KR20210149492A

KR20210149492A - 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체

Info

Publication number: KR20210149492A
Application number: KR1020200066605A
Authority: KR
Inventors: 권순도; 김태곤
Original assignee: 대우조선해양 주식회사
Priority date: 2020-06-02
Filing date: 2020-06-02
Publication date: 2021-12-09
Also published as: KR102432444B1

Abstract

본 발명은 곡가공된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하고, 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하며, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하고, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하며, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하고, 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하며, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성한다.

Description

곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체{SYSTEM AND METHOD FOR CHECKING OF PLATE FORMING AND COMPUTER-READABLE READING MEDIUM THEREOR}

본 발명은 조선소의 곡가공 공정에 사용되는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 관한 것으로, 특히 곡가공된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 관한 것이다.

일반적으로 선박의 외판을 가공하는 방법에는 크게 열간 가공과 냉간 가공의 두가지 방법이 주로 사용되고 있다. 일반적으로, 프레스(press)나 롤러(roller) 등을 이용하는 기계적 냉간 가공방법은, 제어의 편의성 때문에 한쪽 방향으로만 일정한 곡률을 갖는 완만하고 단순한 외판의 곡면 가공과 이중 곡면 외판의 1차가공에서 주로 이용되고 있다. 가열에 의한 잔류 열탄소성 변형을 이용하는 열간 가공방법은 마무리 작업 및 이중 곡면 외판의 2차가공, 용접 변형 제거 등의 작업에 주로 이용되고 있다.

종래에 사용되고 있는 열간 가공방법을 선박의 외판가공에 적용할 때 판 위의 일정한 방향으로 열을 가한다고 하여 선상 가열 방법(line heating process)이라고 불려진다. 이러한 선상 가열방법은 전적으로 수작업에 의해 수행되는데, 곡면가공을 수행하기 위해서는 가열 위치, 가열 속도, 냉각 위치, 냉각 속도 등 여러 가공 정보를 설정해야 한다.

상기한 가공방법에 의해서 곡가공된 제품의 완성도를 평가하기 위해 목재로 만들어진 템플릿을 이용하여 곡가공된 면 위에 템플릿을 대어보고 그 오차값을 파악하는 방식을 이용하였다. 이러한 방식에서는 설계 데이터로부터 템플릿을 만들게 되는데 템플릿이 놓여져야 하는 곳의 위치가 정해져 있어, 템플릿 위치를 정확히 마킹하고 확인해야 한다. 즉, 임의의 위치에서 곡가공된 제품의 곡량을 확인할 수 없는 문제점이 있었다.

최근 곡가공 작업 또한 수작업에서 벗어나 로봇과 같은 장비를 이용하여 기계화되고 있는데, 이러한 기계화된 곡가공 작업 환경하에서도 기존처럼 템플릿을 이용하여 곡가공된 제품의 곡가공 완성도를 파악하고 있다. 따라서, 곡가공된 제품의 형상 데이터를 통해 3차원 설계 이미지와 보다 용이한 방법으로 비교하기 위한 방법을 필요로 한다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 곡가공 된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공하는 것이다.

본 발명의 실시예에 따른　곡가공 검사 시스템은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 모델링 서버; 상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 설계 서버; 및 상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하고, 상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하며, 상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하고, 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하며, 상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 프로세서를 포함한다.

또한, 상기 프로세서는, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하고, 상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하고, 상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하고, 상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정할 수 있다.

또한, 상기 프로세서는, 상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하고, 상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하고, 상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하고, 상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정할 수 있다.

또한, 상기 프로세서는, 상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키고, 상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키며, 상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키며, 상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하며, 상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 높이값 차이를 산출하고, 상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 픽셀수를 산출하며, 상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 단계; 상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 단계; 상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계; 상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계; 상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하는 단계;측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하는 단계; 상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하는 단계; 및 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계를 포함한다.

또한, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 상기 제1 기준점, 상기 제1 기준축 및 상기 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하는 단계; 상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하는 단계; 상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하는 단계; 상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하는 단계; 및 상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.

또한, 상기 3차원 설계 이미지로부터 상기 제2 기준점, 상기 제2 기준축 및 상기 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는, 상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하는 단계; 상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하는 단계; 상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하는 단계; 상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하는 단계; 및 상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.

