KR20220118061A - Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof - Google Patents
Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220118061A KR20220118061A KR1020210021696A KR20210021696A KR20220118061A KR 20220118061 A KR20220118061 A KR 20220118061A KR 1020210021696 A KR1020210021696 A KR 1020210021696A KR 20210021696 A KR20210021696 A KR 20210021696A KR 20220118061 A KR20220118061 A KR 20220118061A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- laser beam
- glass substrate
- polyhedral prism
- frame
- captured image
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 148
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 147
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 46
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 46
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C23/00—Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/56—Measuring geometric parameters of semiconductor structures, e.g. profile, critical dimensions or trench depth
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 스마트폰 등과 같이 디스플레이를 덮기 위한 투명한 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 장치 및 그 제어방법에 관한 것으로서, 상세하게는 광학기구를 사용하여 글래스기판에 직접 접촉하지 않고 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring the thickness of a transparent glass substrate for covering a display, such as a smartphone, and a control method thereof, and more particularly, to measure the thickness of a glass substrate without direct contact with the glass substrate using an optical instrument It relates to an apparatus and a control method therefor.
소정의 정보를 특정 프로세스에 따라서 연산 및 처리하기 위해, 연산을 위한 CPU, 칩셋, 메모리 등의 전자부품들을 기본적으로 포함하는 전자장치는, 처리 대상이 되는 정보 또는 사용 용도가 무엇인지에 따라서 다양한 종류로 구분될 수 있다. 예를 들면, 전자장치에는 범용의 정보를 처리하는 PC나 서버 등의 정보처리장치, 영상데이터를 처리하는 영상처리장치, 오디오를 처리하는 오디오장치, 가정 내 잡무를 수행하는 생활가전 등이 있다. 영상처리장치는 처리된 영상데이터를 자체 구비한 디스플레이 패널(display panel) 상에 영상으로 표시하는 디스플레이장치로 구현될 수 있다. 특히, 디스플레이장치 중에는 휴대가 가능하도록 소형화된 모바일기기가 있으며, 그 예시로는 스마트폰 또는 태블릿 등이 있다.In order to calculate and process predetermined information according to a specific process, an electronic device that basically includes electronic components such as a CPU, a chipset, and a memory for calculations is various types depending on the information to be processed or the purpose of use. can be divided into For example, electronic devices include information processing devices such as PCs or servers that process general-purpose information, image processing devices that process image data, audio devices that process audio, and household appliances that perform chores in the home. The image processing apparatus may be implemented as a display apparatus that displays processed image data as an image on a display panel having its own. In particular, among display devices, there are mobile devices that are miniaturized to be portable, and examples thereof include a smartphone or a tablet.
또한, 디스플레이장치는 디스플레이 패널 상을 덮는 디스플레이 윈도우를 가지며, 이 디스플레이 윈도우는 글래스기판으로 구현될 수 있다. 글래스기판은 디스플레이 패널을 외부의 자극으로부터 보호하면서도, 디스플레이 패널 상에 표시되는 영상을 사용자가 볼 수 있도록 투명하게 마련된다. 제조사는 디스플레이장치의 제조 과정에서, 글래스기판의 두께를 측정할 수 있는 장치를 가질 수 있다. 제조사는 글래스기판의 두께를 측정함으로써, 디스플레이장치의 디스플레이 윈도우의 표면에 대한 평탄도의 측정값의 정확도와 균일한 평탄도를 확보할 수 있다. 또한, 제조사는 균일한 평탄도를 확보함으로써, 낙하 또는 압력 등과 같은 외부 충격에 대한 디스플레이 윈도우의 강건 설계도 확보할 수 있다. 이와 같이, 디스플레이장치는 글래스기판의 두께의 측정을 통해, 디스플레이장치에 대한 다양한 설계 이점을 도모할 수 있다.In addition, the display device has a display window covering the display panel, and the display window may be implemented with a glass substrate. The glass substrate is provided to be transparent so that a user can see an image displayed on the display panel while protecting the display panel from external stimuli. A manufacturer may have a device capable of measuring the thickness of the glass substrate during the manufacturing process of the display device. By measuring the thickness of the glass substrate, the manufacturer can secure the accuracy of the measurement value of the flatness on the surface of the display window of the display device and the uniform flatness. In addition, the manufacturer can secure a robust design of the display window against external impacts such as drop or pressure by ensuring uniform flatness. In this way, the display device can achieve various design advantages for the display device by measuring the thickness of the glass substrate.
종래의 글래스기판의 두께를 측정할 수 있는 장치는, 지그(jig) 상에 글래스기판을 안착시키고, LVDT(linear variable differential transformer)로 글래스기판의 상판면을 접촉시켜 글래스기판의 두께를 측정하였다. 그런데, LVDT 장비는 측정 시에 필연적으로 글래스기판에 접촉하는 특성 상, 접촉부위에 압력이 가해지므로, 글래스기판이 얇고 유연한 소재인 경우에는 변형이 발생한다. 또한, 글래스기판 자체적으로 휨이나 뒤틀림이 있는 경우에, 이로 인해 지그의 안착 시에 글래스기판과 각 지그와의 사이에 미세한 갭이 발생할 수도 있다. 또한, 휨이 있는 글래스기판은 LVDT와 접촉하는 면에서 미끌림이 발생할 수도 있으며, 이로 인해 글래스기판에 스크래치가 발생할 수도 있다.In a conventional apparatus capable of measuring the thickness of a glass substrate, the thickness of the glass substrate is measured by placing the glass substrate on a jig and contacting the top surface of the glass substrate with a linear variable differential transformer (LVDT). However, since the LVDT equipment inevitably contacts the glass substrate during measurement, pressure is applied to the contact portion, and deformation occurs when the glass substrate is a thin and flexible material. In addition, when the glass substrate itself is warped or distorted, a minute gap may be generated between the glass substrate and each jig when the jig is seated. In addition, the warped glass substrate may slip on the surface in contact with the LVDT, which may cause scratches on the glass substrate.
이러한 점을 고려하여, 글래스기판의 접촉 없이도 글래스기판의 두께를 용이하고 간단하게 측정할 수 있는 장치가 요구될 수 있다.In consideration of this point, an apparatus capable of easily and simply measuring the thickness of a glass substrate without contact with the glass substrate may be required.
본 발명의 실시예에 따른 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 장치는, 상기 글래스기판을 수용하기 위한 개구를 가지는 프레임과, 상기 개구를 향해 소정의 입사각으로 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사기와, 상기 레이저빔 조사기로부터 조사되며 상기 개구를 지나는 레이저빔의 광경로 상에 마련되며, 상기 개구를 지나는 레이저빔이 입사되는 입사면과, 상기 입사면을 통해 입사되는 레이저빔을 연쇄 반사시키는 복수의 반사면과, 상기 복수의 반사면에 의해 연쇄 반사되는 레이저빔이 출사되는 출사면을 포함하는 다면체 프리즘과, 상기 다면체 프리즘으로부터 출사되는 레이저빔의 촬상 이미지를 획득하는 카메라와, 상기 카메라에 의해 획득한 촬상 이미지에 기초하여 상기 개구에 수용된 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 제어부를 포함하고, 상기 다면체 프리즘의 상기 복수의 반사면 중 적어도 하나는, 곡면을 가진다.An apparatus for measuring the thickness of a glass substrate according to an embodiment of the present invention comprises: a frame having an opening for accommodating the glass substrate; a laser beam irradiator for irradiating a laser beam with a predetermined incident angle toward the opening; A plurality of reflective surfaces provided on the optical path of the laser beam irradiated from the laser beam irradiator and passing through the opening, on which the laser beam passing through the opening is incident, and a plurality of reflective surfaces for chain-reflecting the laser beam incident through the incident surface. and a polyhedral prism including an emitting surface from which the laser beams chain-reflected by the plurality of reflective surfaces are emitted, and a camera for acquiring a captured image of the laser beam emitted from the polyhedral prism, and imaging obtained by the camera and a control unit measuring a thickness of the glass substrate accommodated in the opening based on an image, wherein at least one of the plurality of reflective surfaces of the polyhedral prism has a curved surface.
또한, 상기 제어부는, 상기 개구에 상기 글래스기판이 없을 때의 상기 촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치와, 상기 개구에 상기 글래스기판이 있을 때의 상기 촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치 사이의 거리에 기초하여, 상기 글래스기판의 두께를 측정할 수 있다.In addition, the control unit may be configured to perform an interval between a position of an image of the laser beam in the captured image when the glass substrate is not present in the opening and a position of an image of the laser beam in the captured image when the glass substrate is present in the opening. Based on the distance, the thickness of the glass substrate may be measured.
또한, 상기 다면체 프리즘의 내부를 향하게 마련된 상기 복수의 반사면 중 상기 적어도 하나는 오목한 면을 포함할 수 있다.In addition, at least one of the plurality of reflective surfaces provided to face the inside of the polyhedral prism may include a concave surface.
또한, 상기 프레임은, 설치면 상에 지지되는 제1프레임과, 상기 제1프레임에 교체 가능하게 지지되며, 상기 글래스기판의 형상에 대응하는 상기 개구를 형성하는 제2프레임을 포함할 수 있다.In addition, the frame may include a first frame supported on the installation surface, and a second frame supported by the first frame interchangeably and forming the opening corresponding to the shape of the glass substrate.
