KR20230064900A - Break out box - Google Patents

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KR20230064900A
KR20230064900A KR1020210150499A KR20210150499A KR20230064900A KR 20230064900 A KR20230064900 A KR 20230064900A KR 1020210150499 A KR1020210150499 A KR 1020210150499A KR 20210150499 A KR20210150499 A KR 20210150499A KR 20230064900 A KR20230064900 A KR 20230064900A
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Abstract

본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 복수의 제1 핀 각각에 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치, 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치, 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트, 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트, 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션, 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션, 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션을 포함한다. 본 발명에 의하면 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 점퍼 사용을 최소화하면서 스위치 조작만으로 간단하게 차동 모드 전류 측정을 할 수 있는 장점이 있다.The present invention relates to a breakout box, and relates to a first connector including a plurality of first pins, a second connector including a plurality of second pins corresponding to each of the plurality of first pins, and a plurality of first pins respectively. A plurality of first switches connected, a plurality of second switches connected to each of the plurality of second pins, a plurality of first test points formed between the first terminals of the plurality of first switches and the plurality of first pins, a plurality of A plurality of second test points formed between the first terminal of the second switch and the plurality of second pins, the first interconnection connecting the second terminals of the plurality of first switches to each other, the first test points of the plurality of first switches a second interconnection connecting three terminals to each other, a third interconnection connecting third terminals of the plurality of second switches to each other, and a fourth interconnection connecting the second terminals of the plurality of second switches to each other . According to the present invention, the test can be performed in the same way as the conventional breakout box, the insulation test can be performed without jumpers, and the differential mode current can be measured simply by operating a switch while minimizing the use of jumpers.

Description

브레이크 아웃 박스{Break out box}Break out box {Break out box}

본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 보다 자세하게는 절연(isolation) 측정, 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정 등을 쉽게 할 수 있는 브레이크 아웃 박스에 관한 것이다.The present invention relates to a breakout box, and more particularly, to a breakout box capable of easily measuring isolation and measuring differential mode current.

일반적으로 브레이크 아웃 박스(Break Out Box)(B0B)는 위성체의 조립이나 시험 등에 있어서 위성체를 이루고 있는 각 유닛들 사이의 전기적인 인터페이스(interface), 전기적인 신호의 확인 또는 고장 등을 탐구하기 위해서 사용된다. 예컨대, 브레이크 아웃 박스는 점검하고자 하는 유닛들의 사이에 연결되고, 브레이크 아웃 박스에 구비된 복수의 테스트 포인트를 이용하여 특정 테스트 포인트에 연결된 신호 라인의 연결 상태를 확인하거나, 해당 테스트 포인트에서의 신호 레벨이나 전압의 크기 등을 측정하는데 사용될 수 있다.In general, a Break Out Box (B0B) is used to explore electrical interfaces between units constituting satellites, electrical signal confirmation or failure, etc. in satellite assembly or testing. do. For example, the breakout box is connected between units to be inspected, and the connection state of a signal line connected to a specific test point is checked using a plurality of test points provided in the breakout box, or the signal level at the corresponding test point. It can be used to measure the magnitude of or voltage.

브레이크 아웃 박스를 검증하고자 하는 유닛(unit)들의 연결 하니스(harness) 사이에 삽입한 후 브레이크 아웃 박스에서 적절한 필요 작업을 수행할 수 있다. 예를 들어 브레이크 아웃 박스의 특정 포인트(point)들을 이용하여 특정 라인들의 연결도를 확인하거나 그 포인트에서의 전기적 신호 파형이나, 전압/전류/저항 값 등을 측정할 수 있다. 또한 디버깅 목적으로 특정 핀(pin)들의 스왑(swap) 및 인위적인 개방(연결선의 open)도 가능하다.After the breakout box is inserted between the connection harnesses of the units to be verified, the breakout box can perform the necessary tasks. For example, a connection diagram of specific lines can be checked using specific points of the breakout box, or electrical signal waveforms or voltage/current/resistance values at those points can be measured. In addition, swapping of specific pins and artificial opening (opening of connection lines) are possible for debugging purposes.