또한, 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계는, 상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키는 단계; 상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키는 단계; 상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하는 단계; 상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키는 단계; 상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하는 단계; 상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하는 단계; 상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 상기 높이값 차이를 산출하는 단계; 상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 상기 픽셀수를 산출하는 단계; 상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하는 단계; 및 상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예로서, 본 발명에 따른 곡가공 검사 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공할 수 있다.

본 발명의 실시예들에 따르면, 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 확인하기 위하여 실제 형상 이미지와 설계 이미지 간의 이미지 매칭 방법을 제공할 수 있다. 실제 형상 이미지와 설계 이미지 간의 이미지 매칭 방법을 이용하여 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 손쉽게 확인할 수 있다. 또한, 곡가공된 대상물의 측정점을 자유롭게 설정하여 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 확인할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템의 구성을 보이는 예시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 환경을 보이는 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기준점, 기준축 및 기준면 설정 알고리즘을 보이는 예시도이다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예에 따른 오차값 생성 알고리즘을 보이는 예시도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법의 절차를 보이는 흐름도이다.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템의 구성을 보이는 예시도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 환경을 보이는 예시도이다.

도 1에 도시한 바와 같이, 곡가공 검사 시스템(100)은, 모델링 서버(110), 설계 서버(120), 프로세서(130), 데이터베이스(140), 곡가공 대상물(150), 가열 수단(160), 가스 공급부(170), 크레인(180) 및 지지 수단(190)을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 곡가공 검사 시스템(100)의 이 구성요소들 중 적어도 하나가 생략되거나, 다른 구성요소가 곡가공 검사 시스템(100)에 추가될 수 있다. 아울러, 추가적으로(additionally) 또는 대체적으로(alternatively), 일부의 구성요소들이 통합되어 구현되거나, 단수 또는 복수의 개체로 구현될 수 있다.

모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 외형을 촬영하기 위한 다수의 카메라를 포함하고, 다수의 카메라에서 형성된 곡가공 대상물(150)의 이미지 데이터를 합성하여 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.

설계 서버(120)는, 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 설계 서버(120)는 네트워크를 통하여 선주사, 선박 설계 회사 등으로부터 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 수신하여 저장할 수 있다.

프로세서(130)는, 모델링 서버(110)에서 형성된 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 설계 서버(120)로부터 수신된 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다. 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지로부터 기준점, 기준축 및 다수의 기준면을 설정하기 위한 알고리즘에 대한 상세한 설명은 후술하도록 한다.

또한, 프로세서(130)는, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 임의의 측정점에 대하여 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다. 아울러, 프로세서(130)는, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 산출된 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다. 프로세서(130)의 오차값 생성 알고리즘에 대한 상세한 설명은 후술하도록 한다.

아울러, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 임의의 측정점에 대하여 오차값을 생성할 수 있고, 생성된 오차값을 이용하여서는 곡가공의 완성도를 평가할 수 있다.

데이터베이스(140)는, 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터베이스(140)에 저장되는 데이터는, 곡가공 검사 시스템(100)의 적어도 하나의 구성요소에 의해 획득되거나, 처리되거나, 사용되는 데이터로서, 소프트웨어(예를 들어: 프로그램)를 포함할 수 있다. 데이터베이스(140)는, 휘발성 및/또는 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 일 실시예로서, 데이터베이스(140)는, 모델링 서버(110)로부터 수신된 3차원 모델링 이미지 및 설계 서버(120)로부터 수신된 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 저장할 수 있다.

본 발명에서, 프로그램은 데이터베이스(140)에 저장되는 소프트웨어로서, 곡가공 검사 시스템(100)의 리소스를 제어하기 위한 운영체제, 어플리케이션 및/또는 어플리케이션이 곡가공 검사 시스템(100)의 리소스들을 활용할 수 있도록 다양한 기능을 어플리케이션에 제공하는 미들 웨어 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 데이터베이스(140)는 프로세서(130)와는 별도로 클라우드(Cloud) 환경에서 구현될 수도 있지만 이에 한정되지 않고, 데이터베이스(140)가 프로세서(130)내에 구비될 수도 있다.

곡가공 대상물(150)은 선체의 외판 제작에 사용되는 다양한 철판 재료들을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 선체의 외판은 선박의 내구성을 향상시키기 위해서 후판(厚板)으로 이루어지며 대략 50% 이상의 곡면을 필요로 하기 때문에 곡가공 공정이 필수적으로 수행되어야 한다.

