4 발광 소자(LD4)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제3 직렬단(SET3)의 제3-1 중간 전극(CTE3_1)과 제4 직렬단(SET4)의 제3-2 중간 전극(CTE3_2)은 일체로 제공되어 서로 연결될 수 있다. 일 예로, 제3-1 중간 전극(CTE3_1)과 제3-2 중간 전극(CTE3_2)은 연속하는 제3 직렬단(SET3)과 제4 직렬단(SET4)을 전기적으로 연결하는 제3 중간 전극(CTE3)을 구성할 수 있다. 제3-1 중간 전극(CTE3_1)과 제3-2 중간 전극(CTE3_2)이 일체로 제공되는 경우, 상기 제3-1 중간 전극(CTE3_1)과 상기 제3-2 중간 전극(CTE3_2)은 제3 중간 전극(CTE3)의 서로 다른 일 영역일 수 있다.
제5 직렬단(SET5)(또는 제5 스테이지)은 제4-2 중간 전극(CTE4_2)과 제2 전극(PE2)을 포함하고, 제4-2 중간 전극(CTE4_2)과 제2 전극(PE2) 사이에 전기적으로 연결된 하나의 제5 발광 소자(LD5)를 포함할 수 있다. 또한, 제5 직렬단(SET5)은 제4-2 중간 전극(CTE4_2)과 제2 전극(PE2) 사이에서 제5 발광 소자(LD5)와 반대 방향으로 연결된 역방향 발광 소자(LDr)를 포함할 수 있다.
제4 직렬단(SET4)의 제4-1 중간 전극(CTE4_1)과 제5 직렬단(SET5)의 제4-2 중간 전극(CTE4_2)은 일체로 제공되어 서로 연결될 수 있다. 일 예로, 제4-1 중간 전극(CTE4_1)과 제4-2 중간 전극(CTE4_2)은 연속하는 제4 직렬단(SET4)과 제5 직렬단(SET5)을 전기적으로 연결하는 제4 중간 전극(CTE4)을 구성할 수 있다. 제4-1 중간 전극(CTE4_1)과 제4-2 중간 전극(CTE4_2)이 일체로 제공되는 경우, 상기 제4-1 중간 전극(CTE4_1)과 상기 제4-2 중간 전극(CTE4_2)은 제4 중간 전극(CTE4)의 서로 다른 일 영역일 수 있다.
상술한 실시예에서, 제1 직렬단(SET1)의 제1 전극(PE1)이 발광부(EMU)의 애노드이고, 제5 직렬단(SET5)의 제2 전극(PE2)이 상기 발광부(EMU)의 캐소드일 수 있다.
상술한 바와 같이, 직/병렬 혼합 구조로 연결된 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5)(또는 발광 소자들(LD))을 포함한 서브 화소(SPXL)의 발광부(EMU)는 적용되는 제품 사양에 맞춰 구동 전류/전압 조건을 용이하게 조절할 수 있다.
특히, 직/병렬 혼합 구조로 연결된 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5)(또는 발광 소자들(LD))을 포함한 서브 화소(SPXL)의 발광부(EMU)는 발광 소자들(LD)을 병렬로만 연결한 구조의 발광부에 비하여 구동 전류를 감소시킬 수 있다. 또한, 직/병렬 혼합 구조로 연결된 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5)을 포함한 서브 화소(SPXL)의 발광부(EMU)는 동일한 개수의 발광 소자들(LD)을 모두 직렬 연결한 구조의 발광부에 비하여 발광부(EMU)의 양단에 인가되는 구동 전압을 감소시킬 수 있다. 나아가, 직/병렬 혼합 구조로 연결된 직렬단들(SET1, SET2, SET3, SET4, SET5)(또는 발광 소자들(LD))을 포함한 서브 화소(SPXL)의 발광부(EMU)는, 직렬단들(또는 스테이지들)을 모두 직렬 연결한 구조의 발광부에 비하여, 동일한 개수의 전극들(PE1, CTE1_1, CTE1_2, CTE2_1, CTE2_2, CTE3_1, CTE3_2, CTE4_1, CTE4_2, PE2) 사이에 보다 많은 개수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 이 경우, 발광 소자들(LD)의 출광 효율이 향상될 수 있고, 특정 직렬단(또는 스테이지)에 불량이 발생하더라도, 불량에 의해 비발광하는 발광 소자들(LD)의 비율이 상대적으로 감소하고, 이에 따라 발광 소자들(LD)의 출광 효율이 저하되는 것이 완화될 수 있다.
도 5는 도 3에 도시된 화소(PXL)의 화소 회로층(PCL)을 개략적으로 도시한 평면도이며, 도 6은 도 5의 Ⅰ ~ Ⅰ'선에 따른 개략적인 단면도이다.
예를 들어, 도 5는 도 3의 화소(PXL)가 배치된 화소 영역(PXA)을 중심으로, 화소 회로층(PCL)의 구조에 대한 실시예를 개략적으로 도시하였다.
도 5에서는, 설명의 편의를 위하여 평면 상에서의 가로 방향을 제1 방향(DR1)으로, 평면 상에서의 세로 방향을 제2 방향(DR2)으로 표시하였다.
도 6에서는 각각의 전극을 단일막의 전극으로, 각각의 절연층을 단일막의 절연층으로만 도시하는 등 화소(PXL)의 화소 회로층(PCL)을 단순화하여 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 도 6에서는 단면 상에서의 수직 방향(또는 기판(SUB)의 두께 방향)을 제3 방향(DR3)으로 표시하였다.
이하의 실시예에서는, 도 5 및 도 6에 도시된 화소(PXL)에 포함된 구성 요소들뿐만 아니라 상기 구성 요소들이 제공되는(또는 위치하는) 영역까지 포괄하여 화소(PXL)로 지칭한다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 화소(PXL)의 화소 회로층(PCL)은 화소 영역(PXA)에 배치된 복수의 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소 회로층(PCL)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에 배치된 제1 화소 회로(PXC1), 제2 서브 화소 영역(SPXA2)에 배치된 제2 화소 회로(PXC2), 및 제3 서브 화소 영역(SPXA2)에 배치된 제3 화소 회로(PXC3)를 포함할 수 있다. 제1 서브 화소 영역(SPXA1)은 제1 서브 화소(SPXL1)가 위치한 상기 화소 영역(PXA)의 일 영역이고, 제2 서브 화소 영역(SPXA2)은 제2 서브 화소(SPXL2)가 위치한 상기 화소 영역(PXA)의 일 영역이며, 제3 서브 화소 영역(SPXA3)은 제3 서브 화소(SPX3)가 위치한 상기 화소 영역(PXA)의 일 영역일 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)은 제1 화소 회로(PXC1)의 좌측 및/또는 우측에 위치한 배선 영역(LA)을 포함할 수 있다. 제2 서브 화소 영역(SPXA2)은 제2 화소 회로(PXC2)의 좌측 및/또는 우측에 위치한 배선 영역(LA)을 포함할 수 있다. 제3 서브 화소 영역(SPXA3)은 제3 화소 회로(PXC3)의 좌측 및/또는 우측에 위치한 배선 영역(LA)을 포함할 수 있다. 상기 배선 영역(LA)은 대응하는 서브 화소 영역 내에서 제2 방향(DR2)으로 연장된 배선들이 배치되는 영역일 수 있다. 일 예로, 상기 배선 영역(LA)에는 제2 방향(DR2)으로 연장된 제2 수직 전원 배선(PL2a), 제1 스캔 라인(SLa), 데이터 라인(DL), 초기화 전원 라인(IPL), 및 제1 수직 전원 배선(PL1a)이 배치될 수 있다.
화소 회로층(PCL)은 기판(SUB) 상에 배치된 적어도 하나 이상의 절연층을 포함할 수 있다. 일 예로, 화소 회로층(PCL)은 제3 방향(DR3)을 따라 기판(SUB) 상에 순차적으로 적층된 버퍼층(BFL), 게이트 절연층(GI), 층간 절연층(ILD), 및 패시베이션층(PSV)을 포함할 수 있다.
버퍼층(BFL)은 기판(SUB) 상에 전면적으로 배치될 수 있다. 버퍼층(BFL)은 제1 내지 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3)에 포함된 트랜지스터들(T1, T2, T3)에 불순물이 확산되는 것을 방지할 수 있다. 버퍼층(BFL)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막일 수 있다. 버퍼층(BFL)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx)과 같은 금속 산화물 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 버퍼층(BFL)은 단일층으로 제공될 수 있으나, 적어도 이중층 이상의 다중층으로 제공될 수도 있다. 버퍼층(BFL)이 다중층으로 제공되는 경우, 각 레이어는 서로 동일한 재료로 형성되거나 서로 다른 재료로 형성될 수 있다. 버퍼층(BFL)은 기판(SUB)의 재료 및 공정 조건 등에 따라 생략될 수도 있다.
게이트 절연층(GI)은 버퍼층(BFL) 상에 전면적으로 배치될 수 있다. 게이트 절연층(GI)은 상술한 버퍼층(BFL)과 동일한 물질을 포함하거나 버퍼층(BFL)의 구성 물질로 예시된 물질들에서 적합한 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 게이트 절연층(GI)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막일 수 있다.
층간 절연층(ILD)은 게이트 절연층(GI) 상에 전면적으로 제공 및/또는 형성될 수 있다. 층간 절연층(ILD)은 게이트 절연층(GI)과 동일한 물질을 포함하거나 게이트 절연층(GI)의 구성 물질로 예시된 물질들에서 선택된 하나 이상의 물질을 포함할 수 있다.
패시베이션층(PSV)은 층간 절연층(ILD) 상에 전면적으로 제공 및/또는 형성될 수 있다. 패시베이션층(PSV)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막 또는 유기 재료를 포함한 유기 절연막일 수 있다. 무기 절연막은, 예를 들어, 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx)과 같은 금속 산화물 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 유기 절연막은, 예를 들어, 아크릴계 수지(polyacrylates resin), 에폭시계 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides rein), 불포화 폴리에스테르계 수지(unsaturated polyesters resin), 폴리페닐렌 에테르계 수지(poly-phenylen ethers resin), 폴리페닐렌 설파이드계 수지(poly-phenylene sulfides resin), 및 벤조사이클로부텐 수지(benzocyclobutene resin) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
패시베이션층(PSV)은 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각의 일부 구성을 노출하도록 부분적으로 개구될 수 있다. 예를 들어, 패시베이션층(PSV)은 제1 화소 회로(PXC1)의 제1 상부 전극(UE1), 제2 화소 회로(PXC2)의 제2 상부 전극(UE2), 및 제3 화소 회로(PXC3)의 제3 상부 전극(UE3)을 각각을 노출하는 제1 비아홀(VIH1)("제1 관통홀" 또는 "제1 컨택홀")을 포함하도록 부분적으로 개구될 수 있다. 상기 패시베이션층(PSV)은 화소 회로층(PCL)의 제2 수평 전원 배선(PL2b)의 일 영역을 노출하는 3개의 제2 비아홀(VIH2)을 포함하도록 부분적으로 개구될 수 있다. 또한, 상기 패시베이션층(PSV)은 화소 회로층(PCL)의 제1 수평 전원 배선(PL1b)의 일 영역을 노출하는 1개의 제3 비아홀(VIH3)을 포함하도록 부분적으로 개구될 수 있다.
화소 회로층(PCL)은 상술한 절연층들 사이에 배치된 적어도 하나 이상의 도전층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소 회로층(PCL)은 기판(SUB)과 버퍼층(BFL) 사이에 배치된 제1 도전층, 게이트 절연층(GI) 상에 배치된 제2 도전층, 층간 절연층(ILD) 상에 배치된 제3 도전층을 포함할 수 있다.
제1 도전층은 구리(Cu), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 알루미늄네오디뮴(AlNd), 타이타늄(Ti), 알루미늄(Al), 은(Ag) 및 이들의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 단독 또는 이들의 혼합물로 이루어진 단일층을 형성하거나 배선 저항을 줄이기 위해 저저항 물질인 몰리브덴(Mo), 타이타늄(Ti), 구리(Cu), 알루미늄(Al) 또는 은(Ag)의 이중층 또는 다중층 구조로 형성할 수 있다. 제2 및 제3 도전층들 각각은 제1 도전층과 동일한 물질을 포함하거나 제1 도전층의 구성 물질로 예시된 물질들에서 적합한 하나 이상의 물질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
실시예에서, 기판(SUB)은 투명 절연 물질을 포함하여 광의 투과가 가능할 수 있다. 기판(SUB)은 경성(rigid) 기판 또는 가요성(flexible) 기판일 수 있다.
경성 기판은, 예를 들어, 유리 기판, 석영 기판, 유리 세라믹 기판, 및 결정질 유리 기판 중 하나일 수 있다.
가요성 기판은, 고분자 유기물을 포함한 필름 기판 및 플라스틱 기판 중 하나일 수 있다. 예를 들면, 가요성 기판은 폴리스티렌(polystyrene), 폴리비닐알코올(polyvinyl alcohol), 폴리메틸메타크릴레이트(Polymethyl methacrylate), 폴리에테르술폰(polyethersulfone), 폴리아크릴레이트(polyacrylate), 폴리에테르이미드(polyetherimide), 폴리에틸렌 나프탈레이트(polyethylene naphthalate), 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate), 폴리페닐렌 설파이드(polyphenylene sulfide), 폴리아릴레이트(polyarylate), 폴리이미드(polyimide), 폴리카보네이트(polycarbonate), 트리아세테이트 셀룰로오스(triacetate cellulose), 셀룰로오스아세테이트 프로피오네이트(cellulose acetate propionate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
화소 회로층(PCL)은 기판(SUB) 상에서 상기 화소 회로층(PCL) 내에 배치된 소정의 회로 소자들, 전극들, 및/또는 배선들을 서로 연결하기 위한 다수의 컨택홀들(CH)을 더 포함할 수 있다. 편의상, 도 5에서는 화소 회로층(PCL) 내 특정 요소들을 연결하기 위한 컨택홀들(CH)을 대표하여 하나의 컨택홀(CH)에만 부호를 표시하기로 한다.
화소 회로층(PCL)은 기판(SUB) 상에 배치되어 화소들(PXL)에 전기적으로 연결된 배선들을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소 회로층(PCL)은 스캔 라인(SLa, SLb), 데이터 라인(DL), 전원 배선(PL), 및 초기화 전원 배선(IPL)을 포함할 수 있다.
스캔 라인(SLa, SLb)은 이격되게 배치된 제1 스캔 라인(SLa)과 제2 스캔 라인(SLb)을 포함할 수 있다.
제1 스캔 라인(SLa)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 배치되며, 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 제1 스캔 라인(SLa)에는 소정의 신호(일 예로, 스캔 신호 또는 제어 신호)가 인가될 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 스캔 라인(SLa)은 제1 레이어(FL), 제2 레이어(SL), 및 제3 레이어(TL)가 순차적으로 적층된 다중층으로 제공될 수 있다. 제1 레이어(FL)는 제1 도전층이고, 제2 레이어(SL)는 제2 도전층이며, 제3 레이어(TL)는 제3 도전층일 수 있다. 제1 레이어(FL), 제2 레이어(SL), 및 제3 레이어(TL)는 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 서로 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 제1 스캔 라인(SLa)은 제1 도전층으로 구성된 제1 레이어(FL)만을 포함한 단일층으로 제공될 수도 있다. 제1 스캔 라인(SLa)에는 스캔 신호 및/또는 제어 신호가 공급될 수 있다.
제2 스캔 라인(SLb)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3)에 공통으로 제공되며(또는 배치되며), 제1 스캔 라인(SLa)의 연장 방향과 교차하는 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 제2 스캔 라인(SL2b)은 제3 도전층을 포함한 단일층으로 구성될 수 있다. 제2 스캔 라인(SLb)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 스캔 라인(SLa)과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제2 스캔 라인(SLb)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 상기 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에 배치된 제1 스캔 라인(SLa)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 스캔 라인(SLb)은 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각의 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제2 스캔 라인(SLb)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각의 제2 및 제3 트랜지스터들(T2, T3)과 전기적으로 연결될 수 있다.
데이터 라인(DL)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 배치되며, 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 데이터 라인(DL)에는 데이터 신호가 인가될 수 있다. 실시예에 있어서, 데이터 라인(DL)은 제1 도전층을 포함한 단일층으로 구성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 데이터 라인(DL)은 제1, 제2, 및 제3 도전층들이 순차적으로 적층된 다중층으로 구성될 수도 있다. 데이터 라인(DL)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각의 제2 트랜지스터(T2)와 전기적으로 연결될 수 있다.
전원 배선(PL)은 이격되게 배치된 제1 전원 배선(PL1)과 제2 전원 배선(PL2)을 포함할 수 있다.
제1 전원 배선(PL1)은 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에 배치되고 제2 방향(DR2)으로 연장된 제1 수평 전원 배선(PL1a)과 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3)에 공통으로 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장된 제1 수직 전원 배선(PL1b)을 포함할 수 있다. 제1 수직 전원 배선(PL1a)에는 제1 구동 전원(VDD)의 전압이 인가될 수 있다.
제1 수직 전원 배선(PL1a)과 제1 수평 전원 배선(PL1b)은 서로 상이한 층에 배치되며 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 수직 전원 배선(PL1a)은 제1 도전층일 수 있고, 제1 수평 전원 배선(PL1b)은 제3 도전층일 수 있으며, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 서로 연결되는 제1 수직 전원 배선(PL1a)과 제1 수평 전원 배선(PL1b)으로 인하여 제1 전원 배선(PL1)은 메쉬 구조를 가질 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 수평 전원 배선(PL1b)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 수평 전원 배선(PL1b)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 제1 연결 배선(CNL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 전원 배선(PL2)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에 배치되고 제2 방향(DR2)으로 연장된 제2 수직 전원 배선(PL2a)과 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3)에 공통으로 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장된 제2 수평 전원 배선(PL2b)을 포함할 수 있다. 제2 수직 전원 배선(PL2a)에는 제2 구동 전원(VSS)의 전압이 인가될 수 있다.