그런데 제작된 하니스, 브레이크 아웃 박스 등의 사용에 앞서 신호 선간 단락 여부 확인을 위해 절연 시험이 필수적으로 수반되어야 하는데 종래 브레이크 아웃 박스를 사용하는 경우 절연 시험을 위해서, 도 1에 예시한 것과 같이 테스트 포인트(test point) 간의 연결을 위한 점퍼(jumper)의 설치가 필요했다.However, an insulation test must be necessarily accompanied to check whether there is a short circuit between signal lines prior to using the manufactured harness, breakout box, etc. In case of using a conventional breakout box, for insulation test, as shown in FIG. It was necessary to install jumpers for connection between test points.

도 1은 종래 브레이크 아웃 박스에서 절연 시험을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.1 shows an example of using a jumper for an insulation test in a conventional breakout box.

도 1을 참고하면, 붉은 색으로 표시한 테스트 핀(1)과 나머지 모든 핀(2, 3, 4, 5)의 절연 측정을 원하는 경우, 나머지 모든 핀(2, 3, 4, 5)을 점퍼를 설치하여 연결해야 한다. 그런데 도 1에서는 5개의 핀만을 예시하였으나 핀의 개수가 증가할 수록 점퍼를 설치하는 것도 매우 번거롭고 어려운 것일 수 있다.Referring to Figure 1, if you want to measure the insulation of the test pin (1) marked in red and all the remaining pins (2, 3, 4, 5), all the remaining pins (2, 3, 4, 5) are jumper must be installed and connected. However, although only five pins are illustrated in FIG. 1 , as the number of pins increases, it may be very cumbersome and difficult to install jumpers.

도 2는 종래 브레이크 아웃 박스에서 차동 모드 전류 측정을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.2 shows an example of using a jumper for differential mode current measurement in a conventional breakout box.

한편 EMC 시험이나 전기 기능시험에서는 전원의 양극(Positive)과 음극(Negative) 각각에 흐르는 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정이 자주 수행된다. 커넥터의 여러 핀이 전원의 Positive와 Negative에 연결되어 있다면, 여러 핀에 흐르는 전류를 모두 측정해야 하므로, 도 2에 예시한 것과 같이 점퍼를 설치하고 모두 전류 프로브(Current Probe)로 연결해서 측정한다. 따라서 측정대상 커넥터의 핀배치에 따라 측정이 불가능하거나 매우 혼잡할 수 있다. 복잡성은 커넥터의 핀 증가에 따라서 기하급수적으로 증가한다. 최소한의 점퍼를 사용하거나 점퍼 없이 시험을 원하는 경우 측정 대상 커넥터의 핀 배치에 맞는 브레이크 아웃 박스를 제작해야 했다.On the other hand, in EMC tests or electrical function tests, measurement of differential mode current flowing through each of the positive and negative sides of the power supply is often performed. If several pins of the connector are connected to the positive and negative of the power supply, all currents flowing through the various pins must be measured. As shown in Figure 2, install jumpers and connect all of them with a current probe to measure. Therefore, measurement may be impossible or very crowded depending on the pin arrangement of the connector to be measured. Complexity increases exponentially with the number of pins in the connector. If you wanted to test with minimal jumpers or no jumpers, you had to build a breakout box that matched the pinout of the connector being measured.

본 발명에서 해결하고자 하는 기술적 과제는 절연(isolation) 측정, 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정 등을 쉽게 할 수 있는 브레이크 아웃 박스를 제공하는 것이다.A technical problem to be solved by the present invention is to provide a breakout box that can easily measure isolation and differential mode current.

상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀 각각에 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 상기 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치, 상기 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치, 상기 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트, 상기 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트, 상기 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션, 상기 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션, 상기 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및 상기 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션을 포함한다.A breakout box according to the present invention for solving the above technical problem is a first connector including a plurality of first pins, a second connector including a plurality of second pins corresponding to each of the plurality of first pins, A plurality of first switches connected to each of the plurality of first pins, a plurality of second switches connected to each of the plurality of second pins, between a first terminal of the plurality of first switches and the plurality of first pins a plurality of first test points formed between the plurality of second test points formed between the first terminals of the plurality of second switches and the plurality of second pins, and the second terminals of the plurality of first switches to each other. A first interconnection connecting the third terminals of the plurality of first switches to each other, a third interconnection connecting the third terminals of the plurality of second switches to each other, and the plurality of second interconnections connecting the third terminals of the plurality of second switches to each other. and a fourth interconnection connecting the second terminals of the two switches to each other.

