KR20220076335A - Fluorescent filter and image sensor module including the same - Google Patents

Fluorescent filter and image sensor module including the same Download PDF

Info

Publication number
KR20220076335A
KR20220076335A KR1020210161469A KR20210161469A KR20220076335A KR 20220076335 A KR20220076335 A KR 20220076335A KR 1020210161469 A KR1020210161469 A KR 1020210161469A KR 20210161469 A KR20210161469 A KR 20210161469A KR 20220076335 A KR20220076335 A KR 20220076335A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
measurement object
filter
light
wavelength band
well
Prior art date
Application number
KR1020210161469A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이종묵
Original Assignee
(주) 솔
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 솔 filed Critical (주) 솔
Priority to PCT/KR2021/017576 priority Critical patent/WO2022114830A1/en
Priority to EP21820435.2A priority patent/EP4033275A4/en
Priority to US17/556,370 priority patent/US11879845B2/en
Publication of KR20220076335A publication Critical patent/KR20220076335A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/201Filters in the form of arrays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/22Absorbing filters
    • G02B5/223Absorbing filters containing organic substances, e.g. dyes, inks or pigments
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

측정 대상물으로부터 발생하는 형광을 측정하기 위한 형광 필터 및 이를 포함한 이미지 센서 모듈에 관한 것으로, 형광 염료를 포함하는 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터, 그리고 상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하고, 상기 흡수 필터는, 상기 형광 염료를 포함하는 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고, 상기 웰은, 외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 한다.A fluorescence filter for measuring fluorescence generated from a measurement object and an image sensor module including the same, the absorption filter for transmitting light in a specific wavelength band generated from a measurement object including a fluorescent dye and absorbing light in the remaining wavelength band, and and a reflection filter disposed adjacent to the absorption filter and transmitting light of a specific wavelength band generated by the measurement target and reflecting light of the remaining wavelength band, wherein the absorption filter includes a measurement target including the fluorescent dye A well having a predetermined depth is formed, and a plurality of wells are arranged at regular intervals on an incident surface of the absorption filter to which external light is incident.

Description

형광 필터 및 이를 포함한 이미지 센서 모듈{FLUORESCENT FILTER AND IMAGE SENSOR MODULE INCLUDING THE SAME}Fluorescent filter and image sensor module including same

본 발명은 측정 대상물으로부터 발생하는 형광을 측정하기 위한 형광 필터 및 이를 포함한 이미지 센서 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a fluorescence filter for measuring fluorescence generated from a measurement object and an image sensor module including the same.

일반적으로, 이미지 센서는, 광 신호를 전기적 신호로 변환하여 디스플레이 장비에 표시하거나 저장할 수 있도록 하는 반도체 소자로서, 주로 광학 필터와 함께 사용된다.BACKGROUND ART In general, an image sensor is a semiconductor device that converts an optical signal into an electrical signal so that it can be displayed or stored in a display device, and is mainly used together with an optical filter.

또한, 광학 필터는, 특정 영역대의 파장만을 투과시키도록 구성되며, 이를 통해 광학 필터를 통과한 특정 영역대의 파장을 갖는 광만이 이미지 센서에서 감지될 수 있다. In addition, the optical filter is configured to transmit only a wavelength of a specific region, and only light having a wavelength of a specific region passing through the optical filter can be detected by the image sensor.

기존의 광학 필터는, 서로 다른 특성를 갖는 복수 개의 레이어가 다층으로 적층되어 형성될 수 있다.A conventional optical filter may be formed by stacking a plurality of layers having different characteristics in a multi-layered manner.

이처럼 구성된 광학 필터는, 광이 복수 개의 레이어를 투과할 때, 복수 개의 레이어의 경계면에서 반사, 굴절, 보강간섭 및 상쇄간섭 등이 발생함으로써, 특정 영역대의 파장을 갖는 광만을 투과시킬 수 있다.The optical filter configured as described above can transmit only light having a wavelength in a specific region by generating reflection, refraction, constructive interference, and destructive interference at the interface between the plurality of layers when light passes through the plurality of layers.

즉, 광학 필터는, 복수 개의 레이어들에 의해, 특정 영역대의 파장을 갖는 광만을 투과시키고, 나머지 영역대의 파장을 갖는 광들을 차단하여 필터링할 수 있다.That is, the optical filter may transmit only light having a wavelength in a specific region and block light having a wavelength in the remaining region for filtering by a plurality of layers.

하지만, 이러한 구조의 광학 필터는, 광이 광학 필터의 입사면에 대해 수직으로 입사되면 필터링 효과가 우수하지만, 광이 광학 필터의 입사면에 대해 경사지게 입사되면 필터링 효과가 저감되는 문제가 있었다.However, the optical filter having such a structure has a good filtering effect when light is incident perpendicularly to the incident surface of the optical filter, but has a problem in that the filtering effect is reduced when light is incident at an angle to the incident surface of the optical filter.

특히, 세포, 단백질, DNA, RNA, mRNA, 바이러스 등과 같이 측정 대상물이 바이오 샘플인 경우에는, 원하는 파장대의 광만을 투과하도록 정밀한 필터링이 가능한 광학 필터가 더욱 요구되고 있다.In particular, when the measurement target is a bio sample such as cells, proteins, DNA, RNA, mRNA, viruses, etc., an optical filter capable of precise filtering so as to transmit only light in a desired wavelength band is further required.

따라서, 향후, 원하는 파장대의 광만을 투과시키는 정밀한 필터링을 수행하여 바이오 샘플의 광 신호를 선명하게 획득할 수 있는 광학 필터의 개발이 요구되고 있다.Therefore, in the future, there is a need for the development of an optical filter capable of clearly acquiring an optical signal of a bio sample by performing precise filtering that transmits only light in a desired wavelength band.

대한민국 공개특허공보 KR 2019-0140439 (2019.12.19)Korean Patent Publication No. KR 2019-0140439 (2019.12.19)

상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 일 목적은, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터와, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 함께 배치함으로써, 원하는 파장대의 광만을 투과시키는 정밀한 필터링을 수행하여 측정 대상물의 광 신호를 선명하게 획득할 수 있는 형광 필터 및 이를 포함한 이미지 센서 모듈을 제공하는 것이다.An object of the present invention for solving the above problems is an absorption filter that transmits light of a specific wavelength band generated from a measurement target and absorbs light of the remaining wavelength band, and transmits light of a specific wavelength band generated from a measurement target and a reflective filter that reflects the light of the remaining wavelength band together to provide a fluorescence filter and an image sensor module including the same to perform precise filtering that transmits only the light of the desired wavelength band to clearly acquire the optical signal of the measurement object. will be.

본 발명의 다른 목적은, 흡수 필터에 격벽을 배치하여 주변의 웰(well)로부터 인입되는 노이즈 광을 차단함으로써, 노이즈를 최소화하여 정밀하고 명확한 광 신호를 획득할 수 있는 형광 필터 및 이를 포함한 이미지 센서 모듈을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a fluorescence filter capable of obtaining a precise and clear optical signal by minimizing noise by arranging a barrier rib in the absorption filter to block noise light entering from a surrounding well, and an image sensor including the same to provide a module.

본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 필터는, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터, 그리고 상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하고, 상기 흡수 필터는, 상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰이 형성되고, 상기 웰은, 외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 한다.A fluorescent filter according to an embodiment of the present invention for solving the above problems includes an absorption filter that transmits light in a specific wavelength band generated from a measurement target and absorbs light in the remaining wavelength band, and is disposed adjacent to the absorption filter, and a reflection filter that transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement target and reflects light of the remaining wavelength band, wherein the absorption filter has a well having a predetermined depth in which the measurement target is seated, and the well is external It is characterized in that a plurality of pieces are arranged at regular intervals on the incident surface of the absorption filter to which light is incident.

실시 예에 있어서, 상기 흡수 필터는, 베이스 매질과, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대를 제외한 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 물질이 혼합되는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the absorption filter is characterized in that a base medium and an absorption material absorbing light in a wavelength band other than a specific wavelength band generated by the measurement object are mixed.

실시 예에 있어서, 상기 흡수 물질은, 안료 및 포토레지스트 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the absorption material is characterized in that at least one of a pigment and a photoresist.

실시 예에 있어서, 상기 흡수 필터는, 상기 서로 인접하는 웰들 사이에 배치되는 메인 격벽을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the absorption filter may further include a main barrier rib disposed between the adjacent wells.

실시 예에 있어서, 상기 메인 격벽은, 각각의 웰 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽일 수 있고, 상기 메인 격벽은, 복수의 웰들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹이 형성되면 각각의 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽일 수 있으며, 상기 메인 격벽은, 각각의 웰 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽과, 복수의 웰들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽이 혼합되는 혼합 격벽인 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the main partition wall may be a well unit partition wall surrounding each well, and the main partition wall surrounds each well group when a well group in which a plurality of wells constitute one group is formed. may be a group unit barrier rib, and the main barrier rib is a mixed barrier rib in which a well unit barrier rib surrounding each well and a group unit barrier rib surrounding a well group in which a plurality of wells form one group are mixed characterized.

실시 예에 있어서, 상기 메인 격벽은, 상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광과, 상기 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광을 모두 차단하는 물질로 이루어지는 단일 격벽일 수 있고, 상기 메인 격벽은, 상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 상기 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽을 포함하는 이중 격벽일 수 잇으며, 상기 메인 격벽은, 상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 상기 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽과, 상기 제1, 제2 웰에 인접하는 제3 웰 내에 안착되는 제3 측정 대상물에서 발생하는 제3 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제3 격벽을 포함하는 다중 격벽인 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the main barrier rib includes light in a first wavelength band generated from a first measurement object seated in the first well and a second measurement object seated in a second well adjacent to the first well may be a single barrier rib made of a material that blocks all light in the second wavelength band, wherein the main barrier rib is a first barrier rib made of a material that blocks only light in the first wavelength band generated from the first measurement object seated in the first well It may be a double barrier rib including a first barrier rib and a second barrier rib made of a material that blocks only light of a second wavelength band generated from a second measurement object seated in a second well adjacent to the first well, The barrier rib includes a first barrier rib made of a material that blocks only light of a first wavelength band generated from a first measurement object seated in the first well, and a second measurement object seated in a second well adjacent to the first well A second barrier rib made of a material that blocks only the light of the second wavelength band generated in It is characterized in that it is a multiple barrier rib including a third barrier rib made of a material.