제2 수직 전원 배선(PL2a)과 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 서로 상이한 층에 배치되며 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 수직 전원 배선(PL2a)은 제1 도전층일 수 있고, 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제3 도전층일 수 있으며, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 서로 연결되는 제2 수직 전원 배선(PL2a)과 제2 수평 전원 배선(PL2b)으로 인하여 제2 전원 배선(PL2)은 메쉬 구조를 가질 수 있다.
실시예에 있어서, 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 제1 브릿지 패턴(BRP1)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제2 서브 화소 영역(SPXA2)에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 제2 브릿지 패턴(도 7의 "BRP2" 참고)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에서 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 표시 소자층(DPL)의 제3 브릿지 패턴(도 7의 "BRP3" 참고)과 전기적으로 연결될 수 있다.
초기화 전원 배선(IPL)은 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에서 제2 방향(DR2)으로 연장되고, 데이터 라인(DL)과 제1 수평 전원 배선(PL1a) 사이에 위치할 수 있다. 초기화 전원 배선(IPL)은 제1 도전층일 수 있다. 초기화 전원 배선(IPL)에는 소정의 기간 동안 초기화 전원의 전압이 인가될 수 있다. 이에 따라, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각에는 초기화 전원의 전압이 공급될 수 있다. 실시예에 있어서, 초기화 전원 배선(IPL)은 소정의 기간 동안 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제3 트랜지스터(T3)로부터 각 서브 화소의 특성을 검출하는 센싱 라인(SEN)으로 활용될 수 있다.
제1 화소 회로(PXC1), 제2 화소 회로(PXC2), 및 제3 화소 회로(PXC3)는 실질적으로 유사하거나 동일한 구조를 가질 수 있다. 이하에서는 제1 내지 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 중 제1 화소 회로(PXC1)를 대표로 설명하며 제2 및 제3 화소 회로들(PXC2, PXC3)에 대한 설명은 간략히 하기로 한다.
제1 화소 회로(PXC1)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 제1 게이트 전극(GE1), 제1 반도체 패턴(SCP1), 제1 소스 전극(SE1), 제1 드레인 전극(DE1), 및 하부 금속 패턴(BML)을 포함할 수 있다.
제1 게이트 전극(GE1)은 제2 도전층으로 구성되며, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 섬 형상(또는 고립된 형상)으로 제공될 수 있다. 제1 게이트 전극(GE1)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 트랜지스터(T2)의 제2 소스 전극(SE2)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 반도체 패턴(SCP1)은 제1 게이트 전극(GE1)과 중첩하는 채널 영역을 포함할 수 있다. 또한, 제1 반도체 패턴(SCP1)은 상기 채널 영역의 양 측에 위치하는 제1 접촉 영역과 제2 접촉 영역을 포함할 수 있다. 제1 반도체 패턴(SCP1)은 폴리 실리콘(poly silicon), 아몰퍼스 실리콘(amorphous silicon), 산화물 반도체 등으로 이루어진 반도체층일 수 있다. 채널 영역은 불순물이 도핑되지 않은 반도체층일 수 있고, 제1 및 제2 접촉 영역들은 불순물이 도핑된 반도체층일 수 있다.
제1 반도체 패턴(SCP1)은 버퍼층(BFL)과 게이트 절연층(GI) 사이에 배치될 수 있다. 일 예로, 제1 반도체 패턴(SCP1)은 버퍼층(BFL) 상에 위치하며 게이트 절연층(GI)에 의해 감싸질 수 있다.
제1 소스 전극(SE1)은 제3 도전층으로 구성되고, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제1 게이트 전극(GE1)과 중첩하도록 섬 형상으로 제공될 수 있다. 제1 소스 전극(SE1)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 반도체 패턴(SCP1)의 제1 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1 소스 전극(SE1)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 하부 금속 패턴(BML)과 전기적으로 연결될 수 있다.
하부 금속 패턴(BML)은 제1 도전층으로 구성되고, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제1 게이트 전극(GE1)과 제1 소스 전극(SE1)에 중첩하도록 섬형상으로 제공될 수 있다. 하부 금속 패턴(BML)이 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 소스 전극(SE1)과 전기적으로 연결되면, 제1 게이트 전극(GE1)으로 공급되는 소정의 전압의 구동 범위(driving range)를 넓힐 수 있다. 또한, 하부 금속 패턴(BML)이 제1 트랜지스터(T1)와 전기적으로 연결됨에 따라 하부 금속 패턴(BML)의 플로팅을 방지할 수 있다.
제1 드레인 전극(DE1)은 제1 도전층으로 구성되고, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 반도체 패턴(SCP1)의 제2 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1 드레인 전극(DE1)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 수평 전원 배선(PL1b)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 제2 게이트 전극(GE2), 제2 반도체 패턴(SCP2), 제2 소스 전극(SE2), 및 제2 드레인 전극(DE2)을 포함할 수 있다.
제2 게이트 전극(GE2)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제1 게이트 전극(GE1)과 이격되게 배치되며 섬 형상으로 제공될 수 있다. 제2 게이트 전극(GE2)은 제2 도전층일 수 있으며, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 스캔 라인(SLb)과 전기적으로 연결되어 소정의 신호(일 예로, 스캔 신호)를 공급받을 수 있다.
제2 반도체 패턴(SCP2)은 제2 게이트 전극(GE2)과 중첩하는 채널 영역을 포함할 수 있다. 또한, 제2 반도체 패턴(SCP2)은 상기 채널 영역의 양 측에 위치하는 제1 접촉 영역과 제2 접촉 영역을 포함할 수 있다. 제2 반도체 패턴(SCP2)은 폴리 실리콘(poly silicon), 아몰퍼스 실리콘(amorphous silicon), 산화물 반도체 등으로 이루어진 반도체층일 수 있다. 채널 영역은 불순물이 도핑되지 않은 반도체층일 수 있고, 제1 및 제2 접촉 영역들은 불순물이 도핑된 반도체층일 수 있다.
제2 반도체 패턴(SCP2)은 제1 반도체 패턴(SCP1)과 동일한 층에 배치될 수 있다. 일 예로, 제2 반도체 패턴(SCP2)은 버퍼층(BFL)과 게이트 절연층(GI) 사이에 배치될 수 있다.
제2 소스 전극(SE2)은 제3 도전층으로 구성되고, 제1 트랜지스터(T1)의 제1 게이트 전극(GE1)과 중첩할 수 있다. 제2 소스 전극(SE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 반도체 패턴(SCP2)의 제1 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 소스 전극(SE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 상기 제1 게이트 전극(GE1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 드레인 전극(DE2)은 제3 도전층으로 구성되고, 데이터 라인(DL)과 중첩할 수 있다. 제2 드레인 전극(DE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 반도체 패턴(SCP2)의 제2 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 드레인 전극(DE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 상기 데이터 라인(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제3 트랜지스터(T3)는 제3 게이트 전극(GE3), 제3 반도체 패턴(SCP3), 제3 소스 전극(SE3), 및 제3 드레인 전극(DE3)을 포함할 수 있다.
제3 게이트 전극(GE3)은 제2 게이트 전극(GE2)과 일체로 제공되며, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 스캔 라인(SLb)과 전기적으로 연결되어 소정의 신호(일 예로, 제어 신호)를 공급받을 수 있다.
제3 반도체 패턴(SCP3)은 제3 게이트 전극(GE3)과 중첩하는 채널 영역을 포함할 수 있다. 또한, 제3 반도체 패턴(SCP3)은 상기 채널 영역의 양 측에 위치하는 제1 접촉 영역과 제2 접촉 영역을 포함할 수 있다. 제3 반도체 패턴(SCP3)은 폴리 실리콘(poly silicon), 아몰퍼스 실리콘(amorphous silicon), 산화물 반도체 등으로 이루어진 반도체층일 수 있다. 채널 영역은 불순물이 도핑되지 않은 반도체층일 수 있고, 제1 및 제2 접촉 영역들은 불순물이 도핑된 반도체층일 수 있다.
제3 반도체 패턴(SCP3)은 제1 및 제2 반도체 패턴들(SCP1, SCP2)과 동일한 층에 배치될 수 있다. 일 예로, 제3 반도체 패턴(SCP3)은 버퍼층(BFL)과 게이트 절연층(GI) 사이에 배치될 수 있다.
제3 소스 전극(SE3)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제3 반도체 패턴(SCP3)의 제1 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제3 소스 전극(SE3)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 하부 금속 패턴(BML)과 전기적으로 연결될 수 있다. 실시예에 있어서, 제3 소스 전극(SE3)은 제3 도전층으로 구성되고, 제1 소스 전극(SE1)과 일체로 제공될 수 있다.
제3 드레인 전극(DE3)은 제1 도전층으로 구성되고, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제3 반도체 패턴(SCP3)의 제2 접촉 영역과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제3 드레인 전극(DE3)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 도전 패턴(CP)과 전기적으로 연결될 수 있다.
도전 패턴(CP)은 제1 방향(DR1)으로 연장되어 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3)에 공통으로 제공될 수 있다. 도전 패턴(CP)은 제3 도전층으로 구성되고, 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 초기화 전원 배선(IPL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 도전 패턴(CP)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각의 제3 트랜지스터(T3)의 제3 드레인 전극(DE3)과 전기적으로 연결될 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 스토리지 전극(LE)(또는 하부 전극)과 제2 스토리지 전극(UE)(또는 상부 전극)을 포함할 수 있다. 제1 스토리지 전극(LE)은 제1 게이트 전극(GE1)과 일체로 제공될 수 있다. 제2 스토리지 전극(UE)은, 평면 상에서 볼 때, 제1 스토리지 전극(LE)과 중첩하도록 배치될 수 있다. 제2 스토리지 전극(UE)은 제3 도전층으로 구성될 수 있으며, 제1 및 제3 소스 전극들(SE1, SE3)과 일체로 형성될 수 있다.
제2 스토리지 전극(UE), 제1 소스 전극(SE1), 제3 소스 전극(SE3)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 하부 금속 패턴(BML)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 화소 회로들(PXC1, PXC2, PXC3) 각각은 패시베이션층(PSV)에 의해 커버될 수 있다.
패시베이션층(PSV)은 각 화소(PXL)가 배치되는 화소 영역(PXA) 내에 위치한 복수 개의 비아홀들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 패시베이션층(PSV)은 제1 비아홀(VIH1), 제2 비아홀(VIH2), 및 제3 비아홀(VIH3)을 포함할 수 있다.
제1 비아홀(VIH1)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 위치하며, 해당 서브 화소 영역에서 제2 스토리지 전극(UE)의 일 영역을 노출할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 1개의 제1 비아홀(VIH1)이 위치할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
제2 비아홀(VIH2)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 위치하며, 해당 서브 화소 영역에서 제2 수평 전원 배선(PL2b)의 일 영역을 노출할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA1, SPXA2, SPXA3) 각각에 1개의 제2 비아홀(VIH2)이 위치할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
제3 비아홀(VIH3)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에만 위치하며, 상기 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제1 수평 전원 배선(PL1b)의 일 영역을 노출할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에만 1개의 제3 비아홀(VIH3)이 위치하고, 제2 및 제3 서브 화소 영역들(SPXA2, SPXA3) 각각에는 제3 비아홀(VIH3)이 위치하지 않을 수 있다.
각 화소(PXL)의 화소 회로층(PCL) 상에는 도 1 및 도 2를 참고하여 설명한 발광 소자(LD)를 포함한 표시 소자층(DPL)이 배치될 수 있으며, 상기 표시 소자층(DPL)의 일부 구성은 대응하는 비아홀을 통하여 상기 화소 회로층(PCL)의 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제2 스토리지 전극(UE)은 대응하는 제1 비아홀(VIH1)을 통하여 상기 표시 소자층(DPL)의 제1 전극(도 7의 "PE1" 참고)(또는 제1 화소 전극)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3)에 공통으로 제공된 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 대응하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 상기 표시 소자층(DPL)의 브릿지 패턴과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 서브 화소(SPXL1)에서 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 대응하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 상기 표시 소자층(DPL)의 제1 브릿지 패턴(BRP1)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3)에 공통으로 제공된 제1 수평 전원 배선(PL1b)은 상기 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에 위치한 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 상기 표시 소자층(DPL)의 제1 연결 배선(CNL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
화소 회로층(PCL)과 표시 소자층(DPL)의 전기적 연결 관계에 대한 자세한 설명은 도 7 내지 도 13을 참조하여 후술하기로 한다.
이하에서는 도 7 내지 도 9를 참조하여 표시 소자층(DPL)의 구성들에 대하여 설명하기로 한다.
도 7은 도 3에 도시된 화소(PXL)의 표시 소자층(DPL)을 포함한 화소 영역(PXA)을 개략적으로 도시한 평면도이고, 도 8은 도 7의 화소(PXL)에 포함된 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)과 발광 소자들(LD)만을 개략적으로 도시한 평면도이며, 도 9는 도 7에 도시된 화소(PXL)의 발광부(EMU)에 흐르는 구동 전류의 흐름을 나타낸 개략적인 평면도이다.
예를 들어, 도 7은 도 3의 화소(PXL)가 배치된 화소 영역(PXA)을 중심으로, 표시 소자층(DPL)의 구조에 대한 실시예를 개략적으로 도시하였다.
도 7 내지 도 9에서는, 설명의 편의를 위하여 평면 상에서의 수평 방향을 제1 방향(DR1)으로 표시하고, 평면 상에서의 수직 방향을 제2 방향(DR2)으로 표시하였다.
도 1 내지 도 9를 참조하면, 화소(PXL)의 표시 소자층(DPL)은 화소 영역(PXA)에 배치된 발광부들(EMU1, EMU2, EMU3)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 소자층(DPL)은 제1 발광부(EMU1), 제2 발광부(EMU2), 및 제3 발광부(EMU3)를 포함할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 발광부들(EMU1, EMU2, EMU3) 각각은 대응하는 화소 회로와 전기적으로 연결되어 광을 방출하는 발광 소자들(LD) 및 상기 발광 소자들(LD)에 전기적으로 연결된 전극들(또는 전극 패턴들)을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 발광부(EMU1)는 제1 화소 회로(PXC1)와 전기적으로 연결된 발광 소자들(LD) 및 상기 발광 소자들(LD)에 전기적으로 연결된 전극들을 포함하고, 제2 발광부(EMU2)는 제2 화소 회로(PXC2)와 전기적으로 연결된 발광 소자들(LD) 및 상기 발광 소자들(LD)에 전기적으로 연결된 전극들을 포함하며, 제3 발광부(EMU3)는 제3 화소 회로(PXC3)와 전기적으로 연결된 발광 소자들(LD) 및 상기 발광 소자들(LD)에 전기적으로 연결된 전극들을 포함할 수 있다. 상기 제1 화소 회로(PXC1)와 상기 제1 발광부(EMU1)는 제1 서브 화소(SPXL1)를 구성하고, 상기 제2 화소 회로(PXC2)와 상기 제2 발광부(EMU2)는 제2 서브 화소(SPXL2)을 구성하며, 상기 제3 화소 회로(PXC3)와 상기 제3 발광부(EMU3)는 제3 서브 화소(SPXL3)을 구성할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각은 발광 영역(EMA)과 상기 발광 영역(EMA)의 적어도 일측을 둘러싸는 비발광 영역(NEA)을 포함할 수 있다.
표시 소자층(DPL)은 비발광 영역(NEA)에 위치하는 제1 뱅크(BNK1)를 포함할 수 있다.
제1 뱅크(BNK1)는 인접한 서브 화소들 각각의 발광 영역을 정의(또는 구획)하는 구조물로서, 화소 정의막일 수 있다. 예를 들어, 제1 뱅크(BNK1)는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)을 정의하는 구조물일 수 있다. 제1 뱅크(BNK1)는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각에 발광 소자들(LD)을 공급(또는 투입)하는 과정에서 발광 소자들(LD)의 공급 위치를 정의하는 화소 정의막 또는 댐 구조물일 수 있다. 예를 들어, 제1 뱅크(BNK1)에 의해 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)이 구획(또는 정의)됨으로써 해당 발광 영역(EMA)에 목적하는 양 및/또는 종류의 발광 소자(LD)를 포함한 혼합액(일 예로, 잉크)이 공급(또는 투입)될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 뱅크(BNK1)는 적어도 하나의 차광 물질 및/또는 반사 물질(또는 산란 물질)을 포함하도록 구성되어 인접한 서브 화소들 사이에서 광(또는 빛)이 새는 빛샘 불량을 방지할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 뱅크(BNK1)는 투명 물질(또는 재료)을 포함할 수 있다. 투명 물질로는, 일 예로, 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin) 등을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 실시예에 따라, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각에서 방출되는 광의 효율을 더욱 향상시키기 위해 제1 뱅크(BNK1) 상에는 반사 물질층이 별도로 제공 및/또는 형성될 수도 있다.
제1 뱅크(BNK1)는, 표시 소자층(DPL)의 일부 구성들을 노출하는 적어도 하나의 개구(OP1, OP2)를 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 뱅크(BNK1)는 표시 소자층(DPL)에서 상기 제1 뱅크(BNK1)의 하부에 위치한 구성들을 노출하는 제1 개구(OP1) 및 제2 개구(OP2)를 포함할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)은 제1 뱅크(BNK1)의 제1 개구(OP1)에 대응할 수 있다. 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2)는 비발광 영역(NEA)에 위치할 수 있다.
제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2)는 제1 개구(OP1)로부터 이격되게 위치하며, 해당 서브 화소(또는 해당 서브 화소 영역)의 일측(일 예로, 상측)에 인접하여 위치할 수 있다. 실시예에 있어서, 제2 비아홀(VIH2)이 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치할 수 있다. 상기 제2 개구(OP2) 내에서 제2 비아홀(VIH2)에 의해 각 화소(PXL)의 제2 수평 전원 배선(PL2b)의 일 영역들이 노출될 수 있다.