상기 복수의 제1 스위치의 제4 단자와 상기 복수의 제2 스위치의 제4 단자는 서로 전기적으로 연결될 수 있다.Fourth terminals of the plurality of first switches and fourth terminals of the plurality of second switches may be electrically connected to each other.

상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는, SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치일 수 있다.The plurality of first switches and the plurality of second switches may be single pole quadruple through (SPQT) switches.

상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 전도성 배선으로 형성될 수 있다.The first interconnection, the second interconnection, the third interconnection, and the fourth interconnection may be formed of conductive wires.

상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자를 포함할 수 있다.The first interconnection, the second interconnection, the third interconnection, and the fourth interconnection may include jumper terminals for jumper connection.

상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 개방(open)되고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지는 나머지 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션 또는 상기 제2 인터커넥션을 통해 서로 연결될 수 있다.Among the plurality of first pins, an isolation test target pin is opened by the corresponding first switch, and the remaining pins of the plurality of first pins are connected to the first interconnection by the remaining first switches. Alternatively, they may be connected to each other through the second interconnection.

차동 모드 전류 측정 시, 상기 복수의 제1 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 복수의 제1 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제2 인터커넥션에 서로 연결되며, 상기 복수의 제2 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제4 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 복수의 제2 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제3 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 제1 인터커넥션과 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결되고, 상기 제2 인터커넥션과 상기 제3 인터커넥션은 점퍼 연결될 수 있다.When measuring the differential mode current, two or more of the plurality of first pins are connected to the first interconnection by a corresponding first switch, and another two or more of the plurality of first pins correspond to the corresponding first interconnection. connected to the second interconnection by a first switch, at least two of the plurality of second pins connected to each other by a corresponding second switch to the fourth interconnection, and to the plurality of second pins The other two or more of them are connected to the third interconnection by the corresponding second switch, the first interconnection and the fourth interconnection are connected by jumpers, and the second interconnection and the third interconnection are connected to each other. Connections can be jumpered.

본 발명에 의하면 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 점퍼 사용을 최소화하면서 스위치 조작만으로 간단하게 차동 모드 전류 측정을 할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, the test can be performed in the same way as the conventional breakout box, the insulation test can be performed without jumpers, and the differential mode current can be measured simply by operating a switch while minimizing the use of jumpers.

도 1은 종래 브레이크 아웃 박스에서 절연 시험을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
도 2는 종래 브레이크 아웃 박스에서 차동 모드 전류 측정을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제2 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 차동 모드 전류 측정 상태를 나타낸 것이다.1 shows an example of using a jumper for an insulation test in a conventional breakout box.
2 shows an example of using a jumper for differential mode current measurement in a conventional breakout box.
3 shows a state in which all pins of the breakout box according to an embodiment of the present invention are open.
4 shows a state in which all pins of the breakout box are short-circuited according to an embodiment of the present invention.
5 illustrates an insulation measurement state between pins of a first connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.
6 illustrates an insulation measurement state between pins of a second connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.
7 illustrates a differential mode current measurement state of a breakout box according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 이들 실시 예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이에 의하여 제한되지 않는다는 것은 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.Hereinafter, preferred embodiments in which a person skilled in the art can easily practice the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, these examples are intended to explain the present invention in more detail, and it will be apparent to those skilled in the art that the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안을 명확하게 하기 위한 발명의 구성을 본 발명의 바람직한 실시 예에 근거하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 도면의 구성요소들에 참조번호를 부여함에 있어서 동일 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 있더라도 동일 참조번호를 부여하였으며 당해 도면에 대한 설명시 필요한 경우 다른 도면의 구성요소를 인용할 수 있음을 미리 밝혀둔다. 아울러 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명 그리고 그 이외의 제반 사항이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.The composition of the present invention for clarifying the solution to the problem to be solved by the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings based on a preferred embodiment of the present invention, but the same reference numerals are assigned to the components of the drawings. For components, even if they are on other drawings, the same reference numerals have been assigned, and it is made clear in advance that components of other drawings can be cited if necessary in the description of the drawings. In addition, in the detailed description of the operating principle of the preferred embodiment of the present invention, if it is determined that the detailed description of known functions or configurations related to the present invention and other matters may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, A detailed description thereof is omitted.

덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자 외에 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.In addition, throughout the specification, when a part is 'connected' to another part, it is not only 'directly connected', but also 'indirectly connected' with another element in between. include In this specification, singular forms also include plural forms unless specifically stated otherwise in a phrase. As used herein, "comprises" or "comprising" excludes the presence or addition of one or more other components, steps, operations, or elements other than the recited components, steps, operations, or elements. I never do that.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.3 shows a state in which all pins of the breakout box according to an embodiment of the present invention are open.

도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(10), 복수의 제1 스위치(20), 복수의 제2 스위치(30), 제2 커넥터(40), 제1 내지 제5 인터커넥션(50, 60, 70, 80, 90), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3 , the breakout box according to the present invention includes a first connector 10, a plurality of first switches 20, a plurality of second switches 30, a second connector 40, and first to second switches. May include 5 interconnections (50, 60, 70, 80, 90) and multiple test points (1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5') .

설명의 편의를 위해 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(10, 40)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(20, 30), 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5') 및 제5 인터커넥션(90)의 개수는 달라질 수 있다.For convenience of description, a case in which each of the first connector 10 and the second connector 40 has 5 pins is illustrated, but the number of pins of each connector 10 and 40 may vary depending on the embodiment. Accordingly, the number of switches 20 and 30, test points 1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', and 5', and the fifth interconnection 90 may vary. there is.

제1 커넥터(10)는 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)을 포함할 수 있다.The first connector 10 may be connected to a harness connector (not shown) and may include a plurality of first pins 11, 12, 13, 14, and 15 that may be connected to each pin of the harness connector.

제2 커넥터(40)는 다른 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)을 포함할 수 있다.The second connector 40 may be connected to another harness connector (not shown) and may include a plurality of second pins 41, 42, 43, 44, and 45 that may be connected to each pin of the harness connector. .

복수의 제1 스위치(20)는 제1 커넥터(10)에 포함된 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)에 각각 연결되며, 그 사이에는 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5)가 형성될 수 있다.The plurality of first switches 20 are respectively connected to the plurality of first pins 11, 12, 13, 14, and 15 included in the first connector 10, and test points 1, 2, and 3 are connected therebetween. , 4, 5) can be formed.

복수의 제2 스위치(30)는 제2 커넥터(40)에 포함된 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)에 각각 연결되며, 그 사이에는 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')가 형성될 수 있다.The plurality of second switches 30 are respectively connected to the plurality of second pins 41, 42, 43, 44, and 45 included in the second connector 40, and test points 1' and 2' are connected therebetween. , 3', 4', 5') may be formed.

복수의 제1 스위치(20)는 4개의 단자(21, 22, 23, 24)를 구비할 수 있다. 복수의 제2 스위치(30)도 4개의 단자(31, 32, 33, 34)를 구비할 수 있다.The plurality of first switches 20 may include four terminals 21, 22, 23, and 24. The plurality of second switches 30 may also include four terminals 31, 32, 33, and 34.

복수의 제1 스위치(20)는 제1 단자(21)를 통해 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5)와 제1 커넥터(10)의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)에 연결될 수 있다.The plurality of first switches 20 connect the test points 1, 2, 3, 4, and 5 through the first terminal 21 and the first pins 11, 12, 13, 14, 15) can be connected.

복수의 제2 스위치(30)는 제2 단자(31)를 통해 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')와 제2 커넥터(40)의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)에 연결될 수 있다.The plurality of second switches 30 connect the test points 1', 2', 3', 4', and 5' through the second terminal 31 and the second pins 41 and 42 of the second connector 40. , 43, 44, 45).

제1 인터커넥션(50)은 복수의 제1 스위치(20)의 제2 단자(22)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다. The first interconnection 50 may electrically connect the second terminals 22 of the plurality of first switches 20 to each other.

제2 인터커넥션(60)은 복수의 제1 스위치(20)의 제3 단자(23)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.The second interconnection 60 may electrically connect the third terminals 23 of the plurality of first switches 20 to each other.

제3 인터커넥션(70)은 복수의 제2 스위치(30)의 제3 단자(33)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다. The third interconnection 70 may electrically connect the third terminals 33 of the plurality of second switches 30 to each other.