실시 예에 있어서, 본 발명은, 상기 반사 필터에 인접하여 배치되는 격벽층을 더 포함하고, 상기 격벽층은, 상기 흡수 필터의 메인 격벽에 대응되어 배치되는 복수의 서브 격벽들을 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the present invention further includes a barrier rib layer disposed adjacent to the reflective filter, wherein the barrier rib layer includes a plurality of sub barrier ribs disposed to correspond to the main barrier rib of the absorption filter do.

실시 예에 있어서, 상기 복수의 서브 격벽은, 상기 흡수 필터의 메인 격벽에 얼라인되도록 배치되는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the plurality of sub barrier ribs are arranged to be aligned with the main barrier rib of the absorption filter.

실시 예에 있어서, 상기 반사 필터는, 글래스 기판, 그리고 상기 글래스 기판 위에 복수의 층들이 형성되어, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 다층막을 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the reflective filter includes a glass substrate and a multilayer film formed on the glass substrate to transmit light in a specific wavelength band generated from the measurement target and reflect light in the remaining wavelength band characterized in that

실시 예에 있어서, 상기 다층막은, 상기 글래스 기판 상부 또는 상기 글래스 기판 하부에 배치될 수 있고, 상기 다층막은, 높은 파장대의 광을 투과시키고 낮은 파장대의 광을 차단하는 하이 패스 필터이거나 또는 낮은 파장대의 광을 투과시키고 높은 파장대의 광을 차단하는 로우 패스 필터인 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the multilayer film may be disposed above the glass substrate or under the glass substrate, and the multilayer film may be a high pass filter that transmits light in a high wavelength band and blocks light in a low wavelength band or a high pass filter in a low wavelength band. It is characterized in that it is a low-pass filter that transmits light and blocks light in a high wavelength band.

실시 예에 있어서, 상기 다층막은, 상기 글래스 기판 상부에 배치되는 상부 다층막, 그리고 상기 글래스 기판 하부에 배치되는 하부 다층막을 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the multilayer film may include an upper multilayer film disposed on the glass substrate and a lower multilayer film disposed under the glass substrate.

실시 예에 있어서, 상기 흡수 필터는, 외부 광이 상기 흡수 필터 방향으로 입사될 때, 상기 반사 필터 상부면 위에 접촉되어 배치될 수 있고, 상기 흡수 필터는, 외부 광이 상기 반사 필터 방향으로 입사될 때, 상기 반사 필터 하부면 위에 접촉되어 배치되는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the absorption filter may be disposed in contact with an upper surface of the reflection filter when external light is incident in the direction of the absorption filter, and the absorption filter is configured to prevent external light from being incident in the direction of the reflection filter. When it is, characterized in that it is disposed in contact with the lower surface of the reflective filter.

실시 예에 있어서, 상기 흡수 필터는, 상기 반사 필터 상부면 위에 접촉되어 배치되는 제1 흡수 필터, 그리고 상기 반사 필터 하부면 위에 접촉되어 배치되는 제2 흡수 필터를 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the absorption filter may include a first absorption filter disposed in contact with an upper surface of the reflection filter, and a second absorption filter disposed in contact with a lower surface of the reflection filter.

본 발명의 일 실시예에 따른 형광 필터를 포함하는 이미지 센서 모듈은, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터, 그리고 상기 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서를 포함하고, 상기 형광 필터는, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터, 그리고 상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하며, 상기 흡수 필터는, 상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고, 상기 웰은, 외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 한다.An image sensor module including a fluorescent filter according to an embodiment of the present invention includes a fluorescent filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from a measurement object, and an image sensor that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter. The fluorescent filter includes an absorption filter that transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement target and absorbs light of the remaining wavelength band, and is disposed adjacent to the absorption filter and generates a specific wavelength band generated by the measurement target. and a reflection filter that transmits the light of the wavelength band and reflects light of the remaining wavelength band, wherein the absorption filter has a well having a predetermined depth in which the measurement object is seated, and the well is configured to receive external light It is characterized in that a plurality of the absorption filter is disposed at regular intervals on the incident surface.

본 발명의 일 실시예에 따른 형광 필터를 포함하는 이미지 센서 모듈 어레이는, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터와, 상기 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서를 포함하는 복수의 이미지 센서 모듈을 포함하고, 상기 복수의 이미지 센서 모듈은, 매트릭스 형태로 배열되어 서로 다른 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 감지하여 복수의 측정 대상물에 대한 복수의 광 신호를 획득하며, 상기 형광 필터는, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터, 그리고 상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하며, 상기 흡수 필터는, 상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고, 상기 웰은, 외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 한다.An image sensor module array including a fluorescent filter according to an embodiment of the present invention includes a fluorescent filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from a measurement object, and an image sensor that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter. A plurality of image sensor modules including The fluorescence filter transmits light in a specific wavelength band generated from the measurement object and absorbs light in the remaining wavelength band, and is disposed adjacent to the absorption filter and generates a specific wavelength band generated by the measurement target. and a reflection filter that transmits the light of the wavelength band and reflects light of the remaining wavelength band, wherein the absorption filter has a well having a predetermined depth in which the measurement object is seated, and the well is configured to receive external light It is characterized in that a plurality of the absorption filter is disposed at regular intervals on the incident surface.

상기와 같이 본 발명에 따르면, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터와, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 함께 배치함으로써, 원하는 파장대의 광만을 투과시키는 정밀한 필터링을 수행하여 바이오 샘플의 광 신호를 선명하게 획득할 수 있다.As described above, according to the present invention, an absorption filter that transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement target and absorbs light of the remaining wavelength band, and transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement target and reflects light of the remaining wavelength band By disposing the reflection filter together, the optical signal of the bio sample can be clearly obtained by performing precise filtering that transmits only light in a desired wavelength band.

또한, 본 발명은, 흡수 필터에 격벽을 배치하여 주변의 웰로부터 인입되는 노이즈 광을 차단함으로써, 노이즈를 최소화하여 정밀하고 명확한 광 신호를 획득할 수 있다.In addition, according to the present invention, by arranging a barrier rib in the absorption filter to block noise light entering from the surrounding wells, it is possible to obtain a precise and clear optical signal by minimizing noise.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1 내지 도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 4 내지 도 6은, 본 발명의 다른 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 7 내지 도 9는, 흡수 필터의 격벽을 설명하기 위한 평면도이다.
도 10은, 흡수 필터의 다중 격벽을 설명하기 위한 평면도이다.
도 11은, 흡수 필터의 격벽 배치를 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 12는, 격벽층의 위치를 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 13 내지 도 16은, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 17는, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈을 설명하기 위한 구조 단면도이다.
도 18은, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈을 설명하기 위한 사시도이다.
도 19는, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈 어레이를 설명하기 위한 개략도이다.
1 to 3 are structural cross-sectional views illustrating a fluorescent filter according to an embodiment of the present invention.
4 to 6 are structural cross-sectional views for explaining a fluorescent filter according to another embodiment of the present invention.
7 to 9 are plan views for explaining the partition wall of the absorption filter.
Fig. 10 is a plan view for explaining the multiple partition walls of the absorption filter.
11 is a structural cross-sectional view for explaining the partition wall arrangement of the absorption filter.
12 is a structural cross-sectional view for explaining the position of the barrier rib layer.
13 to 16 are structural cross-sectional views for explaining a fluorescent filter according to another embodiment of the present invention.
17 is a structural cross-sectional view illustrating an image sensor module according to the present invention.
18 is a perspective view illustrating an image sensor module according to the present invention.
19 is a schematic diagram for explaining an image sensor module array according to the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and only the present embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains. It is provided to fully understand the scope of the present invention to those skilled in the art, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.The terminology used herein is for the purpose of describing the embodiments and is not intended to limit the present invention. In this specification, the singular also includes the plural unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, “comprises” and/or “comprising” does not exclude the presence or addition of one or more other components in addition to the stated components. Like reference numerals refer to like elements throughout, and "and/or" includes each and every combination of one or more of the recited elements. Although "first", "second", etc. are used to describe various elements, these elements are not limited by these terms, of course. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, it goes without saying that the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used herein will have the meaning commonly understood by those of ordinary skill in the art to which this invention belongs. In addition, terms defined in a commonly used dictionary are not to be interpreted ideally or excessively unless specifically defined explicitly.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.1 to 3 are structural cross-sectional views illustrating a fluorescent filter according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명이 형광 필터는, 흡수 필터(200)와, 흡수 필터(200)의 하부에 배치되는 반사 필터(300)를 포함할 수 있다.1 to 3 , the fluorescent filter of the present invention may include an absorption filter 200 and a reflection filter 300 disposed under the absorption filter 200 .

여기서, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수할 수 있다.Here, the absorption filter 200 may transmit light in a specific wavelength band generated from the measurement object 100 and absorb light in the remaining wavelength band.

또한, 흡수 필터(200)는, 베이스 매질(210)과, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대를 제외한 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 물질(220)이 혼합될 수 있다.In addition, in the absorption filter 200 , the base medium 210 and the absorption material 220 absorbing light in the remaining wavelength bands except for the specific wavelength band generated from the measurement object 100 may be mixed.