표시 소자층(DPL)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)에 제공되는 전극(PE)(또는 화소 전극), 발광 소자들(LD), 및 상기 전극(PE)에 대응하는 정렬 전극(ALE)을 포함할 수 있다. 일 예로, 각 서브 화소의 발광 영역(EMA)에는 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2), 발광 소자들(LD), 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)이 배치될 수 있다. 또한, 각 서브 화소의 발광 영역(EMA)에는 제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4)이 배치될 수 있다. 상기 전극들(PE) 및/또는 상기 정렬 전극들(ALE)의 각각의 개수, 형상, 크기, 및 배열 구조 등은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3)(특히, 제1, 제2, 및 제3 발광부들(EMU1, EMU2, EMU3))의 구조에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
제1 발광부(EMU1), 제2 발광부(EMU2), 및 제3 발광부(EMU3)는 실질적으로 유사하거나 동일한 구조를 가질 수 있다. 이하에서는 제1 발광부(EMU1)를 구비한 제1 서브 화소(SPXL1)를 중심으로 상기 제1 발광부(EMU1)의 구성들에 대하여 설명하기로 한다.
실시예에 있어서, 제1 서브 화소(SPXL1)가 제공되는(또는 위치하는) 기판(SUB)의 일면을 기준으로, 정렬 전극들(ALE), 발광 소자들(LD), 및 전극들(PE)의 순으로 제공될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 서브 화소(SPXL1)(또는 제1 발광부(EMU1))를 구성하는 전극 패턴들의 위치 및 형성 순서는 다양하게 변경될 수 있다.
정렬 전극들(ALE)은 제2 방향(DR2)으로 서로 이격되게 배열되는 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)을 포함할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 제1 방향(DR1)으로 연장될 수 있다. 일 예로, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 화소 회로층(PCL)의 일부 구성, 일 예로, 데이터 라인(Dj)의 연장 방향(일 예로, 제2 방향(DR2))과 교차하는 방향인 제1 방향(DR1)으로 연장될 수 있다. 즉, 상기 데이터 라인(Dj)은 상기 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)의 연장 방향(일 예로, 제1 방향(DR1))과 교차하는 방향(일 예로, 제2 방향(DR2))으로 연장될 수 있다. 또한, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은, 평면 상에서 볼 때, 제1 뱅크(BNK1)의 장축 방향(일 예로, 제2 방향(DR2))과 교차하는 방향(일 예로, 제1 방향(DR1))으로 연장될 수 있다.
제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 복수 개로 제공될 수 있다. 일 예로, 제1 정렬 전극(ALE1)은 제1 방향(DR1)으로 연장된 제1-1, 제1-2, 제1-3, 제1-4, 및 제1-5 정렬 전극들(ALE1_1, ALE1_2, ALE1_3, ALE1_4, ALE1_5)을 포함할 수 있다. 제2 정렬 전극(ALE2)은 제1 방향(DR1)으로 연장되며 제1 정렬 전극(ALE1)과 이격된 제2-1, 제2-2, 제2-3, 제2-4, 및 제2-5 정렬 전극들(ALE2_1, ALE2_2, ALE2_3, ALE2_4, ALE2_5)을 포함할 수 있다.
제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 적어도 발광 영역(EMA)에서 제2 방향(DR2)을 따라 교번하여 배열될 수 있다. 일 예로, 상기 발광 영역(EMA)에서, 제2 방향(DR2)을 따라 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 제2-5 정렬 전극(ALE2_5), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5)의 순으로 배열될 수 있다.
발광 영역(EMA)에서 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 각각은 제2 방향(DR2)을 따라 인접한 정렬 전극(ALE)과 이격되게 배치될 수 있다. 예를 들어, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1)은 제2 방향(DR2)으로 제1-1 정렬 전극(ALE1_1)과 이격되게 배치되고, 상기 제1-1 정렬 전극(ALE1_1)은 제2 방향(DR2)으로 제2-1 및 제2-2 정렬 전극들(ALE2_1, ALE2_2)과 이격되게 배치되고, 상기 제2-2 정렬 전극(ALE2_2)은 제2 방향(DR2)으로 제1-1 및 제1-2 정렬 전극들(ALE1_1, ALE1_2)과 이격되게 배치되고, 상기 제1-2 정렬 전극(ALE1_2)은 제2 방향(DR2)으로 제2-2 및 제2-3 정렬 전극들(ALE2_2, ALE2_3)과 이격되게 배치되고, 상기 제2-3 정렬 전극(ALE2_3)은 제2 방향(DR2)으로 제1-2 및 제1-3 정렬 전극들(ALE1_2, ALE1_3)과 이격되게 배치되고, 상기 제1-3 정렬 전극(ALE1_3)은 제2 방향(DR2)으로 제2-3 및 제2-4 정렬 전극들(ALE2_3, ALE2_4)과 이격되게 배치되고, 상기 제2-4 정렬 전극(ALE2_4)은 제2 방향(DR2)으로 제1-3 및 제1-4 정렬 전극들(ALE1_3, ALE1_4)과 이격되게 배치되고, 상기 제1-4 정렬 전극(ALE1_4)은 제2 방향(DR2)으로 제2-4 및 제2-5 정렬 전극들(ALE2_4, ALE2_5)과 이격되게 배치되고, 상기 제2-5 정렬 전극(ALE2_5)은 제2 방향(DR2)으로 제1-4 및 제1-5 정렬 전극들(ALE1_4, ALE1_5)과 이격되게 배치될 수 있다.
제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 제1 방향(DR1)으로 연장되고 제2 방향(DR2)으로 일정한 폭을 갖는 바 형상으로 제공될 수 있다.
상술한 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 하부에는, 발광 소자들(LD)에서 방출되는 광을 표시 장치의 화상 표시 방향으로 유도하도록 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)의 표면 프로파일(또는 형상)을 변경하기 위한 뱅크 패턴(미도시)이 위치할 수 있다. 뱅크 패턴은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 각각을 지지하는 지지 부재일 수 있다. 이러한 뱅크 패턴은 도 10 내지 도 13을 참고하여 후술한다.
제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 제1 방향(DR1)을 따라 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)으로부터 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)으로 연장될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 각각은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)에 공통으로 제공될 수 있다.
실시예에 있어서, 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 각각은 제1 방향(DR1)으로 서로 마주보는 일 단부와 타 단부를 포함할 수 있다. 일 예로, 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 각각은 제1 서브 화소(SPXL1)의 비발광 영역(NEA)에 위치한 일 단부와 제3 서브 화소(SPXL3)의 비발광 영역(NEA)에 위치한 타 단부를 포함할 수 있다.
제1 정렬 전극(ALE1)은 제1 서브 화소(SPXL1)의 비발광 영역(NEA)에 위치하는 제1 연결 배선(CNL1)과 연결될 수 있다. 일 예로, 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 각각의 일 단부는 제1 연결 배선(CNL1)과 연결될 수 있다. 제1 연결 배선(CNL1)은 제1 정렬 전극(ALE1)의 연장 방향(일 예로, 제1 방향(DR1))과 교차하는 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제1 연결 배선(CNL1)은 일체로 형성될 수 있다. 일 예로, 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5)은 제1 연결 배선(CNL1)과 일체로 형성될 수 있다. 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 각각의 일 단부는 제1 연결 배선(CNL1)의 서로 다른 영역으로부터 분기되어 제1 방향(DR1)을 따라 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)으로 연장될 수 있다.
제1 연결 배선(CNL1)은 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 제1 서브 화소(SPXL1)의 화소 회로층(PCL)에 위치한 제1 수평 전원 배선(PL1b)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 제1 수평 전원 배선(PL1b)과 전기적으로 연결된 제1 연결 배선(CNL1)과 제1 정렬 전극(ALE1)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)으로 발광 소자들(LD)을 정렬하는 단계에서 제1 정렬 배선으로 활용될 수 있다. 상기 제1 정렬 전극(ALE1)에는 제1 정렬 신호(또는 제1 정렬 전압)가 인가될 수 있다. 제3 비아홀(VIH3)은 제1 연결 배선(CNL1)과 제1 수평 전원 배선(PL1b) 사이에 위치한 절연층, 일 예로, 패시베이션층(PSV)의 일 영역이 제거되어 형성될 수 있다.
실시예에 있어서, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각은 제1 방향(DR1)으로 서로 마주보는 일 단부와 타 단부를 포함할 수 있다. 일 예로, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각은 제3 서브 화소(SPXL3)의 비발광 영역(NEA)에 위치한 일 단부와 제1 서브 화소(SPXL1)의 비발광 영역(NEA)에 위치한 타 단부를 포함할 수 있다.
제2 정렬 전극(ALE2)은 제3 서브 화소(SPXL3)의 비발광 영역(NEA)에 위치하는 제2 연결 배선(CNL2)과 연결될 수 있다. 일 예로, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각의 일 단부는 제2 연결 배선(CNL2)과 연결될 수 있다. 제2 연결 배선(CNL2)은 제2 정렬 전극(ALE2)의 연장 방향(일 예로, 제1 방향(DR1))과 교차하는 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다.
실시예에 있어서, 제2 정렬 전극(ALE2)과 제2 연결 배선(CNL2)은 일체로 형성될 수 있다. 일 예로, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5)은 제2 연결 배선(CNL2)과 일체로 형성될 수 있다. 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각의 일 단부는 제2 연결 배선(CNL2)의 서로 다른 영역으로부터 분기되어 제1 방향(DR1)을 따라 제3, 제2, 및 제1 서브 화소들(SPXL3, SPXL2, SPXL1) 각각의 발광 영역(EMA)으로 연장될 수 있다.
제2 연결 배선(CNL2)은 제3 브릿지 패턴(BRP3)과 일체로 형성될 수 있다. 제3 브릿지 패턴(BRP3)과 제2 연결 배선(CNL2)은 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제3 서브 화소(SPXL3)의 화소 회로층(PCL)에 위치한 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결된 제2 연결 배선(CNL2)과 제2 정렬 전극(ALE2)은 제3, 제2, 및 제1 서브 화소들(SPXL3, SPXL2, SPXL1) 각각의 발광 영역(EMA)으로 발광 소자들(LD)을 정렬하는 단계에서 제2 정렬 배선으로 활용될 수 있다. 상기 제2 정렬 전극(ALE2)에는 제2 정렬 신호(또는 제2 정렬 전압)가 인가될 수 있다. 제2 비아홀(VIH2)은 제3 브릿지 패턴(BRP3)과 제2 수평 전원 배선(PL2b) 사이에 위치한 절연층, 일 예로, 패시베이션층(PSV)의 일 영역이 제거되어 형성될 수 있다. 상기 제2 비아홀(VIH2)은 제3 서브 화소(SPXL3)에서 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치할 수 있다.
상기 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제2 서브 화소(SPXL2)에서 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 브릿지 패턴(BRP2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 수평 전원 배선(PL2b)은 제1 서브 화소(SPXL1)에서 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제1 브릿지 패턴(BRP1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
상술한 제1 브릿지 패턴(BRP1), 제2 브릿지 패턴(BRP2), 및 제3 브릿지 패턴(BRP3) 각각은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제2 전극(PE2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 컨택홀(CH)은 제1, 제2, 제3 브릿지 패턴들(BRP1, BRP2, BRP3) 각각과 제2 전극(PE2) 사이에 위치한 절연층의 일 영역이 제거되어 형성될 수 있다.
제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)(또는 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에는 적어도 2개 내지 수십개의 발광 소자들(LD)이 정렬 및/또는 배치될 수 있으나, 상기 발광 소자들(LD)의 개수가 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 상기 발광 영역(EMA)에 정렬 및/또는 배치되는 발광 소자들(LD)의 개수는 다양하게 변경될 수 있다.
발광 소자들(LD)은 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 각각 배치될 수 있다. 평면 상에서 볼 때, 발광 소자들(LD) 각각은 그 길이 방향, 일 예로, 제2 방향(DR2)으로 양단에 위치한(또는 서로 마주보는) 제1 단부(EP1)("일단부" 또는 "하단부")와 제2 단부(EP2)("타단부" 또는 "상단부")를 포함할 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 단부(EP1)에는 p형 반도체층을 포함한 제2 반도체층(도 1의 "13")이 위치할 수 있고, 제2 단부(EP2)에는 n형 반도체층을 포함한 제1 반도체층(도 1의 "11")이 위치할 수 있다. 발광 소자들(LD)은 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 상호 병렬로 연결될 수 있다.
발광 소자들(LD)은 서로 이격되어 배치되며 실질적으로 상호 평행하게 정렬될 수 있다. 발광 소자들(LD)이 이격되는 간격은 특별히 한정되지 않는다. 실시예에 따라, 복수의 발광 소자들(LD)이 인접하게 배치되어 무리를 이루고, 다른 복수의 발광 소자들(LD)이 일정 간격 이격된 상태로 무리를 이룰 수 있으며, 균일하지 않는 밀집도를 가지되 일 방향으로 정렬될 수도 있다.
발광 소자들(LD) 각각은 컬러 광 및/또는 백색 광 중 어느 하나의 광을 출사할 수 있다. 발광 소자들(LD) 각각은 길이 방향이 제2 방향(DR2)과 평행하도록 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 정렬될 수 있다. 발광 소자들(LD)은 용액(일 예로, 잉크) 내에서 분사된(또는 분산된) 형태로 마련되어 상기 발광 영역(EMA)에 투입(또는 공급)될 수 있다.
발광 소자들(LD)은 잉크젯 프린팅 방식, 슬릿 코팅 방식, 또는 이외에 다양한 방식을 통해 상기 발광 영역(EMA)에 투입(또는 공급)될 수 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD)은 휘발성 용매에 혼합되어 잉크젯 프린팅 방식이나 슬릿 코팅 방식을 통해 상기 발광 영역(EMA)에 투입(또는 공급)될 수 있다. 이때, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 각각에 대응하는 정렬 신호가 인가되면, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 전계가 형성될 수 있다. 이로 인하여, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 발광 소자들(LD)이 정렬될 수 있다. 발광 소자들(LD)이 정렬된 이후에 용매를 휘발시키거나 이외의 다른 방식으로 제거함으로써 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 제2 방향(DR2)과 평행한 길이 방향을 갖는 발광 소자들(LD)이 안정적으로 정렬될 수 있다.
실시예에 있어서, 발광 소자들(LD)은 제1 발광 소자(LD1), 제2 발광 소자(LD2), 제3 발광 소자(LD3), 제4 발광 소자(LD4), 및 제5 발광 소자(LD5)를 포함할 수 있다.
제1 발광 소자(LD1)는 제2-1 정렬 전극(ALE2_1)과 제1-1 정렬 전극(ALE1_1) 사이에 정렬되어 제1 전극(PE1)과 제1 중간 전극(CTE1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 발광 소자(LD2)는 제2-2 정렬 전극(ALE2_2)과 제1-2 정렬 전극(ALE1_2) 사이에 정렬되어 제1 중간 전극(CTE1)과 제2 중간 전극(CTE2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 발광 소자(LD3)는 제2-3 정렬 전극(ALE2_3)과 제1-3 정렬 전극(ALE1_3) 사이에 정렬되어 제2 중간 전극(CTE2)과 제3 중간 전극(CTE3)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제4 발광 소자(LD4)는 제2-4 정렬 전극(ALE2_4)과 제1-4 정렬 전극(ALE1_4) 사이에 정렬되어 제3 중간 전극(CTE3)과 제4 중간 전극(CTE4)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제5 발광 소자(LD5)는 제2-5 정렬 전극(ALE2_5)과 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 사이에 정렬되어 제4 중간 전극(CTE4)과 제2 전극(PE2)에 전기적으로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 외에 비유효 광원을 포함할 수도 있다. 이러한 비유효 광원은 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에서 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)이 정렬되지 않는 영역에 위치할 수 있다. 일 예로, 비유효 광원은 제1-1 정렬 전극(ALE1_1)과 제2-2 정렬 전극(ALE2_2) 사이, 제1-2 정렬 전극(ALE1_2)과 제2-3 정렬 전극(ALE2_3) 사이, 제1-3 정렬 전극(ALE1_3)과 제2-4 정렬 전극(ALE2_4) 사이, 및 제1-4 정렬 전극(ALE1_4)과 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 사이에 위치할 수 있다. 상술한 비유효 광원은 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)과 반대 방향으로 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 연결되어 제1 전극(PE1)과 제2 전극(PE2) 사이에 소정의 구동 전압(일 예로, 순방향의 구동 전압)이 인가되더라도 비활성된 상태를 유지하여 실질적으로 전류가 흐르지 않을 수 있다.
평면 상에서 볼 때, 제1 발광 소자(LD1)는 해당 발광 영역(EMA)의 하단부에 위치하고 제5 발광 소자(LD5)는 해당 발광 영역(EMA)의 상단부에 위치할 수 있다. 평면 상에서 볼 때, 제3 발광 소자(LD3)는 해당 발광 영역(EMA)의 중간 지점에 위치할 수 있다. 평면 상에서 볼 때, 제2 발광 소자(LD2)는 제1 발광 소자(LD1)가 위치하는 영역과 제3 발광 소자(LD3)가 위치하는 영역 사이의 영역에 위치할 수 있고, 제4 발광 소자(LD4)는 제3 발광 소자(LD3)가 위치하는 영역과 제5 발광 소자(LD5)가 위치하는 영역 사이의 영역에 위치할 수 있다.
제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)은 복수 개로 제공될 수 있다.
제1 발광 소자들(LD1) 각각의 제1 단부(EP1)는 제1 전극(PE1)에 전기적으로 연결되고, 제1 발광 소자들(LD1) 각각의 제2 단부(EP2)는 제1 중간 전극(CTE1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 발광 소자들(LD2) 각각의 제1 단부(EP1)는 제1 중간 전극(CTE1)에 전기적으로 연결되고, 제2 발광 소자들(LD2) 각각의 제2 단부(EP2)는 제2 중간 전극(CTE2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 발광 소자들(LD3) 각각의 제1 단부(EP1)는 제2 중간 전극(CTE2)에 전기적으로 연결되고, 제3 발광 소자들(LD3) 각각의 제2 단부(EP2)는 제3 중간 전극(CTE3)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제4 발광 소자들(LD4) 각각의 제1 단부(EP1)는 제3 중간 전극(CTE3)에 전기적으로 연결되고, 제4 발광 소자들(LD4) 각각의 제2 단부(EP2)는 제4 중간 전극(CTE4)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제5 발광 소자들(LD5) 각각의 제1 단부(EP1)는 제4 중간 전극(CTE4)에 전기적으로 연결되고, 제5 발광 소자들(LD5) 각각의 제2 단부(EP2)는 제2 전극(PE2)에 전기적으로 연결될 수 있다.
