KR20220169687A - Laminated structure for metal bonding and method for metal bonding - Google Patents

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Abstract

The present invention provides a laminated structure for metal bonding and a metal bonding method capable of increasing bonding strength by suppressing formation of an oxide film through a bonding metal stack including a reactive metal layer and an oxidation-preventing metal layer. According to an embodiment of the present invention, a laminated structure for metal bonding comprises: a first bonding metal laminate provided on any one of objects to be bonded; a second bonding metal laminate provided on the other one of the objects to be bonded; and a solder metal unit provided between the first bonding metal laminate and the second bonding metal laminate and containing tin (Sn).

Description

금속 접합용 적층 구조체 및 금속 접합 방법{Laminated structure for metal bonding and method for metal bonding}Laminated structure for metal bonding and method for metal bonding}

본 발명은 금속 접합용 적층 구조체 및 금속 접합 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 복수의 금속층을 적층한 금속 접합용 적층 구조체 및 금속 접합 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a laminated structure for metal bonding and a metal bonding method, and more particularly, to a laminated structure for metal bonding and a metal bonding method in which a plurality of metal layers are laminated.

금속 접합은 전기 또는 열 전달의 목적으로 두 개의 대상물을 접합하는 공정이다. 이러한 금속 접합은 플립칩 본딩, 레이저 다이오드 칩 본딩, 고출력 발광 다이오드 칩 본딩, 고출력 전자 소자 칩 본딩 등 동작 시 고열이 발생되는 소자의 방열을 위한 패키징에 본딩하는 공정에 사용된다. 추가로, 금속 접합은 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC) 등의 칩 캐패시터, 칩 다이오드, 칩 저항 등 다양한 부품의 전기적 결선을 위한 솔더 본딩에도 사용된다.Metal bonding is the process of joining two objects for the purpose of electrical or thermal transfer. Such metal bonding is used in a bonding process for heat dissipation of a device generating high heat during operation, such as flip chip bonding, laser diode chip bonding, high power light emitting diode chip bonding, and high power electronic device chip bonding. In addition, metal bonding is also used for solder bonding for electrical connection of various components such as chip capacitors such as multi-layer ceramic condensers (MLCCs), chip diodes, and chip resistors.

금속 접합에 사용되는 솔더 금속으로는 주석(Sn)과 납(Pb)이 있으며, 납(Pb)은 환경 오염 등의 문제로 주석(Sn)이 주로 사용되고 있다. 주석(Sn)은 대기압에서 녹는점이 232℃로 대부분의 금속과 공융계(eutectic) 합금을 이루어 낮은 온도에서 두 개의 대상물을 접합시킬 수 있다는 장점이 있다.Solder metals used for metal bonding include tin (Sn) and lead (Pb), and tin (Sn) is mainly used for lead (Pb) due to problems such as environmental pollution. Tin (Sn) has a melting point of 232 ° C. at atmospheric pressure, and has the advantage of being able to bond two objects at a low temperature by forming a eutectic alloy with most metals.

이때, 주석(Sn)과 합금을 형성하여 접합되는 접합 금속 적층체에 주로 금(Au)이 사용된다. 금(Au)은 열 및 전기전도도가 양호하고 표면 산화막이 형성되지 않는다는 장점이 있다. 그러나 금은 귀금속으로서 매우 고가의 재료로 금속 접합에 사용 시 공정 단가가 증가하는 단점이 있다.At this time, gold (Au) is mainly used in a joint metal laminate that is joined by forming an alloy with tin (Sn). Gold (Au) has good thermal and electrical conductivity and has the advantage of not forming a surface oxide film. However, gold is a very expensive material as a precious metal, and when used for metal bonding, the process unit cost increases.

따라서, 금(Au)을 대체하여 금속 접합의 단가를 낮추면서도 높은 전기 및 열전도도를 갖는 접합 금속 적층체의 형성 기술이 요구된다.Therefore, there is a need for a technique for forming a metal laminate having high electrical and thermal conductivity while lowering the cost of metal bonding by replacing gold (Au).

공개특허 제2017-0080536호Patent Publication No. 2017-0080536

본 발명은 반응 금속층 및 산화 방지 금속층을 포함하는 접합 금속 적층체를 통해 산화막 형성을 억제하여 접합력을 증가시킬 수 있는 금속 접합용 적층 구조체 및 금속 접합 방법을 제공한다.The present invention provides a multilayer structure for metal bonding and a metal bonding method capable of increasing bonding strength by suppressing formation of an oxide film through a bonding metal stack including a reactive metal layer and an oxidation-preventing metal layer.

본 발명의 일실시예에 따른 금속 접합용 적층 구조체는 접합 대상물 중 어느 하나 상에 제공되는 제1 접합 금속 적층체; 접합 대상물 중 다른 하나 상에 제공되는 제2 접합 금속 적층체; 및 상기 제1 접합 금속 적층체 및 상기 제2 접합 금속 적층체의 사이에 제공되며, 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부;를 포함할 수 있다.A laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention includes a first bonding metal laminate provided on any one of objects to be bonded; a second bonding metal laminate provided on the other one of the bonding objects; and a solder metal portion provided between the first junction metal laminate and the second junction metal laminate and containing tin (Sn).

이때, 상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층; 및 상기 제1 반응 금속층의 상에 제공되어, 상기 제1 반응 금속층의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층;을 포함할 수 있다.At this time, the first bonding metal laminate may include a first reactive metal layer provided on any one of the bonding objects and reacting with the tin (Sn) to form a first eutectic alloy; and a first anti-oxidation metal layer provided on the first reactive metal layer to prevent oxidation of the first reactive metal layer.

또한, 상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층; 및 상기 제2 반응 금속층의 상에 제공되어, 상기 제2 반응 금속층의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층;을 포함할 수 있다.In addition, the second bonding metal laminate may include a second reactive metal layer provided on the other one of the bonding objects and reacting with the tin (Sn) to form a second eutectic alloy; and a second anti-oxidation metal layer provided on the second reactive metal layer to prevent oxidation of the second reactive metal layer.

상기 제1 산화 방지 금속층의 두께는 상기 제1 반응 금속층의 두께의 10% 이하이고, 상기 제2 산화 방지 금속층의 두께는 상기 제2 반응 금속층의 두께의 10% 이하일 수 있다.The thickness of the first anti-oxidation metal layer may be 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer, and the thickness of the second anti-oxidation metal layer may be 10% or less of the thickness of the second reactive metal layer.

상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층;을 더 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate is provided between any one of the bonding objects and the first reactive metal layer, so that at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to any one of the bonding objects. A first barrier metal layer preventing diffusion into one; may be further included.

상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층;을 더 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate is provided between the other one of the bonding objects and the second reactive metal layer, so that at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to the other one of the bonding objects. A second barrier metal layer preventing diffusion into one; may be further included.

상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고, 상기 제1 장벽 금속층과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 장벽 금속층과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.Each of the first eutectic alloy and the second eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding, and the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy is, A melting temperature of an alloy formed by reacting the second barrier metal layer with the second eutectic alloy and higher than a melting temperature of the first eutectic alloy may be higher than a melting temperature of the second eutectic alloy.

상기 제1 장벽 금속층 및 상기 제2 장벽 금속층 각각의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다.Each of the first barrier metal layer and the second barrier metal layer may have a thickness of 100 nm to 300 nm.

상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고, 상기 제1 추가 장벽 금속층은 상기 제1 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate is provided between any one of the bonding objects and the first barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to any one of the bonding objects. A first additional barrier metal layer further preventing diffusion into one layer; the first additional barrier metal layer may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer.

상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고, 상기 제2 추가 장벽 금속층은 상기 제2 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate is provided between the other one of the bonding objects and the second barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to the other one of the bonding objects. A second additional barrier metal layer further preventing diffusion into one layer; the second additional barrier metal layer may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer.

상기 제1 추가 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 추가 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy, and the second additional barrier metal layer A melting temperature of an alloy formed by reacting the second eutectic alloy with the second barrier metal layer may be higher than a melting temperature of an alloy formed by reacting the second barrier metal layer with the second eutectic alloy.

상기 제1 추가 장벽 금속층 및 상기 제2 추가 장벽 금속층 각각의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다.A thickness of each of the first additional barrier metal layer and the second additional barrier metal layer may be 100 to 300 nm.

상기 제1 반응 금속층 및 상기 제2 반응 금속층 각각은 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하고, 상기 제1 산화 방지 금속층 및 상기 제2 산화 방지 금속층 각각은 니켈(Ni) 또는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.Each of the first reactive metal layer and the second reactive metal layer includes at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al), and each of the first anti-oxidation metal layer and the second anti-oxidation metal layer comprises Nickel (Ni) or chromium (Cr) may be included.

본 발명의 다른 일실시예에 따른 금속 접합 방법은 접합 대상물 중 어느 하나 상에, 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층 및 상기 제1 반응 금속층의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층을 구비하는 제1 접합 금속 적층체를 준비하는 과정; 접합 대상물 중 다른 하나 상에, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층 및 상기 제2 반응 금속층의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층을 구비하는 제2 접합 금속 적층체를 준비하는 과정; 상기 제1 접합 금속 적층체 및 상기 제2 접합 금속 적층체의 사이에, 상기 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부를 제공하는 과정; 상기 제1 접합 금속 적층체와 상기 제2 접합 금속 적층체를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성하는 과정; 및 형성된 상기 금속 접합용 적층 구조체를 열처리하는 과정;을 포함할 수 있다.A metal bonding method according to another embodiment of the present invention is a first reactive metal layer capable of forming a first eutectic alloy by reacting with tin (Sn) provided from the outside on any one of the objects to be joined, and the first preparing a first bonding metal laminate including a first anti-oxidation metal layer preventing oxidation of the reactive metal layer; A second reactive metal layer capable of forming a second eutectic alloy by reacting with the tin (Sn) and a second anti-oxidation metal layer preventing oxidation of the second reactive metal layer on the other one of the objects to be joined. 2 process of preparing a joint metal laminate; providing a solder metal part containing the tin (Sn) between the first junction metal laminate and the second junction metal laminate; forming a laminated structure for metal bonding by laminating the first bonding metal laminate and the second bonding metal laminate to face each other; and heat-treating the formed multilayer structure for metal bonding.

상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층;을 더 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate is provided between any one of the bonding objects and the first reactive metal layer, so that at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to any one of the bonding objects. A first barrier metal layer preventing diffusion into one; may be further included.

상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층;을 더 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate is provided between the other one of the bonding objects and the second reactive metal layer, so that at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to the other one of the bonding objects. A second barrier metal layer preventing diffusion into one; may be further included.

상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고, 상기 제1 장벽 금속층과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 장벽 금속층과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.Each of the first eutectic alloy and the second eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding, and the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy is, A melting temperature of an alloy formed by reacting the second barrier metal layer with the second eutectic alloy and higher than a melting temperature of the first eutectic alloy may be higher than a melting temperature of the second eutectic alloy.

상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고, 상기 제1 추가 장벽 금속층은 상기 제1 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate is provided between any one of the bonding objects and the first barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to any one of the bonding objects. A first additional barrier metal layer further preventing diffusion into one layer; the first additional barrier metal layer may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer.

상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고, 상기 제2 추가 장벽 금속층은 상기 제2 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate is provided between the other one of the bonding objects and the second barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to the other one of the bonding objects. A second additional barrier metal layer further preventing diffusion into one layer; the second additional barrier metal layer may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer.

상기 제1 추가 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 추가 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy, and the second additional barrier metal layer A melting temperature of an alloy formed by reacting the second eutectic alloy with the second barrier metal layer may be higher than a melting temperature of an alloy formed by reacting the second barrier metal layer with the second eutectic alloy.

본 발명의 실시 형태에 따른 금속 접합용 적층 구조체는 주석(Sn)과 공융계 합금을 형성하는 반응 금속층과 산화 방지 금속층을 구비하는 접합 금속 적층체를 포함함으로써, 산화막 형성을 억제하여 접합력을 증가시킬 수 있다. 그리고 금속 접합용 적층 구조체는 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부를 구비하여 접합 금속 적층체에 주석(Sn)을 공급할 수 있다. 또한, 접합 금속 적층체는 장벽 금속층 및 추가 장벽 금속층을 더 포함하여 공융계 합금을 형성하는 금속이 접합 대상물로 확산하는 것을 방지하여 접합 대상물을 보호할 수 있다. 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융됨으로써, 주석(Sn)과 반응 금속층이 합금화될 수 있다. 이때, 장벽 금속층 및 추가 장벽 금속층 각각이 공융계 합금과 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다. 이로 인해, 장벽 금속층 및 추가 장벽 금속층은 용융 상태의 공융계 합금과 반응하여 고체화시킬 수 있고, 이에 따라 접합 대상물 간에 금속 접합이 진행될 수 있다.A laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention includes a bonding metal laminate including a reactive metal layer forming a eutectic alloy with tin (Sn) and an oxidation preventing metal layer, thereby suppressing the formation of an oxide film and increasing bonding strength. can In addition, the metal bonding multilayer structure may include a solder metal portion including tin (Sn) to supply tin (Sn) to the bonding metal multilayer body. In addition, the bonding metal laminate may further include a barrier metal layer and an additional barrier metal layer to prevent diffusion of a metal forming a eutectic alloy to a bonding object, thereby protecting the bonding object. The eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding, so that tin (Sn) and the reactive metal layer may be alloyed. In this case, the melting temperature of the alloy formed by reacting each of the barrier metal layer and the additional barrier metal layer with the eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the eutectic alloy. Due to this, the barrier metal layer and the additional barrier metal layer may react with and solidify the eutectic alloy in a molten state, and accordingly, metal bonding may proceed between objects to be joined.