또한, 상기 다면체 프리즘으로부터 출사되는 레이저빔의 상이 맺히는 결상플레이트를 더 포함하고, 상기 카메라는 상기 결상플레이트를 촬상하여 상기 촬상 이미지를 획득할 수 있다.The imaging plate may further include an imaging plate on which an image of the laser beam emitted from the polyhedral prism is formed, and the camera may acquire the captured image by imaging the imaging plate.
또한, 상기 결상플레이트는, 소정의 컬러를 가진 반투명한 재질을 포함할 수 있다.In addition, the imaging plate may include a translucent material having a predetermined color.
또한, 상기 다면체 프리즘 및 상기 결상플레이트 사이의 레이저빔의 광경로 상에 배치되는 반투명한 보조플레이트를 더 포함할 수 있다.In addition, it may further include a translucent auxiliary plate disposed on the optical path of the laser beam between the polyhedral prism and the imaging plate.
또한, 상기 레이저빔 조사기는, 상기 글래스기판에 대해 90도 미만의 경사진 각도로 레이저빔을 조사할 수 있다.In addition, the laser beam irradiator may irradiate the laser beam at an inclined angle of less than 90 degrees with respect to the glass substrate.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 장치의 제어방법은, 프레임에 글래스기판이 없는 상태에서 소정의 입사각으로 레이저빔을 조사하는 단계와, 다면체 프리즘을 거쳐서 출사되는 레이저빔의 제1촬상 이미지를 획득하는 단계와, 프레임에 글래스기판이 지지된 상태에서 상기 입사각으로 레이저빔을 조사하는 단계와, 상기 다면체 프리즘을 거쳐서 출사되는 레이저빔의 제2촬상 이미지를 획득하는 단계와, 상기 제1촬상 이미지 및 상기 제2촬상 이미지에 기초하여 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 단계를 포함하고, 상기 다면체 프리즘은, 레이저빔이 입사되는 입사면과, 상기 입사면을 통해 입사되는 레이저빔을 연쇄 반사시키는 복수의 반사면과, 상기 복수의 반사면에 의해 연쇄 반사되는 레이저빔이 출사되는 출사면을 포함하고, 상기 다면체 프리즘의 상기 복수의 반사면 중 적어도 하나는, 곡면을 가진다.In addition, the control method of an apparatus for measuring the thickness of a glass substrate according to an embodiment of the present invention comprises the steps of irradiating a laser beam at a predetermined angle of incidence in a state in which there is no glass substrate in a frame, and a laser emitted through a polyhedral prism. obtaining a first captured image of the beam, irradiating a laser beam at the incident angle while a glass substrate is supported on a frame, and obtaining a second captured image of the laser beam emitted through the polyhedral prism and measuring the thickness of the glass substrate based on the first captured image and the second captured image, wherein the polyhedral prism includes an incident surface on which a laser beam is incident, and an incident surface on which the laser beam is incident through the incident surface. a plurality of reflective surfaces for serially reflecting the laser beam, and an emitting surface from which the laser beams chain-reflected by the plurality of reflective surfaces are emitted, wherein at least one of the plurality of reflective surfaces of the polyhedral prism has a curved surface .
도 1은 전자장치의 전면의 모습을 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 2의 전자장치의 후면의 모습을 나타내는 사시도이다.
도 3은 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 측정장치의 사시도이다.
도 4는 도 3의 측정장치가 분해된 모습을 나타내는 사시도이다.
도 5는 도 3의 측정장치에서 레이저 빔이 조사되는 모습을 나타내는 측단면도이다.
도 6은 다면체 프리즘의 구조와, 다면체 프리즘에서 레이저빔이 연쇄반사되는 모습을 나타내는 사시도이다.
도 7은 프레임에서 글래스기판이 수용되는 개구 영역을 상측에서 본 모습을 나타내는 평면도이다.
도 8은 글래스기판이 없는 경우에 레이저빔이 다면체 프리즘을 통하여 결상플레이트에 상이 맺히도록 하는 모습을 나타내는 측단면도이다.
도 9는 글래스기판이 있는 경우에 레이저빔이 다면체 프리즘을 통하여 결상플레이트에 상이 맺히도록 하는 모습을 나타내는 측단면도이다.
도 10은 측정장치가 글래스기판의 두께를 측정하는 과정을 나타내는 플로우차트이다.
도 11은 측정장치가 보조플레이트를 포함하는 경우를 나타내는 측단면도이다.
도 12는 측정장치가 곡면거울을 포함하는 경우를 나타내는 측단면도이다.1 is a perspective view illustrating a front surface of an electronic device.
FIG. 2 is a perspective view illustrating a rear surface of the electronic device of FIG. 2 .
3 is a perspective view of a measuring device for measuring the thickness of a glass substrate.
4 is a perspective view illustrating an exploded state of the measuring device of FIG. 3 .
FIG. 5 is a side cross-sectional view illustrating a state in which a laser beam is irradiated from the measuring device of FIG. 3 .
6 is a perspective view illustrating a structure of a polyhedral prism and a state in which a laser beam is continuously reflected from the polyhedral prism.
7 is a plan view illustrating an opening area in which a glass substrate is accommodated in a frame viewed from above.
FIG. 8 is a side cross-sectional view showing a state in which a laser beam forms an image on an imaging plate through a polyhedral prism when there is no glass substrate.
9 is a side cross-sectional view illustrating a state in which a laser beam is formed on an imaging plate through a polyhedral prism when there is a glass substrate.
10 is a flowchart illustrating a process in which the measuring device measures the thickness of the glass substrate.
11 is a side cross-sectional view illustrating a case in which the measuring device includes an auxiliary plate.
12 is a side cross-sectional view illustrating a case in which the measuring device includes a curved mirror.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예들에 관해 상세히 설명한다. 각 도면을 참조하여 설명하는 실시예들은 특별한 언급이 없는 한 상호 배타적인 구성이 아니며, 하나의 장치 내에서 복수 개의 실시예가 선택적으로 조합되어 구현될 수 있다. 이러한 복수의 실시예의 조합은 본 발명의 기술분야에서 숙련된 기술자가 본 발명의 사상을 구현함에 있어서 임의로 선택되어 적용될 수 있다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments described with reference to the drawings are not mutually exclusive unless otherwise specified, and a plurality of embodiments may be selectively combined and implemented in one device. A combination of a plurality of these embodiments may be arbitrarily selected and applied by a person skilled in the art in implementing the spirit of the present invention.
만일, 실시예에서 제1구성요소, 제2구성요소 등과 같이 서수를 포함하는 용어가 있다면, 이러한 용어는 다양한 구성요소들을 설명하기 위해 사용되는 것이며, 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용되는 바, 이들 구성요소는 용어에 의해 그 의미가 한정되지 않는다. 실시예에서 사용하는 용어는 해당 실시예를 설명하기 위해 적용되는 것으로서, 본 발명의 사상을 한정하지 않는다.If, in the embodiment, there is a term including an ordinal number such as a first component, a second component, etc., these terms are used to describe various components, and the term distinguishes one component from another component. As used for this purpose, the meaning of these components is not limited by the terms. Terms used in the embodiments are applied to describe the embodiments, and do not limit the spirit of the present invention.
또한, 본 명세서에서의 복수의 구성요소 중 "적어도 하나(at least one)"라는 표현이 나오는 경우에, 본 표현은 복수의 구성요소 전체 뿐만 아니라, 복수의 구성요소 중 나머지를 배제한 각 하나 혹은 이들의 조합 모두를 지칭한다.In addition, when the expression “at least one” among a plurality of components in the present specification appears, this expression refers to each one or these excluding the rest of the plurality of components as well as the entire plurality of components. refers to any combination of
도 1은 전자장치의 전면의 모습을 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view illustrating a front surface of an electronic device.
도 2는 도 2의 전자장치의 후면의 모습을 나타내는 사시도이다.FIG. 2 is a perspective view illustrating a rear surface of the electronic device of FIG. 2 .