복수의 제1 발광 소자들(LD1)은 제1 전극(PE1)과 제1 중간 전극(CTE1) 사이에 상호 병렬로 전기적으로 연결되고, 복수의 제2 발광 소자들(LD2)은 제1 중간 전극(CTE1)과 제2 중간 전극(CTE2) 사이에 상호 병렬로 전기적으로 연결되고, 복수의 제3 발광 소자들(LD3)은 제2 중간 전극(CTE2)과 제3 중간 전극(CTE3) 사이에 상호 병렬로 전기적으로 연결되고, 복수의 제4 발광 소자들(LD4)은 제3 중간 전극(CTE3)과 제4 중간 전극(CTE4) 사이에 상호 병렬로 전기적으로 연결되며, 복수의 제5 발광 소자들(LD5)은 제4 중간 전극(CTE4)과 제2 전극(PE2) 사이에 상호 병렬로 전기적으로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 각각은 무기 결정 구조의 재료를 이용한 초소형의, 일 예로 나노 스케일(또는 나노 미터) 내지 마이크로 스케일(또는 마이크로 미터) 정도로 작은 크기의, 발광 다이오드일 수 있다. 예를 들어, 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 각각은 도 1 및 도 2를 참고하여 설명한 발광 소자(LD)일 수 있다.
전극(PE)(또는 화소 전극)과 중간 전극(CTE)은 적어도 발광 영역(EMA)에 제공되며, 각각 적어도 하나의 정렬 전극(ALE) 및 발광 소자들(LD)에 대응하는 위치에 제공될 수 있다. 예를 들어, 각각의 전극(PE)과 각각의 중간 전극(CTE)은 각각의 정렬 전극(ALE) 및 대응하는 발광 소자들(LD)과 중첩하도록 상기 각각의 정렬 전극(ALE) 및 상기 대응하는 발광 소자들(LD) 상에 형성되어, 적어도 발광 소자들(LD)에 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 전극(PE1)(또는 제1 화소 전극)은, 제2-1 정렬 전극(ALE2_1) 및 제1 발광 소자들(LD1) 각각의 제1 단부(EP1) 상에 형성되어 상기 제1 발광 소자들(LD1) 각각의 제1 단부(EP1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 전극(PE1)은, 해당 발광 영역(EMA) 내에서 섬 형상(또는 고립된 형상)으로 제공될 수 있다. 제1 서브 화소(SPXL1)의 제1 전극(PE1)은 인접한 서브 화소의 제1 전극(PE1)과 전기적으로 분리될 수 있다. 일 예로, 제1 서브 화소(SPXL1)의 제1 전극(PE1)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 전극(PE1)과 이격되게 배치된 섬 형상으로 제공되어 상기 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 전극(PE1)과 전기적으로 분리(또는 절연)될 수 있다.
제2 전극(PE2)(또는 제2 화소 전극)은, 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 및 제5 발광 소자들(LD5) 각각의 제2 단부(EP2) 상에 형성되어 상기 제5 발광 소자들(LD5) 각각의 제2 단부(EP2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(PE2)은 적어도 하나의 중간 전극(CTE) 및/또는 발광 소자들(LD)을 경유하여 제1, 제2, 제3, 및 제4 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(PE2)은 제1 방향(DR1)으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 제1 서브 화소(SPXL1)의 제2 전극(PE2)은 제1 방향(DR1)으로 인접한 서브 화소의 제2 전극(PE2)과 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 서브 화소(SPXL1)의 제2 전극(PE2)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제2 전극(PE2)과 연결될 수 있다.
중간 전극(CTE1)은 제2 방향(DR2)으로 서로 이격되게 배치된 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제4 중간 전극(CTE4)을 포함할 수 있다.
제1 중간 전극(CTE1)은 제1-1 정렬 전극(ALE1_1) 및 제1 발광 소자들(LD1) 각각의 제2 단부(EP2) 상에 형성되어 각 제1 발광 소자(LD1)의 제2 단부(EP2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1 중간 전극(CTE1)은 제2-2 정렬 전극(ALE2_2) 및 제2 발광 소자들(LD2) 각각의 제1 단부(EP1) 상에 형성되어 각 제2 발광 소자(LD2)의 제1 단부(EP1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상술한 제1 중간 전극(CTE1)은 제1 직렬단(SET1)(또는 제1 발광 소자들(LD1))과 제2 직렬단(SET2)(또는 제2 발광 소자들(LD2))을 전기적으로 연결하는 제1 연결 부재일 수 있다.
제2 중간 전극(CTE2)은 제1-2 정렬 전극(ALE1_2) 및 제2 발광 소자들(LD2) 각각의 제2 단부(EP2) 상에 형성되어 각 제2 발광 소자(LD2)의 제2 단부(EP2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제2 중간 전극(CTE2)은 제2-3 정렬 전극(ALE2_3) 및 제3 발광 소자들(LD3) 각각의 제1 단부(EP1) 상에 형성되어 각 제3 발광 소자(LD3)의 제1 단부(EP1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상술한 제2 중간 전극(CTE2)은 제2 직렬단(SET2)(또는 제2 발광 소자들(LD2))과 제3 직렬단(SET3)(또는 제3 발광 소자들(LD3))을 전기적으로 연결하는 제2 연결 부재일 수 있다.
제3 중간 전극(CTE3)은 제1-3 정렬 전극(ALE1_3) 및 제3 발광 소자들(LD3) 각각의 제2 단부(EP2) 상에 형성되어 각 제3 발광 소자(LD3)의 제2 단부(EP2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제3 중간 전극(CTE3)은 제2-4 정렬 전극(ALE2_4) 및 제4 발광 소자들(LD4) 각각의 제1 단부(EP1) 상에 형성되어 각 제4 발광 소자(LD4)의 제1 단부(EP1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상술한 제3 중간 전극(CTE3)은 제3 직렬단(SET3)(또는 제3 발광 소자들(LD3))과 제4 직렬단(SET4(또는 제4 발광 소자들(LD4))을 전기적으로 연결하는 제3 연결 부재일 수 있다.
제4 중간 전극(CTE4)은 제1-4 정렬 전극(ALE1_4) 및 제4 발광 소자들(LD4) 각각의 제2 단부(EP2) 상에 형성되어 각 제4 발광 소자(LD4)의 제2 단부(EP2)에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제4 중간 전극(CTE4)은 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 및 제5 발광 소자들(LD5) 각각의 제1 단부(EP1) 상에 형성되어 각 제5 발광 소자(LD5)의 제1 단부(EP1)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상술한 제4 중간 전극(CTE4)은 제4 직렬단(SET4)(또는 제4 발광 소자들(LD4))과 제5 직렬단(SET5)(또는 제5 발광 소자들(LD5))을 전기적으로 연결하는 제4 연결 부재일 수 있다.
제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4)은 각각은 해당 발광 영역(EMA) 내에서 사각 형상으로 제공될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 일 예로, 제1 서브 화소(SPXL1)의 제1 중간 전극(CTE1)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 중간 전극(CTE1)과 전기적으로 분리(또는 절연)되도록 해당 발광 영역(EMA) 내에서 섬 형상으로 제공될 수 있다. 제1 서브 화소(SPXL1)의 제2 중간 전극(CTE2)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제2 중간 전극(CTE2)과 전기적으로 분리(또는 절연)되도록 해당 발광 영역(EMA) 내에서 섬 형상으로 제공될 수 있다. 제1 서브 화소(SPXL1)의 제3 중간 전극(CTE3)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제3 중간 전극(CTE3)과 전기적으로 분리(또는 절연)되도록 해당 발광 영역(EMA) 내에서 섬 형상으로 제공될 수 있다. 제1 서브 화소(SPXL1)의 제4 중간 전극(CTE4)은 제2 및 제3 서브 화소들(SPXL2, SPXL3) 각각의 제4 중간 전극(CTE4)과 전기적으로 분리(또는 절연)되도록 해당 발광 영역(EMA) 내에서 섬 형상으로 제공될 수 있다.
제1 전극(PE1)과 제1 중간 전극(CTE1)은 그 사이에 병렬 연결된 제1 발광 소자들(LD1)과 함께 제1 발광부(EMU1)의 제1 직렬단(SET1)을 구성하고, 제1 중간 전극(CTE1)과 제2 중간 전극(CTE2)은 그 사이에 병렬 연결된 제2 발광 소자들(LD2)과 함께 상기 제1 발광부(EMU1)의 제2 직렬단(SET2)을 구성하고, 제2 중간 전극(CTE2)과 제3 중간 전극(CTE3)은 그 사이에 병렬 연결된 제3 발광 소자들(LD3)과 함께 상기 제1 발광부(EMU1)의 제3 직렬단(SET3)을 구성하고, 제3 중간 전극(CTE3)과 제4 중간 전극(CTE4)은 그 사이에 병렬 연결된 제4 발광 소자들(LD4)과 함께 상기 제1 발광부(EMU1)의 제4 직렬단(SET4)을 구성하며, 제4 중간 전극(CTE4)과 제2 전극(PE2)은 그 사이에 병렬 연결된 제5 발광 소자들(LD5)과 함께 상기 제1 발광부(EMU1)의 제5 직렬단(SET5)을 구성할 수 있다. 상기 제1 전극(PE1)은 상기 제1 발광부(EMU1)의 애노드이고, 상기 제2 전극(PE2)은 상기 제1 발광부(EMU1)의 캐소드일 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 전극(PE1)은 제1 비아홀(VIH1)을 통하여 제1 서브 화소(SPXL)의 제1 화소 회로(PXC)의 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제1 전극(PE1)은 제1 비아홀(VIH1)을 통하여 상기 제1 화소 회로(PXC1)의 스토리지 커패시터(Cst)의 제2 스토리지 전극(UE)(또는 상부 전극)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(PE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제1 브릿지 패턴(BRP1)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 브릿지 패턴(BRP1)은 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 상기 제1 화소 회로(PXC)에 연결된 일부 구성과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 예로, 제2 전극(PE2)은 제1 브릿지 패턴(BRP1) 및 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 서브 화소(SPXL2)에 제공된 제2 전극(PE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 브릿지 패턴(BRP2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 브릿지 패턴(BRP2)은 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 서브 화소(SPXL2)의 제2 화소 회로(PXC2)에 연결된 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 서브 화소(SPXL3)에 제공된 제2 전극(PE2)은 대응하는 컨택홀(CH)을 통하여 제3 브릿지 패턴(BRP3)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 브릿지 패턴(BRP3)은 제3 서브 화소(SPXL3)의 제3 화소 회로(PXC3)에 연결된 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 브릿지 패턴들(BRP1, BRP2, BRP3) 각각은 대응하는 서브 화소 영역에서 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치할 수 있다. 일 예로, 제1 브릿지 패턴(BRP1)은 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에서 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치하고, 제2 브릿지 패턴(BRP2)은 제2 서브 화소 영역(SPXA2)에서 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치하며, 제3 브릿지 패턴(BRP3)은 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에서 제1 뱅크(BNK1)의 제2 개구(OP2) 내에 위치할 수 있다. 제1, 제2, 및 제3 브릿지 패턴들(BRP1, BRP2, BPR3)은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)과 동일 공정으로 형성될 수 있다. 상기 제3 브릿지 패턴(BRP3)은 제2 연결 배선(CNL2)과 일체로 형성될 수 있다.
상술한 제1 전극(PE1)과 제2 전극(PE2)은 발광 소자들(LD)을 구동하는 구동 전극일 수 있다.
각각의 프레임 기간 동안 제1 서브 화소(SPXL1)에서, 제1 전극(PE1)으로부터 제1 발광 소자(LD1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 발광 소자(LD2), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 발광 소자(LD3), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 발광 소자(LD4), 제4 중간 전극(CTE4), 제5 발광 소자(LD5)를 거쳐 제2 전극(PE2)까지 구동 전류가 흐를 수 있다.
제1 화소 회로(PXC1)에 포함된 제1 트랜지스터(T1)에 의해 제1 전원 배선(PL1)으로부터 제2 전원 배선(PL2)으로 구동 전류가 흐른다고 할 때, 상기 구동 전류는 제1 비아홀(VIH1)을 통해 제1 발광부(EMU1)로 유입될 수 있다.
일 예로, 제1 비아홀(VIH1)을 통하여 구동 전류가 제1 전극(PE1)으로 공급되고, 상기 구동 전류는 상기 제1 전극(PE1)을 통해 제1 발광 소자들(LD1)을 경유하여 제1 중간 전극(CTE1)으로 흐르게 된다. 이에 따라, 제1 직렬단(SET1)에서 제1 발광 소자들(LD1)은 각각으로 분배된 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
제1 중간 전극(CTE1)으로 흐르는 구동 전류는, 제2 발광 소자들(LD2)을 경유하여 제2 중간 전극(CTE2)으로 흐르게 된다. 이에 따라, 제2 직렬단(SET2)에서 제2 발광 소자들(LD2)은 각각으로 분배된 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
제2 중간 전극(CTE2)으로 흐르는 구동 전류는, 제3 발광 소자들(LD3)을 경유하여 제3 중간 전극(CTE3)으로 흐르게 된다. 이에 따라, 제3 직렬단(SET3)에서 제3 발광 소자들(LD3)은 각각으로 분배된 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
제3 중간 전극(CTE3)으로 흐르는 구동 전류는, 제4 발광 소자들(LD4)을 경유하여 제4 중간 전극(CTE4)으로 흐르게 된다. 이에 따라, 제4 직렬단(SET4)에서 제4 발광 소자들(LD4)은 각각으로 분배된 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
제4 중간 전극(CTE4)으로 흐르는 구동 전류는, 제5 발광 소자(LD5)를 경유하여 제2 전극(PE2)으로 흐르게 된다. 이에 따라, 제5 직렬단(SET5)에서 제5 발광 소자들(LD5)은 각각으로 분배된 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
상술한 방식으로, 제1 서브 화소(SPXL1)의 구동 전류가, 제1 직렬단(SET1)의 제1 발광 소자들(LD1), 제2 직렬단(SET2)의 제2 발광 소자들(LD2), 제3 직렬단(SET3)의 제3 발광 소자들(LD3), 제4 직렬단(SET4)의 제4 발광 소자들(LD4), 및 제5 직렬단(SET5)의 제5 발광 소자들(LD5)을 순차적으로 경유하면서 흐를 수 있다. 이에 따라, 제1 서브 화소(SPXL1)는 각각의 프레임 기간 동안 공급되는 데이터 신호에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.
실시예에 있어서, 전극(PE)과 중간 전극(CTE)은 제1 방향(DR1)으로의 폭(W)이 제2 방향(DR2)으로의 폭보다 크게 설계될 수 있다. 전극(PE)과 중간 전극(CTE)은 그의 제조 공정 중에 발생할 수 있는 오버레이 변동(또는 오버레이 에러)에 의해 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 그 위치가 이동하더라도(또는 틀어지더라도) 대응하는 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1) 또는 제2 단부(EP2)와 충분히 접촉할 수 있는 면적을 갖도록 설계될 수 있다. 일 예로, 전극(PE)과 중간 전극(CTE) 각각은 각 발광 소자(LD)의 직경(D)보다 충분히 큰(또는 넓은) 제1 방향(DR1)의 폭(W)을 갖도록 설계될 수 있다.
상술한 실시예에 따르면, 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)이 제1 방향(DR1)(또는 수평 방향)으로 연장되고 제2 방향(DR2)(또는 수직 방향)으로 이격되게 배치됨에 따라, 상기 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2) 각각에 대응하는 정렬 신호가 인가될 때 상기 제1 정렬 전극(ALE1)과 상기 제2 정렬 전극(ALE2) 사이에 제2 방향(DR2)으로 전계가 형성될 수 있다. 이러한 전계에 의하여, 발광 소자들(LD) 각각은 제1 단부(EP1)가 제2 정렬 전극(ALE2)에 인접하게 위치하고 제2 단부(EP2)가 제1 정렬 전극(ALE1)에 인접하게 위치하도록 제2 방향(DR2)으로 정렬될 수 있다.
발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)이 정렬된 이후, 각 발광 소자(LD)의 양 단부(EP1, EP2) 상에 대응하는 전극(PE)과 대응하는 중간 전극(CTE)을 형성할 수 있다. 상기 대응하는 전극(PE)과 상기 대응하는 중간 전극(CTE)을 형성하는 과정에서 제1 방향(DR1)으로 오버레이 변동이 발생하여 상기 대응하는 전극(PE)과 상기 대응하는 중간 전극(CTE)이 기설정된 위치에서 상기 제1 방향(DR1)으로 이동하더라도(또는 틀어지더라도), 상기 대응하는 전극(PE)과 상기 대응하는 중간 전극(CTE)이 각 발광 소자(LD)의 직경(D)보다 충분히 큰(또는 넓은) 제1 방향(DR1)의 폭(W)을 가짐에 따라 각 발광 소자(LD)와의 접촉 면적을 확보할 수 있다. 이에 따라, 대응하는 전극(PE)과 각 발광 소자(LD)의 미접촉 불량 및 대응하는 중간 전극(CTE)과 각 발광 소자(LD)의 미접촉 불량이 줄어들거나 최소화되어 제1 서브 화소(SPXL1)(또는 각 화소(PXL))에서의 출광 효율이 향상될 수 있다.
전극(PE)과 중간 전극(CTE)을 형성하는 공정 중에 상기 전극(PE)과 상기 중간 전극(CTE)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 틀어지는 경우에 대해서는 도 14a 및 도 14b를 참고하여 설명하기로 한다.
이하, 도 10 내지 도 13을 참조하여 상술한 실시예에 따른 제1 서브 화소(SPXL1)의 적층 구조를 중심으로 설명한다.