그리고 금속 접합 방법은 두 접합 금속 적층체의 사이에 솔더 금속부를 제공하고, 두 접합 금속 적층체를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성하는 과정을 포함할 수 있다. 이때, 두 접합 금속 적층체 각각은 산화 방지 금속층을 포함함으로써, 금속 접합 시 산화막 형성을 억제하여 접합력을 증가시킬 수 있다.The metal bonding method may include providing a solder metal part between the two bonding metal laminates and forming a metal bonding laminated structure by stacking the two bonding metal laminates to face each other. In this case, since each of the two bonding metal laminates includes an oxidation-preventing metal layer, the formation of an oxide film may be suppressed during metal bonding to increase bonding strength.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 금속 접합용 적층 구조체의 적층 상태를 설명하기 위한 단면도.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 금속 접합 방법을 나타낸 순서도.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 금속 접합 방법의 열처리하는 과정 후 접합된 금속 접합용 적층 구조체를 설명하기 위한 단면도.
1 is a cross-sectional view for explaining a laminated state of a laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a flow chart showing a metal bonding method according to another embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view illustrating a laminated structure for metal bonding bonded after a heat treatment process of a metal bonding method according to another embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 설명 중, 동일 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하도록 하고, 도면은 본 발명의 실시예를 정확히 설명하기 위하여 크기가 부분적으로 과장될 수 있으며, 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, only these embodiments will complete the disclosure of the present invention, and will fully cover the scope of the invention to those skilled in the art. It is provided to inform you. During the description, the same reference numerals are assigned to the same components, and the drawings may be partially exaggerated in size in order to accurately describe the embodiments of the present invention, and the same numerals refer to the same elements in the drawings.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 금속 접합용 적층 구조체의 적층 상태를 설명하기 위한 단면도이다.1 is a cross-sectional view for explaining a laminated state of a laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 금속 접합용 적층 구조체는 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에 제공되는 제1 접합 금속 적층체(100a); 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에 제공되는 제2 접합 금속 적층체(100b); 및 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 사이에 제공되며, 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부(200);를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention includes a first bonding metal laminate 100a provided on one of objects 10a to be bonded; a second bonded metal laminate (100b) provided on the other one (10b) of the objects to be bonded; and a solder metal part 200 provided between the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b and containing tin (Sn).

이때, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층(110a); 및 상기 제1 반응 금속층(110a)의 상에 제공되어, 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층(120a);을 포함할 수 있다.At this time, the first bonding metal laminate 100a is provided on any one of the bonding objects 10a and reacts with the tin (Sn) to form a first eutectic alloy. (110a); and a first anti-oxidation metal layer 120a provided on the first reactive metal layer 110a to prevent oxidation of the first reactive metal layer 110a.

또한, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층(110b); 및 상기 제2 반응 금속층(110b)의 상에 제공되어, 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층(120b);을 포함할 수 있다.In addition, the second bonding metal laminate 100b is provided on the other one of the bonding objects 10b and reacts with the tin (Sn) to form a second eutectic alloy. (110b); and a second anti-oxidation metal layer 120b provided on the second reactive metal layer 110b to prevent oxidation of the second reactive metal layer 110b.

상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에 제공되며, 제1 반응 금속층(110a) 및 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함할 수 있다. 이때, 상기 제1 반응 금속층(110a)은 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에 제공되어, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)의 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있다. 이때, 상기 제1 반응 금속층(110a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 주석(Sn)과 반응하여 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 그리고 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 주석(Sn)이 반응하여 형성된 이들의 합금의 용융 온도는 상기 주석(Sn)의 용융 온도보다 낮을 수 있다.The first bonding metal laminate 100a is provided on one of the objects to be bonded 10a and may include a first reactive metal layer 110a and a first anti-oxidation metal layer 120a. At this time, the first reactive metal layer 110a is provided on one of the objects to be bonded 10a and reacts with tin (Sn) provided from the outside of the first bonding metal laminate 100a to react with the first eutectic system. alloys can be formed. In this case, the first reactive metal layer 110a may react with the tin (Sn) at an annealing temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to be at least partially in a molten state. Also, a melting temperature of an alloy formed by reacting the first reactive metal layer 110a and the tin (Sn) may be lower than the melting temperature of the tin (Sn).

그리고 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)은 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하기 위해, 산소 결합성이 낮은 금속을 포함할 수 있다. 본 발명의 금속 접합용 적층 구조체의 제1 접합 금속 적층체(100a)는 후술하는 바와 같이 제1 반응 금속층(110a)으로 금(Au)를 대체하여 상대적으로 저가의 재료인 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)을 사용할 수 있다. 그러나 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)의 높은 산소 결합성으로 인하여, 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 제1 반응 금속층(110a)은 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층(120a)이 필요할 수 있다. 즉, 본 발명의 금속 접합용 적층 구조체의 제1 접합 금속 적층체(100a)는 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함함으로써, 고가의 금(Au)를 대체하여 금속 접합 단가를 절감할 수 있다. Also, the first anti-oxidation metal layer 120a may include a metal having low oxygen bonding property to prevent oxidation of the first reactive metal layer 110a. As will be described later, the first bonding metal laminate 100a of the laminated structure for metal bonding according to the present invention replaces gold (Au) with the first reactive metal layer 110a and uses relatively inexpensive materials such as silver (Ag) and copper. (Cu) and aluminum (Al) may be used. However, due to the high oxygen binding properties of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al), the first reactive metal layer 110a including at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al) ) may require a first anti-oxidation metal layer 120a to prevent oxidation of the first reactive metal layer 110a. That is, the first bonding metal laminate 100a of the multilayer structure for metal bonding according to the present invention includes the first anti-oxidation metal layer 120a to prevent oxidation of the first reactive metal layer 110a, so that expensive gold (Au ), it is possible to reduce the metal bonding unit cost.

이렇게 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함함으로써, 산화막 형성이 억제되어 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력이 증가될 수 있다. 이때, 산화막은 금속의 국부적인 상호 확산 및 용융화를 억제하여, 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 주석(Sn)의 합금화를 위한 반응을 방해함으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합을 방해할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함함으로써, 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화막 형성이 억제되어 금속 접합이 원활하게 진행될 수 있다. In this way, the first bonding metal laminate 100a includes the first reactive metal layer 110a and the first anti-oxidation metal layer 120a, so that the formation of an oxide film can be suppressed and bonding strength between objects to be bonded during metal bonding can be increased. there is. At this time, the oxide film suppresses the local mutual diffusion and melting of metals, thereby hindering the reaction for alloying the first reactive metal layer 110a and the tin (Sn), thereby preventing metal bonding between objects to be joined. . For this reason, since the first bonding metal laminate 100a includes the first anti-oxidation metal layer 120a, the formation of an oxide film on the first reactive metal layer 110a is suppressed, so that metal bonding can proceed smoothly.

마찬가지로, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에 제공되며, 제2 반응 금속층(110b) 및 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함할 수 있다. 이때, 상기 제2 반응 금속층(110b)은 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에 제공되어, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있다. 이때, 상기 제2 반응 금속층(110b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 주석(Sn)과 반응하여 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 그리고 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 주석(Sn)이 반응하여 형성된 이들의 합금의 용융 온도는 상기 주석(Sn)의 용융 온도보다 낮을 수 있다.Similarly, the second bonding metal laminate 100b is provided on the other one 10b of the objects to be bonded, and may include a second reactive metal layer 110b and a second anti-oxidation metal layer 120b. At this time, the second reactive metal layer 110b is provided on one of the objects to be bonded 10a and reacts with tin (Sn) provided from the outside of the second bonding metal laminate 100b to react with the second eutectic system. alloys can be formed. In this case, the second reactive metal layer 110b may react with the tin (Sn) at an annealing temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to be at least partially in a molten state. Also, a melting temperature of an alloy formed by reacting the second reactive metal layer 110b and the tin (Sn) may be lower than the melting temperature of the tin (Sn).

그리고 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하기 위해, 산소 결합성이 낮은 금속을 포함할 수 있다. 본 발명의 금속 접합용 적층 구조체의 제2 접합 금속 적층체(100b)는 후술하는 바와 같이 제2 반응 금속층(110b)으로 금(Au)를 대체하여 상대적으로 저가의 재료인 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)을 사용할 수 있다. 그러나 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)의 높은 산소 결합성으로 인하여, 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 제2 반응 금속층(110b)은 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층(120b)이 필요할 수 있다. 즉, 본 발명의 금속 접합용 적층 구조체의 제2 접합 금속 적층체(100b)는 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함함으로써, 고가의 금(Au)를 대체하여 금속 접합 단가를 절감할 수 있다. In addition, the second anti-oxidation metal layer 120b may include a metal having low oxygen bonding property to prevent oxidation of the second reactive metal layer 110b. As will be described later, the second bonding metal laminate 100b of the multilayer structure for metal bonding of the present invention replaces gold (Au) with the second reactive metal layer 110b, and is made of relatively inexpensive materials such as silver (Ag) and copper. (Cu) and aluminum (Al) may be used. However, due to the high oxygen binding properties of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al), the second reactive metal layer 110b including at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al) ) may require a second anti-oxidation metal layer 120b to prevent oxidation of the second reactive metal layer 110b. That is, the second bonding metal laminate 100b of the multilayer structure for metal bonding according to the present invention includes the second anti-oxidation metal layer 120b to prevent oxidation of the second reactive metal layer 110b, so that expensive gold (Au ), it is possible to reduce the metal bonding unit cost.

이렇게 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 상기 제2 반응 금속층(110b) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함함으로써, 산화막 형성이 억제되어 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력이 증가될 수 있다. 이때, 산화막은 금속의 국부적인 상호 확산 및 용융화를 억제하여, 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 주석(Sn)의 합금화를 위한 반응을 방해함으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합을 방해할 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함함으로써, 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화막 형성이 억제되어 금속 접합이 원활하게 진행될 수 있다.In this way, the second bonding metal laminate 100b includes the second reactive metal layer 110b and the second anti-oxidation metal layer 120b, so that the formation of an oxide film can be suppressed and bonding strength between objects to be bonded during metal bonding can be increased. there is. At this time, the oxide film suppresses the local mutual diffusion and melting of metals, thereby hindering the reaction for alloying the second reactive metal layer 110b and the tin (Sn), thereby preventing metal bonding between objects to be joined. . For this reason, since the second bonding metal laminate 100b includes the second oxidation-preventing metal layer 120b, formation of an oxide film on the second reactive metal layer 110b is suppressed, so that metal bonding can proceed smoothly.

이때, 상기 제1 반응 금속층(110a)에 포함된 금속과 상기 제2 반응 금속층(110b)에 포함된 금속이 동일하고, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속과 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속이 동일할 경우, 상기 제1 공융계 합금을 이루는 성분과 상기 제2 공융계 합금을 이루는 성분은 동일할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 공융계 합금과 상기 제2 공융계 합금은 하나의 합금층(300)으로 형성될 수 있다. 반면에, 상기 제1 반응 금속층(110a)에 포함된 금속과 상기 제2 반응 금속층(110b)에 포함된 금속이 상이하거나, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속과 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속이 상이할 경우, 상기 제1 공융계 합금을 이루는 성분과 상기 제2 공융계 합금을 이루는 성분은 상이할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 공융계 합금과 상기 제2 공융계 합금은 각각 다른 합금층(300)으로 형성되거나, 서로 반응하여 섞임으로써 하나의 합금층(300)으로 형성될 수 있다.In this case, the metal included in the first reactive metal layer 110a and the metal included in the second reactive metal layer 110b are the same, and the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is the same as the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120a. When the metals included in the metal layer 120b are the same, the components forming the first eutectic alloy and the components forming the second eutectic alloy may be the same. Accordingly, the first eutectic alloy and the second eutectic alloy may be formed as one alloy layer 300 . On the other hand, the metal included in the first reactive metal layer 110a is different from the metal included in the second reactive metal layer 110b, or the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is different from the metal included in the second reactive metal layer 110a. When the metals included in the prevention metal layer 120b are different, components forming the first eutectic alloy and components forming the second eutectic alloy may be different. For this reason, the first eutectic alloy and the second eutectic alloy may be formed into different alloy layers 300 or formed into one alloy layer 300 by reacting and mixing with each other.

상기 솔더 금속부(200)는 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 사이에 제공되며, 주석(Sn)을 포함함으로써 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b)에 상기 주석(Sn)을 공급할 수 있다. 이때, 상기 솔더 금속부(200)는 주석(Sn)을 포함하는 금속 또는 합금일 수 있다. 여기서, 상기 솔더 금속부(200)는 볼(ball), 와이어(wire), 페이스트(paste), 바(bar), 포일(foil), 플레이트(plate), 코일(coil), 튜브(tube), 디스크(disk) 등의 형태일 수 있다.The solder metal part 200 is provided between the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b, and includes tin (Sn), thereby forming the first reactive metal layer 110a. And the tin (Sn) may be supplied to the second reactive metal layer 110b. In this case, the solder metal part 200 may be a metal or alloy containing tin (Sn). Here, the solder metal part 200 is a ball, wire, paste, bar, foil, plate, coil, tube, It may be in the form of a disk or the like.