일 예로, 흡수 물질(220)은, 안료(pigment) 및 포토레지스트 중 적어도 어느 하나일 수 있는데, 이는 일 실시예일 뿐, 이에 한정되지는 않는다.As an example, the absorbing material 220 may be at least one of a pigment and a photoresist, but this is only an example and is not limited thereto.

여기서, 흡수 필터(200)에는, 안료 약 60 ~ 약 70%, 분산제(Dispersant), 분산용 바인더 및 분산조제 등이 포함될 수 있다.Here, the absorption filter 200 may include about 60 to about 70% of a pigment, a dispersant, a binder for dispersing, a dispersing aid, and the like.

흡수 필터(200)의 구성은 예시된 구성에 한정되지 않으며, 안료 또는 포토레지스트를 필수적으로 포함하여 다양하게 구성될 수 있다.The configuration of the absorption filter 200 is not limited to the illustrated configuration, and may be configured in various ways by essentially including a pigment or a photoresist.

그리고, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물(100)이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)(400)이 형성될 수 있다.In addition, in the absorption filter 200 , a well 400 having a predetermined depth in which the measurement object 100 is seated may be formed.

여기서, 웰(400)은, 외부 광이 입사되는 흡수 필터(200)의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치될 수 있다.Here, a plurality of wells 400 may be disposed at regular intervals on the incident surface of the absorption filter 200 to which external light is incident.

경우에 따라, 복수의 웰(400)들은, 불규칙한 간격으로 배치될 수도 있다.In some cases, the plurality of wells 400 may be arranged at irregular intervals.

또한, 복수의 웰(400)들은, 직경이 서로 동일할 수 있다.Also, the plurality of wells 400 may have the same diameter.

경우에 따라, 복수의 웰(400)들은, 다양한 직경을 가질 수도 있다.In some cases, the plurality of wells 400 may have various diameters.

또한, 복수의 웰(400)들은, 평면 형상이 서로 동일할 수 있다.Also, the plurality of wells 400 may have the same planar shape.

경우에 따라, 복수의 웰(400)들은, 다양한 평면 형상을 가질 수도 있다.In some cases, the plurality of wells 400 may have various planar shapes.

일 예로, 복수의 웰(400)들은, 원형, 타원형, 다각형 등과 같이 다양한 평면 형상을 가질 수 있다.For example, the plurality of wells 400 may have various planar shapes, such as a circle, an ellipse, and a polygon.

이어, 웰(400) 내에 안착되는 측정 대상물(100)은, 세포, 단백질, 바이러스, DNA, RNA 및 mRNA 등과 같은 바이오 샘플들을 포함할 수 있는데, 이는 일 실시예일 뿐, 이에 한정되지는 않는다.Subsequently, the measurement object 100 seated in the well 400 may include biosamples such as cells, proteins, viruses, DNA, RNA, and mRNA, and this is only an example, but is not limited thereto.

웰(400) 내에는 형광 염료가 측정 대상물(100)과 함께 제공된다.A fluorescent dye is provided together with the measurement object 100 in the well 400 .

여기서, 형광 염료는, 용매에 용해된 상태의 물질로서, 용해된 형광 염료에 의해 측정 대상물(100)이 염색될 수 있다.Here, the fluorescent dye is a substance in a state of being dissolved in a solvent, and the measurement object 100 may be dyed by the dissolved fluorescent dye.

경우에 따라, 측정 대상물(100)은, 형광 염료와 결합할 때, 측정 대상물(100)과 형광 염료 사이를 연결하는 프로브 연결체를 통해 형광 염료와 결합될 수도 있다.In some cases, when the measurement object 100 is combined with the fluorescent dye, the measurement object 100 may be combined with the fluorescent dye through a probe linker connecting the measurement object 100 and the fluorescent dye.

따라서, 측정 대상물(100)은, 외부로부터 입사되는 광과 반응하여 형광을 방출할 수 있다.Accordingly, the measurement object 100 may emit fluorescence in response to light incident from the outside.

일 예로, 측정 대상물(100)에서 방출되는 광은, 외부로부터 입사되는 광보다 긴 파장대를 가질 수 있는데, 이는 일 실시예일 뿐, 이에 한정되지는 않는다.For example, light emitted from the measurement object 100 may have a longer wavelength band than light incident from the outside, but this is only an example and is not limited thereto.

다음, 반사 필터(300)는, 흡수 필터(200)에 인접하여 배치되고, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시킬 수 있다.Next, the reflective filter 300 may be disposed adjacent to the absorption filter 200 , transmit light in a specific wavelength band generated from the measurement target 100 , and reflect light in the remaining wavelength band.

여기서, 반사 필터(300)는, 글래스 기판(310)과, 글래스 기판(310) 위에 복수의 층들이 형성되어 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 다층막(320)을 포함할 수 있다.Here, the reflection filter 300 includes a glass substrate 310 and a plurality of layers formed on the glass substrate 310 to transmit light in a specific wavelength band generated by the measurement object 100 and reflect light in the remaining wavelength band. A multilayer film 320 may be included.

일 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 1과 같이, 글래스 기판(310)의 상부에 배치되어 흡수 필터(200)에 접촉될 수 있다.In an embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed on the glass substrate 310 and contact the absorption filter 200 as shown in FIG. 1 .

다른 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 2와 같이, 글래스 기판(310)의 하부에 배치되어 흡수 필터(200)로부터 이격될 수 있다.In another embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed under the glass substrate 310 to be spaced apart from the absorption filter 200 as shown in FIG. 2 .

여기서, 다층막(320)은, 높은 파장대의 광을 투과시키고 낮은 파장대의 광을 차단하는 하이 패스 필터이거나 또는 낮은 파장대의 광을 투과시키고 높은 파장대의 광을 차단하는 로우 패스 필터일 수 있다.Here, the multilayer film 320 may be a high pass filter that transmits light in a high wavelength band and blocks light in a low wavelength band, or a low pass filter that transmits light in a low wavelength band and blocks light in a high wavelength band.

또 다른 실시예로서, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 3과 같이, 글래스 기판(310) 상부에 배치되는 상부 다층막(320a)과, 글래스 기판(310) 하부에 배치되는 하부 다층막(320b)을 포함할 수 있다.As another embodiment, as shown in FIG. 3 , the multilayer film 320 of the reflection filter 300 includes an upper multilayer film 320a disposed on the glass substrate 310 and a lower multilayer film disposed below the glass substrate 310 . (320b) may be included.

여기서, 상부 다층막(320a)은, 높은 파장대의 광을 투과시키고 낮은 파장대의 광을 차단하는 하이 패스 필터이고, 하부 다층막(320b)은, 낮은 파장대의 광을 투과시키고 높은 파장대의 광을 차단하는 로우 패스 필터일 수 있다.Here, the upper multilayer film 320a is a high pass filter that transmits light in a high wavelength band and blocks light in a low wavelength band, and the lower multilayer film 320b transmits light in a low wavelength band and blocks light in a high wavelength band. It may be a pass filter.

경우에 따라, 상부 다층막(320a)은, 낮은 파장대의 광을 투과시키고 높은 파장대의 광을 차단하는 로우 패스 필터이고, 하부 다층막(320b)은, 높은 파장대의 광을 투과시키고 낮은 파장대의 광을 차단하는 하이 패스 필터일 수 있다.In some cases, the upper multilayer film 320a is a low-pass filter that transmits light in a low wavelength band and blocks light in a high wavelength band, and the lower multilayer film 320b transmits light in a high wavelength band and blocks light in a low wavelength band. It may be a high-pass filter that does

또한, 반사 필터(300)는, 글래스 기판(310)의 경도가 다층막(320)의 경도가 더 높은 재질로 형성될 수 있다.In addition, the reflective filter 300 may be formed of a material having a higher hardness of the glass substrate 310 and a higher hardness of the multilayer film 320 .

그 이유는, 글래스 기판(310)이 외력에 의한 다층막(320)의 손상을 막아줄 수 있기 때문이다.The reason is that the glass substrate 310 can prevent the multilayer film 320 from being damaged by an external force.

또 다른 실시예로서, 글래스 기판(310)을 대신하여 글래스와 실질적으로 동일한 목적으로 사용될 수 있는 임의의 매질로 이루어진 기판이 반사 필터(300)를 형성하기 위해 사용될 수 있다.As another embodiment, instead of the glass substrate 310 , a substrate made of any medium that can be used for substantially the same purpose as glass may be used to form the reflection filter 300 .

도 4 내지 도 6은, 본 발명의 다른 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.4 to 6 are structural cross-sectional views for explaining a fluorescent filter according to another embodiment of the present invention.

도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명이 형광 필터는, 흡수 필터(200)와, 흡수 필터(200)의 하부에 배치되는 반사 필터(300)를 포함할 수 있다.4 to 6 , the fluorescent filter of the present invention may include an absorption filter 200 and a reflection filter 300 disposed under the absorption filter 200 .

여기서, 흡수 필터(200)는, 서로 인접하는 웰(400)들 사이에 배치되는 메인 격벽(500)을 더 포함할 수 있다.Here, the absorption filter 200 may further include a main partition wall 500 disposed between the wells 400 adjacent to each other.

일 예로, 메인 격벽(500)은, 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽일 수 있다.For example, the main barrier rib 500 may be a well unit barrier rib surrounding each well 400 .

경우에 따라, 메인 격벽(500)은, 복수의 웰(400)들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹이 형성되면 각각의 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽일 수도 있다.In some cases, the main barrier rib 500 may be a group unit barrier rib surrounding each well group when a well group forming one group is formed.

다른 경우로서, 메인 격벽(500)은, 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽과, 복수의 웰(400)들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽이 혼합되는 혼합 격벽일 수도 있다.As another case, the main barrier rib 500 includes a well unit barrier rib surrounding each well 400 and a group unit barrier rib surrounding a well group in which the plurality of wells 400 form one group. It may be a mixed bulkhead.

여기서, 웰 그룹을 이루는 복수의 웰(400)들은, 웰 그룹 내에서, 인접하는 웰(400)들 방향으로 노이즈를 제공하지 않는 특정 파장대의 광을 발생하는 측정 대상물(100)이 안착될 수 있다. 즉, 노이즈 광을 서로 발생시키지 않는 복수의 웰(400)들이 하나의 웰 그룹을 이룰 수 있다.Here, in the plurality of wells 400 constituting the well group, the measurement object 100 that generates light in a specific wavelength band that does not provide noise in the direction of adjacent wells 400 within the well group may be seated. . That is, a plurality of wells 400 that do not generate noise light may form one well group.

또한, 웰 그룹을 이루는 복수의 웰(400)들은, 웰 그룹 내에서, 인접하는 웰(400)들 사이에 격벽이 존재하지 않을 수 있다.Also, in the plurality of wells 400 constituting the well group, partition walls may not exist between adjacent wells 400 in the well group.

그리고, 메인 격벽(500)은, 웰(400) 내에 안착된 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광이 인접하는 웰(400)들 방향으로 투과되는 것을 차단하는 물질로 이루어질 수 있다.In addition, the main barrier rib 500 may be made of a material that blocks light of a specific wavelength band generated from the measurement object 100 seated in the well 400 from being transmitted in the direction of the adjacent wells 400 .

그 이유는, 인접하는 웰(400)들 방향으로 노이즈 광을 제공하지 않도록 하여 노이즈가 없는 선명한 광 신호를 획득하기 위함이다.The reason is to prevent noise light from being provided in the direction of the adjacent wells 400 to obtain a clear optical signal without noise.

일 예로, 메인 격벽(500)은 흡수 필터(200)와 같이 특정 파장대의 광을 차단하기 위한 베이스 매질과 흡수 물질이 혼합되어 이루어질 수 있다. 흡수 물질은 안료 및 포토레지스트 중 적어도 어느 하나일 수 있다.As an example, the main barrier rib 500 may be formed by mixing a base medium for blocking light of a specific wavelength band, such as the absorption filter 200 , and an absorption material. The absorbing material may be at least one of a pigment and a photoresist.

일 예로, 메인 격벽(500)은, 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광과, 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광을 모두 차단하는 물질로 이루어지는 단일 격벽일 수 있다.For example, the main barrier rib 500 may include a first wavelength band of light generated from a first measurement object seated in the first well, and a second light generated from a second measurement object seated in a second well adjacent to the first well. It may be a single barrier rib made of a material that blocks both wavelengths of light.

다른 일 예로, 메인 격벽(500)은, 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽을 포함하는 이중 격벽일 수도 있다.As another example, the main barrier rib 500 may include a first barrier rib made of a material that blocks only light of a first wavelength band generated from a first measurement object seated in the first well, and a second well adjacent to the first well. It may be a double barrier rib including a second barrier rib made of a material that blocks only light in the second wavelength band generated from the second measurement object to be seated.

여기서, 메인 격벽(500)은, 제1 측정 대상물과 제2 측정 대상물이 서로 다른 제1 조건, 제1 측정 대상물과 제2 측정 대상물이 서로 동일하고 제1 측정 대상물에 포함되는 제1 형광 염료와 제2 측정 대상물에 포함되는 제2 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 제1 측정 대상물과 제2 측정 대상물이 서로 동일하고 제1 측정 대상물과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 제2 측정 대상물과 제2 형광 염료를 연결하는 제2 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 제1 측정 대상물을 제공한 제1 환자와 제2 측정 대상물을 제공한 제2 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 이중 격벽으로 형성할 수 있다.Here, the main partition wall 500 includes a first condition in which the first measurement object and the second measurement object are different from each other, the first measurement object and the second measurement object are the same as each other, and a first fluorescent dye included in the first measurement object; A second condition in which the second fluorescent dye included in the second measurement object is different, the first measurement object and the second measurement object are identical to each other, and the first probe connector and the first probe connecting the first measurement object and the first fluorescent dye 2 Among a third condition in which a second probe linkage connecting the second fluorescent dye is different from the measurement object, and a fourth condition in which the first patient providing the first measurement object and the second patient providing the second measurement object are different When it is at least any one, it may be formed as a double partition wall.

또 다른 일 예로, 메인 격벽(500)은, 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 제1 웰에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽과, 제1, 제2 웰에 인접하는 제3 웰 내에 안착되는 제3 측정 대상물에서 발생하는 제3 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제3 격벽을 포함하는 다중 격벽일 수도 있다.As another example, the main barrier rib 500 includes a first barrier rib made of a material that blocks only light in the first wavelength band generated from the first measurement object seated in the first well, and a second well adjacent to the first well. The second barrier rib made of a material that blocks only the light of the second wavelength band generated from the second measurement object seated inside, and the third generated from the third measurement object seated in the third wells adjacent to the first and second wells It may be a multiple barrier rib including a third barrier rib made of a material that blocks only light in a wavelength band.

여기서, 메인 격벽(500)은, 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 다른 제1 조건, 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 동일하고 제1 측정 대상물에 포함되는 제1 형광 염료와 제2 측정 대상물에 포함되는 제2 형광 염료 및 제3 측정 대상물에 포함되는 제3 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 동일하고 제1 측정 대상물과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 제2 측정 대상물과 제2 형광 염료를 연결하는 제2 프로브 연결체와 제3 측정 대상물과 제3 형광 염료를 연결하는 제3 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 제1 측정 대상물을 제공한 제1 환자와 제2 측정 대상물을 제공한 제2 환자와 제3 측정 대상물을 제공한 제3 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 다중 격벽으로 형성할 수 있다.Here, the main barrier rib 500 has a first condition in which the first, second, and third measurement objects are different from each other, and the first, second, and third measurement objects are the same as each other and the first fluorescence included in the first measurement object A second condition in which the dye and the second fluorescent dye included in the second measurement object and the third fluorescent dye included in the third measurement object are different from each other, the first, second, and third measurement objects are the same, and the first measurement object A first probe linkage connecting the first fluorescent dye, a second probe linker connecting the second measurement object and the second fluorescent dye, and a third probe linkage connecting the third measurement object and the third fluorescent dye When a different third condition, the first patient providing the first measurement object, the second patient providing the second measurement object, and the third patient providing the third measurement object are different from each other in at least one of the fourth conditions, It can be formed with multiple bulkheads.

메인 격벽을 통해서 다중 진단시 측정 정확도를 향상시킬 수 있다.Through the main bulkhead, measurement accuracy can be improved during multiple diagnosis.

그리고, 흡수 필터(200)는, 베이스 매질(210)과, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대를 제외한 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 물질(220)이 혼합될 수 있다.In addition, in the absorption filter 200 , the base medium 210 and the absorption material 220 that absorbs light in a wavelength band other than a specific wavelength band generated from the measurement object 100 may be mixed.

일 예로, 흡수 물질(220)은, 안료 및 포토레지스트 중 적어도 어느 하나일 수 있는데, 이는 일 실시예일 뿐, 이에 한정되지는 않는다.For example, the absorbing material 220 may be at least one of a pigment and a photoresist, but this is only an example and is not limited thereto.

또한, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물(100)이 안착되는 소정 깊이의 웰(400)이 형성될 수 있다.Also, in the absorption filter 200 , a well 400 having a predetermined depth in which the measurement object 100 is seated may be formed.

다음, 반사 필터(300)는, 글래스 기판(310)과, 글래스 기판(310) 위에 복수의 층들이 형성되어 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 다층막(320)을 포함할 수 있다.Next, the reflective filter 300 includes a glass substrate 310 and a plurality of layers formed on the glass substrate 310 to transmit light in a specific wavelength band generated from the measurement object 100 and reflect light in the remaining wavelength band. A multilayer film 320 may be included.

일 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 4와 같이, 글래스 기판(310)의 상부에 배치되어 흡수 필터(200)에 접촉될 수 있다.In an embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed on the glass substrate 310 and contact the absorption filter 200 as shown in FIG. 4 .

다른 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 5와 같이, 글래스 기판(310)의 하부에 배치되어 흡수 필터(200)로부터 이격될 수 있다.In another embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed under the glass substrate 310 to be spaced apart from the absorption filter 200 as shown in FIG. 5 .

또 다른 실시예로서, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 도 6과 같이, 글래스 기판(310) 상부에 배치되는 상부 다층막(320a)과, 글래스 기판(310) 하부에 배치되는 하부 다층막(320b)을 포함할 수 있다.As another embodiment, as shown in FIG. 6 , the multilayer film 320 of the reflection filter 300 includes an upper multilayer film 320a disposed on the glass substrate 310 and a lower multilayer film disposed below the glass substrate 310 . (320b) may be included.

도 7 내지 도 9는, 흡수 필터의 격벽을 설명하기 위한 평면도이고, 도 10은, 흡수 필터의 다중 격벽을 설명하기 위한 평면도이다.7 to 9 are plan views for explaining the barrier ribs of the absorption filter, and FIG. 10 is a plan view for explaining the multiple barrier ribs of the absorption filter.

도 7 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 메인 격벽(500)은, 웰(400) 내에 안착된 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광이 인접하는 웰(400)들 방향으로 투과되는 것을 차단하는 물질로 이루어지므로, 본 발명은, 메인 격벽(500)에 의해 인접하는 웰(400)들 방향으로 노이즈 광을 제공하지 않도록 하여 노이즈가 없는 선명한 광 신호를 획득할 수 있다.7 to 10 , the main barrier rib 500 prevents the light of a specific wavelength band generated from the measurement object 100 seated in the well 400 from being transmitted in the direction of the adjacent wells 400 , as shown in FIGS. Since it is made of a blocking material, in the present invention, noise light is not provided in the direction of the adjacent wells 400 by the main barrier rib 500 to obtain a clear optical signal without noise.

도 7과 같이, 메인 격벽(500)은, 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽일 수 있다.7 , the main partition wall 500 may be a well unit partition wall surrounding each well 400 .

경우에 따라, 도 8과 같이, 메인 격벽(500)은, 복수의 웰(400)들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹이 형성되면 각각의 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽일 수도 있다.In some cases, as shown in FIG. 8 , the main barrier rib 500 may be a group unit barrier rib surrounding each well group when a well group forming one group is formed.

다른 경우로서, 도 9와 같이, 메인 격벽(500)은, 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽과, 복수의 웰(400)들이 하나의 그룹을 이루는 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽이 혼합되는 혼합 격벽일 수도 있다.As another case, as shown in FIG. 9 , the main partition wall 500 includes a well unit partition wall surrounding each well 400 , and a group surrounding a well group in which the plurality of wells 400 form one group. The unit barrier ribs may be mixed barrier ribs.

여기서, 웰 그룹을 이루는 복수의 웰(400)들은, 웰 그룹 내에서, 인접하는 웰(400)들 방향으로 노이즈를 제공하지 않는 특정 파장대의 광을 발생하는 측정 대상물(100)이 안착될 수 있다. 즉, 노이즈 광을 서로 발생시키지 않는 복수의 웰(400)들이 하나의 웰 그룹을 이룰 수 있다.Here, in the plurality of wells 400 constituting the well group, the measurement object 100 that generates light in a specific wavelength band that does not provide noise in the direction of adjacent wells 400 within the well group may be seated. . That is, a plurality of wells 400 that do not generate noise light may form one well group.

또한, 웰 그룹을 이루는 복수의 웰(400)들은, 웰 그룹 내에서, 인접하는 웰(400)들 사이에 격벽이 존재하지 않을 수 있다.Also, in the plurality of wells 400 constituting the well group, partition walls may not exist between adjacent wells 400 in the well group.

그리고, 도 10과 같이, 메인 격벽(500)은, 제1 웰(410) 내에 안착된 제1 측정 대상물(110)에서 발생하는 제1 파장대의 광과, 제1 웰(410)에 인접하는 제2 웰(420) 내에 안착되는 제2 측정 대상물(120)에서 발생하는 제2 파장대의 광을 모두 차단하는 물질로 이루어지는 단일 격벽을 포함할 수 있다.And, as shown in FIG. 10 , the main barrier rib 500 includes the light in the first wavelength band generated from the first measurement object 110 seated in the first well 410 and the second adjacent to the first well 410 . A single barrier rib made of a material that blocks all light in the second wavelength band generated from the second measurement object 120 seated in the two wells 420 may be included.

또한, 메인 격벽(500)은, 제1 웰(410) 내에 안착된 제1 측정 대상물(110)에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 제1 웰(410)에 인접하는 제3 웰(430) 내에 안착되는 제3 측정 대상물(130)에서 발생하는 제3 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제3 격벽을 포함하는 이중 격벽을 포함할 수도 있다.In addition, the main barrier rib 500 includes a first barrier rib made of a material that blocks only light in the first wavelength band generated from the first measurement object 110 seated in the first well 410 , and the first well 410 . A double barrier rib including a third barrier rib made of a material that blocks only light of the third wavelength band generated from the third measurement object 130 seated in the third well 430 adjacent to the ?

여기서, 메인 격벽(500)은, 제1 측정 대상물(110)과 제3 측정 대상물(130)이 서로 다른 제1 조건, 제1 측정 대상물(110)과 제3 측정 대상물(130)이 서로 동일하고 제1 측정 대상물(110)에 포함되는 제1 형광 염료와 제3 측정 대상물(130)에 포함되는 제3 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 제1 측정 대상물(110)과 제3 측정 대상물(130)이 서로 동일하고 제1 측정 대상물(110)과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 제3 측정 대상물(130)과 제3 형광 염료를 연결하는 제3 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 제1 측정 대상물을 제공한 제1 환자와 제2 측정 대상물을 제공한 제2 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 이중 격벽으로 형성할 수 있다.Here, in the main partition wall 500, a first condition in which the first measurement object 110 and the third measurement object 130 are different from each other, the first measurement object 110 and the third measurement object 130 are the same and A second condition in which the first fluorescent dye included in the first measurement object 110 and the third fluorescent dye included in the third measurement object 130 are different from each other, the first measurement object 110 and the third measurement object 130 ) are the same, and the first probe connector connecting the first measurement object 110 and the first fluorescent dye and the third probe connector connecting the third measurement object 130 and the third fluorescent dye are different from each other. When the condition, the first patient providing the first measurement object and the second patient providing the second measurement object are at least any one of different fourth conditions, the double partition wall may be formed.

또한, 메인 격벽(500)은, 제1 웰(410) 내에 안착된 제1 측정 대상물(110)에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 제1 웰(410)에 인접하는 제3 웰(430) 내에 안착되는 제3 측정 대상물(130)에서 발생하는 제3 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제3 격벽과, 제1, 제3 웰(410, 430)에 인접하는 제4 웰(440) 내에 안착되는 제4 측정 대상물(140)에서 발생하는 제4 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제4 격벽을 포함하는 다중 격벽을 포함할 수도 있다.In addition, the main barrier rib 500 includes a first barrier rib made of a material that blocks only light in the first wavelength band generated from the first measurement object 110 seated in the first well 410 , and the first well 410 . A third barrier rib made of a material that blocks only the light of the third wavelength band generated from the third measurement object 130 seated in the third well 430 adjacent to, and the first and third wells 410 and 430 Multiple barrier ribs including the fourth barrier rib made of a material that blocks only the light of the fourth wavelength band generated from the fourth measurement object 140 seated in the adjacent fourth well 440 may be included.

여기서, 메인 격벽(500)은, 제1, 제3, 제4 측정 대상물(110, 130, 140)이 서로 다른 제1 조건, 제1, 제3, 제4 측정 대상물(110, 130, 140)이 서로 동일하고 제1 측정 대상물(110)에 포함되는 제1 형광 염료와 제3 측정 대상물(130)에 포함되는 제3 형광 염료 및 제4 측정 대상물(140)에 포함되는 제4 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 제1, 제3, 제4 측정 대상물(110, 130, 140)이 서로 동일하고 제1 측정 대상물과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 제3 측정 대상물과 제3 형광 염료를 연결하는 제3 프로브 연결체와 제4 측정 대상물과 제4 형광 염료를 연결하는 제4 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 제1 측정 대상물(110)을 제공한 제1 환자와 제3 측정 대상물(130)을 제공한 제3 환자와 제4 측정 대상물(140)을 제공한 제4 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 다중 격벽으로 형성할 수 있다.Here, the main partition wall 500 is a first condition in which the first, third, and fourth measurement objects 110 , 130 and 140 are different from each other, and the first, third, and fourth measurement objects 110 , 130 and 140 . The first fluorescent dye included in the first measurement object 110 and the third fluorescent dye included in the third measurement object 130 and the fourth fluorescent dye included in the fourth measurement object 140 are identical to each other In the second condition, the first, third, and fourth measurement objects 110 , 130 , and 140 are identical to each other, and the first probe connector connecting the first measurement object and the first fluorescent dye, and the third measurement object and the second measurement object 3 The first patient and the first patient provided with the first measurement object 110 under a third condition in which a third probe linkage connecting the fluorescent dye and a fourth probe linkage connecting the fourth measurement object and the fourth fluorescent dye are different from each other When the third patient who provided the third measurement object 130 and the fourth patient who provided the fourth measurement object 140 meet at least one of different fourth conditions, multiple partition walls may be formed.

도 11은, 흡수 필터의 격벽 배치를 설명하기 위한 구조 단면도이다.11 is a structural cross-sectional view for explaining the partition wall arrangement of the absorption filter.

도 11에 도시된 바와 같이, 흡수 필터(200)는, 서로 인접하는 웰(400)들 사이에 배치되는 메인 격벽(500)이 배치될 수 있다.As shown in FIG. 11 , in the absorption filter 200 , the main partition wall 500 may be disposed between the wells 400 adjacent to each other.

여기서, 메인 격벽(500)의 높이 h는, 흡수 필터(500)의 두께 t와 동일할 수 있다.Here, the height h of the main partition wall 500 may be equal to the thickness t of the absorption filter 500 .

경우에 따라서는, 메인 격벽(500)의 높이 h는, 흡수 필터(500)의 두께 t보다 더 큰 값을 가질 수도 있다.In some cases, the height h of the main partition wall 500 may have a greater value than the thickness t of the absorption filter 500 .

그 이유는, 서로 인접하는 웰(400)들 사이의 노이즈 광을 차단할 때, 차단 효율이 더 증가할 수 있기 때문이다.The reason is that, when blocking the noise light between the wells 400 adjacent to each other, the blocking efficiency may be further increased.

또한, 메인 격벽(500)의 두께 T는, 흡수 필터(200)의 웰(400)들 사이의 간격 D 보다 더 얇거나 동일할 수 있다.In addition, the thickness T of the main partition wall 500 may be equal to or thinner than the distance D between the wells 400 of the absorption filter 200 .

그 이유는, 메인 격벽(500)의 두께 T가 흡수 필터(200)의 웰(400)들 사이의 간격 D 보다 더 두꺼울 경우, 광 투과율이 저하되므로 광량 부족으로 인하여 선명한 광 신호를 획득할 수 없기 때문이다.The reason is that when the thickness T of the main barrier rib 500 is thicker than the distance D between the wells 400 of the absorption filter 200, the light transmittance is lowered, so that a clear optical signal cannot be obtained due to the insufficient amount of light. Because.

도 12는, 격벽층의 위치를 설명하기 위한 구조 단면도이다.12 is a structural cross-sectional view for explaining the position of the barrier rib layer.

도 12에 도시된 바와 같이, 본 발명의 형광 필터는, 반사 필터(300)에 인접하여 배치되는 격벽층(600)을 더 포함할 수 있다.12 , the fluorescent filter of the present invention may further include a barrier layer 600 disposed adjacent to the reflection filter 300 .

여기서, 격벽층(600)은, 흡수 필터(200)의 메인 격벽(500)에 대응되어 배치되는 복수의 서브 격벽(610)들을 포함할 수 있다.Here, the barrier rib layer 600 may include a plurality of sub barrier ribs 610 disposed to correspond to the main barrier rib 500 of the absorption filter 200 .

일 예로, 복수의 서브 격벽(610)은, 흡수 필터(200)의 메인 격벽(500)에 얼라인되도록 배치될 수 있다.For example, the plurality of sub partition walls 610 may be arranged to be aligned with the main partition wall 500 of the absorption filter 200 .

그 이유는, 각 웰(400) 내에 안착된 측정 대상물(100)에서 발생된 광이 노이즈 없이 흡수 필터(200) 및 반사 필터(300)를 거쳐 이미지 센서 방향으로 투과되도록 하기 위함이다.The reason is to allow light generated from the measurement object 100 seated in each well 400 to pass through the absorption filter 200 and the reflection filter 300 to the image sensor direction without noise.

즉, 복수의 서브 격벽(610)은, 흡수 필터(200)의 메인 격벽(500)이 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽이면 웰 단위 격벽에 얼라인되도록 동일한 형상을 형성될 수 있다.That is, if the main partition wall 500 of the absorption filter 200 is a well unit partition wall surrounding each well 400, the plurality of sub partition walls 610 may have the same shape to be aligned with the well unit partition wall. have.

경우에 따라, 복수의 서브 격벽(610)은, 흡수 필터(200)의 메인 격벽(500)이 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽이면 그룹 단위 격벽에 얼라인되도록 동일한 형상을 형성될 수도 있다.In some cases, the plurality of sub barrier ribs 610 may have the same shape to be aligned with the group unit barrier ribs if the main barrier rib 500 of the absorption filter 200 is a group unit barrier rib surrounding the well group.

또 다른 경우로서, 복수의 서브 격벽(610)은, 흡수 필터(200)의 메인 격벽(500)이 각각의 웰(400) 주변을 둘러싸는 웰 단위 격벽과, 웰 그룹 주변을 둘러싸는 그룹 단위 격벽이 혼합되는 혼합 격벽이면 혼합 격벽에 얼라인되도록 동일한 형상을 형성될 수도 있다.As another case, the plurality of sub partition walls 610 include a well unit partition wall in which the main partition wall 500 of the absorption filter 200 surrounds each well 400 , and a group partition wall surrounding the well group circumference. If the mixing partition wall is mixed, the same shape may be formed so as to be aligned with the mixing partition wall.

도 13 내지 도 16은, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 형광 필터를 설명하기 위한 구조 단면도이다.13 to 16 are structural cross-sectional views for explaining a fluorescent filter according to still another embodiment of the present invention.

도 13 내지 도 16에 도시된 바와 같이, 본 발명이 형광 필터는, 흡수 필터(200)와, 흡수 필터(200)에 인접하여 배치되는 반사 필터(300)를 포함할 수 있다.13 to 16 , the fluorescent filter of the present invention may include an absorption filter 200 and a reflection filter 300 disposed adjacent to the absorption filter 200 .

도 13과 같이, 흡수 필터(200)는, 외부 광이 흡수 필터(200) 방향으로 입사될 때, 반사 필터(300) 상부면 위에 접촉되어 배치될 수 있다.13 , the absorption filter 200 may be disposed in contact with the upper surface of the reflection filter 300 when external light is incident toward the absorption filter 200 .

여기서, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물이 안착되는 웰이 배치되지 않고, 상부 표면 위에 측정 대상물(100)이 배치될 수도 있다.Here, in the absorption filter 200 , a well in which the measurement object is seated is not disposed, and the measurement object 100 may be disposed on the upper surface.

경우에 따라, 도 14와 같이, 흡수 필터(200)는, 외부 광이 반사 필터(300) 방향으로 입사될 때, 반사 필터(300) 하부면 위에 접촉되어 배치될 수도 있다.In some cases, as shown in FIG. 14 , the absorption filter 200 may be disposed in contact with the lower surface of the reflection filter 300 when external light is incident in the direction of the reflection filter 300 .

여기서, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물이 안착되는 웰이 배치되지 않고, 반사 필터(300) 상부 표면 위에 측정 대상물(100)이 배치될 수도 있다.Here, in the absorption filter 200 , the measurement object 100 may be disposed on the upper surface of the reflection filter 300 without a well in which the measurement object is seated.

다른 경우로서, 도 15와 같이, 흡수 필터(200)는, 반사 필터(300) 상부면 위에 접촉되어 배치되는 제1 흡수 필터(200a)와, 반사 필터(300) 하부면 위에 접촉되어 배치되는 제2 흡수 필터(200b)를 포함할 수 있다.As another case, as shown in FIG. 15 , the absorption filter 200 includes a first absorption filter 200a disposed in contact with the upper surface of the reflection filter 300 and a second absorption filter 200a disposed in contact with the lower surface of the reflection filter 300 . 2 may include an absorption filter 200b.

여기서, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물이 안착되는 웰이 배치되지 않고, 제1 흡수 필터(200a) 상부 표면 위에 측정 대상물(100)이 배치될 수도 있다.Here, in the absorption filter 200 , the measurement object 100 may be disposed on the upper surface of the first absorption filter 200a without a well in which the measurement object is seated.

또 다른 경우로서, 도 16과 같이, 흡수 필터(200)는, 제1, 제2 흡수 필터(200a, 200b)들 중 외부 광이 입사되는 방향에 위치하는 제1 흡수 필터(200a)에 웰(400)이 배치될 수도 있다.As another case, as shown in FIG. 16 , the absorption filter 200 has a well ( 400) may be arranged.

다음, 반사 필터(300)는, 글래스 기판(310)과, 글래스 기판(310) 위에 복수의 층들이 형성되어 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 다층막(320)을 포함할 수 있다.Next, the reflective filter 300 includes a glass substrate 310 and a plurality of layers formed on the glass substrate 310 to transmit light in a specific wavelength band generated from the measurement object 100 and reflect light in the remaining wavelength band. A multilayer film 320 may be included.

일 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 글래스 기판(310)의 상부에 배치되어 흡수 필터(200)에 접촉될 수 있다.In an embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed on the glass substrate 310 and contact the absorption filter 200 .

다른 실시예로, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 글래스 기판(310)의 하부에 배치되어 흡수 필터(200)로부터 이격될 수 있다.In another embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 may be disposed under the glass substrate 310 to be spaced apart from the absorption filter 200 .

또 다른 실시예로서, 반사 필터(300)의 다층막(320)은, 글래스 기판(310) 상부에 배치되는 상부 다층막(320a)과, 글래스 기판(310) 하부에 배치되는 하부 다층막(320b)을 포함할 수 있다.As another embodiment, the multilayer film 320 of the reflection filter 300 includes an upper multilayer film 320a disposed on the glass substrate 310 and a lower multilayer film 320b disposed below the glass substrate 310 . can do.

도 17는, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈을 설명하기 위한 구조 단면도이고, 도 18은, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈을 설명하기 위한 사시도이다.17 is a structural cross-sectional view illustrating an image sensor module according to the present invention, and FIG. 18 is a perspective view illustrating an image sensor module according to the present invention.

도 17 및 도 18에 도시된 바와 같이, 본 발명의 이미지 센서 모듈은, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터와, 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서(700)를 포함할 수 있다.17 and 18, the image sensor module of the present invention includes a fluorescent filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from the measurement object 100, and a fluorescent filter that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter. It may include an image sensor 700 .

여기서, 이미지 센서(700)는, 입사된 광을 전기적 신호로 변환하여 디스플레이 장비에 표시하거나 저장할 수 있도록 구성될 수 있다.Here, the image sensor 700 may be configured to convert incident light into an electrical signal and display or store it on a display device.

또한, 이미지 센서(700)는, 빛에너지를 전기에너지로 변환하는 포토다이오드를 포함하며, 포토다이오드는 광이 입사되는 측에 배치될 수 있다. In addition, the image sensor 700 includes a photodiode that converts light energy into electrical energy, and the photodiode may be disposed on a side to which light is incident.

그리고, 형광 필터는, 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터(200)와, 흡수 필터(200)에 인접하여 배치되고 측정 대상물(100)에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터(300)를 포함할 수 있다.In addition, the fluorescent filter includes an absorption filter 200 that transmits light in a specific wavelength band generated from the measurement object 100 and absorbs light in the remaining wavelength band, and is disposed adjacent to the absorption filter 200 and is disposed adjacent to the measurement object 100 . It may include a reflective filter 300 that transmits light of a specific wavelength band generated in the and reflects light of the remaining wavelength band.

여기서, 흡수 필터(200)는, 측정 대상물(100)이 안착되는 소정 깊이의 웰(400)이 형성되고, 웰(400)은, 외부 광이 입사되는 흡수 필터(200)의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치될 수 있다.Here, in the absorption filter 200, a well 400 having a predetermined depth in which the measurement object 100 is seated is formed, and a plurality of wells 400 are formed on the incident surface of the absorption filter 200 into which external light is incident. They may be arranged at regular intervals.

도 19는, 본 발명에 따른 이미지 센서 모듈 어레이를 설명하기 위한 개략도이다.19 is a schematic diagram for explaining an image sensor module array according to the present invention.