도 10 내지 도 12는 도 7의 Ⅱ ~ Ⅱ'선에 따른 개략적인 단면도들이며, 도 13은 도 7의 Ⅲ ~ Ⅲ'선에 따른 개략적인 단면도이다.
도 11 및 도 12의 실시예들은, 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2)과 제1 내지 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4)의 형성 단계 및 제3 절연층(INS3)의 유무와 관련하여 도 10의 실시예의 변형예들을 나타낸다. 예를 들어, 도 11에서는 제2 전극(PE2), 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제3 절연층(INS3)이 형성된 이후 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)이 형성되는 실시예를 개시하고, 도 12에서는 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2)과 제1 내지 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4)이 동일 공정으로 형성되는 실시예를 나타낸다.
도 10 내지 도 13에서는 각각의 전극을 단일층의 전극으로, 각각의 절연층을 단일층의 절연층으로만 도시하는 등 제1 서브 화소(SPXL1)를 단순화하여 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
도 10 내지 도 13에서는, 단면 상에서의 세로 방향을 제3 방향(DR3)으로 표시하였다.
도 10 내지 도 13 실시예들과 관련하여, 중복된 설명을 피하기 위하여 상술한 실시예와 상이한 점을 위주로 설명한다.
도 1 내지 도 13을 참조하면, 제1 서브 화소(SPXL1)는 기판(SUB), 화소 회로층(PCL), 및 표시 소자층(DPL)을 포함할 수 있다.
화소 회로층(PCL)과 표시 소자층(DPL)은 기판(SUB)의 일면 상에서 서로 중첩되도록 배치될 수 있다. 일 예로, 기판(SUB)의 제1 서브 화소 영역(SPXA1)은, 기판(SUB)의 일면 상에 배치된 화소 회로층(PCL)과, 상기 화소 회로층(PCL) 상에 배치된 표시 소자층(DPL)을 포함할 수 있다. 화소 회로층(PCL)은 기판(SUB) 상에 순차적으로 적층된 버퍼층(BFL), 게이트 절연층(GI), 층간 절연층(ILD), 및 패시베이션층(PSV)을 포함할 수 있다. 상기 화소 회로층(PCL)은 도 5 및 도 6을 참고하여 설명한 화소 회로층(PCL)과 동일하므로 이에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
표시 소자층(DPL)은, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2), 발광 소자들(LD), 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2), 제1 내지 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4)을 포함할 수 있다.
표시 소자층(DPL)은, 화소 회로층(PCL)의 일면 상에 순차적으로 배치된 절연 패턴들 및/또는 절연층들을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 소자층(DPL)은, 뱅크 패턴(BNP), 제1 절연층(INS1), 제1 뱅크(BNK1), 제2 절연층(INS2), 제3 절연층(INS3)을 더 포함할 수 있다.
뱅크 패턴(BNP)은 화소 회로층(PCL) 상에 제공 및/또는 형성될 수 있다.
뱅크 패턴(BNP)("지지 부재" 또는 "월(wall) 패턴"이라고도 함)은 화소 회로층(PCL)의 패시베이션층(PSV) 상에 제공 및/또는 형성될 수 있다. 실시예에서, 뱅크 패턴(BNP)은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 각각의 일 부분과 중첩하도록 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)의 하부에 개별적으로 배치되는 분리형 패턴으로 형성될 수 있다. 일 예로, 뱅크 패턴(BNP)은 제2-1 정렬 전극(ALE2_1)과 제1-5 정렬 전극(ALE1_5) 각각의 하부에 개별적으로 배치되는 분리형 패턴으로 형성될 수 있다. 또한, 뱅크 패턴(BNP)은 제1-1 및 제2-2 정렬 전극들(ALE1_1, ALE2_2)의 하부, 제1-2 및 제2-3 정렬 전극들(ALE1_2, ALE2_3)의 하부, 제1-3 및 제2-4 정렬 전극들(ALE1_3, ALE2_4)의 하부, 및 제1-4 및 제2-5 정렬 전극들(ALE1_4, ALE2_5)의 하부에 각각 개별적으로 배치되는 분리형 패턴으로 형성될 수 있다.
실시예에 따라, 뱅크 패턴(BNP)은, 발광 영역(EMA)에서 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 사이의 영역들에 대응하는 개구부 또는 오목부를 가지며, 표시 영역(DA)에서 전체적으로 연결되는 일체형 패턴으로 형성될 수도 있다.
뱅크 패턴(BNP)은 화소 회로층(PCL)의 일면 상에서 제3 방향(DR3)으로 돌출될 수 있다. 이에 따라, 뱅크 패턴(BNP) 상에 배치된 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 각각의 일 영역이 제3 방향(DR3)(또는 기판(SUB)이 두께 방향)으로 돌출될 수 있다.
뱅크 패턴(BNP)은 무기 재료를 포함한 무기막 또는 유기 재료를 포함한 유기막일 수 있다. 실시예에 따라, 뱅크 패턴(BNP)은 단일층의 유기막 및/또는 단일층의 무기막을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 뱅크 패턴(BNP)은 적어도 하나 이상의 유기막과 적어도 하나 이상의 무기막이 적층된 다중막의 형태로 제공될 수도 있다. 다만, 뱅크 패턴(BNP)의 재료가 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니며, 실시예에 따라, 뱅크 패턴(BNP)은 도전성 물질(또는 재료)을 포함할 수도 있다. 뱅크 패턴(BNP)의 형상은 발광 소자(LD)에서 방출되는 광의 효율을 향상시킬 수 있는 범위 내에서 다양하게 변경될 수 있다.
뱅크 패턴(BNP)은 반사 부재로 활용될 수 있다. 일 예로, 뱅크 패턴(BNP)은 그 상부에 배치된 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)과 함께 발광 소자(LD)에서 출사되는 광을 원하는 방향으로 유도하여 제1 서브 화소(SPXL1)의 출광 효율을 향상시키는 반사 부재로 활용될 수 있다.
뱅크 패턴(BNP) 상에는 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)이 제공 및/또는 형성될 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 화소 회로층(PCL)(또는 패시베이션층(PSV)) 및 뱅크 패턴(BNP) 상에 제공 및/또는 형성될 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 서로 이격되게 배치될 수 있다. 제2 방향(DR2)을 따라 제2-1 정렬 전극(ALE2_1), 제1-1 정렬 전극(ALE1_1), 제2-2 정렬 전극(ALE2_2), 제1-2 정렬 전극(ALE1_2), 제2-3 정렬 전극(ALE2_3), 제1-3 정렬 전극(ALE1_3), 제2-4 정렬 전극(ALE2_4), 제1-4 정렬 전극(ALE1_4), 제2-5 정렬 전극(ALE2_5), 및 제1-5 정렬 전극(ALE1_5)의 순으로 제2 정렬 전극(ALE2)과 제1 정렬 전극(ALE1)이 서로 교번하여 배열될 수 있다. 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 서로 동일 평면 상에 배치될 수 있으며, 제3 방향(DR3)으로 서로 동일한 두께를 가질 수 있다. 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 동일 공정에서 동시에 형성될 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2) 각각은 그 하부에 위치한 뱅크 패턴(BNP)의 프로파일에 대응하는 형상을 가질 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 발광 소자(LD)에서 방출되는 광을 표시 장치의 화상 표시 방향으로 진행되도록 하기 위하여 소정의 반사율을 갖는 재료로 구성될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 도전성 물질(또는 재료)로 이루어질 수 있다. 도전성 물질로는, 발광 소자들(LD)에서 방출되는 광을 표시 장치의 화상 표시 방향(또는 표시 소자층(DPL)의 상부 방향)으로 반사시키는 데에 적합한 불투명 금속을 포함할 수 있다. 불투명 금속으로는, 일 예로, 은(Ag), 마그네슘(Mg), 알루미늄(Al), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 이리듐(Ir), 크롬(Cr), 타이타늄(Ti), 이들의 합금과 같은 금속을 포함할 수 있다. 다만, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)의 재료가 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 투명 도전성 물질(또는 재료)을 포함할 수 있다. 투명 도전성 물질(또는 재료)로는, 인듐 주석 산화물(indium tin oxide, ITO), 인듐 아연 산화물(indium zinc oxide, IZO), 아연 산화물(zinc oxide, ZnOx), 인듐 갈륨 아연 산화물(indium gallium zinc oxide, IGZO), 인듐 주석 아연 산화물(indium tin zinc oxide, ITZO)과 같은 도전성 산화물, PEDOT(poly(3,4-ethylenedioxythiophene))와 같은 도전성 고분자 등이 포함될 수 있다. 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)이 투명 도전성 물질(또는 재료)을 포함하는 경우, 발광 소자들(LD)에서 방출되는 광을 표시 장치의 화상 표시 방향으로 반사시키기 위한 불투명 금속으로 이루어진 별도의 도전층이 추가될 수도 있다. 다만, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)의 재료가 상술한 재료들에 한정되는 것은 아니다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 단일층으로 제공 및/또는 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 금속들, 합금들, 도전성 산화물, 도전성 고분자들 중 적어도 둘 이상의 물질이 적층된 다중층으로 제공 및/또는 형성될 수도 있다. 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 발광 소자들(LD)의 양 단부(EP1, EP2)로 신호를 전달할 때 신호 지연에 의한 왜곡을 최소화하기 위하여 적어도 이중층 이상의 다중층으로 형성될 수도 있다. 일 예로, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)은 적어도 한 층의 반사 전극층, 상기 반사 전극층 상의 상부 및/또는 하부에 배치되는 적어도 한 층의 투명 전극층, 상기 반사 전극층 및/또는 상기 투명 전극층의 상부를 커버하는 적어도 한 층의 도전성 캡핑층 중 적어도 하나를 선택적으로 더 포함한 다중층으로 형성될 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)이 반사율을 갖는 도전 물질로 구성될 경우, 발광 소자들(LD) 각각의 양 단부(EP1, EP2)에서 방출되는 광이 표시 장치의 화상 표시 방향으로 더욱 진행될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)이 뱅크 패턴(BNP)의 형상에 대응되는 경사면 또는 곡면을 가지면서 발광 소자들(LD) 각각의 양 단부(EP1, EP2)에 마주하도록 배치되면 발광 소자들(LD) 각각의 양 단부(EP1, EP2)에서 출사된 광은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)에 의해 반사되어 표시 장치의 화상 표시 방향으로 더욱 진행될 수 있다. 이에, 발광 소자들(LD)에서 출사되는 광의 효율이 향상될 수 있다.
실시예에 있어서, 제1-1, 제1-2, 제1-3, 제1-4, 및 제1-5 정렬 전극들(ALE1_1, ALE1_2, ALE1_3, ALE1_4, ALE1_5)은 제1 연결 배선(CNL1)과 일체로 형성된다. 상기 제1 연결 배선(CNL1)은 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 화소 회로층(PCL)에 위치한 제1 수평 전원 배선(PL1b)에 전기적으로 연결될 수 있다. 발광 소자들(LD)을 제1 서브 화소 영역(SPXA1)(또는 발광 영역(EMA))에 정렬하는 단계에서, 제1 연결 배선(CNL1)은 제3 비아홀(VIH3)을 통하여 제1 수평 전원 배선(PL1b)으로부터 대응하는 정렬 신호를 전달받을 수 있다.
실시예에 있어서, 제2-1, 제2-2, 제2-3, 제2-4, 및 제2-5 정렬 전극들(ALE2_1, ALE2_2, ALE2_3, ALE2_4, ALE2_5)은 제2 연결 배선(CNL2)과 일체로 형성된다. 제2 연결 배선(CNL2)은 대응하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 화소 회로층(PCL)에 위치한 제2 수평 전원 배선(PL2b)에 전기적으로 연결될 수 있다. 발광 소자들(LD)을 제1 서브 화소 영역(SPXA1)(또는 발광 영역(EMA))에 정렬하는 단계에서, 제2 연결 배선(CNL2)은 제3 서브 화소(SPXL3)의 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에 위치한 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 수평 전원 배선(PL2b)으로부터 대응하는 정렬 신호를 전달받을 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 서브 화소 영역(SPXA1)에 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)과 이격된 제1 브릿지 패턴(BRP1)이 배치될 수 있다. 제1 브릿지 패턴(BRP1)은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2)과 동일 공정으로 형성되고 동일 물질을 포함할 수 있다.
제1 브릿지 패턴(BRP1)은 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 제1 브릿지 패턴(BRP1)은 제1 절연층(INS1)을 관통하는 컨택홀(CH)을 통하여 제2 전극(PE2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 실시예에 있어서, 제1 브릿지 패턴(BRP1)은 화소 회로층(PCL)에 위치한 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 제2 전극(PE2)을 전기적으로 연결하는 매개체일 수 있다. 실시예에 따라, 제1 브릿지 패턴(BRP1)이 생략되는 경우 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 상기 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 제2 전극(PE2)이 직접 접촉하여 전기적으로 연결될 수도 있다.
제1 브릿지 패턴(BRP1)과 이격되게 제2 서브 화소(SPXL2)의 제2 서브 화소 영역(SPXA2)에 제2 브릿지 패턴(BRP2)이 배치될 수 있고, 제3 서브 화소(SPXL3)의 제3 서브 화소 영역(SPXA3)에 제3 브릿지 패턴(BRP3)이 배치될 수 있다. 상기 제3 브릿지 패턴(BRP3)은 제2 연결 배선(CNL2)과 일체로 형성될 수 있다.
제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2), 제1 내지 제3 브릿지 패턴들(BRP1 ~ BRP3), 제1 및 제2 연결 배선들(CNL1, CNL2) 상에는 제1 절연층(INS1)이 배치될 수 있다.
제1 절연층(INS1)은 제1 및 제2 정렬 전극들(ALE1, ALE2), 제1 내지 제3 브릿지 패턴들(BRP1 ~ BRP3), 제1 및 제2 연결 배선들(CNL1, CNL2), 및 뱅크 패턴(BNP) 상에 전면적으로 제공 및/또는 형성될 수 있다. 제1 절연층(INS1)은 발광 영역(EMA)과 비발광 영역(NEA)에서 그 하부에 위치한 구성들을 노출하도록 부분적으로 개구될 수 있다. 일 예로, 제1 절연층(INS1)은, 발광 영역(EMA)에서 패시베이션층(PSV)의 제1 비아홀(VIH1)에 대응하는 제1 비아홀(VIH1) 및 비발광 영역(NEA)에서 제1 브릿지 패턴(BRP1)의 일 영역을 노출하는 컨택홀(CH)을 포함하도록 부분적으로 개구될 수 있다.
제1 절연층(INS1)은 무기 재료로 이루어진 무기 절연막으로 형성될 수 있다. 일 예로, 제1 절연층(INS1)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx)과 같은 금속 산화물 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 절연층(INS1)은 단일층 또는 다중층으로 제공될 수 있다. 제1 절연층(INS1)이 다중층으로 제공될 경우, 제1 절연층(INS1)은 무기막으로 구성된 서로 다른 굴절률을 갖는 제1 레이어와 제2 레이어가 교번하여 적층된 분산 브레그 반사경(distributed bragg reflectors) 구조로 제공될 수도 있다.
제1 절연층(INS1) 상에는 제1 뱅크(BNK1)가 배치될 수 있다.
제1 뱅크(BNK1)는 비발광 영역(NEA)에서 제1 절연층(INS1) 상에 제공 및/또는 형성될 수 있다. 제1 뱅크(BNK1)는 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)을 둘러싸며, 인접한 서브 화소들 사이에 형성되어 상기 서브 화소들 각각의 발광 영역(EMA)을 구획하는 화소 정의막을 구성할 수 있다. 제1 뱅크(BNK1)는 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)을 공급(또는 투입)하는 단계에서, 발광 소자들(LD)이 혼합된 용액(또는 잉크)이 인접한 서브 화소의 발광 영역(EMA)(일 예로, 제2 서브 화소(SPXL2)의 발광 영역(EMA) 및/또는 제3 서브 화소(SPXL3)의 발광 영역(EMA))으로 유입되는 것을 방지하거나 각각의 발광 영역(EMA)에 적당량의 용액이 공급되도록 제어하는 댐 구조물을 구성할 수 있다.
제1 뱅크(BNK1)는 적어도 하나의 차광 물질 및/또는 반사 물질(또는 산란 물질)을 포함하도록 구성되어 인접한 서브 화소들 사이에서 광(또는 빛)이 새는 빛샘 불량을 방지할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 뱅크(BNK1)는 투명 물질(또는 재료)을 포함할 수 있다. 투명 물질로는, 일 예로, 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin) 등을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 실시예에 따라, 각 서브 화소에서 방출되는 광의 효율을 더욱 향상시키기 위해 제1 뱅크(BNK1)는 상에는 반사 물질층이 별도로 제공 및/또는 형성될 수도 있다.
제1 뱅크(BNK1)에 의해 둘러싸인(또는 정의된) 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)에는 발광 소자들(LD)이 공급될 수 있다. 일 예로, 잉크젯 프린팅 방식 등을 통해 상기 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)이 공급(또는 투입)되고, 발광 소자들(LD)은 제1 연결 배선(CNL1)(또는 제1 정렬 전극(ALE1))과 제2 연결 배선(CNL2)(또는 제2 정렬 전극(ALE2)) 각각에 인가되는 소정의 신호(또는 정렬 신호)에 의해 형성된 수직 전계에 의하여 제1 정렬 전극(ALE1)과 제2 정렬 전극(ALE2)의 사이 영역의 제1 절연층(INS1)의 표면 상에 각각 정렬될 수 있다. 예를 들어, 상기 발광 영역(EMA)에 공급된 발광 소자들(LD)은 제1 단부들(EP1)이 제2 정렬 전극(ALE2)을 향하고, 제2 단부들(EP2)이 제1 정렬 전극(ALE1)을 향하도록 배열될 수 있다.
발광 소자들(LD)은 제1 발광 소자(LD1), 제2 발광 소자(LD2), 제3 발광 소자(LD3), 제4 발광 소자(LD4), 및 제5 발광 소자(LD5)를 포함할 수 있다.