상기 금속 접합용 적층 구조체는 금속 접합을 위한 열처리를 함으로써 접합 대상물을 금속 접합시킬 수 있다. 여기서, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)의 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 상기 제2 반응 금속층(110b) 각각은 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)과 반응하여 상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금을 형성할 수 있다. 이때, 상기 제1 공융계 합금 및 제2 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태이고, 후술하는 제1 장벽 금속층(130a) 및 제2 장벽 금속층(130b)으로 확산되면서 고체화될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 고체 상태가 되어 금속 접합이 진행될 수 있다. The multilayer structure for metal bonding may bond objects to be bonded to metal by performing a heat treatment for metal bonding. Here, each of the first reactive metal layer 110a of the first bonding metal laminate 100a and the second reactive metal layer 110b of the second bonding metal laminate 100b is the solder metal part 200 may react with tin (Sn) to form the first eutectic alloy and the second eutectic alloy. At this time, the first eutectic alloy and the second eutectic alloy are at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), and the first barrier metal layer 130a and the second eutectic alloy, which will be described later, are formed. It can be solidified while being diffused into the barrier metal layer 130b. Accordingly, the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b are in a solid state, and metal bonding may proceed.

이러한 금속 접합용 적층 구조체는 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 및 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에 형성하여 전기 또는 열 전달의 목적으로 두 개의 접합 대상물을 금속 접합할 수 있다. 이러한 상기 금속 접합용 적층 구조체는 플립칩 본딩, 레이저 다이오드 칩 본딩, 고출력 발광 다이오드 칩 본딩, 고출력 전자 소자 칩 본딩 등 동작 시 고열이 발생되는 소자의 방열을 위한 패키징에 본딩하는 공정에 사용될 수 있다. 또한, 상기 금속 접합용 적층 구조체는 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC) 등의 칩 캐패시터, 칩 다이오드, 칩 저항 등 다양한 부품의 전기적 결선을 위한 솔더 본딩에도 사용될 수 있다.The laminated structure for metal bonding may be formed on one of the bonding objects 10a and the other one of the bonding objects 10b to bond the two bonding objects to each other for the purpose of electric or heat transfer. The laminated structure for metal bonding can be used in a bonding process for heat dissipation of a device generating high heat during operation, such as flip chip bonding, laser diode chip bonding, high power light emitting diode chip bonding, and high power electronic device chip bonding. In addition, the multilayer structure for metal bonding may be used for solder bonding for electrical connection of various components such as chip capacitors such as multi-layer ceramic condensers (MLCCs), chip diodes, and chip resistors.

상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께는 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이하이고, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께는 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이하일 수 있다.The thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a is 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer 110a, and the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b is the thickness of the second reactive metal layer 110b. It may be less than 10% of

상기 제1 산화 방지 금?quot;층의 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이하일 경우, 상기 제1 공융계 합금을 형성하는 반응이 진행될 수 있다. 즉, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 얇은 두께로 인해, 상기 제1 반응 금속층(110a)은 상기 솔더 금속부(200)와 반응할 수 있다. 이렇게 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이하임으로써, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)은 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 막으면서 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 솔더 금속부(200)의 반응을 방해하지 않을 수 있다.When the thickness of the first anti-oxidation gold layer is 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer 110a, a reaction to form the first eutectic alloy may proceed. That is, due to the thin thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a, the first reactive metal layer 110a may react with the solder metal part 200. In this way, since the thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a is 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer 110a, the first anti-oxidation metal layer 120a prevents oxidation of the first reactive metal layer 110a. While blocking, the reaction between the first reactive metal layer 110a and the solder metal part 200 may not be hindered.

특히, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속은, 주석(Sn)과 반응 시 주석(Sn)과 반응하는 함량이 증가할수록 용융 온도를 급격히 증가시킬 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속이 니켈(Ni)일 경우, 니켈(Ni)-주석(Sn) 상태도를 참조하면, 니켈(Ni)의 조성이 0at%일 때 이들의 합금의 용융 온도는 약 230℃이고, 니켈(Ni)의 조성이 10at%일 때 이들의 합금의 용융 온도는 약 700℃일 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속의 함량이 높을 경우, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)이 용융되지 않을 수 있다. 이때, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께가 두꺼울수록, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속의 함량이 증가될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이상일 경우, 상기 솔더 금속부(200)와 상기 제1 반응 금속층(110a)의 제1 공융계 합금 형성을 위한 반응이 진행되지 않을 수 있다.In particular, when the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a reacts with tin (Sn), the melting temperature may be rapidly increased as the content of the metal reacting with tin (Sn) increases. For example, when the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is nickel (Ni), referring to the nickel (Ni)-tin (Sn) phase diagram, when the composition of nickel (Ni) is 0at% The melting temperature of these alloys is about 230 °C, and when the composition of nickel (Ni) is 10at%, the melting temperature of these alloys may be about 700 °C. For this reason, when the content of the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is high, the first anti-oxidation metal layer 120a is not melted at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. may not be In this case, as the thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a increases, the content of the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a may increase. Accordingly, when the thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a is 10% or more of the thickness of the first reactive metal layer 110a, the solder metal part 200 and the first reactive metal layer 110a have a first Reaction to form a eutectic alloy may not proceed.

여기서, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속의 함량이 적을 경우, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)은 적어도 부분적으로 용융 상태를 유지할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)은 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이하로써, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)이 적어도 부분적으로 용융 상태로 유지되므로 상기 솔더 금속부(200)와 상기 제1 반응 금속층(110a)이 상호확산되어 상기 제1 공융계 합금을 형성할 수 있다.Here, when the content of the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is small, the first anti-oxidation metal layer 120a is at least partially formed at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. molten state can be maintained. Accordingly, the first anti-oxidation metal layer 120a of the present invention has a thickness of 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer 110a at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. Since the first anti-oxidation metal layer 120a is at least partially maintained in a molten state, the solder metal portion 200 and the first reactive metal layer 110a may mutually diffuse to form the first eutectic alloy.

이때, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이상일 경우, 상기 제1 공융계 합금을 형성하는 반응이 진행되지 않을 수 있다. 즉, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두꺼운 두께와 용융 온도를 증가시키는 특성으로 인해, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 용융되지 않고 고체 상태로 유지될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 반응 금속층(110a)이 상기 솔더 금속부(200)와 반응하지 못할 수 있다. 즉, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 고체인 상태와 두꺼운 두께로 인해, 제1 상기 반응 금속층과 상기 솔더 금속부(200)는 상호확산만으로 반응하지 못하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 없다. 이로 인해, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)이 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 솔더 금속부(200)의 반응을 방해하여, 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a is 10% or more of the thickness of the first reactive metal layer 110a, the reaction to form the first eutectic alloy may not proceed. That is, due to the thick thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a and the property of increasing the melting temperature, the first anti-oxidation metal layer 120a has a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) ) can remain in a solid state without melting. Accordingly, the first reactive metal layer 110a may not react with the solder metal part 200 . That is, due to the solid state and the thick thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a, the first reactive metal layer and the solder metal portion 200 cannot react only through mutual diffusion, thereby forming a first eutectic alloy. does not exist. As a result, since the first anti-oxidation metal layer 120a interferes with a reaction between the first reactive metal layer 110a and the solder metal part 200, metal bonding between objects to be joined may not proceed.

또한, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)의 두께가 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이상일 경우, 열처리 시 형성되는 합금에 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)에 포함된 금속의 함량이 증가하여 조성 변화로 인한 합금 특성이 변화될 수 있다. 이로 인해, 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력 또는 전기 및 열전도도가 변화될 수 있다.In addition, when the thickness of the first anti-oxidation metal layer 120a is 10% or more of the thickness of the first reactive metal layer 110a, the metal included in the first anti-oxidation metal layer 120a is added to the alloy formed during heat treatment. As the content increases, the alloy properties may change due to compositional changes. Due to this, bonding strength or electrical and thermal conductivities between objects to be bonded may be changed during metal bonding.

마찬가지로, 상기 제2 산화 방지 금?quot;층의 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이하일 경우, 상기 제2 공융계 합금을 형성하는 반응이 진행될 수 있다. 즉, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 얇은 두께로 인해, 상기 제2 반응 금속층(110b)은 상기 솔더 금속부(200)와 반응할 수 있다. 이렇게 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이하임으로써, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 막으면서 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 솔더 금속부(200)의 반응을 방해하지 않을 수 있다.Similarly, when the thickness of the second anti-oxidation gold layer is 10% or less of the thickness of the second reactive metal layer 110b, the reaction of forming the second eutectic alloy may proceed. That is, due to the thin thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b, the second reactive metal layer 110b may react with the solder metal part 200. In this way, since the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b is 10% or less of the thickness of the second reactive metal layer 110b, the second anti-oxidation metal layer 120b prevents oxidation of the second reactive metal layer 110b. While blocking, the reaction between the second reactive metal layer 110b and the solder metal part 200 may not be hindered.

특히, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속은, 주석(Sn)과 반응 시 주석(Sn)과 반응하는 함량이 증가할수록 용융 온도를 급격히 증가시킬 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속이 니켈(Ni)일 경우, 니켈(Ni)-주석(Sn) 상태도를 참조하면, 니켈(Ni)의 조성이 0at%일 때 이들의 합금의 용융 온도는 약 230℃이고, 니켈(Ni)의 조성이 10at%일 때 이들의 합금의 용융 온도는 약 700℃일 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속의 함량이 높을 경우, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)이 용융되지 않을 수 있다. 이때, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께가 두꺼울수록, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속의 함량이 증가될 수 있다. 이에 따라, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이상일 경우, 상기 솔더 금속부(200)와 상기 제2 반응 금속층(110b)의 제2 공융계 합금 형성을 위한 반응이 진행되지 않을 수 있다.In particular, when the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b reacts with tin (Sn), the melting temperature may be rapidly increased as the content of the metal reacting with tin (Sn) increases. For example, when the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b is nickel (Ni), referring to the nickel (Ni)-tin (Sn) phase diagram, when the composition of nickel (Ni) is 0at% The melting temperature of these alloys is about 230 °C, and when the composition of nickel (Ni) is 10at%, the melting temperature of these alloys may be about 700 °C. For this reason, when the content of the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b is high, the second anti-oxidation metal layer 120b is not melted at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. may not be In this case, as the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b increases, the content of the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b may increase. Accordingly, when the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b is 10% or more of the thickness of the second reactive metal layer 110b, the solder metal part 200 and the second reactive metal layer 110b Reaction to form a eutectic alloy may not proceed.

여기서, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속의 함량이 적을 경우, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 적어도 부분적으로 용융 상태를 유지할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이하로써, 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)이 적어도 부분적으로 용융 상태로 유지되므로 상기 솔더 금속부(200)와 상기 제2 반응 금속층(110b)이 상호확산되어 상기 제2 공융계 합금을 형성할 수 있다.Here, when the content of the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b is small, the second anti-oxidation metal layer 120b is at least partially at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. molten state can be maintained. Accordingly, the second anti-oxidation metal layer 120b of the present invention has a thickness of 10% or less of the thickness of the second reactive metal layer 110b at a heat treatment temperature (eg, about 250° C.) for metal bonding. Since the second anti-oxidation metal layer 120b is maintained at least partially in a molten state, the solder metal portion 200 and the second reactive metal layer 110b are mutually diffused to form the second eutectic alloy.

이때, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이상일 경우, 상기 제2 공융계 합금을 형성하는 반응이 진행되지 않을 수 있다. 즉, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두꺼운 두께와 용융 온도를 증가시키는 특성으로 인해, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 용융되지 않고 고체 상태로 유지될 수 있다. 이에 따라, 상기 제2 반응 금속층(110b)이 상기 솔더 금속부(200)와 반응하지 못할 수 있다. 즉, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 고체인 상태와 두꺼운 두께로 인해, 제2 상기 반응 금속층과 상기 솔더 금속부(200)는 상호확산만으로 반응하지 못하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 없다. 이로 인해, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)이 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 솔더 금속부(200)의 반응을 방해하여, 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b is 10% or more of the thickness of the second reactive metal layer 110b, the reaction to form the second eutectic alloy may not proceed. That is, due to the thick thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b and the property of increasing the melting temperature, the second anti-oxidation metal layer 120b has a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) ) can remain in a solid state without melting. Accordingly, the second reactive metal layer 110b may not react with the solder metal part 200 . That is, due to the solid state and the thick thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b, the second reactive metal layer and the solder metal portion 200 cannot react only through mutual diffusion, thereby forming a second eutectic alloy. does not exist. As a result, the second anti-oxidation metal layer 120b interferes with the reaction between the second reactive metal layer 110b and the solder metal part 200, so that metal bonding between objects to be joined may not proceed.

또한, 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)의 두께가 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이상일 경우, 열처리 시 형성되는 합금에 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 금속의 함량이 증가하여 조성 변화로 인한 합금 특성이 변화될 수 있다. 이로 인해, 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력 또는 전기 및 열전도도가 변화될 수 있다.In addition, when the thickness of the second anti-oxidation metal layer 120b is 10% or more of the thickness of the second reactive metal layer 110b, the metal included in the second anti-oxidation metal layer 120b is added to the alloy formed during heat treatment. As the content increases, the alloy properties may change due to compositional changes. Due to this, bonding strength or electrical and thermal conductivities between objects to be bonded may be changed during metal bonding.

상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 반응 금속층(110a)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층(130a);을 더 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate 100a is provided between one of the bonding objects 10a and the first reactive metal layer 110a, and the solder metal part 200 and the first reactive metal layer 110a ) and a first barrier metal layer 130a preventing diffusion of at least one of these alloys into any one of the bonding objects 10a.

상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 반응 금속층(110b)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층(130b);을 더 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate 100b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second reactive metal layer 110b, so that the solder metal part 200 and the second reactive metal layer 110b ) and a second barrier metal layer 130b preventing at least one of the alloys from diffusing into the other one of the bonding objects 10b.