선체의 외판은 프레스 등을 이용한 냉간 가공과, 가스 토치 등의 가열 수단(160)을 이용한 열간 가공을 통해서 제작될 수 있다. 가스 공급부(170)는, 가열 수단(160)을 이용한 열간 가공이 가능하도록 가열 수단(160)에 원료를 공급할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 가스 공급부(170)는, 아르곤, 헬륨 등 일반적인 조건 하에서는 다른 원소와 거의 화합하지 않는 가스를 가열 수단(160)에 공급할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.

크레인(180)은, 가열 수단(160)을 이용한 곡가공 대상물(150)의 열간 가공 시 가열 수단(160)의 자유로운 이동이 가능하도록 할 수 있다. 일 실시예로서, 크레인(180)은 겐트리 크레인을 포함할 수 있고, 가열 수단(160)은 자유도 4의 이동성을 가질 수 있지만, 이에 한정되지 않는다. 즉, 가열 수단(160)은, 크레인(180)에 의해서 곡가공 대상물(150)을 기준으로 상하좌우 방향으로의 이동 및 일 축을 기준으로 한 회전이 가능하도록 설치될 수 있다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기준점, 기준축 및 기준면 설정 알고리즘을 보이는 예시도이다.

프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 4개의 모서리를 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4의 좌표로 추출할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 추출된 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 상호간의 거리를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, P1과 P2 사이의 거리(L1), P2와 P3 사이의 거리(L2), P3와 P4 사이의 거리(L3), P4와 P1 사이의 거리(L4)를 각각 산출할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (c)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 제1 기준점으로 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, L1, L2, L3, L4 중 최대 길이값(L-max)을 갖는 L1의 특징점 P1과 P2를 제1 기준점(R_Pt1, R_Pt2)으로 추출할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (d)에 도시한 바와 같이, 제1 기준점(R_Pt1, R_Pt2)을 직선으로 연결하여 제1 기준축을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 기준점인 R_Pt1과 R_Pt2를 직선으로 연결하여 제1 기준축인 R_Ax를 설정할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (e) 및 (f)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 중 높이가 가장 높은 특징점과 제1 기준축을 지나는 평면을 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4 중 높이가 가장 높은 특징점(R_Pt_zmax)인 P4와 제1 기준축 R_Ax을 모두 지나는 평면을 제1-1 기준면 R_PL_xy로 설정할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (g)에 도시한 바와 같이, 제1 기준축(R_Ax)을 포함하면서 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 기준축인 R_Ax를 포함하면서 제1-1 기준면인 R_PL_xy와 수직으로 교차하는 면을 제1-2 기준면인 R_PL_zx로 설정할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (h)에 도시한 바와 같이, 제1-1 및 제1-2 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx)과 상호 직교하며, 2개의 제1 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제1 기준점(R_Pt1)을 지나는 제1-3 기준면(R_PL_yz)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-1 및 제1-2 기준면인 R_PL_xy 및 R_PL_zx와 상호 직교하며, 2개의 제1 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제1 기준점인 R_Pt1을 지나는 평면을 제1-3 기준면인 R_PL_yz로 설정할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 앞서 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 방법과 동일한 방법으로, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 4개의 모서리를 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4의 좌표로 추출할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.

프로세서(130)는, 도 3의 (c)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 제2 기준점으로 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, L1, L2, L3, L4 중 최대 길이값(L-max)을 갖는 L1의 특징점 P1과 P2를 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2)으로 추출할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (d)에 도시한 바와 같이, 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2)을 직선으로 연결하여 제2 기준축을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2 기준점인 R_Pt1과 R_Pt2를 직선으로 연결하여 제2 기준축인 R_Ax를 설정할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (e) 및 (f)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 중 높이가 가장 높은 특징점과 제2 기준축을 지나는 평면을 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4 중 높이가 가장 높은 특징점(R_Pt_zmax)인 P4와 제2 기준축 R_Ax을 모두 지나는 평면을 제2-1 기준면(R_PL_xy)으로 설정할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (g)에 도시한 바와 같이, 제2 기준축(R_Ax)을 포함하면서 제2-1 기준면(R_PL_xy)과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면(R_PL_zx)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2 기준축인 R_Ax를 포함하면서 제2-1 기준면인 R_PL_xy와 수직으로 교차하는 면을 제2-2 기준면인 R_PL_zx로 설정할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 3의 (h)에 도시한 바와 같이, 제2-1 및 제2-2 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx)과 상호 직교하며, 2개의 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2) 중 어느 하나의 제2 기준점(R_Pt1)을 지나는 제2-3 기준면(R_PL_yz)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2-1 및 제2-2 기준면인 R_PL_xy 및 R_PL_zx와 상호 직교하며, 2개의 제2 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제2 기준점인 R_Pt1을 지나는 평면을 제2-3 기준면인 R_PL_yz로 설정할 수 있다.