제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 상에는 각각 제2 절연층(INS2)(또는 절연 패턴)이 배치될 수 있다. 제2 절연층(INS2)은 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 상에 위치하여 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 각각의 외주면(또는 표면)을 부분적으로 커버하여 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 각각의 제1 단부(EP1)와 제2 단부(EP2)를 외부로 노출할 수 있다.
제2 절연층(INS2)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막 또는 유기 절연막을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2 절연층(INS2)은 외부의 산소 및 수분 등으로부터 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 각각의 활성층(12) 보호에 적합한 무기 절연막을 포함할 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)이 적용되는 표시 장치의 설계 조건 등에 따라 제2 절연층(INS2)은 유기 재료를 포함한 유기 절연막으로 구성될 수도 있다. 제2 절연층(INS2)은 단일층 또는 다중층으로 구성될 수 있다.
제2 절연층(INS2)의 형성 이전에 제1 절연층(INS1)과 발광 소자들(LD) 사이에 빈 틈(또는 공간)이 존재할 경우, 상기 빈 틈은 상기 제2 절연층(INS2)을 형성하는 과정에서 상기 제2 절연층(INS2)으로 채워질 수 있다. 이 경우, 제2 절연층(INS2)은 제1 절연층(INS1)과 발광 소자들(LD) 사이의 빈 틈을 채우는 데에 유리한 유기 절연막으로 구성될 수도 있으나, 이에 반드시 한정되는 것은 아니다.
제1 발광 영역(EMA1)에 정렬이 완료된 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5) 상에 제2 절연층(INS2)을 형성함으로써 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)이 정렬된 위치에서 이탈하는 것을 방지할 수 있다.
제2 절연층(INS2)에 의해 커버되지 않은 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)의 양 단부들, 일 예로, 제1 및 제2 단부들(EP1, EP2) 상에는, 제1 전극(PE1)(또는 제1 화소 전극), 제2 전극(PE2)(또는 제2 화소 전극), 및 중간 전극(CTE) 중 서로 다른 전극들이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 발광 소자(LD1)의 제1 단부(EP1) 상에는 제1 전극(PE1)이 형성되고, 제1 발광 소자(LD1)의 제2 단부(EP2) 상에는 제1 중간 전극(CTE1)이 형성되고, 제2 발광 소자(LD2)의 제1 단부(EP1) 상에는 상기 제1 중간 전극(CTE1)이 형성되며, 제2 발광 소자(LD2)의 제2 단부(EP2) 상에는 제2 중간 전극(CTE2)이 형성되고, 제3 발광 소자(LD3)의 제1 단부(EP1) 상에는 상기 제2 중간 전극(CTE2)이 형성되고, 제3 발광 소자(LD3)의 제2 단부(EP2) 상에는 제3 중간 전극(CTE3)이 형성되고, 제4 발광 소자(LD4)의 제1 단부(EP1) 상에는 상기 제3 중간 전극(CTE3)이 형성되고, 제4 발광 소자(LD4)의 제2 단부(EP2) 상에는 제4 중간 전극(CTE4)이 형성되며, 제5 발광 소자(LD5)의 제1 단부(EP1) 상에는 상기 제4 중간 전극(CTE4)이 형성되고 제5 발광 소자(LD5)의 제2 단부(EP2) 상에는 제2 전극(PE2)이 형성될 수 있다.
제1 전극(PE1)은 제2-1 정렬 전극(ALE2_1)과 중첩하도록 제2-1 정렬 전극(ALE2_1)의 상부에 배치되고, 제2 전극(PE2)은 제1-5 정렬 전극(ALE1_5)과 중첩하도록 제1-5 정렬 전극(ALE1_5)의 상부에 배치될 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 전극(PE1)은 발광 영역(EMA)에서 제1 절연층(INS1)과 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제1 비아홀(VIH1)을 통하여 제1 화소 회로(PXC1)의 제2 스토리지 전극(UE2)(또는 상부 전극)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(PE2)은 제1 절연층(INS1)을 관통하는 컨택홀(CH), 제1 브릿지 패턴(BRP1), 및 패시베이션층(PSV)을 관통하는 제2 비아홀(VIH2)을 통하여 제1 화소 회로(PXC1)에 연결된 제2 수평 전원 배선(PL2b)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 중간 전극(CTE1)은 제1-1 정렬 전극(ALE1_1) 및 제2-2 정렬 전극(ALE2_2) 각각과 중첩하도록 제1-1 정렬 전극(ALE1_1)과 제2-2 정렬 전극(ALE2_2) 각각의 상부에 배치될 수 있다. 제2 중간 전극(CTE2)은 제1-2 정렬 전극(ALE1_2) 및 제2-3 정렬 전극(ALE2_3) 각각과 중첩하도록 제1-2 정렬 전극(ALE1_2)과 제2-3 정렬 전극(ALE2_3) 각각의 상부에 배치될 수 있다. 제3 중간 전극(CTE3)은 제1-3 정렬 전극(ALE1_3) 및 제2-4 정렬 전극(ALE2_4) 각각과 중첩하도록 제1-3 정렬 전극(ALE1_3)과 제2-4 정렬 전극(ALE2_4) 각각의 상부에 배치될 수 있다. 제4 중간 전극(CTE4)은 제1-4 정렬 전극(ALE1_4) 및 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각과 중첩하도록 제1-4 정렬 전극(ALE1_4)과 제2-5 정렬 전극(ALE2_5) 각각의 상부에 배치될 수 있다.
실시예에 있어서, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 서로 동일 또는 상이한 층에 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)의 상호 위치, 및/또는 형성 순서는 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
도 10의 실시예에서, 제2 절연층(INS2) 상에 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)이 먼저 형성될 수 있다. 제1 전극(PE1)은 제1 발광 소자(LD1)의 제1 단부(EP1)에 직접 접촉할 수 있다. 제2 중간 전극(CTE2)은 제2 발광 소자(LD2)의 제2 단부(EP2) 및 제3 발광 소자(LD3)의 제1 단부(EP1)에 직접 접촉하여 제2 발광 소자(LD2)와 제3 발광 소자(LD3) 사이에 연결될 수 있다. 제4 중간 전극(CTE4)은 제4 발광 소자(LD4)의 제2 단부(EP2) 및 제5 발광 소자(LD5)의 제1 단부(EP1)에 직접 접촉하여 제4 발광 소자(LD4)와 제5 발광 소자(LD5) 사이에 연결될 수 있다. 이후, 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)을 덮도록 발광 영역(EMA)에 제3 절연층(INS3)이 형성될 수 있다. 상기 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)은 동시에 또는 연속적으로 형성될 수 있다.
상기 제3 절연층(INS3)은 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4) 상에 위치하여 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 상기 제4 중간 전극(CTE4)을 커버하여(또는 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 상기 제4 중간 전극(CTE4)을 외부로 노출되지 않게 하여) 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 상기 제4 중간 전극(CTE4)의 부식 등을 방지할 수 있다.
제3 절연층(INS3)은 무기 재료로 이루어진 무기 절연막 또는 유기 재료로 이루어진 유기 절연막을 포함할 수 있다. 일 예로, 제3 절연층(INS3)은, 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx)과 같은 금속 산화물 중 적어도 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 제3 절연층(INS3)은 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.
상기 제3 절연층(INS3) 상에 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)이 형성될 수 있다. 제2 전극(PE2)은 제5 발광 소자(LD5)의 제2 단부(EP2)에 직접 접촉할 수 있다. 제1 중간 전극(CTE1)은 제1 발광 소자(LD1)의 제2 단부(EP2) 및 제2 발광 소자(LD2)의 제1 단부(EP1)에 직접 접촉하여 제1 발광 소자(LD1)와 제2 발광 소자(LD2) 사이에 연결될 수 있다. 제3 중간 전극(CTE3)은 제3 발광 소자(LD3)의 제2 단부(EP2) 및 제4 발광 소자(LD1)의 제1 단부(EP1)에 직접 접촉하여 제3 발광 소자(LD3)와 제4 발광 소자(LD4) 사이에 연결될 수 있다. 상기 제1 중간 전극(CTE1), 상기 제3 중간 전극(CTE3), 및 상기 제2 전극(PE2)은 동시에 또는 연속적으로 형성될 수 있다.
도 11의 실시예에서, 제2 절연층(INS2) 상에 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)이 먼저 형성될 수 있다. 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)은 동시에 또는 연속적으로 형성될 수 있다. 이후, 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)을 덮도록 제3 절연층(INS3)이 형성되고, 상기 제3 절연층(INS3)이 형성된 발광 영역(EMA)에 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)이 형성될 수 있다.
도 10 및 도 11의 실시예들에서와 같이 각 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1) 및 제2 단부(EP2) 상에 배치된 전극들을 서로 다른 층에 배치할 경우 상기 전극들이 안정되게 전기적으로 분리되어 상기 전극들 사이의 쇼트 결함이 방지될 수 있다.
도 12의 실시예에서, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 표시 소자층(DPL)의 동일한 층에 배치되며, 동시에 또는 순차적으로 형성될 수 있다. 이 경우, 제3 절연층(INS3)은 생략될 수 있다. 도 12의 실시예에서, 각 발광 소자(LD)의 제1 단부(EP1) 및 제2 단부(EP2) 상에 배치되는 전극들을 동일 층에 배치하고 동시에 형성할 경우, 제1 서브 화소(SPXL1)의 제조 공정을 간소화하고 공정 효율을 향상시킬 수 있다. 이 경우, 제3 절연층(INS3)이 생략될 수 있다.
제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 발광 소자들(LD) 각각으로부터 방출된 광이 손실없이 표시 장치의 화상 표시 방향(일 예로, 제3 방향(DR3))으로 진행되도록 하기 위하여 다양한 투명 도전 물질로 구성될 수 있다. 일 예로, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 인듐 주석 산화물(indium tin oxide, ITO), 인듐 아연 산화물(indium zinc oxide, IZO), 아연 산화물(zinc oxide, ZnOx), 인듐 갈륨 아연 산화물(indium gallium zinc oxide, IGZO), 인듐 주석 아연 산화물(indium tin zinc oxide, ITZO) 등을 비롯한 다양한 투명 도전성 물질(또는 재료) 중 적어도 하나를 포함하며, 소정의 투광도(또는 투과도)를 만족하도록 실질적으로 투명 또는 반투명하게 구성될 수 있다. 다만, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)의 재료가 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 다양한 불투명 도전성 물질(또는 재료)로 구성될 수도 있다. 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)은 단일층 또는 다중층으로 형성될 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 전극(PE1), 제1 중간 전극(CTE1), 제2 중간 전극(CTE2), 제3 중간 전극(CTE3), 제4 중간 전극(CTE4), 및 제2 전극(PE2)의 상부에는 적어도 한 층의 오버코트층(예를 들어, 표시 소자층(DPL)의 상면을 평탄화하는 층)이 더 배치될 수도 있다.
다른 실시예에 따라, 제1 서브 화소(SPXL1)의 표시 소자층(DPL) 상부에는 광학층이 선택적으로 배치될 수도 있다. 일 예로, 광학층은 발광 소자들(LD)에서 방출되는 광을 특정 색의 광으로 변환하는 색변환 입자들을 포함한 색 변환층을 더 포함할 수 있다.
도 14a는 실시예에 따른 화소(PXL)에 제1 전극, 제2 중간 전극, 및 제4 중간 전극을 형성하는 제1 마스크(M1)를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 7, 도 10, 및 도 14a를 참조하면, 실시예에 따른 제1 마스크(M1)는 제1, 제2, 및 제3 관통홀들(TH1, TH2, TH3)을 포함할 수 있다. 제1 마스크(M1)는 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)을 형성할 때 사용되는 마스크일 수 있다. 일 예로, 제1 마스크(M1)는 FMM(fine metal mask)일 수 있다. 제1 마스크(M1)는 금속판에 관통홀(또는 홀)을 형성한 후 인장하는 방식으로 제조될 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 관통홀들(TH1, TH2, TH3)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 제1 관통홀(TH1)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 전극(PE1)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제1 전극(PE1)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제2 관통홀(TH2)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPX3) 각각의 제2 중간 전극(CTE2)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제2 중간 전극(CTE2)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제3 관통홀(TH3)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제4 중간 전극(CTE4)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제4 중간 전극(CTE4)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제1, 제2, 및 제3 관통홀들(TH1, TH2, TH3) 각각은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)의 베이스 도전 물질인 제1 도전층(CL1)의 일 영역을 노출할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)이 정렬된 후, 각 화소(PXL)의 화소 영역(도 3의 "PXA" 참고)에 상기 제1 도전층(CL1)이 전체적으로 도포될 수 있다. 이어, 상기 제1 도전층(CL1) 상에 포토레지스트를 형성한 후 상기 제1 마스크(M1)를 이용한 포토리소그래피 공정을 진행한다. 상기 포토리소그래피 공정 중 노광 공정에서 사용되는 노광기는 제2 방향(DR2)과 평행한 방향으로 화소(PXL)를 스캔한다. 이때, 상기 노광기의 특성으로 인하여 상기 노광기의 스캔 방향(일 예로, 제2 방향(DR2))과 수직인 방향인 제1 방향(DR1)으로 제1 도전층(CL1)의 오버레이 변동(또는 오버레이 에러)이 발생할 수 있다. 일 예로, 제1 전극(PE1)이 기설정된 위치(또는 제1 마스크(M1)의 제1 관통홀(TH1)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제1 지점(A) 또는 제2 지점(B)에 형성될 수 있다. 또한, 제2 중간 전극(CTE2)이 기설정된 위치(또는 제1 마스크(M1)의 제2 관통홀(TH2)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제1 지점(A) 또는 제2 지점(B)에 형성될 수 있다. 마찬가지로, 제4 중간 전극(CTE4)이 기설정된 위치(또는 제1 마스크(M1)의 제3 관통홀(TH3)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고, 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제1 지점(A) 또는 제2 지점(B)에 형성될 수 있다.
상술한 바와 같이, 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4) 각각이 형성되더라도 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4) 각각은 제2 방향(DR2)으로 정렬된 대응하는 발광 소자(LD)의 일 단부와 충분히 접촉하여 대응하는 발광 소자(LD)와의 미접촉 불량을 방지할 수 있다.
구체적으로, 제1 전극(PE1)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제1 전극(PE1)의 제1 방향(DR1)의 폭이 제1 발광 소자(LD1)의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제1 전극(PE1)과 상기 제1 발광 소자(LD1)의 제1 단부(EP1)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제1 전극(PE1)은 상기 제1 발광 소자(LD1)의 제1 단부(EP1)와 충분히 접촉할 수 있다.
또한, 제2 중간 전극(CTE2)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제2 중간 전극(CTE2)의 제1 방향(DR1)으로의 폭이 제2 및 제3 발광 소자들(LD2, LD3) 각각의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제2 중간 전극(CTE2)과 상기 제2 발광 소자(LD2)의 제2 단부(EP2)의 접촉 면적 및 상기 제2 중간 전극(CTE2)과 상기 제3 발광 소자(LD3)의 제1 단부(EP1)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제2 중간 전극(CTE2)은 상기 제2 발광 소자(LD2)의 제2 단부(EP2) 및 상기 제3 발광 소자(LD3)의 제1 단부(EP1)와 충분히 접촉할 수 있다.
마찬가지로, 제4 중간 전극(CTE4)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제4 중간 전극(CTE4)의 제1 방향(DR1)으로의 폭이 제4 및 제5 발광 소자들(LD4, LD5) 각각의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제4 중간 전극(CTE4)과 상기 제4 발광 소자(LD4)의 제2 단부(EP2)의 접촉 면적 및 상기 제4 중간 전극(CTE4)과 상기 제5 발광 소자(LD5)의 제1 단부(EP1)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제4 중간 전극(CTE4)은 상기 제4 발광 소자(LD4)의 제2 단부(EP2) 및 상기 제5 발광 소자(LD5)의 제1 단부(EP1)와 충분히 접촉할 수 있다.
상술한 실시예에 따르면, 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 상기 제4 중간 전극(CTE4)이 제2 방향(DR2)으로 정렬된 해당 발광 소자(LD)의 직경보다 상대적으로 큰 제1 방향(DR1)으로의 폭을 가짐으로써 상기 제1 전극(PE1), 상기 제2 중간 전극(CTE2), 및 상기 제4 중간 전극(CTE4) 각각과 해당 발광 소자(LD)의 접촉 불량이 줄어들거나 최소화될 수 있다.
도 14b는 실시예에 따른 화소(PXL)에 제1 중간 전극, 제3 중간 전극, 및 제2 전극을 형성하는 제2 마스크(M2)를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 7, 도 10, 및 도 14b를 참조하면, 실시예에 따른 제2 마스크(M2)는 제4, 제5, 및 제6 관통홀들(TH4, TH5, TH6)을 포함할 수 있다. 제2 마스크(M2)는 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)을 형성할 때 사용되는 마스크일 수 있다. 일 예로, 제2 마스크(M2)는 FMM(fine metal mask)일 수 있다. 제2 마스크(M2)는 금속판에 관통홀(또는 홀)을 형성한 후 인장하는 방식으로 제조될 수 있다.