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 다양한 실시예에 따른 전자장치(1)는 하우징(100)을 포함할 수 있다. 하우징(100)은 전자장치(1)의 전면(101)과, 후면(102)과, 그리고 전면(101) 및 후면(102) 사이의 공간을 둘러싸는 측면(또는 측벽)(103) 중에서, 적어도 일부를 형성한다.1 and 2 , the
본 도면에서는 X, Y, Z 방향이 나타나 있다. X 방향은 전자장치(1)의 가로방향이며, Y 방향은 전자장치(1)의 세로방향이며, Z 방향은 전자장치(1)의 전면(101)의 법선방향이다.In this figure, the X, Y, and Z directions are shown. The X direction is the horizontal direction of the
다양한 실시예에 따르면, 전자장치(1)는 전면(101)의 적어도 일부분을 형성하는 실질적으로 투명한 전면 플레이트(200)(예: 다양한 코팅 레이어들을 포함하는 글래스기판, 또는 폴리머기판)를 포함할 수 있다. 즉, 전면 플레이트(200)는 화면이 형성되는 전자장치(1)의 전면에 대응한다. 전면 플레이트(200)는 그 가장자리가 하우징(100)에 의해 지지될 수 있다. 설계 방식에 따라서는, 전면 플레이트(200)는, 적어도 일측 단부에서 전면(101)으로부터 후면 플레이트(300) 쪽으로 휘어져서 심리스하게(seamless) 연장된 곡면 부분을 형성할 수도 있다. 또는, 다양한 실시예에 따르면, 전면 플레이트(200)는, 전면 플레이트(200)의 Z 방향의 판면 상에 부착된 보호필름층을 가질 수 있다. 디스플레이 모듈(60) 상에 센서(예: 초음파 지문 센서)가 탑재되는 전자장치(1)의 경우에, 보호필름층은 이러한 센서를 보호하도록 마련된다. 이 때, 보호필름층은 카메라 모듈(81)에 대응하는 영역에 개구가 형성될 수 있다.According to various embodiments, the
다양한 실시예에 따르면, 전자장치(1)는 후면(102)의 적어도 일부분을 형성하는 실질적으로 불투명한 후면 플레이트(300)를 포함할 수 있다. 후면 플레이트(300)는, 예를 들어, 코팅 또는 착색된 유리, 세라믹, 폴리머, 금속(예: 알루미늄, 스테인레스 스틸(STS), 또는 마그네슘), 또는 상기 물질들 중 적어도 둘의 조합에 의하여 형성될 수 있다. 또는, 설계 방식에 따라서는, 후면 플레이트(300)는, 적어도 일측 단부에서 후면(102)으로부터 전면 플레이트(200) 쪽으로 휘어져서 심리스하게 연장된 곡면 부분을 형성할 수도 있다.According to various embodiments, the
다양한 실시예에 따르면, 하우징(100)은 전면 플레이트(200) 및/또는 후면 플레이트(300)와 일체로 형성되고, 동일한 물질(예: 알루미늄과 같은 금속 물질)을 포함할 수도 있다. 예를 들면, 전자장치(1)에서 전면 플레이트(200)가 전면(101)을 형성하고, 전면 플레이트(200)의 가장자리를 지지하는 하우징(100)이 후면(102) 및 측면(103)을 형성하는 구조가 가능하다.According to various embodiments, the
하우징(100)에는 마이크 홀(105), 스피커 홀(110, 120), 커넥터 홀(130) 등이 마련될 수 있다. 다만, 설계 방식에 따라서는, 마이크 홀(105), 스피커 홀(110, 120), 커넥터 홀(130) 중 하나 이상이 전면 플레이트(200) 또는 후면 플레이트(300)에 마련될 수도 있다. 어떤 실시예에서는 외부의 소리를 획득하기 위한 마이크가 마이크 홀(105)의 내부에 배치될 수 있다. 어떤 실시예에서는 소리의 방향을 감지할 수 있도록 복수개의 마이크가 마이크 홀(105) 내에 배치될 수 있다. 어떤 실시예에서는 스피커 홀(110)과 마이크 홀(105)이 하나의 홀로 구현 되거나, 스피커 홀(110, 120) 없이 스피커가 포함될 수 있다(예: 피에조 스피커). 스피커 홀(110, 120)은, 외부 스피커 홀을 포함할 수 있다. 커넥터 홀(130)은, 외부 전자장치와 전력 및/또는 데이터를 송수신하기 위한 커넥터, 및/또는 외부 전자장치와 오디오 신호를 송수신하기 위한 커넥터 등과 같은 연결단자를 수용할 수 있다. 예를 들어, 커넥터 홀(130)은 USB 커넥터 또는 이어폰 잭을 포함할 수 있다.The
다양한 실시예에 따르면, 전자장치(1)는, 디스플레이 모듈(60), 카메라 모듈(80, 81, 82, 83), 키 입력 모듈(51) 중 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다. 설계 방식에 따라서는, 전자장치(1)는, 구성요소들 중 적어도 하나(예: 키 입력 모듈(51))를 생략하거나, 설명되지 않은 다른 구성요소를 추가적으로 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자장치(1)는 도시되지 않은 센서 모듈을 포함할 수 있다. 예컨대, 전면 플레이트(200)가 제공하는 영역 내에는 지문 센서, 근접 센서 또는 조도 센서와 같은 센서가 디스플레이 모듈(60)에 통합되거나, 디스플레이 모듈(60)과 인접한 위치에 배치될 수 있다. 또는, 전자장치(1)는 발광소자를 더 포함할 수 있으며, 발광 소자는 전면 플레이트(200)가 제공하는 영역 내에서 디스플레이 모듈(60)과 인접한 위치에 배치될 수 있다. 발광소자는, 예를 들어, 전자장치(1)의 상태 정보를 광 형태로 제공할 수 있다. 또는, 발광소자는, 예를 들어, 카메라 모듈(81)의 동작과 연동되는 광원을 제공할 수 있다. 발광소자는, 예를 들어, LED, IR LED 또는 제논 램프 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the
디스플레이 모듈(60)은, 예를 들어, 전면 플레이트(200)에 의해 커버될 수 있다. 설계 방식에 따라서는, 디스플레이 모듈(60)의 가장자리를 전면 플레이트(200)의 인접한 외곽 형상(예: 곡면)과 대체로 동일하게 형성할 수 있다. 또는, 다른 실시예에서는, 디스플레이 모듈(60)이 노출되는 면적을 확장하기 위하여, 디스플레이 모듈(60)의 외곽 및 전면 플레이트(200)의 외곽이 실질적으로 동일하게 형성될 수 있다. 또는, 디스플레이 모듈(60)의 화면 표시영역의 일부에 리세스 또는 개구부(opening)를 형성하고, 상기 리세스 또는 상기 개구부와 정렬되는 다른 전자부품, 예를 들어, 카메라 모듈(81), 도시되지 않은 근접 센서 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.The
키 입력 모듈(51)은, 하우징(100)의 측면(103)에 배치될 수 있다. 설계 방식에 따라서는, 전자장치(1)는 앞서 설명한 키 입력 모듈(51) 중 일부 또는 전부를 포함하지 않을 수 있고, 포함되지 않은 키 입력 모듈(51)은 디스플레이 모듈(60) 상에 소프트 키 등 다른 형태로 구현될 수 있다.The
또는, 전자장치(1)는 센서 모듈을 포함함으로써, 내부의 작동 상태, 또는 외부의 환경 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 센서 모듈은, 예를 들어, 하우징(100)의 전면(101)에 배치된 근접 센서, 디스플레이 모듈(60)에 통합된 또는 인접하게 배치된 지문 센서, 및/또는 상기 하우징(100)의 후면(102)에 배치된 생체 센서(예: HRM 센서)를 더 포함할 수 있다. 전자장치(1)는, 다양한 센서 모듈, 예를 들어, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다. 또는, 설계 방식에 따라서는, 전자장치(1)는 터치 감지 회로, 터치의 세기(압력)를 측정할 수 있는 압력 센서, 및/또는 자기장 방식의 스타일러스 펜을 검출하는 디지타이저와 결합되거나 인접하여 배치될 수 있다.Alternatively, by including the sensor module, the
카메라 모듈(81, 82, 83)은, 전자장치(1)의 전면(101)에 배치된 제1카메라 모듈(또는, 전면 카메라 모듈)(81), 및 후면(102)에 배치된 하나 이상의 제2카메라 모듈(또는, 후면 카메라 모듈)(82, 83), 및/또는 플래시(84)를 포함할 수 있다. 카메라 모듈(81, 82, 83)은, 하나 또는 복수의 렌즈들, 이미지 센서, 및/또는 이미지 시그널 프로세서를 포함할 수 있다. 플래시(84)는, 예를 들어, 발광 다이오드 또는 제논 램프(xenon lamp)를 포함할 수 있다. 설계 방식에 따라서는, 2개 이상의 렌즈들(적외선 카메라, 광각 및 망원 렌즈) 및 이미지 센서들이 전자장치(1)의 한 면에 배치될 수 있다.The
앞서 설명한 바와 같이, 전면 플레이트(200)는 디스플레이 모듈(60)을 덮는 투명한 글래스기판으로 구현된다. 전면 플레이트(200)는 디스플레이 모듈(60)로부터의 광이 투과되는 한편, 설계 방식에 따라서는 전면 플레이트(200) 상에서 수행되는 사용자의 터치 입력을 감지하는 등, 다양한 고려 사항이 요구된다. 이러한 관점에서, 전자장치(1)의 제조 단계에서, 전자장치(1)의 설계에 대응하여 설정된 전면 플레이트(200)의 두께가 정확히 측정될 필요가 있다. 본 실시예에서는 글래스기판이 전자장치(1)의 전면 플레이트(200)인 경우에 관해 설명한다. 그러나, 상기한 장치는 반드시 전면 플레이트(200)에 사용되는 글래스기판의 두께만을 측정할 수 있는 것은 아니며, 다양한 장치에 사용되는 투명한 또는 반투명한 기판(적어도 레이저 빔이 투과 가능한 기판)의 두께도 측정할 수 있다.As described above, the
이하, 전면 플레이트(200)를 형성하는 글래스기판의 두께를 측정하는 장치 및 방법에 관해 설명한다. Hereinafter, an apparatus and method for measuring the thickness of the glass substrate forming the
도 3은 글래스기판의 두께를 측정하기 위한 측정장치의 사시도이다.3 is a perspective view of a measuring device for measuring the thickness of a glass substrate.
도 4는 도 3의 측정장치가 분해된 모습을 나타내는 사시도이다.4 is a perspective view illustrating an exploded state of the measuring device of FIG. 3 .