제4 인터커넥션(80)은 복수의 제2 스위치(30)의 제2 단자(32)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.The fourth interconnection 80 may electrically connect the second terminals 32 of the plurality of second switches 30 to each other.

제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80)은 다른 인터커넥션과 전기적 연결을 위한, 즉 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자(51, 61, 71, 81)를 포함할 수 있다.The first to fourth interconnections 50, 60, 70, and 80 may include jumper terminals 51, 61, 71, and 81 for electrical connection with other interconnections, that is, for jumper connection.

한편 실시예에 따라 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)가 제4 단자(24, 34)를 하나로 형성하여 공유하는 경우, 제5 인터커넥션(90)은 생략될 수 있다.Meanwhile, when the first switch 20 and the second switch 30 share the fourth terminals 24 and 34 as one, the fifth interconnection 90 may be omitted.

복수의 제1 스위치(20)는 자신에 대응하는 제1 커넥터(10)의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)을 개방시키거나 제2 내지 제4 단자(22, 23, 24)에 선택적으로 연결시킬 수 있다. 이를 위해 복수의 제1 스위치(20)는 SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치로 구현할 수 있다.The plurality of first switches 20 open the first pins 11, 12, 13, 14, and 15 of the first connector 10 corresponding thereto or open the second to fourth terminals 22, 23, and 24 ) can optionally be linked to. To this end, the plurality of first switches 20 may be implemented as single pole quadruple through (SPQT) switches.

복수의 제2 스위치(30)는 자신에 대응하는 제2 커넥터(40)의 제2 핀(21, 22, 23, 24, 25)을 개방시키거나 제2 내지 제4 단자(32, 33, 34)에 선택적으로 연결시킬 수 있다. 이를 위해 복수의 제2 스위치(30)는 SPQT 스위치로 구현할 수 있다.The plurality of second switches 30 open the second pins 21, 22, 23, 24, and 25 of the second connector 40 corresponding thereto or open the second to fourth terminals 32, 33, and 34 ) can optionally be linked to. To this end, the plurality of second switches 30 can be implemented as SPQT switches.

사용자는 복수의 제1 스위치(20) 및 복수의 제2 스위치(30)를 조작하여 도 3에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다.The user manipulates the plurality of first switches 20 and the plurality of second switches 30 to open all pins of the first connector 10 and the second connector 40 as illustrated in FIG. 3 . can make it

한편 사용자는 복수의 제1 스위치(20) 및 복수의 제2 스위치(30)를 조작하여 도 4에 예시한 것과 같이 제1 단자(21, 31)와 제4 단자(24, 34)를 연결시켜서 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 모든 핀이 단락(short)되게 할 수도 있다.Meanwhile, the user manipulates the plurality of first switches 20 and the plurality of second switches 30 to connect the first terminals 21 and 31 and the fourth terminals 24 and 34 as illustrated in FIG. All pins of the first connector 10 and the second connector 40 may be shorted.

한편 사용자는 복수의 제1 스위치(20)를 조작하여 제1 커넥터(10)의 각 핀에 대한 절연(isolation) 시험을 할 수도 있다.Meanwhile, the user may perform an isolation test on each pin of the first connector 10 by manipulating the plurality of first switches 20 .

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.5 illustrates an insulation measurement state between pins of a first connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.

도 5는 제1 테스트 포인트(1)에 연결된 제1 핀(11)이 절연 시험 대상 핀인 경우를 나타낸 것이다. 이 경우 테스트 포인트(1)에 연결된 제1 핀(11)은 제1 스위치(20)에 의해 개방되고, 테스트 포인트(2, 3, 4, 5)에 연결된 나머지 제1 핀(12, 13, 14, 15)들은 각각 대응하는 제1 스위치(20)에 의해서 제1 인터커넥션(50)에 연결되어 전기적으로 서로 연결될 수 있다.5 illustrates a case where the first pin 11 connected to the first test point 1 is an insulation test target pin. In this case, the first pin 11 connected to the test point 1 is opened by the first switch 20, and the remaining first pins 12, 13, and 14 connected to the test points 2, 3, 4, and 5 , 15) may be electrically connected to each other by being connected to the first interconnection 50 by the corresponding first switch 20 .