제4, 제5, 및 제6 관통홀들(TH4, TH5, TH6)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 제4 관통홀(TH4)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 중간 전극(CTE1)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제1 중간 전극(CTE1)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제5 관통홀(TH5)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제3 중간 전극(CTE3)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제3 중간 전극(CTE3)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제6 관통홀(TH6)은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제2 전극(PE2)의 형성 위치를 나타낸 것으로 그 크기가 상기 제2 전극(PE2)과 동일하거나 유사할 수 있다. 제4, 제5, 및 제6 관통홀들(TH4, TH5, TH6) 각각은 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)의 베이스 도전 물질인 제2 도전층(CL2)의 일 영역을 노출할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)에 제1 전극(PE1), 제2 중간 전극(CTE2), 및 제4 중간 전극(CTE4)이 형성된 후, 각 화소(PXL)의 화소 영역(도 3의 "PXA" 참고)에 상기 제2 도전층(CL2)이 전체적으로 도포될 수 있다. 이어, 상기 제2 도전층(CL2) 상에 포토레지스트를 형성한 후 상기 제2 마스크(M2)를 이용한 포토리소그래피 공정을 진행한다. 상기 포토리소그래피 공정 중 노광 공정에서 사용되는 노광기는 제2 방향(DR2)과 평행한 방향으로 화소(PXL)를 스캔한다. 이때, 상기 노광기의 특성으로 인하여 상기 노광기의 스캔 방향(일 예로, 제2 방향(DR2))과 수직인 방향인 제1 방향(DR1)으로 제2 도전층(CL2)의 오버레이 변동(또는 오버레이 에러)이 발생할 수 있다. 일 예로, 제1 중간 전극(CTE1)이 기설정된 위치(또는 제2 마스크(M2)의 제4 관통홀(TH4)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제3 지점(C) 또는 제4 지점(D')에 형성될 수 있다. 또한, 제3 중간 전극(CTE3)이 기설정된 위치(또는 제2 마스크(M2)의 제5 관통홀(TH5)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제3 지점(C) 또는 제4 지점(D')에 형성될 수 있다. 마찬가지로, 제2 전극(PE2)이 기설정된 위치(또는 제2 마스크(M2)의 제6 관통홀(TH6)에 대응하는 위치)에 형성되지 않고, 상기 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 제3 지점(C) 또는 제4 지점(D')에 형성될 수 있다.
상술한 바와 같이, 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2) 각각이 형성되더라도 상기 제1 중간 전극(CTE1), 상기 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2) 각각은 제2 방향(DR2)으로 정렬된 대응하는 발광 소자(LD)의 타 단부와 충분히 접촉하여 대응하는 발광 소자(LD)와의 미접촉 불량을 방지할 수 있다.
구체적으로, 제1 중간 전극(CTE1)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제1 중간 전극(CTE1)의 제1 방향(DR1)으로의 폭이 제1 및 제2 발광 소자들(LD1, LD2) 각각의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제1 중간 전극(CTE1)과 상기 제1 발광 소자(LD1)의 제2 단부(EP2)의 접촉 면적 및 상기 제1 중간 전극(CTE1)과 상기 제2 발광 소자(LD2)의 제1 단부(EP1)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제1 중간 전극(CTE1)은 상기 제1 발광 소자(LD1)의 제2 단부(EP2) 및 제2 발광 소자(LD2)의 제1 단부(EP1)와 충분히 접촉할 수 있다.
또한, 제3 중간 전극(CTE3)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제3 중간 전극(CTE3)의 제1 방향(DR1)의 폭이 제3 및 제4 발광 소자들(LD3, LD4) 각각의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제3 중간 전극(CTE3)과 상기 제3 발광 소자(LD3)의 제2 단부(EP2)의 접촉 면적 및 상기 제3 중간 전극(CTE3)과 상기 제4 발광 소자(LD4)의 제1 단부(EP1)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제3 중간 전극(CTE3)은 상기 제3 발광 소자(LD3)의 제2 단부(EP2) 및 상기 제4 발광 소자(LD4)의 제1 단부(EP1)와 충분히 접촉할 수 있다.
마찬가지로, 제2 전극(PE2)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제2 전극(PE2)의 제1 방향(DR1)으로의 폭이 제5 발광 소자(LD5)의 직경보다 상대적으로 크게 설계됨에 따라 상기 제2 전극(PE2)과 상기 제5 발광 소자(LD5)의 제2 단부(EP2)의 접촉 면적이 더욱 확보될 수 있다. 이에 따라, 오버레이 변동이 발생한 상기 제2 전극(PE2)은 상기 제5 발광 소자(LD5)의 제2 단부(EP2)와 충분히 접촉할 수 있다.
상술한 실시예에 따르면, 제1 중간 전극(CTE1), 제3 중간 전극(CTE3), 및 제2 전극(PE2)이 기설정된 위치에서 제1 방향(DR1)으로 이동한 어느 지점에 형성되더라도 상기 제1 중간 전극(CTE1), 상기 제3 중간 전극(CTE3), 및 상기 제2 전극(PE2)이 제2 방향(DR2)으로 정렬된 해당 발광 소자(LD)의 직경보다 상대적으로 큰 제1 방향(DR1)으로의 폭을 가짐으로써 상기 제1 중간 전극(CTE1), 상기 제3 중간 전극(CTE3), 및 상기 제2 전극(PE2) 각각과 해당 발광 소자(LD)의 접촉 불량이 줄어들거나 최소화될 수 있다.
도 15는 도 3에 도시된 화소(PXL)의 광학층(LCL)을 포함한 화소 영역을 개략적으로 도시한 평면도이며, 도 16 내지 도 18은 도 15의 Ⅳ ~ Ⅳ'선에 따른 개략적인 단면도들이다.
도 16 내지 도 18의 실시예들은 제1 색 변환층(CCL1)의 위치와 관련하여 서로 다른 변형 예를 나타낸다. 예를 들어, 도 16에서는 제1 및 제2 전극들(PE1, PE2) 상부에 연속적인 공정을 통해 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)가 위치한 실시예를 개시하고, 도 17에서는 제1 색 변환층(CCL1)을 포함한 표시 소자층(DPL) 상에 제1 컬러 필터(CF1)를 포함한 상부 기판(U_SUB)이 중간층(CTL)을 이용한 접착 공정을 통해 표시 소자층(DPL) 상에 위치하는 실시예를 개시하며, 도 18에서는 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)를 포함한 상부 기판(U_SUB)이 중간층(CTL)을 이용한 접착 공정을 통해 표시 소자층(DPL) 상에 위치하는 실시예를 개시한다.
도 15 내지 도 18 실시예들과 관련하여, 중복된 설명을 피하기 위하여 상술한 실시예와 상이한 점을 위주로 설명한다.
도 1 내지 도 18을 참조하면, 화소(PXL)의 광학층(LCL)은 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)에 위치한 제1 광학층(LCL1), 제2 서브 화소(SPXL2)의 발광 영역(EMA)에 위치한 제2 광학층(LCL2), 및 제3 서브 화소(SPXL3)의 발광 영역(EMA)에 위치한 제3 광학층(LCL3)을 포함할 수 있다. 제1 광학층(LCL1)은 서로 중첩하는 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)를 포함할 수 있다. 제2 광학층(LCL2)은 서로 중첩하는 제2 색 변환층(CCL2)과 제2 컬러 필터(CF2)를 포함할 수 있다. 제3 광학층(LCL3)은 서로 중첩하는 제3 색 변환층(CCL3)과 제3 컬러 필터(CF3)를 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 비발광 영역(NEA)에는 제2 뱅크(BNK2)가 위치할 수 있다.
제2 뱅크(BNK2)는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 비발광 영역(NEA)에서 제1 뱅크(BNK1) 상에 제공 및/또는 형성될 수 있다. 제2 뱅크(BNK2)는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)을 둘러싸며, 제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3) 각각이 공급되어야 할 위치를 정의하여 상기 발광 영역(EMA)을 최종적으로 정의하는 댐 구조물일 수 있다. 일 예로, 제2 뱅크(BNK2)는 제1 서브 화소(SPXL1)에서 제1 색 변환층(CCL1)이 공급(또는 투입)될 위치, 제2 서브 화소(SPXL2)에서 제2 색 변환층(CCL2)이 공급(또는 투입)될 위치, 및 제3 서브 화소(SPXL3)에서 제3 색 변환층(CCL3)이 공급(또는 투입)될 위치를 정의하여 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 각각의 발광 영역(EMA)을 최종적으로 설정하는 댐 구조물일 수 있다.
제2 뱅크(BNK2)는 차광 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2 뱅크(BNK2)는 블랙 매트릭스일 수 있다. 실시예에 따라, 제2 뱅크(BNK2)는 적어도 하나의 차광 물질 및/또는 반사 물질을 포함하도록 구성되어 제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3)에서 방출되는 광을 표시 장치의 화상 표시 방향(또는 제3 방향(DR3))으로 더욱 진행되게 하여 제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3) 각각의 출광 효율을 향상시킬 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3) 각각은 제2 뱅크(BNK2)에 둘러싸인 발광 영역(EMA) 내에서 각 서브 화소의 제1 전극(PE1), 제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4), 및 제2 전극(PE2) 상(또는 상부)에 형성될 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3) 각각은 특정 색상에 대응하는 색 변환 입자들(QD)을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1, 제2, 및 제3 색 변환층들(CCL1, CCL2, CCL3) 각각은 발광 소자들(LD1 ~ LD5)에서 방출되는 제1 색의 광을 상기 제1 색의 광과 상이한 색을 갖는 제2 색의 광(또는 특정 색)으로 변환하는 색 변환 입자들(QD)을 포함할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 중 하나의 서브 화소가 적색 화소(또는 적색 서브 화소)인 경우, 상기 서브 화소의 색 변환층은 발광 소자들(LD1 ~ LD5)에서 방출되는 제1 색의 광을 제2 색의 광, 일 예로, 적색의 광으로 변환하는 적색 퀀텀 닷의 색 변환 입자들(QD)을 포함할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 중 다른 서브 화소가 녹색 화소(또는 녹색 서브 화소)인 경우, 상기 다른 서브 화소의 색 변환층은 발광 소자들(LD1 ~ LD5)에서 방출되는 제1 색의 광을 제2 색의 광, 일 예로, 녹색의 광으로 변환하는 녹색 퀀텀 닷의 색 변환 입자들(QD)을 포함할 수 있다.
제1, 제2, 및 제3 서브 화소들(SPXL1, SPXL2, SPXL3) 중 나머지 서브 화소가 청색 화소(또는 청색 서브 화소)인 경우, 상기 나머지 서브 화소의 색 변환층은 발광 소자들(LD1 ~ LD5)에서 방출되는 제1 색의 광을 제2 색의 광, 일 예로, 청색의 광으로 변환하는 청색 퀀텀 닷의 색 변환 입자들(QD)을 포함할 수도 있다. 일 예로, 제1 서브 화소(SPXL1)가 청색 화소(또는 청색 서브 화소)인 경우, 색 변환 입자들(QD)을 포함한 제1 색 변환층(CCL1)을 대신하여 광 산란 입자들(SCT)을 포함하는 광 산란층이 구비될 수도 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD1 ~ LD5)이 청색 계열의 광을 방출하는 경우, 제1 서브 화소(SPXL1)는 광 산란 입자들(SCT)을 포함하는 광 산란층을 포함할 수도 있다. 상술한 광 산란층은 실시예에 따라 생략될 수도 있다. 다른 실시예에 따라, 제1 서브 화소(SPXL1)가 청색 화소(또는 청색 서브 화소)인 경우, 제1 색 변환층(CCL1)을 대신하여 투명 폴리머가 제공될 수도 있다.
제1 광학층(LCL1), 제2 광학층(LCL2), 및 제3 광학층(LCL3)은 실질적으로 유사하거나 동일한 구조를 가질 수 있다. 이하에서는 제1, 제2, 및 제3 광학층들(LCL1, LCL2, LCL3) 중 제1 광학층(LCL1)을 중심으로 실시예를 설명하기로 한다.
제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)에 위치한 제1 광학층(LCL1)의 제1 색 변환층(CCL1)과 상기 제1 서브 화소(SPXL1)의 비발광 영역(NEA)에 위치한 제2 뱅크(BNK2) 상에는 캡핑층(CPL)이 배치될 수 있다.
캡핑층(CPL)은 제2 뱅크(BNK2) 및 제1 색 변환층(CCL1)을 덮도록 제1 서브 화소(SPXL1)가 위치한 표시 영역(DA)(또는 제1 서브 화소 영역(SPAX1))에 전면적으로(또는 전체적으로) 제공될 수 있다. 캡핑층(CPL)은 제2 뱅크(BNK2) 및 제1 색 변환층(CCL1) 상에 직접 배치될 수 있다. 캡핑층(CPL)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막일 수 있다. 캡핑층(CPL)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 캡핑층(CPL)은 제2 뱅크(BNK2) 및 제1 색 변환층(CCL1)을 전체적으로 커버하여 외부로부터 수분 또는 습기 등이 표시 소자층(DPL)으로 유입되는 것을 차단할 수 있다.
캡핑층(CPL)은 그 하부에 배치된 구성 요소들에 의해 발생된 단차를 완화시키며 평탄한 표면을 가질 수 있다. 일 예로, 캡핑층(CPL)은 유기 재료를 포함한 유기 절연막을 포함할 수 있다. 캡핑층(CPL)은 표시 영역(DA)에 공통으로 제공되는 공통층일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
도 16의 실시예에서, 캡핑층(CTL) 상에는 컬러 필터층(CFL)이 제공 및/또는 형성될 수 있다. 컬러 필터층(CFL)은 인접한 서브 화소들 각각의 색에 대응하는 컬러 필터들(CF1, CF2, CF3)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 컬러 필터층(CFL)은, 제1 서브 화소(SPXL1)의 제1 색 변환층(CCL1) 상에 배치된 제1 컬러 필터(CF1), 제2 서브 화소(SPXL2)의 제2 색 변환층(CCL2) 상에 배치된 제2 컬러 필터(CF2), 및 제3 서브 화소(SPXL3)의 제3 색 변환층(CCL3) 상에 배치된 제3 컬러 필터(CF3)를 포함할 수 있다. 제1, 제2, 및 제3 컬러 필터들(CF1, CF2, CF3)은 비발광 영역(NEA)에서 서로 중첩하도록 배치되어, 인접한 서브 화소들 사이의 광 간섭을 차단하는 차광 부재로 활용될 수 있다. 제1, 제2, 및 제3 컬러 필터들(CF1, CF2, CF3) 각각은 대응하는 색 변환층에서 변환된 제2 색의 광을 선택적으로 투과시키는 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 컬러 필터(CF1)는 적색 컬러 필터일 수 있고, 제2 컬러 필터(CF2)는 녹색 컬러 필터일 수 있으며, 제3 컬러 필터(CF3)는 청색 컬러 필터일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 제1 컬러 필터(CF1)는 제1 서브 화소(SPXL1)의 적어도 발광 영역(EMA)에서 제1 색 변환층(CCL1)과 대응하도록 캡핑층(CPL)의 일면 상에 제공될 수 있다. 제2 컬러 필터(CF2)는, 제2 서브 화소(SPXL2)의 적어도 발광 영역(EMA)에서 제2 색 변환층(CCL2)과 대응하도록 캡핑층(CPL)의 일면 상에 제공될 수 있다. 제3 컬러 필터(CF3)는, 제3 서브 화소(SPXL3)의 적어도 발광 영역(EMA)에서 제3 색 변환층(CCL3)과 대응하도록 캡핑층(CPL)의 일면 상에 제공될 수 있다.
컬러 필터층(CFL) 상에는 인캡층(ENC)이 제공 및/또는 형성될 수 있다.
인캡층(ENC)은 제4 절연층(INS4)을 포함할 수 있다. 제4 절연층(INS4)은 무기 재료를 포함한 무기 절연막 또는 유기 재료를 포함한 유기 절연막일 수 있다. 제4 절연층(INS4)은 그 하부에 위치한 구성들을 전체적으로 커버하여 외부로부터 수분 또는 습기 등이 컬러 필터층(CFL) 및 표시 소자층(DPL)으로 유입되는 것을 차단할 수 있다.
상술한 실시예에 따른 제1 서브 화소(SPXL1)는 발광 소자(LD1 ~ LD5) 상에 제1 색 변환층(CCL1) 및 제1 컬러 필터(CF1)를 연속적인 공정을 통해 배치하여 상기 제1 색 변환층(CCL1) 및 상기 제1 컬러 필터(CF1)를 통해 우수한 색 재현성을 갖는 광을 출사함으로써 출광 효율이 향상될 수 있다.
실시예에서, 제4 절연층(INS4)은 다중 층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 제4 절연층(INS4)은, 적어도 두 층의 무기 절연막들과, 상기 적어도 두 층의 무기 절연막들의 사이에 개재된 적어도 한 층의 유기 절연막을 포함할 수 있다. 다만, 제4 절연층(INS4)의 구성 물질 및/또는 구조는 다양하게 변경될 수 있을 것이다. 또한, 실시예에 따라서는, 제4 절연층(INS4)의 상부에 적어도 한 층의 오버 코트층, 충진재층 및/또는 상부 기판 등이 더 배치될 수도 있다.
상술한 실시예에서는, 제1 광학층(LCL1)을 구성하는 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)가 제1 전극(PE1), 제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4), 제2 전극(PE2) 상에서 연속적인 공정으로 형성되는 실시예를 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 도 17에 도시된 바와 같이, 제1 색 변환층(CCL1)을 포함한 표시 소자층(DPL) 상부에 제1 컬러 필터(CF1)를 포함한 상부 기판(U_SUB)이 배치되어 중간층(CTL) 등을 통하여 상기 표시 소자층(DPL)과 상부 기판(U_SUB)이 서로 결합할 수도 있다.
상기 중간층(CTL)은 제1 색 변환층(CCL1)을 포함한 표시 소자층(DPL)과 제1 컬러 필터(CF1)를 포함한 상부 기판(U_SUB) 사이의 접착력을 강화하기 위한 투명한 점착층(또는 접착층), 일 예로, 광학용 투명 접착층(Otically Clear Adhesive)일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 중간층(CTL)은 발광 소자들(LD1, LD2, LD3, LD4, LD5)에서 방출되어 상부 기판(U_SUB)으로 진행하는 광의 굴절률을 변환하여 제1 서브 화소(SPXL1)(또는 화소(PXL))의 발광 휘도를 향상시키기 위한 굴절률 변환층일 수도 있다. 실시예에 따라, 중간층(CTL)은 절연성 및 접착성을 갖는 절연 물질로 구성된 충진재를 포함할 수도 있다.
도 17의 실시예에서, 상기 상부 기판(U_SUB)은, 표시 장치의 봉지 기판, 윈도우 부재, 및/또는 오버 코트층 등을 구성할 수 있다. 상부 기판(U_SUB)은 베이스층(BSL)(또는 베이스 기판), 컬러 필터층(CFL), 및 캡핑층(CPL)을 포함할 수 있다.