도 5는 도 3의 측정장치에서 레이저 빔이 조사되는 모습을 나타내는 측단면도이다.FIG. 5 is a side cross-sectional view illustrating a state in which a laser beam is irradiated from the measuring device of FIG. 3 .
도 3, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따르면, 레이저 빔을 사용하여 글래스기판(400)의 두께를 측정하는 측정장치(1000)가 마련된다. 측정장치(1000)에 의한 측정 대상인 글래스기판(400)은, 예를 들면 스마트폰, 태블릿 등과 같이 모바일기기로 구현되는 전자장치(1, 도 1 참조)의 전면 플레이트(200, 도 1 참조)로 사용될 수 있다. 그러나, 측정장치(1000)가 측정 가능한 대상은 본 실시예의 글래스기판(400)에 한정되지 않으며, 다양한 장치에 사용되는 글래스기판(400)이 그 대상이 될 수 있다. 또한, 본 실시예에서는 측정장치(1000)가 투명한 글래스기판(400)의 두께를 측정하는 것으로 설명한다. 다만, 반드시 글래스기판(400)이 투명해야만 하는 것은 아니고, 측정장치(1000)는 적어도 레이저 빔의 투과가 가능한 정도의 투명도를 가지는 글래스기판(400)(예를 들어, 글래스기판(400)이 반투명한 경우도 가능함)의 두께를 측정할 수 있게 마련된다.3, 4 and 5 , according to the present embodiment, a
측정장치(1000)는 글래스기판(400)을 수용하기 위한 개구를 가지는 프레임(1100)을 포함한다(본 개구에 관해서는, 후술할 안착프레임(1120)에서 설명함). 프레임(1100)은 후술할 측정장치(1000)의 구성요소가 결합된 상태에서 소정의 설치면 상에 배치되며, 측정 프로세스가 진행되는 동안에 글래스기판(400)의 위치가 유지되도록 한다. 프레임(1100)은, 베이스프레임(1110; 또는 제1프레임으로도 지칭 가능)과, 안착프레임(1120; 또는 제2프레임으로도 지칭 가능)과, 빔조사기 지지프레임(1130)를 포함한다. 본 실시예에서는 베이스프레임(1110), 안착프레임(1120), 빔조사기 지지프레임(1130)이 상호 결합부재(예: 스크루(screw))에 의해 체결되는 구조로서, 서로 분리 가능한 구성요소인 것으로 설명하고 있다. 그러나, 프레임(1100)의 구현 방식이 본 실시예에 의해 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 베이스프레임(1110), 안착프레임(1120), 빔조사기 지지프레임(1130) 중 적어도 둘 이상이 일체형으로 구현될 수 있다. 또한, 본 실시예에서는 결합부재의 예시를 스크루로 들고 있으나, 복수의 부재를 상호 결합시키는 목적을 달성 가능하다면, 결합부재는 스크루 이외에도 다양한 종류의 부재를 포함할 수 있다.The
베이스프레임 또는 제1프레임(1110)은 설치면(예: 바닥면) 상에 지지되며, 그 내부에 안착프레임(1120)을 지지한다. 베이스프레임(1110)의 형상은 한정되지 않으나, 예를 들면 내부에 안착프레임(1120)이 수용되는 홀을 가지는 링 형상으로 마련될 수 있다. 베이스프레임(1110)은, 안착프레임(1120)을 수용하기 위해, 안착프레임(1120)의 형상에 대응하는 돌기 또는 그루브를 가질 수 있으며, 추가적으로 안착프레임(1120)과 함께 스크루에 의해 체결되기 위한 스크루홀을 가질 수도 있다. 또한, 베이스프레임(1110)은 안착프레임(1120)을 지지할 때에, 안착프레임(1120)이 설치면으로부터 소정 거리만큼 이격되도록 한다. 이는, 안착프레임(1120) 하측에 충분한 공간이 확보되도록 하기 위한 것으로서, 이 공간에는 후술할 다면체 프리즘(1300)이 배치된다.The base frame or the
안착프레임 또는 제2프레임(1120)은 베이스프레임(1110)에 수용되거나, 지지되거나 또는 결합된다. 안착프레임(1120)은 내부에 글래스기판(400)이 수용 및 안착되기 위한 개구를 가진다. 안착프레임(1120)의 개구는, 글래스기판(400)의 형상에 대응하도록 설계됨으로써, 안착프레임(1120)에 수용된 글래스기판(400)이 유동하지 않도록 한다. 이와 같이 안착프레임(1120)의 개구는 글래스기판(400)에 대응하는 형상을 가진다. 이로써, 측정 대상인 글래스기판(400)의 규격이 바뀌는 경우에, 프레임(1100) 전체를 교체하지 않고 안착프레임(1120)만을 교체하여 사용하는 것이 가능하다.The seating frame or the
빔조사기 지지프레임(1130)은 후술할 레이저빔조사기(1200)를 지지한다. 빔조사기 지지프레임(1130)은 베이스프레임(1110)으로부터 상향 기립되도록 결합된다. 빔조사기 지지프레임(1130)은 레이저빔조사기(1200)를 베이스프레임(1110)에 대해 지지시키는 한편, 레이저빔조사기(1200)에 의한 레이저빔의 조사 위치 및 조사 각도를 조정할 수 있게 마련된다. 이를 구현하기 위한 빔조사기 지지프레임(1130)의 구조는 한정되지 않으나, 본 실시예에서는 빔조사기 지지프레임(1130)의 구조의 한 가지 예시에 관해 설명한다.The beam
빔조사기 지지프레임(1130)은, 베이스프레임(1110)에 결합되는 제1링크블록(1131)과, 소정 거리만큼 위치 이동이 가능하도록 제1링크블록(1131)에 지지되는 제2링크블록(1132)과, 제2링크블록(1132)에 회동 가능하게 지지되는 제3링크블록(1133)을 포함한다.The beam
제1링크블록(1131)이 상향 기립하도록, 제1링크블록(1131)의 하단부는 스크루에 의해 베이스프레임(1110)에 결합된다. 제1링크블록(1131)은, 그 상단부에 제2링크블록(1132)의 지지를 위한 그루브 형상의 구조와, 위치조절나사(1140)가 나사결합되기 위한 나사홀을 가진다. 제2링크블록(1132)을 가압하기 위한 스크루 형상의 위치조절나사(1140)가 제2링크블록(1132)을 지지한다. 사용자는 위치조절나사(1140)의 조임 상태를 조절함으로써, 제1링크블록(1131)의 그루브 상에서 제2링크블록(1132)의 위치를 조정할 수 있다.The lower end of the
제2링크블록(1132)은, 제3링크블록(1133)의 하단부를 수용 가능한 그루브와, 각도조절나사(1150)가 나사결합되기 위한 나사홀을 가진다. 제3링크블록(1133)을 가압하기 위한 스크루 형상의 각도조절나사(1150)가 제3링크블록(1133)에 마련된 나사홀을 통해 제3링크블록(1133)을 지지한다. 사용자는 각도조절나사(1150)를 푼 상태에서 제2링크블록(1132)에 대한 제3링크블록(1133)의 각도를 임의로 조정하고, 각도조절나사(1150)를 조임으로써 제3링크블록(1133)의 각도를 유지시킨다.The
제3링크블록(1133)은 후술할 하나 또는 복수의 레이저빔조사기(1200)를 지지한다. 제3링크블록(1133)의 하단부는 제2링크블록(1132)에 회동 가능하게 지지되는 한편, 제3링크블록(1133)의 상단부는 레이저빔조사기(1200)를 커버하는 빔조사기커버(1160)가 결합된다. 이와 같이, 사용자는 위치조절나사(1140) 및 각도조절나사(1150)를 조정함으로써, 레이저빔조사기(1200)로부터 조사되는 레이저빔의 조사 위치 및 조사 각도를 조정할 수 있다. 또는, 사용자에 의한 수동 조정뿐만 아니라, 위치조절나사(1140) 및 각도조절나사(1150)에 각기 모터 및 제어장치가 연결되고, 제어장치를 통한 사용자 입력에 따라서 모터에 의해 조정될 수도 있다.The
측정장치(1000)는, 프레임(1100)의 개구를 향해, 즉 안착프레임(1120)에 지지되는 글래스기판(400)의 상판면을 향해 레이저빔을 조사하는 레이저빔조사기(1200)를 포함한다. 레이저빔조사기(1200)는 글래스기판(400)의 상판면의 상측에 배치된다. 레이저빔조사기(1200)에 의해 조사되는 레이저빔은 한정되지 않으며, 예를 들면 도트 레이저 또는 라인 레이저가 사용될 수 있다. 레이저빔은 글래스기판(400)의 상판면에 입사된 이후, 글래스기판(400)을 투과하여 글래스기판(400)의 하판면으로 출사된다.The
측정장치(1000)는 글래스기판(400)의 하측에 배치된 다면체 프리즘(1300)을 포함한다. 다면체 프리즘(1300)은, 레이저빔조사기(1200)로부터 조사되어 프레임(1100)의 개구를 지나는(즉, 글래스기판(400)을 투과하는) 레이저빔의 광경로 상에 마련된다. 다면체 프리즘(1300)은 복수의 반사면을 가지고, 입사되는 레이저빔을 그 내부에서 복수의 반사면에 의해 연쇄 반사시킨 이후에 출사한다. 이와 같은 다면체 프리즘(1300)의 구조에 관해서는 후술한다. 다면체 프리즘(1300)은 프레임(1100)에 지지되는 프리즘커버(1170)에 수용된다.The