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제2 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.6 illustrates an insulation measurement state between pins of a second connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.

도 6은 테스트 포인트(2')에 연결된 제2 핀(42)이 절연 시험 대상 핀인 경우를 나타낸 것이다. 이 경우 테스트 포인트(2')에 연결된 제2 핀(42)은 제2 스위치(30)에 의해 개방되고, 테스트 포인트(1', 3', 4', 5')에 연결된 나머지 제2 핀(41, 43, 44, 45)들은 각각 대응하는 제2 스위치(30)에 의해서 제3 인터커넥션(70)에 연결되어 전기적으로 서로 연결될 수 있다.6 shows a case where the second pin 42 connected to the test point 2' is an insulation test target pin. In this case, the second pin 42 connected to the test point 2 'is opened by the second switch 30, and the remaining second pins connected to the test points 1', 3', 4', and 5' ( 41, 43, 44, and 45 may be electrically connected to each other by being connected to the third interconnection 70 by the corresponding second switch 30, respectively.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 차동 모드 전류 측정 상태를 나타낸 것이다.7 illustrates a differential mode current measurement state of a breakout box according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참고하면, 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15) 중 테스트 포인트(1, 3)에 연결된 2개의 제1 핀(11, 13)은 제1 스위치(20)에 의해서 제1 인터커넥션(50)에 연결될 수 있다. 그리고 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45) 중 테스트 포인트(1', 3')에 연결된 2개의 제2 핀(41, 43)은 제2 스위치(30)에 의해서 제4 인터커넥션(80)에 연결될 수 있다. 그리고 제1 인터커넥션(50)과 제4 인터커넥션(80)은 각각 점퍼 단자(51, 81)를 통해 서로 전기적으로 점퍼 연결될 수 있다.Referring to FIG. 7 , among the plurality of first pins 11, 12, 13, 14, and 15, the two first pins 11 and 13 connected to the test points 1 and 3 are connected to the first switch 20. It can be connected to the first interconnection 50 by Among the plurality of second pins 41, 42, 43, 44, and 45, the two second pins 41 and 43 connected to the test points 1' and 3' are connected to the fourth by the second switch 30. It may be connected to the interconnection 80. Also, the first interconnection 50 and the fourth interconnection 80 may be electrically jumper-connected to each other through jumper terminals 51 and 81 , respectively.

한편 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15) 중 테스트 포인트(2, 5)에 연결된 2개의 제1 핀(12, 15)은 제1 스위치(20)에 의해서 제2 인터커넥션(60)에 연결될 수 있다. 그리고 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45) 중 테스트 포인트(2', 5')에 연결된 2개의 제2 핀(42, 45)은 제2 스위치(30)에 의해서 제3 인터커넥션(70)에 연결될 수 있다. 그리고 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)은 각각 점퍼 단자(61, 71)를 통해 서로 전기적으로 점퍼 연결될 수 있다.Meanwhile, among the plurality of first pins 11, 12, 13, 14, and 15, the two first pins 12 and 15 connected to the test points 2 and 5 form a second interconnection by the first switch 20. (60) can be connected. Among the plurality of second pins 41, 42, 43, 44, and 45, the two second pins 42 and 45 connected to the test points 2' and 5' are connected to the third by the second switch 30. It may be connected to the interconnection 70. Also, the second interconnection 60 and the third interconnection 70 may be electrically jumper-connected to each other through jumper terminals 61 and 71 , respectively.

그리고 차동 모드 전류 측정 대상이 아닌 테스트 포인트(4, 4')에 연결된 제1 핀(14)과 제2 핀(44)은 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)에 의해 개방되거나 단락될 수 있다.In addition, the first pin 14 and the second pin 44 connected to the test points 4 and 4', which are not subject to differential mode current measurement, are opened or shorted by the first switch 20 and the second switch 30. It can be.

따라서 제1 인터커넥션(50)과 제4 인터커넥션(80)을 연결하기 위한 점퍼와 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)을 연결하기 위한 점퍼, 총 2개의 점퍼만 사용하여 차동 모드 전류 측정을 할 수 있다. 그리고 핀간 연결은 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)의 간단한 조작만으로 가능하다.Therefore, using only two jumpers, a jumper for connecting the first interconnection 50 and the fourth interconnection 80 and a jumper for connecting the second interconnection 60 and the third interconnection 70, Differential mode current measurements can be made. Further, connection between pins is possible only by simple manipulation of the first switch 20 and the second switch 30 .