베이스층(BSL)은 경성 기판 또는 가요성 기판일 수 있으며, 그 재료나 물성이 특별히 한정되지는 않는다. 베이스층(BSL)은 기판(SUB)과 동일한 물질로 구성되거나, 또는 기판(SUB)과 상이한 물질로 구성될 수도 있다.
컬러 필터층(CFL)은 표시 소자층(DPL)과 마주보도록 베이스층(BSL)의 일면 상에 배치될 수 있다. 제1 컬러 필터(CF1)는 제1 색 변환층(CCL1)과 마주보도록 베이스층(BSL)의 일면 상에 배치될 수 있다.
컬러 필터층(CFL)과 중간층(CTL) 사이에 캡핑층(CPL)이 배치될 수 있다.
캡핑층(CPL)은 컬러 필터층(CFL) 상에 위치하여 상기 컬러 필터층(CFL)을 커버함으로써 상기 컬러 필터층(CFL)을 보호할 수 있다. 캡핑층(CPL)은 무기 재료를 포함한 무기막 또는 유기 재료를 포함한 유기막일 수 있다.
상술한 실시예에서는, 제1 광학층(LCL1)을 구성하는 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)가 서로 상이한 기판에 배치되어 중간층(CTL)을 사이에 두고 서로 마주보는 실시예를 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제1 색 변환층(CCL1)과 제1 컬러 필터(CF1)가 도 18에 도시된 바와 같이 별도의 기판, 일 예로, 상부 기판(U_SUB) 상에 연속적인 공정으로 형성되어 중간층(CTL) 등을 통해 제1 전극(PE1), 제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극들(CTE1, CTE2, CTE3, CTE4), 및 제2 전극(PE2)을 포함한 표시 소자층(DPL)과 결합할 수도 있다.
도 18의 실시예에서, 상부 기판(U_SUB)은 베이스층(BSL), 컬러 필터층(CFL), 제1 캡핑층(CPL1), 제2 뱅크(BNK2), 제1 색 변환층(CCL1), 및 제2 캡핑층(CPL2)을 포함할 수 있다.
컬러 필터층(CFL)과 제1 색 변환층(CCL1)은 표시 소자층(DPL)과 마주보도록 베이스층(BSL)의 일면 상에 배치될 수 있다. 컬러 필터층(CFL)의 제1 컬러 필터(CF1)는 발광 영역(EMA)에서 제1 색 변환층(CCL1)과 대응하도록 베이스층(BSL)의 일면 상에 제공될 수 있다. 컬러 필터층(CFL)의 제1, 제2, 및 제3 컬러 필터들(CF1, CF2, CF3)은 비발광 영역(NEA)에서 서로 중첩하도록 배치되어 차광 부재로 활용될 수 있다.
컬러 필터층(CFL)과 제1 색 변환층(CCL1) 사이에는 제1 캡핑층(CPL1)이 배치될 수 있다.
제1 캡핑층(CPL1)은 컬러 필터층(CFL) 상에 위치하여 상기 컬러 필터층(CFL)을 커버함으로써 상기 컬러 필터층(CFL)을 보호할 수 있다. 제1 캡핑층(CPL1)은 무기 재료를 포함한 무기막 또는 유기 재료를 포함한 유기막일 수 있다.
제1 캡핑층(CPL1)의 일면 상에는 제2 뱅크(BNK2)와 제1 색 변환층(CCL1)이 위치할 수 있다.
제2 뱅크(BNK2)는 제1 서브 화소(SPXL1)의 발광 영역(EMA)을 최종적으로 정의하는 댐 구조물일 수 있다. 제2 뱅크(BNK2)는 제1 색 변환층(CCL1)을 공급하는 단계에서 상기 제1 색 변환층(CCL1)이 공급되어야 할 발광 영역(EMA)을 최종적으로 정의하는 댐 구조물일 수 있다.
제2 뱅크(BNK2)와 제1 색 변환층(CCL1) 상에 제2 캡핑층(CPL2)이 전면적으로 배치될 수 있다.
제2 캡핑층(CPL2)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 알루미늄 산화물(AlOx) 중 적어도 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 실시예에 따라, 제2 캡핑층(CPL2)은 유기 재료를 포함한 유기막으로 구성될 수도 있다. 제2 캡핑층(CPL2)은 제1 색 변환층(CCL1) 상에 위치하여 외부의 수분 및 습기 등으로부터 제1 색 변환층(CCL1)을 보호하여 제1 색 변환층(CCL1)의 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
상술한 상부 기판(U_SUB)은 중간층(CTL)을 이용하여 표시 소자층(DPL)과 결합할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정해져야만 할 것이다.
PXL: 화소
SPXL1 ~ SPXL3: 제1 내지 제3 서브 화소
ALE1, ALE2: 제1 및 제2 정렬 전극
BRP1, BRP2, BRP3: 제1, 제2, 및 제3 브릿지 패턴
CNL1, CNL2: 제1 및 제2 연결 배선
LD1, LD2, LD3, LD4, LD5: 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 발광 소자
SET1, SET2, SET3, SET4, SET5: 제1, 제2, 제3, 제4, 및 제5 직렬단
PE1, PE2: 제1 및 제2 전극
CTE1, CTE2, CTE3, CTE4: 제1, 제2, 제3, 및 제4 중간 전극
VIH1, VIH2, VIH3: 제1 내지 제3 비아홀
BNK1, BNK2: 제1 및 제2 뱅크
EMA: 발광 영역
NEA: 비발광 영역

Claims (20)

  1. 제1 방향을 따라 배열되고, 발광 영역과 비발광 영역을 각각 포함하는 제1 서브 화소, 제2 서브 화소, 및 제3 서브 화소를 포함하고,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은,
    상기 제1 방향으로 연장된 제1 정렬 전극;
    상기 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 상기 제1 정렬 전극과 이격되게 배치되는 제2 정렬 전극;
    상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 배치되는 발광 소자; 및
    상기 발광 소자와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 방향으로 서로 이격된 제1 전극과 제2 전극을 포함하고,
    상기 발광 소자는 상기 제2 방향으로 서로 마주보는 제1 단부와 제2 단부를 구비하고,
    상기 제1 전극은 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 중첩하고, 상기 제2 전극은 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 중첩하는, 화소.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제1 전극은 상기 제1 방향으로 인접한 서브 화소의 상기 제1 전극과 이격되게 배치되고,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제2 전극은 상기 제1 방향으로 인접한 서브 화소의 상기 제2 전극과 연결되는, 화소.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 서브 화소의 상기 제2 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 전극은 일체로 제공되는, 화소.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 비발광 영역에 위치하고, 상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 영역에 대응하는 제1 개구 및 상기 제1 개구와 이격된 제2 개구를 포함한 제1 뱅크;
    상기 제1 서브 화소의 상기 비발광 영역에서 상기 제2 방향으로 연장되고, 상기 제1 정렬 전극과 연결된 제1 연결 배선; 및
    상기 제3 서브 화소의 상기 비발광 영역에서 상기 제2 방향으로 연장되고, 상기 제2 정렬 전극과 연결된 제2 연결 배선을 더 포함하는, 화소.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제1 정렬 전극은 서로 연결되고,
    상기 제1 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극, 및 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 정렬 전극은 서로 연결되는, 화소.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 제1 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제1 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제1 브릿지 패턴;
    상기 제2 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제2 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제2 브릿지 패턴; 및
    상기 제3 서브 화소의 상기 비발광 영역에 위치하며, 상기 제3 서브 화소의 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 제3 브릿지 패턴을 더 포함하고,
    상기 제1 브릿지 패턴, 상기 제2 브릿지 패턴, 및 상기 제3 브릿지 패턴은 서로 이격되게 배치되는, 화소.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제3 브릿지 패턴은 상기 제2 연결 배선과 일체로 제공되는, 화소.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 전극, 상기 제2 정렬 전극, 상기 제1 브릿지 패턴, 상기 제2 브릿지 패턴, 상기 제3 브릿지 패턴, 상기 제1 연결 배선, 및 상기 제2 연결 배선은 동일 층에 제공되며, 동일한 물질을 포함하는, 화소.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은,
    기판;
    상기 기판 상에 위치하며 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 전기적으로 연결된 스토리지 커패시터;
    상기 기판 상에 위치하며 상기 스토리지 커패시터와 전기적으로 연결된 적어도 하나의 트랜지스터;
    상기 기판 상에 위치하고 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되며 데이터 신호를 공급받는 데이터 라인;
    상기 기판 상에 위치하고 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되며 제1 구동 전원의 전압을 공급받는 제1 전원 배선;
    상기 기판 상에 위치하고 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 전기적으로 연결되며 제2 구동 전원의 전압을 공급받는 제2 전원 배선; 및
    상기 트랜지스터, 상기 제1 전원 배선, 및 상기 제2 전원 배선 상에 위치하며 상기 스토리지 커패시터의 일부, 상기 제1 전원 배선의 일부, 및 상기 제2 전원 배선의 일부를 각각 노출하는 패시베이션층을 더 포함하고,
    상기 데이터 라인은 상기 제1 및 제2 정렬 전극들의 연장 방향에 수직인 방향으로 연장되는, 화소.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제1 브릿지 패턴과 전기적으로 연결되고,
    상기 제2 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제2 브릿지 패턴과 전기적으로 연결되며,
    상기 제3 서브 화소에서 노출된 상기 제2 전원 배선은 상기 제3 브릿지 패턴과 전기적으로 연결되는, 화소.
  11. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 전극은, 각각이 상기 제1 방향으로 연장되고 상기 제2 방향으로 이격되게 배치된 제1-1 정렬 전극, 제1-2 정렬 전극, 제1-3 정렬 전극, 제1-4 정렬 전극, 및 제1-5 정렬 전극을 포함하고,
    상기 제2 정렬 전극은, 각각이 상기 제1 방향으로 연장되고 상기 제2 방향으로 이격되게 배치된 제2-1 정렬 전극, 제2-2 정렬 전극, 제2-3 정렬 전극, 제2-4 정렬 전극, 및 제2-5 정렬 전극을 포함하며,
    상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극은 상기 제2 방향을 따라 교번하여 배치되는, 화소.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 제1 전극은 상기 제2-1 정렬 전극과 중첩하고, 해당 서브 화소의 상기 제2 전극은 상기 제1-5 정렬 전극과 중첩하는, 화소.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은,
    상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제1 및 제2 전극들과 이격되게 배치되며, 상기 제1-1 정렬 전극 및 상기 제2-2 정렬 전극과 중첩하는 제1 중간 전극;
    상기 제1 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제1 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-2 정렬 전극 및 상기 제2-3 정렬 전극과 중첩하는 제2 중간 전극;
    상기 제2 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제2 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-3 정렬 전극 및 상기 제2-4 정렬 전극과 중첩하는 제3 중간 전극; 및
    상기 제3 중간 전극과 상기 제2 전극 사이에서 상기 제2 방향으로 상기 제3 중간 전극 및 상기 제2 전극과 이격되게 배치되며, 상기 제1-4 정렬 전극 및 상기 제2-5 정렬 전극과 중첩하는 제4 중간 전극을 더 포함하는, 화소.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 영역에서, 해당 서브 화소의 상기 제1 전극을 기준으로 상기 제2 방향을 따라 상기 제1 전극, 상기 제1 중간 전극, 상기 제2 중간 전극, 상기 제3 중간 전극, 상기 제4 중간 전극, 및 상기 제2 전극의 순으로 배열되는, 화소.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 제1 전극, 상기 제2 중간 전극, 및 상기 제4 중간 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함하고,
    상기 제2 전극, 상기 제1 중간 전극, 및 상기 제3 중간 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함하는, 화소.
  16. 제14 항에 있어서,
    상기 제1 전극, 상기 제1 중간 전극, 상기 제2 중간 전극, 상기 제3 중간 전극, 상기 제4 중간 전극, 및 상기 제2 전극은 서로 동일한 층에 제공되고 서로 동일한 물질을 포함하는, 화소.
  17. 제14 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각의 상기 발광 소자는,
    상기 제2-1 정렬 전극과 상기 제1-1 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제1 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제1 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제1 발광 소자;
    상기 제2-2 정렬 전극과 상기 제1-2 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제1 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제2 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제2 발광 소자;
    상기 제2-3 정렬 전극과 상기 제1-3 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제2 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제3 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제3 발광 소자;
    상기 제2-4 정렬 전극과 상기 제1-4 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제3 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제4 중간 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제4 발광 소자; 및
    상기 제2-5 정렬 전극과 상기 제1-5 정렬 전극 사이에 위치하며, 상기 제4 중간 전극에 전기적으로 연결된 제1 단부 및 상기 제2 전극에 전기적으로 연결된 제2 단부를 포함한 제5 발광 소자를 포함하는, 화소.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각은, 제1 반도체층, 활성층 및 제2 반도체층을 포함하고,
    상기 제1 반도체층은 n형 도펀트가 도핑된 n형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 반도체층은 p형 도펀트가 도핑된 p형 반도체층을 포함하며,
    상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각의 상기 제2 반도체층은 해당 발광 소자의 상기 제1 단부에 위치하고, 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 각각의 상기 제1 반도체층은 해당 발광 소자의 상기 제2 단부에 위치하는, 화소.
  19. 제17 항에 있어서,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은,
    상기 비발광 영역에서 상기 제1 뱅크 상에 위치하는 제2 뱅크;
    상기 발광 영역에서 상기 제1 내지 제5 발광 소자들 상부에 위치하고 상기 제1 내지 제5 발광 소자들에서 방출된 제1 색의 광을 제2 색의 광으로 변환하는 색 변환층; 및
    상기 색 변환층 상에 위치하며 상기 제2 색의 광을 선택적으로 투과하는 컬러 필터를 더 포함하는, 화소.
  20. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함한 기판; 및
    상기 표시 영역에 제공되며, 발광 영역과 비발광 영역을 각각 포함하며 제1 방향을 따라 배열되는 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들을 포함한 적어도 하나 이상의 화소를 포함하고,
    상기 제1, 제2, 및 제3 서브 화소들 각각은,
    상기 기판 상에 제공되며 적어도 하나 이상의 트랜지스터를 포함한 화소 회로층; 및
    상기 화소 회로층 상에 제공되며 상기 트랜지스터와 전기적으로 연결되는 발광 소자를 포함하는 표시 소자층을 포함하고,
    상기 표시 소자층은
    상기 제1 방향으로 연장된 제1 정렬 전극;
    상기 제1 방향으로 연장되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 상기 제1 정렬 전극과 이격되게 배치되는 제2 정렬 전극;
    상기 제1 정렬 전극과 상기 제2 정렬 전극 사이에 배치되는 발광 소자; 및
    상기 발광 소자와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 방향으로 서로 이격되게 배치된 제1 전극과 제2 전극을 포함하고,
    상기 발광 소자는 상기 제2 방향으로 서로 마주보는 제1 단부와 제2 단부를 구비하고,
    상기 제1 전극은 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 중첩하고 상기 발광 소자의 상기 제1 단부와 전기적으로 연결되며,
    상기 제2 전극은 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 중첩하고 상기 발광 소자의 상기 제2 단부와 전기적으로 연결되는, 표시 장치.
KR1020220031396A 2022-03-14 2022-03-14 화소 및 이를 포함한 표시 장치 KR20230134636A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220031396A KR20230134636A (ko) 2022-03-14 2022-03-14 화소 및 이를 포함한 표시 장치
PCT/KR2023/003372 WO2023177174A1 (ko) 2022-03-14 2023-03-13 화소 및 이를 포함한 표시 장치
US18/183,819 US20230290921A1 (en) 2022-03-14 2023-03-14 Pixel and display device including the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220031396A KR20230134636A (ko) 2022-03-14 2022-03-14 화소 및 이를 포함한 표시 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230134636A true KR20230134636A (ko) 2023-09-22

Family

ID=87931160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220031396A KR20230134636A (ko) 2022-03-14 2022-03-14 화소 및 이를 포함한 표시 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20230290921A1 (ko)
KR (1) KR20230134636A (ko)
WO (1) WO2023177174A1 (ko)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI490832B (zh) * 2010-12-16 2015-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 自發光顯示器及其製作方法
JP2014123583A (ja) * 2011-04-11 2014-07-03 Sharp Corp 発光装置、発光装置の製造方法、照明装置、バックライトおよび表示装置
KR102587215B1 (ko) * 2016-12-21 2023-10-12 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 이를 구비한 표시 장치
KR102657126B1 (ko) * 2018-07-20 2024-04-16 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 이를 구비한 표시 장치
KR20200118937A (ko) * 2019-04-08 2020-10-19 삼성디스플레이 주식회사 화소, 이를 구비한 표시 장치 및 그의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20230290921A1 (en) 2023-09-14
WO2023177174A1 (ko) 2023-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP4075502A1 (en) Pixel and display device including the same
KR20230023111A (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20230005033A (ko) 화소 및 이를 구비한 표시 장치
US20220158054A1 (en) Display device
KR20230087688A (ko) 화소, 이를 포함한 표시 장치, 및 그의 제조 방법
KR20230020627A (ko) 표시 장치
KR20230056859A (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20230134636A (ko) 화소 및 이를 포함한 표시 장치
KR20230146186A (ko) 화소 및 이를 포함한 표시 장치
CN220934085U (zh) 显示装置
KR20230145635A (ko) 화소 및 이를 포함한 표시 장치
KR20230126247A (ko) 화소 및 이를 포함한 표시 장치
US20220367433A1 (en) Display device and method of fabricating the same
US20240038956A1 (en) Pixel and display device including the same
KR20240002279A (ko) 표시 장치
US20240014351A1 (en) Display device and method of fabricating the same
EP4258353A1 (en) Pixel, display device having the same, and method of fabricating the display device
KR20230048215A (ko) 화소 및 이를 구비한 표시 장치
KR20240033728A (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20230117018A (ko) 표시 장치
KR20240000689A (ko) 표시 장치 및 그의 리페어 방법
KR20220091701A (ko) 표시 장치
KR20230016133A (ko) 표시 장치
KR20220166692A (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20230104411A (ko) 표시 장치 및 그의 제조 방법