여기서, 레이저빔조사기(1200) 및 다면체 프리즘(1300) 사이의 배치 관계에 관해 설명한다. 본 실시예에서는 프레임(1100)에 안착된 글래스기판(400)을 기준으로, 레이저빔조사기(1200)가 글래스기판(400)의 상측에 배치되고 다면체 프리즘(1300)이 글래스기판(400)의 하측에 배치된다. 보다 구체적으로는, 글래스기판(400)이 마련된 경우에 레이저빔이 글래스기판(400)을 투과한 이후에 다면체 프리즘(1300)에 입사되도록, 레이저빔조사기(1200) 및 다면체 프리즘(1300)이 배치된다. 이러한 목적을 달성 가능하다면, 레이저빔조사기(1200) 및 다면체 프리즘(1300) 사이의 배치 위치는 본 실시예로만 한정되지 않는다. 예를 들면, 레이저빔조사기(1200)이 글래스기판(400)의 하측에 배치되고 다면체 프리즘(1300)이 글래스기판(400)의 상측에 배치될 수도 있다.Here, the arrangement relationship between the
측정장치(1000)는 카메라(1400)를 포함한다. 카메라(1400)는 다면체 프리즘(1300)으로부터 출사되는 레이저빔의 촬상 이미지를 획득한다. 본 실시예에서는 카메라(1400)가 프레임(1100)의 상측에 배치되는 것으로 나타내고 있으나, 상기한 촬상 이미지를 획득 가능하다면 카메라(1400)의 배치 위치는 한정되지 않는다.The
측정장치(1000)는 다면체 프리즘(1300)으로부터 출사되는 레이저빔의 상이 맺히는 결상플레이트(1500)를 포함한다. 결상플레이트(1500)는 글래스기판(400)의 하측에, 예를 들면 글래스기판(400)의 하판면 및 다면체 프리즘(1300) 사이에 배치된다. 결상플레이트(1500) 상에 맺히는 레이저빔의 상은, 카메라(1400)에 의해 촬상되고 촬상 이미지가 생성된다. 결상플레이트(1500)는 카메라(1400)에 의해 레이저빔의 상이 용이하게 감지될 수 있도록, 소정의 컬러를 가진 반투명 플레이트를 포함할 수 있다.The
다만, 카메라(1400)가 촬상 이미지를 획득하는 방법은 본 실시예로만 한정되는 것은 아니며, 다양한 설계 변경이 가능하다. 예를 들면, 측정장치(1000)는 결상플레이트(1500)를 포함하지 않을 수 있으며, 이 경우에 카메라(1400)는 다면체 프리즘(1300)으로부터 출사되어 글래스기판(400)에 맺히는 상을 촬상할 수 있다. 레이저빔조사기(1200)는 소정 컬러의 레이저빔을 조사함으로써, 글래스기판(400)에 맺히는 상이 보다 정확하게 인식될 수 있도록 할 수 있다. 또는, 결상플레이트(1500)가 소정 컬러의 컬러필터 역할을 수행함으로써, 글래스기판(400) 상에 해당 컬러의 상이 맺히도록 할 수도 있다. 또는, 결상플레이트(1500)에 의해, 레이저빔의 컬러와 결상플레이트(1500)에 맺히는 상의 컬러가 서로 상이할 수도 있다.However, the method for the
측정장치(1000)는 제어부(1600)를 포함한다. 제어부(1600)는 프로세서, CPU, 마이크로컨트롤러, SOC(system on chip) 등과 같은 연산 및 분석을 위한 하드웨어 프로세서를 포함한다. 제어부(1600)는 카메라(1400)로부터 획득한 촬상 이미지를 분석하여, 글래스기판(400)의 두께를 산출한다. 또한, 제어부(1600)는 레이저빔의 조사 위치, 조사 각도, 레이저빔의 강도 등을 조정하도록 레이저빔조사기(1200)를 제어할 수도 있다. 제어부(1600)에 의한 글래스기판(400)의 두께의 산출 방법에 관해서는 후술한다.The
본 실시예에 따른 측정장치(1000)에서, 다면체 프리즘(1300)은 레이저빔을 증폭시키는 역할을 수행한다. 이하, 다면체 프리즘(1300)에 의해 레이저빔을 증폭시키는 원리에 관해 설명한다.In the
도 6은 다면체 프리즘의 구조와, 다면체 프리즘에서 레이저빔이 연쇄반사되는 모습을 나타내는 사시도이다.6 is a perspective view illustrating a structure of a polyhedral prism and a state in which a laser beam is continuously reflected from the polyhedral prism.
도 7은 프레임에서 글래스기판이 수용되는 개구 영역을 상측에서 본 모습을 나타내는 평면도이다.7 is a plan view illustrating an opening area in which a glass substrate is accommodated in a frame viewed from above.
도 5, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 다면체 프리즘(1300)은, 레이저빔이 입사되는 입사면(1310)과, 입사면(1310)을 통해 다면체 프리즘(1300) 내에 입사되는 레이저빔을 연쇄적으로 반사시키는 복수의 반사면(1320, 1330, 1340)과, 레이저빔이 출사되는 출사면(1350)을 가진다. 본 실시예에서는 반사면(1320, 1330, 1340)이 3개인 경우에 관해 설명하지만, 다면체 프리즘(1300)에서 반사면(1320, 1330, 1340)의 개수 및 위치는 한정되지 않는다. 또한, 입사면(1310)은 반사면(1320, 1330, 1340)과 마찬가지로, 다면체 프리즘(1300) 내를 진행하는 레이저빔을 반사시키는 역할을 수행할 수 있다.5, 6 and 7, the
한편, 본 실시예에서는, 레이저빔이 다면체 프리즘(1300)에 입사되는 면을 입사면(1310)으로 지칭하고, 레이저빔이 다면체 프리즘(1300)으로부터 출사되는 면을 출사면(1350)으로 편의상 지칭하였다. 그러나, 이러한 용어의 명칭은 본 실시예를 간략히 설명하기 위해 적용된 것에 불과하며, 레이저빔이 조사되는 모든 경우에서 입사면(1310) 및 출사면(1350)이 어느 한 면으로 고정되는 것은 아니다. 즉, 다면체 프리즘(1300)은 복수의 면(1310, 1320, 1330, 1340, 1350)을 가지는데, 이들 중에서 레이저빔의 조사각도에 따라서 입사면 및 출사면이 달라질 수 있다.Meanwhile, in this embodiment, the surface on which the laser beam is incident on the
다면체 프리즘(1300)의 복수의 반사면(1320, 1330, 1340)은, 예를 들어 소정의 제1각도로 입사면(1310)에 접하는 제1반사면(1320)과, 소정의 제2각도로 제1반사면(1320)에 접하는 제2반사면(1330)과, 소정의 제3각도로 제2반사면(1330)에 접하며 소정의 제4각도로 출사면(1350)에 접하는 제3반사면(1340)을 포함한다. 또한, 출사면(1350)은 소정의 제5각도로 입사면(1310)에 접한다. 상기한 각도는 다면체 프리즘(1300)의 형상에 따라서 다양한 설계 변경이 가능하다. 여기서, 복수의 반사면(1320, 1330, 1340) 중에서 적어도 하나 이상은 곡면을 가진다. 예를 들어, 제1반사면(1320) 하나가 곡면을 가지고 제2반사면(1330) 및 제3반사면(1340)이 평면을 가진다. 또한, 복수의 반사면(1320, 1330, 1340) 중에서 어느 하나가 다면체 프리즘(1300) 내부를 향하는 오목한 면을 형성한다. 다만, 복수의 반사면(1320, 1330, 1340) 중에서 어느 것이 곡면을 가지는가에 관한 것은 다양한 설계 변경이 가능한 사항이므로, 본 실시예의 예시만으로 한정되지 않는다.The plurality of
글래스기판(400)의 측정을 위해, 레이저빔조사기(1200)는 글래스기판(400)의 상판면을 향해 소정의 입사각으로 경사지게 레이저빔을 조사한다. 레이저빔의 조사 각도는 특정한 수치로 한정되지는 않으나, 적어도 0도 초과 및 90도 미만의 각도로 마련된다. 그 이유는 글래스기판(400)에 의해 레이저빔이 굴절되도록 하기 위함인데, 만일 글래스기판(400)의 상판면에 대해 90도로 레이저빔을 조사하게 되면, 레이저빔은 글래스기판(400)에 의해 굴절되지 않기 때문이다. 본 실시예의 측정장치(1000)는 글래스기판(400)에 의해 레이저빔이 굴절되는 원리를 사용하므로, 레이저빔의 입사각은 적어도 90도 미만의 경사진 각도를 가지도록 마련된다.To measure the
또한, 글래스기판(400)이 없는 상태에서 조사되는 레이저빔이 다면체 프리즘(1300)의 입사면(1310)에 도달하는 위치가 있고, 글래스기판(400)이 있는 상태에서 조사되는 레이저빔이 다면체 프리즘(1300)의 입사면(1310)에 도달하는 위치가 있다. 글래스기판(400)에 의한 굴절각으로 인해 굴절량 편차가 발생하므로, 상기한 두 위치는 일치하지 않게 된다. 다만, 글래스기판(400)의 두께가 얇을수록 이 두 위치 사이의 거리는 작아지므로, 굴절량 편차만으로 글래스기판(400)의 두께를 산출하는 것은 정확도에 한계가 있을 수 있다.In addition, there is a position where the laser beam irradiated in the absence of the