한편 도 7에서는 2개의 핀을 묶어서 차동 모드 전류 측정을 한 예를 나타내었으나, 2개 이상의 핀을 묶어서 차동 모드 전류 측정을 하는 것도 가능하다. 예를 들어 앞서 도 7의 실시예에서 차동 모드 전류 측정 대상이 아니었던 제1 핀(14)을 제1 핀(12, 15)과 묶고, 제2 핀(44)을 제2 핀(42, 45)과 묶어서 차동 모드 전류 측정을 하는 것도 가능하다. 이 경우 제1 핀(14)과 제2 핀(44)은 제1 스위치(20) 및 제2 스위치(30)에 의해서 각각 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)에 연결될 수 있다.Meanwhile, although FIG. 7 shows an example of measuring differential mode current by tying two pins, it is also possible to measure differential mode current by tying two or more pins. For example, in the embodiment of FIG. 7 , the first pin 14, which was not a target for differential mode current measurement, is tied to the first pins 12 and 15, and the second pin 44 is connected to the second pins 42 and 45. ), it is also possible to make differential mode current measurements. In this case, the first pin 14 and the second pin 44 may be connected to the second interconnection 60 and the third interconnection 70 by the first switch 20 and the second switch 30, respectively. there is.

지금까지 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)에 각각 5개의 핀이 있는 경우를 예를 들어 설명하였으나, 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 핀의 개수는 수십 개 이상, 수백 개 이상일 수도 있다. 그리고 각 커넥터(10, 40)의 핀들을 복수의 그룹으로 나누어, 특정 그룹의 핀들은 개방되게 하고, 다른 그룹의 핀들은 단락되게 하고, 또 다른 그룹의 핀은 제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80)을 통해 서로 연결되게 할 수도 있다. 그리고 필요한 경우 제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80) 사이도 점퍼를 통해 서로 연결시킬 수도 있다.So far, the case where the first connector 10 and the second connector 40 each have five pins has been described as an example, but the number of pins of the first connector 10 and the second connector 40 is several tens. It could be hundreds or more. In addition, the pins of each connector 10, 40 are divided into a plurality of groups, pins of a specific group are open, pins of another group are shorted, and pins of another group are connected to the first to fourth interconnections (50). , 60, 70, 80) may be connected to each other. Also, if necessary, the first to fourth interconnections 50, 60, 70, and 80 may be connected to each other through jumpers.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also made according to the present invention. falls within the scope of the rights of

Claims (6)