상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 반응 금속층(110a)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로의 금속의 확산을 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 이때, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금이 상기 제1 장벽 금속층(130a)으로 확산 시, 상기 제1 공융계 합금이 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.The first barrier metal layer 130a is provided between one of the bonding objects 10a and the first reactive metal layer 110a to prevent diffusion of metal into the one of the bonding objects 10a. Any one of the bonding objects 10a can be protected. In this case, the first barrier metal layer 130a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy. Due to this, when the first eutectic system alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), diffuses into the first barrier metal layer 130a, the first eutectic alloy based alloys can be solidified. In this way, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to any one 10a can be prevented. In addition, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined together.

마찬가지로, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 반응 금속층(110b)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로의 금속의 확산을 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)를 보호할 수 있다. 이때, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금이 상기 제2 장벽 금속층(130b)으로 확산 시, 상기 제2 공융계 합금이 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.Similarly, the second barrier metal layer 130b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second reactive metal layer 110b to prevent diffusion of metal into the other one of the bonding objects 10b. By doing so, it is possible to protect the other one (10b) of the bonding object. In this case, the second barrier metal layer 130b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy. Due to this, when the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), diffuses into the second barrier metal layer 130b, the second eutectic alloy based alloys can be solidified. In this way, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to the other one (10b) can be prevented. In addition, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined.

상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.Each of the first eutectic alloy and the second eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding, and the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy is melted. The temperature is higher than the melting temperature of the first eutectic alloy, and the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the second eutectic alloy. can be high

상기 제1 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융될 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)이 반응하여 합금화가 진행될 수 있다.The first eutectic alloy may be at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). As a result, alloying may proceed by reacting the first reactive metal layer 110a with tin (Sn) of the solder metal part 200 .

상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다. 즉, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 높이는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킬 수 있다. 이렇게 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 고체화되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the first eutectic alloy. That is, the first barrier metal layer 130a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy. Accordingly, the first barrier metal layer 130a may react with and solidify the first eutectic alloy that is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). The alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the eutectic alloy is solidified so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and an alloy thereof is among the objects to be joined. Diffusion to any one 10a can be prevented. In addition, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined together.

이때, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 낮을 경우, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)의 적어도 일부분과 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy is lower than the melting temperature of the first eutectic alloy, the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy The alloy formed by the reaction of the base alloy may be at least partially in a molten state without being solidified at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). Accordingly, since at least a portion of the first bonding metal laminate 100a and one of the bonding objects 10a are separated, metal bonding between the bonding objects may not proceed.

마찬가지로, 상기 제2 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융될 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)이 반응하여 합금화가 진행될 수 있다.Likewise, the second eutectic alloy may be at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). As a result, alloying may proceed by reacting the second reactive metal layer 110b with tin (Sn) of the solder metal part 200 .

상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다. 즉, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 높이는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킬 수 있다. 이렇게 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 고체화되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the second eutectic alloy. That is, the second barrier metal layer 130b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy. Accordingly, the second barrier metal layer 130b may react with and solidify the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). The alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the eutectic alloy is solidified so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to the other one (10b) can be prevented. In addition, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined.

이때, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 낮을 경우, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 적어도 일부분과 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy is lower than the melting temperature of the second eutectic alloy, the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy The alloy formed by the reaction of the base alloy may be at least partially in a molten state without being solidified at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). Due to this, at least a portion of the second bonding metal laminate 100b and the other one 10b of the bonding objects may be separated, so that metal bonding between the bonding objects may not proceed.

상기 제1 장벽 금속층(130a) 및 상기 제2 장벽 금속층(130b) 각각의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다.Each of the first barrier metal layer 130a and the second barrier metal layer 130b may have a thickness of 100 to 300 nm.

상기 제1 장벽 금속층(130a)의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 충분히 고체화를 시키고 금속 접합 단가를 감소시킬 수 있다.The thickness of the first barrier metal layer 130a may be 100 to 300 nm. As a result, the first barrier metal layer 130a reacts with the first eutectic alloy at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to sufficiently solidify the metal bonding unit cost.

이때, 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 두께가 100㎚ 이하일 경우, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 즉, 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 얇은 두께로 인해, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 고체화가 충분히 되지 않을 수 있다. 이로 인해, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하여 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)에 손상을 발생시킬 수 있다. 또한, 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)와 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the first barrier metal layer 130a is 100 nm or less, the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy is formed at a heat treatment temperature (for example, about 250° C.) and may be at least partially in a molten state without solidification. That is, due to the thin thickness of the first barrier metal layer 130a, the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy may not be sufficiently solidified for metal bonding. As a result, at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and an alloy thereof is diffused into any one of the objects to be joined 10a, thereby damaging any one of the objects to be joined 10a. can cause In addition, due to the first bonding metal laminate 100a in an at least partially molten state, the first bonding metal laminate 100a and one of the objects to be joined 10a are separated, so that metal bonding between the objects to be joined is achieved. may not progress.

반면에, 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 두께가 300㎚ 이상일 경우, 상기 제1 장벽 금속층(130a)을 형성하기 위한 금속의 양이 증가하여 금속 접합용 적층 구조체를 제조하기 위한 단가가 증가할 수 있다. 이에 따라, 접합 대상물 간의 금속 접합을 하기 위한 공정 단가가 증가할 수 있다.On the other hand, when the thickness of the first barrier metal layer 130a is 300 nm or more, the amount of metal used to form the first barrier metal layer 130a increases, resulting in an increase in unit cost for manufacturing a multilayer structure for metal bonding. can Accordingly, a process unit cost for metal bonding between objects to be joined may increase.

마찬가지로, 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 충분히 고체화를 시키고 금속 접합 단가를 감소시킬 수 있다.Similarly, the second barrier metal layer 130b may have a thickness of 100 to 300 nm. As a result, the second barrier metal layer 130b reacts with the second eutectic alloy at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to sufficiently solidify the metal bonding unit cost.

이때, 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 두께가 100㎚ 이하일 경우, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 즉, 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 얇은 두께로 인해, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 고체화가 충분히 되지 않을 수 있다. 이로 인해, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하여 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)에 손상을 발생시킬 수 있다. 또한, 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)로 인해, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)와 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the second barrier metal layer 130b is 100 nm or less, the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy is formed at a heat treatment temperature (for example, about 250° C.) and may be at least partially in a molten state without solidification. That is, due to the thin thickness of the second barrier metal layer 130b, the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy may not be sufficiently solidified for metal bonding. As a result, at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and an alloy thereof diffuses to the other one of the bonding objects 10b and damages the other one of the bonding objects 10b. can cause In addition, due to the second bonding metal laminate 100b in an at least partially molten state, the second bonding metal laminate 100b and the other one of the objects to be joined 10b are separated, so that metal bonding between the objects to be joined is achieved. may not progress.

반면에, 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 두께가 300㎚ 이상일 경우, 상기 제2 장벽 금속층(130b)을 형성하기 위한 금속의 양이 증가하여 금속 접합용 적층 구조체를 제조하기 위한 단가가 증가할 수 있다. 이에 따라, 접합 대상물 간의 금속 접합을 하기 위한 공정 단가가 증가할 수 있다.On the other hand, when the thickness of the second barrier metal layer 130b is 300 nm or more, the amount of metal used to form the second barrier metal layer 130b increases, which increases the cost of manufacturing the multilayer structure for metal bonding. can Accordingly, a process unit cost for metal bonding between objects to be joined may increase.

상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층(140a);을 더 포함하고, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate 100a is provided between any one of the bonding objects 10a and the first barrier metal layer 130a, and the solder metal part 200 and the first reactive metal layer 110a ) and a first additional barrier metal layer 140a which further prevents diffusion of at least one of their alloys into any one of the bonding objects 10a; further comprising the first additional barrier metal layer 140a may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer 130a.

상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층(140b);을 더 포함하고, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate 100b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second barrier metal layer 130b, and the solder metal part 200 and the second reactive metal layer 110b ) and a second additional barrier metal layer 140b that further prevents diffusion of at least one of their alloys into the other one of the bonding objects 10b; further comprising, the second additional barrier metal layer 140b may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer 130b.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 사이에 제공되어, 금속의 확산을 추가로 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 이러한 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)의 함량이 높음으로써 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금이 적어도 부분적으로 용융 상태일 경우 필요할 수 있다. The first additional barrier metal layer 140a is provided between any one of the bonding objects 10a and the first barrier metal layer 130a to further prevent metal diffusion, thereby preventing any one of the bonding objects 10a. ) can be protected. The first additional barrier metal layer 140a is at least partially formed from an alloy formed by a reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy due to the high tin (Sn) content of the solder metal portion 200. may be required in the molten state.

이때, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 장벽 금속층(130a)에는 니켈(Ni)을, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)에는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.In this case, the first additional barrier metal layer 140a may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer 130a. For example, nickel (Ni) may be included in the first barrier metal layer 130a, and chromium (Cr) may be included in the first additional barrier metal layer 140a.

그리고 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속보다 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 더 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 공융계 합금이 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)으로 확산 시, 상기 제1 공융계 합금 전체가 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 추가로 더 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 추가로 방지할 수 있다. 또한, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.Also, the first additional barrier metal layer 140a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy more than the metal included in the first barrier metal layer 130a. Accordingly, when the first eutectic alloy diffuses into the first additional barrier metal layer 140a, the entirety of the first eutectic alloy may be solidified. In this way, the first additional barrier metal layer 140a reacts with the first eutectic alloy and is further solidified, so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and an alloy thereof is formed. Diffusion to any one of the bonding objects 10a may be further prevented. In addition, the first additional barrier metal layer 140a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined.

마찬가지로, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 사이에 제공되어, 금속의 확산을 추가로 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)를 보호할 수 있다. 이러한 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)의 함량이 높음으로써 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금이 적어도 부분적으로 용융 상태일 경우 필요할 수 있다. Similarly, the second additional barrier metal layer 140b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second barrier metal layer 130b to further prevent the diffusion of the metal, thereby preventing the other one of the bonding objects. (10b) can be protected. The second additional barrier metal layer 140b is formed by reacting the second barrier metal layer 130b with the second eutectic alloy due to the high content of tin (Sn) in the solder metal portion 200. may be required in the molten state.

이때, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 제2 장벽 금속층(130b)에는 니켈(Ni)을, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)에는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.In this case, the second additional barrier metal layer 140b may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer 130b. For example, nickel (Ni) may be included in the second barrier metal layer 130b, and chromium (Cr) may be included in the second additional barrier metal layer 140b.

그리고 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속보다 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 더 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 공융계 합금이 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)으로 확산 시, 상기 제2 공융계 합금 전체가 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 추가로 더 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 추가로 방지하며 금속 접합이 될 수 있다. 또한, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 접합이 이루어질 수 있다.The second additional barrier metal layer 140b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy more than the metal included in the second barrier metal layer 130b. Accordingly, when the second eutectic alloy diffuses into the second additional barrier metal layer 140b, the entirety of the second eutectic alloy may be solidified. In this way, the second additional barrier metal layer 140b reacts with the second eutectic alloy to further solidify, so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed. It further prevents diffusion to the other one of the bonding objects 10b and can be metal bonding. In addition, the second additional barrier metal layer 140b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that objects to be joined can be joined.

여기서, 상기 솔더 금속부(200)가 진공 증착으로 형성됐을 경우, 상기 솔더 금속부(200)의 두께를 정확하게 조절할 수 있으므로 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 필요 없을 수 있다. 반면에, 상기 솔더 금속부(200)가 와이어나 볼의 형태로 공급되는 경우, 높은 주석(Sn)의 함량으로 인해 제1 공융계 합금 또는 제2 공융계 합금이 고체화되지 않고 용융 상태로 유지될 수 있으므로 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b)이 필요할 수 있다. 예를 들어, 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b) 없이 높은 함량의 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부(200)가 제공될 경우, 실리콘 웨이퍼, 유리, 에프알피(FRP; fiber glass reinforced plastics) 등의 기판에서 금속 접합용 적층 구조체의 금속층이 분리될 수 있다.Here, when the solder metal portion 200 is formed by vacuum deposition, since the thickness of the solder metal portion 200 can be accurately adjusted, the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b is required. there may be no On the other hand, when the solder metal part 200 is supplied in the form of a wire or a ball, the first eutectic alloy or the second eutectic alloy may remain in a molten state without being solidified due to a high content of tin (Sn). Therefore, the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b may be required. For example, when the solder metal part 200 including a high content of tin (Sn) is provided without the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b, silicon wafer, glass, FRP A metal layer of a laminated structure for metal bonding may be separated from a substrate such as fiber glass reinforced plastics (FRP).

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy, The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy. there is.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높음으로써, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 금속의 확산을 추가로 방지할 수 있으며 금속 접합이 될 수 있다. 즉, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)으로 확산되는 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy, The first additional barrier metal layer 140a may additionally prevent diffusion of metal and may be a metal junction. That is, the first additional barrier metal layer 140a reacts with and solidifies the first eutectic alloy diffused into the first additional barrier metal layer 140a, thereby protecting one of the bonding objects 10a. . In addition, the first additional barrier metal layer 140a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined may be achieved.

마찬가지로, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높음으로써, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 금속의 확산을 추가로 방지할 수 있으며 금속 접합이 될 수 있다. 즉, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)으로 확산되는 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.Similarly, the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy. As a result, the second additional barrier metal layer 140b can additionally prevent metal diffusion and become a metal junction. That is, the second additional barrier metal layer 140b reacts with and solidifies the second eutectic alloy diffused into the second additional barrier metal layer 140b, thereby protecting the other one of the bonding objects 10b. . In addition, the second additional barrier metal layer 140b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined can be achieved.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a) 및 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b) 각각의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다.Each of the first additional barrier metal layer 140a and the second additional barrier metal layer 140b may have a thickness of 100 to 300 nm.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 충분히 고체화를 시키고 금속 접합 단가를 감소시킬 수 있다. The thickness of the first additional barrier metal layer 140a may be 100 to 300 nm. As a result, the first additional barrier metal layer 140a reacts with the first eutectic alloy at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to sufficiently solidify the material and reduce the cost of metal bonding. .

이때, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 두께가 100㎚ 이하일 경우, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 즉, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 얇은 두께로 인해, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 고체화가 충분히 되지 않을 수 있다. 이로 인해, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a), 제1 장벽 금속층(130a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하여 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)에 손상을 발생시킬 수 있다. 또한, 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)와 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the first additional barrier metal layer 140a is 100 nm or less, the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy is formed at a heat treatment temperature for metal bonding (for example, , about 250° C.) and may be at least partially molten without solidification. That is, due to the thin thickness of the first additional barrier metal layer 140a, the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy may not be sufficiently solidified for metal bonding. Due to this, at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, the first barrier metal layer 130a, and alloys thereof is diffused into any one of the objects to be joined 10a, and the object to be joined is diffused. Any one of them (10a) may be damaged. In addition, due to the first bonding metal laminate 100a in an at least partially molten state, the first bonding metal laminate 100a and one of the objects to be joined 10a are separated, so that metal bonding between the objects to be joined is achieved. may not progress.

반면에, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 두께가 300㎚ 이상일 경우, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)을 형성하기 위한 금속의 양이 증가하여 금속 접합용 적층 구조체를 제조하기 위한 단가가 증가할 수 있다. 이에 따라, 접합 대상물 간의 금속 접합을 하기 위한 공정 단가가 증가할 수 있다.On the other hand, when the thickness of the first additional barrier metal layer 140a is greater than or equal to 300 nm, the amount of metal used to form the first additional barrier metal layer 140a increases, thereby reducing the cost of manufacturing the multilayer structure for metal bonding. can increase Accordingly, a process unit cost for metal bonding between objects to be joined may increase.

마찬가지로, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 두께는 100 내지 300㎚일 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 충분히 고체화를 시키고 금속 접합 단가를 감소시킬 수 있다.Similarly, the second additional barrier metal layer 140b may have a thickness of 100 to 300 nm. As a result, the second additional barrier metal layer 140b reacts with the second eutectic alloy at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) to sufficiently solidify the material and reduce the cost of metal bonding. .

이때, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 두께가 100㎚ 이하일 경우, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 즉, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 얇은 두께로 인해, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 고체화가 충분히 되지 않을 수 있다. 이로 인해, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b), 제2 장벽 금속층(130b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하여 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)에 손상을 발생시킬 수 있다. 또한, 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)로 인해, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)와 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the thickness of the second additional barrier metal layer 140b is 100 nm or less, the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy is heat treated at a temperature for metal bonding (for example, , about 250° C.) and may be at least partially molten without solidification. That is, due to the thin thickness of the second additional barrier metal layer 140b, the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy may not be sufficiently solidified for metal bonding. Due to this, at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, the second barrier metal layer 130b, and an alloy thereof is diffused into the other one 10b of the object to be joined, and the object to be joined is diffused. may cause damage to the other one (10b) of the In addition, due to the second bonding metal laminate 100b in an at least partially molten state, the second bonding metal laminate 100b and the other one of the objects to be joined 10b are separated, so that metal bonding between the objects to be joined is achieved. may not progress.

반면에, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 두께가 300㎚ 이상일 경우, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)을 형성하기 위한 금속의 양이 증가하여 금속 접합용 적층 구조체를 제조하기 위한 단가가 증가할 수 있다. 이에 따라, 접합 대상물 간의 금속 접합을 하기 위한 공정 단가가 증가할 수 있다.On the other hand, when the thickness of the second additional barrier metal layer 140b is greater than or equal to 300 nm, the amount of metal used to form the second additional barrier metal layer 140b increases, thereby reducing the cost of manufacturing the multilayer structure for metal bonding. can increase Accordingly, a process unit cost for metal bonding between objects to be joined may increase.

상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b) 각각은 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하고, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b) 각각은 니켈(Ni) 또는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.Each of the first reactive metal layer 110a and the second reactive metal layer 110b includes at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al), and the first anti-oxidation metal layer 120a And each of the second anti-oxidation metal layer 120b may include nickel (Ni) or chromium (Cr).

상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b) 각각은 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 또는 합금일 수 있다. 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)은 주석(Sn)과 합금화가 가능하며 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융될 수 있다.Each of the first reactive metal layer 110a and the second reactive metal layer 110b may be a metal or alloy including at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al). Silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al) can be alloyed with tin (Sn) and can be at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding.

종래기술은 접합 금속 적층체의 반응 금속층으로 금(Au)을 사용하였다. 그러나 금(Au)은 고가의 재료로 대체할 필요가 있었다. 금(Au)을 대체하기 위해, 반응 금속층은 상대적으로 저가의 재료인 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)을 사용할 수 있다. 그러나 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al)은 높은 산소 결합성으로 인해 접합 금속 적층체에 사용되지 않았다.In the prior art, gold (Au) was used as a reactive metal layer of a bonded metal laminate. However, gold (Au) needed to be replaced with an expensive material. In order to replace gold (Au), the reactive metal layer may use relatively inexpensive materials such as silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al). However, silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al) have not been used in bonded metal laminates due to their high oxygen bonding properties.

반면에 본 발명의 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 제2 접합 금속 적층체(100b) 각각은 반응 금속층의 산화를 방지하는 산화 방지 금속층을 포함함으로써, 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 반응 금속층을 사용할 수 있다. 이로 인해, 본 발명의 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 제2 접합 금속 적층체(100b) 각각은 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 반응 금속층을 포함함으로써, 저가로 접합 대상물을 금속 접합할 수 있다. 특히, 은(Ag)은 주석(Sn)과의 합금 형성 상태가 금(Au)과 매우 유사하여 금(Au)을 대체하기 유리할 수 있다. 또한, 은(Ag)은 금(Au)보다 전기 및 열전도도가 높으므로, 은(Ag)을 포함한 금속 접합용 적층 구조체는 높은 전기 및 열전도도를 가질 수 있다.On the other hand, each of the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b of the present invention includes an anti-oxidation metal layer to prevent oxidation of the reactive metal layer, so that silver (Ag), copper (Cu) and A reactive metal layer containing at least one of aluminum (Al) may be used. For this reason, each of the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b of the present invention is a reactive metal layer containing at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al) By including, it is possible to metal-bond the object to be joined at low cost. In particular, since silver (Ag) is very similar to gold (Au) in an alloy formation state with tin (Sn), it may be advantageous to replace gold (Au). In addition, since silver (Ag) has higher electrical and thermal conductivity than gold (Au), a multilayer structure for metal bonding including silver (Ag) may have high electrical and thermal conductivity.

상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b) 각각은 니켈(Ni) 또는 크롬(Cr)을 포함하는 금속 또는 합금일 수 있다. 니켈(Ni) 및 크롬(Cr)은 산소 결합성이 낮아 산화가 쉽게 일어나지 않고 내화학성이 우수할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)에 포함된 니켈(Ni) 및 크롬(Cr)은 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 제2 접합 금속 적층체(100b) 표면의 산화막 형성을 효과적으로 방지할 수 있다.Each of the first anti-oxidation metal layer 120a and the second anti-oxidation metal layer 120b may be a metal or alloy containing nickel (Ni) or chromium (Cr). Nickel (Ni) and chromium (Cr) have low oxygen binding properties, so oxidation does not occur easily and chemical resistance may be excellent. As a result, nickel (Ni) and chromium (Cr) included in the first anti-oxidation metal layer 120a and the second anti-oxidation metal layer 120b are formed in the first junction metal laminate 100a and the second junction metal. The formation of an oxide film on the surface of the laminate 100b can be effectively prevented.

이렇게 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b) 각각은 은(Ag)을, 상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b) 각각은 니켈(Ni)을 포함함으로써, 금속 접합용 적층 구조체는 금속 접합 공정의 비용을 절감할 수 있다.In this way, each of the first reactive metal layer 110a and the second reactive metal layer 110b contains silver (Ag), and each of the first and second antioxidant metal layers 120a and the second reactive metal layer 120b contains nickel (Ni). ) By including, the laminated structure for metal bonding can reduce the cost of the metal bonding process.

추가로, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)의 접착력을 증가시키는 제1 접착 금속층(150a)을 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 제1 접착 금속층(150a)은 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 알루미늄(Al) 및 크롬(Cr) 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금일 수 있다.In addition, the first bonded metal laminate 100a is provided between any one of the bonding objects 10a and the first additional barrier metal layer 140a, so that any one of the bonding objects 10a and the A first adhesive metal layer 150a may be further included to increase the adhesive strength of the first additional barrier metal layer 140a. In this case, the first adhesive metal layer 150a may be a metal or alloy including at least one of titanium (Ti), nickel (Ni), aluminum (Al), and chromium (Cr).

마찬가지로, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)의 접착력을 증가시키는 제2 접착 금속층(150b)을 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 제2 접착 금속층(150b)은 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 알루미늄(Al) 및 크롬(Cr) 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금일 수 있다.Similarly, the second bonded metal laminate 100b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second additional barrier metal layer 140b, so that the other one of the bonding objects 10b and the second additional barrier metal layer 140b are formed. 2 A second adhesive metal layer 150b may be further included to increase the adhesive strength of the additional barrier metal layer 140b. In this case, the second adhesive metal layer 150b may be a metal or alloy including at least one of titanium (Ti), nickel (Ni), aluminum (Al), and chromium (Cr).

예를 들어, 이러한 제1 접합 금속 적층체(100a)는 50㎚ 이하의 상기 제1 접착 금속층(150a), 100 내지 300㎚의 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a), 100 내지 300㎚의 상기 제1 장벽 금속층(130a), 100 내지 3000㎚의 상기 제1 반응 금속층(110a), 상기 제1 반응 금속층(110a)의 두께의 10% 이하인 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함할 수 있다.For example, the first bonded metal laminate 100a may include the first adhesive metal layer 150a of 50 nm or less, the first additional barrier metal layer 140a of 100 to 300 nm, and the second barrier metal layer of 100 to 300 nm. 1 may include a barrier metal layer 130a, the first reactive metal layer 110a having a thickness of 100 to 3000 nm, and the first anti-oxidation metal layer 120a having a thickness of 10% or less of the first reactive metal layer 110a.

마찬가지로, 이러한 제2 접합 금속 적층체(100b)는 50㎚ 이하의 상기 제2 접착 금속층(150b), 100 내지 300㎚의 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b), 100 내지 300㎚의 상기 제2 장벽 금속층(130b), 100 내지 3000㎚의 상기 제2 반응 금속층(110b), 상기 제2 반응 금속층(110b)의 두께의 10% 이하인 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함할 수 있다.Similarly, the second bonding metal laminate 100b includes the second adhesive metal layer 150b of 50 nm or less, the second additional barrier metal layer 140b of 100 to 300 nm, and the second barrier of 100 to 300 nm. It may include a metal layer 130b, the second reactive metal layer 110b having a thickness of 100 to 3000 nm, and the second anti-oxidation metal layer 120b having a thickness of 10% or less of the second reactive metal layer 110b.

이러한 본 발명의 제1 접합 금속 적층체(100a) 또는 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 접합 대상물 중 어느 하나(10a)에만 적용하고 접합 대상물 중 다른 하나(10b)에는 종래기술의 접합 금속 적층체를 적용하여도 무방할 수 있다. 통상적으로 칩을 제조하는 업체와 칩을 마운팅하는 패키지 부분을 제조하는 업체가 다르므로, 각 기업별로 원하는 방식으로 금속 접합용 적층 구조체를 제조할 수 있다.The first bonding metal laminate 100a or the second bonding metal laminate 100b of the present invention is applied only to one of the bonding objects 10a, and the other one of the bonding objects 10b has a conventional bonding metal. A laminate may also be applied. Typically, since a company that manufactures a chip and a company that manufactures a package part for mounting the chip are different, each company can manufacture a laminated structure for metal bonding in a desired manner.

도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 금속 접합 방법을 나타낸 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a metal bonding method according to another embodiment of the present invention.

도 2를 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 금속 접합 방법을 보다 상세히 살펴보는데, 본 발명의 일실시예에 따른 금속 접합용 적층 구조체와 관련하여 앞서 설명된 부분과 중복되는 사항들은 생략하도록 한다.Referring to FIG. 2, a metal bonding method according to another embodiment of the present invention will be looked at in more detail. Items overlapping with those described above in relation to the laminated structure for metal bonding according to an embodiment of the present invention will be omitted. .

본 발명의 다른 일실시예에 따른 금속 접합 방법은 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에, 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층(120a)을 구비하는 제1 접합 금속 적층체(100a)를 준비하는 과정(S100); 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층(110b) 및 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층(120b)을 구비하는 제2 접합 금속 적층체(100b)를 준비하는 과정(S200); 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 사이에, 상기 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부(200)를 제공하는 과정(S300); 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)와 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성하는 과정(S400); 및 형성된 상기 금속 접합용 적층 구조체를 열처리하는 과정(S500);을 포함할 수 있다.In the metal bonding method according to another embodiment of the present invention, a first reactive metal layer capable of forming a first eutectic alloy by reacting with tin (Sn) provided from the outside on any one of the objects 10a to be joined ( 110a) and a process of preparing a first bonding metal laminate 100a including a first anti-oxidation metal layer 120a preventing oxidation of the first reactive metal layer 110a (S100); A second reactive metal layer 110b capable of forming a second eutectic alloy by reacting with tin (Sn) on the other one of the objects to be bonded 10b and preventing oxidation of the second reactive metal layer 110b preparing a second bonding metal laminate 100b having a second anti-oxidation metal layer 120b (S200); providing a solder metal part 200 containing tin (Sn) between the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b (S300); forming a laminated structure for metal bonding by laminating the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b so as to face each other (S400); and heat-treating the formed multilayer structure for metal bonding (S500).

먼저, 접합 대상물 중 어느 하나(10a) 상에, 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제1 반응 금속층(110a)의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층(120a)을 구비하는 제1 접합 금속 적층체(100a)를 준비한다(S100). 이때, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제1 산화 방지 금속층(120a)을 포함함으로써, 산화막 형성이 억제되어 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력이 증가될 수 있다.First, a first reactive metal layer 110a capable of forming a first eutectic alloy by reacting with tin (Sn) provided from the outside and the first reactive metal layer 110a on one of the objects to be bonded 10a A first bonding metal laminate 100a having a first anti-oxidation metal layer 120a preventing oxidation of the first metal layer 100a is prepared (S100). In this case, since the first bonding metal laminate 100a includes the first reactive metal layer 110a and the first oxidation-preventing metal layer 120a, the formation of an oxide film is suppressed, thereby increasing the bonding strength between objects to be bonded during metal bonding. can

다음으로, 접합 대상물 중 다른 하나(10b) 상에, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층(110b) 및 상기 제2 반응 금속층(110b)의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층(120b)을 구비하는 제2 접합 금속 적층체(100b)를 준비한다(S200). 이때, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는 상기 제2 반응 금속층(110b) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)을 포함함으로써, 산화막 형성이 억제되어 금속 접합 시 접합 대상물 간의 접합력이 증가될 수 있다.Next, on the other one of the objects to be bonded 10b, a second reactive metal layer 110b capable of forming a second eutectic alloy by reacting with the tin (Sn) and oxidation of the second reactive metal layer 110b A second bonding metal laminate 100b having a second oxidation-preventing metal layer 120b to prevent is prepared (S200). At this time, the second bonding metal laminate 100b includes the second reactive metal layer 110b and the second anti-oxidation metal layer 120b, thereby suppressing the formation of an oxide film and increasing the bonding strength between objects to be bonded during metal bonding. can

그 다음 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 사이에, 상기 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부(200)를 제공한다(S300). 이때, 상기 솔더 금속부(200)는 볼(ball), 와이어(wire), 페이스트(paste), 바(bar), 포일(foil), 플레이트(plate), 코일(coil), 튜브(tube), 디스크(disk) 등의 형태일 수 있다.Then, the solder metal part 200 including the tin (Sn) is provided between the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b (S300). At this time, the solder metal part 200 is a ball, wire, paste, bar, foil, plate, coil, tube, It may be in the form of a disk or the like.

그리고 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)와 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성한다(S400). 이로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)의 상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)은 상기 솔더 금속부(200)와 접촉될 수 있다.Then, the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b are laminated to face each other to form a laminated structure for metal bonding (S400). Due to this, the first anti-oxidation metal layer 120a of the first junction metal laminate 100a and the second anti-oxidation metal layer 120b of the second junction metal laminate 100b form the solder metal part ( 200) can be contacted.

다음으로, 형성된 상기 금속 접합용 적층 구조체를 열처리한다(S500). 상기 금속 접합용 적층 구조체를 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)로 열처리하면, 상기 솔더 금속부(200)는 용융되어 적어도 부분적으로 용융 상태가 될 수 있다. 그리고 용융 상태가 된 상기 솔더 금속부(200)에 상기 제1 산화 방지 금속층(120a) 및 상기 제2 산화 방지 금속층(120b)이 흡수될 수 있다. 이때, 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b)도 흡수되어 이들의 합금(상기 제1 반응 금속층(110a), 제1 산화 방지 금속층(120a), 제2 반응 금속층(110b) 및 제2 산화 방지 금속층의 합금)의 용융 온도가 낮아짐으로써 이들의 합금은 적어도 부분적으로 용융 상태가 될 수 있다. 여기서, 적어도 부분적으로 용융 상태인 이들의 합금에 흡수되는 상기 제1 반응 금속층(110a) 및 상기 제2 반응 금속층(110b)의 함량이 증가하여, 이들의 합금의 용융 온도가 증가할 수 있다. 그리고 이들의 합금에 후술하는 제1 장벽 금속층(130a), 제2 장벽 금속층(130b), 제1 추가 장벽 금속층(140a) 및 제2 추가 장벽 금속층(140b)이 흡수되면, 이들의 합금과 제1 장벽 금속층(130a), 제2 장벽 금속층(130b), 제1 추가 장벽 금속층(140a) 및 제2 추가 장벽 금속층(140b)이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는 급격히 상승하여 고체화가 될 수 있다.Next, the formed laminated structure for metal bonding is subjected to heat treatment (S500). When the metal bonding multilayer structure is subjected to heat treatment at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), the solder metal part 200 may be melted and at least partially brought into a molten state. In addition, the first oxidation prevention metal layer 120a and the second oxidation prevention metal layer 120b may be absorbed into the solder metal part 200 in a molten state. At this time, the first reactive metal layer 110a and the second reactive metal layer 110b are also absorbed and their alloys (the first reactive metal layer 110a, the first antioxidant metal layer 120a, and the second reactive metal layer 110b) ) and the alloy of the second anti-oxidation metal layer) are lowered so that their alloy can be at least partially in a molten state. Here, since the contents of the first reactive metal layer 110a and the second reactive metal layer 110b that are at least partially absorbed into the alloy in a molten state increase, the melting temperature of the alloy may increase. When the first barrier metal layer 130a, the second barrier metal layer 130b, the first additional barrier metal layer 140a, and the second additional barrier metal layer 140b, which will be described later, are absorbed into these alloys, these alloys and the first barrier metal layer 130b are absorbed. The melting temperature of an alloy formed by reacting the barrier metal layer 130a, the second barrier metal layer 130b, the first additional barrier metal layer 140a, and the second additional barrier metal layer 140b may rapidly rise and become solid.

이렇게 상기 열처리하는 과정(S500)을 통해 상기 금속 접합용 적층 구조체는 적어도 부분적으로 용융 상태인 합금을 형성한 후 고체화됨으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행될 수 있다. 즉, 상기 열처리하는 과정(S500)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)로 유지되나, 접합 대상물 간의 금속 접합이 완료되면 상기 금속 접합용 적층 구조체는 고체 상태가 되어 안정적인 접합을 유지할 수 있다.Through the heat treatment process (S500), the laminated structure for metal bonding forms an alloy in an at least partially molten state and then is solidified, so that metal bonding between objects to be joined may proceed. That is, in the heat treatment process (S500), the heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.) is maintained, but when metal bonding between objects to be joined is completed, the laminated structure for metal bonding becomes a solid state and is bonded stably. can keep

상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 반응 금속층(110a)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층(130a);을 더 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate 100a is provided between one of the bonding objects 10a and the first reactive metal layer 110a, and the solder metal part 200 and the first reactive metal layer 110a ) and a first barrier metal layer 130a preventing diffusion of at least one of these alloys into any one of the bonding objects 10a.

상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 반응 금속층(110b)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층(130b);을 더 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate 100b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second reactive metal layer 110b, so that the solder metal part 200 and the second reactive metal layer 110b ) and a second barrier metal layer 130b preventing at least one of the alloys from diffusing into the other one of the bonding objects 10b.

상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 반응 금속층(110a)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로의 금속의 확산을 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 이때, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금이 상기 제1 장벽 금속층(130a)으로 확산 시, 상기 제1 공융계 합금이 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.The first barrier metal layer 130a is provided between one of the bonding objects 10a and the first reactive metal layer 110a to prevent diffusion of metal into the one of the bonding objects 10a. Any one of the bonding objects 10a can be protected. In this case, the first barrier metal layer 130a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy. Due to this, when the first eutectic system alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), diffuses into the first barrier metal layer 130a, the first eutectic alloy based alloys can be solidified. In this way, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to any one 10a can be prevented. In addition, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined can be achieved.

마찬가지로, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 반응 금속층(110b)의 사이에 제공되어, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로의 금속의 확산을 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)를 보호할 수 있다. 이때, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 금속 접합을 위한 열처리 온도 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금이 상기 제2 장벽 금속층(130b)으로 확산 시, 상기 제2 공융계 합금이 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.Similarly, the second barrier metal layer 130b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second reactive metal layer 110b to prevent diffusion of metal into the other one of the bonding objects 10b. By doing so, it is possible to protect the other one (10b) of the bonding object. In this case, the second barrier metal layer 130b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy. Due to this, when the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.), diffuses into the second barrier metal layer 130b, the second eutectic alloy based alloys can be solidified. In this way, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to the other one (10b) can be prevented. In addition, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined can be achieved.

상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.Each of the first eutectic alloy and the second eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding, and the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy is melted. The temperature is higher than the melting temperature of the first eutectic alloy, and the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the second eutectic alloy. can be high

상기 제1 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융될 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 반응 금속층(110a)과 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)이 반응하여 합금화가 진행될 수 있다.The first eutectic alloy may be at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). As a result, alloying may proceed by reacting the first reactive metal layer 110a with tin (Sn) of the solder metal part 200 .

상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다. 즉, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 높이는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킬 수 있다. 이렇게 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 고체화되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제1 장벽 금속층(130a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the first eutectic alloy. That is, the first barrier metal layer 130a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy. Accordingly, the first barrier metal layer 130a may react with and solidify the first eutectic alloy that is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). The alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the eutectic alloy is solidified so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and an alloy thereof is among the objects to be joined. Diffusion to any one 10a can be prevented. In addition, the first barrier metal layer 130a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined can be achieved.

이때, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 낮을 경우, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)의 적어도 일부분과 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy is lower than the melting temperature of the first eutectic alloy, the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy The alloy formed by the reaction of the base alloy may be at least partially in a molten state without being solidified at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). Accordingly, since at least a portion of the first bonding metal laminate 100a and one of the bonding objects 10a are separated, metal bonding between the bonding objects may not proceed.

마찬가지로, 상기 제2 공융계 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융될 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 반응 금속층(110b)과 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)이 반응하여 합금화가 진행될 수 있다.Likewise, the second eutectic alloy may be at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). As a result, alloying may proceed by reacting the second reactive metal layer 110b with tin (Sn) of the solder metal part 200 .

상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다. 즉, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 높이는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킬 수 있다. 이렇게 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 고체화되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제2 장벽 금속층(130b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the second eutectic alloy. That is, the second barrier metal layer 130b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy. Accordingly, the second barrier metal layer 130b may react with and solidify the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). The alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the eutectic alloy is solidified so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed among the objects to be joined. Diffusion to the other one (10b) can be prevented. In addition, the second barrier metal layer 130b reacts with and solidifies the second eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined can be achieved.

이때, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 낮을 경우, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금은 금속 접합을 위한 열처리 온도(예를 들어, 약 250℃)에서 고체화가 되지 않고 적어도 부분적으로 용융 상태일 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)의 적어도 일부분과 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)가 분리되어 접합 대상물 간의 금속 접합이 진행되지 않을 수 있다.In this case, when the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy is lower than the melting temperature of the second eutectic alloy, the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy The alloy formed by the reaction of the base alloy may be at least partially in a molten state without being solidified at a heat treatment temperature for metal bonding (eg, about 250° C.). Due to this, at least a portion of the second bonding metal laminate 100b and the other one 10b of the bonding objects may be separated, so that metal bonding between the bonding objects may not proceed.

상기 제1 접합 금속 적층체(100a)는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층(140a);을 더 포함하고, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The first bonding metal laminate 100a is provided between any one of the bonding objects 10a and the first barrier metal layer 130a, and the solder metal part 200 and the first reactive metal layer 110a ) and a first additional barrier metal layer 140a which further prevents diffusion of at least one of their alloys into any one of the bonding objects 10a; further comprising the first additional barrier metal layer 140a may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer 130a.

상기 제2 접합 금속 적층체(100b)는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층(140b);을 더 포함하고, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다.The second bonding metal laminate 100b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second barrier metal layer 130b, and the solder metal part 200 and the second reactive metal layer 110b ) and a second additional barrier metal layer 140b that further prevents diffusion of at least one of their alloys into the other one of the bonding objects 10b; further comprising, the second additional barrier metal layer 140b may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer 130b.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 상기 제1 장벽 금속층(130a)의 사이에 제공되어, 금속의 확산을 추가로 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 이러한 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)의 함량이 높음으로써 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금이 적어도 부분적으로 용융 상태일 경우 필요할 수 있다. The first additional barrier metal layer 140a is provided between any one of the bonding objects 10a and the first barrier metal layer 130a to further prevent metal diffusion, thereby preventing any one of the bonding objects 10a. ) can be protected. The first additional barrier metal layer 140a is at least partially formed from an alloy formed by a reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy due to the high tin (Sn) content of the solder metal portion 200. may be required in the molten state.

이때, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 장벽 금속층(130a)에는 니켈(Ni)을, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)에는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.In this case, the first additional barrier metal layer 140a may include a metal different from the metal included in the first barrier metal layer 130a. For example, nickel (Ni) may be included in the first barrier metal layer 130a, and chromium (Cr) may be included in the first additional barrier metal layer 140a.

그리고 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 장벽 금속층(130a)에 포함된 금속보다 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도를 더 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제1 공융계 합금이 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)으로 확산 시, 상기 제1 공융계 합금 전체가 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 추가로 더 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제1 반응 금속층(110a) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)로 확산하는 것을 추가로 방지하며 금속 접합이 될 수 있다.Also, the first additional barrier metal layer 140a may include a metal that increases the melting temperature of the first eutectic alloy more than the metal included in the first barrier metal layer 130a. Accordingly, when the first eutectic alloy diffuses into the first additional barrier metal layer 140a, the entirety of the first eutectic alloy may be solidified. In this way, the first additional barrier metal layer 140a reacts with the first eutectic alloy and is further solidified, so that at least one of the solder metal part 200, the first reactive metal layer 110a, and an alloy thereof is formed. It can further prevent diffusion to any one of the bonding objects 10a and can be metal bonding.

마찬가지로, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)와 상기 제2 장벽 금속층(130b)의 사이에 제공되어, 금속의 확산을 추가로 방지함으로써 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)를 보호할 수 있다. 이러한 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 솔더 금속부(200)의 주석(Sn)의 함량이 높음으로써 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금이 적어도 부분적으로 용융 상태일 경우 필요할 수 있다. Similarly, the second additional barrier metal layer 140b is provided between the other one of the bonding objects 10b and the second barrier metal layer 130b to further prevent the diffusion of the metal, thereby preventing the other one of the bonding objects. (10b) can be protected. The second additional barrier metal layer 140b is formed by reacting the second barrier metal layer 130b with the second eutectic alloy due to the high content of tin (Sn) in the solder metal portion 200. may be required in the molten state.

이때, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 제2 장벽 금속층(130b)에는 니켈(Ni)을, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)에는 크롬(Cr)을 포함할 수 있다.In this case, the second additional barrier metal layer 140b may include a metal different from the metal included in the second barrier metal layer 130b. For example, nickel (Ni) may be included in the second barrier metal layer 130b, and chromium (Cr) may be included in the second additional barrier metal layer 140b.

그리고 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 장벽 금속층(130b)에 포함된 금속보다 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도를 더 증가시키는 금속을 포함할 수 있다. 이로 인해, 상기 제2 공융계 합금이 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)으로 확산 시, 상기 제2 공융계 합금 전체가 고체화될 수 있다. 이렇게 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 추가로 더 고체화시킴으로써, 상기 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나(10b)로 확산하는 것을 추가로 방지하며 금속 접합이 될 수 있다.The second additional barrier metal layer 140b may include a metal that increases the melting temperature of the second eutectic alloy more than the metal included in the second barrier metal layer 130b. Accordingly, when the second eutectic alloy diffuses into the second additional barrier metal layer 140b, the entirety of the second eutectic alloy may be solidified. In this way, the second additional barrier metal layer 140b reacts with the second eutectic alloy to further solidify, so that at least one of the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and their alloy is formed. It further prevents diffusion to the other one of the bonding objects 10b and can be metal bonding.

여기서, 상기 솔더 금속부(200)가 진공 증착으로 형성됐을 경우, 상기 솔더 금속부(200)의 두께를 정확하게 조절할 수 있으므로 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 필요 없을 수 있다. 반면에, 상기 솔더 금속부(200)가 와이어나 볼의 형태로 공급되는 경우, 높은 주석(Sn)의 함량으로 인해 제1 공융계 합금 또는 제2 공융계 합금이 고체화되지 않고 용융 상태로 유지될 수 있으므로 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b)이 필요할 수 있다. 예를 들어, 제1 추가 장벽 금속층(140a) 또는 제2 추가 장벽 금속층(140b) 없이 높은 함량의 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부(200)가 제공될 경우, 실리콘 웨이퍼, 유리, 에프알피(FRP; fiber glass reinforced plastics) 등의 기판에서 금속 접합용 적층 구조체의 금속층이 분리될 수 있다.Here, when the solder metal portion 200 is formed by vacuum deposition, since the thickness of the solder metal portion 200 can be accurately adjusted, the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b is required. there may be no On the other hand, when the solder metal part 200 is supplied in the form of a wire or a ball, the first eutectic alloy or the second eutectic alloy may remain in a molten state without being solidified due to a high content of tin (Sn). Therefore, the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b may be required. For example, when the solder metal part 200 including a high content of tin (Sn) is provided without the first additional barrier metal layer 140a or the second additional barrier metal layer 140b, silicon wafer, glass, FRP A metal layer of a laminated structure for metal bonding may be separated from a substrate such as fiber glass reinforced plastics (FRP).

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높을 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy, The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy may be higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy. there is.

상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제1 장벽 금속층(130a)과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높음으로써, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 금속의 확산을 추가로 방지할 수 있으며 금속 접합이 될 수 있다. 즉, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)으로 확산되는 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 접합 대상물 중 어느 하나(10a)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer 140a and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer 130a and the first eutectic alloy, The first additional barrier metal layer 140a may additionally prevent diffusion of metal and may be a metal junction. That is, the first additional barrier metal layer 140a reacts with and solidifies the first eutectic alloy diffused into the first additional barrier metal layer 140a, thereby protecting one of the bonding objects 10a. . In addition, the first additional barrier metal layer 140a reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined may be achieved.

마찬가지로, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도가 상기 제2 장벽 금속층(130b)과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높음으로써, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 금속의 확산을 추가로 방지할 수 있으며 금속 접합이 될 수 있다. 즉, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)으로 확산되는 상기 제2 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 상기 접합 대상물 중 다른 하나를 보호할 수 있다. 또한, 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)은 적어도 부분적으로 용융 상태인 상기 제1 공융계 합금과 반응하여 고체화시킴으로써, 접합 대상물 간의 금속 접합이 이루어질 수 있다.Similarly, the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second additional barrier metal layer 140b and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer 130b and the second eutectic alloy. As a result, the second additional barrier metal layer 140b can additionally prevent metal diffusion and become a metal junction. That is, the second additional barrier metal layer 140b reacts with and solidifies the second eutectic alloy diffused into the second additional barrier metal layer 140b, thereby protecting another one of the bonding objects. In addition, the second additional barrier metal layer 140b reacts with and solidifies the first eutectic alloy, which is at least partially in a molten state, so that metal bonding between objects to be joined may be achieved.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 금속 접합 방법의 열처리하는 과정 후 접합된 금속 접합용 적층 구조체를 설명하기 위한 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a laminated structure for metal bonding bonded after a heat treatment process of a metal bonding method according to another embodiment of the present invention.

도 3을 살펴보면, 금속 접합용 적층 구조체는 열처리를 통해 합금화가 되어 합금층을 형성한 것을 알 수 있다. 특히, 제1 반응 금속층(110a), 제1 산화 방지 금속층(120a), 솔더 금속부(200), 제2 반응 금속층(110b) 및 제2 산화 방지 금속층(120b)이 상호확산되어 합금화를 위한 반응을 함으로써 합금층(300)으로 형성된 것을 알 수 있다. 이에 따라, 접합 대상물 중 어느 하나(10a)와 접합 대상물 중 다른 하나(10b)는 형성된 합금층(300)을 통해 금속 접합이 이루어진 것을 알 수 있다.Referring to FIG. 3 , it can be seen that the laminated structure for metal bonding is alloyed through heat treatment to form an alloy layer. In particular, the first reactive metal layer 110a, the first anti-oxidation metal layer 120a, the solder metal part 200, the second reactive metal layer 110b, and the second anti-oxidation metal layer 120b are mutually diffused to form a reaction for alloying. It can be seen that the alloy layer 300 is formed by doing. Accordingly, it can be seen that one of the objects to be joined 10a and the other one of the objects to be joined 10b are metal-bonded through the formed alloy layer 300 .

예를 들어, 이러한 금속 접합용 적층 구조체는 접합 대상물로서 플립칩, 레이저 다이오드 칩, 고출력 발광 다이오드 칩, 고출력 전자 소자 칩 등의 상에 형성하여, 동작 시 고열이 발생되는 소자의 방열을 위한 패키징에 본딩하는 공정에 사용될 수 있다. 또한, 금속 접합용 적층 구조체는 접합 대상물로서 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC) 등의 칩 캐패시터, 칩 다이오드, 칩 저항 등의 상에 형성하여, 다양한 부품의 전기적 결선을 위한 솔더 본딩에도 사용될 수 있다.For example, such a laminated structure for metal bonding is formed on a flip chip, a laser diode chip, a high power light emitting diode chip, a high power electronic device chip, etc. as a bonding object, and is used in packaging for heat dissipation of a device that generates high heat during operation. It can be used in the bonding process. In addition, the multilayer structure for metal bonding is formed on a chip capacitor such as a multi-layer ceramic condenser (MLCC), a chip diode, a chip resistor, etc. as a bonding object, and is also used for solder bonding for electrical connection of various parts. can be used

특히, 적층 세라믹 콘덴서와 피씨비 기판의 금속 접합을 위해, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)를 적층 세라믹 콘덴서 및 피씨비 기판의 상에 형성할 수 있다. 이를 위해, 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC)를 외부 전극 형성을 위한 양끝 단에 구리(Cu) 페이스트에 딥핑(dipping) 한 후 경화 처리하여 준비할 수 있다. 그리고 경화 처리된 적층 세라믹 콘덴서에 제1 장벽 금속층(130a)으로서 니켈(Ni)을 도금하고, 제1 반응 금속층(110a)으로서 은(Ag)을 도금할 수 있다. 다음으로, 은(Ag)이 도금된 적층 세라믹 콘덴서에 제1 산화 방지 금속층(120a)으로서 니켈(Ni)을 도금할 수 있다. 이렇게 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC)의 상에 상기 제1 접합 금속 적층체(100a)를 형성할 수 있다.In particular, for metal bonding between the multilayer ceramic capacitor and the PCB substrate, the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b may be formed on the multilayer ceramic capacitor and the PCB substrate. To this end, a multi-layer ceramic condenser (MLCC) may be prepared by dipping copper (Cu) paste at both ends for forming external electrodes and then curing. In addition, nickel (Ni) may be plated as the first barrier metal layer 130a and silver (Ag) may be plated as the first reactive metal layer 110a on the multilayer ceramic capacitor subjected to the hardening treatment. Next, nickel (Ni) may be plated as the first anti-oxidation metal layer 120a on the multilayer ceramic capacitor plated with silver (Ag). In this way, the first bonded metal laminate 100a may be formed on a multi-layer ceramic condenser (MLCC).

그리고 피씨비(PCB) 기판 상에 제2 장벽 금속층(130b)으로서 니켈(Ni)을 도금하고, 제2 반응 금속층(110b)으로서 은(Ag)을 도금하며, 제2 산화 방지 금속층(120b)으로서 니켈(Ni)을 도금할 수 있다. 이렇게 피씨비(PCB) 기판 상에 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)를 형성할 수 있다.And nickel (Ni) is plated on the PCB (PCB) substrate as the second barrier metal layer 130b, silver (Ag) is plated as the second reactive metal layer 110b, and nickel is plated as the second anti-oxidation metal layer 120b. (Ni) can be plated. In this way, the second junction metal laminate 100b may be formed on a PCB substrate.

이어, 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC)와 피씨비(PCB) 기판이 사이에 솔더 금속부(200)으로서 솔더 볼을 제공한 후, 서로 대향하도록 접촉시키고 약 250℃의 온도를 가할 수 있다. 이에 따라, 적층 세라믹 콘덴서(multi-layer ceramic condenser; MLCC)의 상기 제1 금속 적층체, 솔더 금속부(200) 및 피씨비(PCB) 기판의 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)가 반응하여 제1 공융계 합금 및 제2 공융계 합금을 형성할 수 있다. 이때, 상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 적어도 부분적으로 용융되었다가 상기 제1 장벽 금속층(130a), 상기 제2 장벽 금속층(130b), 상기 제1 추가 장벽 금속층(140a) 및 상기 제2 추가 장벽 금속층(140b)으로 확산되면서 고체화될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 접합 금속 적층체(100a), 상기 제2 접합 금속 적층체(100b) 및 솔더 금속부(200)는 고체 상태가 되어 금속 접합이 진행될 수 있다. 이렇게 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b)를 적층 세라믹 콘덴서 및 피씨비 기판의 상에 형성하고, 형성된 상기 제1 접합 금속 적층체(100a) 및 상기 제2 접합 금속 적층체(100b) 사이에 상기 솔더 금속부(200)를 제공함으로써, 적층 세라믹 콘덴서와 피씨비 기판을 금속 접합할 수 있다.Then, after providing a solder ball as a solder metal part 200 between the multi-layer ceramic condenser (MLCC) and the PCB substrate, contact them to face each other and apply a temperature of about 250 ° C. there is. Accordingly, the first metal laminate of a multi-layer ceramic condenser (MLCC), the solder metal part 200 and the second bonded metal laminate 100b of a PCB substrate react to form a first metal laminate. A first eutectic alloy and a second eutectic alloy can be formed. At this time, each of the first eutectic-based alloy and the second eutectic-based alloy is at least partially melted and forms the first barrier metal layer 130a, the second barrier metal layer 130b, and the first additional barrier metal layer 140a. And it can be solidified while being diffused into the second additional barrier metal layer 140b. Accordingly, the first bonding metal laminate 100a, the second bonding metal laminate 100b, and the solder metal part 200 are in a solid state, and metal bonding may proceed. In this way, the first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100b are formed on the multilayer ceramic capacitor and the PCB substrate, and the formed first junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100a and the second junction metal laminate 100a are formed. By providing the solder metal part 200 between the bonding metal laminates 100b, the multilayer ceramic capacitor and the PCB substrate may be metal-bonded.

이처럼, 본 발명에서는 금속 접합용 적층 구조체가 주석(Sn)과 공융계 합금을 형성하는 반응 금속층과 산화 방지 금속층을 구비하는 접합 금속 적층체를 포함함으로써, 산화막 형성을 억제하여 접합력을 증가시킬 수 있다. 그리고 금속 접합용 적층 구조체는 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부를 구비하여 접합 금속 적층체에 주석(Sn)을 공급할 수 있다. 또한, 접합 금속 적층체는 장벽 금속층 및 추가 장벽 금속층을 더 포함하여 공융계 합금을 형성하는 금속이 접합 대상물로 확산하는 것을 방지하여 접합 대상물을 보호할 수 있다. As described above, in the present invention, the laminated structure for metal bonding includes a bonding metal laminate including a reactive metal layer forming a eutectic alloy with tin (Sn) and an oxidation preventing metal layer, thereby suppressing the formation of an oxide film and increasing bonding strength. . In addition, the metal bonding multilayer structure may include a solder metal portion including tin (Sn) to supply tin (Sn) to the bonding metal multilayer body. In addition, the bonding metal laminate may further include a barrier metal layer and an additional barrier metal layer to prevent diffusion of a metal forming a eutectic alloy to a bonding object, thereby protecting the bonding object.

그리고 금속 접합 방법은 두 접합 금속 적층체의 사이에 솔더 금속부를 제공하고, 두 접합 금속 적층체를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성하는 과정을 포함할 수 있다. 이때, 두 접합 금속 적층체 각각은 산화 방지 금속층을 포함함으로써, 금속 접합 시 산화막 형성을 억제하여 접합력을 증가시킬 수 있다.The metal bonding method may include providing a solder metal part between the two bonding metal laminates and forming a metal bonding laminated structure by stacking the two bonding metal laminates to face each other. In this case, since each of the two bonding metal laminates includes an oxidation-preventing metal layer, the formation of an oxide film may be suppressed during metal bonding to increase bonding strength.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been shown and described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and common knowledge in the field to which the present invention pertains without departing from the gist of the present invention claimed in the claims. Those who have will understand that various modifications and other equivalent embodiments are possible from this. Therefore, the technical protection scope of the present invention should be determined by the claims below.

10a: 접합 대상물 중 어느 하나 10b: 접합 대상물 중 다른 하나
100a: 제1 접합 금속 적층체 100b: 제2 접합 금속 적층체
110a: 제1 반응 금속층 110b: 제2 반응 금속층
120a: 제1 산화 방지 금속층 120b: 제2 산화 방지 금속층
130a: 제1 장벽 금속층 130b: 제2 장벽 금속층
140a: 제1 추가 장벽 금속층 140b: 제2 추가 장벽 금속층
150a: 제1 접착 금속층 150b: 제2 접착 금속층
200: 솔더 금속부 300: 합금층
10a: one of the bonding objects 10b: the other of the bonding objects
100a: first bonded metal laminate 100b: second bonded metal laminate
110a: first reactive metal layer 110b: second reactive metal layer
120a: first anti-oxidation metal layer 120b: second anti-oxidation metal layer
130a: first barrier metal layer 130b: second barrier metal layer
140a: first additional barrier metal layer 140b: second additional barrier metal layer
150a: first adhesive metal layer 150b: second adhesive metal layer
200: solder metal part 300: alloy layer

Claims (14)

접합 대상물 중 어느 하나 상에 제공되는 제1 접합 금속 적층체;
접합 대상물 중 다른 하나 상에 제공되는 제2 접합 금속 적층체; 및
상기 제1 접합 금속 적층체 및 상기 제2 접합 금속 적층체의 사이에 제공되며, 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부;를 포함하고,
상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층; 및 상기 제1 반응 금속층의 상에 제공되어, 상기 제1 반응 금속층의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층;을 포함하고,
상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나 상에 제공되어, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층; 및 상기 제2 반응 금속층의 상에 제공되어, 상기 제2 반응 금속층의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층;을 포함하는 금속 접합용 적층 구조체.
A first bonding metal laminate provided on any one of the objects to be bonded;
a second bonding metal laminate provided on the other one of the bonding objects; and
A solder metal portion provided between the first bonding metal laminate and the second bonding metal laminate and containing tin (Sn); includes,
The first bonding metal laminate may include a first reactive metal layer provided on any one of the bonding objects and reacting with the tin (Sn) to form a first eutectic alloy; and a first anti-oxidation metal layer provided on the first reactive metal layer to prevent oxidation of the first reactive metal layer,
The second bonding metal laminate may include a second reactive metal layer provided on the other one of the bonding objects and reacting with the tin (Sn) to form a second eutectic alloy; and a second anti-oxidation metal layer provided on the second reactive metal layer to prevent oxidation of the second reactive metal layer.
청구항 1에 있어서,
상기 제1 산화 방지 금속층의 두께는 상기 제1 반응 금속층의 두께의 10% 이하이고,
상기 제2 산화 방지 금속층의 두께는 상기 제2 반응 금속층의 두께의 10% 이하인 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 1,
The thickness of the first anti-oxidation metal layer is 10% or less of the thickness of the first reactive metal layer,
The thickness of the second anti-oxidation metal layer is 10% or less of the thickness of the second reactive metal layer.
청구항 1에 있어서,
상기 제1 접합 금속 적층체는,
상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제2 접합 금속 적층체는,
상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층;을 더 포함하는 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 1,
The first bonding metal laminate,
A first barrier provided between any one of the objects to be joined and the first reactive metal layer to prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and alloys thereof to any one of the objects to be joined. A metal layer; further comprising,
The second bonding metal laminate,
A second barrier provided between the other of the objects to be joined and the second reactive metal layer to prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and alloys thereof to the other of the objects to be joined. A multilayer structure for metal bonding further comprising a metal layer.
청구항 3에 있어서,
상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고,
상기 제1 장벽 금속층과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고,
상기 제2 장벽 금속층과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높은 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 3,
each of the first eutectic-based alloy and the second eutectic-based alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding;
The melting temperature of an alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the first eutectic alloy;
The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the second eutectic alloy.
청구항 3에 있어서,
상기 제1 장벽 금속층 및 상기 제2 장벽 금속층 각각의 두께는 100 내지 300㎚인 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 3,
Wherein each of the first barrier metal layer and the second barrier metal layer has a thickness of 100 to 300 nm.
청구항 3에 있어서,
상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제1 추가 장벽 금속층은 상기 제1 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함하고,
상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제2 추가 장벽 금속층은 상기 제2 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함하는 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 3,
An agent provided between any one of the objects to be joined and the first barrier metal layer to further prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof into any one of the objects to be joined. 1 additional barrier metal layer; further comprising,
The first additional barrier metal layer includes a metal different from the metal included in the first barrier metal layer,
Provided between the other one of the bonding objects and the second barrier metal layer to further prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and alloys thereof to the other one of the bonding objects. 2 additional barrier metal layers; further comprising;
The second additional barrier metal layer includes a metal different from the metal included in the second barrier metal layer.
청구항 6에 있어서,
상기 제1 추가 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고,
상기 제2 추가 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높은 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 6,
The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy;
The melting temperature of the alloy formed by the reaction of the second additional barrier metal layer and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction of the second barrier metal layer and the second eutectic alloy.
청구항 3에 있어서,
상기 제1 추가 장벽 금속층 및 상기 제2 추가 장벽 금속층 각각의 두께는 100 내지 300㎚인 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 3,
The first additional barrier metal layer and the second additional barrier metal layer each have a thickness of 100 to 300 nm.
청구항 1에 있어서,
상기 제1 반응 금속층 및 상기 제2 반응 금속층 각각은 은(Ag), 구리(Cu) 및 알루미늄(Al) 중 적어도 어느 하나를 포함하고,
상기 제1 산화 방지 금속층 및 상기 제2 산화 방지 금속층 각각은 니켈(Ni) 또는 크롬(Cr)을 포함하는 금속 접합용 적층 구조체.
The method of claim 1,
Each of the first reactive metal layer and the second reactive metal layer includes at least one of silver (Ag), copper (Cu), and aluminum (Al),
Wherein each of the first anti-oxidation metal layer and the second anti-oxidation metal layer includes nickel (Ni) or chromium (Cr).
접합 대상물 중 어느 하나 상에, 외부에서 제공되는 주석(Sn)과 반응하여 제1 공융계 합금을 형성할 수 있는 제1 반응 금속층 및 상기 제1 반응 금속층의 산화를 방지하는 제1 산화 방지 금속층을 구비하는 제1 접합 금속 적층체를 준비하는 과정;
접합 대상물 중 다른 하나 상에, 상기 주석(Sn)과 반응하여 제2 공융계 합금을 형성할 수 있는 제2 반응 금속층 및 상기 제2 반응 금속층의 산화를 방지하는 제2 산화 방지 금속층을 구비하는 제2 접합 금속 적층체를 준비하는 과정;
상기 제1 접합 금속 적층체 및 상기 제2 접합 금속 적층체의 사이에, 상기 주석(Sn)을 포함하는 솔더 금속부를 제공하는 과정;
상기 제1 접합 금속 적층체와 상기 제2 접합 금속 적층체를 서로 대향하도록 적층하여 금속 접합용 적층 구조체를 형성하는 과정; 및
형성된 상기 금속 접합용 적층 구조체를 열처리하는 과정;을 포함하는 금속 접합 방법.
A first reactive metal layer capable of forming a first eutectic alloy by reacting with tin (Sn) provided from the outside and a first anti-oxidation metal layer preventing oxidation of the first reactive metal layer are formed on any one of the objects to be joined. preparing a first bonded metal laminate having;
A second reactive metal layer capable of forming a second eutectic alloy by reacting with the tin (Sn) and a second anti-oxidation metal layer preventing oxidation of the second reactive metal layer on the other one of the objects to be joined. 2 process of preparing a joint metal laminate;
providing a solder metal part containing the tin (Sn) between the first junction metal laminate and the second junction metal laminate;
forming a laminated structure for metal bonding by laminating the first bonding metal laminate and the second bonding metal laminate to face each other; and
A process of heat-treating the formed multilayer structure for metal bonding; metal bonding method comprising a.
청구항 10에 있어서,
상기 제1 접합 금속 적층체는,
상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 방지하는 제1 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제2 접합 금속 적층체는,
상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 반응 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 방지하는 제2 장벽 금속층;을 더 포함하는 금속 접합 방법.
The method of claim 10,
The first bonding metal laminate,
A first barrier provided between any one of the objects to be joined and the first reactive metal layer to prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and alloys thereof to any one of the objects to be joined. A metal layer; further comprising,
The second bonding metal laminate,
A second barrier provided between the other of the objects to be joined and the second reactive metal layer to prevent diffusion of at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and alloys thereof to the other of the objects to be joined. A metal bonding method further comprising a metal layer.
청구항 11에 있어서,
상기 제1 공융계 합금 및 상기 제2 공융계 합금 각각은 금속 접합을 위한 열처리 온도에서 적어도 부분적으로 용융되고,
상기 제1 장벽 금속층과 상기 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 공융계 합금의 용융 온도보다 높고,
상기 제2 장벽 금속층과 상기 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 공융계 합금의 용융 온도보다 높은 금속 접합 방법.
The method of claim 11,
Each of the first eutectic alloy and the second eutectic alloy is at least partially melted at a heat treatment temperature for metal bonding;
The melting temperature of an alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the first eutectic alloy;
The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the second barrier metal layer and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the second eutectic alloy.
청구항 11에 있어서,
상기 제1 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 어느 하나와 상기 제1 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제1 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 어느 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제1 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제1 추가 장벽 금속층은 상기 제1 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함하고,
상기 제2 접합 금속 적층체는, 상기 접합 대상물 중 다른 하나와 상기 제2 장벽 금속층의 사이에 제공되어, 상기 솔더 금속부, 제2 반응 금속층 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나가 상기 접합 대상물 중 다른 하나로 확산하는 것을 추가로 방지하는 제2 추가 장벽 금속층;을 더 포함하고,
상기 제2 추가 장벽 금속층은 상기 제2 장벽 금속층에 포함된 금속과 상이한 금속을 포함하는 금속 접합 방법.
The method of claim 11,
The first bonding metal laminate is provided between any one of the bonding objects and the first barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the first reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to any one of the bonding objects. Further comprising a first additional barrier metal layer that further prevents diffusion into one;
The first additional barrier metal layer includes a metal different from the metal included in the first barrier metal layer,
The second bonding metal laminate is provided between the other one of the bonding objects and the second barrier metal layer so that at least one of the solder metal part, the second reactive metal layer, and an alloy thereof is connected to the other one of the bonding objects. A second additional barrier metal layer further preventing diffusion into one; further comprising,
The second additional barrier metal layer includes a metal different from the metal included in the second barrier metal layer.
청구항 13에 있어서,
상기 제1 추가 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제1 장벽 금속층과 제1 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높고,
상기 제2 추가 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도는, 상기 제2 장벽 금속층과 제2 공융계 합금이 반응하여 형성된 합금의 용융 온도보다 높은 금속 접합 방법.
The method of claim 13,
The melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first additional barrier metal layer and the first eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction between the first barrier metal layer and the first eutectic alloy;
The melting temperature of the alloy formed by the reaction of the second additional barrier metal layer and the second eutectic alloy is higher than the melting temperature of the alloy formed by the reaction of the second barrier metal layer and the second eutectic alloy.
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