본 실시예에서 복수의 반사면(1320, 1330, 1340) 중 적어도 하나(예를 들어 제1반사면(1320))가 곡면을 가지는 의미는 레이저빔의 특성을 증폭시키는 것이다. 구체적으로는, 곡면인 제1반사면(1320)은 레이저빔의 단면의 크기를 크게 하고, 레이저빔의 단면 형상을 타원형으로 조정하는 한편, 레이저빔의 반사각도를 크게 한다. 또한, 나머지 반사면(1330, 1340)에 의한 연쇄반사를 통해 레이저빔의 주사 길이를 늘리는 방식이 추가된다. 이로써, 다면체 프리즘(1300)은 글래스기판(400)에 의해 발생한 미세한 굴절량 편차를 증폭시켜, 출사면(1350)으로부터 출사되어 결상플레이트(1500)에 맺히는 상에서 나타나는 변위가 카메라(1400)에 의한 촬상 이미지에서 보다 현저하게 나타나도록 한다. 본 실시예에서의 결상플레이트(1500)에 맺히는 상에서 나타나는 변위는, 글래스기판(400)이 없는 경우에 맺히는 상의 위치(이하, "초기위치"라고도 함) 및 글래스기판(400)이 있는 경우에 맺히는 상의 위치(이하, "측정위치"라고도 함) 사이의 거리를 말한다. 또한, 다면체 프리즘(1300)은 레이저빔의 단면 직경 또는 형상을 증폭시켜, 촬상 이미지에서 보다 명확하게 레이저빔의 상이 나타나도록 한다. 여기서, 초기위치의 경우에는 사전 측정에 의한 위치로서, 측정장치(1)는 이전 획득한 초기위치의 위치값을 자체적으로 저장하고 있을 수 있다. 측정장치(1)는 글래스기판(400)의 두께의 측정 프로세스 시, 매번 새로운 초기위치의 위치값을 측정할 수도 있고, 또는 새로운 초기위치의 위치값을 측정하지 않고서 상기와 같이 기 저장된 초기위치의 위치값을 사용할 수도 있다.In the present embodiment, the meaning that at least one of the plurality of
한편, 프레임(1100)에서 글래스기판(400)이 수용되는 개구에는, 두께를 측정하는 글래스기판(400)의 복수의 위치에 각기 대응하여 복수의 다면체 프리즘(1300) 및 복수의 결상플레이트(1500)가 마련될 수 있다. 예를 들면, 도 7의 경우와 같이 다면체 프리즘(1300) 및 결상플레이트(1500)의 세트가 네 개 마련될 수 있으나, 설치 위치 및 개수는 한정되지 않는다. 레이저빔조사기(1200)는 각 위치에 개별적으로 레이저빔을 조사하도록 마련된다.On the other hand, in the opening in which the
이하, 다면체 프리즘(1300)에 의한 레이저빔의 증폭을 이용하여 글래스기판(400)의 두께를 산출하는 방법에 관해 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a method of calculating the thickness of the
도 8은 글래스기판이 없는 경우에 레이저빔이 다면체 프리즘을 통하여 결상플레이트에 상이 맺히도록 하는 모습을 나타내는 측단면도이다.FIG. 8 is a side cross-sectional view showing a state in which a laser beam forms an image on an imaging plate through a polyhedral prism when there is no glass substrate.
도 5 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 글래스기판(400)이 없는 경우(도 8 참조)에 레이저빔은 다면체 프리즘(1300)의 입사면에 입사된 이후, 다면체 프리즘(1300)에서 제1반사면(1320), 제2반사면(1330), 제3반사면(1340), 그리고 입사면(1310)에 의해 연쇄 반사된다. 입사면(1310)은 레이저빔이 최초 입사되는 면이지만, 다면체 프리즘(1300) 내에서 레이저빔을 반사시키는 면의 역할도 수행할 수 있다(즉, 이 경우에 입사면(1310)은 제4반사면으로서의 역할도 수행할 수 있다). 여기서, 제1반사면(1320)은 곡면의 특성 상, 평면인 경우에 비해 레이저빔의 반사 각도를 상대적으로 크게 증폭시키는 역할을 한다. 다면체 프리즘(1300) 내에서 연쇄 반사된 레이저빔은 출사면(1350)을 통해 출사되고, 결상플레이트(1500)에 상을 형성한다. 제어부(1600)는 카메라(1400)에 의한 결상플레이트(1500)의 제1촬상 이미지를 획득하고, 제1촬상 이미지로부터 이 상의 위치를 초기위치로 식별한다.5 to 8 , in the case where the
도 9는 글래스기판이 있는 경우에 레이저빔이 다면체 프리즘을 통하여 결상플레이트에 상이 맺히도록 하는 모습을 나타내는 측단면도이다.9 is a side cross-sectional view illustrating a state in which a laser beam is formed on an imaging plate through a polyhedral prism when there is a glass substrate.
도 5 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 글래스기판(400)이 있는 경우(도 9 참조)에 레이저빔은 다면체 프리즘(1300)의 입사면(1310)에 입사된다. 이 때, 레이저빔은 글래스기판(400)을 통과하면서 글래스기판(400)으로 인한 굴절이 발생하므로, 다면체 프리즘(1300)의 입사면(1310)에 입사되는 위치는 글래스기판(400)이 없는 경우(도 8 참조)의 위치로부터 어긋나게 된다. 입사면(1310)을 통해 입사되는 레이저빔은 제1반사면(1320)에 의해 반사 각도가 증폭되고, 제2반사면(1330), 제3반사면(1340), 입사면(1310)에 의한 연쇄 반사를 거친다. 최종적으로 출사면(1350)으로부터 출사되는 레이저빔은 결상플레이트(1500)에 상을 형성한다. 제어부(1600)는 카메라(1400)에 의한 결상플레이트(1500)의 제2촬상 이미지를 획득하고, 제2촬상 이미지로부터 이 상의 위치를 측정위치로 식별한다.5 to 9 , when the
카메라(1400)의 의한 촬상 이미지에서는, 앞서 설명한 다면체 프리즘(1300)에 의한 증폭 기능을 통해 초기위치 및 측정위치 사이의 거리인 변위가 나타난다. 도 9에서는 변위를 나타내기 위해 초기위치 및 측정위치를 함께 나타내고 있으나, 실제로 동일한 시점에 결상플레이트(1500) 상에 초기위치를 나타내는 상 및 측정위치를 나타내는 상이 함께 맺히는 것은 아니다. 제어부(1600)는 사전 측정에 의한 초기위치의 위치값을 저장하고 있으며, 글래스기판(400)을 통과하여 결상플레이트(1500)에 맺힌 상의 이미지를 촬상하여 측정위치의 위치값을 도출한다. 결과적으로 제어부(1600)는, 촬상 이미지에서 나타나는 변위에 기초하여 글래스기판(400)의 두께를 산출한다. 산출 방법은 여러 가지가 가능하며, 예를 들면 다음과 같은 수학식을 사용할 수 있다.In the image captured by the
[수학식][Equation]
W=D1+{sin(L*Pi/180)}*D2/RW=D1+{sin(L*Pi/180)}*D2/R
W는 글래스기판(400)의 두께, D1은 초기위치의 위치값, sin은 사인함수, L은 제1반사면(1320)에 반사되는 위치부터 결상플레이트(1500)에 맺히는 상의 위치까지의 레이저빔의 주사거리, Pi는 원주율, D2는 측정위치의 위치값, R은 제1반사면(1320)의 곡률반경이다. 이와 같은 수학식의 변수에 의한 조건에 따라서 측정 배율이 변경될 수 있고, 변경된 배율에 따라서 측정된 값을 수학식에 대입함으로써, 다양한 글래스기판(400)의 두께를 산출하기 위한 직선성이 보장된다.W is the thickness of the
예를 들어, 레이저빔의 입사각이 45도, 굴절각이 28.13도, R이 10mm, L이 64mm인 조건 하에서, 여러 개의 글래스기판(400) 샘플을 사용한 실험으로부터 위 수학식을 사용하여 각 샘플의 두께를 산출할 수 있다. 위 수학식에 따라서, D2가 0.0887인 샘플 #1의 두께는 0.52mm, D2가 0.0509인 샘플 #2의 두께는 0.5166mm, D2가 0.1105인 샘플 #3의 두께는 0.5219mm 등으로 산출될 수 있다. 상기한 예시는 변위에 기초한 다양한 산출방법 중 하나에 불과하며, 위 수학식만으로 산출방법이 한정되는 것은 아니다.For example, the thickness of each sample using the above equation from an experiment using
이하, 측정장치(1000)에 의한 글래스기판(400)의 두께의 측정 과정에 관해 설명한다.Hereinafter, a process of measuring the thickness of the
도 10은 측정장치가 글래스기판의 두께를 측정하는 과정을 나타내는 플로우차트이다.10 is a flowchart illustrating a process in which the measuring device measures the thickness of the glass substrate.