복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터,
복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터,
상기 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치,
상기 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치,
상기 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트,
상기 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트,
상기 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션,
상기 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션,
상기 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및
상기 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션
을 포함하고,
상기 복수의 제1 스위치의 제4 단자와 상기 복수의 제2 스위치의 제4 단자는 서로 전기적으로 연결되어 있는 브레이크 아웃 박스.
A first connector including a plurality of first pins;
A second connector including a plurality of second pins;
A plurality of first switches connected to each of the plurality of first pins;
A plurality of second switches connected to each of the plurality of second pins;
a plurality of first test points formed between first terminals of the plurality of first switches and the plurality of first pins;
a plurality of second test points formed between the first terminals of the plurality of second switches and the plurality of second pins;
a first interconnection connecting second terminals of the plurality of first switches to each other;
a second interconnection connecting third terminals of the plurality of first switches to each other;
a third interconnection connecting third terminals of the plurality of second switches to each other; and
A fourth interconnection connecting second terminals of the plurality of second switches to each other
including,
The breakout box of claim 1 , wherein fourth terminals of the plurality of first switches and fourth terminals of the plurality of second switches are electrically connected to each other.
 제 1 항에서,
상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는,
SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치인 브레이크 아웃 박스.
In claim 1,
The plurality of first switches and the plurality of second switches,
Breakout box that is a Single Pole Quadruple Through (SPQT) switch.
 제 2 항에서,
상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 전도성 배선으로 형성되는 브레이크 아웃 박스.
In paragraph 2,
The first interconnection, the second interconnection, the third interconnection, and the fourth interconnection are formed of conductive wires.
 제 3 항에서,
상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자를 포함하는 브레이크 아웃 박스.
In paragraph 3,
The first interconnection, the second interconnection, the third interconnection, and the fourth interconnection include jumper terminals for jumper connection.
 제 4 항에서,
상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 개방(open)되고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지는 나머지 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션 또는 상기 제2 인터커넥션을 통해 서로 연결되는 브레이크 아웃 박스.
In paragraph 4,
Among the plurality of first pins, an isolation test target pin is opened by the corresponding first switch, and the remaining pins of the plurality of first pins are connected to the first interconnection by the remaining first switches. or a breakout box connected to each other through the second interconnection.
 제 4 항에서,
차동 모드 전류 측정 시,
상기 복수의 제1 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션에 서로 연결되고,
상기 복수의 제1 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제2 인터커넥션에 서로 연결되며,
상기 복수의 제2 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제4 인터커넥션에 서로 연결되고,
상기 복수의 제2 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제3 인터커넥션에 서로 연결되며,
상기 제1 인터커넥션과 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결되고,
상기 제2 인터커넥션과 상기 제3 인터커넥션은 점퍼 연결되는 브레이크 아웃 박스.In paragraph 4,
When measuring differential mode current,
At least two of the plurality of first pins are connected to each other to the first interconnection by a corresponding first switch;
Another two or more of the plurality of first pins are connected to each other to the second interconnection by the corresponding first switch;
At least two of the plurality of second pins are connected to each other to the fourth interconnection by a corresponding second switch;
Another two or more of the plurality of second pins are connected to each other to the third interconnection by the corresponding second switch;
The first interconnection and the fourth interconnection are connected by jumpers;
The second interconnection and the third interconnection are connected by jumpers.
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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01220539A (en) * 1988-02-26 1989-09-04 Fujitsu Ltd Line connection switching device
KR19980073744A (en) * 1997-03-19 1998-11-05 임경춘 Interface device for signal analysis of automobile
US20100164522A1 (en) * 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR101040472B1 (en) * 2009-12-10 2011-06-09 한전케이피에스 주식회사 Terminal joint box for test of multi power supply
KR20120058045A (en) * 2010-11-29 2012-06-07 주식회사 케피코 Multi Break-out Box
US20170110873A1 (en) * 2015-10-14 2017-04-20 Solaredge Technologies Ltd. Fault Detection System and Circuits
US20170117877A1 (en) * 2015-10-27 2017-04-27 Analog Devices, Inc. Mismatch calibration of capacitive differential isolator
KR101743027B1 (en) * 2015-07-23 2017-06-02 한국항공우주연구원 Break Out Box
US20200090563A1 (en) * 2018-09-14 2020-03-19 Novatek Microelectronics Corp. Source driver
KR102252063B1 (en) * 2019-12-10 2021-05-14 한국항공우주연구원 Electromagnetic wave test device for power supply unit
KR20220072262A (en) * 2020-11-25 2022-06-02 한국항공우주연구원 Break out box

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01220539A (en) * 1988-02-26 1989-09-04 Fujitsu Ltd Line connection switching device
KR19980073744A (en) * 1997-03-19 1998-11-05 임경춘 Interface device for signal analysis of automobile
US20100164522A1 (en) * 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR101040472B1 (en) * 2009-12-10 2011-06-09 한전케이피에스 주식회사 Terminal joint box for test of multi power supply
KR20120058045A (en) * 2010-11-29 2012-06-07 주식회사 케피코 Multi Break-out Box
KR101743027B1 (en) * 2015-07-23 2017-06-02 한국항공우주연구원 Break Out Box
US20170110873A1 (en) * 2015-10-14 2017-04-20 Solaredge Technologies Ltd. Fault Detection System and Circuits
US20170117877A1 (en) * 2015-10-27 2017-04-27 Analog Devices, Inc. Mismatch calibration of capacitive differential isolator
US20200090563A1 (en) * 2018-09-14 2020-03-19 Novatek Microelectronics Corp. Source driver
KR102252063B1 (en) * 2019-12-10 2021-05-14 한국항공우주연구원 Electromagnetic wave test device for power supply unit
KR20220072262A (en) * 2020-11-25 2022-06-02 한국항공우주연구원 Break out box

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