도 19에 도시된 바와 같이, 본 발명의 이미지 센서 모듈 어레이는, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터와, 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서를 포함하는 복수의 이미지 센서 모듈(1)을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 19 , the image sensor module array of the present invention includes a fluorescent filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from a measurement object, and an image sensor that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter. It may include a plurality of image sensor modules (1).

여기서, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 매트릭스 형태로 배열되어 서로 다른 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 감지하여 복수의 측정 대상물에 대한 복수의 광 신호를 획득할 수 있다.Here, the plurality of image sensor modules 1 may be arranged in a matrix form to detect light in a specific wavelength band generated from different measurement objects to obtain a plurality of optical signals for the plurality of measurement objects.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 광이 입사되는 방향으로 서로 중첩되지 않도록 배열될 수 있다.Also, the plurality of image sensor modules 1 may be arranged so as not to overlap each other in a direction in which light is incident.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 사각 형상으로 배치될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.Also, the plurality of image sensor modules 1 may be disposed in a rectangular shape, but is not limited thereto.

즉, 복수의 이미지 센서 모듈(1)의 배치는, 설계에 따라 변경될 수 있다.That is, the arrangement of the plurality of image sensor modules 1 may be changed according to design.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 서로 다른 통과 대역을 구비할 수 있는데, 이에 한정되는 것은 아니며, 복수의 이미지 센서 모듈(1) 중 일부는, 서로 동일한 통과 대역을 구비할 수도 있다. In addition, the plurality of image sensor modules 1 may have different passbands, but is not limited thereto, and some of the plurality of image sensor modules 1 may have the same passband.

일 예로, 어느 하나의 이미지 센서 모듈(1)은, A 통과 대역 내의 파장을 갖는 광이 입사되도록 구성될 수 있으며, 다른 하나의 이미지 센서 모듈(1)은, B 통과 대역 내의 파장을 갖는 광이 입사되도록 구성될 수도 있다. For example, any one image sensor module 1 may be configured such that light having a wavelength within the A pass band is incident, and the other image sensor module 1 receives light having a wavelength within the B pass band. It may be configured to be incident.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 각각의 통과 대역이 서로 중첩되지 않도록 구성될 수도 있다. In addition, the plurality of image sensor modules 1 may be configured such that respective pass bands do not overlap each other.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 각각의 통과 대역이 서로 일부 중첩되도록 구성될 수도 있다. Also, the plurality of image sensor modules 1 may be configured such that each pass band partially overlaps each other.

또한, 복수의 이미지 센서 모듈(1)은, 인접한 다른 이미지 센서 모듈(1)들과 일체로 형성되어 구성될 수도 있다. In addition, the plurality of image sensor modules 1 may be formed integrally with other adjacent image sensor modules 1 to be configured.

이와 같이, 본 발명은, 는 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터와, 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 함께 배치함으로써, 원하는 파장대의 광만을 투과시키는 정밀한 필터링을 수행하여 바이오 샘플의 광 신호를 선명하게 획득할 수 있다.As described above, the present invention provides an absorption filter that transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement object and absorbs light of the remaining wavelength band, and transmits light of a specific wavelength band generated from the measurement target and reflects light of the remaining wavelength band. By disposing the reflective filter together, it is possible to perform precise filtering that transmits only light in a desired wavelength band to clearly acquire the optical signal of the bio sample.

또한, 본 발명은, 흡수 필터에 격벽을 배치하여 주변의 노이즈 광을 차단함으로써, 노이즈를 최소화하여 정밀하고 명확한 광 신호를 획득할 수 있다.In addition, according to the present invention, by disposing a barrier rib in the absorption filter to block ambient noise light, it is possible to obtain a precise and clear optical signal by minimizing noise.

이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.In the above, embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, but those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can realize that the present invention can be embodied in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. you will be able to understand Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive.

100: 측정 대상물
200: 흡수 필터
300: 반사 필터
400: 웰
500: 메인 격벽
600: 격벽층
700: 이미지 센서
100: measurement object
200: absorption filter
300: reflection filter
400: well
500: main bulkhead
600: barrier layer
700: image sensor

Claims (20)

측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터; 그리고,
상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하고,
상기 흡수 필터는,
상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고,
상기 웰은,
외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
an absorption filter that transmits light in a specific wavelength band generated from the measurement object and absorbs light in the remaining wavelength band; and,
a reflective filter disposed adjacent to the absorption filter, transmitting light in a specific wavelength band generated by the measurement object, and reflecting light in the remaining wavelength band;
The absorption filter is
A well having a predetermined depth in which the measurement object is seated is formed;
The well is
A fluorescence filter, characterized in that the plurality of fluorescence filters are arranged at regular intervals on the incident surface of the absorption filter to which external light is incident.
제1 항에 있어서,
상기 흡수 필터는,
베이스 매질과, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대를 제외한 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 물질이 혼합되는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
According to claim 1,
The absorption filter is
A fluorescent filter, characterized in that a base medium and an absorbing material that absorbs light in a wavelength band other than a specific wavelength band generated by the measurement target is mixed.
제2 항에 있어서,
상기 흡수 물질은,
안료 및 포토레지스트 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 형광 필터.
3. The method of claim 2,
The absorbent material is
A fluorescent filter, characterized in that at least one of a pigment and a photoresist.
제1 항에 있어서,
상기 흡수 필터는,
상기 서로 인접하는 웰들 사이에 배치되는 메인 격벽을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
According to claim 1,
The absorption filter is
The fluorescent filter of claim 1, further comprising a main barrier rib disposed between the adjacent wells.
제4 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 웰 내에 안착된 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광이 인접하는 웰들 방향으로 투과되는 것을 차단하는 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
5. The method of claim 4,
The main bulkhead is
A fluorescent filter comprising a material that blocks transmission of light in a specific wavelength band generated from the measurement object seated in the well in the direction of adjacent wells.
제4 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광과, 상기 제1 월에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광을 모두 차단하는 물질로 이루어지는 단일 격벽인 것을 특징으로 하는 형광 필터.
5. The method of claim 4,
The main bulkhead is
Both the light of the first wavelength band generated from the first measurement object seated in the first well and the light of the second wavelength band generated from the second measurement object seated in the second well adjacent to the first wall are blocked. A fluorescent filter, characterized in that it is a single partition made of a material.
제4 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 상기 제1 월에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽을 포함하는 이중 격벽인 것을 특징으로 하는 형광 필터.
5. The method of claim 4,
The main bulkhead is
A first barrier rib made of a material that blocks only light in a first wavelength band generated from a first measurement object seated in the first well, and a second measurement object seated in a second well adjacent to the first wall A fluorescent filter, characterized in that it is a double barrier rib including a second barrier rib made of a material that blocks only light in the second wavelength band.
제7 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 제1 측정 대상물과 상기 제2 측정 대상물이 서로 다른 제1 조건, 상기 제1 측정 대상물과 상기 제2 측정 대상물이 서로 동일하고 상기 제1 측정 대상물에 포함되는 제1 형광 염료와 상기 제2 측정 대상물에 포함되는 제2 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 상기 제1 측정 대상물과 상기 제2 측정 대상물이 서로 동일하고 상기 제1 측정 대상물과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 상기 제2 측정 대상물과 제2 형광 염료를 연결하는 제2 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 상기 제1 측정 대상물을 제공한 제1 환자와 상기 제2 측정 대상물을 제공한 제2 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 상기 이중 격벽으로 형성하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
8. The method of claim 7,
The main bulkhead is
A first condition in which the first measurement object and the second measurement object are different from each other, the first measurement object and the second measurement object are identical to each other, and the first fluorescent dye and the second measurement object included in the first measurement object a first probe linkage connecting the first measurement object and the first fluorescent dye under a second condition in which a second fluorescent dye included in the object is different, the first measurement object and the second measurement object are the same A third condition in which a second probe linkage connecting a second measurement object and a second fluorescent dye is different from each other, the first patient providing the first measurement object and the second patient providing the second measurement object are different When at least any one of the 4 conditions is satisfied, the fluorescent filter characterized in that it is formed as the double partition wall.
제4 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 제1 웰 내에 안착된 제1 측정 대상물에서 발생하는 제1 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제1 격벽과, 상기 제1 월에 인접하는 제2 웰 내에 안착되는 제2 측정 대상물에서 발생하는 제2 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제2 격벽과, 상기 제1, 제2 월에 인접하는 제3 웰 내에 안착되는 제3 측정 대상물에서 발생하는 제3 파장대의 광만을 차단하는 물질로 이루어지는 제3 격벽을 포함하는 다중 격벽인 것을 특징으로 하는 형광 필터.
5. The method of claim 4,
The main bulkhead is
A first barrier rib made of a material that blocks only light in a first wavelength band generated from a first measurement object seated in the first well, and a second measurement object seated in a second well adjacent to the first wall A second barrier rib made of a material that blocks only light in the second wavelength band, and a material that blocks only light in the third wavelength band generated from a third measurement object seated in the third well adjacent to the first and second walls A fluorescent filter, characterized in that it is a multi-wall including a third barrier rib.
제9 항에 있어서,
상기 메인 격벽은,
상기 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 다른 제1 조건, 상기 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 동일하고 상기 제1 측정 대상물에 포함되는 제1 형광 염료와 상기 제2 측정 대상물에 포함되는 제2 형광 염료 및 상기 제3 측정 대상물에 포함되는 제3 형광 염료가 서로 다른 제2 조건, 상기 제1, 제2, 제3 측정 대상물이 서로 동일하고 상기 제1 측정 대상물과 제1 형광 염료를 연결하는 제1 프로브 연결체와 상기 제2 측정 대상물과 제2 형광 염료를 연결하는 제2 프로브 연결체와 상기 제3 측정 대상물과 제3 형광 염료를 연결하는 제3 프로브 연결체가 서로 다른 제3 조건, 상기 제1 측정 대상물을 제공한 제1 환자와 상기 제2 측정 대상물을 제공한 제2 환자와 상기 제3 측정 대상물을 제공한 제3 환자가 서로 다른 제4 조건 중 적어도 어느 하나일 때, 상기 다중 격벽으로 형성하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
10. The method of claim 9,
The main bulkhead is
A first condition in which the first, second, and third measurement objects are different from each other, the first, second, and third measurement objects are the same, and the first fluorescent dye and the second measurement object included in the first measurement object A second condition in which the second fluorescent dye included in the object and the third fluorescent dye included in the third measurement object are different from each other, the first, second, and third measurement objects are the same, and the first measurement object and the first measurement object 1 A first probe linkage connecting a fluorescent dye, a second probe linkage connecting the second measurement object and a second fluorescent dye, and a third probe linkage connecting the third measurement object and a third fluorescent dye Another third condition, at least one of a fourth condition in which the first patient provided with the first measurement object, the second patient provided with the second measurement object, and the third patient provided with the third measurement object are different from each other When the fluorescence filter, characterized in that formed of the multiple barrier ribs.
제4 항에 있어서,
상기 반사 필터에 인접하여 배치되는 격벽층을 더 포함하고,
상기 격벽층은,
상기 흡수 필터의 메인 격벽에 대응되어 배치되는 복수의 서브 격벽들을 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
5. The method of claim 4,
Further comprising a barrier rib layer disposed adjacent to the reflective filter,
The barrier layer is
and a plurality of sub barrier ribs disposed to correspond to the main barrier rib of the absorption filter.
제11 항에 있어서,
상기 복수의 서브 격벽은,
상기 흡수 필터의 메인 격벽에 얼라인되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
12. The method of claim 11,
The plurality of sub partition walls,
A fluorescent filter, characterized in that it is arranged to be aligned with the main partition wall of the absorption filter.
제1 항에 있어서,
상기 반사 필터는,
글래스 기판; 그리고,
상기 글래스 기판 위에 복수의 층들이 형성되어, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 다층막을 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
According to claim 1,
The reflective filter is
glass substrate; and,
and a multilayer film formed on the glass substrate to transmit light in a specific wavelength band generated by the measurement target and reflect light in the remaining wavelength band.
제13 항에 있어서,
상기 다층막은,
상기 글래스 기판 상부 또는 상기 글래스 기판 하부에 배치되는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
14. The method of claim 13,
The multilayer film is
The fluorescent filter of claim 1, wherein the filter is disposed above the glass substrate or below the glass substrate.
제14 항에 있어서,
상기 다층막은,
높은 파장대의 광을 투과시키고 낮은 파장대의 광을 차단하는 하이 패스 필터이거나 또는 낮은 파장대의 광을 투과시키고 높은 파장대의 광을 차단하는 로우 패스 필터인 것을 특징으로 하는 형광 필터.
15. The method of claim 14,
The multilayer film is
A fluorescent filter, characterized in that it is a high pass filter that transmits light in a high wavelength band and blocks light in a low wavelength band, or a low pass filter that transmits light in a low wavelength band and blocks light in a high wavelength band.
제13 항에 있어서,
상기 다층막은,
상기 글래스 기판 상부에 배치되는 상부 다층막; 그리고,
상기 글래스 기판 하부에 배치되는 하부 다층막을 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
14. The method of claim 13,
The multilayer film is
an upper multilayer film disposed on the glass substrate; and,
and a lower multilayer film disposed under the glass substrate.
제1 항에 있어서,
상기 흡수 필터는,
상기 반사 필터 상부면 위에 접촉되어 배치되는 제1 흡수 필터; 그리고,
상기 반사 필터 하부면 위에 접촉되어 배치되는 제2 흡수 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
According to claim 1,
The absorption filter is
a first absorption filter disposed in contact with an upper surface of the reflection filter; and,
and a second absorption filter disposed in contact with the lower surface of the reflection filter.
제17 항에 있어서,
상기 흡수 필터는,
상기 제1, 제2 흡수 필터들 중 상기 외부 광이 입사되는 방향에 위치하는 흡수 필터에 상기 웰이 배치되는 것을 특징으로 하는 형광 필터.
18. The method of claim 17,
The absorption filter is
and the well is disposed in an absorption filter positioned in a direction in which the external light is incident among the first and second absorption filters.
측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터; 그리고,
상기 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서를 포함하고,
상기 형광 필터는,
상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터; 그리고,
상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하며,
상기 흡수 필터는,
상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고,
상기 웰은,
외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.
a fluorescence filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from the measurement object; and,
and an image sensor that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter,
The fluorescence filter is
an absorption filter that transmits light in a specific wavelength band generated from the measurement object and absorbs light in the remaining wavelength band; and,
a reflective filter disposed adjacent to the absorption filter, transmitting light in a specific wavelength band generated from the measurement object, and reflecting light in the remaining wavelength band;
The absorption filter is
A well having a predetermined depth in which the measurement object is seated is formed;
The well is
An image sensor module, characterized in that the plurality of image sensor modules are arranged at regular intervals on the incident surface of the absorption filter to which external light is incident.
측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광만을 투과시키는 형광 필터와, 상기 형광 필터를 투과한 특정 파장대의 광을 감지하는 이미지 센서를 포함하는 복수의 이미지 센서 모듈을 포함하고,
상기 복수의 이미지 센서 모듈은,
매트릭스 형태로 배열되어 서로 다른 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 감지하여 복수의 측정 대상물에 대한 복수의 광 신호를 획득하며,
상기 형광 필터는,
상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키고, 나머지 파장대의 광을 흡수하는 흡수 필터; 그리고,
상기 흡수 필터에 인접하여 배치되고, 상기 측정 대상물에서 발생하는 특정 파장대의 광을 투과시키며, 나머지 파장대의 광을 반사시키는 반사 필터를 포함하며,
상기 흡수 필터는,
상기 측정 대상물이 안착되는 소정 깊이의 웰(well)이 형성되고,
상기 웰은,
외부 광이 입사되는 상기 흡수 필터의 입사면에 복수 개가 일정 간격으로 배치되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈 어레이.
A plurality of image sensor modules including a fluorescent filter that transmits only light in a specific wavelength band generated from a measurement object, and an image sensor that detects light in a specific wavelength band that has passed through the fluorescent filter,
The plurality of image sensor modules,
It is arranged in a matrix and detects light in a specific wavelength band generated from different measurement objects to obtain a plurality of optical signals for a plurality of measurement objects,
The fluorescence filter is
an absorption filter that transmits light in a specific wavelength band generated from the measurement object and absorbs light in the remaining wavelength band; and,
a reflective filter disposed adjacent to the absorption filter, transmitting light in a specific wavelength band generated from the measurement object, and reflecting light in the remaining wavelength band;
The absorption filter is
A well having a predetermined depth in which the measurement object is seated is formed;
The well is
An image sensor module array, characterized in that a plurality of the plurality of image sensor module arrays are arranged at regular intervals on the incident surface of the absorption filter to which external light is incident.
KR1020210161469A 2020-11-30 2021-11-22 Fluorescent filter and image sensor module including the same KR20220076335A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/KR2021/017576 WO2022114830A1 (en) 2020-11-30 2021-11-26 Fluorescent filter and image sensor module comprising same
EP21820435.2A EP4033275A4 (en) 2020-11-30 2021-11-26 Fluorescent filter and image sensor module comprising same
US17/556,370 US11879845B2 (en) 2020-11-30 2021-12-20 Fluorescence filter and image sensor module including same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200163842 2020-11-30
KR20200163842 2020-11-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220076335A true KR20220076335A (en) 2022-06-08

Family

ID=81981978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210161469A KR20220076335A (en) 2020-11-30 2021-11-22 Fluorescent filter and image sensor module including the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20220076335A (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190140439A (en) 2017-03-06 2019-12-19 이쏘그 Image acquisition system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190140439A (en) 2017-03-06 2019-12-19 이쏘그 Image acquisition system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11202056B2 (en) Optical system with multiple light emitters sharing a field of view of a pixel detector
US7326933B2 (en) Radiation or neutron detector using fiber optics
JP7129809B2 (en) Optical filters and spectrometers
US9945782B2 (en) Optical sensing module
JP4455677B2 (en) Photodetection device for imaging
ES2906809T3 (en) Device with reduced fluorescence range noise and method
JP4534006B2 (en) Radiation position detection method and apparatus
WO2011083868A1 (en) Pixel type two-dimensional image detector
BRPI0808400A2 (en) GOTHICLE ACTUATOR DEVICES, SETTINGS, AND METHODS FOR IMPROVING ABSORBANCE DETECTION.
CN103261933A (en) Light acquisition sheet, and light-receiving device and light-emitting device using same
CN107567594B (en) Device for testing a sample that can be excited by means of electromagnetic radiation, and beam splitter
CN111239093A (en) Planar miniature multi-channel fluorescence detection optical system
EP3540499A1 (en) Image sensor comprising a color splitter with two different refractive indexes
CN110311027B (en) Full-color light-emitting device and display module
US10921254B1 (en) Thin stackup for diffuse fluorescence system
EP3803492B1 (en) Multichannel close-up imaging device
CN106053402A (en) Detection device for specimens
Keum et al. Planar emulation of natural compound eyes
KR20220076335A (en) Fluorescent filter and image sensor module including the same
JP2011128516A (en) Spectral filter optical system and spectral measuring apparatus
US11879845B2 (en) Fluorescence filter and image sensor module including same
US11158661B2 (en) Image sensor with micro-structured color filter
JP2021063792A (en) Biosensor and method of distinguishing light beam
JP2009019961A (en) Fluorescence detecting system
JP4168138B2 (en) Depth position recognition type radiation detector

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right