도 5 및 도 10에 도시된 바와 같이, 2110 단계에서 측정장치(1000)는 글래스기판(400)이 없는 상태에서 레이저빔을 조사한다.5 and 10 , in
2120 단계에서 측정장치(1000)는 레이저빔의 촬상 이미지를 획득한다. 조사되는 레이저빔은 다면체 프레임(1100)을 통해 증폭된다.In
2130 단계에서 측정장치(1000)는 획득한 촬상 이미지에 기초하여 초기위치의 위치값을 식별한다. 촬상 이미지는 결상플레이트(1500) 상에 맺힌 상을 카메라(1400)에 의해 촬상함으로써 획득된다.In
2140 단계에서 측정장치(1000)는 글래스기판(400)을 프레임(1100)에 안착시킨다.In
2150 단계에서 측정장치(1000)는 글래스기판(400)을 투과하도록 레이저빔을 조사한다. 조사되는 레이저빔은 다면체 프레임(1100)을 통해 증폭된다.In
2160 단계에서 측정장치(1000)는 레이저빔의 촬상 이미지를 획득한다.In
2170 단계에서 측정장치(1000)는 획득한 촬상 이미지에 기초하여 측정위치의 위치값을 식별한다.In
2180 단계에서 측정장치(1000)는 식별된 초기위치 및 측정위치 각각의 위치값에 기초하여 글래스기판(400)의 두께를 산출한다.In
이로써, 측정장치(1000)는 글래스기판(400)으로 인한 미세한 굴절량 차이를 다면체 프리즘(1300)에 의해 증폭시켜, 글래스기판(400)의 손상 없이, 글래스기판(400)의 두께를 정확하게 측정할 수 있다.Thereby, the
한편, 보다 선명한 촬상 이미지를 획득하기 위해, 다양한 추가 구성이 측정장치(1000)에 반영될 수 있는 바, 이하 이러한 실시예에 관해 설명한다.Meanwhile, in order to obtain a clearer captured image, various additional configurations may be reflected in the
도 11은 측정장치가 보조플레이트를 포함하는 경우를 나타내는 측단면도이다.11 is a side cross-sectional view illustrating a case in which the measuring device includes an auxiliary plate.
도 11에 도시된 바와 같이, 측정장치(1000)는 글래스기판(400)의 두께의 측정을 위해, 다면체 프리즘(1300)과, 결상플레이트(1500)를 포함한다. 다면체 프리즘(1300)은 입사면(1310), 출사면(1350), 복수의 반사면(1320, 1330, 1340)을 포함한다. 측정장치(1000)의 각 구성요소의 역할 및 글래스기판(400)의 두께를 측정하는 방법은, 앞선 실시예에서 설명한 바와 같다.11 , the
본 실시예에서 측정장치(1000)는 다면체 프리즘(1300)의 출사면(1350) 및 결상플레이트(1500) 사이의 광경로 상에 배치되는 보조플레이트(1700)를 더 포함한다. 보조플레이트(1700)는 레이저빔이 투과 가능한 반투명한 플레이트로서, 0.3mm 정도의 두께를 가진 플라스틱 재질을 포함한다. 보조플레이트(1700)는 다면체 프리즘(1300)으로부터 출사되는 레이저빔의 형상을 조정함으로써, 결상플레이트(1500)에 맺히는 상이 보다 선명하게 되도록 한다. 이 외에도, 측정장치(1000)는 레이저빔의 특성의 조정을 위해 다양한 위치에 다양한 종류의 부가 구성을 포함할 수 있다.In this embodiment, the
한편, 앞서 설명한 본 실시예에서는 다면체 프리즘(1300)을 사용하여 레이저빔의 특성을 증폭시키는 구성에 관해 설명하였다. 측정장치(1000)는 다면체 프리즘(1300)을 사용하여, 미세한 굴절량을 보다 측정이 용이한 정도의 변위로 증폭시킨다. 그러나, 레이저빔의 증폭을 시키는 구성은 반드시 다면체 프리즘(1300)만으로 한정되는 것은 아니며, 다면체 프리즘(1300) 이외의 별도의 구성이 측정장치(1000)에 적용될 수도 있다. 이하, 이러한 실시예에 관해 설명한다.Meanwhile, in the present embodiment described above, the configuration for amplifying the characteristics of the laser beam using the
도 12는 측정장치가 곡면거울을 포함하는 경우를 나타내는 측단면도이다.12 is a side cross-sectional view illustrating a case in which the measuring device includes a curved mirror.
도 12에 도시된 바와 같이, 측정장치(1000)는 글래스기판(400)의 두께를 측정 가능하게 마련되며, 다면체 프리즘(1300, 도 5 참조)를 제외하면 대체적으로 앞선 실시예와 같은 구성요소를 포함한다. 본 실시예의 측정장치(1000)는 다면체 프리즘(1300, 도 5 참조)을 포함하지 않고, 대신에 글래스기판(400)을 투과하는 레이저빔을 결상플레이트(1500)를 향해 반사시키는 곡면거울(1800)을 포함한다.12, the
곡면거울(1800)은 앞선 실시예의 다면체 프리즘(1300, 도 5 참조)의 위치에 배치된다. 곡면거울(1800)은 볼록한 면과 오목한 면을 가지는데, 글래스기판(400) 및 결상플레이트(1500)를 향하는 오목한 면이 반사면을 형성한다. 글래스기판(400)을 투과하는 레이저빔은 곡면거울(1800)의 곡면 반사면에 반사된다. 이 경우의 레이저빔의 반사각도는 곡면거울(1800)이 아닌 평면 반사면에 의한 반사각도에 비해 커지므로, 결상플레이트(1500)에 맺히는 상의 변위 또한 상대적으로 커지게 된다.The
측정장치(1000)는, 초기위치 및 측정위치 사이의 변위에 기초하여 글래스기판(400)의 두께를 측정한다. 측정방법은 앞서 설명한 실시예의 원리에 따른다. 이와 같이, 측정장치(1000)는 곡면거울(1800)을 사용하여 레이저빔의 굴절량 편차를 측정이 용이한 변위로 증폭시킬 수 있다.The
400 : 글래스기판
1000 : 측정장치
1100 : 프레임
1200 : 레이저빔조사기
1300 : 다면체 프리즘
1400 : 카메라
1500 : 결상플레이트
1600 : 제어부400: glass substrate
1000: measuring device
1100 : frame
1200: laser beam irradiator
1300: polyhedral prism
1400 : camera
1500: image forming plate
1600: control
Claims (16)
상기 글래스기판을 수용하기 위한 개구를 가지는 프레임과,
상기 개구를 향해 소정의 입사각으로 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사기와,
상기 레이저빔 조사기로부터 조사되며 상기 개구를 지나는 레이저빔의 광경로 상에 마련되며, 상기 개구를 지나는 레이저빔이 입사되는 입사면과, 상기 입사면을 통해 입사되는 레이저빔을 연쇄 반사시키는 복수의 반사면과, 상기 복수의 반사면에 의해 연쇄 반사되는 레이저빔이 출사되는 출사면을 포함하는 다면체 프리즘과,
상기 다면체 프리즘으로부터 출사되는 레이저빔의 촬상 이미지를 획득하는 카메라와,
상기 카메라에 의해 획득한 촬상 이미지에 기초하여 상기 개구에 수용된 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 제어부를 포함하고,
상기 다면체 프리즘의 상기 복수의 반사면 중 적어도 하나는, 곡면을 가지는 장치.In the apparatus for measuring the thickness of a glass substrate,
a frame having an opening for accommodating the glass substrate;
a laser beam irradiator for irradiating a laser beam at a predetermined angle of incidence toward the opening;
A plurality of halves that are irradiated from the laser beam irradiator and are provided on an optical path of a laser beam passing through the opening, on which a laser beam passing through the opening is incident, and a plurality of halves for chain-reflecting the laser beam incident through the incident surface A polyhedral prism comprising an emitting surface from which a laser beam that is serially reflected by a slope and the plurality of reflection surfaces is emitted, and
a camera for acquiring a captured image of the laser beam emitted from the polyhedral prism;
a control unit for measuring the thickness of the glass substrate accommodated in the opening based on the captured image obtained by the camera;
At least one of the plurality of reflective surfaces of the polyhedral prism has a curved surface.
상기 제어부는, 상기 개구에 상기 글래스기판이 없을 때의 상기 촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치와, 상기 개구에 상기 글래스기판이 있을 때의 상기 촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치 사이의 거리에 기초하여, 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 장치.According to claim 1,
The control unit is configured to determine a distance between a position of an image of the laser beam in the captured image when the glass substrate is not present in the opening and a position of an image of the laser beam in the captured image when the glass substrate is present in the opening. Based on the device, the thickness of the glass substrate is measured.
상기 다면체 프리즘의 내부를 향하게 마련된 상기 복수의 반사면 중 상기 적어도 하나는 오목한 면을 포함하는 장치.According to claim 1,
and at least one of the plurality of reflective surfaces facing the inside of the polyhedral prism includes a concave surface.