도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예에 따른 오차값 생성 알고리즘을 보이는 예시도이다.

도 4a 내지 도 4d에 도시한 바와 같이, 프로세서(130)는, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다.

프로세서(130)는, 도 4a에 도시한 바와 같이, 설정된 제1 및 제2 기준축을 서로 일치시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지에서 설정된 제1 기준축(R_Ax) 및 3차원 설계 이미지에서 설정된 제2 기준축(R_Ax)을 서로 일치시킬 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 제1-1 내지 제1-3 기준면과 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지를 매칭시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지에서 설정된 제1-1 내지 제1-3 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx, R_PL_yz)과 3차원 설계 이미지에서 설정된 제2-1 내지 제2-3 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx, R_PL_yz)을 일치시켜서 노란색으로 표시된 3차원 모델링 이미지와 파란색으로 표시된 3차원 설계 이미지를 매칭시킬 수 있다.

프로세서(130)는, 도 4b에 도시한 바와 같이, 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 측정점의 거리로 이격하여 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성할 수 있고, 제1 비교 평면에 제1 및 제2 기준축을 투영시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-2 및 제2-2 기준면인 R_PL_zx를 일 좌표축(예를 들어, y축)을 기준으로 임의의 측정점까지의 거리인 y만큼 평행 이동시켜서 제1 비교 평면인 C_PL_zx를 형성할 수 있고, 제1 비교 평면(C_PL_zx)에 제1 및 제2 기준축인 R_Ax(L_max)를 투영시킬 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 도 4c에 도시한 바와 같이, 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 측정점의 거리로 이격하여 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-3 및 제2-3 기준면인 R_PL_yz를 타 좌표축(예를 들어, x축)을 기준으로 임의의 측정점까지의 거리인 x만큼 평행 이동시켜서 제2 비교 평면인 C_PL_yz를 형성할 수 있다.

도 4d에 도시한 바와 같이, 프로세서(130)는, 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하고, 추출된 단면도에서 제2 비교 평면을 기준으로 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지의 높이값 차이를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 비교 평면인 C_PL_zx을 기준으로 단면도를 추출할 수 있고, 추출된 단면도에서는 직선 형태로 나타나는 제2 비교 평면인 C_PL_yz을 기준으로 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지의 높이값 차이인 b를 산출할 수 있다. 예를 들어, 높이값 차이인 b는 이미지의 픽셀수를 나타낼 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 추출된 단면도에서 제1 및 제2 기준축을 기준으로 측정점의 일 좌표값에 해당하는 이미지 픽셀수를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 추출된 단면도에서 제1 및 제2 기준축인 L_max를 기준으로 측정점의 일 좌표값(예를 들어, y좌표)에 해당하는 이미지 픽셀수를 나타내는 a를 산출할 수 있다.

프로세서(130)는, 산출된 이미지 픽셀수와 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 산출된 이미지 픽셀수 a와 일 좌표값(예를 들어, y좌표)에 해당하는 물리적 길이인 y를 매칭하여 환산 계수인 k를 산출할 수 있다. 예를 들어, 환산 계수 k는 y를 a로 나누어서 산출할 수 있다.

또한, 프로세서(130)는, 산출된 높이값 차이 및 환산 계수를 이용하여 오차값을 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 산출된 높이값 차이인 b에 산출된 환산 계수인 k를 곱하여 실제 오차값인 Δz를 산출할 수 있다.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법의 절차를 보이는 흐름도이다. 도 5의 흐름도에서 프로세스 단계들, 방법 단계들, 알고리즘들 등이 순차적인 순서로 설명되었지만, 그러한 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들은 임의의 적합한 순서로 작동하도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 본 발명의 다양한 실시예들에서 설명되는 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들의 단계들이 본 발명에서 기술된 순서로 수행될 필요는 없다. 또한, 일부 단계들이 비동시적으로 수행되는 것으로서 설명되더라도, 다른 실시예에서는 이러한 일부 단계들이 동시에 수행될 수 있다. 또한, 도면에서의 묘사에 의한 프로세스의 예시는 예시된 프로세스가 그에 대한 다른 변화들 및 수정들을 제외하는 것을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스 또는 그의 단계들 중 임의의 것이 본 발명의 다양한 실시예들 중 하나 이상에 필수적임을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스가 바람직하다는 것을 의미하지 않는다.

도 5에 도시한 바와 같이, 단계(S510)에서, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 다양한 방향에서의 이미지를 계측하여 곡가공 대상물의 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 외형을 촬영하기 위한 다수의 카메라를 포함할 수 있다.

단계(S520)에서, 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지가 저장된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 설계 서버(120)는, 곡가공 대상물(150)을 형성하기 위한 3차원 모델링 이미지를 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 설계 서버(120)는, 네트워크를 통하여 선주사, 선박 설계 회사 등으로부터 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 수신하여 저장할 수 있다.

단계(S530)에서, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 모델링 서버(110)로부터 수신한 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.

단계(S540)에서, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 설계 서버(120)로부터 수신한 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.

단계(S550)에서, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭이 수행된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행할 수 있다.

단계(S560)에서, 측정점에 대한 다수의 비교 평면이 설정된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 임의의 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 단계 S530에서 형성된 다수의 제1 기준면 및 단계 S540에서 형성된 다수의 제2 기준면을 임의의 측정점까지 평행 이동하여 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다.

단계(S570)에서, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수가 산출된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 단계 S560에서 설정된 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출할 수 있다.

단계(S580)에서, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값이 생성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 단계 S570에서 산출된 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, S560 내지 S580의 절차를 반복하여 측정점을 변경하면서 오차값을 생성할 수 있고, 생성된 오차값을 이용하여 곡가공 완성도를 평가할 수 있다.

이상, 본 발명을 도면에 도시된 실시예를 참조하여 설명하였다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명과 균등한 범위에 속하는 다양한 변형예 또는 다른 실시예가 가능하다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호범위는 이어지는 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.

100: 곡가공 검사 시스템 110: 모델링 서버
120: 설계 서버 130: 프로세서
140: 데이터베이스 150: 곡가공 대상물
160: 가열 수단 170: 가스 공급부
180: 크레인 190: 지지 수단

Claims

곡가공 검사 시스템으로서,
곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 모델링 서버;
상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 설계 서버; 및
상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하고, 상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하며, 상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하고, 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하며, 상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 프로세서를 포함하는,
곡가공 검사 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하고, 상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하고, 상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하고, 상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정하는,
곡가공 검사 시스템.
제 2 항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하고, 상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하고, 상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하고, 상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정하는,
곡가공 검사 시스템.
제 3 항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키고, 상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키며, 상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키며, 상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하며, 상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 높이값 차이를 산출하고, 상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 픽셀수를 산출하며, 상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출하는,
곡가공 검사 시스템.
곡가공 검사 방법으로서,
곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 단계;
상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 단계;
상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계;
상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계;
상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하는 단계;
측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하는 단계;
상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하는 단계; 및
상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계를 포함하는,
곡가공 검사 방법.
제 5 항에 있어서,
상기 3차원 모델링 이미지로부터 상기 제1 기준점, 상기 제1 기준축 및 상기 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는,
상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계;
상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계;
상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하는 단계;
상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하는 단계;
상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하는 단계;
상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하는 단계; 및
상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정하는 단계를 포함하는,
곡가공 검사 방법.
제 6 항에 있어서,
상기 3차원 설계 이미지로부터 상기 제2 기준점, 상기 제2 기준축 및 상기 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는,
상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계;
상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계;
상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하는 단계;
상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하는 단계;
상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하는 단계;
상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하는 단계; 및
상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정하는 단계를 포함하는,
곡가공 검사 방법.
제 7 항에 있어서,
상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계는,
상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키는 단계;
상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키는 단계;
상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하는 단계;
상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키는 단계;
상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하는 단계;
상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하는 단계;
상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 상기 높이값 차이를 산출하는 단계;
상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 상기 픽셀수를 산출하는 단계;
상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하는 단계; 및
상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출하는 단계를 포함하는,
곡가공 검사 방법.
제 5 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 따른 곡가공 검사 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.