상기 프레임은,
설치면 상에 지지되는 제1프레임과,
상기 제1프레임에 교체 가능하게 지지되며, 상기 글래스기판의 형상에 대응하는 상기 개구를 형성하는 제2프레임을 포함하는 장치.According to claim 1,
The frame is
A first frame supported on the installation surface, and
and a second frame supported interchangeably by the first frame and forming the opening corresponding to the shape of the glass substrate.
상기 다면체 프리즘으로부터 출사되는 레이저빔의 상이 맺히는 결상플레이트를 더 포함하고,
상기 카메라는 상기 결상플레이트를 촬상하여 상기 촬상 이미지를 획득하는 장치.According to claim 1,
Further comprising an imaging plate on which the image of the laser beam emitted from the polyhedral prism is formed,
The camera captures the imaging plate to obtain the captured image.
상기 결상플레이트는, 소정의 컬러를 가진 반투명한 재질을 포함하는 장치.6. The method of claim 5,
The imaging plate is a device comprising a translucent material having a predetermined color.
상기 다면체 프리즘 및 상기 결상플레이트 사이의 레이저빔의 광경로 상에 배치되는 반투명한 보조플레이트를 더 포함하는 장치.6. The method of claim 5,
The apparatus further comprising a translucent auxiliary plate disposed on the optical path of the laser beam between the polyhedral prism and the imaging plate.
상기 레이저빔 조사기는, 상기 글래스기판에 대해 90도 미만의 경사진 각도로 레이저빔을 조사하는 장치.According to claim 1,
The laser beam irradiator is an apparatus for irradiating a laser beam at an inclined angle of less than 90 degrees with respect to the glass substrate.
프레임에 글래스기판이 없는 상태에서 소정의 입사각으로 레이저빔을 조사하는 단계와,
다면체 프리즘을 거쳐서 출사되는 레이저빔의 제1촬상 이미지를 획득하는 단계와,
프레임에 글래스기판이 지지된 상태에서 상기 입사각으로 레이저빔을 조사하는 단계와,
상기 다면체 프리즘을 거쳐서 출사되는 레이저빔의 제2촬상 이미지를 획득하는 단계와,
상기 제1촬상 이미지 및 상기 제2촬상 이미지에 기초하여 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 단계를 포함하고,
상기 다면체 프리즘은,
레이저빔이 입사되는 입사면과, 상기 입사면을 통해 입사되는 레이저빔을 연쇄 반사시키는 복수의 반사면과, 상기 복수의 반사면에 의해 연쇄 반사되는 레이저빔이 출사되는 출사면을 포함하고,
상기 다면체 프리즘의 상기 복수의 반사면 중 적어도 하나는, 곡면을 가지는 장치의 제어방법.In the control method of the apparatus for measuring the thickness of a glass substrate,
irradiating a laser beam at a predetermined angle of incidence in a state in which there is no glass substrate in the frame;
acquiring a first captured image of a laser beam emitted through a polyhedral prism;
irradiating the laser beam at the incident angle while the glass substrate is supported on the frame;
acquiring a second captured image of the laser beam emitted through the polyhedral prism;
measuring the thickness of the glass substrate based on the first captured image and the second captured image;
The polyhedral prism is
An incident surface on which a laser beam is incident, a plurality of reflective surfaces for chain-reflecting the laser beam incident through the incident surface, and an emitting surface on which the laser beams chain-reflected by the plurality of reflective surfaces are emitted,
At least one of the plurality of reflective surfaces of the polyhedral prism has a curved surface.
상기 제1촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치와, 상기 제2촬상 이미지에서 상기 레이저빔의 상의 위치 사이의 거리에 기초하여, 상기 글래스기판의 두께를 측정하는 장치의 제어방법.10. The method of claim 9,
A method of controlling an apparatus for measuring a thickness of the glass substrate based on a distance between a position of the image of the laser beam in the first captured image and a position of the image of the laser beam in the second captured image.
상기 다면체 프리즘의 내부를 향하게 마련된 상기 복수의 반사면 중 상기 적어도 하나는 오목한 면을 포함하는 장치의 제어방법.10. The method of claim 9,
The method of controlling a device, wherein the at least one of the plurality of reflective surfaces provided to face the inside of the polyhedral prism includes a concave surface.
상기 프레임은,
설치면 상에 지지되는 제1프레임과,
상기 제1프레임에 교체 가능하게 지지되며, 상기 글래스기판의 형상에 대응하는 상기 개구를 형성하는 제2프레임을 포함하는 장치의 제어방법.10. The method of claim 9,
The frame is
A first frame supported on the installation surface, and
and a second frame that is replaceably supported on the first frame and that forms the opening corresponding to the shape of the glass substrate.
상기 다면체 프리즘으로부터 출사되는 레이저빔의 상이 맺히는 결상플레이트를 더 포함하고,
카메라에 의해 상기 결상플레이트를 촬상하여 상기 촬상 이미지를 획득하는 장치의 제어방법.10. The method of claim 9,
Further comprising an imaging plate on which the image of the laser beam emitted from the polyhedral prism is formed,
A method of controlling an apparatus for acquiring the captured image by imaging the imaging plate by a camera.
상기 결상플레이트는, 소정의 컬러를 가진 반투명한 재질을 포함하는 장치의 제어방법.14. The method of claim 13,
The imaging plate is a control method of a device comprising a translucent material having a predetermined color.
상기 다면체 프리즘 및 상기 결상플레이트 사이의 레이저빔의 광경로 상에 배치되는 반투명한 보조플레이트를 더 포함하는 장치의 제어방법.14. The method of claim 13,
The control method of the apparatus further comprising a translucent auxiliary plate disposed on the optical path of the laser beam between the polyhedral prism and the imaging plate.
상기 글래스기판에 대해 90도 미만의 경사진 각도로 레이저빔을 조사하는 장치의 제어방법.10. The method of claim 9,
A method of controlling an apparatus for irradiating a laser beam at an inclined angle of less than 90 degrees with respect to the glass substrate.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210021696A KR20220118061A (en) | 2021-02-18 | 2021-02-18 | Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof |
| PCT/KR2022/001369 WO2022177197A1 (en) | 2021-02-18 | 2022-01-26 | Apparatus for measuring thickness of glass substrate and control method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210021696A KR20220118061A (en) | 2021-02-18 | 2021-02-18 | Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220118061A true KR20220118061A (en) | 2022-08-25 |
Family
ID=82930910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210021696A KR20220118061A (en) | 2021-02-18 | 2021-02-18 | Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20220118061A (en) |
| WO (1) | WO2022177197A1 (en) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4213800B2 (en) * | 1998-12-09 | 2009-01-21 | 株式会社ニデック | Oblique incidence interferometer |
| KR101278249B1 (en) * | 2011-06-01 | 2013-06-24 | 주식회사 나노텍 | Apparatus for Detecting a Defect in Edge of Glass Plate and the Method Thereof |
| KR20130134416A (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-10 | 주식회사 휴비츠 | Apparatus and method for measuring lens thickness |
| WO2018008851A1 (en) * | 2016-07-03 | 2018-01-11 | 엘지전자 주식회사 | Thickness measuring apparatus |
| KR20200130062A (en) * | 2019-05-10 | 2020-11-18 | 삼성전자주식회사 | Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith |
-
2021
- 2021-02-18 KR KR1020210021696A patent/KR20220118061A/en active Search and Examination
-
2022
- 2022-01-26 WO PCT/KR2022/001369 patent/WO2022177197A1/en active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2022177197A1 (en) | 2022-08-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7755026B2 (en) | Generating signals representative of sensed light that is associated with writing being done by a user | |
| TWI446250B (en) | Portable optical touch system and operating method thereof | |
| US20100207909A1 (en) | Detection module and an optical detection device comprising the same | |
| WO2010122762A1 (en) | Optical position detection apparatus | |
| US20100164869A1 (en) | Virtual keyboard structure of electric device and data inputting method thereof | |
| US7941913B2 (en) | Component placement unit as well as a component placement device comprising such a component placement unit | |
| JP2010287225A (en) | Touch input device | |
| JP2012215569A (en) | Portable color measurement device | |
| JP2001281049A (en) | Measuring device and method for view angle dependency and location dependency of luminance | |
| US20170160869A1 (en) | Corner generation in a projector display area | |
| US20100134446A1 (en) | Optical output device | |
| US10712146B2 (en) | Distance measuring system and method using thereof | |
| TWI489350B (en) | Optical touch apparatus and image capturing apparatus | |
| TWI470185B (en) | Device and method for detecting light reflection and electronic device using the same | |
| KR20220118061A (en) | Apparatus for caculating width of glass substrate and control method thereof | |
| WO2011152088A1 (en) | Position detecting device and image processing system | |
| CN102063228B (en) | Optical sensing system and touch screen applying same | |
| US11921956B2 (en) | Optical distance sensing using a target surface having a non-uniform design of regions of different reflectivity | |
| CN111526780A (en) | Device for imaging skin | |
| TW201627839A (en) | An optical touch device and touch detecting method using the same | |
| KR101586665B1 (en) | Fluidic touch sensor for measuring a contact area | |
| US11423687B2 (en) | Electronic device including point detector and biometric information obtaining method using the same | |
| JP2007029706A (en) | Algorithm for rebuilding 1d information into 2d information and 1d skin pattern sensing module thereof | |
| JP2004038528A (en) | Optical coordinate detecting device | |
| KR20220119943A (en) | Optical measuring device including transmission-reflection member |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination |